JPH1048151A - Surface flaw detection method - Google Patents

Surface flaw detection method

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JPH1048151A
JPH1048151A JP20452396A JP20452396A JPH1048151A JP H1048151 A JPH1048151 A JP H1048151A JP 20452396 A JP20452396 A JP 20452396A JP 20452396 A JP20452396 A JP 20452396A JP H1048151 A JPH1048151 A JP H1048151A
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JP
Japan
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flaw
flaws
screen
boundary
information
Prior art date
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Pending
Application number
JP20452396A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Kazama
彰 風間
Yuji Matoba
有治 的場
Tsutomu Kawamura
努 河村
Takahiko Oshige
貴彦 大重
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JFE Engineering Corp
Original Assignee
NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Publication date
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 個々の疵を分離して検出できるとともに、複
数の画面に跨がる様々な形態の疵を正しく検出し判定す
るための方法を提供する。 【解決手段】 帯状体の表面に光を照射し、その反射光
を幅方向に配置された複数の受光器で捕らえて表面疵検
出を行う方法において、ある視野の中で検出された疵の
候補について、その視野内における疵の特徴量ととも
に、隣接する受光器の視野との境界における連結状況を
示す情報を付加して、複数の視野の疵の情報により表面
疵を検出する表面疵検出方法。同様に、長手方向に画面
を区切って表面疵検査を行う方法において、ある画面の
中で検出された疵の候補について、その画面内における
疵の特徴量とともに、幅方向および長手方向に隣接する
画面との境界a〜hにおける連結状況を示す情報を付加
して、複数の画面の疵の情報により表面疵を検出する表
面疵検出方法。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To provide a method capable of separating and detecting individual flaws and correctly detecting and determining various forms of flaws over a plurality of screens. SOLUTION: In the method of irradiating the surface of a band-shaped body with light and capturing the reflected light with a plurality of light receivers arranged in the width direction to detect surface flaws, candidates of flaws detected in a certain visual field A method of detecting a surface flaw based on information of a flaw in a plurality of fields of view, by adding information indicating a connection state at a boundary with a field of view of an adjacent light receiver together with a feature amount of the flaw within the field of view. Similarly, in a method of inspecting a surface flaw by dividing a screen in the longitudinal direction, a candidate for a flaw detected in a certain screen, along with the feature amount of the flaw in the screen, a screen adjacent to the width direction and the longitudinal direction. A surface flaw detection method for detecting surface flaws based on information on flaws on a plurality of screens by adding information indicating a connection state at boundaries a to h with respect to the surface.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、帯状体の表面
疵、印刷仕上がり状況検査等の表面のムラの検出も含め
た表面疵全般の検出方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for detecting surface flaws of a belt-like body and a general method of detecting surface flaws, including detection of surface unevenness such as an inspection of a printed state.

【0002】[0002]

【従来の技術】薄鋼板や樹脂フィルム等の帯状体の表面
疵全般の検出については、一般に光学的に検出する方法
が用いられている。
2. Description of the Related Art Generally, a method of optically detecting a surface flaw of a belt-like body such as a thin steel plate or a resin film is used.

【0003】図5は、この方法に用いられる典型的な装
置の外観図である。ポリゴンミラーでレーザービームを
走査し、受光器で被検査面の情報を捕らえ、信号処理装
置により疵を検出する。
FIG. 5 is an external view of a typical apparatus used in this method. A laser beam is scanned by a polygon mirror, information on the surface to be inspected is captured by a light receiver, and a flaw is detected by a signal processing device.

【0004】疵の検出は、一般に装置上の制限から被検
査面の情報を、所定の大きさ(画素数)の画面に区切っ
て、その中で行われる。その際、複数の画面に跨がる疵
の検出方法およびその判定方法が重要な問題となる。特
開平4−110758号公報記載の技術は、プロフィル
法で疵の画像処理を行い、その結果から疵の特徴を演算
処理している。
In general, the detection of a flaw is performed by dividing information on a surface to be inspected into a screen of a predetermined size (the number of pixels) due to restrictions on the apparatus. At this time, a method of detecting a flaw extending over a plurality of screens and a method of determining the flaw are important issues. In the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-110758, image processing of flaws is performed by a profile method, and the characteristics of the flaws are arithmetically processed from the results.

【0005】この公報記載のプロフィル法というのは、
疵の画像を長手方向に射影して幅方向の分布形態に変換
する方法である。この幅方向の分布形態の情報から疵の
種類を判別し、ある疵の幅方向の分布が複数の視野に跨
がっていれば、疵が連続していると判断するものであ
る。
[0005] The profile method described in this publication is
This is a method of projecting an image of a flaw in the longitudinal direction and converting it into a distribution form in the width direction. The type of the flaw is determined from the information on the distribution form in the width direction, and if the distribution of a flaw in the width direction extends over a plurality of visual fields, it is determined that the flaw is continuous.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】特開平4−11075
8号公報記載の技術は、疵の画像を長手方向に射影して
得た分布形態を判別用のデータとしているため、誤った
判定がされる場合がある。例えば、実際には視野の中に
複数の疵がある場合でも、疵の画像をある方向に射影す
ると、これら複数の疵が重なって見えることはよくあ
る。この場合、これらの疵は分布形態としては幅方向に
連続した1つの疵として判断され、疵の個数と寸法が実
際とは異なって検出されることになる。
Problems to be Solved by the Invention
In the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8 (1999) -2000, a distribution form obtained by projecting a flaw image in the longitudinal direction is used as data for determination, and thus an erroneous determination may be made. For example, even when there are actually a plurality of flaws in the visual field, when the flaw image is projected in a certain direction, these flaws often appear to overlap. In this case, these flaws are determined as one continuous flaw in the width direction as a distribution form, and the number and size of the flaws are detected differently from actual ones.

【0007】また、各画面で得られた情報(分布形態)
を疵の判定後も保存するには、比較的大きな記憶容量を
必要とする。そのため、疵の判定後も分布形態を保存す
るのは困難であり、疵の情報を後で再確認することがで
きない。
Information obtained on each screen (distribution form)
A relatively large storage capacity is required to save the data even after the determination of the flaw. Therefore, it is difficult to preserve the distribution form even after the determination of the flaw, and the flaw information cannot be confirmed again later.

【0008】本発明は、個々の疵を分離して検出できる
とともに、複数の画面に跨がる様々な形態の疵を正しく
検出し判定するための方法を提供する。
The present invention provides a method for separating and detecting individual flaws and for correctly detecting and determining various forms of flaws over a plurality of screens.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、帯状
体の表面に光を照射し、その反射光を幅方向に配置され
た複数の受光器で捕らえて表面疵検出を行う方法におい
て、ある視野の中で検出された疵の候補について、その
視野内における疵の特徴量とともに、隣接する受光器の
視野との境界における連結状況を示す情報を付加して、
複数の視野の疵の情報により表面疵を検出することを特
徴とする表面疵検出方法である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for detecting surface flaws by irradiating light to a surface of a strip and capturing the reflected light with a plurality of light receivers arranged in a width direction. For a flaw candidate detected in a certain field of view, together with the feature amount of the flaw in the field of view, information indicating the connection status at the boundary with the field of view of an adjacent light receiver is added,
A surface flaw detection method characterized by detecting surface flaws based on information on flaws in a plurality of visual fields.

【0010】ここで、隣接する受光器の視野との境界に
おける連結状況を示す情報とは、その疵の一部が隣接す
る受光器の視野との境界に有るか無いかという情報と、
有る場合はその境界における位置の情報という意味で用
いている。
Here, the information indicating the connection status at the boundary with the field of view of the adjacent light receiver includes information as to whether or not a part of the flaw is at the boundary with the field of view of the adjacent light receiver.
If there is, it is used to mean information on the position at the boundary.

【0011】検出された疵の候補が境界上に無い場合、
即ち視野内に収まる場合は、この疵の候補はその特徴量
で表される疵として確定する。ここで、疵の特徴量と
は、疵の寸法、面積、色相、形状その他必要に応じて適
宜選択することができる。
If no detected flaw candidate is on the boundary,
That is, when the flaw is within the field of view, the flaw candidate is determined as a flaw represented by the feature amount. Here, the characteristic amount of the flaw can be appropriately selected as needed, as to the size, area, hue, shape, and the like of the flaw.

【0012】検出された疵の候補が境界上に有る場合
は、この疵の候補は隣接する視野に連続して存在する可
能性があることになる。そこで、隣接する視野における
疵の候補について、元の視野との境界における連結状況
を示す情報を用いて、元の視野の疵の候補と連続する物
(疵の候補)を選択する。その疵の候補が1つだけであ
れば、それは元の視野の疵の候補と連続していることに
なる。対応する境界上に有る疵の候補が複数ある場合
は、更に境界における位置の情報を用いて、元の視野の
疵の候補との対応をつける。
If the detected flaw candidate is on the boundary, there is a possibility that the flaw candidate is continuously present in the adjacent visual field. Therefore, for a flaw candidate in an adjacent visual field, an object (flaw candidate) that is continuous with the flaw candidate in the original visual field is selected using information indicating the connection status at the boundary with the original visual field. If there is only one flaw candidate, it is continuous with the flaw candidate in the original field of view. When there are a plurality of flaw candidates on the corresponding boundary, a correspondence with the flaw candidate in the original visual field is further made by using information on the position at the boundary.

【0013】このようにして、疵の候補について隣接す
る視野への連結状況を示す情報が途切れたところで、疵
が存在する各視野における疵の特徴量を合算して、疵を
確定する。疵の特徴量の合算とは、長さや面積について
は一般に合計値を、色相等については平均値を、形状そ
の他についてはそれぞれ必要な手法を用いる。
In this way, when the information indicating the connection status of the flaw candidate to the adjacent visual field is interrupted, the characteristic amount of the flaw in each visual field where the flaw exists is added to determine the flaw. The summation of the flaw feature amounts generally uses a total value for length and area, an average value for hue and the like, and a necessary method for shape and the like.

【0014】請求項2の発明は、帯状体の表面に光を照
射し、その反射光を幅方向に配置された複数の受光器で
捕らえて、長手方向に画面を区切って表面疵検査を行う
方法において、ある画面の中で検出された疵の候補につ
いて、その画面内における疵の特徴量とともに、幅方向
および長手方向に隣接する画面との境界における連結状
況を示す情報を付加して、複数の画面の疵の情報により
表面疵を検出することを特徴とする表面疵検出方法であ
る。
According to a second aspect of the present invention, the surface of the strip is irradiated with light, the reflected light is captured by a plurality of light receivers arranged in the width direction, and the surface is inspected by dividing the screen in the longitudinal direction. In the method, for a flaw candidate detected in a certain screen, information indicating a connection state at a boundary between screens adjacent in the width direction and the longitudinal direction is added together with the feature amount of the flaw in the screen, and A surface flaw is detected based on the flaw information on the screen.

【0015】この発明は、請求項1の発明を2次元に拡
張したもので、長手方向即ち時間的に前後する領域の境
界についても、疵が隣接する領域に連続しているか否か
の情報を付加する。このようにして、疵検出の処理を長
手方向に区分しても、長手方向に連続する疵全体の特徴
量が得られ、表面疵を精度良く検出できる。
The present invention is a two-dimensional extension of the first aspect of the present invention, wherein information on whether or not a flaw is continuous with an adjacent area is also provided in the longitudinal direction, that is, on the boundary of the area which is temporally successive. Add. In this way, even if the processing of the flaw detection is divided in the longitudinal direction, the feature amount of the whole flaw continuous in the longitudinal direction is obtained, and the surface flaw can be detected with high accuracy.

【0016】また、この発明では、幅方向の境界と長手
方向の境界の重なる部分、即ち画面の4隅の部分におけ
る疵の連結状況を示す情報から、疵が斜め方向に隣接す
る領域に連続しているか否かを判定することも可能とな
る。
Further, according to the present invention, from the information indicating the connection state of the flaws at the overlapping part of the boundary in the width direction and the boundary in the longitudinal direction, that is, at the four corners of the screen, the flaws are continuously connected to the obliquely adjacent area. It is also possible to determine whether or not there is.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】図1は、ある1つの視野とその境
界における疵の形態を示す図である。図中、実線の矩形
は全視野範囲、破線より外側の部分は全視野の中の境界
領域をそれぞれ示す。この境界領域は、疵が隣接する視
野に連続しているか否かの情報、即ち疵の連結状況を示
す情報を採取するための領域である。ここでは、矩形の
視野範囲の境界領域を、矩形の4つの辺と4つの角に対
応させて、8つの領域a〜hに区分している。なお、領
域iは内部の領域である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a diagram showing a certain visual field and the form of a flaw at its boundary. In the figure, the solid rectangle indicates the entire visual field range, and the portion outside the dashed line indicates the boundary area in the full visual field. This boundary area is an area for collecting information indicating whether or not the flaw is continuous with an adjacent visual field, that is, information indicating the connection state of the flaw. Here, the boundary region of the rectangular viewing range is divided into eight regions a to h corresponding to the four sides and the four corners of the rectangle. The region i is an internal region.

【0018】領域d,hは、隣接する受光器の(幅方向
に隣接する)視野との連結状況、領域b,fは時間的に
前後する(長手方向に隣接する)視野との連結状況をそ
れぞれ採取するための領域である。四隅の領域a,c,
e,gは、長手方向と幅方向を縦横方向としたとき、斜
め方向の視野との連結状況をそれぞれ採取するための領
域である。
Areas d and h indicate the connection with the field of view (adjacent in the width direction) of the adjacent photodetector, and areas b and f indicate the state of connection with the field of view that is temporally back and forth (adjacent in the longitudinal direction). This is an area for collecting each. Four corner areas a, c,
“e” and “g” are regions for collecting the connection status with the oblique view when the longitudinal direction and the width direction are the vertical and horizontal directions, respectively.

【0019】これらの境界領域に疵の候補の信号が検出
された場合は、疵の候補の特徴量とともに、隣接する視
野との連結が有るという情報を、疵の連結状況を示す情
報として付加する。該当する疵の候補が複数ある場合
は、更に位置の情報を付加して疵の連結状況を示す情報
とし、複数の疵の対応付けを図る。
When a signal of a flaw candidate is detected in these boundary areas, information indicating that there is a connection with an adjacent visual field is added as information indicating a flaw connection state together with the feature amount of the flaw candidate. . When there are a plurality of applicable flaw candidates, information on the position is further added to make the information indicating the connection status of the flaws, and the plurality of flaws are associated.

【0020】以上の説明は矩形の視野を用いた場合であ
り、請求項1の発明では視野の境界領域は幅方向のみ
(図1の領域d,h)を用いる。矩形の視野について
は、画像処理の説明上、画面と言った方が分かりやすい
ので、これ以降、矩形の視野のことを画面と呼ぶ。
The above description is for a case where a rectangular visual field is used, and in the invention of claim 1, the boundary area of the visual field uses only the width direction (regions d and h in FIG. 1). For the explanation of the image processing, it is easier to understand the rectangular visual field as the screen, so the rectangular visual field is hereinafter referred to as the screen.

【0021】表1は、疵の特徴量と疵の連結状況を示す
情報の一例を示す表である。これらの情報は、図1に対
応している。疵(正確には疵の候補)Gは連結状況を示
す情報がなく(又は連結の可能性なしという連結情報を
持つ)、孤立した疵として確定する。疵A,C,Hは境
界領域f,e,hにそれぞれ連結情報を持ち、疵の確定
のために隣接する視野との信号処理を行う。ここでは、
連結情報として、境界領域記号(a〜h)と画面内の座
標を用いている。
Table 1 is a table showing an example of information indicating the feature amount of a flaw and the connection status of the flaw. These pieces of information correspond to FIG. The flaw (correctly a flaw candidate) G has no information indicating the connection status (or has connection information indicating that there is no possibility of connection) and is determined as an isolated flaw. The flaws A, C, and H have connection information in the boundary areas f, e, and h, respectively, and perform signal processing with an adjacent visual field to determine the flaw. here,
As the connection information, the boundary area symbols (a to h) and the coordinates in the screen are used.

【0022】[0022]

【表1】 [Table 1]

【0023】図2は、このように、疵が複数の画面に跨
がる場合の各画面を示す図である。この例では、各画面
のオーバーラップしている領域を、隣接する画面の境界
領域としている。画面1(図1に同じ)の疵候補Aは、
境界領域fに連結情報を持ち、これに連続する画面3の
疵候補Bは、境界領域b,f(図中の上下の辺)に連結
情報を持つ。
FIG. 2 is a view showing each screen when the flaw extends over a plurality of screens. In this example, an overlapping area of each screen is set as a boundary area between adjacent screens. The flaw candidate A on screen 1 (same as FIG. 1)
Boundary region f has connection information, and flaw candidate B on screen 3 that follows this has connection information in boundary regions b and f (upper and lower sides in the figure).

【0024】表2は、表1に示す各画面ごとの疵の特徴
量と疵の連結状況を示す情報を、まとめた表である。上
記の画面1,3の疵候補A,Bは、画面の位置関係(長
手方向前後)と連結情報(境界領域記号と位置)から、
連続している疵と判定される。この疵候補Bは、境界領
域fにも連結情報を持っているので、この段階では疵と
して確定されず、疵候補は連結情報により次々と隣接す
る画面の疵候補と連結される。
Table 2 is a table in which information indicating the feature amount of the flaw and the connection status of the flaw for each screen shown in Table 1 are summarized. The above-mentioned flaw candidates A and B on the screens 1 and 3 are obtained from the positional relationship of the screen (front and rear in the longitudinal direction) and the connection information (the boundary area symbol and the position).
It is determined that the flaw is continuous. Since the flaw candidate B also has the connection information in the boundary area f, it is not determined as a flaw at this stage, and the flaw candidates are successively connected to flaw candidates on adjacent screens based on the connection information.

【0025】[0025]

【表2】 [Table 2]

【0026】幅方向に連続する疵についても、同様にし
て検出できる。この場合は、隣接する受光器の視野との
境界領域(図1の領域d,h)について、疵の連結状況
が採取される。画面の位置関係(幅方向の左右)と連結
情報(境界領域記号と位置)から、連続している疵か否
か判定される。
A flaw continuous in the width direction can be similarly detected. In this case, the connection status of the flaw is collected for the boundary region (regions d and h in FIG. 1) with the visual field of the adjacent light receiver. From the positional relationship of the screen (left and right in the width direction) and the connection information (symbol and position of the boundary area), it is determined whether or not the flaw is continuous.

【0027】画面の角で斜め方向に連続する疵について
は、各画面がオーバーラップしている場合は、その角を
共有する4つの画面について、疵候補との連結状況が採
取される。表2では、画面1,2,3,4の疵候補C,
E,F,Dについて、連結情報(境界領域記号と位置)
が採取されており、これらの疵候補が連結していること
がわかる。その後、それぞれの疵の特徴量を合わせるこ
とにより、1つの疵として検出される。
If the screens overlap in the diagonal direction at the corners of the screens, if the screens overlap, the connection status of the four screens sharing the corners with the flaw candidates is collected. In Table 2, flaw candidates C on screens 1, 2, 3, and 4
For E, F, and D, connection information (boundary area symbol and position)
It can be seen that these flaw candidates are connected. Thereafter, by combining the feature amounts of the respective flaws, the flaws are detected as one flaw.

【0028】このように斜め方向に連続する疵を検出す
る方法を、課題を解決するための手段として表現する
と、斜め方向に隣接する画面との境界における連結状況
を示す情報を付加して、複数の画面の疵の情報により表
面疵を検出することを特徴とする請求項2の表面疵検出
方法となる。ここで、斜め方向に隣接する画面とは1つ
の角のみを共有する別の画面のことであり、斜め方向に
隣接する画面との境界とは画面の4隅の部分を表す。
The method of detecting obliquely continuous flaws as described above can be expressed as a means for solving the problem. If information indicating the connection status at the boundary with the screen adjacent to the oblique direction is added, a plurality of methods can be used. The surface flaw detection method according to claim 2, wherein the surface flaw is detected based on the flaw information on the screen. Here, the diagonally adjacent screen is another screen sharing only one corner, and the boundary with the diagonally adjacent screen represents four corners of the screen.

【0029】このようにして、疵候補は連結状況を示す
情報がなくなる(又は連結情報の内容が、連結の可能性
なしとなる)まで連結され、その後に疵として確定され
るので、疵全体の情報を得ることができる。
In this manner, the flaw candidates are connected until there is no information indicating the connection status (or the content of the connection information becomes no possibility of connection), and thereafter, the flaw candidates are determined as flaws. Information can be obtained.

【0030】[0030]

【実施例】図3は、本発明の1実施例として用いた装置
の構成を示す装置構成図である。図中、1は受光器、2
はフレームメモリ、3は検出処理装置、4は総合判定装
置、5は最終記憶装置をそれぞれ示す。この実施例で
は、画像処理単位が横512画素、縦400ラインの4
台の受光器により走行中の鋼板の検査を行う。横方向の
境界領域を10画素、縦方向の境界領域を10ライン設
定した。疵の見逃しを最小限に抑えるため、境界領域は
オーバーラップさせている。
FIG. 3 is an apparatus configuration diagram showing the configuration of an apparatus used as one embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a light receiver, 2
Denotes a frame memory, 3 denotes a detection processing device, 4 denotes a comprehensive judgment device, and 5 denotes a final storage device. In this embodiment, the image processing unit is 512 pixels horizontally and 400 lines vertically.
Inspection of the running steel plate is performed by the two light receivers. A horizontal boundary region is set to 10 pixels, and a vertical boundary region is set to 10 lines. The border areas are overlapped to minimize oversight of flaws.

【0031】各受光器1からの信号は、フレームメモリ
2により画像化される。フレームメモリ2が一杯になる
と、検出処理装置3が画面の中から疵候補を検出し、疵
の特徴量と連結情報を求めて総合判定装置4に送信す
る。フレームメモリ2は、各受光器ごとに2枚以上用意
されており、1つのフレームメモリで疵候補の検出中は
他のフレームメモリに画像を蓄えるように構成されてい
る。総合判定装置4は、疵候補の特徴量と連結情報によ
り疵の判定を行う。連結情報がない疵候補については、
1つの画面内で直ちに結果を表示し、最終記憶装置5に
送信する。
The signal from each light receiver 1 is imaged by the frame memory 2. When the frame memory 2 is full, the detection processing device 3 detects a flaw candidate from the screen, obtains the flaw characteristic amount and the connection information, and transmits them to the comprehensive judgment device 4. Two or more frame memories 2 are prepared for each light receiver, and are configured to store an image in another frame memory while detecting a flaw candidate in one frame memory. The overall determination device 4 determines a flaw based on the feature amount of the flaw candidate and the connection information. For flaw candidates without connection information,
The result is immediately displayed in one screen and transmitted to the final storage device 5.

【0032】図4は、この連結処理の内容を示すフロー
チャートである。連結情報を持つ疵候補については、次
のようにして連結処理を行う。幅方向の連結処理は、同
時刻に得られた互いに隣接する画面の境界領域(図1の
d,h領域)における連結情報の有無を調べる。複数の
画面にわたる疵候補については、各画面における疵の特
徴量から疵の種類と程度を判定し、最終記憶装置5に送
信する。
FIG. 4 is a flowchart showing the contents of the connection process. For a flaw candidate having connection information, connection processing is performed as follows. In the connection process in the width direction, the presence / absence of connection information in the boundary regions (d and h regions in FIG. 1) of adjacent screens obtained at the same time is checked. As for the flaw candidates covering a plurality of screens, the type and degree of the flaw are determined from the characteristic amount of the flaw on each screen, and transmitted to the final storage device 5.

【0033】長手方向の連結処理は、最新の画面と1つ
前の画面との境界領域(図1のb,f領域)における連
結情報の有無を調べる。疵候補が終結していれば、幅方
向の場合と同様に、各画面における疵の特徴量から疵の
種類と程度を判定し、最終記憶装置5に送信する。疵候
補がなお次の画面との境界領域(図1f領域)に連結情
報を持っている場合は、更に次のサイクルに疵の判定を
持ち越す。但し、疵候補の現時点までの特徴量と連結情
報は、最終記憶装置5に送信しておく。
In the connection process in the longitudinal direction, the presence / absence of connection information in the boundary region (the b and f regions in FIG. 1) between the latest screen and the immediately preceding screen is checked. If the flaw candidates have been completed, the type and degree of the flaw are determined from the flaw characteristic amount on each screen, and transmitted to the final storage device 5, as in the case of the width direction. If the flaw candidate still has the connection information in the boundary area with the next screen (figure 1f), the determination of the flaw is carried over to the next cycle. However, the feature amount and the connection information of the flaw candidate up to the present time are transmitted to the final storage device 5.

【0034】斜め方向の連結処理は、1つ前の画面の角
の領域(図1のe,g領域)と最新の画面の角の領域
(図1のa,c領域)における連結情報の有無を調べ、
疵候補の全体像を確定する。後は、前述と同様に疵の特
徴量から疵の種類と程度を判定し、最終記憶装置5に送
信する。
The diagonal connection process is performed by checking for the presence or absence of connection information in the previous screen corner area (e and g areas in FIG. 1) and the latest screen corner area (a and c areas in FIG. 1). Examine
The whole image of the flaw candidate is determined. Thereafter, the type and degree of the flaw are determined from the characteristic amount of the flaw, and transmitted to the final storage device 5 as described above.

【0035】最終記憶装置5は、総合判定装置4から送
られてくる疵の判定結果を、ディスプレイ上にマッピン
グして表示するとともに、固定記録媒体に記録してい
く。記録内容は、連結処理された疵については最終判定
結果のみならず、疵の発生時点から終結時点までの総て
の画面で得られた特徴量と連結情報を含んでいる。疵検
出装置の調整は、疵検出結果と目視検査を照合して行わ
れるが、本発明の装置は、各画面ごとの特徴量と連結情
報が保存されているので、調整すべき対象の絞り込み
(特徴量の抽出過程か連結処理過程か)がし易く、精度
の高い検出を可能とする。
The final storage device 5 maps the flaw judgment result sent from the comprehensive judgment device 4 on a display and displays it, and records the result on a fixed recording medium. The recorded contents include not only the final determination result for the connected flaws, but also feature amounts and connection information obtained on all screens from the point of occurrence of the flaw to the point of termination. The adjustment of the flaw detection device is performed by collating the flaw detection result with the visual inspection. However, the device of the present invention stores the feature amount and the connection information for each screen, so that the target to be adjusted is narrowed down ( It is easy to perform a feature amount extraction process or a connection processing process, and it is possible to perform highly accurate detection.

【0036】[0036]

【発明の効果】この発明では、疵の特徴量とともに隣接
する視野との連結状況を示す情報を用いて疵を検出する
ことにより、複数の画面に跨がる様々な形態の疵を正し
く検出することができる。
According to the present invention, various types of flaws extending over a plurality of screens can be correctly detected by detecting flaws using information indicating the connection state between adjacent visual fields together with the feature amounts of the flaws. be able to.

【0037】更に、長大な疵についても、各画面ごとの
特徴量と連結情報が保存されているので、検出装置の調
整等を精度よく行うことができる。
Further, even for a long flaw, since the characteristic amount and the connection information for each screen are stored, it is possible to adjust the detection device with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】視野とその境界における疵の形態を示す図であ
る。
FIG. 1 is a diagram showing the form of a flaw at a visual field and its boundary.

【図2】疵が複数の画面に跨がる場合の各画面を示す図
である。
FIG. 2 is a diagram showing each screen when a flaw extends over a plurality of screens.

【図3】発明の1実施例として用いた装置の構成を示す
装置構成図である。
FIG. 3 is an apparatus configuration diagram showing a configuration of an apparatus used as one embodiment of the present invention.

【図4】連結処理の内容を示すフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart showing the contents of a linking process.

【図5】従来技術の概略を示す外観図である。FIG. 5 is an external view schematically showing a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

a〜h 境界 i 内部 A〜H 疵 ah boundary i inside Ah flaw

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大重 貴彦 東京都千代田区丸の内一丁目1番2号 日 本鋼管株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (72) Inventor Takahiko Oshige 1-2-1 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Inside Nihon Kokan Co., Ltd.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 帯状体の表面に光を照射し、その反射光
を幅方向に配置された複数の受光器で捕らえて表面疵検
出を行う方法において、ある視野の中で検出された疵の
候補について、その視野内における疵の特徴量ととも
に、隣接する受光器の視野との境界における連結状況を
示す情報を付加して、複数の視野の疵の情報により表面
疵を検出することを特徴とする表面疵検出方法。
1. A method of irradiating light to the surface of a band-like body and capturing the reflected light with a plurality of light receivers arranged in a width direction to detect surface flaws. With respect to the candidate, together with the feature amount of the flaw in the field of view, information indicating the connection status at the boundary with the field of view of the adjacent light receiver is added, and the surface flaw is detected based on the information of the flaws in a plurality of fields of view. Surface flaw detection method.
【請求項2】 帯状体の表面に光を照射し、その反射光
を幅方向に配置された複数の受光器で捕らえて、長手方
向に画面を区切って表面疵検査を行う方法において、あ
る画面の中で検出された疵の候補について、その画面内
における疵の特徴量とともに、幅方向および長手方向に
隣接する画面との境界における連結状況を示す情報を付
加して、複数の画面の疵の情報により表面疵を検出する
ことを特徴とする表面疵検出方法。
2. A method for irradiating light to the surface of a band, capturing the reflected light with a plurality of light receivers arranged in a width direction, and dividing the screen in a longitudinal direction to perform a surface flaw inspection. For the flaw candidates detected in the above, together with the feature amount of the flaw in the screen, information indicating the connection status at the boundary with the screen adjacent in the width direction and the longitudinal direction is added, and the flaws of the plurality of screens are added. A surface flaw detection method characterized by detecting a surface flaw based on information.
JP20452396A 1996-08-02 1996-08-02 Surface flaw detection method Pending JPH1048151A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108152292A (en) * 2017-12-07 2018-06-12 北京首钢股份有限公司 A kind of detection method of hot rolling surface quality detecting system edge interference
CN112195173A (en) * 2019-11-26 2021-01-08 李洪江 A method for fusion of cardiomyocytes and tumor cells

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