JPH10340976A - Resin-sealed semiconductor device - Google Patents
Resin-sealed semiconductor deviceInfo
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- JPH10340976A JPH10340976A JP10095878A JP9587898A JPH10340976A JP H10340976 A JPH10340976 A JP H10340976A JP 10095878 A JP10095878 A JP 10095878A JP 9587898 A JP9587898 A JP 9587898A JP H10340976 A JPH10340976 A JP H10340976A
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 半導体チップの上下にわたる溶融モールド樹
脂の流入速度の均一化を図り、ボイドや、ワイヤー流れ
や、パッドシフトなどを防止した樹脂封止型半導体装置
を提供する。
【解決手段】 本発明の樹脂封止型半導体装置は、中央
部に半導体チップ12を搭載したリードフレーム11の
周辺部を上金型1及び下金型2によって挟持し、上記上
下の金型の間に形成されるキャビティ3内にゲート4を
通して熱溶融状態のモールド樹脂10を注入し固化させ
ることにより、上記半導体チップを樹脂封止する型のも
のであり、上記リードフレーム11上の上記ゲート4に
近接する側に、このリードフレームの残りの部分に対し
て傾斜した案内板14が形成されている。
(57) [Problem] To provide a resin-sealed semiconductor device in which the inflow speed of molten mold resin over and under a semiconductor chip is made uniform, and voids, wire flows, pad shifts, and the like are prevented. SOLUTION: The resin-encapsulated semiconductor device of the present invention holds a peripheral portion of a lead frame 11 on which a semiconductor chip 12 is mounted in a central portion by an upper mold 1 and a lower mold 2, and forms the upper and lower molds. The semiconductor chip is resin-sealed by injecting and solidifying a mold resin 10 in a hot melt state through a gate 4 into a cavity 3 formed therebetween. A guide plate 14 is formed on the side close to the guide frame 14 and is inclined with respect to the rest of the lead frame.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、樹脂を用いて半導
体チップを封止した樹脂封止型半導体装置に関する。The present invention relates to a resin-sealed semiconductor device in which a semiconductor chip is sealed with a resin.
【0002】[0002]
【従来の技術】樹脂封止型半導体装置は、半導体チップ
を搭載したリードフレームの周辺部を上金型と下金型に
よって挟持し、上金型と下金型によって形成されるキャ
ビティ内に、加熱して溶融したモールド樹脂をゲートよ
り流し込み、固化することにより形成される。ところ
で、樹脂封止型半導体装置は、リードフレームの構造や
半導体チップの搭載位置などが変わると、モールド樹脂
封止工程において、キャビティ内へのモールド樹脂の流
入状況が変化する。すなわち、キャビティ内に流入した
モールド樹脂は、半導体チップの上側と下側に分かれて
キャビティの奥に流れ込む。したがって、半導体チップ
の搭載位置等が変わると、同じキャビティ内でも、半導
体チップの上側と下側とでは、モールド樹脂の流入速度
に差が生じる場合がある。このように、同一のキャビテ
ィ内の上側と下側とで、モールド樹脂の流入に差が生ず
ると、ボイドや、ワイヤー流れや、パッドシフトなどの
問題が生じる。2. Description of the Related Art In a resin-encapsulated semiconductor device, a peripheral portion of a lead frame on which a semiconductor chip is mounted is sandwiched between an upper mold and a lower mold, and a cavity formed by the upper mold and the lower mold is formed in a cavity. It is formed by pouring a mold resin melted by heating from a gate and solidifying it. Incidentally, in the resin-sealed semiconductor device, when the structure of the lead frame, the mounting position of the semiconductor chip, and the like change, the state of the flow of the mold resin into the cavity changes in the mold resin sealing step. That is, the mold resin that has flowed into the cavity is divided into an upper side and a lower side of the semiconductor chip and flows into the cavity. Therefore, if the mounting position of the semiconductor chip is changed, the inflow speed of the mold resin may be different between the upper side and the lower side of the semiconductor chip even in the same cavity. As described above, if there is a difference in the flow of the mold resin between the upper side and the lower side in the same cavity, problems such as voids, wire flow, and pad shift occur.
【0003】図3は、従来のリードフレームを用いてト
ランスファモールド法により樹脂封止したときの樹脂の
流入状態を示す概略断面図である。図3に示すような従
来のリードフレームを用いてトランスファモールド法に
より樹脂封止すると、半導体チップの下側のモールド樹
脂は、半導体チップの上側のモールド樹脂に比べて、流
入速度が速くなる。このように半導体チップの上下でモ
ールド樹脂の流入のバランスが悪いと、ボイドや、ワイ
ヤー流れや、パッドシフトなどの問題が生じる。FIG. 3 is a schematic sectional view showing a resin inflow state when a conventional lead frame is sealed with a resin by a transfer molding method. When resin sealing is performed by a transfer molding method using a conventional lead frame as shown in FIG. 3, the inflow speed of the lower mold resin of the semiconductor chip is higher than that of the upper mold resin of the semiconductor chip. If the inflow of the mold resin above and below the semiconductor chip is imbalanced, problems such as voids, wire flow, and pad shift occur.
【0004】このため、従来は、樹脂封止工程における
モールド樹脂の流入状況を考慮してパッケージの構造を
設計していた。たとえば、リードフレームの下側に半導
体チップを搭載する構造の場合、半導体チップがシュリ
ンクすると、半導体チップの体積が小さくなり、その結
果、キャビティの下側の空間が広くなり、キャビティ内
の上下の流動バランスが変わるので、注入条件を見直し
ていた。For this reason, conventionally, the structure of the package has been designed in consideration of the inflow state of the mold resin in the resin sealing step. For example, in the case of a structure in which a semiconductor chip is mounted below the lead frame, when the semiconductor chip shrinks, the volume of the semiconductor chip is reduced, and as a result, the space below the cavity is widened, and the vertical flow inside the cavity is increased. Since the balance changed, the injection conditions were reviewed.
【0005】しかしながら、近年パッケージの薄型化の
進展に伴って、上述した従来技術だけでは、半導体チッ
プの上側と下側のモールド樹脂の流入速度を同じにし
て、ボイドや、ワイヤー流れや、パッドシフトなどが発
生するのを防止することが困難になってきた。However, in recent years, along with the progress of thinning of the package, only the above-mentioned conventional technique makes the inflow speed of the mold resin on the upper side and the lower side of the semiconductor chip the same, and causes voids, wire flows, and pad shifts. It has become difficult to prevent such occurrences.
【0006】また、特開平6−37130号公報には、
キャビティ内に可動ピンを設け、モールド樹脂の注入の
進み具合に応じて、この可動ピンのキャビティ内への挿
入深さを変化させることにより、半導体チップの上下動
を防止すると共に、モールド樹脂の流動を制御する技術
が開示されている。[0006] Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 6-37130 discloses that
A movable pin is provided in the cavity, and the insertion depth of the movable pin into the cavity is changed according to the progress of the injection of the mold resin, thereby preventing the semiconductor chip from moving up and down and allowing the mold resin to flow. Is disclosed.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
キャビティ内に可動ピンを設ける方法では、可動ピンと
これを嵌めるために金型に形成された貫通孔との隙間か
らモールド樹脂が外部へ漏れ出すのを防止するために、
金型や可動ピンの製作に高い寸法精度が要求され、製造
コストが嵩むという問題がある。さらに、マーキングす
る面にピンの跡が残るという問題がある。However, in the above method of providing a movable pin in the cavity, the mold resin leaks out of the gap between the movable pin and a through hole formed in a mold for fitting the movable pin. To prevent
There is a problem that high dimensional accuracy is required for manufacturing a mold and a movable pin, and the manufacturing cost increases. Further, there is a problem that a mark of a pin remains on a surface to be marked.
【0008】本発明は上記事情に基づいてなされたもの
であり、簡易な構成により、モールド樹脂の流入を制御
することができる樹脂封止型半導体装置を提供すること
を目的とするものである。The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a resin-sealed semiconductor device capable of controlling the flow of mold resin with a simple configuration.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の樹脂封止型半導体装置は、半導体チップを搭
載したリードフレームの周辺部を上金型及び下金型によ
って、挟持し、前記上金型と前記下金型の間に形成され
るキャビティ内にゲートを通して溶融状態のモールド樹
脂を注入し、固化させることにより前記半導体チップを
樹脂封止する構造の樹脂封止型半導体装置において、前
記モールド樹脂によって封止される部分のリードフレー
ムであって、前記ゲートに近い側に、前記リードフレー
ムの他の部分に対して傾斜した部材が、少なくとも一つ
形成されていることを特徴とするものである。In order to solve the above-mentioned problems, a resin-encapsulated semiconductor device according to the present invention includes a lead frame on which a semiconductor chip is mounted, which is sandwiched between an upper mold and a lower mold. In a resin-encapsulated semiconductor device having a structure in which a mold resin in a molten state is injected through a gate into a cavity formed between the upper mold and the lower mold and is solidified, thereby sealing the semiconductor chip with a resin. A part of the lead frame sealed by the mold resin, wherein at least one member inclined with respect to another part of the lead frame is formed on a side close to the gate. Is what you do.
【0010】また、上記課題を解決するために本発明の
リードフレームは、トランスファモールド法により樹脂
封止する際にモールド樹脂によって封止される部分であ
って、且つ、上金型と下金型の間に形成されるキャビテ
ィ内に前記モールド樹脂を流入させるためのゲートの近
傍に、他の部分に対して傾斜した部材が少なとも一つ形
成されていることを特徴とするものである。In order to solve the above-mentioned problems, a lead frame according to the present invention is a part which is sealed by a molding resin when resin sealing is performed by a transfer molding method, and includes an upper mold and a lower mold. At least one member that is inclined with respect to the other portion is formed near the gate through which the mold resin flows into the cavity formed therebetween.
【0011】本発明によれば、リードフレーム上のゲー
トに近い側に、このリードフレームの他の部分に対して
傾斜した部材を形成したことにより、モールド樹脂封止
の工程で、モールド樹脂のキャビティ内における半導体
チップの上下への流入速度を略同じにすることができる
ので、ボイドや、ワイヤー流れや、パッドシフトなどの
問題の発生を抑えることができる。According to the present invention, by forming a member inclined toward the other part of the lead frame on the side near the gate on the lead frame, the cavity of the mold resin can be formed in the molding resin sealing step. Since the inflow velocities of the semiconductor chips in the vertical direction can be made substantially the same, it is possible to suppress problems such as voids, wire flow, and pad shift.
【0012】また、本発明によれば、半導体チップ等と
共に、傾斜した部材も樹脂封止するので、トランスファ
モールド法の金型として通常の寸法精度のものを用いて
も、溶融モールド樹脂が外部に漏れ出すことはない。Further, according to the present invention, the inclined member is sealed with the resin together with the semiconductor chip and the like, so that even if a mold having a normal dimensional accuracy is used as the mold in the transfer molding method, the molten mold resin is exposed to the outside. Do not leak.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】以下に本発明の一実施形態につい
て図1、図2、図4を参照して説明する。図2(A)
は、本発明の一実施形態である樹脂封止型半導体装置の
樹脂封止前の構造を示す平面図である。図2(A)で
は、リードフレーム11の中央部分の裏側に、ポリイミ
ドテープ13を介在させて半導体チップ12が保持され
ている。また、リードフレーム11の図2(A)に示す
上側の枠部111には、二つの腕部15,16が形成さ
れ、更にその二つの腕部15,16の他方の先端部に
は、腕部15,16で支持される案内板14が形成され
ている。この案内板14は、モールド樹脂で封止する際
にゲートの近傍に位置するように形成され、且つ図2
(B)に示すように右側に案内板が見える方向からリー
ドフレームを見たときに、その案内板が時計方向に回転
してリードフレームの他の部分に対して傾斜するように
形成されている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 2 (A)
1 is a plan view showing a structure of a resin-sealed semiconductor device according to an embodiment of the present invention before resin sealing. In FIG. 2A, a semiconductor chip 12 is held behind a central portion of a lead frame 11 with a polyimide tape 13 interposed therebetween. The upper frame 111 shown in FIG. 2A of the lead frame 11 is formed with two arms 15 and 16, and the other ends of the two arms 15 and 16 are provided with arms. A guide plate 14 supported by the parts 15 and 16 is formed. This guide plate 14 is formed so as to be located in the vicinity of the gate when sealing with the mold resin.
As shown in (B), when the lead frame is viewed from a direction in which the guide plate can be seen on the right side, the guide plate rotates clockwise and is inclined with respect to the other parts of the lead frame. .
【0014】また、図1及び図4に示すように、本実施
形態で用いる金型は、上金型1と、下金型2からなり、
さらに図示しないプランジャーと対をなしてキャビティ
内へ溶融した樹脂を供給するポット21と、溶融した樹
脂をキャビティに流し込むための通路となるランナ22
と、溶融した樹脂をキャビティに注入するための注入口
であるゲート4とを備える。As shown in FIGS. 1 and 4, the mold used in the present embodiment comprises an upper mold 1 and a lower mold 2.
Further, a pot 21 for supplying molten resin into the cavity in a pair with a plunger (not shown), and a runner 22 serving as a passage for flowing the molten resin into the cavity.
And a gate 4 serving as an injection port for injecting the molten resin into the cavity.
【0015】図1(A)は、図2に示したモールド樹脂
封止前の構造体をトランスファモールド法の上金型1と
下金型2とによって挟持した状態の概略断面図を示して
おり、図2に示すモールド樹脂封止前の構造体における
A−A’断面に該当する。図1(A)から分かるよう
に、本実施形態では、案内板14が、ゲート4と、半導
体チップとの略中間の位置に形成されている。また案内
板14は、その上面がゲート4側に向くように、リード
フレームの他の部分に対して傾斜している。本実施形態
の案内板は、リードフレーム形成用のプレス金型を用い
て、リードフレームと同時に形成することができる。こ
のように、本実施形態のリードフレームは、形成するた
めの特別の工程を必要としないので、容易に実施できる
という特徴を有する。なお、平面のリードフレームをエ
ッチング加工によって形成し、案内板14をプレス加工
により形成することも可能である。FIG. 1A is a schematic cross-sectional view showing a state in which the structure shown in FIG. 2 before sealing with a molding resin is sandwiched between an upper mold 1 and a lower mold 2 by transfer molding. 2 corresponds to a section taken along the line AA ′ in the structure before sealing with the mold resin shown in FIG. As can be seen from FIG. 1A, in the present embodiment, the guide plate 14 is formed at a substantially intermediate position between the gate 4 and the semiconductor chip. The guide plate 14 is inclined with respect to the other parts of the lead frame so that the upper surface faces the gate 4 side. The guide plate of the present embodiment can be formed simultaneously with the lead frame by using a press die for forming a lead frame. As described above, the lead frame of the present embodiment does not require a special process for forming, and thus has a feature that it can be easily implemented. Note that it is also possible to form the flat lead frame by etching and form the guide plate 14 by pressing.
【0016】案内板14を有する本実施形態のリードフ
レームを用いてトランスファモールド法により樹脂封止
すると、キャビティ内におけるモールド樹脂10は、図
1(B)から(D)に示すように流入する。溶融したモ
ールド樹脂10は、プランジャー及びポット21により
ランナ22及びゲート4を介してキャビティ内に注入さ
れる。図1(B)に示すように、ゲート4からキャビテ
ィ3内に流入した熱溶融状態のモールド樹脂10は、案
内板14に当たって、その流れが制御される。すなわ
ち、上面がゲート4の側に向けて傾斜して設けられた案
内板によって、半導体チップ12の下側に流入しようと
するモールド樹脂の流れが抑制され、案内板が設けられ
ていないリードフレームに比べて、半導体チップの下側
への流入が抑えられる。したがって、この案内板の傾斜
角度や大きさなどを、搭載する半導体チップや、リード
フレームに応じて適切に設計することにより、図1
(C)、(D)に示すように、半導体チップの上側と下
側のモールド樹脂の流入速度を略同じにすることができ
る。このように本実施形態のリードフレームを用いて、
樹脂封止を行えば、半導体チップの上下におけるモール
ド樹脂の流入速度を容易に同じにすることができるの
で、ボイドや、ワイヤー流れや、パッドシフトなどの問
題が生じ難くなり、半導体装置の耐久性・信頼性が向上
する。なお、案内板を支持する腕部15,16は樹脂封
止後は不要となるので、他のリード部を切断する時に、
同時に樹脂の付け根から切断される。なお、本実施形態
では、パッケージの側面に腕部を切断したときの跡が残
る。しかしながら、通常、この側面にマーキングを行う
ことはないので、跡が残っても問題はない。When resin molding is performed by the transfer molding method using the lead frame of this embodiment having the guide plate 14, the mold resin 10 in the cavity flows in as shown in FIGS. 1B to 1D. The molten mold resin 10 is injected into the cavity via the runner 22 and the gate 4 by the plunger and the pot 21. As shown in FIG. 1 (B), the mold resin 10 in the molten state flowing into the cavity 3 from the gate 4 hits the guide plate 14 and its flow is controlled. That is, the guide plate having the upper surface inclined toward the gate 4 suppresses the flow of the mold resin flowing into the lower side of the semiconductor chip 12, so that the guide frame is not provided with the guide plate. In comparison, the inflow to the lower side of the semiconductor chip is suppressed. Therefore, by appropriately designing the inclination angle and the size of the guide plate according to the semiconductor chip to be mounted and the lead frame, FIG.
As shown in (C) and (D), the inflow speeds of the mold resin on the upper side and the lower side of the semiconductor chip can be made substantially the same. Thus, using the lead frame of the present embodiment,
By performing resin sealing, the inflow speed of the mold resin above and below the semiconductor chip can be easily made equal, so that problems such as voids, wire flow, pad shift, etc. are less likely to occur, and the durability of the semiconductor device is reduced. -Reliability is improved. Note that the arms 15 and 16 for supporting the guide plate become unnecessary after resin sealing, so that when cutting the other leads,
At the same time, it is cut from the base of the resin. In the present embodiment, a mark when the arm is cut remains on the side surface of the package. However, since marking is usually not performed on this side surface, there is no problem even if a trace remains.
【0017】本発明は上記の各実施例に限定されるもの
ではなく、その要旨の範囲内において数々の変形が可能
である。例えば、上記の実施形態では、矩形状の案内板
を使用した場合について説明したが、案内板は、これに
限られるものではなく、例えば円形状、楕円形状などの
形状でもよい。The present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made within the scope of the invention. For example, in the above embodiment, the case where a rectangular guide plate is used has been described. However, the guide plate is not limited to this, and may be, for example, a circular shape, an elliptical shape, or the like.
【0018】また、案内板は、平板状のものに限られる
ものではなく、断面が流線形の翼形状などの湾曲面を用
いた形状であってもよい。The guide plate is not limited to a flat plate, but may be a shape using a curved surface such as a streamlined wing shape in cross section.
【0019】さらに、上記の実施形態では、案内板を2
本のL字状の腕部によって支持する場合について説明し
たが、剛性を高めるために、案内板を多数本の幅広の直
線状の腕部の先端に固定するようにしてもよい。Further, in the above embodiment, the guide plate is
Although the case of supporting by the L-shaped arms of the book has been described, the guide plate may be fixed to the tips of a number of wide linear arms in order to increase rigidity.
【0020】また、上記の実施形態では、案内板の上面
をゲートの側に向けて傾斜させた場合について説明し
た。しかしながら、キャビティの構造によっては、案内
板の上面を半導体チップの側に向けるように傾斜させて
もよい。また、案内板をリードフレームの他の部分に対
して垂直に立てるようにしてもよい。In the above embodiment, the case where the upper surface of the guide plate is inclined toward the gate is described. However, depending on the structure of the cavity, the upper surface of the guide plate may be inclined so as to face the semiconductor chip. Further, the guide plate may be set upright with respect to other parts of the lead frame.
【0021】加えて、上記の案内板の形状、寸法、リー
ドフレームの他の部分に対する傾斜角などは、リードフ
レームの構造や、半導体チップの搭載位置や、注入する
モールド樹脂の種類などや、モールド樹脂封止の試行結
果に応じて、適宜な値に設計する。以上、添付図面を参
照して好ましい具体例について説明してきたが、本発明
は、前述の各具体例そのものに限定されるものではな
く、特許請求の範囲に記載した発明の思想及び範囲から
逸脱することなく、当業者により、種々の変更及び修正
が可能である。In addition, the shape and dimensions of the guide plate, the inclination angle with respect to the other parts of the lead frame, and the like are determined based on the structure of the lead frame, the mounting position of the semiconductor chip, the type of molding resin to be injected, and the like. An appropriate value is designed according to the result of the trial of resin sealing. The preferred embodiments have been described with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and departs from the spirit and scope of the invention described in the appended claims. Without departing from the invention, various changes and modifications can be made by those skilled in the art.
【0022】[0022]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の樹脂封止
型半導体装置は、リードフレーム上のゲートに近い側
に、このリードフレームの他の部分に対して傾斜した案
内板を形成したことにより、モールド樹脂封止の工程
で、熱溶融状態のモールド樹脂のキャビティ内における
半導体チップの上下への流入速度を同じにすることがで
きるので、ボイドや、ワイヤー流れや、パッドシフトな
どの問題の発生を抑えることができる。As described above, in the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention, the guide plate inclined toward the other part of the lead frame is formed on the side of the lead frame close to the gate. In the molding resin encapsulation process, the inflow velocity of the semiconductor chip in the cavity of the heat-melted molding resin can be made equal in the vertical direction, so that problems such as voids, wire flow, and pad shift can occur. Occurrence can be suppressed.
【0023】また、本発明の樹脂封止型半導体装置で
は、半導体チップ等と共に、傾斜した案内板も樹脂封止
するので、トランスファモールド法の金型として通常の
寸法精度のものを用いても、溶融モールド樹脂が外部に
漏れ出すことはない。In the resin-sealed semiconductor device of the present invention, the inclined guide plate is also resin-sealed together with the semiconductor chip and the like. The molten resin does not leak out.
【図1】本発明の一実施形態である樹脂封止型半導体装
置のモールド樹脂封止工程を説明するための概略断面図
である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view for explaining a mold resin sealing step of a resin-sealed semiconductor device according to one embodiment of the present invention.
【図2】(A)は、本実施形態の樹脂封止型半導体装置
のモールド樹脂封止工程直前の構造を示す平面図、
(B)は図2(A)のA−A’矢視断面図である。FIG. 2A is a plan view showing a structure of a resin-sealed semiconductor device of the present embodiment immediately before a molding resin sealing step;
FIG. 2B is a sectional view taken along the line AA ′ of FIG.
【図3】従来のリードフレームを用いてトランスファモ
ールド法により樹脂封止したときの樹脂の流入状態を示
す概略断面図である。FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a resin inflow state when resin sealing is performed by a transfer molding method using a conventional lead frame.
【図4】モールド樹脂がキャビティ内に流入する様子を
示す概略平面図である。FIG. 4 is a schematic plan view showing a state in which a mold resin flows into a cavity.
1 上金型 2 下金型 3 キャビティ 4 ゲート 10 モールド樹脂 11 リードフレーム 12 半導体チップ 13 ポリイミドテープ 14 案内板 15,16 腕部 21 ポット 22 ランナ 111 枠部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Upper mold 2 Lower mold 3 Cavity 4 Gate 10 Mold resin 11 Lead frame 12 Semiconductor chip 13 Polyimide tape 14 Guide plate 15, 16 Arm part 21 Pot 22 Runner 111 Frame part
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 23/50 H01L 23/50 G // B29L 31:34 Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification symbol FI H01L 23/50 H01L 23/50 G // B29L 31:34
Claims (11)
の周辺部を上金型及び下金型によって、挟持し、前記上
金型と前記下金型の間に形成されるキャビティ内にゲー
トを通して溶融状態のモールド樹脂を注入し、固化させ
ることにより前記半導体チップを樹脂封止する構造の樹
脂封止型半導体装置において、 前記モールド樹脂によって封止される部分のリードフレ
ームであって、前記ゲートに近い側に、前記リードフレ
ームの他の部分に対して傾斜した部材が、少なくとも一
つ形成されていることを特徴とする樹脂封止型半導体装
置。1. A lead frame on which a semiconductor chip is mounted is sandwiched between an upper mold and a lower mold, and is melted through a gate in a cavity formed between the upper mold and the lower mold. In a resin-encapsulated semiconductor device having a structure in which the semiconductor chip is resin-encapsulated by injecting and solidifying the mold resin, a part of the lead frame sealed by the mold resin, the side being close to the gate A resin-encapsulated semiconductor device, wherein at least one member inclined with respect to the other part of the lead frame is formed.
部分との傾斜角度は、変更可能であることを特徴とする
請求項1記載の樹脂封止型半導体装置。2. The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 1, wherein an inclination angle between said member and another portion of said lead frame can be changed.
部分から延長された2本の支持部材の先端の間に保持さ
れた平板状のものであることを特徴とする請求項1記載
の樹脂封止型半導体装置。3. The resin according to claim 1, wherein the member is a flat plate held between tips of two support members extending from another portion of the lead frame. Sealed semiconductor device.
する際にモールド樹脂によって封止される部分であっ
て、且つ、上金型と下金型の間に形成されるキャビティ
内に前記モールド樹脂を流入させるためのゲートの近傍
に、他の部分に対して傾斜した部材が少なくとも一つ形
成されていることを特徴とするリードフレーム。4. The mold resin flows into a cavity that is sealed by the mold resin when the resin is sealed by a transfer molding method and is formed between an upper mold and a lower mold. A lead frame, wherein at least one member inclined with respect to another portion is formed in the vicinity of a gate for making the lead frame.
プレス金型を用いて形成されたものである請求項4記載
のリードフレーム。5. The lead frame according to claim 4, wherein the inclined member is formed by using a press die like other parts.
て、その上面が前記ゲート側に向くように傾斜している
ことを特徴とする請求項4記載のリードフレーム。6. The lead frame according to claim 4, wherein the inclined member is inclined with respect to another portion such that an upper surface thereof faces the gate side.
半導体チップとの略中間位置に形成されていることを特
徴とする請求項4記載のリードフレーム。7. The lead frame according to claim 4, wherein said inclined member is formed at a substantially intermediate position between said gate and said semiconductor chip.
ることを特徴とする請求項4記載のリードフレーム。8. The lead frame according to claim 4, wherein said mold resin is a thermoplastic resin.
する際にモールド樹脂によって封止される部分に、前記
樹脂封止を行うときに、キャビティ内でのモールド樹脂
の流れを調整するための部材が少なくとも一つ形成され
ていることを特徴とするリードフレーム。9. A member for adjusting the flow of the mold resin in the cavity at the time of performing the resin sealing, at least in a portion sealed by the mold resin when the resin is sealed by the transfer molding method. A lead frame, wherein one lead frame is formed.
と、 前記水平面に対して傾斜して形成された少なくとも一つ
の部材と、 を具備することを特徴とするリードフレーム。10. A lead frame, comprising: a plurality of leads forming a common horizontal plane; and at least one member formed to be inclined with respect to the horizontal plane.
むことを特徴とする半導体装置。11. A semiconductor device comprising the lead frame according to claim 10.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10095878A JPH10340976A (en) | 1997-04-10 | 1998-04-08 | Resin-sealed semiconductor device |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9-106820 | 1997-04-10 | ||
| JP10682097 | 1997-04-10 | ||
| JP10095878A JPH10340976A (en) | 1997-04-10 | 1998-04-08 | Resin-sealed semiconductor device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10340976A true JPH10340976A (en) | 1998-12-22 |
Family
ID=26437037
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10095878A Pending JPH10340976A (en) | 1997-04-10 | 1998-04-08 | Resin-sealed semiconductor device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10340976A (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SG89348A1 (en) * | 2000-08-29 | 2002-06-18 | Micron Technology Inc | U-shaped tape for boc fbga package to improve moldability |
| US6737735B2 (en) | 2002-02-27 | 2004-05-18 | Nec Electronics Corporation | Semiconductor device wiring lead frame having resin flow control plates |
| WO2007128449A1 (en) * | 2006-05-05 | 2007-11-15 | Wabco Gmbh | Inductive sensor |
| JP2018157134A (en) * | 2017-03-21 | 2018-10-04 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device |
| KR20200126736A (en) * | 2019-04-30 | 2020-11-09 | 현대자동차주식회사 | Apparatus for molding electronic devices |
-
1998
- 1998-04-08 JP JP10095878A patent/JPH10340976A/en active Pending
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| US6486536B1 (en) | 2000-08-29 | 2002-11-26 | Micron Technology, Inc. | U-shape tape for BOC FBGA package to improve moldability |
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