JPH10329013A - 両面研磨及び両面ラッピング用キャリア - Google Patents
両面研磨及び両面ラッピング用キャリアInfo
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- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
掛からない領域とに分け、それぞれ金属部材と樹脂部材
とより構成し、而も金属部材よりなる領域においては加
工歪み発生の機会を最小に押さえ、残存僅少歪みも樹脂
部材の領域に吸収可能の構成とした両面研磨及び両面ラ
ッピング用キャリアの提供を目的としたものである。 【構成】 外周歯10aを設けた外周周辺領域部10
と、被加工物保持孔11a等を設けた内部領域部11
と、ありざし接合により一体構造とする嵌合接合部12
とより構成する。外周周辺領域部10は電着樹脂被覆を
した金属部材より構成し、内部領域部11は樹脂部材よ
り構成する。
Description
物保持孔に保持し、研磨布ないしラップ定盤間に介在さ
せ、且つ自転・公転させて、両面研磨ないし両面ラッピ
ングに使用するするキャリアに関し、特に半導体ウェー
ハを対象とした両面研磨及び両面ラッピング用キャリア
に関する。
とラップ定盤とを押さえ付け相対運動させることにより
行われ、そのあとにはさまざまな処理や研磨工程が控え
ているわけであるが、その研磨条件(ラッピング条件)
は当該被加工部材が置かれている状況に左右され、所定
の平坦度あるいは表面状態に仕上げていく過程では、最
初は粗粒によるラッピング、それから順次砥粒を微細化
し、前段階で形成された表面粗さや加工変質層を除去し
次の微細砥粒によるラッピングに移行するのが普通であ
る。
はラッピングの後処理として、鏡面仕上げと併せて高精
度の形状寸法加工を可能としたもので、研磨剤中の個々
の砥粒の被加工物に対する作用規模は小さくなり、鏡面
仕上げと併せて高精度の形状寸法加工の条件達成には表
面粗さを小さくするための微細砥粒の使用と軟質研磨布
の使用のもとに、複数段階からなる機械・化学複合研磨
方法が行われ、機械的研磨が持つ力学作用とエッチング
による化学的除去作用を複合させ、それらの相乗効果で
高精度の鏡面を高能率に得ている。
は、ラッピングに比較し遥かに小さくなり、前記研磨布
による直接擦り取りという機械的作用も考えられる。例
えば、コロイダルシリカによるシリコンウェハーのメカ
ニカルポリシングのように、化学作用で形成された軟質
皮膜(水和膜)が砥粒ないし研磨布により擦り取られる
研磨メカニズムも考えられている。
であるが、砥粒が暫時微細化すること、工具も硬質の定
盤より軟質の研磨布に切り替え、被加工物の凸部に選択
的に作用し平滑化を可能とする機能を持たしてある。そ
の機械的構造は両者とも殆ど同じで効率化を図るため、
両面研磨や両面ラッピングが提唱使用されている。特
に、両面研磨については、本願発明者等により片面研磨
において発生する表面粗さがそのまま残るウェーハ裏面
に発生するパーティクル防止対策としてその使用につき
先に提案している。
する装置の概略構造は殆ど同一であるので、両面研磨装
置について概略の構成を説明すると下記のとおりであ
る。従来より使用され本発明のキャリアに対しても使用
する両面研磨装置は図3(A)に示すように、円盤状の
キャリア13に被加工物保持孔11aを形成させ且つ外
周に外周歯10aを設け、同図(B)に見るように矢印
A方向に回転する下定盤51の中心に設けた太陽歯車5
3と下定盤51の外側に設けた内歯車54とに噛み合わ
せ、キャリア13を矢印B方向の自転と矢印C方向の公
転をさせるようにしてある。
11a、11a、11a内に挿入保持させている被加工
物であるウェーハ20、20、20を、互いに逆回転す
る下定盤51と上定盤52にそれぞれ貼付した研磨布5
1a、52aの間に適当圧の下に挟持させ、前記上定盤
52に設けた研磨剤注入孔56より所用の研磨剤を滴下
させウェーハ20の両面を同時に研磨可能にしたもので
ある。上記キャリアは被加工物保持孔を含む外部形状や
自転公転の機構は従来のものと本発明のものと同一であ
るので図の説明では本発明のキャリアの符号を使用し
た。
ば実開昭58−4349号公報には、金属製キャリア表
面に樹脂コーティングを施したものに関する提案aが開
示され、また例えば特開昭58−143954号公報に
は、炭素繊維に樹脂を含浸させた積層板より構成したキ
ャリアに関する提案bが開示されている。
合、金属製キャリアでは金属表面が研磨ないしラッピン
グされ、高純度が要求される半導体ウェーハに金属汚染
を与える。上記金属汚染防止の点に関する限り、前記実
開昭58−4349号開示されている提案aや、特開昭
58−143954号に開示されている提案bにより、
問題は解決されている。
面ラッピング時においては、被加工物であるウェーハと
研磨布やラッピング定盤との間に大きな研磨ないしラッ
ピング抵抗が作用し、当該キャリアの外周歯部分である
外周周辺部とキャリアを駆動させる下定盤ないし下ラッ
プ盤に設けた太陽歯車やその周囲に設けた内歯車との間
に大きな機械的負担が掛かる。
全てを樹脂材料で構成した場合は、外周歯周辺部位に疲
労破壊が起こり疲労破壊部位より発塵が発生する。その
ため、被加工物表面にスクラッチが発生し、キャリアの
耐久性の面で問題があった。また、提案aに係わる金属
製キャリア表面に樹脂を施したものでは、キャリアの主
構成部材である金属板の持っている変形即ち製作時の変
形、樹脂加工中の変形により、特に被加工物保持孔や研
磨剤供給孔付近で樹脂被覆部分が摩滅し金属表面が露出
し、そのため被加工物が半導体ウェーハである場合金属
汚染が未解決の形で問題化している。
で、キャリアに機械的負荷の直接掛かる領域と、掛から
ない領域とに分け、前者は金属部材を主構成部材とし後
者は樹脂部材より構成し、而も金属部材よりなる領域に
おいては製作加工時の加工歪み発生の機会を最小に押さ
え得る加工形式を取り得る領域とし、例え幾分の歪みが
存在しても後者の領域と一体接合することにより完全に
除去できる構成とした両面研磨及び両面ラッピング用キ
ャリアの提供を目的としたものである。
でもなく外周歯の存在する外周周辺部領域部である。ま
た、金属加工部材の加工歪みは素材より外形ブランクの
打ち抜き時に発生する歪みと外形ブランク打ちぬき後の
歪みの多発する部分打ち抜き時の歪みに集約できる。そ
のため、金属加工部材を主構成部材とする領域と樹脂部
材を主構成部材とする領域に、機械的負荷の状況及び加
工歪み発生の状況とを勘案して住み分けして、疲労破壊
を未然に防止するとともに金属汚染を皆無とした半導体
ウェーハ用キャリアを提供するようにしたものである。
び両面ラッピング用キャリアは、次のように構成する。
請求項1記載の発明は、被加工物を上下研磨布または
ラッピング定盤との間に介在させて両面研磨ないし両面
ラッピングをするため、被加工物保持孔を設けるととも
に自転及び公転を可能とした円盤状キャリアであって、
上記キャリアを外周歯を含む外周周辺領域部と該領域以
外の内部領域部とより構成し、外周周辺領域部は樹脂被
覆をした金属部材で構成し、内部領域部は樹脂部材で構
成したことを特徴とする。
孔を設ける構成としてもよく、また無機繊維強化プラス
チックで構成してもよい。
脂被覆するのがよい。
は、その境界を凹凸嵌合接合により一体構造とするのが
よい。
歯の存在する外周周辺領域部を耐久性に優れた金属製材
料で構成するとともにその表面を樹脂で被覆し、残る内
部領域部を樹脂部材で構成したので、従来の樹脂部材の
みで構成したキャリアに見るような、外周歯部分の疲労
破壊を防止でき、耐久性を飛躍的に向上できるようにし
たものである。
歯の存在する外周周辺領域部に限定することにより、従
来の主構成部材が全て金属板で構成し且つ表面に樹脂を
被覆したキャリアに見られた金属板の歪みによる樹脂被
覆の部分的減耗を防止できるようにしてある。
や研磨剤供給孔等の孔明けを設ける構成とし、前記外周
周辺領域部との境界を設定し、少なくとも、外周周辺領
域部を構成する金属部材の加工は外周歯と外周周辺領域
部側ありざし接合部よりなる外形ブランクの打ち抜きの
みに限定し、複数孔打ち抜き等の2次加工による加工歪
みの発生を最小限に押さえるようにしてある。
繊維エポキシ樹脂積層板ないし炭素繊維エポキシ樹脂積
層板等の無機繊維強化プラスチックにより構成し、研磨
及びラッピングに要求される高強度且つ耐薬品性、耐磨
耗性を具備させるようにしてある。
部材に電着塗装による硬い樹脂塗膜を形成させ、耐磨耗
性を持たしてある。
の境界は凹凸嵌合接合により強固な一体構造とし、外周
周辺領域部に存在する微小歪みも高強度の内部領域部に
吸収させ、無歪みの耐久性のある金属汚染を皆無とし
た、両面研磨及び両面ラッピング用キャリアを提供でき
るようにしてある。
を用いて詳細に説明する。但し、この実施例に記載され
る構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは特
に特定的な記載が無い限り、この発明の範囲をそれのみ
に限定する趣旨ではなく単なる説明例に過ぎない。図1
は、本発明のキャリアの概略の構成を示す正面図で、図
2(A)は図1の外周周辺領域部の凹凸嵌合部の部分正
面図で、(B)は図1の内部領域部の凹凸嵌合部の部分
正面図である。
両面ラッピング用キャリア13は、外周周辺領域部10
と内部領域部11とより構成し、外周周辺領域部10に
はその外周に外周歯10aを設ける構成とし、内部領域
部11には3個の半導体ウェーハの保持孔11aが12
0度間隔に当該キャリアの中心Pに対し点対称に設け且
つ付随する例えば研磨剤供給孔等がそれぞれ相互に対称
位置関係を保持するよう設けてある。外周周辺領域部1
0と内部領域部11との境界には凹凸嵌合接合部12が
設けてある。該接合部12は、図2(A)に示す外周周
辺領域部側ありざし接合部12aと、同図(B)に示す
内部領域部側ありざし接合部12bとよりなり、互いに
嵌合接合をなし一体構造の構成にしてある。
る外周歯10aとありざし接合部12aとにより形成さ
れた外形ブランク打ち抜き部材により構成し、該部材の
歪みを最小となる構成とし、その全表面にエポキシ樹脂
による電気泳動塗装をなし全表面に膜厚均一の硬い皮膜
を形成させ、機械的負担の掛かる当該外周周辺領域部の
疲労破壊を防止するとともに樹脂塗膜の減耗を押さえ金
属汚染を防止するようにしてある。
シ樹脂積層板ないし炭素繊維エポキシ樹脂積層板等の無
機繊維強化プラスチックで形成し、高強度強靱性、耐薬
品性、耐磨耗性を具備させる構成としてある。
使用されている両面研磨装置を介して行い、図3
(A)、(B)に示すように3個のウェーハ20を被加
工物保持孔11a、11a、11aにより保持させたキ
ャリア13を、逆回転する下定盤51と上定盤52にそ
れぞれ貼付した研磨布51a、52aの間に適当圧の下
に挟持させ、研磨剤注入孔56より所用の研磨剤を滴下
させ、ウェーハ20をキャリア13を介して同図(B)
に示すように自転と公転をさせその両面を同時に研磨可
能にしている。
の大きさ等により、金属部材で構成される外周周辺領域
部と樹脂部材で構成される内部領域部との構成割合は適
宜決められるが、特にキャリアの半径に対し3〜30%
程度の範囲で外周周辺領域部が形成されるのが好まし
い。
来型キャリアの比較例1、2とを使用して比較両面研磨
試験を行ったが、その結果について下記説明する。 試料ウェーハ; CZ単結晶、P型、結晶方位<100>、200mmφ、 厚さ745μm、のエッチングウェーハ 比較キャリア; 比較例1、エポキシ樹脂コーティングSKキャリア 比較例2、ガラスエポキシ樹脂積層板キャリア 研磨布 ; 不織布タイプ、硬度80(アスカーC硬度) 研磨剤 ; コロイダルシリカ剤(pH=10.5) 研磨荷重 ; 150g/cm2 研磨除去量; 20μm
ッチ数を 比較例1;樹脂被覆の部分的摩滅ができるバッチ数で、5バッチ 比較例2;疲労破壊が確認されるまでのバッチ数で、 2バッチ 本発明の図1に示す実施例; 100バッチ 上記に示すように飛躍的耐久性を確認できた。なお、上
記結果は両面ラッピングに使用した場合も同様の効果を
確認できた。
546.5mmのキャリアを使用し、内部領域部は直径
490mmの無機繊維強化プラスチックで構成し、その
外周に樹脂塗膜を施した金属部材よりなる外周周辺領域
部を形成してある。つまり、本試験ではキャリア半径の
略10%が金属部材よりなる外周周辺領域部で形成した
ものを使用した。
ャリア構成部材の疲労破壊や磨耗によるパーティクルに
よるスクラッチの発生を防止するとともに、キャリアの
長時間の使用が可能となり、品質の安定性を確保しつ
つ、キャリアの寿命を伸ばすことになり加工コストの削
減に貢献する。
アの構成を示す正面図である。
図1の外周周辺領域部の凹凸嵌合部の部分正面図で、
(B)は図1の内部領域部の凹凸嵌合部の部分正面図で
ある。
側面より見た断面図で(B)は図1のキャリアの自転公
転の状況を示す部分正面図である。
接合部 12b 内部領域部側ありざし接合
部 13 キャリア 20 ウェーハ
Claims (5)
- 【請求項1】 被加工物を上下研磨布またはラッピング
定盤との間に介在させて両面研磨ないし両面ラッピング
をすべく、被加工物保持孔を設けるとともに自転及び公
転を可能とした円盤状キャリアであって、 上記キャリアを外周歯を含む外周周辺領域部と該領域以
外の内部領域部とより構成し、外周周辺領域部は樹脂被
覆をした金属部材で構成し、内部領域部は樹脂部材で構
成したことを特徴とする両面研磨および両面ラッピング
用キャリア。 - 【請求項2】 前記内部領域部は、キャリア中心を含む
被加工物の保持孔取り付け可能の円盤状に構成した、こ
とを特徴とする請求項1記載の両面研磨及び両面ラッピ
ング用キャリア。 - 【請求項3】 前記内部領域部は、無機繊維強化プラス
チックで構成した、ことを特徴とする請求項1記載の両
面研磨及び両面ラッピング用キャリア。 - 【請求項4】 前記外周周辺領域部は電着塗装で樹脂被
覆した、ことを特徴とする請求項1記載の両面研磨及び
両面ラッピング用キャリア。 - 【請求項5】 前記外周周辺領域部と内部領域部は、そ
の境界を凹凸嵌合接合により一体構造とした、ことを特
徴とする請求項1記載の両面研磨及び両面ラッピング用
キャリア。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15787097A JPH10329013A (ja) | 1997-05-30 | 1997-05-30 | 両面研磨及び両面ラッピング用キャリア |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15787097A JPH10329013A (ja) | 1997-05-30 | 1997-05-30 | 両面研磨及び両面ラッピング用キャリア |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10329013A true JPH10329013A (ja) | 1998-12-15 |
Family
ID=15659212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15787097A Pending JPH10329013A (ja) | 1997-05-30 | 1997-05-30 | 両面研磨及び両面ラッピング用キャリア |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10329013A (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1294629C (zh) * | 2001-12-06 | 2007-01-10 | 硅电子股份公司 | 硅半导体晶片及制造多个半导体晶片的方法 |
| JP2007331034A (ja) * | 2006-06-12 | 2007-12-27 | Epson Toyocom Corp | ワークキャリア及び両面研磨機 |
| JP2008030157A (ja) * | 2006-07-28 | 2008-02-14 | Read Co Ltd | 有気孔砥石及びその製造方法 |
| JP2009034812A (ja) * | 2007-07-11 | 2009-02-19 | Saichi Industries Inc | 平面両面研磨方法及び平面両面研磨装置 |
| DE102007049811A1 (de) | 2007-10-17 | 2009-04-23 | Siltronic Ag | Läuferscheibe, Verfahren zur Beschichtung einer Läuferscheibe sowie Verfahren zur gleichzeitigen beidseitigen Material abtragenden Bearbeitung von Halbleiterscheiben |
| KR101026574B1 (ko) * | 2009-01-08 | 2011-03-31 | 주식회사 엘지실트론 | 양면 연마 장치용 캐리어와 프레이트 및 이를 이용한 양면 연마 장치 |
| JP2011067905A (ja) * | 2009-09-25 | 2011-04-07 | Nippon Electric Glass Co Ltd | 板状ワーク研磨装置および板状ワーク研磨方法 |
| WO2018163721A1 (ja) * | 2017-03-06 | 2018-09-13 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨装置用キャリア |
| JP2018144221A (ja) * | 2017-03-06 | 2018-09-20 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨装置用キャリア |
| CN109475996A (zh) * | 2016-07-29 | 2019-03-15 | 胜高股份有限公司 | 晶片的双面研磨方法 |
| DE112005001447B4 (de) | 2004-06-23 | 2019-12-05 | Komatsu Denshi Kinzoku K.K. | Doppelseitenpolierträger und Herstellungsverfahren desselben |
| CN113510614A (zh) * | 2021-08-03 | 2021-10-19 | 菲特晶(南京)电子有限公司 | 一种双面研磨机用游轮结构 |
-
1997
- 1997-05-30 JP JP15787097A patent/JPH10329013A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1294629C (zh) * | 2001-12-06 | 2007-01-10 | 硅电子股份公司 | 硅半导体晶片及制造多个半导体晶片的方法 |
| DE112005001447B4 (de) | 2004-06-23 | 2019-12-05 | Komatsu Denshi Kinzoku K.K. | Doppelseitenpolierträger und Herstellungsverfahren desselben |
| JP2007331034A (ja) * | 2006-06-12 | 2007-12-27 | Epson Toyocom Corp | ワークキャリア及び両面研磨機 |
| JP2008030157A (ja) * | 2006-07-28 | 2008-02-14 | Read Co Ltd | 有気孔砥石及びその製造方法 |
| JP2009034812A (ja) * | 2007-07-11 | 2009-02-19 | Saichi Industries Inc | 平面両面研磨方法及び平面両面研磨装置 |
| DE102007049811A1 (de) | 2007-10-17 | 2009-04-23 | Siltronic Ag | Läuferscheibe, Verfahren zur Beschichtung einer Läuferscheibe sowie Verfahren zur gleichzeitigen beidseitigen Material abtragenden Bearbeitung von Halbleiterscheiben |
| US9539695B2 (en) | 2007-10-17 | 2017-01-10 | Siltronic Ag | Carrier, method for coating a carrier, and method for the simultaneous double-side material-removing machining of semiconductor wafers |
| KR101026574B1 (ko) * | 2009-01-08 | 2011-03-31 | 주식회사 엘지실트론 | 양면 연마 장치용 캐리어와 프레이트 및 이를 이용한 양면 연마 장치 |
| JP2011067905A (ja) * | 2009-09-25 | 2011-04-07 | Nippon Electric Glass Co Ltd | 板状ワーク研磨装置および板状ワーク研磨方法 |
| CN109475996A (zh) * | 2016-07-29 | 2019-03-15 | 胜高股份有限公司 | 晶片的双面研磨方法 |
| JP2018144221A (ja) * | 2017-03-06 | 2018-09-20 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨装置用キャリア |
| WO2018163721A1 (ja) * | 2017-03-06 | 2018-09-13 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨装置用キャリア |
| CN113510614A (zh) * | 2021-08-03 | 2021-10-19 | 菲特晶(南京)电子有限公司 | 一种双面研磨机用游轮结构 |
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