JPH1056433A - 光パルス試験装置及び方法 - Google Patents
光パルス試験装置及び方法Info
- Publication number
- JPH1056433A JPH1056433A JP20955496A JP20955496A JPH1056433A JP H1056433 A JPH1056433 A JP H1056433A JP 20955496 A JP20955496 A JP 20955496A JP 20955496 A JP20955496 A JP 20955496A JP H1056433 A JPH1056433 A JP H1056433A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- optical
- measured
- test apparatus
- pulse
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 被測定光ファイバ等の特性を試験装置とのコ
ネクタ接続の状況をも含めて精度良く測定、評価できる
光パルス試験装置を提供する。 【解決手段】 パルス幅Ｔの光パルスを発生する光源
部、被測定光ファイバに光パルスを出力すると共に被測
定光ファイバとの接続部等からの反射パルス及び被測定
光ファイバ内で生じる後方散乱光を受光部に導く出入力
部、光電気変換する受光部、受光部で光電気変換された
信号を処理する信号処理部、試験装置全体を制御するＣ
ＰＵ部、及び、被測定光ファイバに対するコネクタ接続
部を有する光パルス試験装置において、出入力部に方向
性結合器を具え更に方向性結合器とコネクタ接続部との
間に（Ｔｖ／２ｎ）以上（ここで、ｖは光の速度、ｎは
光ファイバの屈折率）の長さの出入力光ファイバを具え
る。
ネクタ接続の状況をも含めて精度良く測定、評価できる
光パルス試験装置を提供する。 【解決手段】 パルス幅Ｔの光パルスを発生する光源
部、被測定光ファイバに光パルスを出力すると共に被測
定光ファイバとの接続部等からの反射パルス及び被測定
光ファイバ内で生じる後方散乱光を受光部に導く出入力
部、光電気変換する受光部、受光部で光電気変換された
信号を処理する信号処理部、試験装置全体を制御するＣ
ＰＵ部、及び、被測定光ファイバに対するコネクタ接続
部を有する光パルス試験装置において、出入力部に方向
性結合器を具え更に方向性結合器とコネクタ接続部との
間に（Ｔｖ／２ｎ）以上（ここで、ｖは光の速度、ｎは
光ファイバの屈折率）の長さの出入力光ファイバを具え
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信システムに
おける光信号伝送媒体である光ファイバ又は光ファイバ
線路の光損失特性の測定、破断等の異常の検知等のため
の光パルス試験装置及び試験方法に関する。
おける光信号伝送媒体である光ファイバ又は光ファイバ
線路の光損失特性の測定、破断等の異常の検知等のため
の光パルス試験装置及び試験方法に関する。
【０００２】光パルス試験装置は被測定光ファイバ及び
光線路の片端から測定及び試験ができるので、光ファイ
バの検査、光線路の建設及び保守の上で極めて有用なツ
ールになっている。原理的には光パルスを被測定物に送
出して被測定物内等で発生して光パルス試験装置側に戻
って来る反射光又は後方散乱光を受光し、それらを解析
して測定結果等を示すものである。
光線路の片端から測定及び試験ができるので、光ファイ
バの検査、光線路の建設及び保守の上で極めて有用なツ
ールになっている。原理的には光パルスを被測定物に送
出して被測定物内等で発生して光パルス試験装置側に戻
って来る反射光又は後方散乱光を受光し、それらを解析
して測定結果等を示すものである。
【０００３】図１は従来の光パルス試験装置の構成の概
略を示す図であって、１はパルス幅Ｔの光パルスを発生
する光源部、２は被測定光ファイバ９に光源部１からの
光パルスを出力すると共に被測定光ファイバ９からの光
パルスの反射又は後方散乱光を受光部３に導く出入力
部、４は受光部３で光電気変換した信号を処理する信号
処理部、５は全体を制御するＣＰＵ部、６は信号処理し
た結果を表示する表示部であり、この部分はこの種試験
装置において必須のものではない。７は光パルス試験装
置本体、８はコネクタ接続部であり、測定又は試験を行
おうとする被測定光ファイバ９がここに接続される。
略を示す図であって、１はパルス幅Ｔの光パルスを発生
する光源部、２は被測定光ファイバ９に光源部１からの
光パルスを出力すると共に被測定光ファイバ９からの光
パルスの反射又は後方散乱光を受光部３に導く出入力
部、４は受光部３で光電気変換した信号を処理する信号
処理部、５は全体を制御するＣＰＵ部、６は信号処理し
た結果を表示する表示部であり、この部分はこの種試験
装置において必須のものではない。７は光パルス試験装
置本体、８はコネクタ接続部であり、測定又は試験を行
おうとする被測定光ファイバ９がここに接続される。
【０００４】図２は一本の光ファイバを測定し信号処理
した結果の波形を示す図であって、この波形は光パルス
試験装置の表示部に表示され、通常ＯＴＤＲ波形といわ
れる（ＯＴＤＲは光パルス試験装置の略である）。横軸
は距離（又は光ファイバの長さ）、縦軸は受光レベル
（又は損失）である。
した結果の波形を示す図であって、この波形は光パルス
試験装置の表示部に表示され、通常ＯＴＤＲ波形といわ
れる（ＯＴＤＲは光パルス試験装置の略である）。横軸
は距離（又は光ファイバの長さ）、縦軸は受光レベル
（又は損失）である。
【０００５】波形左端のパルスピークはコネクタ接続部
８からの反射であり、傾きを持った直線部は被測定光フ
ァイバ９からの後方散乱光レベルの長手方向の変化を示
し、それに続くピークパルスは被測定光ファイバ遠端か
らのフレネル反射であり、その先はノイズレベルであ
る。Ｋ１及びＫ２は従来の光パルス試験装置が有してい
るカーソルであり、Ｋ１とＫ２との間の距離（長さ）及
びレベル差（損失差）を測定するのに用いられる。被測
定光ファイバの光損失を測定する場合には、カーソルＫ
を傾きが直線状となった後方散乱光レベルの近端側、Ｋ
２を遠端側に設定して測定する。
８からの反射であり、傾きを持った直線部は被測定光フ
ァイバ９からの後方散乱光レベルの長手方向の変化を示
し、それに続くピークパルスは被測定光ファイバ遠端か
らのフレネル反射であり、その先はノイズレベルであ
る。Ｋ１及びＫ２は従来の光パルス試験装置が有してい
るカーソルであり、Ｋ１とＫ２との間の距離（長さ）及
びレベル差（損失差）を測定するのに用いられる。被測
定光ファイバの光損失を測定する場合には、カーソルＫ
を傾きが直線状となった後方散乱光レベルの近端側、Ｋ
２を遠端側に設定して測定する。
【０００６】コネクタ接続部８の反射レベルは後方散乱
光レベルより光強度が大きいので、ここに示したように
ＯＴＤＲ波形では後方散乱光レベルに至るまで漸近して
波形が変化する。この区間は傾きが直線ではなく光損失
を測定できないのでデッドゾーンと呼ばれる。デッドゾ
ーンは反射パルスの大きさ及び光パルス幅Ｔと密接な関
係にあり、場合によっては数百ｍに及んでいた。そのた
め、従来の光パルス試験装置を用いた光損失測定におい
てはデッドゾーン部分は推定によらざるを得なかった。
光レベルより光強度が大きいので、ここに示したように
ＯＴＤＲ波形では後方散乱光レベルに至るまで漸近して
波形が変化する。この区間は傾きが直線ではなく光損失
を測定できないのでデッドゾーンと呼ばれる。デッドゾ
ーンは反射パルスの大きさ及び光パルス幅Ｔと密接な関
係にあり、場合によっては数百ｍに及んでいた。そのた
め、従来の光パルス試験装置を用いた光損失測定におい
てはデッドゾーン部分は推定によらざるを得なかった。
【０００７】また、表示部にはコネクタ接続部８からの
反射パルスの立上り部分が明瞭に表示れないために、コ
ネクタ接続部の損失評価は勿論のこと接続が良好になさ
れているか否かでさえ判断できないことがあった。これ
は、従来の光パルス試験装置は被測定光ファイバ区間内
の損失測定、破断検知等のためにのみ設計されていたた
めである。
反射パルスの立上り部分が明瞭に表示れないために、コ
ネクタ接続部の損失評価は勿論のこと接続が良好になさ
れているか否かでさえ判断できないことがあった。これ
は、従来の光パルス試験装置は被測定光ファイバ区間内
の損失測定、破断検知等のためにのみ設計されていたた
めである。
【０００８】図３は他のＯＴＤＲ波形例である。出入力
部２として音響光学スイッチ（ＡＯスイッチともいう）
等の高速光スイッチを用い、コネクタ接続部８からの反
射パルス光が受光器３に入力されないように工夫した光
パルス試験装置で得られる波形例である。コネクタ反射
パルス光が受光器に入力されないので、デッドゾーンは
短くなりその結果測定できない区間は小さくなってい
る。しかし、デッドゾーンのために被測定光ファイバの
測定装置に近い部分の測定ができないという欠点が残っ
ている。更に、デッドゾーンの左側が見えないため、コ
ネクタ接続部８の損失の測定もできない。
部２として音響光学スイッチ（ＡＯスイッチともいう）
等の高速光スイッチを用い、コネクタ接続部８からの反
射パルス光が受光器３に入力されないように工夫した光
パルス試験装置で得られる波形例である。コネクタ反射
パルス光が受光器に入力されないので、デッドゾーンは
短くなりその結果測定できない区間は小さくなってい
る。しかし、デッドゾーンのために被測定光ファイバの
測定装置に近い部分の測定ができないという欠点が残っ
ている。更に、デッドゾーンの左側が見えないため、コ
ネクタ接続部８の損失の測定もできない。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように従来
の光パルス試験装置では、被測定光ファイバ及び光ファ
イバ線路のみの損失測定、破断検知等を行うように設計
されていたので、デッドゾーン部分の特性把握ができな
いという問題、更には被測定光ファイバと光パルス試験
装置とが正常に接続されているか否かの状況判断ができ
ないという問題があった。
の光パルス試験装置では、被測定光ファイバ及び光ファ
イバ線路のみの損失測定、破断検知等を行うように設計
されていたので、デッドゾーン部分の特性把握ができな
いという問題、更には被測定光ファイバと光パルス試験
装置とが正常に接続されているか否かの状況判断ができ
ないという問題があった。
【００１０】本発明の目的は、上記の問題点に鑑み、光
パルス試験装置と接続された被測定光ファイバ等の特性
をコネクタ接続の状況をも含めて精度良く測定或いは評
価できる光パルス試験装置を提供することにある。
パルス試験装置と接続された被測定光ファイバ等の特性
をコネクタ接続の状況をも含めて精度良く測定或いは評
価できる光パルス試験装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明の光パルス試験装
置は、上記の目的を達成するため、出入力部に方向性結
合器を具え更に方向性結合器とコネクタ接続部との間に
（Ｔｖ／２ｎ）以上（ここで、ｖは光の速度、ｎは光フ
ァイバの屈折率）の長さの出入力光ファイバを具えるこ
とを特徴とする。また、光パルス試験装置が表示部を有
している場合には、出入力光ファイバの後方散乱光レベ
ル及び被測定光ファイバとのコネクタ接続部を明瞭に表
示して、コネクタ接続損失がカーソルによって容易に測
定できるようにする。更には、出入力光ファイバには、
小さい曲率で巻いて狭い光パルス試験装置内に効率よく
収納するために、カーボン又は金属で被覆を施すことが
好ましい。
置は、上記の目的を達成するため、出入力部に方向性結
合器を具え更に方向性結合器とコネクタ接続部との間に
（Ｔｖ／２ｎ）以上（ここで、ｖは光の速度、ｎは光フ
ァイバの屈折率）の長さの出入力光ファイバを具えるこ
とを特徴とする。また、光パルス試験装置が表示部を有
している場合には、出入力光ファイバの後方散乱光レベ
ル及び被測定光ファイバとのコネクタ接続部を明瞭に表
示して、コネクタ接続損失がカーソルによって容易に測
定できるようにする。更には、出入力光ファイバには、
小さい曲率で巻いて狭い光パルス試験装置内に効率よく
収納するために、カーボン又は金属で被覆を施すことが
好ましい。
【００１２】このような本発明によれば、長さ（Ｔｖ／
２ｎ）以上の出入力光ファイバを設けているので、出入
力光ファイバからの後方散乱光及び被測定光ファイバと
のコネクタ接続部が明瞭に光パルス試験装置の表示部に
示される。光の速度をｖ（m/s)、光ファイバの屈折率を
ｎとすると、パルス幅Ｔ(s) の光パルスが光ファイバ中
を伝搬する距離は、（Ｔｖ／ｎ）(m) である。光パルス
試験装置は光ファイバ内を往復伝搬した光信号を受光し
解析するので、通常は上記の距離を半分にして（Ｔｖ／
２ｎ）で表す。本発明では、出入力光ファイバの長さを
（Ｔｖ／２ｎ）以上、即ちパルス幅Ｔに相当する距離以
上にしているので、被測定光ファイバとのコネクタ接続
部からの反射光パルスは出入力光ファイバの後方散乱光
レベルに引き続いて明瞭に表示される。
２ｎ）以上の出入力光ファイバを設けているので、出入
力光ファイバからの後方散乱光及び被測定光ファイバと
のコネクタ接続部が明瞭に光パルス試験装置の表示部に
示される。光の速度をｖ（m/s)、光ファイバの屈折率を
ｎとすると、パルス幅Ｔ(s) の光パルスが光ファイバ中
を伝搬する距離は、（Ｔｖ／ｎ）(m) である。光パルス
試験装置は光ファイバ内を往復伝搬した光信号を受光し
解析するので、通常は上記の距離を半分にして（Ｔｖ／
２ｎ）で表す。本発明では、出入力光ファイバの長さを
（Ｔｖ／２ｎ）以上、即ちパルス幅Ｔに相当する距離以
上にしているので、被測定光ファイバとのコネクタ接続
部からの反射光パルスは出入力光ファイバの後方散乱光
レベルに引き続いて明瞭に表示される。
【００１３】
【発明の実施の形態】次に、図面を用いて本発明の実施
例を説明する。図４は本発明による装置の一実施例の構
成を示すブロック図であり、11は方向性結合器、12は出
入力光ファイバ、13は方向性結合器11と出入力光ファイ
バ12との融着接続部である。この他の図１に示されてい
る部分は、対応する部分と同一の参照符号を付してい
る。
例を説明する。図４は本発明による装置の一実施例の構
成を示すブロック図であり、11は方向性結合器、12は出
入力光ファイバ、13は方向性結合器11と出入力光ファイ
バ12との融着接続部である。この他の図１に示されてい
る部分は、対応する部分と同一の参照符号を付してい
る。
【００１４】方向性結合器11は光ファイバ型又は導波路
型のカプラー、又は音響光学スイッチ等からなり、光源
部で発生した光パルスを出入力光ファイバ12を経て被測
定光ファイバ８に導くと共に、出入力光ファイバ12区間
で生じた後方散乱光、被測定光ファイバ８との接続部で
発生した反射パルス光及び被測定光ファイバ８区間で生
じた後方散乱光を受光器３に導く。受光器３で光電気変
換された信号は信号処理部４で解析され、表示部６を有
する光パルス試験装置の場合にはＯＴＤＲ波形として表
示される。
型のカプラー、又は音響光学スイッチ等からなり、光源
部で発生した光パルスを出入力光ファイバ12を経て被測
定光ファイバ８に導くと共に、出入力光ファイバ12区間
で生じた後方散乱光、被測定光ファイバ８との接続部で
発生した反射パルス光及び被測定光ファイバ８区間で生
じた後方散乱光を受光器３に導く。受光器３で光電気変
換された信号は信号処理部４で解析され、表示部６を有
する光パルス試験装置の場合にはＯＴＤＲ波形として表
示される。
【００１５】図５(a) 及び(b) は、一本の光ファイバを
本発明による実施例の装置で測定した時に表示されるＯ
ＴＤＲ波形例とカーソル操作を説明する図である。波形
としては左端から出入力光ファイバの後方散乱光レベ
ル、被測定光ファイバとのコネクタ接続部からの反射パ
ルス、被測定光ファイバからの後方散乱光レベル、及び
遠端のフレネル反射が表示されている。
本発明による実施例の装置で測定した時に表示されるＯ
ＴＤＲ波形例とカーソル操作を説明する図である。波形
としては左端から出入力光ファイバの後方散乱光レベ
ル、被測定光ファイバとのコネクタ接続部からの反射パ
ルス、被測定光ファイバからの後方散乱光レベル、及び
遠端のフレネル反射が表示されている。
【００１６】カーソルＫ１は先ず図５(a) に示すよう
に、コネクタ接続部からの反射パルスの立上り点に置か
れ、Ｋ２は従来デッドゾーンといわれている領域の境界
に設置される。Ｋ１とＫ２との縦軸レベル差α１はコネ
クタ接続部の損失と従来デッドゾーン内にあった被測定
光ファイバの損失の和に関する情報を含んでいる。次に
は、Ｋ１がＫ２のあった位置に置かれ（Ｋ1'とする）、
Ｋ２は被測定光ファイバ遠端に置かれる（Ｋ2'とす
る）。Ｋ1'とＫ2'との縦軸レベル差α２は、Ｋ1'とＫ2'
との間の被測定光ファイバの損失である。レベル差α１
とα２との和は被測定光ファイバ全長の損失とコネクタ
接続部の損失との和にほぼ等しい。
に、コネクタ接続部からの反射パルスの立上り点に置か
れ、Ｋ２は従来デッドゾーンといわれている領域の境界
に設置される。Ｋ１とＫ２との縦軸レベル差α１はコネ
クタ接続部の損失と従来デッドゾーン内にあった被測定
光ファイバの損失の和に関する情報を含んでいる。次に
は、Ｋ１がＫ２のあった位置に置かれ（Ｋ1'とする）、
Ｋ２は被測定光ファイバ遠端に置かれる（Ｋ2'とす
る）。Ｋ1'とＫ2'との縦軸レベル差α２は、Ｋ1'とＫ2'
との間の被測定光ファイバの損失である。レベル差α１
とα２との和は被測定光ファイバ全長の損失とコネクタ
接続部の損失との和にほぼ等しい。
【００１７】コネクタ接続部の損失は統計的に予測でき
る。例えばＳＣ形コネクタを用いた場合には平均して
０．２dBである。従って、レベル差α１(dB)から０．２
dBを差し引きこれにα２を加算すると、被測定光ファイ
バの損失を求めることができることになる。
る。例えばＳＣ形コネクタを用いた場合には平均して
０．２dBである。従って、レベル差α１(dB)から０．２
dBを差し引きこれにα２を加算すると、被測定光ファイ
バの損失を求めることができることになる。
【００１８】一方、ＯＴＤＲ波形から接続損失を求める
場合、接続された光ファイバの特性（レーリー散乱損
失、開口数等）が異なると光ファイバ特性差に基づく見
かけ上の接続損失が測定される。その結果、上述したコ
ネクタ接続損失は光パルス試験装置で測定すると０．２
dBより大きくなったり小さくなったりして、偏差を生じ
る。種々のメーカー及び種々のロットの光ファイバを融
着接続法によりランダムに接続して偏差を実際に測定し
た。その結果は、波長１．３μm では０．１６dB、波長
１．５５μm では０．２２dB、となった。これらの値は
前述のＳＣ形コネクタの平均接続損失０．２dBと同等の
レベルである。
場合、接続された光ファイバの特性（レーリー散乱損
失、開口数等）が異なると光ファイバ特性差に基づく見
かけ上の接続損失が測定される。その結果、上述したコ
ネクタ接続損失は光パルス試験装置で測定すると０．２
dBより大きくなったり小さくなったりして、偏差を生じ
る。種々のメーカー及び種々のロットの光ファイバを融
着接続法によりランダムに接続して偏差を実際に測定し
た。その結果は、波長１．３μm では０．１６dB、波長
１．５５μm では０．２２dB、となった。これらの値は
前述のＳＣ形コネクタの平均接続損失０．２dBと同等の
レベルである。
【００１９】即ち、０．２dBの接続損失を光パルス試験
装置で測定すると０．４dBとなったり０．０dBとなった
りすることを意味する。これは一見精度が悪いと思われ
るが、従来の技術では光パルス試験装置と被測定光ファ
イバとをつなぐコネクタ接続部の損失は全く測定できな
かったことと比較すると、格段の進歩といえる。少なく
ともコネクタの接続状況の良否の判定が可能になる。
装置で測定すると０．４dBとなったり０．０dBとなった
りすることを意味する。これは一見精度が悪いと思われ
るが、従来の技術では光パルス試験装置と被測定光ファ
イバとをつなぐコネクタ接続部の損失は全く測定できな
かったことと比較すると、格段の進歩といえる。少なく
ともコネクタの接続状況の良否の判定が可能になる。
【００２０】出入力光ファイバとして、特性が世界的に
標準化されている光ファイバの中でも中心的な特性を有
するものを適用することにより、光ファイバ特性差に基
づく偏差は小さくなる。それにより、コネクタ接続損失
の算出精度が向上する。なお、出入力光ファイバと方向
性結合器との接続は、必ずしも融着接続である必要はな
く、反射損失が比較的大きなメカニカル接続等でもよ
い。
標準化されている光ファイバの中でも中心的な特性を有
するものを適用することにより、光ファイバ特性差に基
づく偏差は小さくなる。それにより、コネクタ接続損失
の算出精度が向上する。なお、出入力光ファイバと方向
性結合器との接続は、必ずしも融着接続である必要はな
く、反射損失が比較的大きなメカニカル接続等でもよ
い。
【００２１】図６は、本発明による装置の他の実施例の
構成を示すブロック図であり、21はカーボン又は金属を
被覆した出入力光ファイバ、22は外部出力用バス、23は
外部出力端子、24は接続コード、25は外部ＣＲＴ等、26
は途中に光ファイバ接続部27を有する光ファイバ線路で
ある。この実施例では、出入力光ファイバ21にはカーボ
ン又は金属を被覆しているので、信頼性を損ねることな
く小さい径で曲げることができ、光パルス試験装置を小
型化できるという利点がある。また、表示部を試験装置
内に設けずに、外部出力用バス22、外部出力端子23及び
接続コード24を介して外部ＣＲＴ等25に表示させるよう
にし、一層の小型化を図っている。
構成を示すブロック図であり、21はカーボン又は金属を
被覆した出入力光ファイバ、22は外部出力用バス、23は
外部出力端子、24は接続コード、25は外部ＣＲＴ等、26
は途中に光ファイバ接続部27を有する光ファイバ線路で
ある。この実施例では、出入力光ファイバ21にはカーボ
ン又は金属を被覆しているので、信頼性を損ねることな
く小さい径で曲げることができ、光パルス試験装置を小
型化できるという利点がある。また、表示部を試験装置
内に設けずに、外部出力用バス22、外部出力端子23及び
接続コード24を介して外部ＣＲＴ等25に表示させるよう
にし、一層の小型化を図っている。
【００２２】次に、図７に、両端に光コネクタ、途中に
光ファイバ接続部を有する光ファイバ線路を複数用意
し、光パルス試験装置で損失を測定した場合と、光源と
光パワーメータとで損失を測定した場合との比較を行っ
た結果を示す。この場合の光ファイバ線路は、長さ約５
０m で、中間に融着接続又はＭＴコネクタ接続があり、
異なる特性の光ファイバを接続したものである。両端に
光コネクタを設けたのは光源と光パワーメータとで損失
を測定するために必要であるためである。光パルス試験
装置のパルス幅は２０nsである。
光ファイバ接続部を有する光ファイバ線路を複数用意
し、光パルス試験装置で損失を測定した場合と、光源と
光パワーメータとで損失を測定した場合との比較を行っ
た結果を示す。この場合の光ファイバ線路は、長さ約５
０m で、中間に融着接続又はＭＴコネクタ接続があり、
異なる特性の光ファイバを接続したものである。両端に
光コネクタを設けたのは光源と光パワーメータとで損失
を測定するために必要であるためである。光パルス試験
装置のパルス幅は２０nsである。
【００２３】図７によれば、光パルス試験装置で損失を
測定した場合と、光源と光パワーメータとで損失を測定
した場合とを比較すると、前者による測定値は後者によ
る測定値と、０．４dB程度の精度で一致している。この
結果から、本発明による光パルス試験装置を用いれば、
このような比較的短い光ファイバ線路の損失を或る程度
の精度で測定できることが明らかになった。従来の光パ
ルス試験装置を用いてパルス幅２０nsで測定を試みた
が、このような短い光ファイバ線路ではデッドゾーンの
ために損失の測定ができず、本発明の有効性が確認され
た。
測定した場合と、光源と光パワーメータとで損失を測定
した場合とを比較すると、前者による測定値は後者によ
る測定値と、０．４dB程度の精度で一致している。この
結果から、本発明による光パルス試験装置を用いれば、
このような比較的短い光ファイバ線路の損失を或る程度
の精度で測定できることが明らかになった。従来の光パ
ルス試験装置を用いてパルス幅２０nsで測定を試みた
が、このような短い光ファイバ線路ではデッドゾーンの
ために損失の測定ができず、本発明の有効性が確認され
た。
【００２４】
【発明の効果】以上述べたように、本発明は光パルス試
験装置において、方向性結合器とコネクタ接続部との間
に出入力光ファイバを挿入することにより、被測定光フ
ァイバ近端部の状況をコネクタ接続状態をも含めて良否
判定を可能にするものである。出入力光ファイバとして
カーボン又は金属を被覆したものを用いることにより、
小型の光パルス試験装置を実現することができる。ま
た、中心的な光ファイバ特性を有するものを用いること
により、被測定光ファイバの測定精度を向上することが
できる。
験装置において、方向性結合器とコネクタ接続部との間
に出入力光ファイバを挿入することにより、被測定光フ
ァイバ近端部の状況をコネクタ接続状態をも含めて良否
判定を可能にするものである。出入力光ファイバとして
カーボン又は金属を被覆したものを用いることにより、
小型の光パルス試験装置を実現することができる。ま
た、中心的な光ファイバ特性を有するものを用いること
により、被測定光ファイバの測定精度を向上することが
できる。
【００２５】更には、前述したように、光パルス試験装
置は被測定光ファイバの片端から測定及び試験等ができ
る極めて有効な試験装置であり、本発明によれば、この
ような光パルス試験装置の改良により、片端のみにコネ
クタを有する光ファイバ及び光ファイバ線路の全区間の
損失測定及びコネクタ接続部の評価が可能になり、光フ
ァイバ線路の建設及び保守を行う際の線路損失測定稼働
を短縮できる。
置は被測定光ファイバの片端から測定及び試験等ができ
る極めて有効な試験装置であり、本発明によれば、この
ような光パルス試験装置の改良により、片端のみにコネ
クタを有する光ファイバ及び光ファイバ線路の全区間の
損失測定及びコネクタ接続部の評価が可能になり、光フ
ァイバ線路の建設及び保守を行う際の線路損失測定稼働
を短縮できる。
【図１】従来の光パルス試験装置の構成の概略を示す図
である。
である。
【図２】一本の光ファイバを測定し信号処理した結果の
波形を示す図である。
波形を示す図である。
【図３】他のＯＴＤＲ波形例である。
【図４】本発明による装置の一実施例の構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図５】一本の光ファイバを本発明による実施例の装置
で測定した時に表示されるＯＴＤＲ波形例とカーソル操
作を説明する図である。
で測定した時に表示されるＯＴＤＲ波形例とカーソル操
作を説明する図である。
【図６】本発明による装置の他の実施例の構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図７】光パルス試験装置で損失を測定した場合と、光
源と光パワーメータとで損失を測定した場合との比較を
行った結果を示す図である。
源と光パワーメータとで損失を測定した場合との比較を
行った結果を示す図である。
１ 光源部 ２ 出入力部 ３ 受光部 ４ 信号処理部 ５ ＣＰＵ部 ６ 表示部 ７ 光パルス試験装置本体 ８ コネクタ接続部 ９ 被測定光ファイバ １１ 方向性結合器 １２ 出入力光ファイバ １３ 融着接続部 ２１ カーボン又は金属を被覆した出入力光ファイバ ２２ 外部出力用バス ２３ 外部出力端子 ２４ 接続コード ２５ 外部ＣＲＴ ２６ 光ファイバ線路 ２７ 光ファイバ接続部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｂ 10/14 Ｈ０４Ｂ 9/00 Ｑ 10/135 10/13 10/12
Claims (4)
- 【請求項１】 パルス幅Ｔの光パルスを発生する光源
部、被測定光ファイバに光パルスを出力すると共に被測
定光ファイバとの接続部等からの反射パルス及び被測定
光ファイバ内で生じる後方散乱光を受光部に導く出入力
部、光電気変換する受光部、受光部で光電気変換された
信号を処理する信号処理部、試験装置全体を制御するＣ
ＰＵ部、及び、被測定光ファイバに対するコネクタ接続
部を有する光パルス試験装置において、出入力部に方向
性結合器を具え更に方向性結合器とコネクタ接続部との
間に（Ｔｖ／２ｎ）以上（ここで、ｖは光の速度、ｎは
光ファイバの屈折率）の長さの出入力光ファイバを具え
ることを特徴とする光パルス試験装置。 - 【請求項２】 更に、出入力光ファイバからの後方散乱
光レベルを表示する表示部を具えることを特徴とする請
求項１に記載の光パルス試験装置。 - 【請求項３】 出入力光ファイバがカーボン又は金属で
被覆された光ファイバからなることを特徴とする請求項
１又は２に記載の光パルス試験装置。 - 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれか１項に記載の
光パルス試験装置を用いて反射光及び後方散乱光を測定
しＯＴＤＲ波形を得、この波形のコネクタ接続部からの
反射パルスの立上り点のレベルと被測定光ファイバ遠端
に対応する点のレベルとのレベル差から、被測定光ファ
イバ全長の損失とコネクタ接続部の損失との和を求める
ことを特徴とする光パルス試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20955496A JP3465733B2 (ja) | 1996-08-08 | 1996-08-08 | 光パルス試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20955496A JP3465733B2 (ja) | 1996-08-08 | 1996-08-08 | 光パルス試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1056433A true JPH1056433A (ja) | 1998-02-24 |
| JP3465733B2 JP3465733B2 (ja) | 2003-11-10 |
Family
ID=16574751
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20955496A Expired - Fee Related JP3465733B2 (ja) | 1996-08-08 | 1996-08-08 | 光パルス試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3465733B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100354744C (zh) * | 2001-04-02 | 2007-12-12 | 日本电气株式会社 | 用于测量,控制喇曼增益的方法和装置以及喇曼放大器 |
| JP2008249516A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Occ Corp | 温度分布測定装置及び温度分布測定方法 |
| JP2010509580A (ja) * | 2006-11-08 | 2010-03-25 | フォテク・ソリューションズ・リミテッド | 光導波路を伝播する光の位相の障害検出 |
-
1996
- 1996-08-08 JP JP20955496A patent/JP3465733B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100354744C (zh) * | 2001-04-02 | 2007-12-12 | 日本电气株式会社 | 用于测量,控制喇曼增益的方法和装置以及喇曼放大器 |
| JP2010509580A (ja) * | 2006-11-08 | 2010-03-25 | フォテク・ソリューションズ・リミテッド | 光導波路を伝播する光の位相の障害検出 |
| JP2008249516A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Occ Corp | 温度分布測定装置及び温度分布測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3465733B2 (ja) | 2003-11-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9709460B2 (en) | Method and system for measuring an optical loss value of an optical fiber link | |
| US4838690A (en) | Simultaneous bi-directional optical time domain reflectometry method | |
| JP5948368B2 (ja) | 光ファイバの特性評価方法 | |
| CN108957209B (zh) | 一种通信光纤光缆生产用的断线自动检测装置 | |
| US11169051B2 (en) | Optical testing devices and related methods | |
| US20230288287A1 (en) | Power coupling coefficient measuring method and power coupling coefficient measuring device | |
| EP0145343A2 (en) | Optical fibre test method and apparatus for performing the method | |
| JP7624651B2 (ja) | 光学特性測定方法および光学特性測定装置 | |
| JPH03150442A (ja) | 光学故障点探索装置 | |
| DE3721823A1 (de) | Verfahren zur messung der von einer reflexionsstelle reflektierten optischen strahlungsleistung | |
| JP3069244B2 (ja) | 多芯光ファイバの検査装置 | |
| US7164469B1 (en) | Method of evaluating fiber PMD using composite POTDR trace | |
| JP3465733B2 (ja) | 光パルス試験方法 | |
| JP7624653B2 (ja) | 光学特性測定方法および光学特性測定装置 | |
| JP6924791B2 (ja) | 現場組立光コネクタ内の光ファイバ接続部の光接続の良否を判断する装置 | |
| CN109660294B (zh) | 一种光纤智能匹配系统、方法及装置 | |
| JP2001083040A (ja) | 光ファイバケーブルの試験方法 | |
| JP4246037B2 (ja) | 光線路特性の解析方法及び光線路試験監視システム | |
| CN118523834A (zh) | 一种基于两头背向散射时差的光纤断点检测方法 | |
| JPH10160635A (ja) | 多心光ファイバのスキュー検査方法およびスキュー検査装置 | |
| KR101923391B1 (ko) | 하프미러와 반사억제 구조를 적용한 광섬유손실측정기용 광모듈 | |
| JP5992482B2 (ja) | 芯線検査装置および芯線検査方法 | |
| JPH11142293A (ja) | Ｏｔｄｒ装置 | |
| JPH02176535A (ja) | 光線路監視装置 | |
| DE102018205722A1 (de) | Abstandsmessung mittels Reflektometrie in Lichtwellenleitern |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080829 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080829 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090829 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090829 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100829 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100829 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110829 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120829 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130829 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |