JPH10340947A - Spin processor - Google Patents
Spin processorInfo
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- JPH10340947A JPH10340947A JP9151048A JP15104897A JPH10340947A JP H10340947 A JPH10340947 A JP H10340947A JP 9151048 A JP9151048 A JP 9151048A JP 15104897 A JP15104897 A JP 15104897A JP H10340947 A JPH10340947 A JP H10340947A
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- JP
- Japan
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- rotating body
- gear
- work
- semiconductor wafer
- holding member
- Prior art date
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Jigs For Machine Tools (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 この発明は半導体ウエハのロック状態を簡単
な機構で解除できるようにしたスピン処理装置を提供す
ることを目的とする。
【解決手段】 回転体12に周方向に所定間隔で回転自
在に立設され半導体ウエハUを支持する支持ピン21お
よび半導体ウエハの周辺部を保持するロックピン22が
設けられた複数の保持部材17と、回転体の下面側に回
転自在に設けられた親歯車25と、各保持部材の下端部
にそれぞれ親歯車と噛合して設けられた子歯車23と、
ロックピンが半導体ウエハを保持する回転方向に保持部
材を親歯車および子歯車を介して付勢した捩じりコイル
ばね26と、親歯車の回転を阻止した状態でパルス制御
モ−タ9により回転体を保持部材に与えられた捩じりコ
イルばねによる付勢力に抗して回転させることでロック
ピンによる半導体ウエハの保持状態を解除する解除機構
31とを具備したことを特徴とする。
(57) Abstract: An object of the present invention is to provide a spin processing apparatus capable of releasing a locked state of a semiconductor wafer by a simple mechanism. SOLUTION: A plurality of holding members 17 are provided on a rotating body 12 so as to be rotatable at predetermined intervals in a circumferential direction and provided with support pins 21 for supporting a semiconductor wafer U and lock pins 22 for holding a peripheral portion of the semiconductor wafer. A parent gear 25 rotatably provided on the lower surface side of the rotating body, and a child gear 23 provided at the lower end of each holding member so as to mesh with the parent gear, respectively.
A torsion coil spring 26 urges the holding member through a parent gear and a child gear in a rotation direction in which the lock pin holds the semiconductor wafer, and is rotated by the pulse control motor 9 in a state where the rotation of the parent gear is prevented. A release mechanism 31 for releasing the holding state of the semiconductor wafer by the lock pin by rotating the body against the biasing force of the torsion coil spring applied to the holding member.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明はワ−クを回転させ
ながら洗浄処理したり乾燥処理するためのスピン処理装
置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a spin processing apparatus for cleaning or drying while rotating a work.
【0002】[0002]
【従来の技術】たとえば、半導体装置や液晶表示装置の
製造過程においては、ワ−クとしての半導体ウエハや液
晶用ガラス基板に回路パタ−ンを形成するための成膜プ
ロセスやフォトプロセスがある。これらのプロセスで
は、上記ワ−クの処理と洗浄とが繰り返し行われる。2. Description of the Related Art For example, in the manufacturing process of a semiconductor device or a liquid crystal display device, there are a film forming process and a photo process for forming a circuit pattern on a semiconductor wafer or a liquid crystal glass substrate as a work. In these processes, the above-described work processing and cleaning are repeatedly performed.
【0003】上記ワ−クの洗浄や乾燥を行うためにはス
ピン処理装置が用いられる。このスピン処理装置は、回
転モ−タによって回転駆動される回転体を有し、この回
転体の上面の周辺部には周方向に所定間隔で保持部材が
回転自在に突設されている。この保持部材の上端にはワ
−クの下面周辺部を支持する支持ピンと、上記保持部材
の回転によって偏心回転して上記支持ピンに支持された
ワ−クの周辺部に係合し、そのワ−クを保持するロック
ピンとが突設されている。[0003] A spin processing apparatus is used to clean and dry the work. This spin processing device has a rotating body driven to rotate by a rotating motor, and holding members are rotatably provided at predetermined intervals in a circumferential direction at a peripheral portion of an upper surface of the rotating body. At the upper end of the holding member, a support pin for supporting the peripheral portion of the lower surface of the work, and eccentric rotation by the rotation of the holding member to engage with the peripheral portion of the work supported by the support pin, and And a lock pin for holding the lock is projected.
【0004】上記保持部材は、ばねによって上記ロック
ピンがワ−クの外周面に係合する回転方向に付勢されて
いて、ワ−クを着脱するときには上記保持部材をばねの
付勢力に抗して回転させることで、ロックピンによるロ
ック状態が解除されるようになっている。The holding member is urged by a spring in a rotational direction in which the lock pin is engaged with the outer peripheral surface of the work, and when the work is attached or detached, the holding member resists the urging force of the spring. By rotating the lock pin, the locked state by the lock pin is released.
【0005】上記ロックピンによるワ−クの保持状態を
解除するためには、上記保持部材を上記回転体と一体的
に設けられたリンク機構によって回転できるようにする
とともに、上記回転体の周辺部に上記リンク機構を作動
させてロックピンによるロック状態を解除するための解
除機構を配置する。In order to release the holding state of the work by the lock pin, the holding member is rotatable by a link mechanism provided integrally with the rotating body, and a peripheral portion of the rotating body is provided. And a release mechanism for releasing the lock state by the lock pin by operating the link mechanism.
【0006】そして、ワ−クの洗浄や乾燥などの処理が
終了して上記回転体の回転が停止したときに、上記解除
機構によって上記リンク機構を作動させることで、上記
ロックピンによるワ−クのロック状態を解除し、そのワ
−クを搬出して未処理のワ−クを供給するということが
行われる。When the rotation of the rotator is stopped after processing such as washing and drying of the work is completed, the link mechanism is operated by the release mechanism, whereby the work by the lock pin is performed. Is released, the work is unloaded and an unprocessed work is supplied.
【0007】上記リンク機構を作動させる場合、そのた
めのアクチュエ−タをまずリンク機構に係合させ、つい
で解除方向へ駆動しなければならない。したがって、上
記アクチュエ−タをリンク機構に係合させる方向へ駆動
するための駆動源と、解除方向へ駆動するための駆動源
とを必要とする。In order to operate the above link mechanism, an actuator for that purpose must first be engaged with the link mechanism and then driven in the release direction. Therefore, a drive source for driving the actuator in a direction for engaging the link mechanism and a drive source for driving in the release direction are required.
【0008】つまり、従来の構成によると、ロックピン
によるワ−クのロック状態を解除するためには、リンク
機構を作動させるための専用の2つの駆動源が必要とな
るから、部品点数の増大によるコストの上昇や構成の複
雑化を招くということがあった。しかも、上記解除機構
を回転体の周囲に配置しなければならないから、装置全
体が大型化するということもあった。That is, according to the conventional configuration, in order to release the locked state of the work by the lock pin, two dedicated driving sources for operating the link mechanism are required, so that the number of parts is increased. This may lead to an increase in cost and a complicated configuration. In addition, since the release mechanism must be disposed around the rotating body, the size of the entire apparatus may be increased.
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】このように、従来のス
ピン処理装置においては、ワ−クのロック状態を解除す
るために、それ専用の2つの駆動源を用いなければなら
なかったので、部品点数の増大によるコストアップや構
成の複雑化、さらには装置の大型化を招くなどのことが
あった。As described above, in the conventional spin processing apparatus, in order to release the locked state of the work, two dedicated driving sources had to be used. In some cases, an increase in the number of points leads to an increase in cost, a complicated configuration, and an increase in the size of the apparatus.
【0010】この発明は、回転体を駆動する駆動手段を
利用してワ−クのロック状態を解除できるようにするこ
とで、構成の簡略化を計ることができるようにしたスピ
ン処理装置を提供することにある。The present invention provides a spin processing apparatus capable of simplifying the configuration by using a driving means for driving a rotating body to release a locked state of a work. Is to do.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、ワ−
クを保持して回転させることで処理するスピン処理装置
において、カップ体と、このカップ体内に配設された回
転体と、この回転体を回転駆動する駆動手段と、上記回
転体の径方向周辺部に周方向に所定間隔で回転自在に立
設され上端に上記ワ−クの下面周辺部を支持する支持ピ
ンおよび偏心回転して上記ワ−クの周辺部を保持するロ
ックピンが設けられた複数の保持部材と、上記回転体の
下面側にこの回転体に対して回転自在に設けられた親歯
車と、各保持部材の下端部にそれぞれ上記親歯車と噛合
して設けられた子歯車と、上記ロックピンが上記ワ−ク
の周辺部を保持する回転方向に上記保持部材を上記親歯
車および子歯車を介して弾性的に付勢した付勢手段と、
上記親歯車と係合しこの親歯車が上記回転体と一緒に回
転するのを阻止するとともに親歯車の回転を阻止した状
態で上記駆動手段により上記回転体を上記保持部材に与
えられた上記付勢手段による付勢力に抗して回転させる
ことで上記ロックピンによる上記ワ−クの保持状態を解
除する解除手段とを具備したことを特徴とする。According to the first aspect of the present invention, there is provided a word processor.
In a spin processing apparatus that performs processing by holding and rotating a rotating body, a cup body, a rotating body disposed in the cup body, a driving unit that rotationally drives the rotating body, and a radial periphery of the rotating body. At the upper end, a support pin for supporting the periphery of the lower surface of the work and a lock pin for holding the periphery of the work by eccentric rotation are provided at the upper end thereof. A plurality of holding members, a parent gear rotatably provided on the lower surface side of the rotator with respect to the rotator, and a child gear provided at the lower end of each holding member so as to mesh with the parent gear. Urging means for elastically urging the holding member via the master gear and the child gear in a rotational direction in which the lock pin holds a peripheral portion of the work;
The driving means engages with the master gear to prevent the master gear from rotating together with the rotating body and prevents the master gear from rotating. A release means for releasing the holding state of the work by the lock pin by rotating against the urging force of the urging means.
【0012】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、上記ロックピンによるワ−クの保持状態が解除され
ているときに、上記回転体が上記付勢手段の復元力で回
転するのを阻止するブレ−キ手段が設けられていること
を特徴とする。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the rotating body is rotated by the restoring force of the biasing means when the work holding state by the lock pin is released. And a brake means for preventing the occurrence of the air pressure.
【0013】請求項3の発明は、請求項1の発明におい
て、上記駆動手段は、中空状の固定子と、この固定子の
内部に回転自在に設けられた中空軸状の回転子とからな
り、上記回転体は上記回転子の上端に取付けれていると
ともに中心部に通孔が形成されていて、この通孔には上
記回転体の保持部材に保持されたワ−クの下面に向けて
洗浄液を噴出する洗浄ノズルが配置されていることを特
徴とする。According to a third aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the driving means comprises a hollow stator and a hollow shaft rotor rotatably provided inside the stator. The rotator is attached to the upper end of the rotator and has a through hole formed in the center thereof. The through hole faces the lower surface of the work held by the holding member of the rotator. A cleaning nozzle for ejecting a cleaning liquid is provided.
【0014】請求項4の発明は、請求項1の発明におい
て、上記回転体の上面側であって、上記保持部材に保持
されるワ−クの下面側には、上記回転体の上面側を覆う
乱流防止カバ−が設けられていることを特徴とする。According to a fourth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the upper surface side of the rotating body is provided on the lower surface side of the work held by the holding member. A turbulence prevention cover is provided.
【0015】請求項1の発明によれば、解除手段を親歯
車に係合させたなら、回転体を回転駆動するための駆動
手段を作動させて回転体を所定角度回転させることで、
上記保持手段を上記付勢手段の付勢力に抗して回転させ
ることができるから、上記保持手段に設けられたロック
ピンによるワ−クのロック状態を解除することができ
る。According to the first aspect of the present invention, when the releasing means is engaged with the parent gear, the driving means for rotating and driving the rotating body is operated to rotate the rotating body by a predetermined angle.
Since the holding means can be rotated against the urging force of the urging means, the locked state of the work by the lock pin provided on the holding means can be released.
【0016】請求項2の発明によれば、駆動手段を作動
させて回転体を所定角度回転させ、ロックピンによるワ
−クの保持状態を解除しているときに、上記駆動手段の
駆動力が消失しても、上記回転体が付勢手段の復元力に
よって回転してロックピンがワ−クを保持する方向に偏
心に回転するのが阻止される。According to the second aspect of the present invention, the driving force of the driving means is increased when the driving means is operated to rotate the rotating body by a predetermined angle and the work held by the lock pin is released. Even if it disappears, the above-mentioned rotating body is rotated by the restoring force of the urging means, and the lock pin is prevented from eccentrically rotating in the direction for holding the work.
【0017】請求項3の発明によれば、駆動手段の回転
子を中空軸状とし、その上端に中心部に通孔が形成され
た回転体を取付けるようにしたから、上記通孔に洗浄ノ
ズルを配置し、上記回転体に保持されたワ−クの下面を
洗浄処理することができるばかりか、回転体と駆動手段
とが同軸に設けられるから、これらをコンパクトに配置
して装置の小型化が計れる。According to the third aspect of the present invention, the rotor of the driving means has a hollow shaft shape, and a rotating body having a through hole formed in the center at the upper end thereof is attached. In addition to cleaning the lower surface of the work held by the rotating body, the rotating body and the driving means are provided coaxially, so that they are compactly arranged to reduce the size of the apparatus. Can be measured.
【0018】請求項4の発明によれば、回転体の上面側
で、ワ−クの下面側に、回転体の上面の形状によって乱
流が発生するのを防止する乱流防止カバ−を設けたこと
で、たとえば洗浄時に発生するミスト状となった洗浄液
が舞い上がってワ−クの上面や下面に付着するのを防止
できる。According to the fourth aspect of the present invention, a turbulence prevention cover for preventing turbulence from being generated due to the shape of the upper surface of the rotating body is provided on the upper surface side of the rotating body and on the lower surface side of the work. This can prevent, for example, the mist-like cleaning liquid generated during cleaning from rising and adhering to the upper and lower surfaces of the work.
【0019】[0019]
【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施の形態を
図面を参照して説明する。図2に示すこの発明のスピン
処理装置はカップ体1を有する。このカップ体1は載置
板2上に設けられた下カップ3と、この下カップ3の上
側に図示しない上下駆動機構によって上下駆動自在に設
けられた上カップ4とからなる。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The spin processing apparatus of the present invention shown in FIG. The cup body 1 includes a lower cup 3 provided on a mounting plate 2 and an upper cup 4 provided on the upper side of the lower cup 3 so as to be vertically driven by a vertical driving mechanism (not shown).
【0020】上記下カップ3の底壁の中心部と載置板2
とにはこれらを貫通する通孔5が形成されており、また
上記下カップ3の周壁3aは上記上カップ4の二重構造
の周壁4aにスライド自在に嵌挿し、これら周壁によっ
てラビリンス構造をなしている。The center of the bottom wall of the lower cup 3 and the mounting plate 2
The upper cup 4 is formed with a through hole 5 penetrating therethrough, and the peripheral wall 3a of the lower cup 3 is slidably inserted into the double peripheral wall 4a of the upper cup 4 to form a labyrinth structure by these peripheral walls. ing.
【0021】上記上カップ4の上面は開口していて、こ
の上カップ4が下降方向に駆動されることで、後述する
ようにカップ体1内で処理されたワ−クとしてのたとえ
ば半導体ウエハUを取り出したり、未処理の半導体ウエ
ハUを供給できるようになっている。さらに、上記下カ
ップ3の底壁には周方向に所定間隔で複数の排出管6の
一端が接続され、他端は図示しない吸引ポンプに連通し
ている。それによって、上記半導体ウエハUを洗浄処理
したり、乾燥処理することで上記カップ体1内で飛散す
る洗浄液が排出されるようになっている。The upper surface of the upper cup 4 is open, and when the upper cup 4 is driven in a downward direction, for example, a semiconductor wafer U as a work processed in the cup body 1 will be described later. And an unprocessed semiconductor wafer U can be supplied. Further, one ends of a plurality of discharge pipes 6 are connected to the bottom wall of the lower cup 3 at predetermined intervals in a circumferential direction, and the other ends are connected to a suction pump (not shown). Thereby, the cleaning liquid scattered in the cup body 1 by cleaning or drying the semiconductor wafer U is discharged.
【0022】上記カップ体1の下面側にはベ−ス7が配
置されている。このベ−ス7には上記カップ体1の通孔
5と対応する位置に取付孔8が形成されていて、この取
付孔8には駆動手段を構成するパルス制御モ−タ9の固
定子9aの上端部が嵌入固定されている。A base 7 is arranged on the lower surface side of the cup body 1. A mounting hole 8 is formed in the base 7 at a position corresponding to the through hole 5 of the cup body 1, and the mounting hole 8 has a stator 9a of a pulse control motor 9 constituting driving means. Is fitted and fixed.
【0023】上記固定子9aは筒状をなしていて、その
内部には同じく筒状の回転子9bが回転自在に嵌挿され
ている。この回転子9bの上端面には筒状の連結体11
が下端面を接合させて一体的に固定されている。この連
結体11の下端面には上記固定子9aの内径寸法よりも
大径な鍔部11aが形成されている。この鍔部11aは
上記固定子9aの上端面に摺動自在に接合しており、そ
れによって回転子9bの回転を阻止することなくこの回
転子9aが固定子9bから抜けおちるのを規制してい
る。The stator 9a has a cylindrical shape, and a cylindrical rotor 9b is rotatably fitted therein. A cylindrical connecting body 11 is provided on the upper end surface of the rotor 9b.
Are fixed integrally by joining the lower end surfaces. A flange 11a having a diameter larger than the inner diameter of the stator 9a is formed on the lower end surface of the connecting body 11. The flange 11a is slidably joined to the upper end surface of the stator 9a, thereby preventing the rotor 9a from falling off the stator 9b without preventing the rotation of the rotor 9b. I have.
【0024】上記連結体11は上記カップ体1の通孔5
からその内部に突出し、上端面には円板状の回転体12
が取付け固定されている。この回転体12は図1に示す
ように下板13aと上板13bとを接合させた二重板構
造をなしていて、その中心部には通孔14が形成されて
いる。The connecting body 11 is provided with the through hole 5 of the cup body 1.
From the inside, and a disk-shaped rotating body 12
Is attached and fixed. As shown in FIG. 1, the rotating body 12 has a double plate structure in which a lower plate 13a and an upper plate 13b are joined, and a through hole 14 is formed at the center thereof.
【0025】上記下カップ3の通孔5の周辺部には環状
壁3bが突設され、上記回転体12の外周面には上記環
状壁3bの外周面に内周面を対向させた環状壁12aが
垂設され、これら環状壁3b、12aに洗浄液が回転体
12の下面側に回り込むのを防止するラビリンス構造を
なしている。An annular wall 3b protrudes from the periphery of the through hole 5 of the lower cup 3, and an outer peripheral surface of the rotating body 12 is an annular wall having an inner peripheral surface facing the outer peripheral surface of the annular wall 3b. A labyrinth structure is provided to prevent the cleaning liquid from flowing to the lower surface of the rotating body 12 on these annular walls 3b, 12a.
【0026】上記回転体12の上面には周方向に所定間
隔、この実施の形態では60度間隔で6つのボス部15
が突設されている。このボス部15には滑り軸受16が
嵌挿されていて、この滑り軸受16には保持部材17が
回転自在に挿入支持されている。On the upper surface of the rotating body 12, six bosses 15 are provided at predetermined intervals in the circumferential direction, in this embodiment, at 60 ° intervals.
Is protruding. A sliding bearing 16 is fitted in the boss 15, and a holding member 17 is rotatably inserted and supported in the sliding bearing 16.
【0027】上記保持部材17は図1に示すように上部
が上記ボス部15の外径寸法とほぼ同径の大径部18に
形成され、この大径部18の下面に上記滑り軸受16に
支持される軸部19が一体形成されてなる。上記大径部
18の上面には中心部に円錐状の支持ピン21が突設さ
れ、径方向周辺部である偏心位置には逆テ−パ状のロッ
クピン22が突設されている。As shown in FIG. 1, the holding member 17 has an upper portion formed on a large-diameter portion 18 having substantially the same diameter as the outer diameter of the boss portion 15. The shaft 19 to be supported is integrally formed. A conical support pin 21 protrudes from the upper surface of the large-diameter portion 18 at the center, and an inverted tapered lock pin 22 protrudes from an eccentric position which is a radial peripheral portion.
【0028】上記6本の保持部材17の支持ピン21上
には上記半導体ウエハUが下面を支持されて載置され
る。その状態で図3に示すように上記ロックピン22が
半導体ウエハUの外周面に当接することで、その半導体
ウエハUは回転体12と一体的に保持されるようになっ
ている。後述するように、回転体12が回転(公転)す
ることで、上記保持部材17が同図にXで示す状態から
鎖線で示すYの状態へ回転(自転)すると、上記ロック
ピン22が保持部材17の回転中心に対して偏心回転す
るから、上記ロックピン22による上記半導体ウエハU
の保持状態が解除されるようになっている。On the support pins 21 of the six holding members 17, the semiconductor wafer U is placed with its lower surface supported. In this state, as shown in FIG. 3, the lock pins 22 contact the outer peripheral surface of the semiconductor wafer U, so that the semiconductor wafer U is integrally held with the rotating body 12. As will be described later, when the rotating member 12 rotates (revolves), the holding member 17 rotates (rotates) from the state indicated by X in FIG. 17, the semiconductor wafer U is eccentrically rotated with respect to the rotation center of the semiconductor wafer U.
Is released.
【0029】図1に示すように上記保持部材17の各軸
部19の下端部は回転体12の下面から突出し、その下
端部にはセクタギヤからなる子歯車23が嵌合固定され
ている。各子歯車23は上記連結体11の外周面に軸受
24によって回転自在に設けられた平歯車からなる親歯
車25に噛合している。この親歯車25は図3に示すよ
うに、6つの子歯車23と対応する間隔で6つの凸部2
5aが周方向に所定間隔で形成されてなり、各凸部25
aの先端外周面には上記子歯車23に噛合する歯が形成
されている。As shown in FIG. 1, the lower end of each shaft 19 of the holding member 17 protrudes from the lower surface of the rotating body 12, and a child gear 23 composed of a sector gear is fitted and fixed to the lower end thereof. Each child gear 23 meshes with a parent gear 25 made of a spur gear provided rotatably by a bearing 24 on the outer peripheral surface of the connecting body 11. As shown in FIG. 3, the main gear 25 has six protrusions 2 at intervals corresponding to the six child gears 23.
5a are formed at predetermined intervals in the circumferential direction.
A tooth meshing with the above-mentioned child gear 23 is formed on the outer peripheral surface of the distal end of a.
【0030】上記連結体11の外周面には付勢手段とし
ての捩じりコイルばね26が装着されている。この捩じ
りコイルばね26は一端を上記連結体11に係合させ、
他端を上記親歯車25に係合させることで、上記親歯車
25を図3に矢印Aで示す回転方向(反時計方向)に付
勢している。それによって、上記子歯車23は同図に矢
印Bで示す時計方向に付勢されるから、この子歯車23
の回転に保持部材17が連動し、上記ロックピン22が
回転体12の中心方向へ偏心回転して半導体ウエハUの
外周面に当接するようになっている。A torsion coil spring 26 as an urging means is mounted on the outer peripheral surface of the connecting body 11. This torsion coil spring 26 has one end engaged with the connecting body 11,
By engaging the other end with the master gear 25, the master gear 25 is urged in the rotational direction (counterclockwise) indicated by the arrow A in FIG. As a result, the child gear 23 is urged clockwise as indicated by an arrow B in FIG.
The lock member 22 is eccentrically rotated toward the center of the rotating body 12 and abuts on the outer peripheral surface of the semiconductor wafer U.
【0031】上記ロックピン22による半導体ウエハU
のロック状態は図2に示す解除機構31によって解除さ
れるようになっている。この解除機構31はガイド付き
の解除シリンダ32を有する。この解除シリンダ32は
上記固定子9aの下端面に一端を固定したほぼL字状の
ブラケット33の他端に軸線を垂直にして取付けられて
いる。The semiconductor wafer U by the lock pin 22
Is released by a release mechanism 31 shown in FIG. The release mechanism 31 has a release cylinder 32 with a guide. The release cylinder 32 is attached to the other end of a substantially L-shaped bracket 33 having one end fixed to the lower end surface of the stator 9a with its axis perpendicular to the other end.
【0032】上記解除シリンダ32の駆動軸34にはア
−ム35の下端が連結されている。このア−ム35の上
端部は上記ベ−ス7に形成された挿通孔7aを通されて
上記親歯車25の下面側近傍まで延出され、その上端に
は解除ピン36が垂直に立設されている。The lower end of an arm 35 is connected to the drive shaft 34 of the release cylinder 32. The upper end of the arm 35 extends through the insertion hole 7a formed in the base 7 and extends to the vicinity of the lower surface side of the parent gear 25, and a release pin 36 stands vertically at the upper end thereof. Have been.
【0033】図3に示すように上記保持部材17のロッ
クピン22が半導体ウエハUの外周面に当接してこの半
導体ウエハUが保持された状態において、上記解除シリ
ンダ32が作動してその駆動軸34が突出方向に駆動さ
れ、その動きにア−ム35が連動すると、このア−ム3
5の上端に設けられた解除ピン36は上記親歯車25の
1つの凸部25aの側面に係合し、上記親歯車25が矢
印A方向に回転するのを阻止するようになっている。As shown in FIG. 3, when the lock pins 22 of the holding member 17 are in contact with the outer peripheral surface of the semiconductor wafer U and the semiconductor wafer U is held, the release cylinder 32 operates to drive the drive shaft. When the arm 34 is driven in the projecting direction and the arm 35 is linked to the movement, the arm 3
A release pin 36 provided at the upper end of the lock 5 engages the side surface of one of the protrusions 25a of the master gear 25, and prevents the master gear 25 from rotating in the direction of arrow A.
【0034】上記解除ピン36によって親歯車25の矢
印A方向の回転が阻止された状態で、パルス制御モ−タ
9を駆動してその回転子9bを図3に示す矢印C方向へ
回転させると、上記回転体12が捩じりコイルばね26
の付勢力に抗して連結体11とともに回転する。When the rotation of the master gear 25 in the direction of arrow A is prevented by the release pin 36, the pulse control motor 9 is driven to rotate the rotor 9b in the direction of arrow C shown in FIG. , The rotating body 12 is a torsion coil spring 26.
Rotate together with the connecting body 11 against the urging force.
【0035】上記回転体12を矢印C方向へ角度θ回転
させると、親歯車25は回転体12と一体的に回転せ
ず、回転体12だけが回転子9bとともに角度θ回転す
る。それによって、上記親歯車25に噛合した上記子歯
車23は回転体12とともに公転しながら自転するか
ら、この子歯車23と一体的に設けられた保持部材17
は矢印B方向と逆方向である反時計方向に回転する。そ
の結果、保持部材17は図3にXで示す状態からYで示
す状態になり、ロックピン22は半導体ウエハUの外周
面から離れる方向へ偏心回転するから、このロックピン
22による半導体ウエハUの保持状態が解除されること
になる。When the rotating body 12 is rotated by an angle θ in the direction of arrow C, the parent gear 25 does not rotate integrally with the rotating body 12, and only the rotating body 12 rotates by an angle θ together with the rotor 9b. As a result, the child gear 23 meshed with the parent gear 25 revolves while revolving with the rotating body 12, so that the holding member 17 provided integrally with the child gear 23 is provided.
Rotates counterclockwise, which is the opposite direction to the direction of arrow B. As a result, the holding member 17 changes from the state indicated by X in FIG. 3 to the state indicated by Y, and the lock pins 22 rotate eccentrically in a direction away from the outer peripheral surface of the semiconductor wafer U. The holding state is released.
【0036】なお、上記回転子9bの下端面には図2に
示すようにゲ−ジ37が設けられ、このゲ−ジ37は上
記固定子9aの下端面に設けられたセンサ38によって
検出される。センサ38がゲ−ジ37を検出した位置が
上記回転子9bの回転角度の原点として認識され、その
認識に基づいて上記回転子9bの回転角度が制御される
ようになっている。A gage 37 is provided on the lower end face of the rotor 9b as shown in FIG. 2, and this gage 37 is detected by a sensor 38 provided on the lower end face of the stator 9a. You. The position at which the sensor 38 detects the gauge 37 is recognized as the origin of the rotation angle of the rotor 9b, and the rotation angle of the rotor 9b is controlled based on the recognition.
【0037】上記回転子9bの内部には中空状の固定軸
41が挿通されている。この固定軸41の下端部は上記
パルス制御モ−タ9の下方に配置された支持部材42の
取付孔42aに嵌入固定されている。上記支持部材42
にはブレ−キシリンダ43が軸線を垂直にして取付けら
れている。このブレ−キシリンダ43の駆動軸44には
ブレ−キシュ−45aが取付けられている。A hollow fixed shaft 41 is inserted inside the rotor 9b. The lower end of the fixed shaft 41 is fitted and fixed in a mounting hole 42a of a support member 42 arranged below the pulse control motor 9. The support member 42
, A brake cylinder 43 is attached with its axis vertical. A brake shaft 45a is attached to a drive shaft 44 of the brake cylinder 43.
【0038】上記ブレ−キシリンダ43が作動してその
駆動軸44が上昇方向に駆動されると、ブレ−キシュ−
45aは上記回転子9bの下端面に設けられたブレ−キ
ディスク45bに圧接してこの回転子9bの回転を阻止
するようになっている。When the brake cylinder 43 is operated and its drive shaft 44 is driven in the upward direction, the brake cylinder
Reference numeral 45a presses against a brake disk 45b provided on the lower end surface of the rotor 9b to prevent the rotation of the rotor 9b.
【0039】すなわち、回転子9bに上記捩じりコイル
ばね26の復元力が加わっているとき、つまり回転体1
2を捩じりコイルばね26の付勢力に抗してパルス制御
モ−タ9により矢印C方向に角度θだけ回転させ、ロッ
クピン22による半導体ウエハUのロック状態を解除し
ているときに、たとえば停電などでパルス制御モ−タ9
の駆動力が消失しても、上記回転体12が捩じりコイル
ばね26の復元力によって矢印C方向と逆方向へ戻るの
を阻止している。That is, when the restoring force of the torsion coil spring 26 is applied to the rotor 9b,
2 is rotated by an angle θ in the direction of arrow C by the pulse control motor 9 against the urging force of the torsion coil spring 26, and the locked state of the semiconductor wafer U by the lock pin 22 is released. For example, in the event of a power failure, the pulse control motor 9
Even if the driving force of the torsion coil spring 26 disappears, the rotating body 12 is prevented from returning in the direction opposite to the arrow C by the restoring force of the torsion coil spring 26.
【0040】上記ロックピン22による半導体ウエハU
のロック状態を解除した状態において、図示しないロボ
ットにより、上記回転体12から処理された半導体ウエ
ハUが搬出されたり、未処理の半導体ウエハUが供給さ
れる。The semiconductor wafer U by the lock pins 22
In the state where the locked state is released, the processed semiconductor wafer U is unloaded from the rotating body 12 or an unprocessed semiconductor wafer U is supplied by a robot (not shown).
【0041】そのため、ロボットによる半導体ウエハU
の搬出、供給時に停電などが生じても、回転体12が捩
じりコイルばね26の復元力によって矢印C方向と逆方
向へ回転して戻ることがないから、回転体12に立設さ
れた保持部材17の位置が変化することもない。Therefore, the semiconductor wafer U
Even if a power failure or the like occurs during unloading and supply of the rotating body, the rotating body 12 does not rotate and return in the direction opposite to the direction of the arrow C due to the restoring force of the torsion coil spring 26. The position of the holding member 17 does not change.
【0042】したがって、上記ブレ−キシリンダ43に
より、停電時などに、保持部材17の間から半導体ウエ
ハUの下面側に導入されるロボットのア−ムが保持部材
17にぶつかり、半導体ウエハUの搬出、供給作業が不
能になるのを防止できるようになっている。Therefore, the arm of the robot introduced from between the holding members 17 to the lower surface side of the semiconductor wafer U collides with the holding members 17 due to the brake cylinder 43 at the time of a power failure, and the semiconductor wafer U is unloaded. In addition, it is possible to prevent the supply operation from being disabled.
【0043】上記固定軸41の上端部は上記回転体12
の通孔14に通されている。この固定軸41の上端には
ノズルヘッド46が嵌入固定されている。このノズルヘ
ッド46は回転体12の上面側に突出していて、その外
周部には上記通孔14の周辺部に突設された環状壁47
を内部に収容した環状溝48が下面に開放して形成され
ている。つまり、環状壁47と環状溝48とでラビリン
ス構造を形成しており、回転体12の上面側で飛散する
洗浄液などが通孔14を通り、固定軸41に沿ってカッ
プ体1の外部へ流出するのを阻止している。The upper end of the fixed shaft 41 is
Through the through hole 14. A nozzle head 46 is fitted and fixed to the upper end of the fixed shaft 41. The nozzle head 46 protrudes from the upper surface side of the rotating body 12, and has an outer peripheral portion provided with an annular wall 47 protruding from the periphery of the through hole 14.
Is formed on the lower surface thereof. That is, a labyrinth structure is formed by the annular wall 47 and the annular groove 48, and the cleaning liquid or the like scattered on the upper surface side of the rotating body 12 flows out of the cup body 1 along the fixed shaft 41 through the through hole 14. Has been prevented.
【0044】上記ノズルヘッド46には中心部に第1の
ノズル孔51が穿設され、この第1のノズル孔51の周
囲には3つの第2のノズル孔52が穿設されている。第
1のノズル孔51の下端には窒素などの乾燥用の気体を
供給するための第1の供給チュ−ブ53が接続され、上
記第2のノズル孔52には洗浄液を供給するための第2
の供給チュ−ブ54が接続されている。これらチュ−ブ
53、54は上記固定軸41の内部を通されて外部に導
出され、それぞれ図示しない供給源に接続されている。A first nozzle hole 51 is formed in the center of the nozzle head 46, and three second nozzle holes 52 are formed around the first nozzle hole 51. A first supply tube 53 for supplying a gas for drying such as nitrogen is connected to a lower end of the first nozzle hole 51, and a second supply tube 53 for supplying a cleaning liquid to the second nozzle hole 52. 2
Supply tube 54 is connected. These tubes 53 and 54 pass through the inside of the fixed shaft 41 and are led out to the outside, and are connected to supply sources (not shown).
【0045】上記第2のノズル孔52の上端には洗浄液
の噴射方向や広がり角度を設定するための下部洗浄ノズ
ル55が取付けられている。上記第1、第2のノズル孔
51、51からは気体や液体が上記保持部材17に保持
された半導体ウエハUの下面に向かって噴射される。そ
れによって、半導体ウエハUの下面を洗浄したり、乾燥
させることこができるようになっている。At the upper end of the second nozzle hole 52, a lower cleaning nozzle 55 for setting the jetting direction and spreading angle of the cleaning liquid is attached. Gases and liquids are jetted from the first and second nozzle holes 51, 51 toward the lower surface of the semiconductor wafer U held by the holding member 17. Thereby, the lower surface of the semiconductor wafer U can be cleaned or dried.
【0046】なお、半導体ウエハUの上面側には、図示
しないがこの上面を乾燥したり、洗浄するための上部乾
燥ノズルと上部洗浄ノズルとが配置されている。さら
に、上記回転体12の上面側には乱流防止カバ−56が
設けられている。この乱流防止カバ−56は上記保持部
材17に保持された半導体ウエハUの下面側に位置し、
周辺部には上記保持部材17の上部を露出させる第1の
開口57が形成され、中心部には上記ノズルヘッド46
の各ノズル孔51、52を露出させる第2の開口58が
形成されている。Although not shown, an upper drying nozzle and an upper cleaning nozzle for drying and cleaning the upper surface are arranged on the upper surface side of the semiconductor wafer U. Further, a turbulence prevention cover 56 is provided on the upper surface side of the rotating body 12. The turbulence prevention cover 56 is located on the lower surface side of the semiconductor wafer U held by the holding member 17,
A first opening 57 exposing an upper portion of the holding member 17 is formed in a peripheral portion, and the nozzle head 46 is formed in a central portion.
A second opening 58 exposing each of the nozzle holes 51 and 52 is formed.
【0047】上記乱流防止カバ−56によって回転体1
2の凹凸状の上面が覆われている。それによって、回転
体12の回転に伴う乱流の発生が抑制されるから、半導
体ウエハUを洗浄した塵埃を含む洗浄液がカップ体1内
であらゆる方向に飛散し、たとえば半導体ウエハUの下
面側に舞い込んで付着するのを防止できるようになって
いる。とくに、上記乱流防止カバ−56の上面と半導体
ウエハUの下面との間隔を所定の間隔に設定すると、乱
流の抑制効果が高くなる。The rotator 1 is rotated by the turbulence prevention cover 56.
2, the upper surface of the uneven shape is covered. As a result, the generation of turbulent flow due to the rotation of the rotating body 12 is suppressed, so that the cleaning liquid containing dust that has cleaned the semiconductor wafer U scatters in all directions in the cup body 1, for example, on the lower surface side of the semiconductor wafer U It is designed to be able to prevent fluttering and sticking. In particular, when the distance between the upper surface of the turbulence prevention cover 56 and the lower surface of the semiconductor wafer U is set to a predetermined distance, the effect of suppressing turbulence increases.
【0048】つぎに、上記構成のスピン処理装置によっ
て半導体ウエハUを洗浄処理する場合について図1乃至
図3を参照して説明する。半導体ウエハUを回転体12
に供給する前には、保持部材17のロックピン22はア
ンロック状態になっている。つまり、解除シリンダ32
が作動して解除ピン36が親歯車25の凸部25aの側
面に係合した状態で回転体12がパルス制御モ−タ9に
よって図3に矢印Cで示す方向に捩じりコイルばね26
の付勢力に抗して角度θ回転させられている。それによ
って、保持部材17が回転するから、ロックピン22が
偏心回転し、このロックピン22は支持ピン21に支持
される半導体ウエハUの外周面よりも所定寸法径方向外
方の離れた位置にある。Next, a case where the semiconductor wafer U is cleaned by the spin processing apparatus having the above configuration will be described with reference to FIGS. Rotating body 12 of semiconductor wafer U
Before the supply, the lock pin 22 of the holding member 17 is in an unlocked state. That is, the release cylinder 32
When the release pin 36 is engaged with the side surface of the projection 25a of the master gear 25, the rotating body 12 is rotated by the pulse control motor 9 in the direction indicated by arrow C in FIG.
Is rotated by an angle θ against the urging force of As a result, the holding member 17 is rotated, so that the lock pin 22 is eccentrically rotated. is there.
【0049】ロックピン22がアンロック状態にあると
き、上記回転体12上に未処理の半導体ウエハUが図示
しないロボットによってそのア−ムを保持部材17の間
を通して供給される。つまり、半導体ウエハUを保持し
たア−ムは回転体12の上面へ進入してから下降し、半
導体ウエハUをア−ムから支持ピン21に受け渡し、つ
いで後退することで上記半導体ウエハUの供給が完了す
る。When the lock pin 22 is in the unlocked state, an unprocessed semiconductor wafer U is supplied to the rotating body 12 through the arm between the holding members 17 by an unillustrated robot. That is, the arm holding the semiconductor wafer U enters the upper surface of the rotating body 12 and then descends, passes the semiconductor wafer U from the arm to the support pins 21, and then retreats to supply the semiconductor wafer U. Is completed.
【0050】半導体ウエハUの供給時にはブレ−キシリ
ンダ43が作動してブレ−キシュ−45aがブレ−キデ
ィスク45bに圧接し、回転子9bの回転を阻止してい
る。そのため、半導体ウエハUの供給時に停電などが生
じても、上記回転子9bが捩じりコイルばね26の復元
力によって矢印C方向と逆方向に回転するのが防止され
る。When the semiconductor wafer U is supplied, the brake cylinder 43 is operated, and the brake 45a presses against the brake disk 45b to prevent the rotation of the rotor 9b. Therefore, even if a power failure or the like occurs during the supply of the semiconductor wafer U, the rotation of the rotor 9b in the direction opposite to the arrow C direction due to the restoring force of the torsion coil spring 26 is prevented.
【0051】したがって、上記ブレ−キシリンダ43に
よって回転体12の回転角度が一定に維持されるから、
停電等が生じてパルス制御モ−タ9の駆動力が消失して
も、回転体12が回転してロボットのア−ムが保持部材
17にぶつかり、半導体ウエハUの供給ができなくなる
ということがない。Therefore, the rotation angle of the rotating body 12 is kept constant by the brake cylinder 43.
Even if a power failure or the like occurs and the driving force of the pulse control motor 9 is lost, the rotating body 12 rotates and the arm of the robot collides with the holding member 17 and the semiconductor wafer U cannot be supplied. Absent.
【0052】回転体12に半導体ウエハUが供給された
なら、解除シリンダ32の駆動を解除し、解除ピン36
を親歯車25の凸部25aから外す。それによって、親
歯車25は捩じりコイルばね26の付勢力によって矢印
A方向へ回転するから、この親歯車25により子歯車2
3が保持部材17とともに矢印B方向に回転させられ
る。When the semiconductor wafer U is supplied to the rotating body 12, the driving of the release cylinder 32 is released, and the release pin 36 is released.
From the projection 25a of the parent gear 25. As a result, the parent gear 25 is rotated in the direction of arrow A by the urging force of the torsion coil spring 26.
3 is rotated together with the holding member 17 in the direction of arrow B.
【0053】保持部材17が矢印B方向に回転すれば、
この保持部材17に設けられたロックピン22が半導体
ウエハUの外周面に当接する方向へ偏心回転するから、
上記半導体ウエハUがロックピン22によって保持され
ることになる。When the holding member 17 rotates in the direction of arrow B,
Since the lock pin 22 provided on the holding member 17 rotates eccentrically in a direction in which it comes into contact with the outer peripheral surface of the semiconductor wafer U,
The semiconductor wafer U is held by the lock pins 22.
【0054】半導体ウエハUをロックピン22によって
保持したならば、ブレ−キシリンダ43の駆動を解除し
てブレ−キシュ−45aによる回転子9bの回転阻止状
態も解除する。ついで、パルス制御モ−タ9を作動させ
て回転体12を高速回転させるとともに、半導体ウエハ
Uの上面および必要に応じて下面とにそれぞれ洗浄液を
供給することで、この半導体ウエハUの上下面を洗浄す
ることができる。When the semiconductor wafer U is held by the lock pins 22, the drive of the brake cylinder 43 is released, and the rotation prevention state of the rotor 9b by the brake 45a is also released. Then, the pulse control motor 9 is operated to rotate the rotating body 12 at a high speed, and the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer U are supplied by supplying the cleaning liquid to the upper surface of the semiconductor wafer U and the lower surface as necessary. Can be washed.
【0055】上記半導体ウエハUの下面側には乱流防止
カバ−56が設けられ、回転体12が高速回転しても、
その上面の凹凸形状によって乱流が発生するのを防止す
る。そのため、半導体ウエハUを洗浄して塵埃を含んだ
洗浄液は、排出管6から円滑に排出されるから、カップ
体1内で舞い上がって半導体ウエハUに再付着するのが
防止される。A turbulence prevention cover 56 is provided on the lower surface side of the semiconductor wafer U so that even if the rotating body 12 rotates at a high speed,
Turbulence is prevented from being generated by the uneven shape on the upper surface. Therefore, since the cleaning liquid containing the dust after cleaning the semiconductor wafer U is smoothly discharged from the discharge pipe 6, it is prevented that the cleaning liquid soars in the cup body 1 and adheres again to the semiconductor wafer U.
【0056】半導体ウエハUの洗浄が終了したならば、
その上下面に乾燥用の気体を供給しながら高速回転させ
ることで乾燥処理する。乾燥処理が終了したならば、回
転体12の回転を停止し、ついでセンサ38がゲ−ジ3
7を検出する原点位置まで上記回転体12をパルス駆動
する。回転体12を原点位置まで回転させたなら、解除
シリンダ32を作動させて解除ピン36を親歯車25の
凸部25aの側面に係合させる。When the cleaning of the semiconductor wafer U is completed,
The drying process is performed by high-speed rotation while supplying a drying gas to the upper and lower surfaces. When the drying process has been completed, the rotation of the rotating body 12 is stopped, and then the sensor 38
The rotating body 12 is pulse-driven to the origin position at which 7 is detected. When the rotating body 12 is rotated to the origin position, the release cylinder 32 is operated to engage the release pin 36 with the side surface of the convex portion 25 a of the master gear 25.
【0057】ついで、パルス制御モ−タ9の回転子9b
を所定のパルス数だけ回転させ、回転体12を捩じりコ
イルばね26の付勢力に抗して矢印C方向へ角度θ回転
させる。つまり、親歯車25の回転を解除ピン36で阻
止して回転体12だけを回転させることで、この回転体
12を捩じりコイルばね26の付勢力に抗して回転させ
ることができる。Next, the rotor 9b of the pulse control motor 9
Is rotated by a predetermined number of pulses, and the rotating body 12 is rotated by an angle θ in the direction of arrow C against the urging force of the torsion coil spring 26. That is, by stopping the rotation of the master gear 25 with the release pin 36 and rotating only the rotating body 12, the rotating body 12 can be rotated against the biasing force of the torsion coil spring 26.
【0058】それによって、上記親歯車25に噛合した
子歯車23が回転体12とともに公転しながら自転し、
その自転に保持部材17が連動して矢印Bと逆方向に回
転するから、ロックピン22による半導体ウエハUのロ
ック状態が解除される。Thus, the child gear 23 meshed with the parent gear 25 revolves with the rotating body 12 while revolving.
Since the holding member 17 rotates in the direction opposite to the arrow B in conjunction with the rotation, the locked state of the semiconductor wafer U by the lock pin 22 is released.
【0059】半導体ウエハUのロック状態が解除された
ならば、ブレ−キシリンダ43を作動させて回転子9b
を固定し、回転体12が捩じりコイルばね26の復元力
で矢印C方向と逆方向に回転するのを阻止したならば、
図示しないロボットによってカップ体1内の処理された
半導体ウエハUを回転体12から取り出す。When the locked state of the semiconductor wafer U is released, the brake cylinder 43 is operated to rotate the rotor 9b.
Is fixed, and the rotating body 12 is prevented from rotating in the direction opposite to the arrow C direction by the restoring force of the torsion coil spring 26,
The processed semiconductor wafer U in the cup body 1 is taken out of the rotating body 12 by a robot (not shown).
【0060】処理された半導体ウエハUを回転体12か
ら取り出したならば、未処理の半導体ウエハUを供給
し、上述した工程を繰り返すことで、その半導体ウエハ
Uの洗浄処理および乾燥処理を行うことができる。When the processed semiconductor wafer U is taken out of the rotating body 12, the unprocessed semiconductor wafer U is supplied, and the above-described steps are repeated to perform the cleaning process and the drying process of the semiconductor wafer U. Can be.
【0061】上記構成のスピン処理装置によれば、回転
体12に供給されてロックピン22により保持された半
導体ウエハUのロック状態の解除は、解除ピン36を解
除シリンダ32によって駆動して親歯車25に係合させ
たならば、回転体12を回転駆動するパルス制御モ−タ
9によって上記回転体12を捩じりコイルばね26の付
勢力に抗して回転させることで行える。According to the spin processing apparatus having the above-described configuration, the unlocked state of the semiconductor wafer U supplied to the rotating body 12 and held by the lock pins 22 is released by driving the release pins 36 by the release cylinder 32 and the parent gear. 25, the rotating body 12 can be rotated by the pulse control motor 9 for driving the rotating body 12 to rotate against the biasing force of the torsion coil spring 26.
【0062】つまり、回転体12を回転駆動するパルス
制御モ−タ9を利用して半導体ウエハUのロック状態を
解除できるようにしたから、その分、部品点数を少なく
することができ、それによって装置全体の小型化やコス
トダウンが計れる。That is, since the locked state of the semiconductor wafer U can be released by using the pulse control motor 9 for rotatingly driving the rotating body 12, the number of parts can be reduced by that much, and thereby the number of parts can be reduced. The size and cost of the entire device can be reduced.
【0063】上記パルス制御モ−タ9は固定子9aと回
転子9bとが筒状に形成されているものを用いたので、
回転体12と同軸に設けることができる。そのため、パ
ルス制御モ−タ9を回転体12の径方向外方に突出させ
ることなく配置できるから、そのことによっても装置の
小型化を計ることができる。Since the above-described pulse control motor 9 has a stator 9a and a rotor 9b formed in a cylindrical shape,
It can be provided coaxially with the rotating body 12. Therefore, since the pulse control motor 9 can be arranged without protruding outward in the radial direction of the rotating body 12, the size of the apparatus can be reduced.
【0064】しかも、固定子9aと回転子9bとが筒状
であることにより、回転子9bの内部に固定軸41を通
し、その上端に回転体12の通孔14からその上面側に
突出したノズルヘッド46を取付けることができる。こ
のノズルヘッド46は半導体ウエハUの下面に対向す
る。Further, since the stator 9a and the rotor 9b are cylindrical, the fixed shaft 41 passes through the inside of the rotor 9b, and the upper end thereof protrudes from the through hole 14 of the rotating body 12 to the upper surface side. A nozzle head 46 can be mounted. This nozzle head 46 faces the lower surface of the semiconductor wafer U.
【0065】そのため、上記ノズルヘッド46に下部洗
浄ノズル55を設けたり、乾燥用気体を供給するための
第1のノズル孔51を形成することで、半導体ウエハU
の下面に洗浄液や乾燥用の気体を噴射させることができ
る。Therefore, by providing the lower cleaning nozzle 55 in the nozzle head 46 or forming the first nozzle hole 51 for supplying the drying gas, the semiconductor wafer U
A cleaning liquid or a gas for drying can be sprayed on the lower surface of the device.
【0066】[0066]
【発明の効果】請求項1の発明によれば、解除手段を親
歯車に係合させ、この親歯車の回転を阻止したならば、
回転体を回転駆動するための駆動手段を作動させて回転
体を所定角度回転させることで、ワ−クを保持した保持
手段を、ワ−クを保持する方向に付勢した付勢手段の付
勢力に抗して回転させることができるようにした。According to the first aspect of the present invention, if the release means is engaged with the parent gear and rotation of the parent gear is prevented,
By actuating driving means for rotating and driving the rotating body and rotating the rotating body by a predetermined angle, the holding means holding the work is biased in the direction of holding the work. It is now possible to rotate against the power.
【0067】そのため、上記保持手段に設けられたロッ
クピンによるワ−クのロック状態を回転体を回転駆動す
るための駆動手段を利用して解除できるから、従来に比
べて部品点数の減少や構成の簡略化を計ることができ
る。Therefore, the locked state of the work by the lock pin provided on the holding means can be released by using the driving means for rotatingly driving the rotating body. Can be simplified.
【0068】請求項2の発明によれば、ロックピンによ
るワ−クのロック状態を解除し、上記回転体に対してロ
ボットなどにより未処理のワ−クを供給したり、処理さ
れたワ−クを取り出しているときに、停電などが生じて
駆動手段の駆動力が消失しても、ブレ−キ手段によって
回転体が付勢手段の復元力で回転するのを阻止できるよ
うにしたから、ロボットが回転体に設けられた保持部材
にぶつかってこのロボットによるワ−クの供給や取り出
し作業ができなくなるのを防止できる。According to the second aspect of the invention, the locked state of the work by the lock pin is released, and an unprocessed work is supplied to the rotating body by a robot or the like, or the processed work is supplied to the rotating body. Even if a power failure occurs during the removal of the brakes and the driving force of the driving means is lost, the braking means can prevent the rotating body from rotating with the restoring force of the urging means. It is possible to prevent the robot from hitting the holding member provided on the rotating body so that the robot cannot supply or take out the work.
【0069】請求項3の発明によれば、駆動手段の回転
子を中空軸状とし、その上端に中心部に通孔が形成され
た回転体を取付けることで、上記通孔に洗浄ノズルを配
置することが可能となるから、上記回転体に保持された
ワ−クの下面を洗浄処理することができる。According to the third aspect of the present invention, the rotor of the driving means has a hollow shaft shape, and a rotating body having a through hole formed in the center at the upper end thereof is attached, so that the washing nozzle is arranged in the through hole. Therefore, the lower surface of the work held by the rotating body can be cleaned.
【0070】しかも、回転体と駆動手段とを同軸に設け
ることができるから、駆動手段を回転体の径方向外方に
配置する場合に比べて装置全体を小型化することが可能
となる。Further, since the rotating body and the driving means can be provided coaxially, the size of the entire apparatus can be reduced as compared with the case where the driving means is arranged radially outward of the rotating body.
【0071】請求項4の発明によれば、回転体の上面側
であって、しかもワ−クの下面側には、回転体の上面を
覆う乱流防止カバ−を設けたから、この乱流防止カバ−
によって回転体の上面が凹凸形状であっても、その形状
により回転体が高速回転したときに乱流が発生するのを
防止することができる。According to the fourth aspect of the present invention, a turbulence prevention cover for covering the upper surface of the rotating body is provided on the upper surface side of the rotating body and on the lower surface side of the work. Cover
Therefore, even if the upper surface of the rotating body has an uneven shape, it is possible to prevent turbulence from occurring when the rotating body rotates at a high speed due to the shape.
【0072】そのため、たとえば上記ワ−クの洗浄時
に、塵埃を含む洗浄液がカップ体内であらゆる方向に不
規則に飛散してワ−クの上面や裏面に再付着するのを防
止することができる。For this reason, for example, when the work is cleaned, it is possible to prevent the cleaning liquid containing dust from being randomly scattered in all directions in the cup body and reattaching to the upper and lower surfaces of the work.
【図1】この発明の一実施の形態を示す回転体の部分の
拡大断面図。FIG. 1 is an enlarged sectional view of a part of a rotating body according to an embodiment of the present invention.
【図2】同じく全体構成を示す縦断面図。FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing the entire configuration.
【図3】同じく乱流防止カバ−を除去した回転体の平面
図。FIG. 3 is a plan view of the rotator from which a turbulence prevention cover is removed.
1…カップ体 9…パルス制御モ−タ(駆動手段、解除手段) 9a…固定子 9b…回転子 12…回転体 14…通孔 17…保持部材 21…支持ピン 22…ロックピン 23…子歯車 25…親歯車 26…捩じりコイルばね(付勢手段) 31…解除機構(解除手段) 43…ブレ−キシリンダ(ブレ−キ手段) 45a…ブレ−キシュ−(ブレ−キ手段) 45b…ブレ−キディスク(ブレ−キ手段) 56…乱流防止カバ− DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Cup body 9 ... Pulse control motor (driving means, release means) 9a ... Stator 9b ... Rotator 12 ... Rotating body 14 ... Through hole 17 ... Holding member 21 ... Support pin 22 ... Lock pin 23 ... Child gear 25: lead gear 26: torsion coil spring (biasing means) 31: release mechanism (release means) 43: brake cylinder (brake means) 45a: brake kish (brake means) 45b: shake -Disc (Brake means) 56 ... Turbulence prevention cover-
Claims (4)
するスピン処理装置において、 カップ体と、 このカップ体内に配設された回転体と、 この回転体を回転駆動する駆動手段と、 上記回転体の径方向周辺部に周方向に所定間隔で回転自
在に立設され上端に上記ワ−クの下面周辺部を支持する
支持ピンおよび偏心回転して上記ワ−クの周辺部を保持
するロックピンが設けられた複数の保持部材と、 上記回転体の下面側にこの回転体に対して回転自在に設
けられた親歯車と、 各保持部材の下端部にそれぞれ上記親歯車と噛合して設
けられた子歯車と、 上記ロックピンが上記ワ−クの周辺部を保持する回転方
向に上記保持部材を上記親歯車および子歯車を介して弾
性的に付勢した付勢手段と、 上記親歯車と係合しこの親歯車が上記回転体と一緒に回
転するのを阻止するとともに親歯車の回転を阻止した状
態で上記駆動手段により上記回転体を上記保持部材に与
えられた上記付勢手段による付勢力に抗して回転させる
ことで上記ロックピンによる上記ワ−クの保持状態を解
除する解除手段とを具備したことを特徴とするスピン処
理装置。1. A spin processing apparatus for processing by holding and rotating a work, comprising: a cup body; a rotating body disposed in the cup body; a driving means for rotating and driving the rotating body; A support pin is provided at a radially peripheral portion of the rotating body so as to be rotatable at predetermined intervals in a circumferential direction and supports a peripheral portion of a lower surface of the work at an upper end thereof and eccentrically rotates to hold the peripheral portion of the work. A plurality of holding members provided with lock pins for locking, a main gear rotatably provided on the lower surface side of the rotator with respect to the rotator, and a lower gear of each holding member meshing with the main gear, respectively. A biasing means for elastically biasing the holding member via the master gear and the slave gear in a rotational direction in which the lock pin holds a peripheral portion of the work; The parent gear engages with the parent gear, and this parent gear The rotation pin is rotated by the driving means against the urging force of the urging means applied to the holding member while the rotation of the master gear is prevented and the lock pin is prevented from rotating. And a canceling means for canceling the holding state of the work.
が解除されているときに、上記回転体が上記付勢手段の
復元力で回転するのを阻止するブレ−キ手段が設けられ
ていることを特徴とする請求項1記載のスピン処理装
置。2. A brake means for preventing the rotating body from rotating with the restoring force of the urging means when the work holding state by the lock pin is released. The spin processing device according to claim 1, wherein
の固定子の内部に回転自在に設けられた中空軸状の回転
子とからなり、 上記回転体は上記回転子の上端に取付けれているととも
に中心部に通孔が形成されていて、 この通孔には上記回転体の保持部材に保持されたワ−ク
の下面に向けて洗浄液を噴出する洗浄ノズルが配置され
ていることを特徴とする請求項1記載のスピン処理装
置。3. The driving means comprises a hollow stator and a hollow shaft rotor rotatably provided inside the stator, wherein the rotating body is attached to an upper end of the rotor. And a through hole is formed in the center thereof, and a cleaning nozzle for ejecting a cleaning liquid toward the lower surface of the work held by the holding member of the rotating body is disposed in the through hole. The spin processing device according to claim 1, wherein:
部材に保持されるワ−クの下面側には、上記回転体の上
面側を覆う乱流防止カバ−が設けられていることを特徴
とする請求項1記載のスピン処理装置。4. A turbulence prevention cover for covering the upper surface of the rotating body is provided on the upper surface side of the rotating body and on the lower surface side of the work held by the holding member. The spin processing device according to claim 1, wherein:
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