JPH10511813A - 非分離形集積回路の基板 - Google Patents

非分離形集積回路の基板

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JPH10511813A
JPH10511813A JP8521066A JP52106696A JPH10511813A JP H10511813 A JPH10511813 A JP H10511813A JP 8521066 A JP8521066 A JP 8521066A JP 52106696 A JP52106696 A JP 52106696A JP H10511813 A JPH10511813 A JP H10511813A
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ビンガム,デイヴィッド
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マキシム・インテグレーテッド・プロダクツ・インコーポレーテッド
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Abstract

(57)【要約】 すべての回路接続点(TOUT1〜TOUTN)における寄生PNダイオードが順バイアスされてるわけではない場合に、基板が特定の接続点(VDD)に接続されるように、基板(V)上の電圧を制御する非分離形集積回路用の基板クランプ回路(10)。特定の接続点(T0UT1〜TOUTN)が、強制的に順バイアスの電圧が印加された場合、基板がその本来の接続点(V)から切り離され、基板自体を、電圧がかかった接続点(T0UT1〜TOUTN)から順バイアスのダイオード電圧降下分だけ低い電圧に維持する。接続点(T0UT1〜T0UTN)が順バイアスではない状態に戻ったとき、基板(V)は本来の電源ノード(VDD)に再び接続される。

Description

【発明の詳細な説明】 非分離形集積回路の基板 発明の背景 1.発明の分野 本発明は、一般に、モノリシック集積回路の分野に関連し、より詳細には、非 分離形集積回路における基板の電圧を局部的または全体的にクランプする装置お よび方法に関する。 2.関連技術 モノリシック集積回路の各構成要素は、一般に、固有のPNダイオードによっ て基板から分離されている。構成要素と基板の間に、このPNダイオードが逆バ イアスされるように電圧が印加された場合、構成要素は分離されていると見なさ れる。一方、印加電圧が、このPNダイオードを実質上順バイアスするようなも のである場合は、分離は行われない。そのような分離がないと、演算増幅器の出 力段やライン・ドライバを含む様々な回路を作成するデバイスと関連した1つま たは複数の固有PN接合が順バイアスされることになる。これにより、少なくと も基板に過電流が流れ、極端な場合には、機能的な障害を引き起こすことになる 。 この問題を回避するために、市販のモノリシック集積回路には、基板ステアリ ング回路がよく使用される。しかし、一般に、従来のステアリング回路はすべて 、回路接続点のさまざまな電圧を比較する比較器を使用して、基板を最適な接続 点に接続する。選択される接続点は、回路上のどの構成要素によっても基板の順 バイアスを許可しない電圧のものである。 このような従来の基板ステアリングまたはスナッチング回路はしばしば複雑で 、実施がむずかしく、過渡応答特性が悪い。したがって、一般に、このような従 来の基板回路の使用は避けられ、回路の一部分をそれぞれ含む分離ポケットを形 成するためにより複雑な半導体プロセスが利用される。しかし、このような回路 は、 複雑化され、大きなチップ面積と高いコストを必要とする。 したがって、簡単で、複雑な半導体プロセスまたはチップ面積の大幅な増加を 必要とせずに実施できる基板スナッチング回路の技術が必要である。 発明の要約 非分離形集積回路の基板クランプ回路を開示する。基板クランプ回路は、すべ ての回路接続点における寄生PNダイオードが順バイアスされるわけではない場 合に、基板が特定の接続点に接続されるように基板上の電圧を制御する回路を含 む。特定の接続点が強制的に順バイアスとなるように電圧が印加された場合は、 基板は、その本来の接続点から切り離され、基板自体を、電圧のかかった接続点 から順バイアスのダイオード電圧降下分だけ低い電圧に維持する。様々な実施態 様を開示する。 本発明の一実施態様において、基板を共通ベースとして利用する一組のバイポ ーラ・トランジスタが実施される。これらのトランジスタのエミッタは、電源と アースあるいは他の一対の印加電圧によって提供される電圧の範囲にない電圧に 駆動される1組の接続点に接続される。これらのバイポーラ・トランジスタのコ レクタは共に接続される。バイポーラ・トランジスタのいずれかあるいはすべて がターンオンされると、基板が、電源端子から切り離され、強制的に、VBEすな わちターンオンしたトランジスタのエミッタよりもダイオード順電圧分だけ低い 電圧にされる。接続点が電源電圧の範囲内の電圧に戻ると、基板が本来の電源接 続点に再び接続される。 図面の簡単な説明 図1は、本発明の一実施形態による基板スナッチャ回路の回路図である。 図2は、本発明の第2の実施形態による基板スナッチャ回路の回路図である。 図3は、本発明の第3の実施形態による基板スナッチャ回路の回路図である。 図4は、本発明の第4の実施形態による基板スナッチャ回路の回路図である。 図5Aは、図3および4の基板スナッチャ回路において実施することができる 二重PNPトランジスタの一実施形態の縦断面図である。 図5Bは、図5Aの二重PNPトランジスタを表す図である。 図5Cは、2つのトランジスタを利用することによって実施される図5Bの二 重PNPトランジスタを表す図である。 発明の詳細な説明 本発明は、基板の局部または全体の電圧をクランプする装置および方法を提供 し、それにより、デバイス領域と基板の間に形成されたPN接合が、基板上の様 々な構成要素に印加される電圧と関係なく、これらの構成要素および基板と関連 した寄生ダイオードによって実質上順バイアスされることがなくなる。 より詳細には、本発明は、すべての回路接続点の寄生PNダイオードが順バイ アスされるわけではない場合に、基板が特定の接続点、通常は電源または接地端 子に接続されるように、基板上の電圧を制御する装置および方法を開示する。特 定の接続点が、強制的に順バイアスの電圧が印加されると、基板は、その本来の 特定接続点から切り離され、電圧が印加された接続点よりも順バイアス・ダイオ ード電圧降下分だけ低い電圧に基板自体を維持する。その結果、基板は、寄生ダ イオードによって実質上順バイアスされることがなく、特定電圧にクランプされ る。 図1は、共通端子すなわち共通ベースとして基板Vを有する一組のバイポーラ ・トランジスタQP1〜QPNを利用した本発明の基板スナッチング回路10の 一実施形態を示す。これらのトランジスタのエミッタは、電源VDDとアースGに よって提供される電圧あるいはVDDとVEEなどの他の任意の一対の供給電圧の範 囲を超える電圧に駆動される一組の接続点TOUT1−TOUTNに接続されている。こ こでVEEは、VDDよりも低い。これらのバイポーラ・トランジスタQP1−QP Nのコレクタは共通に接続される。バイポーラ・トランジスタQP1−QPNの いずれかまたはすべてがターンオンされると、基板Vは電源VDDから切り離され 、強制的にVBEすなわちターンオンしたトランジスタQP1〜QPNのエミッタ の正の最大値よりもダイオード順電圧分だけ下げられる。接続点が、電源の範囲 内の電圧に戻されると、基板Vは、本来の電源接続点VDDに再び接続される。こ のことを以下に詳細に説明する。 図1に示したように、基板クランプ10は、強制的に電源電圧VDDよりも高い 電圧にされる複数の強制接続点T0UTIからT0UTNを使用する。一方、TOUTIから TOUTNのいずれかまたはすべてを利用して、同じ結果を得ることができる。また 、本実施形態では、検討のためn形基板を使用する。したがって、本実施形態の バイポーラ・トランジスタQP1〜QPNは、PNPトランジスタである。しか し、P形基板材料を使用することもでき、それを使用した場合は、基板クランプ 10におけるすべてのトランジスタQP1〜QPNはNPN形トランジスタにな る。 基板クランプ10は、3つのトランジスタP1、N1、N2と、トランジスタ QP1〜QPNを含む。P1は、Pチャネル・トランジスタであり、N1とN2 は、Nチャネル・トランジスタであり、QP1〜QPNは、PNPトランジスタ である。前に考察したように、回路10は、また、相補形トランジスタを利用し て実施することもでき、この場合、P1はNチャネル・トランジスタ、N1およ びN2はPチャネル・トランジスタであり、QP1〜QPNはNPNトランジス タである。 動作において、P1のターンオン電圧よりも高い正電圧がVDDに印加され、接 続点T0UT1〜TOUTNの印加電圧が、VDDへの印加電圧よりもQP1〜QPNのい ずれかのターンオン電圧よりも小さな値だけ大きい場合は、N2がターンオンし 、接続点2は、ほぼアース電位に維持される。この結果、P1がターンオンし、 N1がターンオフし、基板VがVDDに有効に接続される。 次に、接続点TOUT1〜T0UTNのいずれかまたはすべてが、強制的にVDDよりも QP1〜QPNそれぞれのターンオン電圧分だけ高くされ、QP1〜QPNによ って電流が供給される。その電流値が、N2が供給できる電流よりも大きい場合 は、接続点2が、強制された電圧の値に近い値まで上昇し、P1をターンオフし N1をターンオンする。N1は、トランジスタQP1〜QPNを駆動するために 必要なべース電流を供給し、それにより、そのコレクタ電流はN2が供給する電 流と等しくなる。その結果、基板Vが、VDDから切り離され、TOUT線の強制電 圧よりもPNPターンオン電圧分だけ低い電圧になる。すなわち、Vは、TOUT 線よりもVBEだけ低い電圧にクランプされ、N1を通る電流によりそのレベルに 保持される。その結果、基板には、実質上順バイアスがかからない。 図2は、本発明の基板スナッチング回路20の第2の実施形態の回路図を示す 。基板スナッチング回路20において、セット−リセット(SR)フリップ・フ ロップ12とPNPトランジスタQPN+1が、前の実施形態の回路10に追加 される。 SRフリップ・フロップ12は、2つのクロス結合反転器P2、N2およびP 3、N3からなる。このSRフリップ・フロップ12は、2つのトランジスタN 1とP1を制御する。T0UT1の電圧が、電圧VDDよりも低いかそれとほぼ同じ場 合は、トランジスタN1は遮断し、トランジスタP1がターンオンされ、ライン VとVDDを接続する。フリップ・フロップ12は、接続点1を高レベルにセット し、接続点2を低レベルにセットする。この状態では、回路はあまり電力を消費 しない。接続点T0UT1に供給電圧VDDよりも約0.7ボルト高い電圧が印加され ると、トランジスタQP1のベース・エミッタ・ダイオードが順バイアスされる 。その結果生じるコレクタ電流は、接続点2に、N2のドレイン電流よりも多い 電流を流す。QP1のコレクタ電流が、N2のドレイン電流よりも大きい場合に 、フリップ・フロップ12が状態を変える。接続点2が高レベルにセットされ、 接続点1が低レベルにセットされる。これにより、P1がターンオフし、N1が ターンオンする。その際、N1が、接続点VからQP1のエミッタ−ベースを介 してアースGにわずかな電流を流す。この電流により、基板が、接続点T0UT1ま たはT0UT1よりもVBEだけ低い電圧VDDに下がる。TOUT1への駆動電圧が除去さ れると、基板の接続点Vの電圧は、PNPトランジスタQPN+1がターンオン するまで、トランジスタN1によって下げられる。QPN+1のコレクタ電流が N3のドレイン電流を超えると、フリップ・フロップ12の状態が変化し、接続 点1が高レベル状態になり接続点2が低レベル状態になる。これにより、N1が ターンオフしP1がターンオンして、電流が最初の状態に戻り、その結果基板V がVDDに接続される。 図3は、本発明のさらに別の実施形態による基板スナッチャ回路30の回路図 を示す。回路30は、追加のPNPトランジスタQP1′、QP2′、...、Q PN′、(QPN+1)′によって直列コレクタが追加された回路20の実施形 態である。集積回路内の構成要素の接近ならびにPN接合が順バイアスされたと き に基板内に少数キャリアが広く拡散する能力により、多数の少数キャリアがQP 1〜QPNのコレクタに流れることはない。追加の直列コレクタは、QP1〜Q PNのコレクタを流れないほとんどの少数キャリアを集めるように機能する。 トランジスタQP1′、QP2′、...、QPN′、(QPN+1)′は、基 板、ウェルまたはポケットに注入される少数キャリアを収集する飽和防止デバイ スであり、QPN+1またはQP1〜QPNのいずれかが強制的に飽和された場 合に、そのコレクタがエミッタとして働く。基板への少数キャリアの注入は、P NPトランジスタQPN+1と強制接続点TOUT1〜T0UTNに接続されたトランジ スタQP1〜QPNの近くの領域に制限されなければならない。そうでない場合 は、隣り合った接続点がこれらの少数キャリアを集め、電気特性が低下すること がある。その代わりに、図4の回路40に示したように、これらの二次側のトラ ンジスタのコレクタを、基板(V)ではなくアース(G)に接続することができ ることに注意されたい。この代替実施形態は、次の節でより詳細に考察する。 実際には、図5Aと図5Bに示したように、Q1とQ3は両方ともQ2とQ3 に追加コレクタとして一体化される。具体的には、図5Aは、図3および図4の 基板スナッチャ回路において実施できるダブルPNPトランジスタの一実施形態 の縦断面図である。図5Bは、図5AのダブルPNPトランジスタを表す回路で ある。アクティブ・モードで動作するようにバイアスされるとき、エミッタ−ベ ース電圧VEBによって、P形エミッタの電位がN形ベースよりも高くなり、これ によりベース−エミッタ接合が順バイアスされる。コレクタ−ベース接合は、N 形ベースの電位をP形コレクタの電位よりも高く維持するベース−コレクタ電圧 VBCによって逆バイアスされる。PNPデバイスの電流は、主に、順バイアス電 圧VBEによってエミッタからベースに注入される正孔によって流される。ベース からエミッタに注入される電子によって生じるエミッタ電流成分は、軽くドープ したベースを利用することによって少なくすることができるため、エミッタ電流 のほとんどは正孔によるものである。ベースからエミッタに注入される電子がベ ース電流の主な成分となる。さらに、ベースに注入されたいくつかの正孔は、ベ ース内の多数キャリア(電子)と再結合して消失する。消失したベース電子は、 外部回路から取り戻さなくてはならず、ベース電流の第2の成分が生じる。コレ クタ−ベース接合の空乏領域の境界に達することができた正孔は、コレクタ上の 負電圧によって引き寄せられる。これにより、この正孔は、空乏領域を横切って コレクタに押し流され、コレクタ電流として現れる。QPN+1またはQP1〜 QPNのいずれかが強制的に飽和され、コレクタ1がエミッタとして機能する場 合、第2のコレクタすなわちコレクタ2が追加されているため、基板、ウェルま たはパケットに注入された少数キャリアが確実にコレクタ2に引き寄せられる。 これにより、隣り合った接続点がこのような少数キャリアを多数収集するのが防 止され、電気特性が低下することがない。ダブル・コレクタ・トランジスタを、 図4の回路40で実施する場合は、コレクタ2が接地されて、少数キャリアがコ レクタ2に引き寄せられ、コレクタ2からのコレクタ電流として現れ、次に接地 される。 図5Cは、2つのトランジスタを利用して実施した図3と図4のダブルPNP トランジスタの回路図である。図3と図4には、ダブル・コレクタ・トランジス タではなく別々のトランジスタを示す。図5Cに示したように、トランジスタQ PN′は、QPNが強制的に飽和されてそのコレクタすなわちコレクタ1がエミ ッタとして働く場合に、基板、ウエルまたはポケットに注入される少数キャリア を収集する飽和防止デバイスである。コレクタ1がエミッタのように機能する場 合は、前述のように、コレクタ2が、少数キャリアを引き寄せるように実施され 、それにより少数キャリアが、コレクタ2からのコレクタ電流として現れる。 本発明は、いくつかの利点を提供する。第1に、従来の回路と異なり、比較器 を利用せず、その結果回路の配置がより単純になる。第2に、基板を接続点に直 接接続する必要がなく、その結果誤動作が減少する。第3に、基板が、強制され た接続点に関して順バイアスされ、制御可能なポイントを提供する。本発明の特 に重要な利用法は、ライン・ドライバが、ライン・ドライバの電力供給に利用さ れる電源電圧よりも高い電圧にオーバードライブされた場合である。本発明を利 用しなければ、ライン・ドライバを構成するデバイスに関連した1つまたは複数 の固有PN接合が順バイアスされることになり、最低でも基板に過電流が流れ、 極端な場合には機能障害を引き起こす。 以上、本発明の好ましい実施形態を説明し例示したが、当業者は、本発明の精 神から逸脱しない範囲で本発明に様々な変更および修正を行うことができること を理解されよう。したがって、本発明の範囲は、併記の特許請求の範囲によって 定義される。
【手続補正書】 【提出日】1997年12月3日 【補正内容】 請求の範囲 1.基板に印加される電圧を制御する回路であって、 第1の電源電圧に結合された第1の端子と、第2の電源電圧に結合された第2 の端子と、第1の強制接続点電圧に結合された第3の端子と、 エミッタ、ベースおよびコレクタを有する第1の導電形の第1のトランジスタ と、 ドレイン、ソースおよびゲートを有する第2の導電形の第2のトランジスタと 、 ドレイン、ソースおよびゲートをそれぞれ有する第3の導電形の第3および第 4のトランジスタと を含み、 前記第1のトランジスタのコレクタと、第2のトランジスタのゲートと、第3 のトランジスタのゲートと、第4のトランジスタのドレインとが結合され、 第1のトランジスタのベースと、第2のトランジスタのソースと、第3のトラ ンジスタのドレインとが基板に結合され、 第2のトランジスタのドレインと第4のトランジスタのゲートとが第1の端子 に結合され、 前記第1のトランジスタのエミッタが第3の端子に結合され 第3および第4のトランジスタのソースが第2の端子に結合され、 第1の状態において、第1の強制接続点の電圧が第1のトランジスタをターン オンするのに不十分な高さの場合に、基板が第1の端子に接続され、第2の状態 において、第1の強制接続点電圧が第1のトランジスタをターンオンするのに十 分な高さの場合は、基板が第3の端子に接続されることを特徴とする回路。 2.エミッタ、ベースおよびコレクタを有する第1の導電形の第5のトランジス タをさらに含み、第5のトランジスタのコレクタが第2のトランジスタのゲート に結合され、第5のトランジスタのベースが基板に結合され、第5のトランジス タのエミッタが、第2の強制接続点電圧に結合するために第4の端子に結合され たことを特徴とする請求項1に記載の回路。 3.第2の状態において、第1の強制接続点電圧が第1の電源電圧よりも高いこ とを特徴とする請求項1に記載の回路。 4.前記第1と第2の状態を安定化するラッチ回路をさらに含み、前記ラッチ回 路が、第1の端子の電圧と関連した第3の端子の電圧に応じてラッチ回路の状態 を決定することを特徴とする請求項1に記載の回路。 5.前記ラッチ回路が、 ドレイン、ソースおよびゲートをそれぞれ有する第2の導電形の第5と第6の トランジスタと、 ドレイン、ソースおよびゲートを有する第3の導電形の第7のトランジスタと を含み、 第5および第6のトランジスタのソースが基板に結合され、 第5のトランジスタのゲートと、第6のトランジスタのドレインと、第7のト ランジスタタのドレインが結合され、 第5のトランジスタのドレインと、第6のトランジスタのゲートと、第4のト ランジスタのゲートが結合されたことを特徴とする請求項4に記載の回路。 6.前記第1の導電形がPNPトランジスタであり、前記第2の導電形がPチャ ネル・トランジスタであり、前記第3の導電形がNチャネル・トランジスタであ ることを特徴とする請求項1に記載の回路。 7.前記第1の導電形がPNPトランジスタであり、前記第2の導電形がPチャ ネル・トランジスタであり、前記第3の導電形がNチャネル・トランジスタであ ることを特徴とする請求項5に記載の回路。 8.エミッタ、ベースおよびコレクタを有する第1の導電形の第5のトランジス タをさらに含み、第5のトランジスタのベースが第1のトランジスタのベースに 結合され、第5のトランジスタのコレクタが基板に結合され、第5のトランジス タのエミッタが第1のトランジスタのコレクタに結合されたことを特徴とする請 求項1に記載の回路。 9.第1の導電形がPNPトランジスタであり、前記第2の導電形がPチャネル ・トランジスタであり、前記第3の導電形がNチャネル・トランジスタであるこ とを特徴とする請求項8に記載の回路。 10.基板に印加される電圧を制御する方法であって、 第1の電圧に結合された第1の端子と、第1の強制接続点電圧に結合された第 2の端子とを設ける段階と、 エミッタ、ベースおよびコレクタを有する第1のトランジスタを設ける段階と 、 ドレイン、ソースおよびゲートを有する第2のトランジスタを設ける段階と、 第1のトランジスタのエミッタを第2の端子に接続し、ベースを基板に接続し 、コレクタを第2のトランジスタのゲートに接続する段階と、 基板と第1の端子との間で第2のトランジスタのソースとドレインをそれぞれ 接続する段階と、 第1の強制接続点電圧が、第1のトランジスタをターンオンする第1の電圧に 対して不十分な高さの場合に、第2のトランジスタをターンオンする段階と、 第1の強制接続点電圧が、第1のトランジスタをターンオンする第1の電圧に 対して十分な高さの場合に、第2のトランジスタをターンオフする段階と、 を含む方法。 11.エミッタ、ベースおよびコレクタを有する第3のトランジスタを設ける段 階をさらに含み、第3のトランジスタのコレクタが第2のトランジスタのゲート に結合され、第3のトランジスタのベースが基板に結合され、第3のトランジス タのエミッタが、第2の強制接続点電圧に結合するために第3の端子に結合され 、 第1と第2の強制接続点電圧が、第1と第3のトランジスタをそれぞれターン オンする第1の電圧に対して不十分な高さの場合に、第2のトランジスタをター ンオンする段階と、 第1と第2の強制接続点電圧が、第1と第3のトランジスタをそれぞれターン オンする第1の電圧に対して十分な高さの場合に、第2のトランジスタをターン オフする段階と、 を含むことをことを特長とする請求項10に記載の方法。 12.第1のトランジスタをターンオンする段階が、第2のトランジスタのゲー トを第1の強制接続点電圧に応じて第2の端子に結合するために、第2のトラン ジスタのゲートと第4の端子の間に接続された第1の電流源を提供する段階を含 むことを特徴とする請求項10に記載の方法。 13.第2のトランジスタをターンオフする段階が、第1の強制接続点電圧に応 じてベース電流駆動を第1のトランジスタに提供するために、基板と第4の端子 の間に接続された第2の電流源を提供する段階を含むことを特徴とする請求項1 2に記載の方法。 14.第1のトランジスタを提供する段階が、PNPトランジスタを提供する段 階を含むことを特徴とする請求項10に記載の方法。 15.第2のトランジスタを提供する段階が、Pチャネル・トランジスタを提供 する段階を含むことを特徴とする請求項10に記載の方法。
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Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.基板に印加される電圧を制御する回路であって、 エミッタ、ベースおよびコレクタを有する第1の導電形の第1のトランジスタ と、 ドレイン、ソースおよびゲートを有する第2の導電形の第2のトランジスタと 、 ドレイン、ソースおよびゲートをそれぞれ有する第3の導電形の第3および第 4のトランジスタとを含み、 前記第1のトランジスタのコレクタと、第2のトランジスタのゲート、第3の トランジスタのゲートと、第4のトランジスタのドレインとが結合され、 第1のトランジスタのベースと、第2のトランジスタのソースと、第3のトラ ンジスタのドレインとが第1の接続点に結合され、 第2のトランジスタのドレインと第4のトランジスタのゲートとが第1の電圧 に結合され、 前記第1のトランジスタのエミッタが第2の電圧に結合され 第3および第4のトランジスタのソースが結合され、 第1の状態において、第2の電圧が印加されない場合に第1の接続点が第1の 電圧に接続され、第2の状態において、第2の電圧が印加された場合に第1の接 続点が第2の電圧よりも低い第3の電圧に接続されることを特徴とする回路。 2.エミッタ、ベースおよびコレクタを有する第1の導電形の第5のトランジス タをさらに含み、第5のトランジスタのコレクタが、第2のトランジスタのゲー トに結合され、第5のトランジスタのベースが、第2の接続点に結合され、第5 のトランジスタのエミッタが第4の電圧に結合され、第2の電圧が印加されない 場合に第2の接続点が第1の電圧に接続され、第2の電圧が印加された場合に第 2の接続点が第2の電圧よりも低い第4の電圧に接続されることを特徴とする請 求項1に記載の回路。 3.第4の電圧が、第1の電圧よりも高いことを特徴とする請求項2に記載の回 路。 4.前記第1と第2の状態を安定化するラッチ回路をさらに含み、前記ラッチ回 路が、セット状態とリセット状態を有し、前記ラッチ回路が、前記セット状態の のときにラッチを前記第2の状態し、前記リセット状態のときにラッチを前記第 1の状態にすることを特徴とする請求項1に記載の回路。 5.前記ラッチ回路が、 ドレイン、ソースおよびゲートをそれぞれ有する第2の導電形の第5と第6の トランジスタと、 ドレイン、ソースおよびゲートをそれぞれ有する第3の導電形の第7のトラン ジスタとを含み、 第5と第6のトランジスタのソースが第1の接続点に結合され、 第5のトランジスタのゲートと、第6のトランジスタのドレインと、第7のト ランジスタのドレインとが結合され、 第5のトランジスタのドレインと、第6のトランジスタのゲートと、第4のト ランジスタのゲートとが結合されたことを特徴とする請求項4に記載の回路。 6.前記第1の導電形がPNPトランジスタであり、前記第2の導電形がPチャ ネル・トランジスタであり、前記第3の導電形がNチャネル・トランジスタであ ることを特徴とする請求項1に記載の回路。 7.前記第1の導電形がNPNトランジスタであり、前記第2の導電形がNチャ ネル・トランジスタであり、前記第3の導電形がPチャネル・トランジスタであ ることを特徴とする請求項1に記載の回路。 8.前記第1の導電形がPNPトランジスタであり、前記第2の導電形がPチャ ネル・トランジスタであり、前記第3の導電形がNチャネル・トランジスタであ ることを特徴とする請求項5に記載の回路。 9.前記第1の導電形がNPNトランジスタであり、前記第2の導電形がNチャ ネル・トランジスタであり、前記第3の導電形がPチャネル・トランジスタであ ることを特徴とする請求項5に記載の回路。 10.エミッタ、ベースおよびコレクタを有する第1の導電形の第5のトランジ スタをさらに含み、第5のトランジスタのベースが第1のトランジスタのベース に結合され、第5のトランジスタのコレクタが第1の接続点に結合され、第5の トランジスタのエミッタが第1のトランジスタのコレクタに結合されたことを特 徴とする請求項1に記載の回路。 11.前記第1の導電形がPNPトランジスタであり、前記第2の導電形がPチ ャネル・トランジスタであり、前記第3の導電形がNチャネル・トランジスタで あることを特徴とする請求項10に記載の回路。 12.前記第1の導電形がNPNトランジスタであり、前記第2の導電形がNチ ャネル・トランジスタであり、前記第3の導電形がPチャネル・トランジスタで あることを特徴とする請求項10に記載の回路。 13.基板に印加される電圧を制御する方法であって、 エミッタ、ベースおよびコレクタを有する第1の導電形の第1のトランジスタ を提供する段階と、 ドレイン、ソースおよびゲートを有する第2の導電形の第2のトランジスタを 提供する段階と、 ドレイン、ソースおよびゲートをそれぞれ有する第3の導電形の第3および第 4のトランジスタを提供する段階とを含み、 前記第1のトランジスタのコレクタと、第2のトランジスタのゲートと、第3 のトランジスタのゲートと、第4のトランジスタのドレインとを結合する段階と 、 第1のトランジスタのベースと、第2のトランジスタのソースと、第3のトラ ンジスタのドレインとを第1の接続点に結合する段階と、 第2のトランジスタのドレインと第4のトランジスタゲートとを第1の電圧に 結合する段階と、 前記第1のトランジスタのエミッタを第2の電圧に結合する段階と、 第3および第4のトランジスタのソースを結合する段階と、 第2の電圧が印加されない場合に、第1の接続点を第1の電圧に接続する段階 と、 第2の電圧が印加された場合に、第1の接続点を第2の電圧よりも低い第3の 電圧に接続する段階と、 を含む方法。 14.エミッタ、ベースおよびコレクタを有する第1の導電形の第5のトランジ スタを提供する段階をさらに含み、第5のトランジスタのコレクタが、第2のト ランジスタのゲートに結合され、第5のトランジスタのベースが第2の接続点に 結合され、第5のトランジスタのエミッタが第4の電圧に結合され、 第1の状態で、第2の電圧が印加されない場合に第2の接続点が第1の電圧に 接続され、 第2の状態で、第2の電圧が印加された場合に、第2の接続点が、第2の電圧 よりも低い第4の電圧に接続されることを特徴とする請求項13に記載の方法。 15.第4の電圧が第1の電圧よりも高いことを特徴とする請求項14に記載の 回路。 16.セット状態とリセット状態を有し、前記第1と第2の状態を安定化するラ ッチ回路を提供する段階と、 前記ラッチ回路をセットしてラッチを前記第2の状態にし、前記ラッチ回路を リセットしてラッチを前記第1の状態にする段階と、 をさらに含むことを特徴とする請求項14に記載の方法。 17.前記ラッチ回路を提供する段階において、前記ラッチ回路が、 ドレイン、ソースおよびゲートをそれぞれ有する第2の導電形の第5と第6の トランジスタと、 ドレイン、ソースおよびゲートをそれぞれ有する第3の導電形の第7のトラン ジスタとを含み、 第5と第6のトランジスタのソースが第1の接続点に結合され、 第5のトランジスタのゲートと、第6のトランジスタのドレインと、第7のト ランジスタのドレインとが結合され、 第5のトランジスタのドレインと、第6のトランジスタのゲートと、第4のト ランジスタのゲートが結合されたことを特徴とする請求項14に記載の方法。 18.前記提供する段階において、前記第1の導電形がPNPトランジスタであ り、前記第2の導電形がPチャネル・トランジスタであり、前記第3の導電形が Nチャネル・トランジスタであることを特徴とする請求項13に記載の方法。 19.前記提供する段階において、前記第1の導電形がNPNトランジスタであ り、前記第2の導電形がNチャネル・トランジスタであり、前記第3の導電形が Pチャネル・トランジスタであることを特徴とする請求項13に記載の方法。 20.前記提供する段階において、前記第1の導電形がPNPトランジスタであ り、前記第2の導電形がPチャネル・トランジスタであり、前記第3の導電形が Nチャネル・トランジスタであることを特徴とする請求項17に記載の方法。 21.前記提供する段階において、前記第1の導電形がNPNトランジスタであ り、前記第2の導電形がNチャネル・トランジスタであり、前記第3の導電形が Pチャネル・トランジスタであることを特徴とする請求項17に記載の回路。 22.エミッタ、ベースおよびコレクタを有する第1の導電形の第5のトランジ スタを提供する段階をさらに含み、第5のトランジスタのベースが、第1のトラ ンジスタのベースに結合され、第5のトランジスタのコレクタが第1の接続点に 結合され、第5のトランジスタのエミッタが第1のトランジスタのコレクタに結 合されたことを特徴とする請求項13に記載の方法。 23.前記提供する段階において、前記第1の導電形がPNPトランジスタであ り、前記第2の導電形がPチャネル・トランジスタであり、前記第3の導電形が Nチャネル・トランジスタであることを特徴とする請求項22に記載の方法。 24.前記提供する段階において、前記第1の導電形がNPNトランジスタであ り、前記第2の導電形がNチャネル・トランジスタであり、前記第3の導電形が Pチャネル・トランジスタであることを特徴とする請求項22に記載の方法。 25.基板に印加される電圧を制御する回路であって、 第1の電圧を提供する第1の電圧源と、 第1の電圧源に接続され、少なくとも1つの強制接続点を有するクランピング 回路と、 強制接続点に接続され第2の電圧を提供する第2の電圧源とを含み、第1の状 態において、第2の電圧が印加されない場合に強制接続点が第1の電圧に接続さ れ、第2の状態において、第2の電圧が印加された場合に強制接続点が第3の電 圧に接続され、第3の電圧が第2の電圧よりも低いことを特徴とする回路。 26.基板に印加される電圧を制御する方法であって、 第1の電圧を提供する第1の電圧源を提供する段階と、 第1の電圧源に接続され、少なくとも1つの強制接続点を有するクランピング 回路を提供する段階と、 強制接続点に接続され第2の電圧を提供する第2の電圧源を提供する段階とを 含み、第2の電圧が印加されない場合に強制接続点が第1の電圧に接続され、第 2の電圧が印加された場合に強制接続点が第2の電圧よりも低い第3の電圧に接 続されることを特徴とする方法。
JP8521066A 1994-12-30 1995-12-19 非分離形集積回路の基板 Ceased JPH10511813A (ja)

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