JPH1110530A - 両面研磨用キャリア - Google Patents

両面研磨用キャリア

Info

Publication number
JPH1110530A
JPH1110530A JP18440597A JP18440597A JPH1110530A JP H1110530 A JPH1110530 A JP H1110530A JP 18440597 A JP18440597 A JP 18440597A JP 18440597 A JP18440597 A JP 18440597A JP H1110530 A JPH1110530 A JP H1110530A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
carrier
dressing
polishing
resin
function
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18440597A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisashi Masumura
寿 桝村
Kiyoshi Suzuki
清 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Handotai Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Handotai Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shin Etsu Handotai Co Ltd filed Critical Shin Etsu Handotai Co Ltd
Priority to JP18440597A priority Critical patent/JPH1110530A/ja
Priority to EP98111546A priority patent/EP0887152A2/en
Priority to TW087110234A priority patent/TW358056B/zh
Priority to US09/104,396 priority patent/US6042688A/en
Publication of JPH1110530A publication Critical patent/JPH1110530A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B53/00Devices or means for dressing or conditioning abrasive surfaces
    • B24B53/017Devices or means for dressing, cleaning or otherwise conditioning lapping tools
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/27Work carriers
    • B24B37/28Work carriers for double side lapping of plane surfaces

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 キャリア自体に研磨布に対するドレッシング
機能を付加して、研磨中に固着物の除去をなし、併せて
研削機能を持たせ研磨布の減耗修正を可能とし、被研磨
物に対する安定した研磨加工精度の確保を可能とした、
両面研磨用キャリアを提供する。 【構成】 被研磨物保持孔11、研磨剤供給孔12の存
在する領域の外周周辺部位に樹脂被覆をした金属または
樹脂部材よりなるリング13を設け、該リング13の上
下表面に凸部を設け、凸部の形状は円柱、三角錐、四角
錐、円錐、またはブラスト加工により形成された不規則
凸部で形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被研磨物を保持孔
に保持し、研磨布の間に介在させ、且つ自転・公転させ
て、両面研磨する場合に使用する両面研磨用キャリアに
係り、特に半導体ウェーハに使用する両面研磨用キャリ
アに関する。
【0002】
【従来の技術】ラッピング工程により平坦化した被研磨
物は、残留する加工変質層の除去を湿式エッチング工程
により行い、そのあと鏡面仕上げとあわせて高精度の平
坦度加工を可能とする研磨工程に投入させるわけである
が、該研磨工程は、複数段階からなる機械・化学複合研
磨方法が使用されている。上記機械的研磨は「削り取り
作用」と「表面原子配列擾乱作用」をもたらし、化学的
研磨は「溶去作用」と「皮膜形成作用」とを研磨表面に
もたらし、それらの相乗効果により高精度の鏡面仕上げ
を可能としているが、何れにしてもそれらは研磨時の機
械的要素と化学的要素の配分に左右される。
【0003】一方研磨には、前工程による粗面を鏡面に
する領域と、鏡面になった面をさらに研磨を続けて必要
平坦度に近付けて行く領域があり、特に高性能部品であ
る半導体材料においては、鏡面を必要とするとともに加
工変質層深さの僅少化が要求される。即ち、所定平坦精
度に仕上げるとともに加工表面あるいはその直下の層に
おいても材料の内部と全く違わない状態に仕上げること
が要求されている。
【0004】その研磨装置としては、基盤状の被研磨物
に対しては両面研磨装置が効率化を図るために使用さ
れ、上記従来より使用されている両面研磨装置は、図9
(A)に示すように、円盤状のキャリア10に被研磨物
保持孔11を形成し且つ外周に外周歯10aを設け、同
図(B)に見るように矢印A方向に回転する下定盤51
の中心に設けた太陽歯車53と下定盤51の外側に設け
た内歯車54とに噛み合わせ、キャリア10を矢印B方
向の自転と矢印C方向の公転をさせるようにしてある。
なお、上記両面研磨装置に使用するキャリアは従来のキ
ャリアと本発明のキャリアとは形状及び被研磨物保持孔
の取り付け個数及び使用法等は同一であるので、上記説
明に使用するキャリア10、被研磨物保持孔11、及び
外周歯10aの符号は本発明の符号を使用してある。
【0005】前記キャリアー10の3個の被研磨物保持
孔11、11、11内に挿入保持させている被研磨物で
あるウェーハ25、25、25を、互いに逆回転する下
定盤51と上定盤52にそれぞれ貼付してポリッシャを
形成する研磨布51a、52aの間に適当圧の下に挟持
させ、前記上定盤52に設けた研磨剤注入孔56より所
用の研磨剤を滴下させ被研磨物25の両面を同時に研磨
可能にしたものである。
【0006】上記キャリアは、金属性素材構成のものが
あり、例えば実開昭58−4349号公報には金属性キ
ャリア表面に樹脂コーティングを施したものに関する提
案が開示されている。または他の素材構成のものもあ
り、例えば特開昭58−143954号公報には、炭素
繊維に樹脂を含浸させた積層板より構成したキャリアに
関する提案が開示されている。
【0007】一方、上記高品質の鏡面仕上げには、極く
微細な砥粒と軟質ポリッシャ(研磨布)の使用が必要と
されているが、上記研磨布の磨耗も無視できぬものがあ
り研磨の初期の凹凸の多い間は研磨布の磨耗が大きく平
坦化が進むと研磨布の磨耗が押さえられるという結果も
得られ、研磨における材料除去では、砥粒の働きだけで
なく、研磨布による「擦り取り」という機械的作用が働
くものと考えられる。
【0008】また、化学作用で形成された軟質皮膜(水
和膜)が砥粒ないしポリッシャである研磨布により擦り
取られ、取り除かれていく研磨メカニズムの存在も考え
られる。上記研磨メカニズムには、シリコンウェーハの
コロイダルシリカによるメカニカルポリシングの場合が
ある。この場合は、微細な砥粒と軟質ポリッシャの使用
と相俟って、シリコン面が直接擦過されることなく、前
記軟質皮膜(水和膜)の除去を通じて加工が合進むので
加工欠陥のない無擾乱の鏡面加工を可能にしている。
【0009】上記何れにしてもポリッシャである研磨布
の減耗は免れ得ないもので、減耗したポリッシャに被研
磨物が押しつけられポリッシャの弾性変形により結果と
して凸状の仕上がりを持つ研磨面が得られる問題があ
る。即ち、研磨時間の経過とともに研摩量が増加し研摩
量の増加につれ、平坦度が劣化して行くわけで、このた
めポリッシャである研磨布の平坦度修正作業が必要とな
る。
【0010】一方、研磨剤粒子としては、砥粒に1μm
以下の微細のものが使用され、ポリッシャには合成樹脂
・繊維などの軟質材料が使用されているが、研磨加工中
に被研磨物表面より上記研磨剤粒子によって研磨除去さ
れた研磨反応生成物が研磨液中に分散され、その一部は
前記研磨布の表面に固着する。固着の結果研磨性能は劣
化するわけで、従って固着物除去のための研磨布ドレッ
シング作業が必要となる。上記研磨布ドレッシングは、
例えば適当頻度の下に行われるブラシによる研磨布のブ
ラッシングとか、ドレッシング砥石の挿入による研磨布
ドレッシングが行われている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記研磨布
ドレッシングの作業を適当頻度で行っていても、研磨表
面に反応生成物が固着する度合いは研磨布の製造工程に
起因する特性のバラツキによってその頻度は大きく左右
され変化する。そのため、常に研磨後の被研磨物の研磨
精度を確認しながら、研磨布ドレッシングの作業頻度を
決める必要があり、生産効率上不具合の問題があった。
また研磨布によっては研磨加工後、毎回のドレッシング
を必要とする場合もあり、また研磨布ドレッシングの作
業は被研磨物を保持するキャリアを取り外し、研磨布ド
レッシング砥石用保持キャリアを挿入する必要がある
等、生産効率を大きく低下させる問題があった。
【0012】本発明は、上記問題点に鑑みなされたもの
で、キャリア自体に上下研磨布の間を自転・公転して該
研磨布との間の相対運動により保持する被研磨物を研磨
する過程において、上下の研磨布に対するドレッシング
を可能とするドレッシング機能を持たせて付着固形物の
除去をなし、併せて研削機能と研磨機能を維持させ研磨
布の減耗是正を可能とし、被研磨物に対する安定した研
摩精度の確保を可能とし、研磨布製造上の品質バラツキ
に起因する従来のドレッシング頻度のバラツキに対する
配慮を皆無とし、併せて研摩加工物の加工精度のバラツ
キを最小に押さえることを可能とした両面研磨用キャリ
アの提供を目的としたものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】即ち、本発明両面研磨用
キャリアは、次のように構成する。請求項1記載の発明
は、被加工物を上下研磨布の間に介在させて両面研磨を
すべく、被研磨物保持孔を設けるとともに自転及び公転
を可能とした円盤状に構成し、構成部材は金属または樹
脂被覆した金属または樹脂より構成したキャリアであっ
て、上記キャリアに前記研磨布に対するドレッシング機
能を備える構成としたことを特徴とする。
【0014】また、請求項1記載のドレッシング機能
は、被研磨物保持孔群領域の外周周辺部位に樹脂被覆を
した金属または樹脂部材よりなるリングを構成し、該リ
ング上に凸部を設けるドレッシング第1手段により構成
した、ことを特徴とする。
【0015】また、請求項1記載のドレッシング機能
は、キャリアの上下表面に凸部を設けるドレッシング第
2手段により構成した、ことを特徴とする。
【0016】また、請求項1記載のドレッシング機能
は、樹脂被覆された金属ないし樹脂材料よりなる前記キ
ャリアの内部に設けた貫通孔にドレッシング砥石を接着
するドレッシング第3手段により構成した、ことを特徴
とする。
【0017】また、請求項1記載のドレッシング機能
は、キャリア外周歯部位にテーパ状凸部を設けるドレッ
シング第4手段により構成した、ことを特徴とする。
【0018】また、請求項1記載のドレッシング機能
は、キャリア上下表面に形成した凹凸面に溶着させたセ
ラミック砥粒を設けるドレッシング第5手段により構成
した、ことを特徴とする。
【0019】また、請求項6記載の凹凸面は、樹脂また
はダイヤモンドあるいはダイヤモンドライクカーボンに
より被覆した、ことを特徴とする。
【0020】
【作用】本発明によれば、被研磨物の研摩過程において
キャリアの自転と公転により上下の研磨布の全域にわた
り満遍無くドレッシングを可能としたため、キャリアを
挟む上下研磨布に対する反応生成物による目詰まりを防
止除去し、常に研磨布の研摩能力を更新することがで
き、併せて安定した高研磨加工精度を確保することがで
き、また研磨加工間のドレッシングを不用とすることが
できる。
【0021】また、キャリアにドレッシング機能を付加
させるドレッシング第1機能は、キャリアの被研磨物保
持孔群領域の外周周辺部位に樹脂被覆をした金属または
樹脂部材よりなるリングを構成し、該リング上に凸部を
設ける構成としてある。該構成によりキャリアに設けた
複数の被研磨物保持孔の存在する領域の外周周辺に樹脂
被覆をした金属または樹脂部材よりなるリングが設けら
れることになり、該キャリアの機械的剛性は構造的に確
保でき、また前記リング上に設けた凸部により上下の研
磨布に対するドレッシング機能と平坦度修正機能を形成
できる。即ち、研磨布に対する継続的研磨ないし研削機
能を持たせることができ、研磨布の跛行的減耗を除去し
平坦精度を常に修正維持するとともに反応生成物の除去
による研磨布の目直しを可能とし研磨布の研摩機能を更
新維持できる。
【0022】また、キャリアにドレッシング機能を付加
させる他のドレッシング手段は、キャリアの上下表面に
設けた凸部で構成し、該凸部により対抗する研磨布に対
する研削機能とドレッシング機能とを併せ持たせ、研磨
布の目詰まり防止と部分的減耗の修正を継続的に可能と
したもので、研摩機能の継続的更新と平坦度の継続的修
正ができる。
【0023】また、キャリアにドレッシング機能を付加
させる他のドレッシング手段は、キャリアの樹脂被覆さ
れた金属部分ないし樹脂部分に貫通孔を設け、該貫通孔
に装着したドレッシング砥石により構成したもので、該
砥石により研磨布の研削と目詰まり防止により、研摩機
能の継続的更新と平坦度の継続的修正ができる。
【0024】また、キャリアにドレッシング機能を付加
させる他のドレッシング手段は、キャリア外周歯の歯先
き両側に設けたテーパ状凸部により構成したもので、該
凸部により研磨布の研削及び目直しにより、研摩機能の
継続的更新と平坦度の継続的修正ができる。
【0025】また、キャリアにドレッシング機能を付加
させる他のドレッシング手段は、キャリア表面に形成し
た凹凸面に溶着させたセラミック砥粒により構成したも
ので、該セラミック砥粒により研磨布の研磨及び目直し
を継続的に可能とし、研摩機能の継続的更新と平坦度の
継続的修正ができる。
【0026】また、請求項7の発明では、請求項6記載
のキャリア表面の金属部分の露出防止とセラミック砥粒
の脱離及び脱離による磨耗を抑制するため、樹脂または
ダイヤモンドまたはダイヤモンドライクカーボンで該キ
ャリア表面を被覆したものである。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図に示した実施例
を用いて詳細に説明する。但し、この実施例に記載され
る構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは特
に特定的な記載が無い限り、この発明の範囲をそれのみ
に限定する趣旨ではなく単なる説明例に過ぎない。図1
は、本発明のキャリアの概略の構成を示す正面図で、図
2は図1のキャリアに付加したドレッシング第1手段の
構成を示す模式図で、図3は同じくドレッシング第2手
段の構成を示す模式図で、図4は図2及び図3に設けた
凸部の構成を示す拡大模式図である。図5は同じくドレ
ッシング第3手段の構成を示す模式図である。図6は同
じくドレッシング第4手段の構成を示す模式図で、
(A)は拡大破断部分正面図で(B)は(A)のVI−
VI視図である。図7は同じくドレッシング第5手段の
構成を示す模式図で、(A)はそのひとつの実施例を示
す断面図で、(B)は別の実施例を示す断面図である。
【0028】図1に示すように本発明のキャリア10
は、内部のそれぞれの対称位置に3組の被研磨物保持孔
11、11、11と研磨剤供給孔12、12、12とを
含む円盤状構成とし、外周に外周歯10aを備え、その
構成部材は金属または樹脂被覆をした金属または樹脂部
材で構成する。そして、図9(A)(B)に示す両面研
磨装置にセットして、前記外周歯10aを両面研磨装置
の太陽歯車53、内歯車54に噛み合わせ自転及び公転
させ、前記被研磨物保持孔11にワークを挿入保持して
互いに逆回転する上下定盤51、52に貼着した研磨布
51a、52aとの間に形成される相対運動により所定
の研磨を行うようにしてある。
【0029】上記キャリア10にドレッシング機能を付
加させるドレッシング第1手段は、図2に示すように、
キャリア10の被研磨物保持孔11、研磨剤供給孔12
の存在する領域の外周周辺部位に樹脂被覆をした金属ま
たは樹脂部材よりなるリング13を設け、該リングの上
下表面のハッチング部に図4に示すように高さH1aの
凸部13aを間隔sを置いてそれぞれ設ける構成とした
もので、該凸部の形状は円柱、三角錐、四角錐、円錐、
またはブラスト加工により形成された不規則凸部でもよ
く、また、例えばキャリア表面にマスキング処理をして
セラミック砥粒を溶着またはプラスチック材料をコーテ
ィングしてもよい。また別な方法としてはプラスチック
基板(例えばガラスエポキシ積層板)を網目状につく
り、キャリア表面に貼りつける事によってもよい。そし
て、両面に設けた凸部を含む樹脂被覆をした金属または
樹脂部材よりなるリングの厚さ(キャリアの厚さ)H1
は被研磨物の仕上がり厚さに近いほうが望ましく、仕上
がり厚さ、強度、ドレッシング効果等を考慮に入れて設
定する必要がある。
【0030】例えば被研磨物の仕上がり厚さ725μm
に対して、キャリアの凸部を除いた部分のキャリアの厚
さは強度の面で600μmが必要である。また、仕上が
り厚さと凸部を含めたキャリアの厚さH1との差(仕上
がり厚さ−キャリア厚さ)は0〜50μmにする必要が
ある。これより小さい場合(マイナスの場合)は加工物
の平坦度が得られない。また、大きい場合は研磨布をド
レッシングする効果が得られない。上記ドレッシングを
行うための凸部の高さH1aは5.0μm以上あれば良
く、それより小さければ効果が少ない。また、凸部の間
隔sは10μm〜10mmの間で、できれば間隔は小さ
い方がより効果が大きい。このような条件の範囲内を満
たすようにキャリアを形成することが好ましい。
【0031】キャリア10は、該キャリアに設けた複数
の被研磨物保持孔や研磨剤供給孔の存在する領域の外周
周辺に樹脂被覆をした金属または樹脂部材よりなるリン
グを設けたため、該キャリアの機械的剛性は構造的に確
保でき、また前記リング上下両面に設けた凸部により上
下の研磨布に対し平坦度修正機能を構成する。即ち、研
磨布に対する継続的研磨ないし研削機能を持たせること
ができ、研磨布の跛行的減耗を除去し平坦精度を常に修
正維持するとともに反応生成物の除去による研磨布の目
直しを可能とし研磨布の研摩機能を更新維持できる。
【0032】また、キャリア10にドレッシング機能を
付加させるドレッシング第2手段は、図3に示すように
キャリア10の上下両面の表面(ハッチング部位)14
に、図4に示す高さH1aの凸部14aを間隔sを置い
てそれぞれ設ける構成としたもので、該凸部の形状は円
柱、三角錐、四角錐、円錐、またはブラスト加工により
形成された不規則凸部でもよく、また、例えばキャリア
表面にマスキング処理をしてセラミック砥粒を溶着また
はプラスチック材料をコーティングしてもよい。また別
な方法としてはプラスチック基板(例えばガラスエポキ
シ積層板)を網目状につくり、キャリア表面に貼りつけ
る事によってもよい。 そして、両面に設けた凸部を含
むキャリアの厚さH1は被研磨物の仕上がり厚さに近い
ほうが望ましく、上記凸部の高さH1a、凸部の間隔s
とともに、前記したように仕上がり厚さ、強度、ドレッ
シング効果等を考慮に入れて設定する必要がある。
【0033】キャリア表面に設けた上記凸部により、対
抗する研磨布に対する研削機能とドレッシング機能とを
併せ持たせ、研磨布の目詰まり防止と部分的減耗の修正
を継続的に可能としたもので、研摩機能の継続的更新と
平坦度の継続的修正ができる。
【0034】また、キャリア10にドレッシング機能を
付加させるドレッシング第3手段は、図5に示すよう
に、キャリア10の樹脂被覆された金属部分ないし樹脂
部分に貫通孔を設け、該貫通孔に装着したドレッシング
砥石15(ハッチング部位)により構成したもので、該
砥石により研磨布の研削と目直しを機能させ、研摩機能
の継続的更新と平坦度の継続的修正が可能となる。な
お、上記ドレッシング砥石15は後記するドレッシング
第5手段に使用する砥石の使用及び、前記凸部の形状を
使用しても良い。
【0035】また、キャリア10にドレッシング機能を
付加させるドレッシング第4手段は、図6(A)に示す
ように、キャリア10の外周歯10aの上下歯先き両側
に設けた高さH2aのテーパ状凸部16(ハッチング部
位)により構成したものである。該凸部形状は、同図
(B)のVI−VI視図に示すように構成し、前記両側
の凸部16を含むキャリアの厚さH2は被研磨物の仕上
がり厚さに近い方が望ましく、仕上がり厚さ、強度、ド
レッシング効果等を考慮に入れて設定する必要がある。
【0036】上記テーパ状凸部の作り方については特に
規定しないが、キャリアベース、特に外周歯部分を金属
で形成し、このギヤ歯部分の断面を加圧圧延してテーパ
部を形成する。そしてこの表面にプラスチックまたはセ
ラミックをコートすることによって形成する。また、別
な方法としては、テーパ状に形成したプラスチック板
(例えばガラスエポキシ板)をギヤ歯部分に貼りつけて
もよい。
【0037】例えば被研磨物の仕上がり厚さ725μm
に対して、キャリアの凸部を除いた部分のキャリアの厚
さは強度の面で600μmが必要である。また、仕上が
り厚さと凸部を含めたキャリアの厚さH2との差(仕上
がり厚さ−キャリア厚さ)は0〜50μmにする必要が
ある。これより小さい場合(マイナスの場合)は加工物
の平坦度が得られない。また、大きい場合は研磨布をド
レッシングする効果が得られない。上記ドレッシングを
行うための凸部の高さH2aは5.0μm以上あれば良
く、それより小さければ効果が少ない。
【0038】上記テーパ状凸部16により研磨布の研削
及び目直しが可能となり、研摩機能の継続的更新と平坦
度の継続的修正ができる。
【0039】また、キャリア10にドレッシング機能を
付加させるドレッシング第5手段は、図7(A)に示す
ように、キャリア10の上下両面に機械加工ないしブラ
スト加工で形成した凹凸面17aにセラミック砥粒18
(砥粒サイズ#50〜#4000)を溶着させ、さらに
その表面をエポキシ樹脂19で被覆したもので、ドレッ
シング機能を高める構成としたものである。
【0040】また、図7(B)に示すように、キャリア
10の上下両面に機械加工ないしブラスト加工で形成さ
れた凹凸面17bにセラミック砥粒18(砥粒サイズ#
50〜#4000)を溶着させ、さらに樹脂またはダイ
ヤモンドまたはダイヤモンドライクカーボン20で被覆
させる場合もある。この場合は、キャリア表面の金属部
分の露出の防止とセラミックの脱離防止及び脱離による
磨耗を防止するようにしたものである。
【0041】上記凹凸面17a、17bの表面粗さは平
均粗さRaで0.5μm以上あれば良く、上限はないが
実質的に10μm程度で良い。
【0042】上記セラミック砥粒18により研磨布の研
磨及び目直しを継続的に可能とし、研摩機能の継続的更
新と平坦度の継続的修正ができる。
【0043】
【実施例】本発明のドレッシング第2手段により例えば
下記構成のキャリアを作成した。即ち、被研磨物の仕上
がり厚さ725μmを得るため、凸部の高さH1aを除
いたキャリアの厚さを690μm程度とし、その表面に
間隔sを100μm程度、片面の凸部の高さH1aを1
5μmとした凸部を設け、厚さ720μmのキャリアを
構成した。
【0044】また、ドレッシング第3手段により例えば
下記構成のキャリアを作成した。即ち、キャリア外周部
に20mmφの孔を6箇所設けて表面にアルミナ砥粒を
プラズマ溶着し、表面にエポキシ樹脂を被覆したドレッ
シング砥石15を作り接着したキャリアを構成した。
【0045】また、本発明のドレッシング第4、第5手
段により構成されたキャリアを使用してドレッシング手
段を施さないキャリアとの比較試験を行った。その結果
について下記説明する。 試料ウェーハ; CZ単結晶、P型、結晶方位<100
>、200mmφ、厚さ745μm、のエッチングウェ
ーハ 比較試験キャリア;実験例1、厚さ700μmのエポキ
シ樹脂コーティングSKキャリアを使用し、 外周歯部位に片面のテーパ状凸部の高さH2aが12.
5μmの凸加工(ドレッシング第4手段)をしたキャリ
アを使用、 実験例2、ブラスト処理により表面粗さRa=5.0μ
mにしたSK材(厚さ約600μm)に対して、アルミ
ナ砥粒(#2000)の溶着層が片面50μmになるよ
うにプラズマ溶着し、その上にエポキシ樹脂のコート層
を7.5μm程度にコーティングした略725μmのキ
ャリア(ドレッシング第5手段)を使用、 比較例、 厚さ700μmの表面エポキシ樹脂コーティ
ングSK材使用 研磨布、 不織布タイプ、硬度80(アスカーC硬度) 研磨剤、 コロイダルシリカ剤(pH=10.5) 研磨荷重、 150g/cm2 研磨除去量、 20μm
【0046】上記比較試験の結果は、図8に示してある
が、要約すると、比較例1のキャリアでは研磨バッチ回
数を重ねるにつれ、被研摩加工物の平坦度TTV(To
tal Thickness Variation)が
悪化していくが、実験例1、実験例2のキャリアでは安
定した平坦度が得られた。また、比較例では、数バッチ
程度で研磨布表面に固着物が観察されたが実施例の場
合、テストの範囲内での目視では研磨布表面に固着物は
見られなかった。
【0047】
【発明の効果】本発明の上記構成により、研磨布のドレ
ッシング及び平坦度修正が行えるため、安定した被研磨
物の研摩加工精度を確保できる。また、研摩途中で装置
を停止させキャリアの取り外しを行っていた従来のドレ
ッシング作業及び平坦度修正作業を減らすことができ、
作業効率を上げることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のキャリアの概略の構成を示す正面図で
ある。
【図2】図1のキャリアに付加したドレッシング第1手
段の構成を示す模式図である。
【図3】図1のキャリアに付加したドレッシング第2手
段の構成を示す模式図である。
【図4】図2及び図3に設けた凸部の構成を示す拡大模
式図である。
【図5】図1のキャリアに付加したドレッシング第3手
段の構成を示す模式図である。
【図6】図1のキャリアに付加したドレッシング第4手
段の構成を示す模式図で、(A)は拡大破断部分正面図
で(B)は(A)のVI−VI視図である。
【図7】図1のキャリアに付加したドレッシング第5手
段の構成を示す模式図で、(A)はそのひとつの実施例
を示す断面図で、(B)は別の実施例を示す断面図であ
る。
【図8】比較試験結果を示す図である。
【図9】両面研磨装置の概略の構成を示す図で、(A)
は側面より見た断面図で(B)はキャリアの自転・公転
の状況を示す部分正面図である。
【符号の説明】
10 キャリア 10a 外周歯 11 被研磨物保持孔 12 研磨剤供給孔 13 樹脂被覆をした金属または樹脂部材よりなるリ
ング 14 表面 15 ドレッシング砥石 16 テーパ状凸部 18 セラミック砥粒 25 被研磨物
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成10年9月9日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明細書
【発明の名称】 両面研磨用キャリア
【特許請求の範囲】
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被研磨物を保持孔
に保持し、研磨布の間に介在させ、且つ自転・公転させ
て、両面研磨する場合に使用する両面研磨用キャリアに
係り、特に半導体ウェーハに使用する両面研磨用キャリ
アに関する。
【0002】
【従来の技術】ラッピング工程により平坦化した被研磨
物は、残留する加工変質層の除去を湿式エッチング工程
により行ない、そのあと鏡面仕上げとあわせて高精度の
平坦度加工を可能とする研磨工程に投入させるわけであ
るが、該研磨工程は、複数段階からなる機械・化学複合
研磨方法が使用されている。上記機械的研磨は「削り取
り作用」と「表面原子配列擾乱作用」をもたらし、化学
的研磨は「溶去作用」と「皮膜形成作用」とを研磨表面
にもたらし、それらの相乗効果により高精度の鏡面仕上
げを可能としているが、何れにしてもそれらは研磨時の
機械的要素と化学的要素の配分に左右される。
【0003】一方研磨には、前工程による粗面を鏡面に
する領域と、鏡面になった面をさらに研磨を続けて必要
平坦度に近付けていく領域があり、特に高性能部品であ
る半導体材料においては、鏡面を必要とするとともに加
工変質層深さの僅少化が要求される。即ち、所定平坦精
度に仕上げるとともに加工表面あるいはその直下の層に
おいても材料の内部と全く違わない状態に仕上げること
が要求されている。
【0004】その研磨装置としては、基板状の被研磨物
に対しては両面研磨装置が効率化を図るために使用さ
れ、上記従来より使用されている両面研磨装置は、図9
(A)に示すように、円板状のキャリア10に被研磨物
保持孔11を形成し且つ外周に外周歯10aを設け、同
図(B)に見るように矢印A方向に回転する下定盤51
の中心に設けた太陽歯車53と下定盤51の外側に設け
た内歯車54とに噛み合わせ、キャリア10を矢印B方
向の自転と矢印C方向の公転をさせるようにしてある。
なお、上記両面研磨装置に使用するキャリアは従来のキ
ャリアと本発明のキャリアとは形状及び被研磨物保持孔
の取り付け個数及び使用法等は同一であるので、上記説
明に使用するキャリア10、被研磨物保持孔11、及び
外周歯10aの符号は本発明の符号を使用してある。
【0005】前記キャリア10の3個の被研磨物保持孔
11、11、11内に挿入保持させている被研磨物であ
るウェーハ25、25、25を、互いに逆回転する下定
盤51と上定盤52にそれぞれ貼付してポリッシャを形
成する研磨布51a、52aの間に適当圧の下に挟持さ
せ、前記上定盤52に設けた研磨剤注入孔56より所用
の研磨剤を滴下させ被研磨物25の両面を同時に研磨可
能にしたものである。
【0006】上記キャリアは、金属性素材構成のものが
あり、例えば実開昭58−4349号公報には金属性キ
ャリア表面に樹脂コーティングを施したものに関する提
案が開示されている。または他の素材構成のものもあ
り、例えば特開昭58−143954号公報には、炭素
繊維に樹脂を含浸させた積層板より構成したキャリアに
関する提案が開示されている。
【0007】一方、上記高品質の鏡面仕上げには、極く
微細な砥粒と軟質ポリッシャ(研磨布)の使用が必要と
されているが、上記研磨布の磨耗も無視できぬものがあ
り研磨の初期の凹凸の多い間は研磨布の磨耗が大きく平
坦化が進むと研磨布の磨耗が抑えられるという結果も得
られ、研磨における材料除去では、砥粒の働きだけでな
く、研磨布による「擦り取り」という機械的作用が働く
ものと考えられる。
【0008】また、化学作用で形成された軟質皮膜(水
和膜)が砥粒ないしポリッシャである研磨布により擦り
取られ、取り除かれていく研磨メカニズムの存在も考え
られる。上記研磨メカニズムには、シリコンウェーハの
コロイダルシリカによるメカニカルポリシングの場合が
ある。この場合は、微細な砥粒と軟質ポリッシャの使用
と相俟って、シリコン面が直接擦過されることなく、前
記軟質皮膜(水和膜)の除去を通じて加工が合進むので
加工欠陥のない無擾乱の鏡面加工を可能にしている。
【0009】上記何れにしてもポリッシャである研磨布
の減耗は免れ得ないもので、減耗したポリッシャに被研
磨物が押しつけられポリッシャの弾性変形により結果と
して凸状の仕上がりを持つ研磨面が得られる問題があ
る。即ち、研磨時間の経過とともに研磨量が増加し研磨
量の増加につれ、平坦度が劣化していくわけで、このた
めポリッシャである研磨布の平坦度修正作業が必要とな
る。
【0010】一方、研磨剤粒子としては、砥粒に1μm
以下の微細のものが使用され、ポリッシャには合成樹脂
・繊維などの軟質材料が使用されているが、研磨加工中
に被研磨物表面より上記研磨剤粒子によって研磨除去さ
れた研磨反応生成物が研磨液中に分散され、その一部は
前記研磨布の表面に固着する。固着の結果研磨性能は劣
化するわけで、従って固着物除去のための研磨布ドレッ
シング作業が必要となる。上記研磨布ドレッシングは、
例えば適当頻度の下に行なわれるブラシによる研磨布の
ブラッシングとか、ドレッシング砥石の挿入による研磨
布ドレッシングが行なわれている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記研磨布
ドレッシングの作業を適当頻度で行なっていても、研磨
表面に反応生成物が固着する度合いは研磨布の製造工程
に起因する特性のバラツキによってその頻度は大きく左
右され変化する。そのため、常に研磨後の被研磨物の研
磨精度を確認しながら、研磨布ドレッシングの作業頻度
を決める必要があり、生産効率上不具合の問題があっ
た。また研磨布によっては研磨加工後、毎回のドレッシ
ングを必要とする場合もあり、また研磨布ドレッシング
の作業は被研磨物を保持するキャリアを取り外し、研磨
布ドレッシング砥石用保持キャリアを挿入する必要があ
る等、生産効率を大きく低下させる問題があった。
【0012】本発明は、上記問題点に鑑みなされたもの
で、キャリア自体に上下研磨布の間を自転・公転して該
研磨布との間の相対運動により保持する被研磨物を研磨
する過程において、上下の研磨布に対するドレッシング
を可能とするドレッシング機能を持たせて付着固形物の
除去をなし、併せて研削機能と研磨機能を維持させ研磨
布の減耗是正を可能とし、被研磨物に対する安定した研
磨精度の確保を可能とし、研磨布製造上の品質バラツキ
に起因する従来のドレッシング頻度のバラツキに対する
配慮を皆無とし、併せて研磨加工物の加工精度のバラツ
キを最小に抑えることを可能とした両面研磨用キャリア
の提供を目的としたものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】即ち、本発明両面研磨用
キャリアは、次のように構成する。請求項1記載の発明
は、被加工物を上下研磨布の間に介在させて両面研磨を
行なうべく、被研磨物保持孔を設けるとともに自転及び
公転を可能とした円板状に構成し、構成部材は金属また
は樹脂被覆した金属または樹脂より構成したキャリアで
あって、上記キャリアに前記研磨布に対するドレッシン
グ機能を備える構成としたことを特徴とする。
【0014】また、請求項1記載のドレッシング機能
は、被研磨物保持孔群領域の外周周辺部位に樹脂被覆を
した金属または樹脂部材よりなるリングを構成し、該リ
ング上に凸部を設けたドレッシング手段(以下第1のド
レッシング手段という)により構成したことを特徴とす
る。
【0015】また、請求項1記載のドレッシング機能
は、キャリアの上下表面に凸部を設けたドレッシング手
段(以下第2のドレッシング手段という)により構成し
たことを特徴とする。
【0016】また、請求項1記載のドレッシング機能
は、樹脂被覆された金属ないし樹脂材料よりなる前記キ
ャリアの内部に設けた貫通孔にドレッシング砥石を接着
したドレッシング手段(以下第3のドレッシング手段と
いう)により構成したことを特徴とする。
【0017】また、請求項1記載のドレッシング機能
は、キャリア外周歯部位にテーパ状凸部を設けたドレッ
シング手段(以下第4のドレッシング手段という)によ
り構成したことを特徴とする。
【0018】また、請求項1記載のドレッシング機能
は、キャリア上下表面に形成した凹凸面にセラミック砥
粒を溶射させてドレッシング手段(以下第5のドレッシ
ング手段という)を構成したことを特徴とする。
【0019】また、請求項7記載の凹凸面は、樹脂また
はダイヤモンドあるいはダイヤモンドライクカーボンに
より被覆したことを特徴とする。
【0020】
【作用】本発明によれば、被研磨物の研磨過程において
キャリアの自転と公転により上下の研磨布の全域にわた
り満遍無くドレッシングを可能としたため、キャリアを
挟む上下研磨布に対する反応生成物による目詰まりを防
止除去し、常に研磨布の研磨能力を更新することがで
き、併せて安定した高研磨加工精度を確保することがで
き、また研磨加工間のドレッシングを不用とすることが
できる。
【0021】また、前記第1のドレッシング手段によれ
ば、キャリアに設けた複数の被研磨物保持孔の存在する
領域の外周周辺に樹脂被覆をした金属または樹脂部材よ
りなるリングが設けられることになり、該キャリアの機
械的剛性は構造的に確保でき、また前記リング上に設け
た凸部により上下の研磨布に対するドレッシング機能と
平坦度修正機能を形成できる。即ち、研磨布に対する継
続的研磨ないし研削機能を持たせることができ、研磨布
の跛行的減耗を除去し平坦精度を常に修正維持するとと
もに反応生成物の除去による研磨布の目直しを可能とし
研磨布の研磨機能を更新維持できる。
【0022】また、前記第2のドレッシング手段によれ
ば、該凸部により対抗する研磨布に対する研削機能とド
レッシング機能とを併せ持たせ、研磨布の目詰まり防止
と部分的減耗の修正を継続的に可能とする事が出来、研
磨機能の継続的更新と平坦度の継続的修正ができる。
【0023】また、前記第3のドレッシング手段は、キ
ャリアの樹脂被覆された金属部分若しくは樹脂部分に設
けた貫通孔にドレッシング砥石を装着して構成したもの
で、該砥石により研磨布の研削と目詰まり防止により、
研磨機能の継続的更新と平坦度の継続的修正ができる。
【0024】また、前記第4のドレッシング手段は、キ
ャリア外周歯の歯先両側に設けたテーパ状凸部により構
成したもので、該凸部により研磨布の研削及び目直しに
より、研磨機能の継続的更新と平坦度の継続的修正がで
きる。
【0025】また、前記第5のドレッシング手段は、キ
ャリア表面に形成した凹凸面に溶射させたセラミック砥
粒により構成したもので、該セラミック砥粒により研磨
布の研磨及び目直しを継続的に可能とし、研磨機能の継
続的更新と平坦度の継続的修正ができる。
【0026】また、請求項7の発明は、請求項6記載の
キャリア表面の金属部分の露出防止とセラミック砥粒の
脱離及び脱離による磨耗を抑制するため、樹脂またはダ
イヤモンドまたはダイヤモンドライクカーボンで該キャ
リア表面を被覆したものである。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図に示した実施例
を用いて詳細に説明する。但し、この実施例に記載され
る構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは特
に特定的な記載が無い限り、この発明の範囲をそれのみ
に限定する趣旨ではなく単なる説明例に過ぎない。
【0028】図1は、本発明のキャリアの概略の構成を
示す正面図で、図2は図1のキャリアに付加した第1の
ドレッシング手段の構成を示す模式図で、図3は同じく
第2のドレッシング手段の構成を示す模式図で、図4は
図2及び図3に設けた凸部の構成を示す拡大模式図であ
る。図5は同じく第3のドレッシング手段の構成を示す
模式図である。図6は同じく第4のドレッシング手段の
構成を示す模式図で、(A)は拡大破断部分正面図で
(B)は(A)のVI−VI視図である。図7は同じく第5
のドレッシング手段の構成を示す模式図で、(A)はそ
のひとつの実施例を示す断面図で、(B)は別の実施例
を示す断面図である。
【0029】図1に示すように本発明のキャリア10
は、内部のそれぞれの対称位置に3組の被研磨物保持孔
11、11、11と研磨剤供給孔12、12、12とを
含む円板状構成とし、外周に外周歯10aを備え、その
構成部材は金属または樹脂被覆をした金属または樹脂部
材で構成する。そして、図9(A)(B)に示す両面研
磨装置にセットして、前記外周歯10aを両面研磨装置
の太陽歯車53、内歯車54に噛み合わせ自転及び公転
させ、前記被研磨物保持孔11にワークを挿入保持して
互いに逆回転する上下定盤51、52に貼着した研磨布
51a、52aとの間に形成される相対運動により所定
の研磨を行なうようにしてある。
【0030】上記キャリア10にドレッシング機能を付
加させる第1のドレッシング手段は、図2に示すよう
に、キャリア10の被研磨物保持孔11、研磨剤供給孔
12の存在する領域の外周周辺部位に樹脂被覆をした金
属または樹脂部材よりなるリング13を設け、該リング
の上下表面のハッチング部に図4に示すように高さH1
a の凸部13aを間隔sを置いてそれぞれ設ける構成
としたもので、該凸部の形状は円柱、三角錐、四角錐、
円錐、またはブラスト加工により形成された不規則凸部
でもよく、また、例えばキャリア表面にマスキング処理
をしてセラミック砥粒を溶射またはプラスチック材料を
コーティングしてもよい。また別な方法としてはプラス
チック基板(例えばガラスエポキシ積層板)を網目状に
つくり、キャリア表面に貼りつける事によってもよい。
そして、両面に設けた凸部を含む樹脂被覆をした金属ま
たは樹脂部材よりなるリングの厚さ(キャリアの厚さ)
H1は被研磨物の仕上がり厚さに近いほうが望ましく、
仕上がり厚さ、強度、ドレッシング効果等を考慮に入れ
て設定する必要がある。
【0031】例えば被研磨物の仕上がり厚さ725μm
に対して、キャリアの凸部を除いた部分のキャリアの厚
さは強度の面で600μmが必要である。また、仕上が
り厚さと凸部を含めたキャリアの厚さH1 との差(仕上
がり厚さ−キャリア厚さ)は0〜50μmにする必要が
ある。これより小さい場合(マイナスの場合)は加工物
の平坦度が得られない。また、大きい場合は研磨布をド
レッシングする効果が得られない。
【0032】上記ドレッシングを行なうための凸部の高
さH1a は5.0μm以上あれば良く、それより小さけ
れば効果が少ない。また、凸部の間隔sは10μm〜1
0mmの間で、できれば間隔は小さい方がより効果が大
きい。このような条件の範囲内を満たすようにキャリア
を形成することが好ましい。
【0033】キャリア10は、該キャリアに設けた複数
の被研磨物保持孔や研磨剤供給孔の存在する領域の外周
周辺に樹脂被覆をした金属または樹脂部材よりなるリン
グを設けたため、該キャリアの機械的剛性は構造的に確
保でき、また前記リング上下両面に設けた凸部により上
下の研磨布に対し平坦度修正機能を構成する。即ち、研
磨布に対する継続的研磨ないし研削機能を持たせること
ができ、研磨布の跛行的減耗を除去し平坦精度を常に修
正維持するとともに反応生成物の除去による研磨布の目
直しを可能とし研磨布の研磨機能を更新維持できる。
【0034】また、キャリア10にドレッシング機能を
付加させる第2のドレッシング手段は、図3に示すよう
にキャリア10の上下両面の表面(ハッチング部位)1
4に、図4に示す高さH1aの凸部14aを間隔sを置
いてそれぞれ設ける構成としたもので、該凸部の形状は
円柱、三角錐、四角錐、円錐、またはブラスト加工によ
り形成された不規則凸部でもよく、また、例えばキャリ
ア表面にマスキング処理をしてセラミック砥粒を溶射ま
たはプラスチック材料をコーティングしてもよい。また
別な方法としてはプラスチック基板(例えばガラスエポ
キシ積層板)を網目状につくり、キャリア表面に貼りつ
ける事によってもよい。
【0035】そして、両面に設けた凸部を含むキャリア
の厚さH1 は被研磨物の仕上がり厚さに近いほうが望ま
しく、上記凸部の高さH1a 、凸部の間隔sとともに、
前記したように仕上がり厚さ、強度、ドレッシング効果
等を考慮に入れて設定する必要がある。
【0036】キャリア表面に設けた上記凸部により、対
抗する研磨布に対する研削機能とドレッシング機能とを
併せ持たせ、研磨布の目詰まり防止と部分的減耗の修正
を継続的に可能としたもので、研磨機能の継続的更新と
平坦度の継続的修正ができる。
【0037】また、キャリア10にドレッシング機能を
付加させる第3のドレッシング手段は、図5に示すよう
に、キャリア10の樹脂被覆された金属部分ないし樹脂
部分に貫通孔を設け、該貫通孔に装着したドレッシング
砥石15(ハッチング部位)により構成したもので、該
砥石により研磨布の研削と目直しを機能させ、研磨機能
の継続的更新と平坦度の継続的修正が可能となる。な
お、上記ドレッシング砥石15は後記する第5のドレッ
シング手段に使用する砥石の使用及び、前記凸部の形状
を使用しても良い。
【0038】また、キャリア10にドレッシング機能を
付加させる第4のドレッシング手段は、図6(A)に示
すように、キャリア10の外周歯10aの上下歯先き両
側に設けた高さH2a のテーパ状凸部16(ハッチング
部位)により構成したものである。該凸部形状は、同図
(B)のVI−VI視図に示すように構成し、前記両側の凸
部16を含むキャリアの厚さH2は被研磨物の仕上がり
厚さに近い方が望ましく、仕上がり厚さ、強度、ドレッ
シング効果等を考慮に入れて設定する必要がある。
【0039】上記テーパ状凸部の作り方については特に
規定しないが、キャリアベース、特に外周歯部分を金属
で形成し、このギヤ歯部分の断面をプレス等の加圧成
形、切削、鍛造その他の加工手段によりテーパ部を形成
する。そしてこの表面にプラスチックまたはセラミック
をコートすることによって形成する。また、別な方法と
しては、テーパ状に形成したプラスチック板(例えばガ
ラスエポキシ板)をギヤ歯部分に貼りつけてもよい。
【0040】例えば被研磨物の仕上がり厚さ725μm
に対して、キャリアの凸部を除いた部分のキャリアの厚
さは強度の面で600μmが必要である。また、仕上が
り厚さと凸部を含めたキャリアの厚さH2 との差(仕上
がり厚さ−キャリア厚さ)は0〜50μmにする必要が
ある。これより小さい場合(マイナスの場合)は加工物
の平坦度が得られない。また、大きい場合は研磨布をド
レッシングする効果が得られない。上記ドレッシングを
行なうための凸部の高さH2a は5.0μm以上あれば
良く、それより小さければ効果が少ない。
【0041】上記テーパ状凸部16により研磨布の研削
及び目直しが可能となり、研磨機能の継続的更新と平坦
度の継続的修正ができる。
【0042】また、キャリア10にドレッシング機能を
付加させる第5のドレッシング手段は、図7(A)に示
すように、キャリア10の上下両面に機械加工ないしブ
ラスト加工で形成した凹凸面17aにセラミック砥粒1
8(砥粒サイズ#50〜#4000)を溶射させ、さら
にその表面をエポキシ樹脂19で被覆したもので、ドレ
ッシング機能を高める構成としたものである。
【0043】また、図7(B)に示すように、キャリア
10の上下両面に機械加工ないしブラスト加工で形成さ
れた凹凸面17bにセラミック砥粒18(砥粒サイズ#
50〜#4000)を溶射させ、さらに樹脂またはダイ
ヤモンドまたはダイヤモンドライクカーボン20で被覆
させる場合もある。この場合は、キャリア表面の金属部
分の露出の防止とセラミックの脱離防止及び脱離による
磨耗を防止するようにしたものである。
【0044】上記凹凸面17a、17bの表面粗さは平
均粗さRaで0.5μm以上あれば良く、上限はないが
実質的に10μm程度で良い。
【0045】上記セラミック砥粒18により研磨布の研
磨及び目直しを継続的に可能とし、研磨機能の継続的更
新と平坦度の継続的修正ができる。
【0046】
【実施例】本発明の第2のドレッシング手段により例え
ば下記構成のキャリアを作成した。即ち、被研磨物の仕
上がり厚さ725μmを得るため、凸部の高さH1a を
除いたキャリアの厚さを690μm程度とし、その表面
に間隔sを100μm程度、片面の凸部の高さH1a を
15μmとした凸部を設け、厚さ720μmのキャリア
を構成した。
【0047】また、第3のドレッシング手段により例え
ば下記構成のキャリアを作成した。即ち、外周部に20
mmφの孔を6個所設けたキャリアを用意し、表面にア
ルミナ砥粒をプラズマ溶射した後にエポキシ樹脂で被覆
したドレッシング砥石15を作り、用意したキャリアの
6個所の孔に接着して、ドレッシング手段を備えたキャ
リアを構成した。
【0048】また、本発明のドレッシング第4、第5手
段により構成されたキャリアを使用してドレッシング手
段を施さないキャリアとの比較試験を行なった。その結
果について下記に説明する。 試料ウェーハ;CZ単結晶、P型、結晶方位<100
>、200mmφ、厚さ745μm、のエッチングウェ
ーハ 比較試験キャリア; 実験例1)厚さ700μmのエポキシ樹脂コーティング
SKキャリアを使用し、外周歯部位に片面のテーパ状凸
部の高さH2aが12.5μmの凸加工(第4のドレッ
シング手段)をしたキャリアを使用。 実験例2)ブラスト処理により表面粗さRa=5.0μ
mにしたSK材(厚さ約600μm)に対して、アルミ
ナ砥粒(#2000)の溶着層が片面50μmになるよ
うにプラズマ溶射し、その上にエポキシ樹脂のコート層
を7.5μm程度にコーティングした略725μmのキ
ャリア(第5のドレッシング手段)を使用。 比較例 厚さ700μmの表面エポキシ樹脂コーテ
ィングSK材使用 研磨布 不織布タイプ、硬度80(アスカーC硬
度:JIS−K6301) 研磨剤 コロイダルシリカ剤(pH=10.5) 研磨荷重 150g/cm2 研磨除去量 20μm
【0049】上記比較試験の結果は、図8に示してある
が、要約すると、比較例1のキャリアでは研磨バッチ回
数を重ねるにつれ、被研磨加工物の平坦度TTV(Tota
l Thickness Variation )が悪化していくが、実験例
1、実験例2のキャリアでは安定した平坦度が得られ
た。また、比較例では、数バッチ程度で研磨布表面に固
着物が観察されたが実施例の場合、テストの範囲内での
目視では研磨布表面に固着物は見られなかった。
【0050】
【発明の効果】本発明の上記構成により、研磨布のドレ
ッシング及び平坦度修正が行なえるため、安定した被研
磨物の研磨加工精度を確保できる。また、研磨途中で装
置を停止させキャリアの取り外しを行なっていた従来の
ドレッシング作業及び平坦度修正作業を減らすことがで
き、作業効率を上げることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のキャリアの概略の構成を示す正面図
である。
【図2】 図1のキャリアに付加した第1のドレッシン
グ手段の構成を示す模式図である。
【図3】 図1のキャリアに付加した第2のドレッシン
グ手段の構成を示す模式図である。
【図4】 図2及び図3に設けた凸部の構成を示す拡大
模式図である。
【図5】 図1のキャリアに付加した第3のドレッシン
グ手段の構成を示す模式図である。
【図6】 図1のキャリアに付加した第4のドレッシン
グ手段の構成を示す模式図で、(A)は拡大破断部分正
面図で(B)は(A)のVI−VI視図である。
【図7】 図1のキャリアに付加した第5のドレッシン
グ手段の構成を示す模式図で、(A)はそのひとつの実
施例を示す断面図で、(B)は別の実施例を示す断面図
である。
【図8】 比較試験結果を示す図である。
【図9】 両面研磨装置の概略の構成を示す図で、
(A)は側面より見た断面図で(B)はキャリアの自転
・公転の状況を示す部分正面図である。
【符号の説明】 10 キャリア 10a 外周歯 11 被研磨物保持孔 12 研磨剤供給孔 13 樹脂被覆をした金属または樹脂部材よりなるリ
ング 14 表面 15 ドレッシング砥石 16 テーパ状凸部 18 セラミック砥粒 25 被研磨物

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被加工物を上下研磨布の間に介在させて
    両面研磨をするべく、被研磨物保持孔を設けるとともに
    自転及び公転を可能とした円盤状に構成し、構成部材は
    金属または樹脂被覆した金属または樹脂より構成したキ
    ャリアであって、 上記キャリアに前記研磨布に対する
    ドレッシング機能を備える構成としたことを特徴とする
    両面研磨用キャリア。
  2. 【請求項2】 前記ドレッシング機能は、被研磨物保持
    孔群領域の外周周辺部位に樹脂被覆をした金属または樹
    脂部材よりなるリングを構成し、該リング上に凸部を設
    けるドレッシング第1手段により構成した、ことを特徴
    とする請求項1記載の両面研磨用キャリア。
  3. 【請求項3】 前記ドレッシング機能は、キャリアの上
    下表面に凸部を設けるドレッシング第2手段により構成
    した、ことを特徴とする請求項1記載の両面研磨用キャ
    リア。
  4. 【請求項4】 前記ドレッシング機能は、樹脂被覆され
    た金属ないし樹脂材料よりなる前記キャリアの内部に設
    けた貫通孔にドレッシング砥石を接着するドレッシング
    第3手段により構成した、ことを特徴とする請求項1記
    載の両面研磨用キャリア。
  5. 【請求項5】 前記ドレッシング機能は、キャリア外周
    歯部位にテーパ状凸部を設けるドレッシング第4手段に
    より構成した、ことを特徴とする請求項1記載の両面研
    磨用キャリア。
  6. 【請求項6】 前記ドレッシング機能は、キャリア上下
    表面に形成した凹凸面に溶着させたセラミック砥粒を設
    けるドレッシング第5手段により構成した、ことを特徴
    とする請求項1記載の両面研磨用キャリア。
  7. 【請求項7】 前記凹凸面は、樹脂またはダイヤモンド
    あるいはダイヤモンドライクカーボンにより被覆した、
    ことを特徴とする請求項6記載の両面研磨用キャリア。
JP18440597A 1997-06-25 1997-06-25 両面研磨用キャリア Pending JPH1110530A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18440597A JPH1110530A (ja) 1997-06-25 1997-06-25 両面研磨用キャリア
EP98111546A EP0887152A2 (en) 1997-06-25 1998-06-23 Carrier for double-side polishing
TW087110234A TW358056B (en) 1997-06-25 1998-06-25 Carrier for double-side polishing
US09/104,396 US6042688A (en) 1997-06-25 1998-06-25 Carrier for double-side polishing

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18440597A JPH1110530A (ja) 1997-06-25 1997-06-25 両面研磨用キャリア

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1110530A true JPH1110530A (ja) 1999-01-19

Family

ID=16152601

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18440597A Pending JPH1110530A (ja) 1997-06-25 1997-06-25 両面研磨用キャリア

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6042688A (ja)
EP (1) EP0887152A2 (ja)
JP (1) JPH1110530A (ja)
TW (1) TW358056B (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6439986B1 (en) 1999-10-12 2002-08-27 Hunatech Co., Ltd. Conditioner for polishing pad and method for manufacturing the same
WO2006115039A1 (ja) * 2005-04-20 2006-11-02 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法
JP2008023617A (ja) * 2006-07-18 2008-02-07 Shin Etsu Handotai Co Ltd 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法
CN102343551A (zh) * 2010-07-28 2012-02-08 硅电子股份公司 用于修整双面磨削设备的工作层的方法和设备
KR101174143B1 (ko) * 2004-03-09 2012-08-14 스피드팜 가부시키가이샤 피연마물 유지용 캐리어
JP2014168846A (ja) * 2014-06-09 2014-09-18 Showa Denko Kk 両面加工装置に用いられるキャリアプレート
JP2018022549A (ja) * 2016-03-31 2018-02-08 Hoya株式会社 キャリアおよび当該キャリアを用いた基板の製造方法
WO2018123351A1 (ja) * 2016-12-26 2018-07-05 信越半導体株式会社 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000079551A (ja) * 1998-07-06 2000-03-21 Canon Inc コンディショニング装置及びコンディショニング方法
US6152807A (en) * 1998-07-07 2000-11-28 International Business Machines Corporation Lapping and polishing fixture having flexible sides
DE19905737C2 (de) * 1999-02-11 2000-12-14 Wacker Siltronic Halbleitermat Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterscheibe mit verbesserter Ebenheit
US6475068B1 (en) 1999-03-26 2002-11-05 Ibiden Co., Ltd. Wafer holding plate for wafer grinding apparatus and method for manufacturing the same
DE10081456T1 (de) * 1999-05-17 2001-09-27 Kashiwara Machine Mfg Vefahren und Vorrichtung zum doppelseitigen Polieren
DE19938340C1 (de) * 1999-08-13 2001-02-15 Wacker Siltronic Halbleitermat Verfahren zur Herstellung einer epitaxierten Halbleiterscheibe
DE10023002B4 (de) * 2000-05-11 2006-10-26 Siltronic Ag Satz von Läuferscheiben sowie dessen Verwendung
MY118114A (en) * 2000-07-10 2004-08-30 Sumitomo Bakelite Co Holder for polished work and manufacturing method thereof
DE10036690A1 (de) * 2000-07-27 2002-01-31 Wacker Siltronic Halbleitermat Doppelseiten-Polierverfahren
US6454635B1 (en) 2000-08-08 2002-09-24 Memc Electronic Materials, Inc. Method and apparatus for a wafer carrier having an insert
DE10046893A1 (de) * 2000-09-21 2002-01-31 Wacker Siltronic Halbleitermat Doppelseiten-Polierverfahren mit Tuchkonditionierung
DE10159833C1 (de) * 2001-12-06 2003-06-18 Wacker Siltronic Halbleitermat Verfahren zur Herstellung einer Vielzahl von Halbleiterscheiben
DE10162597C1 (de) * 2001-12-19 2003-03-20 Wacker Siltronic Halbleitermat Verfahren zur Herstellung beidseitig polierter Halbleiterscheiben
US6899595B2 (en) * 2002-03-29 2005-05-31 Maurice J. Moriarty Seal assembly manufacturing methods and seal assemblies manufactured thereby
JP2004283929A (ja) * 2003-03-20 2004-10-14 Shin Etsu Handotai Co Ltd ウエーハ保持用キャリア並びにそれを用いた両面研磨装置及びウエーハの両面研磨方法
US7196009B2 (en) * 2003-05-09 2007-03-27 Seh America, Inc. Lapping carrier, apparatus for lapping a wafer and method of fabricating a lapping carrier
US7008308B2 (en) * 2003-05-20 2006-03-07 Memc Electronic Materials, Inc. Wafer carrier
US7004827B1 (en) 2004-02-12 2006-02-28 Komag, Inc. Method and apparatus for polishing a workpiece
DE112005001447B4 (de) * 2004-06-23 2019-12-05 Komatsu Denshi Kinzoku K.K. Doppelseitenpolierträger und Herstellungsverfahren desselben
US20080166952A1 (en) * 2005-02-25 2008-07-10 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd Carrier For Double-Side Polishing Apparatus, Double-Side Polishing Apparatus And Double-Side Polishing Method Using The Same
DE102005034119B3 (de) * 2005-07-21 2006-12-07 Siltronic Ag Verfahren zum Bearbeiten einer Halbleiterscheibe, die in einer Aussparung einer Läuferscheibe geführt wird
US8137157B2 (en) * 2006-11-21 2012-03-20 3M Innovative Properties Company Lapping carrier and method
DE102007056628B4 (de) 2007-03-19 2019-03-14 Siltronic Ag Verfahren und Vorrichtung zum gleichzeitigen Schleifen mehrerer Halbleiterscheiben
DE102007049811B4 (de) * 2007-10-17 2016-07-28 Peter Wolters Gmbh Läuferscheibe, Verfahren zur Beschichtung einer Läuferscheibe sowie Verfahren zur gleichzeitigen beidseitigen Material abtragenden Bearbeitung von Halbleiterscheiben
KR100898821B1 (ko) * 2007-11-29 2009-05-22 주식회사 실트론 웨이퍼 캐리어의 제조방법
JP4605233B2 (ja) * 2008-02-27 2011-01-05 信越半導体株式会社 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法
JP5452984B2 (ja) * 2009-06-03 2014-03-26 不二越機械工業株式会社 ウェーハの両面研磨方法
DE102009047927A1 (de) * 2009-10-01 2011-01-27 Siltronic Ag Läuferscheibe und Verfahren zur Politur einer Halbleiterscheibe
JP5581903B2 (ja) * 2010-08-31 2014-09-03 トヨタ紡織株式会社 転積装置
DE102011003008B4 (de) * 2011-01-21 2018-07-12 Siltronic Ag Führungskäfig und Verfahren zur gleichzeitig beidseitigen Material abtragenden Bearbeitung von Halbleiterscheiben
DE102011089570A1 (de) * 2011-12-22 2013-06-27 Siltronic Ag Führungskäfig zum beidseitigen Schleifen von mindestens einem scheibenförmigen Werkstück zwischen zwei rotierenden Arbeitsscheiben einer Schleifvorrichtung, Verfahren zur Herstellung des Führungskäfigs und Verfahren zum gleichzeitigen beidseitigen Schleifen von scheibenförmigen Werkstücken unter Verwendung des Führungskäfigs
CN103386649B (zh) * 2012-05-09 2015-11-25 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 整理盘、研磨垫整理器及研磨装置
JP5748717B2 (ja) 2012-09-06 2015-07-15 信越半導体株式会社 両面研磨方法
DE102013200756A1 (de) * 2013-01-18 2014-08-07 Siltronic Ag Läuferscheibe für die beidseitige Politur von Scheiben aus Halbleitermaterial
DE102013202488B4 (de) 2013-02-15 2015-01-22 Siltronic Ag Verfahren zum Abrichten von Poliertüchern zur gleichzeitig beidseitigen Politur von Halbleiterscheiben
DE102013206613B4 (de) * 2013-04-12 2018-03-08 Siltronic Ag Verfahren zum Polieren von Halbleiterscheiben mittels gleichzeitiger beidseitiger Politur
US9478697B2 (en) * 2014-11-11 2016-10-25 Applied Materials, Inc. Reusable substrate carrier
KR20240061651A (ko) * 2021-09-29 2024-05-08 엔테그리스, 아이엔씨. 양면 패드 컨디셔너

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58143954A (ja) * 1982-02-23 1983-08-26 Citizen Watch Co Ltd 精密研磨加工用キヤリア−
ZA898909B (en) * 1989-02-08 1990-08-29 Lintec Engineering Proprietary Wear-resistant linings
JPH0592363A (ja) * 1991-02-20 1993-04-16 Hitachi Ltd 基板の両面同時研磨加工方法と加工装置及びそれを用いた磁気デイスク基板の研磨加工方法と磁気デイスクの製造方法並びに磁気デイスク
US5707492A (en) * 1995-12-18 1998-01-13 Motorola, Inc. Metallized pad polishing process

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6439986B1 (en) 1999-10-12 2002-08-27 Hunatech Co., Ltd. Conditioner for polishing pad and method for manufacturing the same
KR101174143B1 (ko) * 2004-03-09 2012-08-14 스피드팜 가부시키가이샤 피연마물 유지용 캐리어
WO2006115039A1 (ja) * 2005-04-20 2006-11-02 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法
JP2006303136A (ja) * 2005-04-20 2006-11-02 Shin Etsu Handotai Co Ltd 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法
JP2008023617A (ja) * 2006-07-18 2008-02-07 Shin Etsu Handotai Co Ltd 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法
JP2012030353A (ja) * 2010-07-28 2012-02-16 Siltronic Ag 2つの加工層をトリミングするための方法およびトリミング装置
CN102343551A (zh) * 2010-07-28 2012-02-08 硅电子股份公司 用于修整双面磨削设备的工作层的方法和设备
US8911281B2 (en) 2010-07-28 2014-12-16 Siltronic Ag Method for trimming the working layers of a double-side grinding apparatus
US8986070B2 (en) 2010-07-28 2015-03-24 Siltronic Ag Method for trimming the working layers of a double-side grinding apparatus
US9011209B2 (en) 2010-07-28 2015-04-21 Siltronic Ag Method and apparatus for trimming the working layers of a double-side grinding apparatus
JP2014168846A (ja) * 2014-06-09 2014-09-18 Showa Denko Kk 両面加工装置に用いられるキャリアプレート
JP2018022549A (ja) * 2016-03-31 2018-02-08 Hoya株式会社 キャリアおよび当該キャリアを用いた基板の製造方法
WO2018123351A1 (ja) * 2016-12-26 2018-07-05 信越半導体株式会社 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法

Also Published As

Publication number Publication date
US6042688A (en) 2000-03-28
EP0887152A2 (en) 1998-12-30
TW358056B (en) 1999-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH1110530A (ja) 両面研磨用キャリア
TW200819242A (en) Carrier for double side polishing device, and double side polishing device and double side polishing method using the carrier
JP2002160147A (ja) 板ガラスの端縁部研磨方法
WO2002055261A1 (en) Polisher and polishing method
JPH10329013A (ja) 両面研磨及び両面ラッピング用キャリア
WO2006115039A1 (ja) 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法
JPH11254305A (ja) ウエーハの両面研磨方法と該研磨方法に用いるウエーハキャリア
WO2000035630A1 (en) Polishing carrier, surface polishing device, and surface polishing method
JP4698178B2 (ja) 被研磨物保持用キャリア
JPH11188590A (ja) エッジポリッシング装置
JPH1058331A (ja) ラッピング用超砥粒ホイール
JP2002273657A (ja) Cmp加工用ドレッサ
JP2000052242A (ja) ワークホルダー
JPS5845861A (ja) 表面加工用ポリシヤ
JP2000084834A (ja) 研削加工用キャリア
JP2005033139A (ja) 半導体ウェーハ研磨用のウェーハ保持板
JP4290295B2 (ja) 両面研磨用テンプレートおよびこれを用いた両面研磨方法
JP2003326462A (ja) 研削ホイール及び研削ホイールの製造方法
JPS59166464A (ja) 研磨用定盤およびその製造方法
JP2007118146A (ja) 定盤のパッド貼着面用ドレッサ及びパッド貼着面のドレッシング方法
JPH11226861A (ja) 研磨布及び平面研磨装置
JP2001150351A (ja) ドレッシング用電着砥石
TW201914745A (zh) 研磨頭以及研磨頭的製造方法
JPH07112360A (ja) 半導体ウェーハの研磨方法
JP3086591U (ja) 両面用、片面用研磨盤に使用される金属、樹脂の複合キャリヤに於ける研磨物収納穴の改良製品