JPH10333050A - 観察対象物の回転微調装置 - Google Patents
観察対象物の回転微調装置Info
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- JPH10333050A JPH10333050A JP9154270A JP15427097A JPH10333050A JP H10333050 A JPH10333050 A JP H10333050A JP 9154270 A JP9154270 A JP 9154270A JP 15427097 A JP15427097 A JP 15427097A JP H10333050 A JPH10333050 A JP H10333050A
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- Japan
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- wafer
- observation object
- fixed
- rotation
- guide
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 観察対象物の回転微調作業を、簡単な機構を
用いて、容易に行うことができる装置を提供する。 【解決手段】 本装置10は、顕微鏡7等における観察
対象物(ウエハ5)を回転方向に微小位置調整するため
の装置である。本装置10は、ウエハ5の外周部に固定
される固定部3と、この固定部の摺動する円弧状のガイ
ド部2を備える。さらに、ガイド部2を支持する支持部
1と、固定部3をウエハ5とともにガイド部2に対して
スライドさせるための取っ手4を備える。
用いて、容易に行うことができる装置を提供する。 【解決手段】 本装置10は、顕微鏡7等における観察
対象物(ウエハ5)を回転方向に微小位置調整するため
の装置である。本装置10は、ウエハ5の外周部に固定
される固定部3と、この固定部の摺動する円弧状のガイ
ド部2を備える。さらに、ガイド部2を支持する支持部
1と、固定部3をウエハ5とともにガイド部2に対して
スライドさせるための取っ手4を備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、半導体デ
バイスパターンの作り込まれているウエハを顕微鏡で観
察する際に該ウエハを回転方向に微小位置調整(微調)
する際に用いる回転微調装置に関する。
バイスパターンの作り込まれているウエハを顕微鏡で観
察する際に該ウエハを回転方向に微小位置調整(微調)
する際に用いる回転微調装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ウエハ上の微小なウエハパターンの計測
や外観検査を目的として顕微鏡による観察を行う際、顕
微鏡の視野内で、目標とするウエハパターンを、計測や
検査に適した位置及び角度になるように、ウエハの姿勢
を微調する必要がある。このため、顕微鏡によるウエハ
パターンの観察には、ウエハの保持、回転及び平行移動
を行うステージ等の微調機構が必要である。しかし、こ
の微調機構に、(1) 顕微鏡の視野に対してウエハが
正しく回転、平行移動しない、(2) ウエハの微調が
行われた後で微調機構が固定されず、観察中に顕微鏡の
視野内でウエハパターンが移動してしまう、等の不具合
が生じると、観察対象となるウエハパターンの計測や検
査に適した位置及び角度での観察が困難となる。
や外観検査を目的として顕微鏡による観察を行う際、顕
微鏡の視野内で、目標とするウエハパターンを、計測や
検査に適した位置及び角度になるように、ウエハの姿勢
を微調する必要がある。このため、顕微鏡によるウエハ
パターンの観察には、ウエハの保持、回転及び平行移動
を行うステージ等の微調機構が必要である。しかし、こ
の微調機構に、(1) 顕微鏡の視野に対してウエハが
正しく回転、平行移動しない、(2) ウエハの微調が
行われた後で微調機構が固定されず、観察中に顕微鏡の
視野内でウエハパターンが移動してしまう、等の不具合
が生じると、観察対象となるウエハパターンの計測や検
査に適した位置及び角度での観察が困難となる。
【0003】従来においては、上記のように微調機構に
不具合が生じた場合、微調機構を用いず、ウエハを直接
手動で微調する方式が一般的であった。この方式の原理
を図5に示す。図5には、ウエハチャック6に保持され
たウエハ5上のウエハパターン(図示されず)を、顕微
鏡7を用いて観察している状態が示されている。ウエハ
5は、チャック6の上に真空吸着によって保持されてい
る。チャック6は、XYステージ、ターンテーブル等を
含むテーブル8上に搭載されており、ウエハ5を顕微鏡
7に対して回転、平行移動させることができる。テーブ
ル8内の微調機構に、何らかの不具合が生じ、ウエハ5
の微調が不可能になった場合は、以下の手順によりウエ
ハパターンの微調を行う。
不具合が生じた場合、微調機構を用いず、ウエハを直接
手動で微調する方式が一般的であった。この方式の原理
を図5に示す。図5には、ウエハチャック6に保持され
たウエハ5上のウエハパターン(図示されず)を、顕微
鏡7を用いて観察している状態が示されている。ウエハ
5は、チャック6の上に真空吸着によって保持されてい
る。チャック6は、XYステージ、ターンテーブル等を
含むテーブル8上に搭載されており、ウエハ5を顕微鏡
7に対して回転、平行移動させることができる。テーブ
ル8内の微調機構に、何らかの不具合が生じ、ウエハ5
の微調が不可能になった場合は、以下の手順によりウエ
ハパターンの微調を行う。
【0004】(1)チャック6の真空吸着を停止し、ウ
エハ5をチャック6から解放する。これによってウエハ
5をチャック6上で自由にずらすことができる。 (2)ウエハ5の外周部を、ウエハ用ピンセット31を
用いて保持する。 (3)顕微鏡7の視野を目視しながら、観察対象となる
ウエハパターンが、適切な位置及び角度になるように、
ピンセット31を介してウエハ5を手動で微動させる。 (4)ウエハパターンを適切な位置及び角度にした後、
チャック6の真空吸着を再び作動させてウエハ5をチャ
ック6に固定し、観察を続行する。
エハ5をチャック6から解放する。これによってウエハ
5をチャック6上で自由にずらすことができる。 (2)ウエハ5の外周部を、ウエハ用ピンセット31を
用いて保持する。 (3)顕微鏡7の視野を目視しながら、観察対象となる
ウエハパターンが、適切な位置及び角度になるように、
ピンセット31を介してウエハ5を手動で微動させる。 (4)ウエハパターンを適切な位置及び角度にした後、
チャック6の真空吸着を再び作動させてウエハ5をチャ
ック6に固定し、観察を続行する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記の如き従来技術に
おいては、ウエハ5をチャック6に対して微調する際に
ウエハ5の回転中心が固定されていないために、ウエハ
用のピンセット31でウエハ5を回転させる動作が難し
く、ウエハパターンの角度調整を行うのは困難である、
という問題があった。本発明はこのような従来の問題点
に鑑みてなされたもので、上記のような作業を、簡単な
機構を用いて、容易に行うことができる観察対象物の回
転微調装置を提供することを目的とする。
おいては、ウエハ5をチャック6に対して微調する際に
ウエハ5の回転中心が固定されていないために、ウエハ
用のピンセット31でウエハ5を回転させる動作が難し
く、ウエハパターンの角度調整を行うのは困難である、
という問題があった。本発明はこのような従来の問題点
に鑑みてなされたもので、上記のような作業を、簡単な
機構を用いて、容易に行うことができる観察対象物の回
転微調装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の観察対象物の回転微調装置は、顕微鏡等に
おける観察対象物を回転方向に微小位置調整するための
装置であって; 観察対象物の外周部に固定される固定
部と、 この固定部の摺動する円弧状のガイドを有する
ガイド部と、 このガイド部を支持する支持部と、 上
記固定部を上記観察対象物とともにガイド部に対してス
ライドさせるための取っ手と、 を備えることを特徴と
する。
め、本発明の観察対象物の回転微調装置は、顕微鏡等に
おける観察対象物を回転方向に微小位置調整するための
装置であって; 観察対象物の外周部に固定される固定
部と、 この固定部の摺動する円弧状のガイドを有する
ガイド部と、 このガイド部を支持する支持部と、 上
記固定部を上記観察対象物とともにガイド部に対してス
ライドさせるための取っ手と、 を備えることを特徴と
する。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明においては、上記観察対象
物が円板状をしており、上記ガイドの円弧のアールが、
上記観察対象物を上記固定部に固定した場合に、該円板
状の観察対象物の外周とほぼ同心円状となることが好ま
しい。すなわち、円板状の観察対象物(以下ウエハと言
う)を微調する際に、ウエハ用のピンセットの代わり
に、ウエハを円周に沿って保持し回転させ得る簡単な機
構を用いて、ウエハを回転させることにより、ウエハパ
ターンの角度の微調を可能にしたものである。本発明に
おいては、顕微鏡視野内でウエハパターンが傾いていた
としても、ウエハの回転が可能な微調機構を用いること
により、手作業によるウエハの微調を速やかに実現でき
る。
物が円板状をしており、上記ガイドの円弧のアールが、
上記観察対象物を上記固定部に固定した場合に、該円板
状の観察対象物の外周とほぼ同心円状となることが好ま
しい。すなわち、円板状の観察対象物(以下ウエハと言
う)を微調する際に、ウエハ用のピンセットの代わり
に、ウエハを円周に沿って保持し回転させ得る簡単な機
構を用いて、ウエハを回転させることにより、ウエハパ
ターンの角度の微調を可能にしたものである。本発明に
おいては、顕微鏡視野内でウエハパターンが傾いていた
としても、ウエハの回転が可能な微調機構を用いること
により、手作業によるウエハの微調を速やかに実現でき
る。
【0008】以下、図面を参照しつつ説明する。図1
は、本発明の1実施例に係る観察対象物の回転微調装置
を有するウエハの検査装置の全体斜視図である。図2
は、本実施例の観察対象物の回転微調装置の詳細構造を
示す断面図である。図3は、本実施例の観察対象物の回
転微調装置の使い方を示す平面図である。
は、本発明の1実施例に係る観察対象物の回転微調装置
を有するウエハの検査装置の全体斜視図である。図2
は、本実施例の観察対象物の回転微調装置の詳細構造を
示す断面図である。図3は、本実施例の観察対象物の回
転微調装置の使い方を示す平面図である。
【0009】図1において観察対象物である薄い円板状
のウエハ5及び観察用の顕微鏡7が示されている。ウエ
ハ5は、チャック6に載せられている。チャック6はX
Yステージ、回転ステージ(図示されず)等を含むテー
ブル8上に搭載されている。顕微鏡7は、ウエハ5に対
してその光軸を垂直として、図示されぬアームによって
保持されている。この顕微鏡7は、ウエハ5上に形成さ
れているデバイスパターンを観察するためのものであ
る。
のウエハ5及び観察用の顕微鏡7が示されている。ウエ
ハ5は、チャック6に載せられている。チャック6はX
Yステージ、回転ステージ(図示されず)等を含むテー
ブル8上に搭載されている。顕微鏡7は、ウエハ5に対
してその光軸を垂直として、図示されぬアームによって
保持されている。この顕微鏡7は、ウエハ5上に形成さ
れているデバイスパターンを観察するためのものであ
る。
【0010】回転微調装置10は、ウエハ固定部3やガ
イド部2、取っ手4、支持部1等からなる。固定部3
は、円弧状の上下2枚の板3aと3bからなる。上下の
板3a、3bは、その間にバネ13を介して対向してい
る。バネ13は、両板3a、3bを互いに離す方向に両
板3a、3bを付勢している。板3aの上面及び板3b
の下面には帯状の凸部が形成されている。これらの凸部
は、固定部3の側辺と同心の円弧状であり、後述するガ
イド部内部の凹部を摺動する。
イド部2、取っ手4、支持部1等からなる。固定部3
は、円弧状の上下2枚の板3aと3bからなる。上下の
板3a、3bは、その間にバネ13を介して対向してい
る。バネ13は、両板3a、3bを互いに離す方向に両
板3a、3bを付勢している。板3aの上面及び板3b
の下面には帯状の凸部が形成されている。これらの凸部
は、固定部3の側辺と同心の円弧状であり、後述するガ
イド部内部の凹部を摺動する。
【0011】上下の固定部の板3a、3bは、ボルト1
2とナット11で上下に締め付けられ、両板3a、3b
間にウエハ5の外周部を挟み込む。ボルト12は、頭を
下にして、固定部板3a、3bに形成されている穴に通
されている。ボルトの頭は、下の固定部板3bの下面の
凹部に収容されており、板3bと係合している。ナット
11は、ボルトの周囲に沿って下方に延びるスリーブ部
11aを有している。このスリーブ部11aは上の固定
部板3aの上面に当接している。ナット11をボルト1
2に締め込むと、上下の固定部板3a、3bの間が狭ま
り、ナット11を弛めると、両板3a、3bの間はバネ
13の付勢力によって広がる。この固定部板3a、3b
は、テフロンやデルリン(商標名)のような摩擦係数の
低い樹脂で作られている。
2とナット11で上下に締め付けられ、両板3a、3b
間にウエハ5の外周部を挟み込む。ボルト12は、頭を
下にして、固定部板3a、3bに形成されている穴に通
されている。ボルトの頭は、下の固定部板3bの下面の
凹部に収容されており、板3bと係合している。ナット
11は、ボルトの周囲に沿って下方に延びるスリーブ部
11aを有している。このスリーブ部11aは上の固定
部板3aの上面に当接している。ナット11をボルト1
2に締め込むと、上下の固定部板3a、3bの間が狭ま
り、ナット11を弛めると、両板3a、3bの間はバネ
13の付勢力によって広がる。この固定部板3a、3b
は、テフロンやデルリン(商標名)のような摩擦係数の
低い樹脂で作られている。
【0012】固定部板3a、3bの外側面には取っ手4
が突設されている。取っ手4は、ガイド部2の外側に突
出している。この取っ手4をつかんで動かすことによ
り、固定部3をガイド部2に沿って回動させることがで
きる。
が突設されている。取っ手4は、ガイド部2の外側に突
出している。この取っ手4をつかんで動かすことによ
り、固定部3をガイド部2に沿って回動させることがで
きる。
【0013】ガイド部2も、上下2枚の円弧状の板2
a、2bからなる。両板2a、2bの対向している面に
は、固定部3の回転運動をガイドするガイド溝2c、2
dが形成されている。これらの溝2c、2dの内側面及
び外側面は同心の円弧(ウエハ5の中心を中心とする)
をなすように加工されており、溝内を固定部3の内外側
面が摺動する。上下のガイド部板2a、2bの間隔は一
定である。
a、2bからなる。両板2a、2bの対向している面に
は、固定部3の回転運動をガイドするガイド溝2c、2
dが形成されている。これらの溝2c、2dの内側面及
び外側面は同心の円弧(ウエハ5の中心を中心とする)
をなすように加工されており、溝内を固定部3の内外側
面が摺動する。上下のガイド部板2a、2bの間隔は一
定である。
【0014】上下のガイド部板2a、2bは、平面図
(図3)に示されているように、4隅でネジ14で組み
立てられている。ガイド部の下板2bの外周面には、支
持部1が外方向に突設されている。この支持部1を手で
持ってガイド部2を固定することができる。上のガイド
部板2aの中央部には、円弧状の窓2eが開いている。
ガイド部2と固定部3とを相対的に回転させる場合に
は、この窓2e内をボルト12とナット11が移動す
る。なお、図では、固定部3やガイド部2、窓2eをか
なり長く描いているが、実際には、ウエハ5の回転角が
5〜10°も取れれば微調の目的は十分達成することが
できる。
(図3)に示されているように、4隅でネジ14で組み
立てられている。ガイド部の下板2bの外周面には、支
持部1が外方向に突設されている。この支持部1を手で
持ってガイド部2を固定することができる。上のガイド
部板2aの中央部には、円弧状の窓2eが開いている。
ガイド部2と固定部3とを相対的に回転させる場合に
は、この窓2e内をボルト12とナット11が移動す
る。なお、図では、固定部3やガイド部2、窓2eをか
なり長く描いているが、実際には、ウエハ5の回転角が
5〜10°も取れれば微調の目的は十分達成することが
できる。
【0015】本実施例の観察対象物の回転微調装置の総
合的な操作について説明する。 (1)ウエハチャック6の真空吸着を停止させて、ウエ
ハ5をチャック6上で自由にずらせるようにする。 (2)ウエハの外周部に沿って、ウエハ5をウエハ固定
部3に固定する。このとき、上下の固定部板3a、3b
の間にウエハの端を挟み込み、ナット11を締め込む。
合的な操作について説明する。 (1)ウエハチャック6の真空吸着を停止させて、ウエ
ハ5をチャック6上で自由にずらせるようにする。 (2)ウエハの外周部に沿って、ウエハ5をウエハ固定
部3に固定する。このとき、上下の固定部板3a、3b
の間にウエハの端を挟み込み、ナット11を締め込む。
【0016】(3)片手で支持部1を持ってガイド部2
を固定し、もう一方の手で取っ手4を撮み、固定部3及
びウエハ5をガイド部2に沿ってスライドさせる。これ
によって、ウエハ5をほぼその中心回りに回転させるこ
とができる。
を固定し、もう一方の手で取っ手4を撮み、固定部3及
びウエハ5をガイド部2に沿ってスライドさせる。これ
によって、ウエハ5をほぼその中心回りに回転させるこ
とができる。
【0017】図4は、本発明の他の1実施例に係る観察
対象物の回転微調装置を有するウエハの検査装置の全体
斜視図である。この実施例では、ガイド部2と接続して
いる支持部1′が、取付金具37を介してマイクロステ
ージ33上に固定されている。このマイクロステージ3
3は、検査装置のテーブル8に接続されている固定台3
5上で、ウエハ5と平行な面内の直交する2方向に微小
駆動可能である。したがって、固定部3にウエハ5を保
持して、XY方向にもウエハ5の微調を行うことができ
る。
対象物の回転微調装置を有するウエハの検査装置の全体
斜視図である。この実施例では、ガイド部2と接続して
いる支持部1′が、取付金具37を介してマイクロステ
ージ33上に固定されている。このマイクロステージ3
3は、検査装置のテーブル8に接続されている固定台3
5上で、ウエハ5と平行な面内の直交する2方向に微小
駆動可能である。したがって、固定部3にウエハ5を保
持して、XY方向にもウエハ5の微調を行うことができ
る。
【0018】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、顕微鏡
等に備えつけられた微調機構に不具合が生じた際にも、
簡単な機構を用いて、手作業による速やかなウエハ等の
観察対象物の微調が可能である。また、本装置を使用
し、ウエハを多軸に動かすためのウエハステージそのも
のにも応用可能であり、従来のステージよりも大幅に装
置構成を簡略化することができる。
等に備えつけられた微調機構に不具合が生じた際にも、
簡単な機構を用いて、手作業による速やかなウエハ等の
観察対象物の微調が可能である。また、本装置を使用
し、ウエハを多軸に動かすためのウエハステージそのも
のにも応用可能であり、従来のステージよりも大幅に装
置構成を簡略化することができる。
【図1】本発明の1実施例に係る観察対象物の回転微調
装置を有するウエハの検査装置の全体斜視図である。
装置を有するウエハの検査装置の全体斜視図である。
【図2】本実施例の観察対象物の回転微調装置の詳細構
造を示す断面図である。
造を示す断面図である。
【図3】本実施例の観察対象物の回転微調装置の使い方
を示す平面図である。
を示す平面図である。
【図4】本発明の他の1実施例に係る観察対象物の回転
微調装置を有するウエハの検査装置の全体斜視図であ
る。
微調装置を有するウエハの検査装置の全体斜視図であ
る。
【図5】従来の、ウエハを直接手動で微調させる方式の
原理を示す斜視図である。
原理を示す斜視図である。
1 支持部 2 ガイド部 3 ウエハ固定部 4 スライド用取
っ手 5 ウエハ 6 チャック 7 顕微鏡 8 テーブル 10 回転微調装置 11 ナット 12 ボルト 13 バネ 31 ピンセット 33マイクロステ
ージ 35 固定台 37 取付金具
っ手 5 ウエハ 6 チャック 7 顕微鏡 8 テーブル 10 回転微調装置 11 ナット 12 ボルト 13 バネ 31 ピンセット 33マイクロステ
ージ 35 固定台 37 取付金具
Claims (3)
- 【請求項1】 顕微鏡等における観察対象物を回転方向
に微小位置調整するための装置であって;観察対象物の
外周部に固定される固定部と、 この固定部の摺動する円弧状のガイドを有するガイド部
と、 このガイド部を支持する支持部と、 上記固定部を上記観察対象物とともにガイド部に対して
スライドさせるための取っ手と、 を備えることを特徴とする観察対象物の回転微調装置。 - 【請求項2】 上記観察対象物が円板状をしており、 上記ガイドの円弧のアールが、上記観察対象物を上記固
定部に固定した場合に、該円板状の観察対象物の外周と
ほぼ同心円状となることを特徴とする請求項1記載の観
察対象物の回転微調装置。 - 【請求項3】 上記支持部の位置を調整するマイクロス
テージをさらに備えることを特徴とする請求項1又は2
記載の観察対象物の回転微調装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9154270A JPH10333050A (ja) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | 観察対象物の回転微調装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9154270A JPH10333050A (ja) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | 観察対象物の回転微調装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10333050A true JPH10333050A (ja) | 1998-12-18 |
Family
ID=15580504
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9154270A Pending JPH10333050A (ja) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | 観察対象物の回転微調装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10333050A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001084072A1 (de) * | 2000-05-03 | 2001-11-08 | Komeg Industrielle Messtechnik Gmbh | Vorrichtung zum messen über mehrere achsen an einem gegenstand |
| JP2016033531A (ja) * | 2014-07-30 | 2016-03-10 | オリンパス株式会社 | 回転ステージ及び顕微鏡 |
-
1997
- 1997-05-29 JP JP9154270A patent/JPH10333050A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001084072A1 (de) * | 2000-05-03 | 2001-11-08 | Komeg Industrielle Messtechnik Gmbh | Vorrichtung zum messen über mehrere achsen an einem gegenstand |
| JP2016033531A (ja) * | 2014-07-30 | 2016-03-10 | オリンパス株式会社 | 回転ステージ及び顕微鏡 |
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