JPH1058735A - Electrode substrate - Google Patents

Electrode substrate

Info

Publication number
JPH1058735A
JPH1058735A JP22354896A JP22354896A JPH1058735A JP H1058735 A JPH1058735 A JP H1058735A JP 22354896 A JP22354896 A JP 22354896A JP 22354896 A JP22354896 A JP 22354896A JP H1058735 A JPH1058735 A JP H1058735A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
resist layer
toner
insulating substrate
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22354896A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuisa Kobayashi
靖功 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Brother Industries Ltd
Original Assignee
Brother Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Brother Industries Ltd filed Critical Brother Industries Ltd
Priority to JP22354896A priority Critical patent/JPH1058735A/en
Publication of JPH1058735A publication Critical patent/JPH1058735A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Printers Or Recording Devices Using Electromagnetic And Radiation Means (AREA)
  • Electrophotography Using Other Than Carlson'S Method (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電極基板において、レジスト層3の周辺部3
2付近におけるレジスト層3とベースフィルム2との密
着を向上させる。 【解決手段】 アパチャ電極1は絶縁性基板としてのベ
ースフィルム2と、等間隔に一列に配置された多数の開
口部5と、各開口部5に対応して配置される多数の制御
電極6からなる電極パターン33と、その電極パターン
33を保護するレジスト層3とから構成されている。制
御電極6の先端となるIC実装部30にはワイヤーボン
ディングパッド部31が備えられている。レジスト層3
はIC実装部30のみ取り除かれており、また、前記制
御電極6は、レジスト層3とIC実装部30との周辺部
32における電極幅を他の部分より細く形成してある。
(57) [Summary] [PROBLEMS] A peripheral portion 3 of a resist layer 3 on an electrode substrate.
The adhesion between the resist layer 3 and the base film 2 in the vicinity of the base film 2 is improved. SOLUTION: An aperture electrode 1 is composed of a base film 2 as an insulating substrate, a large number of openings 5 arranged in a line at equal intervals, and a large number of control electrodes 6 arranged corresponding to each opening 5. And a resist layer 3 for protecting the electrode pattern 33. A wire bonding pad 31 is provided on the IC mounting portion 30 which is the tip of the control electrode 6. Resist layer 3
Is removed from the IC mounting portion 30 only, and the control electrode 6 is formed such that the electrode width in the peripheral portion 32 between the resist layer 3 and the IC mounting portion 30 is smaller than other portions.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、複写機、プリン
タ、ファクシミリ等に適用される記録装置に用いられる
電極基板に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electrode substrate used in a recording apparatus applied to a copying machine, a printer, a facsimile, and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の電極基板として、図4に
示すように、絶縁性基板からなるベースフィルム2と、
このベースフィルム2の裏面に設けられるコート層4
と、このベースフィルム2とこのコート層4とを貫いて
設けられる開口部5と、前記ベースフィルム2の表面の
前記開口部5のまわりに設けられる制御電極6とから構
成されるアパチャ電極が提案されている。このアパチャ
電極の前記コート層4は、ポリイミドなどの樹脂に導電
性のカーボンを分散させたもので、帯電防止機能をもた
せたものである。また、アパチャ電極の表面には電極保
護層としてレジスト層3が設けられている。このレジス
ト層3はIC実装部30のみ取り除かれており、この部
分に無電解金メッキ等のメッキ処理が施された後、ワイ
ヤーボンディング等の方法でICが実装される。なお、
レジスト層3の多くは透明または半透明樹脂からなるこ
とが多いため、図4をはじめ、以降の説明図については
便宜上レジスト層3は透明の状態を想定し、レジスト層
3に覆われた制御電極6等が外観からでも認識できる状
態を示した。
2. Description of the Related Art Conventionally, as an electrode substrate of this type, as shown in FIG.
Coat layer 4 provided on the back of base film 2
An aperture electrode comprising an opening 5 provided through the base film 2 and the coat layer 4 and a control electrode 6 provided around the opening 5 on the surface of the base film 2 is proposed. Have been. The coating layer 4 of the aperture electrode is formed by dispersing conductive carbon in a resin such as polyimide, and has an antistatic function. A resist layer 3 is provided on the surface of the aperture electrode as an electrode protection layer. The resist layer 3 is removed only from the IC mounting portion 30, and after this portion is subjected to a plating process such as electroless gold plating, the IC is mounted by a method such as wire bonding. In addition,
Since most of the resist layer 3 is often made of a transparent or translucent resin, the resist layer 3 is assumed to be in a transparent state for convenience in the following explanatory diagrams including FIG. 6 and the like showed a state that could be recognized from the appearance.

【0003】このような電極基板の1つであるアパチャ
電極の搭載された記録装置の一つとして、このアパチャ
電極とその前記制御電極に電圧を印加することによって
前記開口部に電界を発生させる電界発生手段と、このア
パチャ電極の裏面の前記コート層に荷電粒子としてのト
ナーの層を介して接触配置され、トナーを帯電させた後
この帯電したトナーを前記アパチャ電極の開口部に供給
するトナー担持ローラと、このトナー担持ローラに接触
してトナー担持ローラ上のトナー層を横方向に均一な層
厚にするトナー層規制ブレードと、そのトナー担持ロー
ラにより供給され前記アパチャ電極の開口部を通過した
トナーを前記アパチャ電極の表面に所定の距離をおいて
配置される支持体に導く背面電極とを備える記録装置が
提案されている。
[0003] As one of the recording apparatuses on which an aperture electrode, which is one of such electrode substrates, is mounted, an electric field is generated by applying a voltage to the aperture electrode and its control electrode to generate an electric field in the opening. Generating means and a toner carrier that is arranged in contact with the coat layer on the back surface of the aperture electrode via a layer of toner as charged particles, and that charges the toner and then supplies the charged toner to the opening of the aperture electrode A roller, a toner layer regulating blade that contacts the toner carrying roller to make the toner layer on the toner carrying roller have a uniform thickness in the lateral direction, and is supplied by the toner carrying roller and passes through the opening of the aperture electrode. There has been proposed a recording apparatus having a back electrode for guiding toner to a support disposed at a predetermined distance from the surface of the aperture electrode.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような電極基板であるアパチャ電極においては、多数
の制御電極からなる電極パターンの保護及びメッキ不要
部へのマスキングを目的としてレジスト層が形成されて
いるが、このレジスト層はIC実装部周辺部付近での密
着性が悪く、特にメッキ処理の際にこの周辺部からメッ
キ液が浸入し、メッキ析出による隣接制御電極のショー
トやレジスト剥離等の問題が発生していた。
However, in the aperture electrode which is an electrode substrate as described above, a resist layer is formed for the purpose of protecting an electrode pattern composed of a large number of control electrodes and masking an unnecessary portion for plating. However, this resist layer has poor adhesion in the vicinity of the periphery of the IC mounting part. In particular, the plating solution infiltrates from this periphery during plating, causing problems such as short-circuiting of adjacent control electrodes due to plating deposition and resist peeling. Had occurred.

【0005】本発明は、上述した問題点を解決するため
になされたものであり、絶縁性基板とレジスト層との密
着性を改善し、メッキ処理時におけるレジスト層周辺部
からのメッキ液の浸入を防止し、メッキ析出による隣接
する電極パターンのショートやレジスト層の剥離等のな
い電極基板を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and has been made to improve the adhesion between an insulating substrate and a resist layer, and to prevent plating solution from entering the periphery of the resist layer during plating. It is an object of the present invention to provide an electrode substrate which prevents the occurrence of short-circuiting between adjacent electrode patterns due to plating deposition and peeling of a resist layer.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明の請求項1記載の電極基板は、絶縁性基板
と、その絶縁性基板上に形成された電極パターンと、そ
の電極パターンが形成された前記絶縁性基板の一部を被
覆するように形成されたレジスト層とで構成されてい
て、レジスト層周辺部における前記レジスト層と前記絶
縁性基板との接触面積を、レジスト層内部領域と比較し
て相対的に広くしている。
In order to achieve this object, an electrode substrate according to a first aspect of the present invention comprises an insulating substrate, an electrode pattern formed on the insulating substrate, and an electrode pattern formed on the insulating substrate. And a resist layer formed so as to cover a part of the insulating substrate on which the resist layer is formed, and a contact area between the resist layer and the insulating substrate in a peripheral portion of the resist layer is defined as the inside of the resist layer. It is relatively wide compared to the area.

【0007】このため、レジスト層周辺部でのレジスト
層の密着性が各段に向上し、メッキ処理時における周辺
部からのメッキ液の浸入がなく、メッキ析出による隣接
する電極パターンのショートやレジスト剥離を防止でき
る。
For this reason, the adhesiveness of the resist layer at the peripheral portion of the resist layer is improved in each step, there is no intrusion of the plating solution from the peripheral portion during the plating process, and the short-circuit of the adjacent electrode pattern due to plating deposition and the resist Peeling can be prevented.

【0008】また、請求項2記載の電極基板は、前記絶
縁性基板と前記レジスト層は同種の材料から構成されて
いる。このため、絶縁性基板とレジスト層の密着がいっ
そう強固になり、メッキ析出による隣接する電極パター
ンのショートやレジスト剥離をより確実に防止すること
ができる。
Further, in the electrode substrate according to the present invention, the insulating substrate and the resist layer are made of the same material. For this reason, the adhesion between the insulating substrate and the resist layer is further strengthened, and short circuit of the adjacent electrode pattern due to plating deposition and resist peeling can be more reliably prevented.

【0009】また、請求項3記載の電極基板は、前記絶
縁性基板がポリイミド系樹脂からなり、さらに、前記レ
ジスト層もまたポリイミド系樹脂から構成されている。
絶縁性基板及びレジスト層の材料にポリイミド系樹脂を
用いることによって基板の反りやたわみが低減される。
さらに、メッキ液に対する耐薬品性も良好でメッキ処理
に伴う絶縁性基板とレジスト層の劣化やメッキ液の汚染
が少ない。
According to a third aspect of the present invention, in the electrode substrate, the insulating substrate is made of a polyimide resin, and the resist layer is also made of a polyimide resin.
By using a polyimide resin for the material of the insulating substrate and the resist layer, the warpage and deflection of the substrate are reduced.
Further, the chemical resistance to the plating solution is good, and the deterioration of the insulating substrate and the resist layer and the contamination of the plating solution due to the plating process are small.

【0010】また、請求項4記載の電極基板は、絶縁性
基板と、その絶縁性基板上に形成された電極パターン
と、その電極パターンの一部を被覆するように絶縁性基
板に形成されたレジスト層とを備えた電極基板におい
て、レジスト層周辺部分における電極パターンの幅を他
の部分に比べて細くなるように形成している。
According to a fourth aspect of the present invention, an electrode substrate is formed on the insulating substrate so as to cover the insulating substrate, the electrode pattern formed on the insulating substrate, and a part of the electrode pattern. In the electrode substrate provided with the resist layer, the width of the electrode pattern in the peripheral portion of the resist layer is formed to be narrower than in other portions.

【0011】このため、レジスト層周辺部でのレジスト
層の密着性が各段に向上し、メッキ処理時における周辺
部からのメッキ液の浸入がなく、メッキ析出による隣接
する電極パターンのショートやレジスト剥離を防止でき
る。
For this reason, the adhesion of the resist layer at the peripheral portion of the resist layer is improved step by step, there is no intrusion of the plating solution from the peripheral portion during the plating process, and the short-circuit of the adjacent electrode pattern due to plating deposition and the resist are prevented. Peeling can be prevented.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明を具体化した一つの
実施の形態を図面を参照して説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】尚、従来の部材と同一の部材については同
一の符号を付してある。
The same members as those of the prior art are denoted by the same reference numerals.

【0014】図1は、本実施の形態であるアパチャ電極
1の構成を具体化した斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view that embodies the configuration of the aperture electrode 1 according to the present embodiment.

【0015】このアパチャ電極1は、絶縁材料からなる
板状の基板としてのベースフィルム2と、このベースフ
ィルム2の裏面に設けられるコート層としての帯電防止
摺動コート層4と、前記ベースフィルム2と帯電防止摺
動コート層4を貫くように設けられ、等間隔に一列に配
置された多数の開口部5と、前記ベースフィルム2の表
面に設けられ、前記各開口部5に対応して配置される多
数の制御電極6からなる電極パターン33と、その電極
パターン33の一部を保護するレジスト層3とから構成
されている。
The aperture electrode 1 includes a base film 2 as a plate-like substrate made of an insulating material, an antistatic sliding coat layer 4 as a coat layer provided on the back surface of the base film 2, And a plurality of openings 5 provided so as to penetrate the antistatic sliding coat layer 4 and arranged in a line at equal intervals, and provided on the surface of the base film 2 and arranged corresponding to the respective openings 5. And a resist layer 3 for protecting a part of the electrode pattern 33.

【0016】各制御電極6の先端にあるIC実装部30
にはワイヤーボンディングパッド部31が備えられてい
る。また、電極パターン33の保護層として設けられて
いるレジスト層3はIC実装部30のみ取り除かれてお
り、この部分に金メッキやはんだメッキ等のメッキ処理
が施された後、ワイヤーボンディング等の方法でICが
実装される。
IC mounting part 30 at the tip of each control electrode 6
Is provided with a wire bonding pad section 31. In addition, the resist layer 3 provided as a protective layer of the electrode pattern 33 is removed only from the IC mounting portion 30, and after this portion is subjected to a plating process such as gold plating or solder plating, a method such as wire bonding is used. An IC is mounted.

【0017】さらに、前記電極パターン33を形成する
各制御電極6は、レジスト層3とIC実装部30との周
辺部32付近における電極幅を他の部分より細く形成し
てある。その電極幅aは開口部5付近で約50μm程
度、周辺部32付近で約20μm程度であり、電極間隔
bは開口部5付近で約50μm程度、周辺部32付近で
約80μm程度である。即ち、周辺部32付近における
レジスト層3とベースフィルム2との接触面積がレジス
ト層3の内部領域と比べて大きくなるように構成されて
いる。
Further, each control electrode 6 forming the electrode pattern 33 is formed such that the electrode width in the vicinity of the peripheral portion 32 between the resist layer 3 and the IC mounting portion 30 is narrower than other portions. The electrode width a is about 50 μm near the opening 5 and about 20 μm near the peripheral part 32, and the electrode interval b is about 50 μm near the opening 5 and about 80 μm near the peripheral part 32. That is, the contact area between the resist layer 3 and the base film 2 in the vicinity of the peripheral portion 32 is configured to be larger than the inner area of the resist layer 3.

【0018】このようにして構成されたアパチャ電極1
が本発明の電極基板を構成している。
The aperture electrode 1 thus constructed
Constitute the electrode substrate of the present invention.

【0019】上述したアパチャ電極1において、前記ベ
ースフィルム2は、厚さ25〜100μmの高分子樹脂
フィルム、望ましくはポリイミド、更に限定すると宇部
興産製のポリイミドフィルム、ユーピレックスSによっ
て構成されている。前記帯電防止摺動コート層4は、高
分子樹脂インク、望ましくはポリイミドインク、更に限
定すると、宇部興産製の低温硬化型ポリイミドインクで
あるユピコートに導電性粒子としてのカーボン粒子を分
散させたインクを、スクリーン印刷法などによって塗布
した後、乾燥硬化させたものである。
In the above-described aperture electrode 1, the base film 2 is formed of a polymer resin film having a thickness of 25 to 100 μm, preferably polyimide, and more specifically, a polyimide film manufactured by Ube Industries, Upilex S. The antistatic sliding coat layer 4 is made of a polymer resin ink, desirably a polyimide ink, and more specifically, an ink obtained by dispersing carbon particles as conductive particles in Upicoat, a low-temperature curable polyimide ink manufactured by Ube Industries. After being applied by a screen printing method or the like, it is dried and cured.

【0020】前記制御電極6は、厚さ8μmの金属膜、
望ましくは銅によって構成されている。そして、各制御
電極6は制御電圧印加回路7にそれぞれ接続されてい
る。また、前記開口部5は、穴径約80μmの貫通穴で
ある。
The control electrode 6 is a metal film having a thickness of 8 μm,
Desirably, it is made of copper. Each control electrode 6 is connected to a control voltage application circuit 7. The opening 5 is a through hole having a hole diameter of about 80 μm.

【0021】前記レジスト層3はエポキシ系樹脂、紫外
線硬化型樹脂、ポリイミド系樹脂等が使用されるが、耐
薬品性に優れ、かつ、基板の反りやたわみが少ないポリ
イミド系樹脂を用いるのが好適である。レジスト層の層
厚は5〜30μm程度である。
The resist layer 3 is made of an epoxy resin, an ultraviolet curable resin, a polyimide resin, or the like, but it is preferable to use a polyimide resin having excellent chemical resistance and less warping or bending of the substrate. It is. The thickness of the resist layer is about 5 to 30 μm.

【0022】次に、本実施の形態のアパチャ電極1が搭
載された記録装置について説明する。
Next, a recording apparatus equipped with the aperture electrode 1 of the present embodiment will be described.

【0023】図2は、前記アパチャ電極1を塔載した記
録装置の構成を具体化した概略図である。装置外装26
の右側部には、画像を記録すべき支持体Pを挿入するた
めの挿入口21が設けられており、左側部には画像が記
録された支持体Pが排出される取り出し口22が設けら
れている。装置内部には、前記アパチャ電極1と、背面
電極8と、トナー帯電供給装置10とが設けられてい
る。
FIG. 2 is a schematic diagram that embodies the configuration of a recording apparatus having the aperture electrode 1 mounted thereon. Equipment exterior 26
On the right side, an insertion opening 21 for inserting a support P on which an image is to be recorded is provided, and on the left side, an outlet 22 for discharging the support P on which an image is recorded is provided. ing. Inside the apparatus, the aperture electrode 1, the back electrode 8, and the toner charge supply device 10 are provided.

【0024】トナー帯電供給装置10は、トナーケース
15と、荷電粒子担持体としてのトナー担持ローラ11
と、供給ローラ12と、トナー層厚規制ブレード13と
から構成されている。また、前記トナーケース15の内
部には、荷電粒子としてのトナー14が貯蔵されてい
る。
The toner charge supply device 10 includes a toner case 15 and a toner carrying roller 11 as a charged particle carrier.
, A supply roller 12 and a toner layer thickness regulating blade 13. The toner 14 is stored inside the toner case 15 as charged particles.

【0025】前記供給ローラ12は、前記トナー担持ロ
ーラ11表面にトナー14を供給しつつ、このトナー1
4を摩擦して帯電させるように、図2の矢印方向に回転
するように構成されている。更には、前記トナー層厚規
制ブレード13は、前記供給ローラ12によってトナー
担持ローラ11に担持されたトナー14を掻き取って、
トナー14の薄い層を形成するように、トナー担持ロー
ラ11に押し当てられる。
The supply roller 12 supplies the toner 14 to the surface of the toner carrying roller 11 and
It is configured to rotate in the direction of the arrow in FIG. Further, the toner layer thickness regulating blade 13 scrapes off the toner 14 carried on the toner carrying roller 11 by the supply roller 12,
The toner 14 is pressed against the toner carrying roller 11 so as to form a thin layer.

【0026】このトナー担持ローラ11は、トナー14
の薄い層を介して、前記アパチャ電極1の帯電防止摺動
コート層4に接触するように配置される。
The toner carrying roller 11
The aperture electrode 1 is disposed so as to be in contact with the antistatic sliding coat layer 4 of the aperture electrode 1 via a thin layer.

【0027】前記アパチャ電極1の上方に、前記背面電
極8が配置されている。更に、この背面電極8とアパチ
ャ電極1との間には支持体Pが通過できるような、例え
ば1ミリのスペースが設けられている。そして、この背
面電極8には、電源9によって、プラス1キロボルトの
電圧が印加されるようになっている。
The back electrode 8 is arranged above the aperture electrode 1. Further, a space of, for example, 1 mm is provided between the back electrode 8 and the aperture electrode 1 so that the support P can pass therethrough. A voltage of plus 1 kilovolt is applied to the back electrode 8 by a power supply 9.

【0028】支持体Pは一対のガイドローラ23によっ
て、挿入口21から背面電極8の下方へ向って搬送さ
れ、背面電極8を通過した後、内部に熱源を備えたヒー
トローラ24とプレスローラ25との間に搬送されて、
支持体上のトナー14が熱定着されるように構成されて
いる。
The support P is conveyed from the insertion opening 21 to below the rear electrode 8 by a pair of guide rollers 23, and after passing through the rear electrode 8, a heat roller 24 having a heat source therein and a press roller 25. Conveyed between
The toner 14 on the support is fixed by heat.

【0029】次に、上記のように構成された記録装置の
動作を説明する。
Next, the operation of the recording apparatus configured as described above will be described.

【0030】トナー帯電供給装置10に於て、トナーケ
ース15に貯蔵されたトナー14は、供給ローラ12が
回転することによって、トナー担持ローラ11に供給さ
れる。この時、トナー14は、トナー担持ローラ11及
び供給ローラ12と接触しつつ摩擦してマイナスに帯電
する。そして、トナー担持ローラ11が矢印方向に回転
することにより、マイナス帯電したトナー14は、トナ
ー層厚規制ブレード13を通過して、アパチャ電極1の
開口部5に接触しつつ搬送される。
In the toner charging supply device 10, the toner 14 stored in the toner case 15 is supplied to the toner carrying roller 11 by rotating the supply roller 12. At this time, the toner 14 is negatively charged by friction while being in contact with the toner carrying roller 11 and the supply roller 12. When the toner carrying roller 11 rotates in the direction of the arrow, the negatively charged toner 14 passes through the toner layer thickness regulating blade 13 and is conveyed while being in contact with the opening 5 of the aperture electrode 1.

【0031】このアパチャ電極1とトナー担持ローラ1
1との接触部分において、図3に示されるように、トナ
ー担持ローラ11上に担持されたトナー14の上層部の
トナー14は、アパチャ電極1の帯電防止摺動コート層
4と接触する部分の摩擦力によって、トナー搬送方向と
逆方向の力を受ける。一方、トナー担持ローラ11上に
担持されたトナー14の下層部のトナー14は、鏡像力
やファンデルワールス力によってトナー担持ローラ11
に付着していることによってトナー搬送方向と同方向に
力を受ける。つまり、トナー担持ローラ11上に担持さ
れたトナー14の層は、上層部と下層部とで相反する力
すなわちせん断力を受ける。従って、トナー担持ローラ
11上のトナー14は、がさがさと動きながらアパチャ
電極との接触部分を移動する。
The aperture electrode 1 and the toner carrying roller 1
As shown in FIG. 3, the toner 14 in the upper part of the toner 14 carried on the toner carrying roller 11 at the portion in contact with the antistatic sliding coat layer 4 of the aperture electrode 1. The frictional force causes a force in a direction opposite to the toner conveying direction. On the other hand, the toner 14 in the lower layer portion of the toner 14 carried on the toner carrying roller 11 is
Is applied in the same direction as the toner conveying direction. That is, the layer of the toner 14 carried on the toner carrying roller 11 receives opposing forces, that is, shearing forces, in the upper layer portion and the lower layer portion. Therefore, the toner 14 on the toner carrying roller 11 moves in a contact portion with the aperture electrode while moving in a jerky manner.

【0032】トナー担持ローラ11上のトナー14は、
鏡像力及びファンデルワールス力によってトナー担持ロ
ーラ11表面に付着しながら搬送される。そして、前述
したように、トナー担持ローラ11上のトナー14は、
がさがさと動くことによって、トナー担持ローラ11と
の付着力から解放される。トナー担持ローラ11との付
着力から解放されたトナー14は、アパチャ電極1の開
口部5にまで搬送されて、前記制御電圧印加回路7から
制御電極6に印加される電圧によって、この制御電極6
に対応して設けられた開口部5の通過が制御される。こ
の際、開口部5に搬送されたトナー14は、トナー担持
ローラ11との付着力から解放されているので、アパチ
ャ電極1の制御電極6によって形成される制御電界によ
って受けるクーロン力が支配的になる。従って、小さな
制御電界で、大量のトナー14が開口部5を通過でき
る。この結果、記録濃度が上がると共に、制御電圧印加
時間を短くできるので、記録スピードも向上させること
ができる。
The toner 14 on the toner carrying roller 11 is
The toner is conveyed while being attached to the surface of the toner carrying roller 11 by the image force and the van der Waals force. As described above, the toner 14 on the toner carrying roller 11 is
The looseness of the movement releases the adhesive force with the toner carrying roller 11. The toner 14 released from the adhesive force with the toner carrying roller 11 is conveyed to the opening 5 of the aperture electrode 1, and is controlled by the voltage applied to the control electrode 6 from the control voltage application circuit 7.
Is controlled to pass through the opening 5 provided corresponding to. At this time, since the toner 14 conveyed to the opening 5 is released from the adhesive force with the toner carrying roller 11, the Coulomb force received by the control electric field formed by the control electrode 6 of the aperture electrode 1 is dominant. Become. Therefore, a large amount of toner 14 can pass through the opening 5 with a small control electric field. As a result, the recording density increases and the control voltage application time can be shortened, so that the recording speed can be improved.

【0033】具体的に述べると、画像データに基づいて
制御電圧印加回路7からトナー通過電圧として、プラス
30ボルトの電圧が制御電極6に印加されるとき、接地
されたトナー担持ローラ11と制御電極6との間に、す
なわち制御電極に対応する開口部5の内部において、マ
イナス帯電したトナー14が開口部5を通過できるよう
な電界が発生し、トナー14は開口部5を通過する。
More specifically, when a voltage of plus 30 volts is applied to the control electrode 6 as a toner passing voltage from the control voltage application circuit 7 based on the image data, the grounded toner carrying roller 11 and the control electrode 6, that is, inside the opening 5 corresponding to the control electrode, an electric field is generated such that the negatively charged toner 14 can pass through the opening 5, and the toner 14 passes through the opening 5.

【0034】また制御電圧印加回路7からトナー遮蔽電
圧として、マイナス10ボルトの電圧が制御電極6に印
加されると、接地されたトナー担持ローラ11と制御電
極6との間に、すなわちその開口部5内部において、マ
イナス帯電したトナー14が、開口部5の通過を阻止さ
れる電界が発生し、トナー14は開口部5を通過しな
い。
When a voltage of minus 10 volts is applied to the control electrode 6 as a toner shielding voltage from the control voltage application circuit 7, the voltage is applied between the grounded toner carrying roller 11 and the control electrode 6, ie, the opening of the control electrode 6. An electric field is generated inside the toner particle 5 to prevent the negatively charged toner 14 from passing through the opening 5, and the toner 14 does not pass through the opening 5.

【0035】次に、アパチャ電極1の開口部5を通過し
たトナー14について説明する。
Next, the toner 14 that has passed through the opening 5 of the aperture electrode 1 will be described.

【0036】背面電極8には電源9によってプラス1キ
ロボルトの電圧が印加されている。この電圧印加によっ
て背面電極8とアパチャ電極1との間に電界が形成さ
れ、この電界に沿ってアパチャ電極1の開口部5を通過
してきたトナー14が背面電極8へ吸引される。そし
て、搬送されてきた支持体Pにトナー14が塗布され
る。そして、順次支持体が搬送されることによって、ト
ナー画像が支持体P上に形成される。その後、支持体P
は取り出し口22の方向に搬送され、ヒートローラ24
とプレスローラ25とによって挟み込まれ、支持体P上
のトナー画像は熱定着される。
A voltage of plus 1 kilovolt is applied to the back electrode 8 by a power supply 9. An electric field is formed between the back electrode 8 and the aperture electrode 1 by this voltage application, and the toner 14 that has passed through the opening 5 of the aperture electrode 1 along the electric field is attracted to the back electrode 8. Then, the toner 14 is applied to the transported support P. Then, the toner image is formed on the support P by sequentially transporting the support. Then, the support P
Is transported in the direction of the take-out port 22 and the heat roller 24
And the press roller 25, the toner image on the support P is thermally fixed.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明の請求項1記載の電極基板は、絶縁性基板と、そ
の絶縁性基板上に形成された電極パターンと、その電極
パターンが形成された前記絶縁性基板の一部を被覆する
ように形成されたレジスト層とで構成されていて、レジ
スト層周辺部における前記レジスト層と前記絶縁性基板
との接触面積を、レジスト層内部領域と比較して相対的
に広くしている。
As is apparent from the above description,
The electrode substrate according to claim 1 of the present invention is formed so as to cover an insulating substrate, an electrode pattern formed on the insulating substrate, and a part of the insulating substrate on which the electrode pattern is formed. And a contact area between the resist layer and the insulating substrate in a peripheral portion of the resist layer is relatively widened as compared with an inner region of the resist layer.

【0038】このため、レジスト層周辺部でのレジスト
層の密着性が各段に向上し、メッキ処理時における周辺
部からのメッキ液の浸入がなく、メッキ析出による隣接
する電極パターンのショートやレジスト剥離を防止でき
る。
Therefore, the adhesiveness of the resist layer at the peripheral portion of the resist layer is improved in each step, there is no infiltration of the plating solution from the peripheral portion during the plating process, and the short-circuit of the adjacent electrode pattern due to plating deposition and the resist are prevented. Peeling can be prevented.

【0039】また、請求項2記載の電極基板は、前記絶
縁性基板と前記レジスト層は同種の材料から構成されて
いる。このため、絶縁性基板とレジスト層の密着がいっ
そう強固になり、メッキ析出による隣接する電極パター
ンのショートやレジスト剥離をより確実に防止すること
ができる。
In the electrode substrate according to the present invention, the insulating substrate and the resist layer are made of the same material. For this reason, the adhesion between the insulating substrate and the resist layer is further strengthened, and short circuit of the adjacent electrode pattern due to plating deposition and resist peeling can be more reliably prevented.

【0040】また、請求項3記載の電極基板は、前記絶
縁性基板がポリイミド系樹脂からなり、さらに、前記レ
ジスト層もまたポリイミド系樹脂から構成されている。
絶縁性基板及びレジスト層の材料にポリイミド系樹脂を
用いることによって基板の反りやたわみが低減される。
さらに、メッキ液に対する耐薬品性も良好でメッキ処理
に伴う絶縁性基板とレジスト層の劣化やメッキ液の汚染
が少ない。
According to a third aspect of the present invention, in the electrode substrate, the insulating substrate is made of a polyimide resin, and the resist layer is also made of a polyimide resin.
By using a polyimide resin for the material of the insulating substrate and the resist layer, the warpage and deflection of the substrate are reduced.
Further, the chemical resistance to the plating solution is good, and the deterioration of the insulating substrate and the resist layer and the contamination of the plating solution due to the plating process are small.

【0041】また、請求項4記載の電極基板は、絶縁性
基板と、その絶縁性基板上に形成された電極パターン
と、その電極パターンの一部を被覆するように絶縁性基
板に形成されたレジスト層とを備えた電極基板におい
て、レジスト層周辺部分における電極パターンの幅を他
の部分に比べて細くなるように形成している。
According to a fourth aspect of the present invention, an electrode substrate is formed on the insulating substrate so as to cover the insulating substrate, the electrode pattern formed on the insulating substrate, and a part of the electrode pattern. In the electrode substrate provided with the resist layer, the width of the electrode pattern in the peripheral portion of the resist layer is formed to be narrower than in other portions.

【0042】このため、レジスト層周辺部でのレジスト
層の密着性が各段に向上し、メッキ処理時における周辺
部からのメッキ液の浸入がなく、メッキ析出による隣接
する電極パターンのショートやレジスト剥離を防止でき
る。
For this reason, the adhesion of the resist layer in the peripheral portion of the resist layer is improved in each step, there is no intrusion of the plating solution from the peripheral portion during the plating process, and the short-circuit of the adjacent electrode pattern due to plating deposition and the resist Peeling can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の電極基板の1つの実施の形態であるア
パチャ電極の構成を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of an aperture electrode which is one embodiment of an electrode substrate according to the present invention.

【図2】上記アパチャ電極を搭載した記録装置の構成を
示す概略構成図である。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing a configuration of a recording apparatus equipped with the aperture electrode.

【図3】上記アパチャ電極の作用を説明する図である。FIG. 3 is a diagram illustrating the operation of the aperture electrode.

【図4】従来の電極基板の構成を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a configuration of a conventional electrode substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 アパチャ電極 2 ベースフィルム 3 レジスト層 4 帯電防止摺動コート層 5 開口部 6 制御電極 30 IC実装部 31 ワイヤーボンディングパッド部 32 周辺部 33 電極パターン Reference Signs List 1 aperture electrode 2 base film 3 resist layer 4 antistatic sliding coat layer 5 opening 6 control electrode 30 IC mounting part 31 wire bonding pad part 32 peripheral part 33 electrode pattern

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁性基板と、該絶縁性基板上に形成さ
れた電極パターンと、該電極パターンが形成された前記
絶縁性基板の一部を被覆するように形成されたレジスト
層とで構成される電極基板において、 レジスト層周辺部における前記レジスト層と前記絶縁性
基板との接触面積を、レジスト層内部領域と比較して相
対的に広くすることを特徴とする電極基板。
1. An insulating substrate comprising: an insulating substrate; an electrode pattern formed on the insulating substrate; and a resist layer formed so as to cover a part of the insulating substrate on which the electrode pattern is formed. An electrode substrate according to claim 1, wherein a contact area between the resist layer and the insulating substrate in a peripheral portion of the resist layer is relatively wide as compared with an inner region of the resist layer.
【請求項2】 前記絶縁性基板と前記レジスト層は同種
の材料から構成されることを特徴とする請求項1記載の
電極基板。
2. The electrode substrate according to claim 1, wherein said insulating substrate and said resist layer are made of the same material.
【請求項3】 前記絶縁性基板はポリイミド系樹脂から
なり、さらに、前記レジスト層もまたポリイミド系樹脂
から構成されることを特徴とする請求項1または2記載
の電極基板。
3. The electrode substrate according to claim 1, wherein the insulating substrate is made of a polyimide resin, and the resist layer is also made of a polyimide resin.
【請求項4】 絶縁性基板と、その絶縁性基板上に形成
された電極パターンと、その電極パターンの一部を被覆
するように絶縁性基板に形成されたレジスト層とを備え
た電極基板において、 前記レジスト層周辺部分における前記電極パターンの幅
を他の部分に比べて細くなるように形成したことを特徴
とする電極基板。
4. An electrode substrate comprising: an insulating substrate; an electrode pattern formed on the insulating substrate; and a resist layer formed on the insulating substrate so as to cover a part of the electrode pattern. An electrode substrate, wherein a width of the electrode pattern in a peripheral portion of the resist layer is formed to be narrower than in other portions.
JP22354896A 1996-08-26 1996-08-26 Electrode substrate Pending JPH1058735A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22354896A JPH1058735A (en) 1996-08-26 1996-08-26 Electrode substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22354896A JPH1058735A (en) 1996-08-26 1996-08-26 Electrode substrate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1058735A true JPH1058735A (en) 1998-03-03

Family

ID=16799889

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22354896A Pending JPH1058735A (en) 1996-08-26 1996-08-26 Electrode substrate

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1058735A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5256246A (en) Method for manufacturing aperture electrode for controlling toner supply operation
JPH1058735A (en) Electrode substrate
JPH1076699A (en) Electrode substrate
JP3697271B2 (en) Circuit board manufacturing method
US5523777A (en) Aperture electrode with overlying charge member
JPH09286131A (en) Recording electrode
JPH11268324A (en) Electrode substrate and its manufacturing method
JPH09109436A (en) Recording device and recording electrode used in the recording device
JPH09109434A (en) Recording device and recording electrode used in the recording device
US5306097A (en) Ink ribbon cassette and recording apparatus using electrode ground
JPH1035002A (en) Recording electrode
US5905516A (en) Image forming apparatus having at least one reinforcing member
JPH09277581A (en) Recording electrode
JPH11268323A (en) Electrode substrate
JPH10235925A (en) Electrode substrate
US5601684A (en) Method for manufacturing an ion flow electrostatic recording head
JPH1086433A (en) Method of manufacturing electrode body
JPH10200244A (en) Method of manufacturing electrode body
JP3313883B2 (en) Image forming device
JP3550691B2 (en) Image forming device
JPH1044492A (en) Recording electrode
US6332670B1 (en) Recording head for forming images with charged particles
JPH04168063A (en) toner jet image forming device
JPH066391B2 (en) Ink ribbon cassette
JP2001277578A (en) Printhead, printhead manufacturing method, and image forming apparatus