JPH1056033A - Looping adjustment method for wire bonding equipment - Google Patents

Looping adjustment method for wire bonding equipment

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JPH1056033A
JPH1056033A JP8224623A JP22462396A JPH1056033A JP H1056033 A JPH1056033 A JP H1056033A JP 8224623 A JP8224623 A JP 8224623A JP 22462396 A JP22462396 A JP 22462396A JP H1056033 A JPH1056033 A JP H1056033A
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loop height
moving
looping
wire
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Yasuo Masuzawa
保雄 増澤
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Kaijo Corp
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Kaijo Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 作業者の経験等に依存すること無くループ高
さを統一的に調整でき、また、その調整工数も少なくで
きるワイヤボンディング装置のルーピング調整方法を提
供する。 【解決手段】 第1のボンディング点B1から第2のボ
ンディング点B2に向かって移動するキャピラリィの移
動軌跡のデータをキャピラリィの制御データとしてコン
トローラのメモリ等に格納するボンディング装置であっ
て、上昇高さT1や水平移動距離T2の変化量に対する
ワイヤ3のルーピング高さHの変化量をデータテーブル
としてコントローラのメモリ等に予め格納し、ルーピン
グを行った際のワイヤ3の実際のルーピング高さHを計
測して目標ループ高さとの偏差を算出し、この偏差を基
にデータテーブルから目標ループ高さが得られる上昇高
さT1や水平移動距離T2を検索して軌跡データを書き
換えるように構成した。
(57) [Summary] (with correction) [Problem] To provide a looping adjustment method of a wire bonding apparatus that can uniformly adjust a loop height without depending on the experience of an operator and can reduce the number of adjustment steps. I do. SOLUTION: The bonding apparatus stores data of a movement locus of a capillary moving from a first bonding point B1 toward a second bonding point B2 in a memory or the like of a controller as control data of the capillary. The change amount of the looping height H of the wire 3 with respect to the change amount of the horizontal movement distance T2 is stored in a memory of a controller or the like in advance as a data table, and the actual looping height H of the wire 3 when looping is performed is measured. Then, a deviation from the target loop height is calculated, and based on the deviation, the ascending height T1 and the horizontal movement distance T2 at which the target loop height can be obtained are retrieved from the data table to rewrite the trajectory data.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】この発明は、ワイヤボンディ
ング装置のルーピング調整方法、特に、キャピラリィの
移動軌跡を変更してワイヤループ高さを調整するルーピ
ング調整方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a looping adjustment method for a wire bonding apparatus, and more particularly, to a looping adjustment method for changing a moving locus of a capillary to adjust a wire loop height.

【0002】[0002]

【従来の技術】ワイヤボンディング装置は、図2に示す
ように、ルーピングを行い、半導体チップ1上の第1の
ボンディング点B1とリードフレーム2上の第2のボン
ディング点B2との間にワイヤ3を所定のループ高さH
で接続する。そして、このルーピングに際しては、ワイ
ヤが挿通されたキャピラリィを3次元的に駆動して所定
の軌跡で移動させている。
2. Description of the Related Art As shown in FIG. 2, a wire bonding apparatus performs looping so that a wire 3 is provided between a first bonding point B1 on a semiconductor chip 1 and a second bonding point B2 on a lead frame 2. To the predetermined loop height H
Connect with. During this looping, the capillary into which the wire has been inserted is driven three-dimensionally and moved along a predetermined trajectory.

【0003】従来、上述したキャピラリィの軌跡として
は、図1に示すように、キャピラリィを半導体チップ1
上の第1のボンディング点B1から略真上に距離T1だ
け第1の中間点M1まで上昇させ(垂直移動部分)、続
いて、第2のボンディング点B2と反対方向へ距離T2
だけ第2の中間点M2まで略水平に移動させ(水平移動
部分)、次いで、第2の中間点M2から目標とするルー
プ高さに対応した高さまで上昇させた後に第2のボンデ
ィング点B2に移動させる(半円形移動降下部分)もの
等が採用されていた。
Conventionally, the trajectory of the above-mentioned capillary is, as shown in FIG.
The first bonding point B1 is raised almost directly above the first bonding point B1 by a distance T1 to a first intermediate point M1 (vertically moving portion), and subsequently, a distance T2 in a direction opposite to the second bonding point B2.
Is moved substantially horizontally to the second intermediate point M2 (horizontal moving portion), and then moved from the second intermediate point M2 to a height corresponding to a target loop height, and then moved to the second bonding point B2. A moving part (a semicircular moving part) has been employed.

【0004】そして、ワイヤ3のループ高さHを調整す
る場合は、先ず、実際のループ高さHを測定し、目標値
と異なる場合には上述した半円形移動降下部分の最大上
昇高さ、ワイヤの張力あるいはキャピラリィの移動速度
等の数多いパラメータ(制御因子)の中から適当と思わ
れるパラメータを選択してその値を調整した後、実際の
ループ高さHを再度測定して確認するという作業を行っ
ていた。
When the loop height H of the wire 3 is adjusted, first, the actual loop height H is measured. A task of selecting an appropriate parameter from among a large number of parameters (control factors) such as the wire tension or the moving speed of the capillary, adjusting the value, and then measuring and confirming the actual loop height H again. Had gone.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のループ高さの調整にあっては、パラメータの選
択や調整量等は作業者の経験によらざるを得ず、統一的
な調整が困難であり、また、パラメータを調整した後も
実際のループ高さHが目標値と異なる場合は同一の作業
を繰り返し行わなければならず、調整作業工数が大きい
という問題があった。この発明は、上記問題に鑑みなさ
れたもので、ループ高さを統一的に調整でき、また、そ
の調整工数も少なくできるワイヤボンディング装置のル
ーピング調整方法を提供することを目的とする。
However, in the above-described conventional adjustment of the loop height, it is difficult to make uniform adjustments because the selection of parameters, the amount of adjustment, and the like are dependent on the experience of the operator. In addition, when the actual loop height H is different from the target value even after the parameter is adjusted, the same operation must be repeatedly performed, and there is a problem that the number of adjustment operations is large. The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a looping adjustment method for a wire bonding apparatus capable of uniformly adjusting a loop height and reducing the number of adjustment steps.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明にかかるワイヤボンディング装置のルーピ
ング調整方法は、第1のボンディング点から第2のボン
ディング点に向かって移動するキャピラリィの移動軌跡
が、第1のボンディング点から該第1のボンディング点
の真上に向かって上昇する垂直移動部分と、該垂直移動
部分から続いて前記第2のボンディング点と水平に逆方
向に向かって移動する水平移動部分と、該水平移動部分
に続いて略真上方向に移動した後に前記第2のボンディ
ング点に向かう半円形移動降下部分とを含むワイヤボン
ディング装置において、前記垂直移動部分の上昇距離の
変化量および前記水平移動部分の水平移動距離の変化量
とワイヤループ高さの変化量との関係を表すデータテー
ブルを作成するとともに、実際のワイヤループ高さを測
定し、該測定された実際のワイヤループ高さと目標ワイ
ヤループ高さとの偏差を算出して該偏差を基に前記デー
タテーブルから上昇距離と水平移動距離を検索し、該検
索された上昇距離と水平移動距離とに基づき前記キャピ
ラリィの移動軌跡の垂直移動部分の上昇距離と水平移動
部分の水平移動距離とを補正するように構成した。
In order to achieve the above object, a method of adjusting looping of a wire bonding apparatus according to the present invention is characterized in that a moving locus of a capillary moving from a first bonding point to a second bonding point is adjusted. A vertically moving portion ascending from the first bonding point to a position directly above the first bonding point, and a horizontally moving portion horizontally moving in a direction opposite to the second bonding point from the vertical moving portion. In a wire bonding apparatus including a moving part and a semicircular moving and descending part which moves substantially directly upward following the horizontal moving part and then heads toward the second bonding point, a change amount of a rising distance of the vertical moving part And creating a data table representing the relationship between the amount of change in the horizontal movement distance of the horizontal movement portion and the amount of change in the wire loop height. Then, an actual wire loop height is measured, a deviation between the measured actual wire loop height and a target wire loop height is calculated, and a rising distance and a horizontal moving distance are searched from the data table based on the deviation. Then, the rising distance of the vertical movement part and the horizontal movement distance of the horizontal movement part of the movement trajectory of the capillary are corrected based on the retrieved rising distance and the horizontal movement distance.

【0007】[0007]

【作用】この発明にかかるワイヤボンディング装置のル
ーピング調整方法は、ループ高さがキャピラリィの移動
軌跡の垂直移動部分の上昇距離と水平移動部分の水平移
動距離とによっても影響を受け、これら上昇距離や水平
移動距離を変えることでループ高さも変化するという発
見に基づき、上昇距離と水平移動距離の変化量に対する
ループ高さの変化量の関係をデータテーブルとして作成
する。そして、ループ高さの初期設定として前述した半
円形移動降下部分の上昇高さを目標ループ高さ等に応じ
て設定し、この設定条件の下でボンディングを行って実
際のループ高さを測定し、この測定された実際のループ
高さと目標ループ高さとの偏差に応じて上昇距離や水平
移動距離を補正する。このため、ループ高さを統一的な
手法で調整でき、また、1回の調整で目標ループ高さが
得られ、調整工数を少なくできる。
According to the looping adjusting method of the wire bonding apparatus according to the present invention, the loop height is also affected by the rising distance of the vertical moving portion of the moving path of the capillary and the horizontal moving distance of the horizontal moving portion. Based on the finding that changing the horizontal movement distance also changes the loop height, a relationship between the rising distance and the change amount of the horizontal movement distance with respect to the change amount of the loop height is created as a data table. Then, as the initial setting of the loop height, the rising height of the above-described semicircular moving / falling portion is set according to the target loop height, etc., and bonding is performed under the set conditions to measure the actual loop height. The ascending distance and the horizontal moving distance are corrected according to the deviation between the measured actual loop height and the target loop height. For this reason, the loop height can be adjusted by a unified method, the target loop height can be obtained by one adjustment, and the number of adjustment steps can be reduced.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面を参照して説明する。この発明の一の実施の形態は、
前述した図2に示すように、半導体チップ1の第1のボ
ンディング点B1とリードフレーム2の第2のボンディ
ング点B2との間にワイヤ3を所定のループ高さHで接
続する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. One embodiment of the present invention is:
As shown in FIG. 2, the wire 3 is connected at a predetermined loop height H between the first bonding point B1 of the semiconductor chip 1 and the second bonding point B2 of the lead frame 2.

【0009】そして、ボンディング(ルーピング)に際
しては、先ず、キャピラリィを駆動するXYZロボット
の制御データをボンディング装置のコントローラに入力
し、コントローラのメモリ等に格納する。この制御デー
タは、キャピラリィの軌跡のデータと、補正データを含
む。
At the time of bonding (looping), first, control data of the XYZ robot for driving the capillary is input to the controller of the bonding apparatus and stored in a memory or the like of the controller. The control data includes data of the trajectory of the capillary and correction data.

【0010】キャピラリィの軌跡は、前述した図1に示
すように、半導体チップ1上の第1のボンディング点B
1から略真上に距離T1だけ第1の中間点M1まで上昇
する垂直移動部分と、第1の中間点M1から第2のボン
ディング点B2と反対方向へ距離T2だけ第2の中間点
M2まで略水平に移動する水平移動部分と、第2の中間
点M2から目標とするループ高さHに対応した高さT3
まで上昇した後に第2のボンディング点B2に移動する
半円形移動降下部分とを含む。
The trajectory of the capillary is, as shown in FIG. 1 described above, the first bonding point B on the semiconductor chip 1.
A vertical movement portion that rises from the first intermediate point M1 to a first intermediate point M1 substantially directly above the first intermediate point M1, and a distance T2 from the first intermediate point M1 to the second intermediate point M2 in a direction opposite to the second bonding point B2. A horizontal movement portion that moves substantially horizontally, and a height T3 corresponding to the target loop height H from the second intermediate point M2.
And moving to the second bonding point B2 after moving up to the second bonding point B2.

【0011】また、補正データは、垂直移動部分の上昇
距離T1の変化量および水平移動部分の水平移動距離T
2の変化量とワイヤ3のループ高さHの変化量との関係
を表すデータであって、コントローラのメモリ等にデー
タテーブル形式で格納される。このデータテーブルは、
図3に示すように、ループ高さHの設定値(目標値)と
実測値とにより上昇距離T1の変化量ΔT1と水平移動
距離T2の変化量ΔT2とを特定可能に構成される。す
なわち、このデータテーブルは、ループ高さHの各設定
値に付いてそれぞれ実測値との偏差をアドレスとして、
上昇距離T1の変化量ΔT1と水平移動距離T2の変化
量ΔT2をデータとして格納する。なお、この補正デー
タΔT1,ΔT2は経験あるいは実験により得られたデ
ータを用いる。
The correction data includes the amount of change in the ascending distance T1 of the vertical moving portion and the horizontal moving distance T1 of the horizontal moving portion.
This is data representing the relationship between the amount of change in 2 and the amount of change in the loop height H of the wire 3, and is stored in a memory or the like of the controller in a data table format. This data table is
As shown in FIG. 3, a change amount ΔT1 of the ascending distance T1 and a change amount ΔT2 of the horizontal movement distance T2 can be specified based on the set value (target value) of the loop height H and the actually measured value. That is, in this data table, for each set value of the loop height H, a deviation from an actually measured value is used as an address.
The change amount ΔT1 of the ascent distance T1 and the change amount ΔT2 of the horizontal movement distance T2 are stored as data. Note that the correction data ΔT1 and ΔT2 use data obtained by experience or experiment.

【0012】具体例を挙げて述べれば、このデータテー
ブルにあっては、ループ高さHの設定値が150μm
で、実測値が170μmであれば、上昇距離T1を増大
する値ΔT1としてAn が、水平移動距離T2を増大す
る値ΔT2としてBn が特定され、設定値と実測値が一
致すれば距離T1,T2を変化量ΔT1,ΔT2として
0が、また逆に、実測値が設定値より小さければ上昇距
離T1を減少する値、水平移動距離T2を減少する値が
特定される。
[0012] To give a specific example, in this data table, the set value of the loop height H is 150 μm.
In, if the measured value is 170 [mu] m, A n as a value ΔT1 to increase the elevating distance T1 is, B n is specified as a value ΔT2 to increase the horizontal moving distance T2, the distance if a match is actually measured value and the set value T1 , T2 are set to 0 as the change amounts ΔT1 and ΔT2, and conversely, if the measured value is smaller than the set value, a value for decreasing the ascending distance T1 and a value for decreasing the horizontal moving distance T2 are specified.

【0013】次に、ルーピングを行ってワイヤ3を半導
体チップ1とリードフレーム2に接続し、ループ高さH
を測定する。そして、この計測されたループ高さHが目
標高さと異なっている場合、計測されたループ高さHを
コントローラに入力すると、上述したデータテーブルを
用いて距離T1,T2の変更すべき値ΔT1,ΔT2を
検索する。換言すれば、コントローラは内蔵プログラム
により目標ループ高さとの偏差を算出し、この偏差をア
ドレスとして補正データから設定すべき上昇距離T1と
水平移動距離T2を検索する。そして、軌跡データの上
昇距離T1と水平移動距離T2とを検索された値、すな
わち、距離T1,T2を変化量ΔT1,ΔT2で加減し
て目標ループ高さが得られる値に書き換える。このた
め、この後に、書き換えられた軌跡データに基づきルー
ピングを行うことで目標ループ高さが得られる。
Next, the wire 3 is connected to the semiconductor chip 1 and the lead frame 2 by performing looping, and the loop height H is set.
Is measured. When the measured loop height H is different from the target height, when the measured loop height H is input to the controller, the values ΔT1 and T2 to be changed for the distances T1 and T2 using the data table described above. Search for ΔT2. In other words, the controller calculates a deviation from the target loop height by the built-in program, and searches for the ascending distance T1 and the horizontal movement distance T2 to be set from the correction data using the deviation as an address. Then, the ascending distance T1 and the horizontal movement distance T2 of the trajectory data are rewritten to the retrieved values, that is, the values obtained by adding and subtracting the distances T1 and T2 with the change amounts ΔT1 and ΔT2 to obtain the target loop height. Therefore, after this, the target loop height can be obtained by performing looping based on the rewritten trajectory data.

【0014】なお、上述した補正データは、その形式に
付いて詳細な説明を省略しているが、ループ高さの偏差
に対する上昇距離の二次元的なテーブルと、ループ高さ
の偏差に対する水平移動距離の二次元的なテーブルから
構成することも可能であり、これら3者の関係を三次元
的に示すテーブルから構成することも可能であり、その
形式は適宜選択できる。
Although the detailed description of the format of the above-mentioned correction data is omitted, a two-dimensional table of the ascending distance with respect to the deviation of the loop height and a horizontal movement with respect to the deviation of the loop height are provided. It is also possible to construct a two-dimensional table of distances, and it is also possible to construct a three-dimensional table showing the relationship of these three parties, and the format can be selected as appropriate.

【0015】また、上述した実施の形態にあっては、ボ
ンディング装置のコントローラにプログラムを格納し、
このプログラムの実行により、すなわち、計測されたル
ープ高さを入力しプログラムを実行して自動的に軌跡デ
ータを書き換えるが、作業者自らが軌跡データを書き換
えることもでき、また、作業者が偏差を計算して偏差を
コントローラに入力することも可能である。
In the above-described embodiment, the program is stored in the controller of the bonding apparatus.
By executing this program, that is, the measured loop height is input and the program is executed to automatically rewrite the trajectory data, but the operator himself can also rewrite the trajectory data, It is also possible to calculate and input the deviation to the controller.

【0016】さらに、上述した実施の形態では、第1の
ボンディング点B1から第1の中間点M1を経て第2の
中間点M2に至る軌跡を例示するが、図4に実線で示す
ような軌跡、すなわち、点M1,M2が明瞭に現れない
軌跡にも本発明を適用することができることは述べるま
でもない。
Further, in the above-described embodiment, the trajectory from the first bonding point B1 to the second intermediate point M2 via the first intermediate point M1 is exemplified, but the trajectory shown by a solid line in FIG. That is, it goes without saying that the present invention can be applied to a locus where the points M1 and M2 do not clearly appear.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上説明したように、この発明にかかる
ワイヤボンディング装置のルーピング調整方法によれ
ば、上昇高さや水平移動距離の変化量に対するワイヤの
ルーピング高さの変化量をデータテーブルとしてボンデ
ィング装置のコントローラ等に予め格納し、ルーピング
を行った際のワイヤのルーピング高さを計測して目標ル
ープ高さとの偏差を算出し、この偏差を基にデータテー
ブルから目標ループ高さが得られる上昇高さや水平移動
距離を検索して軌跡データを書き換えるため、作業者の
経験や感に依存すること無くループ高さを統一的な手法
で調整でき、また、1回の調整で目標ループ高さが得ら
れ、調整工数を少なくできる。
As described above, according to the looping adjusting method of the wire bonding apparatus according to the present invention, the amount of change in the looping height of the wire with respect to the amount of change in the ascending height or the horizontal moving distance is used as a data table as a data table. Is stored in advance in a controller or the like, and the deviation from the target loop height is calculated by measuring the looping height of the wire when looping is performed. Based on this deviation, the climb height at which the target loop height is obtained from the data table Since the trajectory data is rewritten by searching for the pod horizontal movement distance, the loop height can be adjusted by a unified method without depending on the experience and feeling of the operator, and the target loop height can be obtained by one adjustment. Adjustment man-hours can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一の実施の形態に係るワイヤボンデ
ィング装置のルーピング調整方法に採用されたキャピラ
リィの軌跡を示す模式図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a locus of a capillary employed in a looping adjustment method of a wire bonding apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】同ルーピング調整方法により接続されたボンデ
ィングワイヤを示す。
FIG. 2 shows bonding wires connected by the looping adjustment method.

【図3】同ルーピング調整方法に用いるデータテーブル
を示す模式図である。
FIG. 3 is a schematic diagram showing a data table used in the looping adjustment method.

【図4】同ルーピング調整方法に採用されるキャピラリ
ィの他の軌跡を示す模式図である。
FIG. 4 is a schematic view showing another trajectory of the capillary employed in the looping adjustment method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体チップ 2 リードフレーム 3 ワイヤ B1 第1のボンディング点 B2 第2のボンディング点 M1 第1の中間点 M2 第2の中間点 T1 上昇距離 T2 水平移動距離 Reference Signs List 1 semiconductor chip 2 lead frame 3 wire B1 first bonding point B2 second bonding point M1 first intermediate point M2 second intermediate point T1 ascending distance T2 horizontal moving distance

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1のボンディング点から第2のボンデ
ィング点に向かって移動するキャピラリィの移動軌跡
が、第1のボンディング点から該第1のボンディング点
の真上に向かって上昇する垂直移動部分と、該垂直移動
部分から続いて前記第2のボンディング点と水平に逆方
向に向かって移動する水平移動部分と、該水平移動部分
に続いて略真上方向に移動した後に前記第2のボンディ
ング点に向かう半円形移動降下部分とを含むワイヤボン
ディング装置において、 前記垂直移動部分の上昇距離の変化量および前記水平移
動部分の水平移動距離の変化量とワイヤループ高さの変
化量との関係を表すデータテーブルを作成するととも
に、実際のワイヤループ高さを測定し、該測定された実
際のワイヤループ高さと目標ワイヤループ高さとの偏差
を算出して該偏差を基に前記データテーブルから上昇距
離と水平移動距離を検索し、該検索された上昇距離と水
平移動距離とに基づき前記キャピラリィの移動軌跡の垂
直移動部分の上昇距離と水平移動部分の水平移動距離と
を補正することを特徴とするワイヤボンディング装置の
ルーピング調整方法。
1. A vertical moving portion in which a moving trajectory of a capillary moving from a first bonding point to a second bonding point rises from the first bonding point to a position directly above the first bonding point. And a horizontal moving portion that moves from the vertical moving portion horizontally in a direction opposite to the second bonding point, and the second bonding portion moves substantially directly upward following the horizontal moving portion. A wire-bonding apparatus including a semi-circular moving and descending portion toward a point, wherein the relationship between the amount of change in the ascending distance of the vertical moving portion and the amount of change in the horizontal moving distance of the horizontal moving portion and the amount of change in the wire loop height. A data table representing the actual wire loop height is measured, and the deviation between the measured actual wire loop height and the target wire loop height is measured. Is calculated from the data table on the basis of the deviation, and based on the retrieved ascending distance and horizontal moving distance, the ascending distance and horizontal moving distance of the vertical moving portion of the moving trajectory of the capillary are calculated. A looping adjustment method for a wire bonding apparatus, comprising correcting a horizontal movement distance of a moving part.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN121547975A (en) * 2026-01-16 2026-02-17 福建杰格若科技有限公司 A circuit printing method and circuit using wire bonding

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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