JPH1049654A - 画像取込装置の信号補正方法 - Google Patents
画像取込装置の信号補正方法Info
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- JPH1049654A JPH1049654A JP8200220A JP20022096A JPH1049654A JP H1049654 A JPH1049654 A JP H1049654A JP 8200220 A JP8200220 A JP 8200220A JP 20022096 A JP20022096 A JP 20022096A JP H1049654 A JPH1049654 A JP H1049654A
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Input (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Facsimiles In General (AREA)
- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 読取対象物の表面の反射光量特性値が変動し
ても、常に確実な識別ができる画像取込装置の信号補正
方法を提供する。 【解決手段】 搬送される読取対象物に光を当てて反射
される光量を演算する反射光量測定演算部と、前記読取
対象物に照射する光量を制御する発光量制御手段と、前
記発光量制御手段によって照射された前記読取対象物の
2次元画像を採取するエリアセンサとを具備した搬送読
取対象物の画像取込装置において、前記反射光量測定演
算部からの反射光量に応じて前記エリアセンサによって
採取された画像信号の増幅率を変更する補正を施す。
ても、常に確実な識別ができる画像取込装置の信号補正
方法を提供する。 【解決手段】 搬送される読取対象物に光を当てて反射
される光量を演算する反射光量測定演算部と、前記読取
対象物に照射する光量を制御する発光量制御手段と、前
記発光量制御手段によって照射された前記読取対象物の
2次元画像を採取するエリアセンサとを具備した搬送読
取対象物の画像取込装置において、前記反射光量測定演
算部からの反射光量に応じて前記エリアセンサによって
採取された画像信号の増幅率を変更する補正を施す。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、硬貨、メダル、カ
ード、紙幣等の紙葉類、缶、瓶などの読取対象物の表面
パターン及び色を画像認識する方法であって、表面の汚
れ等によって光の反射光量比率(反射率)、乱反射光量
及び全反射光量の差又は比の異なる読取対象物を確実に
認識するための信号補正方法に関する。
ード、紙幣等の紙葉類、缶、瓶などの読取対象物の表面
パターン及び色を画像認識する方法であって、表面の汚
れ等によって光の反射光量比率(反射率)、乱反射光量
及び全反射光量の差又は比の異なる読取対象物を確実に
認識するための信号補正方法に関する。
【0002】
【従来の技術】所定物品の真偽や種別を判別する必要性
は益々高まっているが、この傾向は硬貨やメダルを扱う
バンクマシンや自動販売機等の分野で特に顕著である。
従来の硬貨読取装置は、硬貨の外形寸法(径、厚み)及
び材質を基準にして当該硬貨の真偽を判別しているが、
この判別方法では近年の国際化に伴う社会問題に充分に
対処し得ない様相を呈している。即ち、近年の国際化で
多数の外国人が我国に入国しているが、この入国に伴な
って我国の硬貨に酷似した多数の外国硬貨が流入して氾
濫し、その結果、判別し難い外国硬貨が行使されて経済
活動が大きく阻害されることが少なくない。例えば日本
国政府が発行している500円硬貨は世界で多いサイズ
であり、硬貨の大きさや厚み等の外形的寸法からでは、
韓国やロシア等の外国の硬貨と区別することはほとんど
できない。そこで、近年の硬貨読取装置は照明装置を用
いて硬貨の刻印、換言すれば硬貨の露出面における図
形、数字、又は文字等を基準にして当該硬貨の金種及び
真偽を判別する工夫が施されている。
は益々高まっているが、この傾向は硬貨やメダルを扱う
バンクマシンや自動販売機等の分野で特に顕著である。
従来の硬貨読取装置は、硬貨の外形寸法(径、厚み)及
び材質を基準にして当該硬貨の真偽を判別しているが、
この判別方法では近年の国際化に伴う社会問題に充分に
対処し得ない様相を呈している。即ち、近年の国際化で
多数の外国人が我国に入国しているが、この入国に伴な
って我国の硬貨に酷似した多数の外国硬貨が流入して氾
濫し、その結果、判別し難い外国硬貨が行使されて経済
活動が大きく阻害されることが少なくない。例えば日本
国政府が発行している500円硬貨は世界で多いサイズ
であり、硬貨の大きさや厚み等の外形的寸法からでは、
韓国やロシア等の外国の硬貨と区別することはほとんど
できない。そこで、近年の硬貨読取装置は照明装置を用
いて硬貨の刻印、換言すれば硬貨の露出面における図
形、数字、又は文字等を基準にして当該硬貨の金種及び
真偽を判別する工夫が施されている。
【0003】従来の硬貨読取装置として、例えば特開平
5−89276号公報に開示されたものがあり、この硬
貨読取装置は、搬送される硬貨の表面パターンを搬送路
上方に配設した撮像素子で撮像し、撮像された画像デー
タより硬貨の真偽の判別を行なっている。
5−89276号公報に開示されたものがあり、この硬
貨読取装置は、搬送される硬貨の表面パターンを搬送路
上方に配設した撮像素子で撮像し、撮像された画像デー
タより硬貨の真偽の判別を行なっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
硬貨読取装置は、金種、経年変化による硬貨表面色の違
いによる反射光量比率の差異により、安定したレベルの
色情報を正しく反映した画像情報(輝度情報)を取込む
ことは困難であり、連続した複数金種の連続硬貨の判別
には問題があった。即ち、発光強度を一定に保つように
光源を調節しておき、硬貨から反射されてくる画像をイ
メージセンサ等で撮像するようになっているが、撮像画
像は硬貨の表面反射光であるので、光源強度を一定値に
制御しても表面の汚れや酸化により反射光量比率が落ち
ているものであれば画像は暗くなり、暗くなれば色情報
が正しく得られないことになる。あるいは、撮像前に予
め硬貨に光を当ててその表面における反射光量比率を測
定し、反射光の強度が一定になるように発光量を調整し
た上で硬貨から反射されてくる画像を撮像する場合に
も、常に露光量が一定となるため表面パターンは安定に
検出できるが、色情報には若干の違いが生じる。このた
め、硬貨の表面汚れや表面の金属酸化によって光の反射
光量比率や散乱光量比率が低下した場合に照射光量を増
大させるようにすることが考えられるが、一様に照射光
量を増大させた場合には色情報が正確に読出せないとい
う不具合があり、新らしい硬貨と流通硬貨とのコントラ
ストを一定にするような補正方法によって、安定して硬
貨識別を行ない得る方法の出現が要請されている。本発
明は上述のような事情よりなされたものであり、本発明
の目的は、硬貨等の読取対象物を撮像素子の撮像エリア
で確実に読取るようにすると共に、読取対象物の画像取
込に先立って読取対象物の反射光量特性値を測定演算
し、その測定演算された反射光量特性値に応じて画像信
号の増幅率を変化させるようにした画像取込装置の信号
補正方法を提供することにある。即ち、本発明の目的
は、全反射光、散乱反射光を測定して得られた特性値か
らコントラストを予測し、硬貨表面の損傷状態により乱
反射が大きく、コントラストの低い硬貨には増幅特性を
変える信号補正方法を提供することにある。
硬貨読取装置は、金種、経年変化による硬貨表面色の違
いによる反射光量比率の差異により、安定したレベルの
色情報を正しく反映した画像情報(輝度情報)を取込む
ことは困難であり、連続した複数金種の連続硬貨の判別
には問題があった。即ち、発光強度を一定に保つように
光源を調節しておき、硬貨から反射されてくる画像をイ
メージセンサ等で撮像するようになっているが、撮像画
像は硬貨の表面反射光であるので、光源強度を一定値に
制御しても表面の汚れや酸化により反射光量比率が落ち
ているものであれば画像は暗くなり、暗くなれば色情報
が正しく得られないことになる。あるいは、撮像前に予
め硬貨に光を当ててその表面における反射光量比率を測
定し、反射光の強度が一定になるように発光量を調整し
た上で硬貨から反射されてくる画像を撮像する場合に
も、常に露光量が一定となるため表面パターンは安定に
検出できるが、色情報には若干の違いが生じる。このた
め、硬貨の表面汚れや表面の金属酸化によって光の反射
光量比率や散乱光量比率が低下した場合に照射光量を増
大させるようにすることが考えられるが、一様に照射光
量を増大させた場合には色情報が正確に読出せないとい
う不具合があり、新らしい硬貨と流通硬貨とのコントラ
ストを一定にするような補正方法によって、安定して硬
貨識別を行ない得る方法の出現が要請されている。本発
明は上述のような事情よりなされたものであり、本発明
の目的は、硬貨等の読取対象物を撮像素子の撮像エリア
で確実に読取るようにすると共に、読取対象物の画像取
込に先立って読取対象物の反射光量特性値を測定演算
し、その測定演算された反射光量特性値に応じて画像信
号の増幅率を変化させるようにした画像取込装置の信号
補正方法を提供することにある。即ち、本発明の目的
は、全反射光、散乱反射光を測定して得られた特性値か
らコントラストを予測し、硬貨表面の損傷状態により乱
反射が大きく、コントラストの低い硬貨には増幅特性を
変える信号補正方法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、搬送される読
取対象物に光を当てて反射される光量を測定、演算する
反射光量測定演算部と、前記読取対象物に照射する光量
を制御する発光量制御手段と、前記発光量制御手段によ
って照射された前記読取対象物の2次元画像を採取する
エリアセンサとを具備した搬送読取対象物の画像取込装
置における信号補正方法に関するもので、本発明の上記
目的は、前記反射光量測定演算部からの反射光量に応じ
て前記エリアセンサによって採取された画像信号の増幅
率を変更する補正を施すことによって達成される。ま
た、前記補正を、反射光量が低いときには高い増幅率を
適用し、前記反射光量が高いときには低い増幅率を適用
することによって、より効果的に達成される。前記補正
を、前記エリアセンサのアナログ出力信号をデイジタル
信号に変換するときの基準電圧を変えることによって行
なうようにしても達成することができる。
取対象物に光を当てて反射される光量を測定、演算する
反射光量測定演算部と、前記読取対象物に照射する光量
を制御する発光量制御手段と、前記発光量制御手段によ
って照射された前記読取対象物の2次元画像を採取する
エリアセンサとを具備した搬送読取対象物の画像取込装
置における信号補正方法に関するもので、本発明の上記
目的は、前記反射光量測定演算部からの反射光量に応じ
て前記エリアセンサによって採取された画像信号の増幅
率を変更する補正を施すことによって達成される。ま
た、前記補正を、反射光量が低いときには高い増幅率を
適用し、前記反射光量が高いときには低い増幅率を適用
することによって、より効果的に達成される。前記補正
を、前記エリアセンサのアナログ出力信号をデイジタル
信号に変換するときの基準電圧を変えることによって行
なうようにしても達成することができる。
【0006】さらに、搬送される読取対象物に光を当て
て反射される光量を測定、演算する反射光量測定演算部
と、前記読取対象物に照射する光量を制御する発光量制
御手段と、前記発光量制御手段によって照射された前記
読取対象物の2次元画像を採取するエリアセンサとを具
備した搬送読取対象物の画像取込装置において、前記反
射光量測定演算部の演算結果に応じて前記エリアセンサ
によって採取された画像信号の大きさに応じた前記エリ
アセンサのアナログ出力信号の増幅出力が非直線的に小
さくなっていくように増幅率を変更する補正を施すよう
にしても、本発明の目的は達成される。又、前記増幅率
を変更する補正は前記エリアセンサのγ特性を変化させ
るための端子電圧に依存しても良く、ビデオ増幅器に内
蔵された非線形素子のゲイン切換手段によって行なわれ
ても良い。更に、前記搬送読取対象物の画像取込装置に
おいて、前記エリアセンサによって採取された画像信号
のアナログ出力信号をA/D変換するA/D変換器と、
前記A/D変換器の出力がアドレス部の下位ビットに接
続され、該アドレスで示されるメモリ領域には補正値が
書かれており、アドレス部の上位ビットによって選ばれ
る領域にはそれぞれ異なった複数種類の補正値が記憶さ
れているROMと、前記A/D変換を行なうに際して、
前記反射光量測定演算部の演算結果に基づいて前記RO
Mの上位アドレス信号を設定し、前記A/D変換器の出
力を前記ROMに入力することによって補正後のデータ
を前記ROMのデータ部から出力するようにしても目的
を達成できる。尚、前記反射光量特性値は、全反射光に
対する反射光量比率、全反射光と乱反射光との差又は比
である。
て反射される光量を測定、演算する反射光量測定演算部
と、前記読取対象物に照射する光量を制御する発光量制
御手段と、前記発光量制御手段によって照射された前記
読取対象物の2次元画像を採取するエリアセンサとを具
備した搬送読取対象物の画像取込装置において、前記反
射光量測定演算部の演算結果に応じて前記エリアセンサ
によって採取された画像信号の大きさに応じた前記エリ
アセンサのアナログ出力信号の増幅出力が非直線的に小
さくなっていくように増幅率を変更する補正を施すよう
にしても、本発明の目的は達成される。又、前記増幅率
を変更する補正は前記エリアセンサのγ特性を変化させ
るための端子電圧に依存しても良く、ビデオ増幅器に内
蔵された非線形素子のゲイン切換手段によって行なわれ
ても良い。更に、前記搬送読取対象物の画像取込装置に
おいて、前記エリアセンサによって採取された画像信号
のアナログ出力信号をA/D変換するA/D変換器と、
前記A/D変換器の出力がアドレス部の下位ビットに接
続され、該アドレスで示されるメモリ領域には補正値が
書かれており、アドレス部の上位ビットによって選ばれ
る領域にはそれぞれ異なった複数種類の補正値が記憶さ
れているROMと、前記A/D変換を行なうに際して、
前記反射光量測定演算部の演算結果に基づいて前記RO
Mの上位アドレス信号を設定し、前記A/D変換器の出
力を前記ROMに入力することによって補正後のデータ
を前記ROMのデータ部から出力するようにしても目的
を達成できる。尚、前記反射光量特性値は、全反射光に
対する反射光量比率、全反射光と乱反射光との差又は比
である。
【0007】
【発明の実施の形態】硬貨等の読取対象物の表面の画像
をCCD等で成るイメージセンサで取込んでパターン認
識を行なう際、光源と受光量を常に一定にした環境で読
取対象物表面の画像を取込んでも、必ずしも正しい色調
で画像が読取れているとは限らない。そこで、読取対象
物表面の種別や経年変化等で変わる表面色に影響されず
に、常に適正露光量にして表面パターンの読出しを行な
い得るように、先ずコントラストの不足しているもの、
即ち反射光量比率等の反射光量特性値の低い読取対象物
に対してはコントラストを標準値である一定値にするよ
うに調整するが、これには非線形増幅器(例えばγ特性
のある増幅器)等のコントラスト補正手段を利用し、ゲ
インを読取対象物の反射光量特性値に応じて変える信号
処理を行なう。ここでのγの表現は、テレビで使用する
γ補正のように特定すべき数値ではなく、反射光量特性
値の小さい読取対象物にはゲインを大きくとり、反射光
量特性値の大きい読取対象物にはゲインを少な目にする
といった非線形の増幅特性を持たせるようにするγ関数
であり、読取対象物の撮像前にモニタした反射光量特性
値によってゲインを変えて画像データを読出す。
をCCD等で成るイメージセンサで取込んでパターン認
識を行なう際、光源と受光量を常に一定にした環境で読
取対象物表面の画像を取込んでも、必ずしも正しい色調
で画像が読取れているとは限らない。そこで、読取対象
物表面の種別や経年変化等で変わる表面色に影響されず
に、常に適正露光量にして表面パターンの読出しを行な
い得るように、先ずコントラストの不足しているもの、
即ち反射光量比率等の反射光量特性値の低い読取対象物
に対してはコントラストを標準値である一定値にするよ
うに調整するが、これには非線形増幅器(例えばγ特性
のある増幅器)等のコントラスト補正手段を利用し、ゲ
インを読取対象物の反射光量特性値に応じて変える信号
処理を行なう。ここでのγの表現は、テレビで使用する
γ補正のように特定すべき数値ではなく、反射光量特性
値の小さい読取対象物にはゲインを大きくとり、反射光
量特性値の大きい読取対象物にはゲインを少な目にする
といった非線形の増幅特性を持たせるようにするγ関数
であり、読取対象物の撮像前にモニタした反射光量特性
値によってゲインを変えて画像データを読出す。
【0008】図1は、搬送路1上を搬送される読取対象
物2から反射される表面パターンを、CCDイメージセ
ンサ等で成るエリアセンサ3で光学的に読取り、そのビ
デオ信号VSをビデオ信号処理回路4で処理した後にビ
デオ増幅器5で増幅し、増幅されたビデオ信号VSBを
A/D変換器6でデイジタル値DVに変換して、(必要
に応じてROM7の格納データを読出して)、CPU等
で成る制御回路8で処理する一般的な画像取込装置を示
している。かかる画像取込装置では各装置のパラメータ
が固定されており、読取対象物2の表面の輝度(反射光
量比率等の反射光量特性値)が変化しても常に同一のパ
ラメータで画像を取込んで処理するようになっているの
で、読取対象物2の表面輝度が変化した場合には正確な
画像情報の取込みが不可能である。尚、ROM7はA/
D変換器6からのデイジタル値DVに対応してテーブル
データを出力するものであり、必ずしも必要なものでは
ない。
物2から反射される表面パターンを、CCDイメージセ
ンサ等で成るエリアセンサ3で光学的に読取り、そのビ
デオ信号VSをビデオ信号処理回路4で処理した後にビ
デオ増幅器5で増幅し、増幅されたビデオ信号VSBを
A/D変換器6でデイジタル値DVに変換して、(必要
に応じてROM7の格納データを読出して)、CPU等
で成る制御回路8で処理する一般的な画像取込装置を示
している。かかる画像取込装置では各装置のパラメータ
が固定されており、読取対象物2の表面の輝度(反射光
量比率等の反射光量特性値)が変化しても常に同一のパ
ラメータで画像を取込んで処理するようになっているの
で、読取対象物2の表面輝度が変化した場合には正確な
画像情報の取込みが不可能である。尚、ROM7はA/
D変換器6からのデイジタル値DVに対応してテーブル
データを出力するものであり、必ずしも必要なものでは
ない。
【0009】そのため、本発明では図2に示すように、
エリアセンサ3による読取対象物2の画像読取に先立っ
て、反射光量比率測定演算部10で光量一定な光源11
による読取対象物2からの全反射光の光量をフォトセン
サ12で測定し、反射光量比率測定演算部10で測定演
算された反射光量比率MRを制御回路8に入力する。読
取対象物2の輝度と反射光量比率MRとの関係は例えば
図3(A)のようになっており、明るい(白っぽい)読
取対象物2は反射光量比率MRが大であり、暗い(黒っ
ぽい)読取対象物2は反射光量比率MRが小である。そ
して、反射光量比率MRの大小にかかわらず撮像出力
(平均値)が一定値となるように、制御回路8が回路系
を制御する。即ち、反射光量比率MRがある値より大き
い図3(A)の領域AR1の場合は全体的に白っぽい読
取対象物2であり、高レベル出力がいわゆる”飛ぶ(ホ
ワイトクリップ)”おそれがあるため、図3(B)のよ
うに高レベルを抑えるような特性曲線を用いて補正す
る。また、反射光量比率MRが平均的な範囲AR2にあ
る場合は平均的な輝度の読取対象物2であり、図3
(C)に示すように特に補正は行なわない。つまり、線
形的な処理を行なう。そして、反射光量比率MRがある
値より小さい図3(A)の領域AR3の場合は全体的に
黒っぽい読取対象物2であり、低レベル出力がいわゆ
る”つぶれる”おそれがあるため、図3(D)のように
低レベルの出力を増大するような特性曲線を用いて補正
する。
エリアセンサ3による読取対象物2の画像読取に先立っ
て、反射光量比率測定演算部10で光量一定な光源11
による読取対象物2からの全反射光の光量をフォトセン
サ12で測定し、反射光量比率測定演算部10で測定演
算された反射光量比率MRを制御回路8に入力する。読
取対象物2の輝度と反射光量比率MRとの関係は例えば
図3(A)のようになっており、明るい(白っぽい)読
取対象物2は反射光量比率MRが大であり、暗い(黒っ
ぽい)読取対象物2は反射光量比率MRが小である。そ
して、反射光量比率MRの大小にかかわらず撮像出力
(平均値)が一定値となるように、制御回路8が回路系
を制御する。即ち、反射光量比率MRがある値より大き
い図3(A)の領域AR1の場合は全体的に白っぽい読
取対象物2であり、高レベル出力がいわゆる”飛ぶ(ホ
ワイトクリップ)”おそれがあるため、図3(B)のよ
うに高レベルを抑えるような特性曲線を用いて補正す
る。また、反射光量比率MRが平均的な範囲AR2にあ
る場合は平均的な輝度の読取対象物2であり、図3
(C)に示すように特に補正は行なわない。つまり、線
形的な処理を行なう。そして、反射光量比率MRがある
値より小さい図3(A)の領域AR3の場合は全体的に
黒っぽい読取対象物2であり、低レベル出力がいわゆ
る”つぶれる”おそれがあるため、図3(D)のように
低レベルの出力を増大するような特性曲線を用いて補正
する。
【0010】制御回路8が図3に示すような信号補正を
行なう場合、図2に示すようにビデオ信号処理回路4に
対してγ補正信号γCを与えてγ係数を可変する方法、
ビデオ増幅器5に対してゲイン補正信号GCを与えてゲ
インを可変する方法、A/D変換器6の基準電圧V
refを基準電圧指令RFVによって可変する方法、A
/D変換器6からのデイジタル値DVに応じてテーブル
データを出力するROM7を介挿し、テーブル選択信号
TSに基づいてレベル変換を行なう方法、制御回路8自
身が上記同様の補正をソフトウェアを用いて行なう方
法、及び上記各方法を組み合せて補正を行なう方法があ
る。尚、ROM7を使用する場合の補正は、そのテーブ
ル値により直線的なものから極めて特徴な関数を使用す
るものまで、自在な変換特性を実現できる利点がある。
行なう場合、図2に示すようにビデオ信号処理回路4に
対してγ補正信号γCを与えてγ係数を可変する方法、
ビデオ増幅器5に対してゲイン補正信号GCを与えてゲ
インを可変する方法、A/D変換器6の基準電圧V
refを基準電圧指令RFVによって可変する方法、A
/D変換器6からのデイジタル値DVに応じてテーブル
データを出力するROM7を介挿し、テーブル選択信号
TSに基づいてレベル変換を行なう方法、制御回路8自
身が上記同様の補正をソフトウェアを用いて行なう方
法、及び上記各方法を組み合せて補正を行なう方法があ
る。尚、ROM7を使用する場合の補正は、そのテーブ
ル値により直線的なものから極めて特徴な関数を使用す
るものまで、自在な変換特性を実現できる利点がある。
【0011】制御回路8からのγ補正信号γCによって
ビデオ信号処理回路4のγ係数を可変する場合、図4に
示すように反射光量比率MRが大きいときにはγ係数を
小さくし、反射光量比率MRが小さいときにはγ係数を
大きくする。図5はデイジタル方式で可変する例を示し
ており、図6のように2ビットのγ補正信号γC(γ
1,γ2)を制御することによってγ係数をデイジタル
的に可変する。図7はアナログ方式で可変する例を示し
ており、制御回路8からのデイジタルのγ補正信号γC
をD/A変換器81でアナログのγ補正信号γiに変換
してビデオ信号処理回路4に入力する。ビデオ信号処理
回路4は図8に示すような関係でγ係数を可変すること
によって、反射光量比率MRに対応したγ係数の可変を
実現することができる。
ビデオ信号処理回路4のγ係数を可変する場合、図4に
示すように反射光量比率MRが大きいときにはγ係数を
小さくし、反射光量比率MRが小さいときにはγ係数を
大きくする。図5はデイジタル方式で可変する例を示し
ており、図6のように2ビットのγ補正信号γC(γ
1,γ2)を制御することによってγ係数をデイジタル
的に可変する。図7はアナログ方式で可変する例を示し
ており、制御回路8からのデイジタルのγ補正信号γC
をD/A変換器81でアナログのγ補正信号γiに変換
してビデオ信号処理回路4に入力する。ビデオ信号処理
回路4は図8に示すような関係でγ係数を可変すること
によって、反射光量比率MRに対応したγ係数の可変を
実現することができる。
【0012】図9は、制御回路8からのゲイン補正信号
GCによってビデオ増幅器5のゲインGを可変する例で
あり、反射光量比率MRとゲインGとの関係は例えば図
10に示すようになっており、反射光量比率MRが大き
い場合にはゲインGを小さくし、反射光量比率MRが小
さい場合にゲインGを大きくする。ゲイン補正信号GC
はビデオ増幅器5でアナログ的に処理され、制御回路8
から出力されるゲイン補正信号GCはデイジタルである
ので、この場合はD/A変換器でアナログ化すれば良
い。又、図11は、A/D変換器6の基準電圧Vref
を反射光量比率MRに応じて可変する例を示しており、
制御回路8は反射光量比率MRが小さい場合には基準電
圧指令RFVを小さくし、反射光量比率MRが大きい場
合には基準電圧指令RFVを大きくする。制御回路8か
らの基準電圧指令RFVはデイジタル値であるので、D
/A変換器82でアナログ値に変換してA/D変換器6
の基準電圧Vrefとする。従って、反射光量比率MR
と基準電圧Vrefとの関係は図12(A)のようにな
り、基準電圧Vrefが大きい場合には図12(B)に
示す低解像度の関係でA/D変換し、基準電圧Vref
が小さい場合には図12(C)に示す高解像度の関係で
A/D変換する。つまり、見かけ上の増幅度が大きくな
り、同一信号が入力した場合、基準電圧Vrefが大き
いときより小さいときの方が読出すA/D変換値は大き
くなる。このように反射光量比率MRの大小に応じてA
/D変換器6の基準電圧Vrefを可変しているので、
全体がくすんでいて反射光量比率MRの小さい読取対象
物2に対しても十分な変換精度が得られる。
GCによってビデオ増幅器5のゲインGを可変する例で
あり、反射光量比率MRとゲインGとの関係は例えば図
10に示すようになっており、反射光量比率MRが大き
い場合にはゲインGを小さくし、反射光量比率MRが小
さい場合にゲインGを大きくする。ゲイン補正信号GC
はビデオ増幅器5でアナログ的に処理され、制御回路8
から出力されるゲイン補正信号GCはデイジタルである
ので、この場合はD/A変換器でアナログ化すれば良
い。又、図11は、A/D変換器6の基準電圧Vref
を反射光量比率MRに応じて可変する例を示しており、
制御回路8は反射光量比率MRが小さい場合には基準電
圧指令RFVを小さくし、反射光量比率MRが大きい場
合には基準電圧指令RFVを大きくする。制御回路8か
らの基準電圧指令RFVはデイジタル値であるので、D
/A変換器82でアナログ値に変換してA/D変換器6
の基準電圧Vrefとする。従って、反射光量比率MR
と基準電圧Vrefとの関係は図12(A)のようにな
り、基準電圧Vrefが大きい場合には図12(B)に
示す低解像度の関係でA/D変換し、基準電圧Vref
が小さい場合には図12(C)に示す高解像度の関係で
A/D変換する。つまり、見かけ上の増幅度が大きくな
り、同一信号が入力した場合、基準電圧Vrefが大き
いときより小さいときの方が読出すA/D変換値は大き
くなる。このように反射光量比率MRの大小に応じてA
/D変換器6の基準電圧Vrefを可変しているので、
全体がくすんでいて反射光量比率MRの小さい読取対象
物2に対しても十分な変換精度が得られる。
【0013】図13はA/D変換器6の後段にレベル変
換手段としてROM7を介挿した例を示しており、制御
回路8からのテーブル選択信号TSに基づいてROM7
に格納されたデータテーブルを読出して出力する。この
場合、反射光量比率MRが小さいときにレベルを拡大し
て強調し、反射光量比率MRが大きいときにレベルを保
持する。つまり、デイジタル値DVをROM7のアドレ
ス部の下位ビット(A0〜An−1)に接続し、該アド
レスで示されるメモリ領域に補正値を書込んでおき、ア
ドレス部の上位ビット(An〜An+m)によって選ば
れる領域にはそれぞれ異なった複数種類の変換データが
記憶されている。図14(A)は入力デイジタル値DV
とビデオ出力たるデイジタル値DVAとの関係を、変換
テーブルNo.0〜No.kについて示しており、図1
4(B)は変換テーブル番号と変換データ数及び配列と
の関係を示している。変換テーブルNo.0〜No.k
は2n個ずつの変換データを格納している。
換手段としてROM7を介挿した例を示しており、制御
回路8からのテーブル選択信号TSに基づいてROM7
に格納されたデータテーブルを読出して出力する。この
場合、反射光量比率MRが小さいときにレベルを拡大し
て強調し、反射光量比率MRが大きいときにレベルを保
持する。つまり、デイジタル値DVをROM7のアドレ
ス部の下位ビット(A0〜An−1)に接続し、該アド
レスで示されるメモリ領域に補正値を書込んでおき、ア
ドレス部の上位ビット(An〜An+m)によって選ば
れる領域にはそれぞれ異なった複数種類の変換データが
記憶されている。図14(A)は入力デイジタル値DV
とビデオ出力たるデイジタル値DVAとの関係を、変換
テーブルNo.0〜No.kについて示しており、図1
4(B)は変換テーブル番号と変換データ数及び配列と
の関係を示している。変換テーブルNo.0〜No.k
は2n個ずつの変換データを格納している。
【0014】上述ではフォトセンサ12で全反射光の光
量を測定し、光量特性値として反射光量比率を求めて信
号補正するようにしているが、図2に対応して図15に
示すように硬貨面からの乱反射光を受光するフォトセン
サ13を設け、全反射光量と乱反射光量との差を測定演
算部14で演算するようにしても良い。又、図16は、
乱反射光と全反射光との比を測定演算部15で演算する
例を示している。
量を測定し、光量特性値として反射光量比率を求めて信
号補正するようにしているが、図2に対応して図15に
示すように硬貨面からの乱反射光を受光するフォトセン
サ13を設け、全反射光量と乱反射光量との差を測定演
算部14で演算するようにしても良い。又、図16は、
乱反射光と全反射光との比を測定演算部15で演算する
例を示している。
【0015】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図17は、本発明を適用できる画像読取装
置として硬貨画像読取装置100の一例を示す斜視構造
図であり、硬貨Cの表面に刻印された図形、模様、数
字、文字等からなる表面パターンを光学的に読取る装置
である。この硬貨画像読取装置100は、直方体形状の
撮像ユニット110と、撮像ユニット110の上面に対
向して設けられた搬送路を形成する平面板101と、平
面板101の上方に配設された1対のローラ102,1
02及びこれに巻回された搬送ベルト103で成るベル
トコンベヤとを備えている。撮像ユニット110の上面
と平面板101の上面の高さとは一致しており、全体で
一平面が形成されて硬貨Cの搬送路となっている。この
搬送路面と搬送ベルト103の下面には、硬貨Cの厚さ
とほぼ同一の隙間が空けられており、ベルトコンベヤの
駆動によってこの隙間を硬貨Cが搬送される。
て説明する。図17は、本発明を適用できる画像読取装
置として硬貨画像読取装置100の一例を示す斜視構造
図であり、硬貨Cの表面に刻印された図形、模様、数
字、文字等からなる表面パターンを光学的に読取る装置
である。この硬貨画像読取装置100は、直方体形状の
撮像ユニット110と、撮像ユニット110の上面に対
向して設けられた搬送路を形成する平面板101と、平
面板101の上方に配設された1対のローラ102,1
02及びこれに巻回された搬送ベルト103で成るベル
トコンベヤとを備えている。撮像ユニット110の上面
と平面板101の上面の高さとは一致しており、全体で
一平面が形成されて硬貨Cの搬送路となっている。この
搬送路面と搬送ベルト103の下面には、硬貨Cの厚さ
とほぼ同一の隙間が空けられており、ベルトコンベヤの
駆動によってこの隙間を硬貨Cが搬送される。
【0016】撮像ユニット110は図18に詳細を示す
ように、上面が開口した立方体形状の筐体111と、こ
の筐体111の上面開口を覆う透明ガラスからなる上面
板112とから構成され、上面板112の中央部には、
周囲を遮光部材114で囲まれた略円形状の読取り窓1
13が形成されており、筐体111内にはCCDイメー
ジセンサで成るエリアセンサ120が結像レンズ121
及び赤外線透過フイルタ122を介して設けられている
と共に、読取り窓113の下方にはリング状に配設され
た多数の赤外線発光ダイオードで成る赤外線照明装置1
30が配設されており、搬送される硬貨Cの表面からの
照射光を受光するフォトダイオード等のフォトセンサ1
23(全反射光用)及び124(乱反射光用)が設けら
れている。又、搬送路を挟んで対向するように1対の発
光ダイオード104及びフォトセンサ105が設けられ
ており、読取エリアに硬貨Cの全面が入ったときに遮光
を検知するようになっている。更に筐体111内には、
映像回路140及びタイミング回路150がプリント基
板等の形態で内蔵されており、搬送路の両側には図19
に示すように、硬貨Cを円滑に搬送するための硬貨搬送
ガイド106A及び106Bが配設されている。尚、赤
外線透過フィルタ122は、外来漏洩光によるエリアセ
ンサ120での不要な電荷の蓄積を防止し、画像ノイズ
が発生しないように設けられている。
ように、上面が開口した立方体形状の筐体111と、こ
の筐体111の上面開口を覆う透明ガラスからなる上面
板112とから構成され、上面板112の中央部には、
周囲を遮光部材114で囲まれた略円形状の読取り窓1
13が形成されており、筐体111内にはCCDイメー
ジセンサで成るエリアセンサ120が結像レンズ121
及び赤外線透過フイルタ122を介して設けられている
と共に、読取り窓113の下方にはリング状に配設され
た多数の赤外線発光ダイオードで成る赤外線照明装置1
30が配設されており、搬送される硬貨Cの表面からの
照射光を受光するフォトダイオード等のフォトセンサ1
23(全反射光用)及び124(乱反射光用)が設けら
れている。又、搬送路を挟んで対向するように1対の発
光ダイオード104及びフォトセンサ105が設けられ
ており、読取エリアに硬貨Cの全面が入ったときに遮光
を検知するようになっている。更に筐体111内には、
映像回路140及びタイミング回路150がプリント基
板等の形態で内蔵されており、搬送路の両側には図19
に示すように、硬貨Cを円滑に搬送するための硬貨搬送
ガイド106A及び106Bが配設されている。尚、赤
外線透過フィルタ122は、外来漏洩光によるエリアセ
ンサ120での不要な電荷の蓄積を防止し、画像ノイズ
が発生しないように設けられている。
【0017】回路構成は図20に示すようになってお
り、映像回路140はエリアセンサ120からの読取信
号RSを入力して映像信号VDSを出力する映像プロセ
ス回路141を有し、映像プロセス回路141を駆動し
て画像を取込むタイミングを規制する取込タイミング回
路142と、エリアセンサ120を駆動するドライバ1
43とを具備している。タイミング回路150は、フォ
トセンサ105からの遮光検知信号BLにより画像取込
みのための取込タイミングT1及び赤外線照明装置13
0の照明点灯のための点灯タイミングT2を出力するタ
イミング信号生成回路151と、フォトセンサ123及
び124の各増幅出力PD1及びPD2を差動的に入力
して増幅する差動増幅器152と、フォトセンサ123
の増幅出力DP1を制御回路160からの基準値RF1
と比較する比較器153と、比較器153の出力をホー
ルドしてゲイン補正信号GCを出力するホールド回路1
54と、差動増幅器152の出力DPDを制御回路16
0からの基準値RF2と比較する比較器155と、比較
器155の出力をホールドしてγ値補正信号γCを出力
するホールド回路156とを具備している。ゲイン補正
信号GC及びγ補正信号γCは、映像回路140内の映
像プロセス回路141に入力され、ゲイン及びγ係数を
可変するようになっている。赤外線照明装置130は、
点灯タイミングT2でオンオフされるスイッチング素子
としてのFET131と、電源+VcとFET131と
の間に接続された多数の発光ダイオード132とで構成
されている。
り、映像回路140はエリアセンサ120からの読取信
号RSを入力して映像信号VDSを出力する映像プロセ
ス回路141を有し、映像プロセス回路141を駆動し
て画像を取込むタイミングを規制する取込タイミング回
路142と、エリアセンサ120を駆動するドライバ1
43とを具備している。タイミング回路150は、フォ
トセンサ105からの遮光検知信号BLにより画像取込
みのための取込タイミングT1及び赤外線照明装置13
0の照明点灯のための点灯タイミングT2を出力するタ
イミング信号生成回路151と、フォトセンサ123及
び124の各増幅出力PD1及びPD2を差動的に入力
して増幅する差動増幅器152と、フォトセンサ123
の増幅出力DP1を制御回路160からの基準値RF1
と比較する比較器153と、比較器153の出力をホー
ルドしてゲイン補正信号GCを出力するホールド回路1
54と、差動増幅器152の出力DPDを制御回路16
0からの基準値RF2と比較する比較器155と、比較
器155の出力をホールドしてγ値補正信号γCを出力
するホールド回路156とを具備している。ゲイン補正
信号GC及びγ補正信号γCは、映像回路140内の映
像プロセス回路141に入力され、ゲイン及びγ係数を
可変するようになっている。赤外線照明装置130は、
点灯タイミングT2でオンオフされるスイッチング素子
としてのFET131と、電源+VcとFET131と
の間に接続された多数の発光ダイオード132とで構成
されている。
【0018】映像回路140からの映像信号VDSは硬
貨識別装置等の制御回路160に入力されて画像処理さ
れるが、制御回路160は図21に示すように、全体の
制御を行なうCPU161と、制御プログラム等を格納
しているROM162と、信号処理や補正の作業領域と
なるRAM163と、映像信号VDSをデイジタル量に
変換して取込むA/D変換器164と、ドライバ143
を制御したり、比較器153及び155の基準値RF1
及びRF2等をCPU161の指令に基づいて設定する
D/A変換器165とを具備している。
貨識別装置等の制御回路160に入力されて画像処理さ
れるが、制御回路160は図21に示すように、全体の
制御を行なうCPU161と、制御プログラム等を格納
しているROM162と、信号処理や補正の作業領域と
なるRAM163と、映像信号VDSをデイジタル量に
変換して取込むA/D変換器164と、ドライバ143
を制御したり、比較器153及び155の基準値RF1
及びRF2等をCPU161の指令に基づいて設定する
D/A変換器165とを具備している。
【0019】このような構成において、その動作を図2
2のタイムチャートを参照して説明する。
2のタイムチャートを参照して説明する。
【0020】硬貨Cがベルトコンベヤの駆動によって搬
送されて読取り窓113の位置まで来ると、硬貨Cの端
部で発光ダイオード104からの光が遮ぎられ、この遮
光が図22(A)のようにフォトセンサ105で検知さ
れる(時点t1)。フォトセンサ105によって遮光が
検知されると、タイミング信号生成回路151は図22
(G)のように点灯タイミングT2を出力してFET1
31をオンさせることによって、赤外線照明装置130
の発光ダイオード132を時点t1´まで点灯させる。
発光ダイオード132の点灯により硬貨Cの表面からの
反射光をフォトセンサ123及び124が受光するが、
フォトセンサ123は硬貨表面の全反射光及び乱反射光
の一部を受光し、フォトセンサ124は硬貨表面の刻印
のエッジ部反射光及び平面の乱反射光の一部を受光す
る。フォトセンサ123及び124の出力PD1及びP
D2は差動増幅器152に入力され、差動増幅器152
の差動出力DPDは比較器155に入力され、フォトセ
ンサ123の出力PD1は比較器153に入力される。
比較器153の出力レベルから読取り画像の刻印のエッ
ジ部の輝度を予測し、輝度が標準設定値より小さいと判
定した場合は、ゲイン補正信号GCによって映像プロセ
ス回路141のゲインを高い方に切替える。又、比較器
155の出力レベルから読取り画像のコントラストを予
測し、コントラストが標準設定値より小さいと判定した
場合は、γ補正信号γCによって映像プロセス回路14
1のγ係数を例えば“1”に切替え、標準設定値より大
きいと判定した場合は“0.45”に切替える。上記2
つの判定及び補正は図22(I)のように行なわれ、硬
貨Cの搬送が読取りに影響しない程度の短時間に終了す
る(時点t2)。
送されて読取り窓113の位置まで来ると、硬貨Cの端
部で発光ダイオード104からの光が遮ぎられ、この遮
光が図22(A)のようにフォトセンサ105で検知さ
れる(時点t1)。フォトセンサ105によって遮光が
検知されると、タイミング信号生成回路151は図22
(G)のように点灯タイミングT2を出力してFET1
31をオンさせることによって、赤外線照明装置130
の発光ダイオード132を時点t1´まで点灯させる。
発光ダイオード132の点灯により硬貨Cの表面からの
反射光をフォトセンサ123及び124が受光するが、
フォトセンサ123は硬貨表面の全反射光及び乱反射光
の一部を受光し、フォトセンサ124は硬貨表面の刻印
のエッジ部反射光及び平面の乱反射光の一部を受光す
る。フォトセンサ123及び124の出力PD1及びP
D2は差動増幅器152に入力され、差動増幅器152
の差動出力DPDは比較器155に入力され、フォトセ
ンサ123の出力PD1は比較器153に入力される。
比較器153の出力レベルから読取り画像の刻印のエッ
ジ部の輝度を予測し、輝度が標準設定値より小さいと判
定した場合は、ゲイン補正信号GCによって映像プロセ
ス回路141のゲインを高い方に切替える。又、比較器
155の出力レベルから読取り画像のコントラストを予
測し、コントラストが標準設定値より小さいと判定した
場合は、γ補正信号γCによって映像プロセス回路14
1のγ係数を例えば“1”に切替え、標準設定値より大
きいと判定した場合は“0.45”に切替える。上記2
つの判定及び補正は図22(I)のように行なわれ、硬
貨Cの搬送が読取りに影響しない程度の短時間に終了す
る(時点t2)。
【0021】上述の如くしてモニタ及び補正が終了する
と、タイミング信号生成回路151は図22(B)に示
すような取込タイミングT1を出力し(時点t3)、取
込タイミング回路142及びドライバ143を介してエ
リアセンサ120にリセットパルスRSPを入力し、走
査位置を左上角の開始位置にセットする。図22(E)
に示すようにエリアセンサ120はそれまで電荷をオー
バーフロードレインに廃棄していたのに対し、蓄積可能
な状態にする。その後、所定のブランキング期間におい
て、点灯タイミングT2によって、搬送中の硬貨Cの表
面パターンが十分読取れる程度の範囲のブレを許容した
時間だけ点灯する(時点t4〜t5)。これと同時にエ
リアセンサ120は、図22(F)のように赤外線照明
装置130が点灯している時間(t4〜t5)に蓄積し
た映像電荷を、同図(H)のようにビデオ信号VDSと
して出力する(時点t6)。硬貨Cの刻印のエッジ部で
反射し、結像レンズ121に入射した光(赤外線)は赤
外線透過フィルタ122を透過し、エリアセンサ120
上に硬貨Cの刻印の線画画像を結像する。エリアセンサ
120の各画素に蓄積された硬貨Cの読取信号RSは時
系列信号として映像プロセス回路141に入力され、図
22(G)のように画像取込前に設定されたγ係数及び
ゲインにより映像信号VDSとして制御回路160に入
力され画像処理される。尚、図22(C)は垂直同期信
号VDを示し、同図(D)は水平同期信号HDを示して
おり、NTSC規格においては垂直同期信号VDは60
Hzであり、この場合の水平同期信号HDは15.75
KHzとなり、クロックCLKは14.31818MH
zとなる。
と、タイミング信号生成回路151は図22(B)に示
すような取込タイミングT1を出力し(時点t3)、取
込タイミング回路142及びドライバ143を介してエ
リアセンサ120にリセットパルスRSPを入力し、走
査位置を左上角の開始位置にセットする。図22(E)
に示すようにエリアセンサ120はそれまで電荷をオー
バーフロードレインに廃棄していたのに対し、蓄積可能
な状態にする。その後、所定のブランキング期間におい
て、点灯タイミングT2によって、搬送中の硬貨Cの表
面パターンが十分読取れる程度の範囲のブレを許容した
時間だけ点灯する(時点t4〜t5)。これと同時にエ
リアセンサ120は、図22(F)のように赤外線照明
装置130が点灯している時間(t4〜t5)に蓄積し
た映像電荷を、同図(H)のようにビデオ信号VDSと
して出力する(時点t6)。硬貨Cの刻印のエッジ部で
反射し、結像レンズ121に入射した光(赤外線)は赤
外線透過フィルタ122を透過し、エリアセンサ120
上に硬貨Cの刻印の線画画像を結像する。エリアセンサ
120の各画素に蓄積された硬貨Cの読取信号RSは時
系列信号として映像プロセス回路141に入力され、図
22(G)のように画像取込前に設定されたγ係数及び
ゲインにより映像信号VDSとして制御回路160に入
力され画像処理される。尚、図22(C)は垂直同期信
号VDを示し、同図(D)は水平同期信号HDを示して
おり、NTSC規格においては垂直同期信号VDは60
Hzであり、この場合の水平同期信号HDは15.75
KHzとなり、クロックCLKは14.31818MH
zとなる。
【0022】図22(I)に示すように、赤外線照明装
置130が点灯した時点t1から補正を行なうが、この
ときに制御回路8は図9におけるゲイン補正信号GCを
設定するか、又は図11において基準電圧Vrefを決
定するD/A変換器82に基準電圧指令RFVを書込む
といった動作を実行する。又、図13の回路構成であれ
ば、図22(H)のビデオ信号VDSを読出クロックC
LKで読出す度にA/D変換器6の出力DVをROM7
のアドレスA0〜An−1に入力することによりD0〜
Dnに変換されたA/D変換出力DVAを出力する。図
14に示すようにテーブル領域に書かれたアドレスに1
対1に格納されている変換値がデュアルポートRAMに
書込まれる。このときのアドレスAn〜An+mは図2
2の補正時の反射光量比率に応じて制御回路8よりRO
M7に対して指定される。
置130が点灯した時点t1から補正を行なうが、この
ときに制御回路8は図9におけるゲイン補正信号GCを
設定するか、又は図11において基準電圧Vrefを決
定するD/A変換器82に基準電圧指令RFVを書込む
といった動作を実行する。又、図13の回路構成であれ
ば、図22(H)のビデオ信号VDSを読出クロックC
LKで読出す度にA/D変換器6の出力DVをROM7
のアドレスA0〜An−1に入力することによりD0〜
Dnに変換されたA/D変換出力DVAを出力する。図
14に示すようにテーブル領域に書かれたアドレスに1
対1に格納されている変換値がデュアルポートRAMに
書込まれる。このときのアドレスAn〜An+mは図2
2の補正時の反射光量比率に応じて制御回路8よりRO
M7に対して指定される。
【0023】映像プロセス回路141はゲイン補正信号
GC及びγ補正信号γCによってゲインγ係数を可変す
るが、その回路は折れ線関数発生回路で実現できる。折
れ線関数は図23の回路において、電流iを増加させる
ことによって同図(B)のように出力電圧eoが折れ線
関数となる。又、図24(A)は折れ線関数の基本回路
の一例を示しており、入力電圧eiに対して出力電圧e
oは同図(B)のように基準電圧Vfから傾きがK/3
の一次関数として出力させる。このような基本回路を図
25のように接続構成することによって、折れ線関数近
似回路を形成できる。図25において、抵抗比ko〜k
n1、基準電圧Vr1〜Vrnの設定によりバイアスと
傾きを決めることができ、スイッチaに接続すると加算
となり、スイッチbに接続すると減算となる。
GC及びγ補正信号γCによってゲインγ係数を可変す
るが、その回路は折れ線関数発生回路で実現できる。折
れ線関数は図23の回路において、電流iを増加させる
ことによって同図(B)のように出力電圧eoが折れ線
関数となる。又、図24(A)は折れ線関数の基本回路
の一例を示しており、入力電圧eiに対して出力電圧e
oは同図(B)のように基準電圧Vfから傾きがK/3
の一次関数として出力させる。このような基本回路を図
25のように接続構成することによって、折れ線関数近
似回路を形成できる。図25において、抵抗比ko〜k
n1、基準電圧Vr1〜Vrnの設定によりバイアスと
傾きを決めることができ、スイッチaに接続すると加算
となり、スイッチbに接続すると減算となる。
【0024】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、読取対象物の表面の反射光量比率に基づいて変換
特性を可変しているため、常に一定値以上のコントラス
トを確保することが可能であり、正確な表面パターンを
検出することが可能となる。又、予め表面の全反射光と
散乱光との反射光量比率又は反射光量差を測定した上で
変換特性を可変して、適性なコントラストのもとに硬貨
の色相を反映した表面パターン情報が得られ、高精度な
識別や判別を行なうことができる。
れば、読取対象物の表面の反射光量比率に基づいて変換
特性を可変しているため、常に一定値以上のコントラス
トを確保することが可能であり、正確な表面パターンを
検出することが可能となる。又、予め表面の全反射光と
散乱光との反射光量比率又は反射光量差を測定した上で
変換特性を可変して、適性なコントラストのもとに硬貨
の色相を反映した表面パターン情報が得られ、高精度な
識別や判別を行なうことができる。
【図1】一般的な画像取込装置の回路構成例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図2】本発明を適用した画像取込装置の回路構成例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図3】本発明の原理を説明するための図である。
【図4】本発明によるビデオ信号処理回路のγ係数の可
変を説明するための図である。
変を説明するための図である。
【図5】γ係数をデイジタル方式で可変する装置例を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図6】図5の動作を説明するための図である。
【図7】γ係数をアナログ方式で可変する装置例を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図8】図7の動作を説明するための図である。
【図9】本発明によるビデオ増幅器のゲインの可変を行
なう装置例を示す図である。
なう装置例を示す図である。
【図10】図9の動作を説明するための図である。
【図11】A/D変換器の基準電圧を可変する装置例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図12】図11の動作を説明するための図である。
【図13】ROMを用いてレベル変換を行なう装置例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図14】図13の動作を説明するための図である。
【図15】本発明を適用した画像取込装置の第2の回路
構成例を示すブロック図である。
構成例を示すブロック図である。
【図16】本発明を適用した画像取込装置の第3の回路
構成例を示すブロック図である。
構成例を示すブロック図である。
【図17】本発明による硬貨画像読取装置の一例を示す
斜視構造図である。
斜視構造図である。
【図18】撮像ユニットの構造例を示す断面構造図であ
る。
る。
【図19】搬送路の構造を示す平面図である。
【図20】本発明を適用した回路構成例を示す結線図で
ある。
ある。
【図21】制御回路の一例を示すブロック構成図であ
る。
る。
【図22】本発明の動作例を示すタイムチャートであ
る。
る。
【図23】本発明に適用できる折れ線関数発生回路の原
理を示す図である。
理を示す図である。
【図24】折れ線関数発生の基本回路を示す図である。
【図25】折れ線関数近似回路の一例を示す結線図であ
る。
る。
1 搬送路 2 読取対象物 3 エリアセンサ 4 ビデオ信号処理回路 5 ビデオ増幅器 6 A/D変換器 7 ROM 8 制御回路 10 反射光量比率測定演算部 11 光源 100 硬貨画像読取装置 103 搬送ベルト 110 撮像ユニット 113 読取り窓 114 遮光部材 120 エリアセンサ 123,124 フォトセンサ 130 赤外線照明装置 140 映像回路 141 映像プロセス回路 142 取込タイミング回路 143 ドライバ 150 タイミング回路 151 タイミング信号生成回路 152 作動増幅器 153,155 比較器 154,156 ホールド回路 160 制御回路 161 CPU 162 ROM 163 RAM
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04N 1/40 101Z (72)発明者 石野 由美 兵庫県姫路市下手野一丁目3番1号 グロ ーリー工業株式会社内 (72)発明者 石黒 靖男 東京都板橋区志村2丁目16番20号 株式会 社コパル内 (72)発明者 天野 尚文 東京都板橋区志村2丁目16番20号 株式会 社コパル内
Claims (8)
- 【請求項1】 搬送される読取対象物に光を当てて反射
される光量を測定、演算する反射光量測定演算部と、前
記読取対象物に照射する光量を制御する発光量制御手段
と、前記発光量制御手段によって照射された前記読取対
象物の2次元画像を採取するエリアセンサとを具備した
搬送読取対象物の画像取込装置において、前記反射光量
測定演算部からの反射光量に応じて前記エリアセンサに
よって採取された画像信号の増幅率を変更する補正を施
すようにしたことを特徴とする画像取込装置の信号補正
方法。 - 【請求項2】 前記補正が、前記反射光量が低いときに
は高い増幅率を適用し、前記反射光量が高いときには低
い増幅率を適用するようになっている請求項1に記載の
画像取込装置の信号補正方法。 - 【請求項3】 前記補正は、前記エリアセンサのアナロ
グ出力信号をデイジタル信号に変換するときの基準電圧
を変えることによって行なうようになっている請求項2
に記載の画像取込装置の信号補正方法。 - 【請求項4】 前記反射光量が、全反射光に対する反射
光量比率、全反射光と乱反射光との差又は比である請求
項1に記載の画像取込装置の信号補正方法。 - 【請求項5】 搬送される読取対象物に光を当てて反射
される光量を測定、演算する反射光量特定演算部と、前
記読取対象物に照射する光量を制御する発光量制御手段
と、前記発光量制御手段によって照射された前記読取対
象物の2次元画像を採取するエリアセンサとを具備した
搬送読取対象物の画像取込装置において、前記反射光量
測定演算部の演算結果に応じて前記エリアセンサによっ
て採取された画像信号の大きさに応じた前記エリアセン
サのアナログ出力信号の増幅出力が非直線的に小さくな
っていくように増幅率を変更する補正を施すようにした
ことを特徴とする画像取込装置の信号補正方法。 - 【請求項6】 前記増幅率を変更する補正が前記エリア
センサのγ特性を変化させるための端子電圧に依存して
いる請求項5に記載の画像読込装置の信号補正方法。 - 【請求項7】 前記増幅率を変更する補正が、ビデオ増
幅器に内蔵された非線形素子のゲイン切換手段によって
行なわれるようになっている請求項4に記載の画像読込
装置の信号補正方法。 - 【請求項8】 搬送される読取対象物に光を当てて反射
される光量を測定、演算する反射光量測定演算部と、前
記読取対象物に照射する光量を制御する発光量制御手段
と、前記発光量制御手段によって照射された前記読取対
象物の2次元画像を採取するエリアセンサとを具備した
搬送読取対象物の画像取込装置において、前記エリアセ
ンサによって採取された画像信号のアナログ出力信号を
A/D変換するA/D変換器と、前記A/D変換器の出
力がアドレス部の下位ビットに接続され、該アドレスで
示されるメモリ領域には補正値が書かれており、アドレ
ス部の上位ビットによって選ばれる領域にはそれぞれ異
なった複数種類の補正値が記憶されているROMと、前
記A/D変換を行なうに際して、前記反射光量測定演算
部の演算結果に基づいて前記ROMの上位アドレス信号
を設定し、前記A/D変換器の出力を前記ROMに入力
することによって補正後のデータを前記ROMのデータ
部から出力するようにしたことを特徴とする画像取込装
置の信号補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8200220A JPH1049654A (ja) | 1996-07-30 | 1996-07-30 | 画像取込装置の信号補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8200220A JPH1049654A (ja) | 1996-07-30 | 1996-07-30 | 画像取込装置の信号補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1049654A true JPH1049654A (ja) | 1998-02-20 |
Family
ID=16420813
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8200220A Pending JPH1049654A (ja) | 1996-07-30 | 1996-07-30 | 画像取込装置の信号補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1049654A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001235366A (ja) * | 1999-12-30 | 2001-08-31 | Mitsutoyo Corp | 開ループ光強度較正方法及び装置 |
| EP1056055A3 (en) * | 1999-05-24 | 2002-03-13 | Laurel Bank Machines Co., Ltd. | Coin discriminating apparatus |
| JP2005526239A (ja) * | 2002-02-26 | 2005-09-02 | ケーエルエー−テンカー テクノロジィース コーポレイション | 異常を発見するために試料を光学的に検査する装置および方法 |
| JP2007093317A (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-12 | Hitachi High-Technologies Corp | パターン欠陥検査装置 |
| US8774694B2 (en) | 2010-07-21 | 2014-07-08 | Ricoh Company, Ltd. | Image forming apparatus including sealed fixing liquid applying section |
| US8818255B2 (en) | 2010-03-17 | 2014-08-26 | Ricoh Company, Ltd. | Image forming apparatus with fixing liquid applicator |
| JP2020067373A (ja) * | 2018-10-24 | 2020-04-30 | オムロン株式会社 | 光電センサ |
-
1996
- 1996-07-30 JP JP8200220A patent/JPH1049654A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1056055A3 (en) * | 1999-05-24 | 2002-03-13 | Laurel Bank Machines Co., Ltd. | Coin discriminating apparatus |
| US6431341B1 (en) | 1999-05-24 | 2002-08-13 | Laurel Bank Machines Co., Ltd. | Coin discriminating apparatus |
| JP2001235366A (ja) * | 1999-12-30 | 2001-08-31 | Mitsutoyo Corp | 開ループ光強度較正方法及び装置 |
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| JP2009282036A (ja) * | 2002-02-26 | 2009-12-03 | Kla-Tencor Corp | 試料を光学的に検査する方法 |
| JP2011022148A (ja) * | 2002-02-26 | 2011-02-03 | Kla-Tencor Corp | 異常を発見するために試料を光学的に検査する装置 |
| JP2007093317A (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-12 | Hitachi High-Technologies Corp | パターン欠陥検査装置 |
| US8818255B2 (en) | 2010-03-17 | 2014-08-26 | Ricoh Company, Ltd. | Image forming apparatus with fixing liquid applicator |
| US8774694B2 (en) | 2010-07-21 | 2014-07-08 | Ricoh Company, Ltd. | Image forming apparatus including sealed fixing liquid applying section |
| JP2020067373A (ja) * | 2018-10-24 | 2020-04-30 | オムロン株式会社 | 光電センサ |
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