JPH10501084A - 銀行券や価値のある紙のようなシート素材用処理設備の中に記憶されているデータの無傷性を試験する方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 記憶データの無傷性を試験するために、無傷状態にある処理設備の一定の動作状態において前記処理設備の要素から被試験データに相当する無傷データが、まず、試験装置に記憶される。要素中の被試験データの無傷性を確認するために、各試験に対して前記試験装置の中でキーが生成され、前記キーは前に行った試験のものとは異なるものとされる。このキーと暗号アルゴリズムを用いて２つの暗号を作成する。一方の暗号は、前記被試験データが記憶されている前記処理設備の要素により前記被試験データから作成される。他方の暗号は、前記試験装置により無傷データから作成される。そして、それら２つの暗号同士が比較される。もし、暗号同士が整合したとき、前記被試験データは無傷データに整合し、このようにして、望ましくない変化がなかったものとされる。

Description

【発明の詳細な説明】 銀行券や価値のある紙のようなシート素材用処理設備 の中に記憶されているデータの無傷性を試験する方法 この発明は、銀行券や価値のある紙のようなシート素材用処理設備（processi ng facility）の中に記憶されているデータの無傷性（intactness）を試験する 方法に関する。 このような処理設備は、通常、数個の要素から構成される。各要素は、前記シ ート素材を処理するに際し、一定の機能を達成する。前記処理設備のうちの１つ の要素は制御装置であり、この制御装置は残りの他の要素より高位のランクを有 する。この制御装置は前記制御設備の個々の動作を制御する。残りの他の要素は 、前記シート素材に対して実際の処理を実行するモジュールとして設計される。 個々のモジュールの実行可能な処理動作は、例えば、積み重ねられたもの（stac k）から前記シート素材を選別すること、状態または真実性について前記シート 素材を試験すること、前記シート素材を移送すること、前記シート素材を積み重 ねること、または破壊することなどである。 前記処理設備の要素は、前記処理設備の動作に必要なデータを記憶するための メモリとともに提供することができる。これらのデータは、例えば、制御コマン ド、プログラム、結果データまたは参照データとすることができる。前記処理設 備の個々の要素は、データが相互間を伝達できるような方法で相互に接続される 。 前記処理設備は、異なる動作状態で動作させることができる。その動作状態は 、例えば、一定のパラメータを入力するオペーレータにより定めることができる 。そのようなパラメータは、被試験シートの数、銀行券のデノミネーション、一 定の試験基準の型式や質、または類似の情報とすることができる。 ドイツ特許公報（ＤＥ−ＰＳ） ２７ ６０ ４５３号は、そのようなある１ つの処理設備を開示する。前記制御装置および個々のモジュールは、データを記 憶するために、それら自身でメモリを有しており、このメモリは、前記処理設備 を動作させるのに必要なデータを記憶するためのものである。前記制御装置と前 記モジュールとの間のデータ交換は、前記モジュールと前記制御装置との両方が アクセス可能な主メモリを介して行われる。さらに、前記モジュールはデータ交 換のため直接的に相互に接続されている。 ドイツ公開公報（ＤＥ−ＯＳ） ３３ ４７ ６０７号には、シート素材を光 学的に試験するのに用いられる複数の類似するモジュールを有する処理設備が示 されている。前記制御装置と前記個々のモジュールの双方は、それら自身でデー タ記憶用のメモリを有している。前記個々のモジュールは、他の１つのモジュー ルに接続されるとともに、データバスを経由して前記制御装置に接続される。前 記処理設備の全ての要素がアクセスできる高次のメモリが、前記データバスに付 加的に接続される。 上述した型の装置では、前記処理設備に記憶されているデータについて、概し て、望ましくない変化が発生する。これらの変化は、データ伝達エラーやデータ 損失のような前記処理設備に対する障害から発生する場合があり、また、不正な 意志を持ってのデータに対する故意の操作から発生する場合もある。 公知の装置には、前記処理設備に記憶されているデータにおける望ましくない 変化（不所望の変化）を確かめるための手段が何ら設けられていない。 これらの前提のもとに、この発明は、前記データの変化を確認するため、シー ト素材に対し処理設備の中に記憶されているデータの無傷性を試験するための方 法を提案するという課題に基づいている。 この課題は、主たる特許請求の範囲の特徴事項により解決される。 この発明の基本的な概念は、本質的には、第１に、無傷状態にある処理設備の 一定の動作状態の中で、前記処理設備の要素から被試験データに相当する無傷デ ータを、ある試験装置に記憶することにある。前記要素中の被試験データの無傷 性を確認するためのキーが各試験毎に前記試験装置で生成される。このキーは従 来の試験におけるものとは異なるものである。このキーと暗号アルゴリズムを用 いて２つの暗号を作成する。一方の暗号は、前記被試験データが記憶されている 前記処理設備の要素により前記被試験データから作成される。他方の暗号は、前 記試験装置により前記無傷データから作成される。次に、この２つの暗号同士が 比較される。暗号が整合したときには、被試験データは無傷データと整合したも のとされ、これにより望ましくない変化がなかったものとされる。 この方法の１つの利点は、一方の暗号が試験装置により計算され、他方の暗号 が被試験要素により計算されることにある。これは、また、前記２つの暗号を作 成するために必要な計算能力を分けることでもある。 この発明の他の利点は、各試験のときにキーが生成されることにあり、このこ とが、従来の試験とは異なる。このため、前記キーは、その秘密を保持する必要 がない。したがって、キーを盗み出される危険性もない。 その暗号を作成するときに、前記データに任意に、各試験毎に乱数を付加する ことにより動的化（dynamized）することができる。動的化されたデータから作 成された暗号は、その後、同じデータが数回試験されたときに変えられる。これ により、初期試験から暗号を繰り返し使用することによる試験の不正な操作が防 止される。 暗号を作成するときに、好ましくは、同時にデータ容量を減少することのでき る暗号アルゴリズムを選択する。したがって、暗号のデータ容量は、もとのデー タ容量に比較して少ないデータ容量になる。暗号のデータ容量が少なければ、そ れらを容易かつ迅速に変換し、かつ比較することができる。 この発明の発展形としては、前記処理設備の数個の要素からの記憶データが１ つの動作で試験できることにある。この目的のために、試験装置の中にテーブル が記憶され、このテーブルの中に、前記処理設備の動作状態に従い、被試験要素 のいずれかと、特定の要素からの被試験データが記憶される記憶エリアと、対応 する無傷データが記憶されている試験装置の記憶エリアとが記憶されている。こ のテーブルの補助により、試験装置は、個々の要素を確認するための暗号を作成 することができ、さらに、特定の要素により作成された暗号同士を比較すること ができる。 この発明の他の特徴は、従属する特許請求の範囲から結果として生じる。次に 、この発明のいくつかの実施例を図面を参照して説明する。 図１は、この発明の第１実施例のフローチャートを示している。 図２は、暗号アルゴリズムの２つの実施例のフローチャートを示している。 図３は、処理設備の説明図を示している。 図４は、この発明の第１実施例の第１実行例を示している。 図５は、処理設備と補助装置を含むシステムの説明図を示している。 図６は、この発明の第１実施例の第２の実行例を示している。 図７は、この発明の第２の実施例のフローチャートを示している。 図８は、拡張処理設備の説明図を示している。 図９は、第２の実施例の実行例を示している。 図１は、この発明の第１実施例のフローチャートを示している。試験装置ＰＥ により、シート素材用の処理設備を構成する要素ＫＰ中の記憶データの無傷性（ 完全性）を試験するために、まず、無傷データＤＵが試験装置ＰＥに記憶される 。無傷データＤＵは、無傷状態にある前記処理設備の一定動作状態ＢＺ下での前 記処理設備の要素ＫＰ中の被試験データＤＰに相当する。 前記処理設備の要素ＫＰ中の記憶データを試験する毎に、キー（鍵）Ｓが試験 装置ＰＥにより生成される。このキーＳは、データ無傷性の各試験毎に異なるも のとされる。キーＳは暗号アルゴリズムＫＹにより暗号を生成するために用いら れる。また、任意に、乱数Ｚが試験装置ＰＥにより生成され、データＤＰまたは ＤＵを動的化するために用いられる。 次に、暗号を作成するために必要なデータＳまたはＺは、試験装置ＰＥから被 試験要素ＫＰに伝達される。暗号は暗号アルゴリズムＫＹとキーＳまたは乱数Ｚ により試験装置ＰＥと被試験要素ＫＰの中で計算される。処理設備の要素ＫＰの 中で、暗号ＫＹＰが被試験データＤＰから作成される。暗号ＫＹＵは、試験装置 ＰＥにより無傷データＤＵから作成される。無傷データＤＵは、無傷状態（完全 状態）における被試験データＤＰに相当する。 次に、暗号ＫＹＵとＫＹＰは、比較Ｖにより比較される。この目的のために暗 号ＫＹＰは、被試験要素ＫＰから試験装置ＰＥに伝達される。この比較Ｖは、例 えば、試験装置ＰＥにより直接的に実行することができる。比較Ｖのための他の 方法は、読取可能な形式（書式）で暗号ＫＹＵと暗号ＫＹＰを出力し、処理設備 のオペレータＢＤにより暗号相互の比較をする方法である。 処理設備中の数個の要素、または処理設備中、異なる動作状態ＢＺにある１個 の要素、またはこれら２つの可能性のある結合が、試験される場合、試験装置内 にテーブルＴＡＢを任意的に記憶することができる。テーブルＴＡＢには、処理 設備の可能性のある動作状態ＢＺに従って被試験要素のいずれかが記憶される。 また、テーブルには、特定の要素からの被試験データＤＰが記憶される記憶エリ アＳＰと、対応する無傷データＤＵが記憶されている試験装置ＰＥの記憶エリア ＳＵとが記憶されている。これに加えて、全ての無傷データＤＵが試験装置ＰＥ 内に記憶され、これら無傷データＤＵは、処理設備の可能な動作状態ＢＺに従い テーブルＴＡＢで発生する。 記憶エリアＳＰまたはＳＵは、例えば、直接物理記憶アドレスまたは論理名を 用いて定義される。直接物理記憶アドレスは、一般的に、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ＥＰ ＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ等の半導体メモリで用いられる。記憶エリアは、例えば、 そのメモリの開始アドレスと終了アドレスを指定することにより定めることがで き、また、そのメモリの開始アドレスと記録エリアの長さを指定することで定め ることができる。ハードディスクドライブ、ディスクドライブ、ストリーマ、Ｃ Ｄ−ＲＯＭドライブのような大容量メモリを用いる場合には、一般的に、論理名 （ファイル名）が、ある記憶エリアを定めるために用いられる。 図２ａは、暗号アルゴリズムＫＹの例を示している。ここで、符号化されたデ ータＤＵまたはＤＰは、実際の暗号アルゴリズムＫＹを実行する前に乱数Ｚの付 加により動的化することができる。この動的化は、同一の暗号アルゴリズムＫＹ で、異なる暗号ＫＹＵまたはＫＹＰを得るために実行することができる。この過 程により、処理設備の不正な操縦者によって検索される古い試験から暗号を阻止 することができ、また、この過程は、処理設備の中で正しい試験をシミュレーシ ョンするために、繰り返し実行される。 次いで、任意的に、乱数Ｚにより動的化されたデータＤＵまたはＤＰは、圧縮 法ＫＶにより圧縮される。結果として生じる圧縮データＫＤは、キーＳを用いて 符号化方法ＶＶにより符号化される。符号化方法ＶＶの結果が、所望の暗号ＫＹ ＵまたはＫＹＰになる。 一般的な全ての普通の方法を、圧縮化と符号化のために用いることができる。 周知の圧縮方法として、例えば、ハッシュ関数がある。用いることの可能な符号 化方法ＶＶとして、例えば、データ暗号標準（ＤＥＳ）方式またはＲＳＡアルゴ リズムのような公開キー方式がある。 図２ｂは、暗号アルゴリズムＫＹの他の実施例を示している。ここでは、まず 、キーＳが符号化データＤＵまたはＤＰに加えられ、次に、それらが、圧縮法Ｋ Ｖにより直接的に暗号ＫＹＵまたはＫＹＰとして圧縮される。一般的に他の暗号 アルゴリズムＫＹもまた適用可能である。 図３は、シート素材用処理設備の説明図である。ここで、処理設備は３つの要 素１０，２０，３０から構成され、個々の要素は、データ線１００を経由して接 続状態になっている。制御装置１０は、他の要素よりも高い地位にランクされる 要素であり、個々の処理動作を制御するための役割をもっている。特に、プロセ ッサ１１は、半導体メモリ１２および大容量メモリ１３にアクセスすることがで きる。 半導体メモリ１２は、例えば、揮発性のＲＡＭまたは不揮発性のＲＯＭ、ＥＰ ＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭまたは同等のメモリにより構成される。一般的に、揮発性 ＲＡＭは、プロセッサ１１によりプログラムの実行中に使用される。不揮発性メ モリは、処理設備を動作させるために必要なデータを含んでいる。半導体メモリ １２の記憶エリアは、通常、直接物理記憶アドレスを用いて定められる。 大容量メモリ１３は、例えば、ハードディスクドライブ、ディスクドライブ、 ＣＤ−ＲＯＭドライブ等によって実現することができ、大容量のデータを記憶す る役割をもっている。大容量メモリ１３は、処理設備を動作させるために必要な データを記憶する。大容量メモリ１３の記憶エリアは、通常、論理名を用いて定 められている。 処理設備の残りの要素が、ここでは、２つのモジュール２０と３０として示さ れている。これらは、同一のブロック図とされているが、処理設備内のシート素 材を処理する際に異なる機能を実行する。ここで、モジュールの数を２つに制限 しているのは、単に、簡潔性のためである。 制御装置１０と同様に、各モジュール２０，３０は、各々、プロセッサ２１， ３１、半導体メモリ２２，３２および大容量メモリ２３，３３を有している。メ モリ２２，２３，３２，３３の記憶データは、特定のモジュールを動作させるた めの役割をもっている。 メモリ１２，１３，２２，２３，３２，３３の記憶データは、通常、異なるデ ータであり、普通は、処理設備の動作状態ＢＺと要素の機能に依存する。 図４に示す前記第１の実施例の第１の実行例のフローチャートにおいて、試験 装置ＰＥの機能は、制御装置１０によって実行される。無傷状態において、メモ リ１２，１３，２２，２３，３２，３３に記憶されている被試験データＤＰに対 応する無傷データＤＵは、制御装置１０の大容量メモリ１３の中の対応する記憶 エリアＤ１２，Ｄ１３，Ｄ２２，Ｄ２３，Ｄ３２，Ｄ３３の中に、図３に従って 記憶されている。対応するテーブルＴＡＢが、処理設備の複数の要素の試験用と して大容量メモリ１３の中に付加的に記憶されている。試験のために必要な暗号 ＫＹＵは制御装置１０よって作成される。対応する暗号ＫＹＰは、被試験要素の 中で作成される。被試験要素ＫＰは、例えば、モジュール２０または３０であり 、また、制御装置１０自体とすることもできる。そして、作成された暗号ＫＹＰ とＫＹＵの比較Ｖが、制御装置１０により実行され、またはこれらの暗号が制御 装置１０により読出可能な形式で出力され、比較Ｖが、処理設備のオペレータに より実行される。 図５は、補助装置４０を付加的に加えた処理設備の説明図を示している。補助 装置４０は、例えば、パーソナルコンピュータとすることができ、処理設備とは 異なる場所に配置することができる。補助装置４０もまた、プロセッサ４１、半 導体メモリ４２および大容量メモリ４３を有している。補助装置４０は、以下に 説明するように、試験装置ＰＥの機能を実行するために、試験に必要な無傷デー タＤＵまたはテーブルＴＡＢが補助装置４０の大容量メモリ４３に記憶されてい る。 試験を実行するために必要な処理設備と補助装置４０との間のデータの交換は 、異なる方法で行うことができる。１つの可能性として、制御装置４０により可 搬型データ搬送体１０１上にデータが書き込まれ、データの書き込まれた可搬型 データ搬送体が制御装置１０に入力されるようにすることができる。可搬型デー タ搬送体１０１としては、例えば、チップカードまたはディスケットを用いるこ とができる。 他の可能性として、データ線１０２を通じて制御装置１０と補助装置４０との 間でデータを交換することができる。空間的状況に従ってデータ線１０２は、２ つの要素の直接接続またはネットワークで構成することができる。 さらにまた、補助装置４０を処理設備の内部データ線１００に直接接続するこ とも可能である。この場合、補助装置４０は、処理設備の要素として考えること ができる。 図６は、補助装置４０を用いた処理設備の第１実施例の第２実行例のフローチ ャートを示している。上述したように、無傷データＤＵまたはテーブルＴＡＢが 、補助装置４０に記憶されている。さらに、キーＳまたは乱数Ｚは、補助装置４ ０で生成される。処理設備に記憶されているデータの無傷性を試験するために、 キーＳと乱数Ｚが上述したように接続１０１，１０２，１０３の１つを経由して 制御装置１０に伝達される。 このとき、データの無傷性を試験するために、制御装置１０は確認のために必 要な動作状態ＢＺに設定される必要がある。この設定は、オペレータにより直接 制御装置１０に入力された情報を通じてなされるか、補助装置４０から制御装置 １０に伝達される対応情報を通じてなされる。この情報に従って制御装置１０は 処理設備を所望の動作状態ＢＺに設定する。 前記試験のために必要な情報、すなわち、被試験要素と特定の要素１０，２０ ，３０からの被検査データＤＰが記憶されている記憶エリアＳＰとを、補助装置 ４０による所望の動作状態ＢＺに従ってテーブルＴＡＢから読み出すことができ 、かつ制御装置１０に伝達することができる。 他の可能性は制御装置１０にテーブルＴＡＢのコピーを記憶することである。 このとき、制御装置１０は、テーブルＴＡＢの複製から、調整された動作状態Ｂ Ｚに従い必要な情報を直接的に読み出すことができる。 それから、補助装置４０は、必要な暗号ＫＹＵを作成する。一方、比較のため に必要な暗号ＫＹＰは、処理設備の特定の要素１０，２０，３０で作成される。 ここで暗号ＫＹＵとＫＹＰの比較Ｖのために、補助装置４０から制御装置１０ に暗号ＫＹＵが伝達されて比較される。この代わりに、制御装置１０により読み 出し可能な形式で出力された暗号ＫＹＵと暗号ＫＹＰを持つことも可能である。 このとき、暗号相互の比較は処理設備のオペレータにより実行することができる 。 もしも、補助装置４０と制御装置１０との間の伝達媒体として可搬型データ搬 送体１０１が選択されたときには、作成された暗号ＫＹＵと同様にキーＳまたは 乱数Ｚも、経済性の理由で、１つの作業ステップで可搬型データ搬送体１０１に 書き込まれ、すべてが直ちに制御装置１０に伝達されるようにする。 図７は、この発明のさらに他の実施例のフローチャートを示している。処理設 備の数個の要素からの記憶データを試験する場合には、試験装置ＰＥで数個の暗 号ＫＹＵが作成されなければならない。試験装置ＰＥの負荷を軽減するために、 この実施例では、暗号の計算が、付加的な計算装置ＲＥに移される。この目的の ために暗号ＫＹＵを計算するのに必要な無傷データＤＵとキーＳまたは乱数Ｚが 計算装置ＲＥに伝達される。そして、後者（計算装置ＲＥ）は無傷データＤＵか ら暗号ＫＹＵを作成し、作成した暗号を試験装置ＰＥに返送する。残りの方法ス テップは、前記第１実施例で記述したのと同様に実行される。 図８は、付加的に計算装置５０を有する拡張的な処理設備を示している。後者 （計算装置５０）は、また、プロセッサ５１と半導体メモリ５２と大容量メモリ ５３とを有している。計算装置５０は、例えば、パーソナルコンピュータにより 実現することができる。計算装置５０は、データ線１０２に類似するデータ線１ ０４を経由してまたはデータ線１０３に類似するデータ線１０５を経由して処理 設備に接続されている。 なお、計算装置５０と制御装置１０とを可搬型データ搬送体を介して接続する ことも基本的には可能であるが、制御装置１０から計算装置５０に無傷データＤ Ｕを完全に伝達しなければならず、かつ無傷データＤＵが非常に大容量のデータ を含む場合があるので、ここでは、賢明な方法ではない。 図９は、計算装置５０を有する処理設備の第２の実施例の実行例のフローチャ ートを示している。このフローチャートは、図４に示した第１実施例の第１の実 行例に比べて、暗号ＫＹＵの計算が計算装置５０でなされることと、計算された 暗号ＫＹＵが制御装置１０に伝達される点のみが異なる。この図９例においても 、暗号ＫＹＰとＫＹＵの比較Ｖは、制御装置１０で直接的に、または読み出し可 能な形式で暗号を出力した後、処理設備のオペレータによりすることができる。 一般的に、明白に記述していない実施例に対してもこの発明を適用することが 可能である。また、個々の要素に対して上記実施例で述べたメモリを単独の形で 、または必要に応じて部分的に省略したものでも適用することが可能である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．銀行券や価値のある紙のようなシート素材用処理設備に記憶されている データの無傷性を試験装置により試験するための試験方法であって、前記処理設 備は、前記シート素材を処理するための複数の要素を有するとともに、異なる動 作状態で動作することが可能であり、 試験装置（ＰＥ）中に無傷データ（ＤＵ）｛無傷状態にある前記処理設備の一 定の動作状態（ＢＺ）にある前記処理設備の要素（ＫＰ）からの被試験データ（ ＤＰ）に対応する無傷データ（ＤＵ）｝を記憶する過程と、 前記試験装置（ＰＥ）によりキー（Ｓ）｛このキー（Ｓ）は、データの無傷性 の各試験毎に異なるものとされる｝を生成する過程と、 要素（ＫＰ）｛この要素（ＫＰ）は、前記処理設備の一定の動作状態（ＢＺ） において、試験されるべきデータを有する｝により暗号（ＫＹＰ）を作成する｛ 暗号（ＫＹＰ）は暗号アルゴリズム（ＫＹ）と前記キー（Ｓ）により前記要素（ Ｋ）からの被試験データ（ＤＰ）から計算される｝過程と、 試験装置（ＰＥ）により暗号（ＫＹＵ）を作成する｛暗号（ＫＹＵ）は暗号ア ルゴリズム（ＫＹ）と前記キー（Ｓ）により無傷データ（ＤＵ）から計算される ｝過程と、 前記暗号（ＫＹＵ，ＫＹＰ）相互を比較（Ｖ）する過程と、 を有することを特徴とする記憶データの無傷性試験方法。 ２．請求項１記載の方法において、 テーブル（ＴＡＢ）が、前記処理設備の複数の要素（１０，２０，３０）から の記憶データを試験するために試験装置（ＰＥ）に記憶され、 前記テーブルには、前記処理設備の前記動作状態（ＢＺ）に従い、 被試験要素（１０，２０，３０）のいずれかのデータと、 特定の要素（１０，２０，３０）からの被検査データ（ＤＰ）が記憶されてい る記憶エリア（ＳＰ）のデータと、 対応する無傷データ（ＤＵ）が記憶されている試験装置（ＰＥ）の記憶エリア （ＳＵ）のデータとが記憶されていることを特徴とする記憶データの無傷性試験 方法。 ３．請求項２記載の方法において、前記記憶エリア（ＳＰ，ＳＵ）は、直接 物理記憶アドレスおよび（または）論理名を用いてアクセス可能であることを特 徴とする記憶データの無傷性試験方法。 ４．請求項１記載の方法において、前記データ（ＤＵ，ＤＰ）は、暗号アル ゴリズム（ＫＹ）の計算の前に乱数（Ｚ）の付加により動的化されることを特徴 とする記憶データの無傷性試験方法。 ５．請求項１記載の方法において、前記暗号アルゴリズム（ＫＹ）は、まず 、圧縮法（ＫＶ）により前記データ（ＤＵ，ＤＰ）を圧縮し、次に、キー（Ｓ） を用いて符号化方法（ＶＶ）により前記圧縮データ（ＫＤ）を符号化することを 特徴とする記憶データの無傷性試験方法。 ６．請求項１記載の方法において、 前記暗号（ＹＵＵ）を作成するために、 前記無傷データ（ＤＵ）と前記キー（Ｓ）または前記乱数（Ｚ）が前記試験装 置（ＰＥ）からデータ線（１０４，１０５）を経由して計算装置（ＲＥ）に伝達 され、 前記計算装置（ＲＥ）は、前記暗号（ＫＹＵ）を計算し、 前記計算装置（ＲＥ）は、暗号（ＫＹＵ）を前記データ線（１０４，１０５） を経由して前記試験装置（ＰＥ）に伝達することを特徴とする記憶データの無傷 性試験方法。 ７．請求項６記載の方法において、前記計算装置（ＲＥ）は、前記処理設備 の要素（５０）であることを特徴とする記憶データの無傷性試験方法。 ８．請求項６記載の方法において、前記計算装置（ＲＥ）は外部装置である ことを特徴とする記憶データの無傷性試験方法。 ９．請求項１記載の方法において、前記試験装置（ＰＥ）は、前記処理設備 の要素（１０）であることを特徴とする記憶データの無傷性試験方法。 １０．請求項１記載の方法において、前記試験装置（ＰＥ）が外部装置（４ ０）であることを特徴とする記憶データの無傷性試験方法。 １１．請求項１０記載の方法において、試験のために必要なデータが、可搬 型のデータ搬送体（１０１）によって前記処理設備と前記外部装置（４０）との 間で伝達されることを特徴とする記憶データの無傷性試験方法。 １２．請求項１０記載の方法において、試験のために必要なデータが、デー タ線（１０２，１０３）によって前記処理設備と前記外部装置（４０）との間で 伝達されることを特徴とする記憶データの無傷性試験方法。 １３．請求項１記載の方法において、前記比較（Ｖ）が、前記試験装置（Ｐ Ｅ）により実行されることを特徴とする記憶データの無傷性試験方法。 １４．請求項１記載の方法において、暗号（ＫＹＰ，ＫＹＵ）が読み出し可 能な形式で出力され、前記比較（Ｖ）が前記処理設備のオペレータ（ＢＤ）によ り実行されることを特徴とする記憶データの無傷性試験方法。