JPH1048551A

JPH1048551A - 光スポット間隔検出方法・走査線ピッチ設定方法・光スポット間隔検出装置・走査線ピッチ設定装置およびマルチビーム走査装置

Info

Publication number: JPH1048551A
Application number: JP20483096A
Authority: JP
Inventors: Shuichi Yamazaki; 修一山崎
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1996-08-02
Filing date: 1996-08-02
Publication date: 1998-02-20
Anticipated expiration: 2016-08-02
Also published as: JP3526375B2

Abstract

(57)【要約】【課題】マルチビーム走査装置の２角光スポットの間隔
を検出する。【解決手段】走査領域外に配備され、複数の光スポット
を共通に検出できる受光面長さを走査直交方向に有する
単一の受光素子を用い、間隔を検出すべき２つの光スポ
ットＳＰ１，ＳＰ２により受光面６４Ａを所定の走査速
度：ｖで走査し、受光素子の出力に基づき矩形状の信号
を得、各光スポットに対応した矩形状の信号の信号間隔
時間：ｔを検出する工程を、光源部の回転により光スポ
ットＳＰ１，ＳＰ２の配列方向を回転させつつ繰返し、
信号間隔時間：ｔの最大値：ｔ_maxを得、これと走査速
度：ｖとから、ｖ・ｔ_maxとして光スポット間隔を得
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、光スポット間隔
検出方法・走査線ピッチ設定方法・光スポット間隔検出
装置・走査線ピッチ設定装置およびマルチビーム走査装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】画像信号により強度変調させた光束を偏
向させ、被走査面を画像形成のために走査する光走査装
置は、デジタル複写機や各種光プリンタ等の画像形成装
置に関連して広く知られている。近来、走査の高速化を
目して、一度に複数の走査線を同時走査する「マルチビ
ーム走査装置」が提案されている。

【０００３】マルチビーム走査装置において留意すべき
重要な点の一つは、副走査方向の記録密度を決定する走
査線ピッチを正確に設定しなければならないことであ
る。走査線ピッチが正確でないと、書き込まれた記録画
像の画素密度が副走査方向に周期的に変動し、記録画像
の像質を劣化させるからである。

【０００４】近来、走査線ピッチを２以上の記録密度の
間（例えば４００ｄｐｉと６００ｄｐｉの間）で切り換
え可能にするマルチビーム走査装置も意図されており、
このような装置にあっては、何れの記録密度に対して
も、走査線ピッチの正確な設定が要求される。

【０００５】走査線ピッチを変化調整する方法として
は、複数の光源を有する光源部を回転可能とし、光源部
の回転により被走査面上における複数の光スポットの配
列方向が回転する得るようにし、光スポット間隔をＤと
するとき、上記配列方向が主走査方向となす角：αが、
所望の走査線ピッチ：Ｐに対して、Ｐ＝Ｄ・ｓｉｎαを
満足するように光源部の回転態位を調整する方法が意図
されている。

【０００６】この方法は走査ピッチ設定上有効である
が、走査線ピッチの正確な調整・設定を行ない得るため
には、上記光スポット間隔：Ｄが正確に分かっていなけ
ればならない。光スポット間隔：Ｄは、光源部における
各光源の相対的な位置関係や、光源部と被走査面との間
にある光学系の結像倍率等により定まる。

【０００７】光源部と被走査面との間にある光学系の結
像倍率等は、個々のマルチビーム走査装置に光学系を組
付けるときの微少な組付け誤差によっても微妙に異なる
場合が多いし、たとい設計通りの組付け調整がなされて
も、マルチビーム走査装置の実使用に伴う振動等の影響
で、上記結像倍率が経時的に変化してしまうことも考え
られる。

【０００８】また、光源部における複数光源の相対的な
位置関係も、ＬＤ（半導体レーザ）アレイのようなモノ
リシックな構造のものはともかく、独立した複数の半導
体レーザを組み合わせるような光源部では、光源部ごと
の組付け誤差や経時的な変化が考えられ、モノリシック
なＬＤアレイでも、個体ごとに発光部の間隔が異なるこ
とが考えられる。このような理由で、光源部の回転によ
り光スポットの配列方向を変化させて走査線ピッチを変
化調整する上記方式では「光スポットの間隔を正確に検
出する必要」がある。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】この発明は、上記光ス
ポット間隔を確実に検出できる光スポット間隔検出方法
の実現を課題とする。この発明の別の課題は、上記光ス
ポット間隔検出方法を利用して正確な走査線ピッチの設
定を行ないうる走査線ピッチ設定方法の実現にある。

【００１０】この発明の他の課題は、上記走査線ピッチ
検出方法を実施するための光スポット間隔検出装置の実
現にある。

【００１１】この発明のさらに別の課題は、上記走査線
ピッチ設定方法を実施するための走査線ピッチ設定装置
の実現にある。

【００１２】この発明のさらに他の課題は、上記光スポ
ット間隔検出装置もしくは走査線ピッチ設定装置を有す
るマルチビーム走査装置の実現にある。

【００１３】

【課題を解決するための手段】この発明の光スポット間
隔検出方法は「光源部の回転により、被走査面上におけ
る複数の光スポットの配列方向を回転させることのでき
るマルチビーム走査装置において、２つの光スポットの
間隔を検出する方法」であって、以下の点を特徴とする
（請求項１）。

【００１４】即ち、走査領域外に配備され、複数の光ス
ポットを共通に検出できる受光面長さを走査直交方向に
有する単一の受光素子を用い、間隔を検出すべき２つの
光スポットにより受光面を所定の走査速度：ｖで走査
し、受光素子の出力に基づき矩形状の信号を得、各光ス
ポットに対応した矩形状の信号の信号間隔時間：ｔを検
出する工程を光源部を回転させつつ繰返し、信号間隔時
間：ｔの最大値：ｔ_maxを得、この最大値：ｔ_maxと走査
速度：ｖとから、ｖ・ｔ_maxとして光スポット間隔を得
る。

【００１５】「光源部」としては、発光部を２以上有す
るモノリシックなＬＤアレイや、複数の半導体レーザや
複数のＬＥＤを組み合わせたものを用いることができ
る。走査領域外に配備される単一の受光素子は、光スポ
ット間隔検出の目的のためには、ビーム走査開始側の領
域外に設けても、ビーム走査終了側の領域外に設けても
良いが、この受光素子をビーム走査開始側に設ける場合
には、これを「同期光検出用に兼用」しても良い。

【００１６】被走査面上に一度に形成される光スポット
の最大数は、光源部に含まれる光源（発光部）の数に等
しい。光源の数が３以上の場合には、検出すべき光スポ
ット間隔は、互いに隣接する任意の２つの光源に対応す
る光スポットの間隔でも良いし、３以上の光源のうちの
任意の２つを点灯させたときに被走査面上に形成される
２つの光スポットの間隔でもよい。３以上の光スポット
を被走査面に形成できる場合、これらは必ずしも１直線
上に配列されていなくてもよい。

【００１７】光源部に含まれる光源（発光部）の数は上
記の如く３以上でも良いが、これを２としても良く（請
求項２）、この場合、マルチビーム走査は「２ビーム走
査」となる。

【００１８】この発明の走査線ピッチ設定方法は「光源
部の回転により、被走査面上における複数の光スポット
の配列方向を回転させることのできるマルチビーム走査
装置において、複数の光スポットにより同時に走査され
る走査線のピッチを調整する方法」であって、以下の如
き特徴を有する（請求項３）。

【００１９】上記請求項１または２記載の方法で光スポ
ット間隔：ｖ・ｔ_maxが検出されるときの光源部の態位
を「光源部の回転に対するホームポジション」とし、調
整すべき所望の走査線ピッチ：ｄに対して、ｄ＝ｖ・ｔ
_max・ｓｉｎθを満足する角：θを求め、光源部を所定
の向きに角：θだけ回転させることにより走査線のピッ
チを所望の走査線ピッチ：ｄに設定する。

【００２０】ここに「走査線ピッチ」は、請求項１また
は２記載の発明の方法で光スポット間隔を検出された２
つの光スポットで同時に走査を行なうときに各光スポッ
トが走査する走査線の間隔を意味し、記録密度により決
定される副走査方向の画素幅と等しいか、あるいはこの
画素幅の整数倍である。

【００２１】この発明の「光スポット間隔検出装置」
は、請求項１または２記載の光スポット検出方法を実施
するための装置、即ち「光源部の回転により、被走査面
上における複数の光スポットの配列方向を回転させるこ
とのできるマルチビーム走査装置において、２つの光ス
ポットの間隔を検出する装置」であって、回転手段と、
単一の受光素子と、制御・演算手段とを有する（請求項
４）。

【００２２】「回転手段」は、光源部を回転させる手段
であり、駆動源として適当なステップピッチを持ったス
テッピングモータと、その回転を光源部に伝達する回転
伝達機構により好適に構成できる。

【００２３】「単一の受光素子」は、走査領域外に配備
され、複数の光スポットを共通に検出できる受光面長さ
を走査直交方向に有する。理想的に偏向された複数の光
束を考え、これら理想的な光束が受光素子の受光面部分
を横切る位置において、偏向光束が移動する方向を「走
査方向（被走査面上の主走査方向に対応する）」と呼
び、上記位置において走査方向に直交する方向を「走査
直交方向（被走査面上の副走査方向に対応する）」と称
する。受光素子の受光面が「走査直交方向において、複
数の光スポットを共通に検出できる長さを持つ」とは、
検出すべき２つの光スポットの配列方向が走査直交方向
と成った場合に、受光面が、これら２つの光スポットを
受光できるだけの長さを走査直交方向に有するというこ
とを意味する。

【００２４】「制御・演算手段」は、回転手段を制御し
つつ、間隔を検出すべき２つの光スポットにより受光面
を所定の走査速度：ｖで走査させ、受光素子の出力に基
づき矩形状の信号を得、各光スポットに対応した矩形状
の信号の信号間隔時間：ｔの最大値：ｔ_maxを得、この
最大値：ｔ_maxと走査速度：ｖとから、ｖ・ｔ_maxとして
光スポット間隔を得る手段である。

【００２５】この光スポット間隔検出装置においても、
光源部における光源（発光部）の数は３以上でも良い
が、この数を２とすることができる（請求項５）。

【００２６】この発明の走査線ピッチ設定装置は「光源
部の回転により、被走査面上における複数の光スポット
の配列方向を回転させることのできるマルチビーム走査
装置において、複数の光スポットにより同時に走査され
る走査線のピッチを調整する装置」であって、請求項４
または５記載の構成に加え、ピッチ調整手段を有する
（請求項６）。

【００２７】「ピッチ調整手段」は、請求項４または５
記載の装置で光スポット間隔：ｖ・ｔ_maxが検出される
ときの光源部の態位を光源部の回転に対するホームポジ
ションとし、調整すべき所望の走査線ピッチ：ｄに対し
て、ｄ＝ｖ・ｔ_max・ｓｉｎθを満足する角：θを求
め、光源部を所定の向きに角：θだけ回転させることに
より走査線のピッチを所望の走査線ピッチ：ｄに設定す
る手段である。

【００２８】この発明のマルチビーム走査装置は「光源
部の回転により、被走査面上における複数の光スポット
の配列方向を回転させることのできるマルチビーム走査
装置」であって、請求項４または５記載の光スポット間
隔検出装置もしくは請求項６記載の走査線ピッチ設定装
置を有する（請求項７）。

【００２９】

【発明の実施の形態】請求項７記載のマルチビーム走査
装置の実施の１形態を示す図２において、符号１０で示
す「光源部」からは、２ビーム走査用の２つの光束が、
それぞれ平行光束として放射される（請求項２，５）。
放射された２光束は光スポット整形用のアパーチュア板
２０の開口部を通過してシリンダレンズ３０に入射し、
副走査対応方向（光源から被走査面に到る光路を直線的
に展開した仮想的な光路上で副走査方向に平行的に対応
する方向を言い、上記仮想的な光路上で主走査方向に平
行的に対応する方向を主走査対応方向と言う）にのみ集
光され、光偏向器であるポリゴンミラー４０の偏向反射
面４１の近傍に、主走査対応方向に長い線像として結像
する。

【００３０】ポリゴンミラー４０が矢印方向へ等速回転
すると、偏向反射面により反射された２光束は偏向光束
となり、「走査結像光学系」であるｆθレンズ３２の作
用により、被走査面５０上に２つの光スポットとして集
光し、被走査面５０を走査する。被走査面位置には通
常、光導電性の感光体が配備されるので、光スポットは
実体的には感光体を走査する。

【００３１】光源部１０は、ケーシング１８内に、２つ
の半導体レーザ１１，１２と、２つののコリメートレン
ズ１３，１４と、半導体レーザ１１からの光束の偏光面
を９０度旋回させる１／２波長板１５と、半導体レーザ
１１，１２からの光束を合成するビーム合成プリズム１
６と、合成された２光束の偏光状態を「シェーディング
補正」のために円偏光状態にするための１／４波長板１
７とを配備したものである。

【００３２】半導体レーザ１１，１２から放射された各
光束は、対応するコリメートレンズ１３，１４で平行光
束化されたのちビーム合成プリズム１６に入射する。半
導体レーザ１１からの光束は、ビーム合成プリズム１６
における偏光ビームスプリッタ膜１６２を透過してビー
ム合成プリズム１６から射出する。半導体レーザ１２か
らの光束はビーム合成プリズム１６の斜面１６１で内部
反射し、偏光ビームスプリッタ膜１６２により反射され
てビーム合成プリズム１６から射出する。

【００３３】図２において、コリメートレンズ１３，１
４は共に「主走査対応方向に平行な同一面内」にある。
半導体レーザ１１，１２は、その内の少なくとも一方
が、対応するコリメートレンズの光軸から主・副走査対
応方向に微小距離ずれている。図１（ａ）では、半導体
レーザ１２のコリメートレンズ１４の光軸からの副走査
対応方向へのずれが「誇張して」描かれている。即ち、
半導体レーザ１１，１２の発光部を結ぶ直線は主走査対
応方向と微少な角：θ_Aをなし、角：θ_Aの傾きにより、
ビーム合成プリズム１６から射出する２光束は互いに副
走査対応方向に微少角傾いている。この微少角により、
被走査面５０上に集光する２つの光スポットの副走査方
向の間隔：Ｐ_Sが定まる。

【００３４】また半導体レーザ１１，１２の、対応する
コリメートレンズの光軸からの主走査対応方向の微少な
ずれにより、ビーム合成プリズム１６から射出する光束
は、主走査方向において、図に示すように互いに微少な
角：θ_Bをなす。この角：θ_Bにより被走査面５０上に集
光する２つの光スポットの主走査方向の間隔：Ｐ_Mが定
まる。

【００３５】光源部１０を、コリメートレンズ１３の光
軸の回りに回転させることにより、被走査面５０上の２
つの光スポットの間隔を一定に保ったまま、これらスポ
ットを結ぶ方向を回転させることができ、このことを利
用して、上記間隔：Ｐ_S，Ｐ_Mを調整することが可能であ
る。

【００３６】ビーム合成プリズム１６を射出した２光束
は直線偏光の偏光面が互いに直交しており、このままで
は偏向反射面４１の反射角変化による反射率の差により
「シェーディング」が生じるので、１／４波長板１７を
透過させることにより、これらを円偏光状態にする。こ
のようにして、合成され、シェーディング補正された２
光束が光源部１０から射出する。

【００３７】光源部１０から射出し、ポリゴンミラー４
０により偏向された２光束は走査領域へ向かって偏向す
るが、走査領域へ向かう途上においてｆθレンズ３２を
介してミラー６１へ入射し、ミラー６１により受光素子
６４に向けて反射される。即ち、受光素子６４は「走査
領域外に配備された単一の受光素子（請求項１，４）」
であり、また、同期光検出用の受光素子を兼ねている。

【００３８】受光素子６４は、ミラー６１を介する光路
上で被走査面５０と等価な位置に配備され（図は作図の
関係でそのように描かれていない）、２光束とも受光素
子６４の受光面上に（ｆθレンズ３２の結像作用で）光
スポットとして集光する。

【００３９】光源部１０は、「回転手段」である回転機
構６５（ステッピングモータとその回転を光源部に伝達
する回転伝達機構（ギヤ、チェーン、ワイヤ等）により
構成されている）により、前述の如く、コリメートレン
ズ１３の光軸の回りに回転させることができるようにな
っている。また、受光素子６４の出力は「制御・演算手
段」である制御演算部７０に入力するようになってい
る。

【００４０】図１（ａ）において、符号６４Ａは受光素
子６４の「受光面」を示している。また、符号ＳＰ１，
ＳＰ２で示す「光スポット」は、それぞれ矢印のように
移動して走査領域へと向かう。光スポットＳＰ１は半導
体レーザ１１から放射された光束によるものであり、光
スポットＳＰ１は半導体レーザ１２から放射された光束
によるものである。受光面６４Ａは、走査直交方向（図
の上下方向）に十分な長さを有し、光スポットＳＰ１，
ＳＰ２の走査直交方向の間隔が最大値：Ｌになった状態
でも、確実にこれら光スポットを受光できるようになっ
ている。

【００４１】説明の簡単のために、半導体レーザ１１は
コリメートレンズ１３の光軸上に発光部があるとする。
すると、光源部１０を回転機構６５によりコリメートレ
ンズ１３の光軸の回りに回転させると、光スポットＳＰ
２が光スポットＳＰ１を中心として回転することにな
る。光スポットＳＰ１，ＳＰ２間の距離：Ｌが「光スポ
ット間隔」であって検出対象である。光スポット間隔：
Ｌは、図２に示した間隔：Ｐ_S，Ｐ_Mを用いて表せば「Ｌ
＝√（Ｐ_S ²＋Ｐ_M ²）」である。

【００４２】図２に示す制御演算部７０は図３に示すよ
うになっている。即ち、制御演算部７０はＭＰＵ（メイ
ンプロセッサユニット）７１と、画像処理ユニット７３
とコンパレータ７４を有する。ＭＰＵ７１は、画像処理
ユニット７３を制御するとともに、回転機構６５のステ
ッピングモータＭを駆動するドライバ７２（回転機構の
一部である）を制御してステッピングモータＭの回転を
制御する。画像処理ユニット７３は、ＭＰＵ７１の制御
を受け、ドライバ８１，８２を介して半導体レーザ１
１，１２の点滅を制御する。コンパレータ７４は、受光
素子６４の出力を適当なスレッシュレベルで２値化して
矩形状の信号に変換し、その信号を画像処理ユニット７
３に向けて出力する。ＭＰＵ７１はまた、２ビーム走査
装置全体の制御部として、ポリゴンミラーの回転等も制
御する。

【００４３】さて、光スポット間隔の検出は以下の如く
に行なわれる。ＭＰＵ７１の制御により半導体レーザ１
１，１２を点灯させ、ポリゴンミラー４０を所定の回転
速度で定速回転させる。これにより、受光素子６４の受
光面６４Ａは２つの光スポットＳＰ１，ＳＰ２により所
定の走査速度：ｖで走査されることになる。２つの光ス
ポットＳＰ１，ＳＰ２が受光面６４Ａを走査するたび
に、受光素子６４から出力される信号をコンパレータ７
４で２値化すると、図１（ｂ）に示すように連続した２
つの矩形状の信号が得られるので、これらの信号のリー
ディングエッジ間の時間間隔：ｔにより「信号間隔時
間」を得る。

【００４４】即ち、図１（ｃ）に示すように、受光素子
６４の出力はコンパレータ７４で矩形状の信号とされて
カウンタ７３Ａに送られ、カウンタ７３Ａはクロック発
生器７３Ｂからのクロックにより上記時間間隔をカウン
トする。なお、カウンタ７３Ａ、クロック発生器７３Ｂ
は共に、図３に示す画像処理ユニット７３に含まれてい
る。

【００４５】カウンタ７３Ａによるカウント結果はＭＰ
Ｕ７１にて時間間隔：ｔとしてサンプリングされる。Ｍ
ＰＵ７１は、サンプリングを行なうごとにステッピング
モータを１パルス分駆動して、光源部１０を微少角回転
させ、次々にサンプリングされる時間間隔：ｔを前回の
サンプリング結果と大小比較することを繰り返すことに
より、最大値：ｔ_maxを検出する。最大値：ｔ_maxが得ら
れるとき、光スポットＳＰ１，ＳＰ２の「配列方向」は
走査方向に平行になる。

【００４６】最大値：ｔ_maxが得られると、ＭＰＵ７１
は演算：ｖ・ｔ_maxを実行して光スポット間隔：Ｌを求
めると共に、上記最大値：ｔ_maxが得られたときのステ
ッピングモータのアドレスをセットする。

【００４７】図４に、ＭＰＵ７１が上記光スポット検出
を行なう時の上記手順をフロー図として示す。

【００４８】次に、「走査線ピッチ設定」を説明する。
走査線ピッチ設定は、上に説明した「光スポット間隔検
出」の結果を利用して行なわれる。図５のフロー図に示
すように、走査線ピッチ設定が行なわれるときには、前
述のように、最大時間：ｔ_maxが得られるとき、光スポ
ットＳＰ１，ＳＰ２の配列方向は「走査方向と平行」に
なるので、このときステッピングモータのアドレスをセ
ットしてこの状態を光源部１０の回転に対するホームポ
ジションとする。

【００４９】そして、上記の如く検出された光スポット
間隔：Ｌに対し、光スポット配列方向を角：θだけ傾け
る（この目的のためには、光源部１０を角：θだけ回転
させればよい）と、光スポットＳＰ１，ＳＰ２の走査直
交方向の隔たりは、Ｌ・ｓｉｎθとなるから、目的とす
る走査線ピッチ：ｄに対して、ｄ＝Ｌ・ｓｉｎθとなる
角：θを回転角：θとしてＭＰＵ７１で割り出す（演算
で行なっても良いし、ｓｉｎθとｄ／Ｌの関係を定めた
テーブルに基づいて割り出しても良い）。

【００５０】そして、この回転角：θを実現するよう
に、ＭＰＵ７１によりステッピングモータＭを制御する
ことにより所望の走査線ピッチを設定できる。従って、
この場合、ＭＰＵ７１と回転機構６５とが「ピッチ調整
手段」を構成することになる。

【００５１】かくして、図２に示す２ビーム走査装置
は、光源部１０の回転により被走査面５０上における複
数の光スポットの配列方向を回転させることのできるマ
ルチビーム走査装置であって、光スポット間隔検出装置
および走査線ピッチ設定装置を有する（請求項７）。

【００５２】

【発明の効果】以上に説明したように、この発明によれ
ば新規な光スポット間隔検出方法及び装置を実現でき
る。この光スポット間隔検出方法および装置によれば、
光スポット間隔を精度良く検出できる。この発明によれ
ばまた、新規な走査線ピッチ設定方法および装置を実現
できる。この走査線ピッチ設定方法及び装置によれば、
所望の走査線ピッチの容易且つ精度良い設定が可能であ
る。またこの発明によれば、新規なマルチビーム走査装
置を実現できる。このマルチビーム走査装置によれば、
光スポット間隔を精度良く検出できるので、これに基づ
き正確に走査線ピッチを設定することにより良好なマル
チビーム走査を実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の光スポット間隔検出方法を説明する
ための図である。

【図２】この発明のマルチビーム走査装置の実施の１形
態である２ビーム走査装置を説明するための図である。

【図３】図２における制御演算部を説明するための図で
ある。

【図４】上記実施の形態における光スポット間隔検出の
手順を示すフロー図である。

【図５】上記実施の形態における走査線ピッチ設定の手
順を示すフロー図である。

【符号の説明】

６４Ａ受光素子の受光面ＳＰ１光スポットＳＰ２光スポットＬ光スポット間隔

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光源部の回転により、被走査面上における
複数の光スポットの配列方向を回転させることのできる
マルチビーム走査装置において、２つの光スポットの間
隔を検出する方法であって、走査領域外に配備され、複数の光スポットを共通に検出
できる受光面長さを走査直交方向に有する単一の受光素
子を用い、間隔を検出すべき２つの光スポットにより上記受光面を
所定の走査速度：ｖで走査し、上記受光素子の出力に基
づき矩形状の信号を得、各光スポットに対応した矩形状
の信号の信号間隔時間：ｔを検出する工程を、光源部を
回転させつつ繰返し、上記信号間隔時間：ｔの最大値：
ｔ_maxを得、上記最大値：ｔ_maxと上記走査速度：ｖとから、ｖ・ｔ
_maxとして光スポット間隔を得ることを特徴とする光ス
ポット間隔検出方法。
【請求項２】請求項１記載の光スポット間隔検出方法に
おいて、光源部が２つの光源を有することを特徴とする光スポッ
ト間隔検出方法。
【請求項３】光源部の回転により、被走査面上における
複数の光スポットの配列方向を回転させることのできる
マルチビーム走査装置において、複数の光スポットによ
り同時に走査される走査線のピッチを調整する方法であ
って、請求項１または２記載の方法で光スポット間隔：ｖ・ｔ
_maxが検出されるときの光源部の態位を光源部の回転に
対するホームポジションとし、調整すべき所望の走査線ピッチ：ｄに対して、ｄ＝ｖ・
ｔ_max・ｓｉｎθを満足する角：θを求め、光源部を所定の向きに上記角：θだけ回転させることに
より上記走査線のピッチを上記所望の走査線ピッチ：ｄ
に設定することを特徴とする走査線ピッチ設定方法。
【請求項４】光源部の回転により、被走査面上における
複数の光スポットの配列方向を回転させることのできる
マルチビーム走査装置において、２つの光スポットの間
隔を検出する装置であって、光源部を回転させる回転手段と、走査領域外に配備され、複数の光スポットを共通に検出
できる受光面長さを走査直交方向に有する単一の受光素
子と、上記回転手段を制御しつつ、間隔を検出すべき２つの光
スポットにより上記受光面を所定の走査速度：ｖで走査
させて、上記受光素子の出力に基づき矩形状の信号を
得、各光スポットに対応した矩形状の信号の信号間隔時
間：ｔの最大値：ｔ_maxを得、この最大値：ｔ_maxと上記
走査速度：ｖとから、ｖ・ｔ_maxとして光スポット間隔
を得る制御・演算手段とを有することを特徴とする光ス
ポット間隔検出装置。
【請求項５】請求項４記載の光スポット間隔検出装置に
おいて、光源部が２つの光源を有することを特徴とする光スポッ
ト間隔検出装置。
【請求項６】光源部の回転により、被走査面上における
複数の光スポットの配列方向を回転させることのできる
マルチビーム走査装置において、複数の光スポットによ
り同時に走査される走査線のピッチを調整する装置であ
って、請求項４または５記載の装置で光スポット間隔：ｖ・ｔ
_maxが検出されるときの光源部の態位を光源部の回転に
対するホームポジションとし、調整すべき所望の走査線
ピッチ：ｄに対して、ｄ＝ｖ・ｔ_max・ｓｉｎθを満足
する角：θを求め、光源部を所定の向きに上記角：θだ
け回転させることにより上記走査線のピッチを上記所望
の走査線ピッチ：ｄに設定するピッチ調整手段を有する
ことを特徴とする走査線ピッチ設定装置。
【請求項７】光源部の回転により、被走査面上における
複数の光スポットの配列方向を回転させることのできる
マルチビーム走査装置であって、請求項４または５記載の光スポット間隔検出装置もしく
は請求項６記載の走査線ピッチ設定装置を有することを
特徴とするマルチビーム走査装置。