JPH1054791A - 光学的測定装置 - Google Patents
光学的測定装置Info
- Publication number
- JPH1054791A JPH1054791A JP22765496A JP22765496A JPH1054791A JP H1054791 A JPH1054791 A JP H1054791A JP 22765496 A JP22765496 A JP 22765496A JP 22765496 A JP22765496 A JP 22765496A JP H1054791 A JPH1054791 A JP H1054791A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plate
- optical measuring
- power supply
- heat
- measuring device
- Prior art date
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- Pending
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】放熱効果に優れ高信頼性の光学的測定装置を提
供することである。 【解決手段】箱体１の少なくとも一面に介在体１４を介
して設けられた板体１３と、この板体１３に設けられた
電源１０とを備えるようにした光学的測定装置である。
供することである。 【解決手段】箱体１の少なくとも一面に介在体１４を介
して設けられた板体１３と、この板体１３に設けられた
電源１０とを備えるようにした光学的測定装置である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、測定対象の性状
を測定する光学的測定装置に関するものである。
を測定する光学的測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光を利用して被測定対象の水分等の性状
を測定する光学的測定装置は、被測定対象に光を投光す
る投光手段、被測定対象からの光を受光する検出素子を
含む光学系、電子部品を含む測定回路部等で構成されて
いる。
を測定する光学的測定装置は、被測定対象に光を投光す
る投光手段、被測定対象からの光を受光する検出素子を
含む光学系、電子部品を含む測定回路部等で構成されて
いる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】そして、これら装置に
は、光源等の投光手段、測定回路部に対し電源を供給す
る電源を内蔵しており、この電源の変換効率を７０％と
すれば、残りの３０％分は大部分が熱となり、この熱は
装置内部の温度上昇を招き、装置内部が高温となって、
検出素子、測定回路等の各種素子、その他に悪影響を与
え、測定誤差の原因となり、信頼性を低下させてしまう
ものであった。
は、光源等の投光手段、測定回路部に対し電源を供給す
る電源を内蔵しており、この電源の変換効率を７０％と
すれば、残りの３０％分は大部分が熱となり、この熱は
装置内部の温度上昇を招き、装置内部が高温となって、
検出素子、測定回路等の各種素子、その他に悪影響を与
え、測定誤差の原因となり、信頼性を低下させてしまう
ものであった。
【０００４】この発明の目的は、以上の点に鑑み、放熱
効果に優れ高信頼性化を図った光学的測定装置を提供す
ることである。
効果に優れ高信頼性化を図った光学的測定装置を提供す
ることである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は、箱体の少な
くとも一面に介在体を介して設けられた板体と、この板
体に設けられた電源とを備えるようにした光学的測定装
置である。
くとも一面に介在体を介して設けられた板体と、この板
体に設けられた電源とを備えるようにした光学的測定装
置である。
【０００６】
【発明の実施の形態】図１は、この発明の光学的測定装
置の一実施例を示す構成説明図である。図において、１
は、ほぼ直方体状の箱体で、この箱体１の例えば下部の
一面に外方がヒダ状で内方が平面状の放熱フィンような
放熱手段２が設けられている。
置の一実施例を示す構成説明図である。図において、１
は、ほぼ直方体状の箱体で、この箱体１の例えば下部の
一面に外方がヒダ状で内方が平面状の放熱フィンような
放熱手段２が設けられている。
【０００７】そして、光源３の光はレンズ４で集光さ
れ、モータ５で回転する回転板５０に投光される。この
回転板５０は交互に円周上に配置された複数のフィルタ
５１…を有し、光源３からの光は、測定時に各フィルタ
５１…のいずれかを順次透過し、ミラー６を介し、放熱
手段２に形成された窓部のうち内側の透明体の窓部６１
を介し測定対象に投光される。測定対象からの反射した
光は、外側の透明体の窓部６２を介し上方の凹面鏡７１
で集光され、その下方の凸面鏡７２を反射し凹面鏡７１
の中央の検出素子８に入射する。なお、レンズ４、回転
板５０、ミラー６、凹面鏡７１、凸面鏡７２等で投光用
又は受光用の光学系を構成している。
れ、モータ５で回転する回転板５０に投光される。この
回転板５０は交互に円周上に配置された複数のフィルタ
５１…を有し、光源３からの光は、測定時に各フィルタ
５１…のいずれかを順次透過し、ミラー６を介し、放熱
手段２に形成された窓部のうち内側の透明体の窓部６１
を介し測定対象に投光される。測定対象からの反射した
光は、外側の透明体の窓部６２を介し上方の凹面鏡７１
で集光され、その下方の凸面鏡７２を反射し凹面鏡７１
の中央の検出素子８に入射する。なお、レンズ４、回転
板５０、ミラー６、凹面鏡７１、凸面鏡７２等で投光用
又は受光用の光学系を構成している。
【０００８】又、電源１０が光源３の上方の箱体１の板
体１３に設けられ、この板体１３はパッキンのような非
金属の介在体１４を介して箱体１に設けられ気密、熱絶
縁が図られる。又、検出素子８の信号は測定部９で測定
され、端子部１１から外部へ出力され、外部との信号の
やり取りが行われる。
体１３に設けられ、この板体１３はパッキンのような非
金属の介在体１４を介して箱体１に設けられ気密、熱絶
縁が図られる。又、検出素子８の信号は測定部９で測定
され、端子部１１から外部へ出力され、外部との信号の
やり取りが行われる。
【０００９】このように、電源１０の熱は、晩体１３か
ら外方へ効果的に放熱され、氏かも、介在体１４によ
り、内部に熱が侵入することを防止できる。
ら外方へ効果的に放熱され、氏かも、介在体１４によ
り、内部に熱が侵入することを防止できる。
【００１０】更に、図１において、電源１０は、上方の
板体１３に設け放熱するようにした例を示したが、放熱
手段２の光源３と同一平面上の放熱手段２の内面に設け
るようにしてもよい。
板体１３に設け放熱するようにした例を示したが、放熱
手段２の光源３と同一平面上の放熱手段２の内面に設け
るようにしてもよい。
【００１１】又、放熱手段２の位置や、電源１０を設け
る板体１３の位置は箱体１の外板を構成する面であれば
どの面であってもよい。例えば、図２で示すように、箱
体１の上方に介在体１４を介し、放熱手段２を設け、こ
れに電源１０を設け、放熱するようにしてもよく、同様
に放熱効果を高めることができる。
る板体１３の位置は箱体１の外板を構成する面であれば
どの面であってもよい。例えば、図２で示すように、箱
体１の上方に介在体１４を介し、放熱手段２を設け、こ
れに電源１０を設け、放熱するようにしてもよく、同様
に放熱効果を高めることができる。
【００１２】
【発明の効果】この発明は、箱体の少なくとも一面に介
在体を介して設けられた板体と、この板体に設けられた
電源とを備えるようにした光学的測定装置である。この
ため、電源を箱体の外面の板体に、気密、熱絶縁を兼ね
た介在体を介して取り付けることで、電源の発熱は外方
に効果的に放熱され、熱が内部に侵入して加熱すること
がなく、内部の検出素子、電子部品、そして光学部品等
に熱的影響を与えず劣化を防止し、高精度で安定したな
測定を可能とし、高信頼性を維持できる。又、電源を放
熱手段に設けるようにすれば、いっそう放熱効果に優れ
たものとなる。
在体を介して設けられた板体と、この板体に設けられた
電源とを備えるようにした光学的測定装置である。この
ため、電源を箱体の外面の板体に、気密、熱絶縁を兼ね
た介在体を介して取り付けることで、電源の発熱は外方
に効果的に放熱され、熱が内部に侵入して加熱すること
がなく、内部の検出素子、電子部品、そして光学部品等
に熱的影響を与えず劣化を防止し、高精度で安定したな
測定を可能とし、高信頼性を維持できる。又、電源を放
熱手段に設けるようにすれば、いっそう放熱効果に優れ
たものとなる。
【図１】この発明の一実施例を示す構成説明図である。
【図２】この発明の一実施例を示す構成説明図である。
１ 箱体 ２ 放熱手段 ３ 光源（投光手段） ４ レンズ ５ モータ ５０ 回転板 ５１ フィルタ ６ ミラー ７１ 凹面鏡 ７２ 凸面鏡 ８ 検出素子 ９ 測定部 １３ 板体 １４ 介在体
Claims (2)
- 【請求項１】箱体の少なくとも一面に介在体を介して設
けられた板体と、この板体に設けられた電源とを備えた
ことを特徴とする光学的測定装置。 - 【請求項２】前記板体が、放熱手段であることを特徴と
する請求項１記載の光学的測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22765496A JPH1054791A (ja) | 1996-08-09 | 1996-08-09 | 光学的測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22765496A JPH1054791A (ja) | 1996-08-09 | 1996-08-09 | 光学的測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1054791A true JPH1054791A (ja) | 1998-02-24 |
Family
ID=16864257
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22765496A Pending JPH1054791A (ja) | 1996-08-09 | 1996-08-09 | 光学的測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1054791A (ja) |
-
1996
- 1996-08-09 JP JP22765496A patent/JPH1054791A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040726 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040803 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041126 |