JPH105996A - Solder supply device and solder level displacement measurement method - Google Patents
Solder supply device and solder level displacement measurement methodInfo
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- JPH105996A JPH105996A JP18660696A JP18660696A JPH105996A JP H105996 A JPH105996 A JP H105996A JP 18660696 A JP18660696 A JP 18660696A JP 18660696 A JP18660696 A JP 18660696A JP H105996 A JPH105996 A JP H105996A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 半田の液面の位置の変位を精度良く測定する
ことができる半田供給装置と半田液面変位測定方法を提
供すること。
【解決手段】 半田を部品に供給する半田供給装置10
において、半田液200を収容する収容手段20と、収
容手段20に収容されている半田液200の液面LSの
位置を測定する液面位置測定手段30と、を有し、液面
位置測定手段30は、液面位置を非接触で検出する渦電
流式変位センサ40を備える。
(57) [Problem] To provide a solder supply device and a solder liquid level displacement measuring method capable of measuring displacement of a liquid level of solder with high accuracy. A solder supply device (10) for supplying solder to a component.
, A storage means 20 for storing the solder liquid 200, and a liquid surface position measuring means 30 for measuring the position of the liquid level LS of the solder liquid 200 stored in the storage means 20; Reference numeral 30 includes an eddy current type displacement sensor 40 for detecting a liquid level position in a non-contact manner.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、部品、例えば電子
部品に対して半田を供給する半田供給装置と半田液面変
位測定方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solder supply device for supplying solder to a component, for example, an electronic component, and a method for measuring a solder liquid level displacement.
【0002】[0002]
【従来の技術】電子部品の端子に対して半田付けを行な
う場合には、半田供給装置を用いる。この半田供給装置
は半田液(半田溶液)を収容する半田槽を備えており、
この半田槽の中には半田液が収容されている。電子部品
の端子にはこの半田槽の半田液の液面につけることによ
り半田を供給する。このような半田の供給あるいは付着
は、電子部品の小型化や高精度化に伴い、その半田を供
給する位置や半田供給量を高精度にコントロールする必
要がある半田の供給位置や半田量を高精度にコントロー
ルするために、半田槽における半田液の液面位置の変位
の高精度な測定とその液面位置の維持管理が必須であ
る。2. Description of the Related Art When soldering a terminal of an electronic component, a solder supply device is used. This solder supply device is provided with a solder tank for containing a solder liquid (solder solution).
The solder bath contains a solder liquid. Solder is supplied to the terminals of the electronic component by applying the solder to the solder bath in the solder bath. The supply or adhesion of such solder increases the solder supply position and the solder supply amount, which requires precise control of the solder supply position and the solder supply amount, in accordance with the miniaturization and higher precision of electronic components. In order to control the precision, it is necessary to measure the displacement of the liquid level of the solder liquid in the solder tank with high accuracy and maintain the liquid level.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところが、電子部品の
端子を半田液につける際に、液面に揺れが生じるばかり
でなく、半田液を補充したときにもその液面に揺れが生
じ、液面の揺れが収まってきても、半田液面には常に微
小な揺れが発生している。このような微小な揺れが発生
している半田液において、図18で示すようにピン型の
接触センサ3が半田液1の液面2の位置Qを測定する。
ところが、この種の接触センサ3は半田液1の液面2に
直接つけるので、接触センサ3の先端部分3aに半田が
徐々に付着して成長していくことから、接触センサ3は
液面2の位置Qを正確に測定することができなくなって
しまう。しかも、上述したように半田液1の液面2には
常に微小な揺れが発生しているので、高分解能で高精度
の接触型のセンサを用いても安定した液面1の位置の変
位の測定を精度良く行なうことができないという問題が
ある。そこで本発明は上記課題を解消し、半田の液面の
位置の変位を精度良く測定することができる半田供給装
置と半田液面変位測定方法を提供することを目的として
いる。However, when the terminals of the electronic parts are immersed in the solder liquid, not only does the liquid surface fluctuate, but also when the solder liquid is replenished, the liquid surface fluctuates. Even if the surface quake has subsided, small tremors always occur on the solder liquid surface. As shown in FIG. 18, the pin-type contact sensor 3 measures the position Q of the liquid surface 2 of the soldering liquid 1 in the soldering liquid in which such slight shaking occurs.
However, since the contact sensor 3 of this type is directly applied to the liquid surface 2 of the solder liquid 1, the solder gradually adheres to the tip 3a of the contact sensor 3 and grows. Cannot be accurately measured. In addition, as described above, since the liquid surface 2 of the solder liquid 1 is always slightly shaken, the displacement of the position of the liquid surface 1 can be stabilized even if a high-resolution and high-precision contact-type sensor is used. There is a problem that measurement cannot be performed with high accuracy. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to solve the above problems and to provide a solder supply device and a solder liquid level displacement measuring method capable of measuring displacement of a liquid level of solder with high accuracy.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明にあ
っては、半田を部品に供給する半田供給装置において、
半田液を収容する収容手段と、収容手段に収容されてい
る半田液の液面の位置を測定する液面位置測定手段と、
を有し、液面位置測定手段は、液面位置を非接触で検出
する渦電流式変位センサを備える半田供給装置により、
達成される。According to the present invention, there is provided a solder supply apparatus for supplying solder to a component,
A storage unit that stores the solder liquid, and a liquid surface position measurement unit that measures the position of the liquid surface of the solder liquid stored in the storage unit,
Has a liquid level position measuring means, a solder supply device having an eddy current type displacement sensor for detecting the liquid level position in a non-contact manner,
Achieved.
【0005】本発明では、収容手段には半田液が収容さ
れており、液面位置測定手段がこの半田液の液面の位置
を測定する。その場合には液面位置測定手段の渦電流式
変位センサが液面位置を接触で検出する。この渦電流変
位センサは、熱を発する半田液に対して耐熱性を有し、
かつ半田液の液面位置の変動に対応した検出出力を発生
することができる。渦電流式変位センサは、液面に対し
て非接触であるので、従来生じていた半田が付着して成
長するようなトラブルはないので、収容手段内の半田の
液面位置の変位を高精度で測定することができる。しか
も、本発明では、好ましくは液面位置測定手段の演算手
段が渦電流式変位センサの検出する液面位置に関するア
ナログ出力を複数回サンプリングして、平均化すること
により液面位置を演算するので、液面位置が常に微小な
揺れを発生していても、この揺れをキャンセルして、高
精度な液面位置の変位を検出することができる。[0005] In the present invention, the solder liquid is stored in the storage means, and the liquid surface position measuring means measures the position of the liquid surface of the solder liquid. In that case, the eddy current type displacement sensor of the liquid surface position measuring means detects the liquid surface position by contact. This eddy current displacement sensor has heat resistance to solder liquid that generates heat,
In addition, it is possible to generate a detection output corresponding to a change in the liquid level of the solder liquid. Since the eddy current displacement sensor is not in contact with the liquid surface, there is no trouble such as solder adhesion and growth that occurred in the past. Can be measured. Moreover, in the present invention, preferably, the calculating means of the liquid level measuring means calculates the liquid level by sampling and averaging the analog output relating to the liquid level detected by the eddy current displacement sensor a plurality of times. Even if the liquid level always has a slight fluctuation, the fluctuation can be canceled and the displacement of the liquid level can be detected with high accuracy.
【0006】本発明では、好ましくは制御部が演算手段
により与えられている液面位置の情報に基づいて半田追
加手段を作動することにより、収容手段内の半田液の液
面の位置をほぼ一定にすることができる。従って、部品
に対して半田を供給する場合の供給量を一定にしたり半
田供給位置を常に一定にすることができる。本発明で
は、好ましくはセンサ移動手段が、半田液の液面位置の
測定をする時のみ渦電流式変位センサを収容手段内の半
田液の液面に対応して位置させるようになっているの
で、半田液の液面位置の測定をしない時には渦電流式変
位センサは半田液の熱から保護できる。In the present invention, preferably, the control unit operates the solder adding means based on the information on the liquid surface position provided by the arithmetic means, so that the position of the liquid level of the solder liquid in the storage means is substantially constant. Can be Therefore, when supplying the solder to the component, the supply amount can be made constant or the solder supply position can always be kept constant. In the present invention, preferably, the sensor moving means positions the eddy current type displacement sensor corresponding to the liquid level of the solder liquid in the housing means only when measuring the liquid level of the solder liquid. When the liquid level of the solder liquid is not measured, the eddy current displacement sensor can protect the heat of the solder liquid.
【0007】上記目的は、本発明にあっては、半田を部
品に供給する場合に半田の液面位置の変位を測定する半
田液面変位測定方法において、収容手段に収容されてい
る半田液の液面の位置を、渦電流式変位センサで非接触
で検出し、渦電流式変位センサが検出する液面位置に関
するアナログ出力を複数回サンプリングして、サンプリ
ングしたアナログ値を平均化することにより液面位置の
変位を得る半田液面変位測定方法により、達成される。According to the present invention, there is provided a method for measuring a displacement of a solder liquid level when a solder is supplied to a component. The eddy current displacement sensor detects the position of the liquid level in a non-contact manner, samples the analog output related to the liquid surface position detected by the eddy current displacement sensor multiple times, and averages the sampled analog values. This is achieved by a solder liquid level displacement measuring method for obtaining a displacement of a surface position.
【0008】本発明では、収容手段に収容されている半
田液の液面の位置が、渦電流式変位センサで非接触に検
出される。このように非接触で液面の位置を検出するこ
とにより、渦電流式変位センサにおける半田の付着によ
る成長などのトラブルを防ぐことができる。渦電流式変
位センサが検出する液面位置に関するアナログ出力は、
複数回サンプリングして、そのサンプリングしたアナロ
グ値を平均化することで、液面位置の変位を得る。この
ようにすることで、半田液の液面位置が微小な揺れを発
生していても、微小な揺れをキャンセルすることがで
き、液面位置の変位を高精度で測定することができる。In the present invention, the position of the level of the solder liquid contained in the containing means is detected in a non-contact manner by the eddy current displacement sensor. By detecting the position of the liquid surface in a non-contact manner as described above, it is possible to prevent troubles such as growth due to solder adhesion in the eddy current displacement sensor. The analog output related to the liquid level detected by the eddy current displacement sensor is
By sampling a plurality of times and averaging the sampled analog values, the displacement of the liquid level position is obtained. In this way, even if the liquid surface position of the solder liquid has a slight fluctuation, the minute fluctuation can be canceled, and the displacement of the liquid surface position can be measured with high accuracy.
【0009】[0009]
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であるから、
技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明
の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨
の記載がない限り、これらの形態に限られるものではな
い。Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. Note that the embodiments described below are preferred specific examples of the present invention,
Although various technically preferable limits are given, the scope of the present invention is not limited to these modes unless otherwise specified in the following description.
【0010】図1は、本発明の半田供給装置の好ましい
実施の形態を示している。この半田供給装置は、電子部
品PAの端子Tに対して所定量の半田を所定位置に供給
(付着)する装置である。図2はこの電子部品PAの一
例を拡大して示している。電子部品PAは、例えば光デ
ィスク装置に用いられている光学ピックアップを構成す
る一部品である。光ディスク装置は、例えばコンパクト
ディスク(CD)に記録されている情報を再生したり、
光磁気ディスクに情報を記録したり、記録されている情
報を再生するための装置である。FIG. 1 shows a preferred embodiment of the solder supply device of the present invention. This solder supply device is a device for supplying (adhering) a predetermined amount of solder to a terminal T of an electronic component PA at a predetermined position. FIG. 2 shows an enlarged example of the electronic component PA. The electronic component PA is one component that constitutes an optical pickup used in, for example, an optical disk device. The optical disc device reproduces information recorded on a compact disc (CD), for example,
This is a device for recording information on a magneto-optical disk and reproducing the recorded information.
【0011】光学ピックアップは、対物レンズを備えて
おり、この対物レンズは、レーザ光源から発生するレー
ザ光を集束して光ディスクの情報記録面に照射し、その
情報記録面からの戻り光を再び受光部側に送る役目を有
する。従って、この対物レンズは、光ディスクの半径方
向(トラッキング方向という)に移動するためのトラッ
キングコイルや対物レンズを光ディスクの情報記録面側
に近づけたり遠ざけたりするためのフォーカスコイル等
を備えている。The optical pickup has an objective lens. The objective lens focuses laser light generated from a laser light source and irradiates the laser light onto an information recording surface of the optical disk, and receives light returned from the information recording surface again. It has a role to send to the department side. Therefore, the objective lens includes a tracking coil for moving in the radial direction (tracking direction) of the optical disk, a focus coil for moving the objective lens closer to or away from the information recording surface side of the optical disk, and the like.
【0012】図2では、フレーム4に対してフォーカス
コイルやトラッキングコイルとして採用するコイル5,
6が設けられている。これらのコイル5,6のコイル端
子はピン7にそれぞれ巻き付けられている。このピン7
に巻き付けられたコイルの端子6aの一部分6bを図2
の半田液200に対して入れて、この部分6bに所定量
の半田を所定位置まで付着させる必要がある。このため
に部品PAは、図1の部品供給手段300により移動し
て位置決めできる。In FIG. 2, coils 5 and 5 used as a focus coil and a tracking coil for the frame 4 are shown.
6 are provided. The coil terminals of these coils 5 and 6 are wound around pins 7 respectively. This pin 7
The part 6b of the terminal 6a of the coil wound around
It is necessary to apply a predetermined amount of solder to this portion 6b to a predetermined position. Therefore, the component PA can be moved and positioned by the component supply means 300 of FIG.
【0013】図1において、この半田供給装置10は、
収容手段20、液面位置測定手段30及びセンサ移動手
段80等を有している。収容手段20は、半田液200
を収容する収容槽であり、収容手段20は半田追加手段
21を備えている。半田液200は、例えばSn60P
b40AやSn25Pb75Aのような種類の半田であ
り、380〜390℃程度で溶かしたものである。半田
追加手段21は半田液200を所定の温度で収容手段2
0の上部の開口部分から必要量を追加して供給できるも
のである。この収容手段20は図示しないがスキージを
備えており、スキージは半田液200の液面LSに例え
ば半田の酸化膜やピン7に巻き付けられたコイルの線材
の絶縁皮膜が熱により溶け出したものが浮遊している場
合に、液面LSのクリーニングを行なうようになってい
る。In FIG. 1, this solder supply device 10
It has an accommodating unit 20, a liquid surface position measuring unit 30, a sensor moving unit 80, and the like. The storage means 20 includes a solder liquid 200.
The housing means 20 includes a solder adding means 21. The solder liquid 200 is, for example, Sn60P
It is a kind of solder such as b40A or Sn25Pb75A, which is melted at about 380 to 390 ° C. The solder adding means 21 stores the solder liquid 200 at a predetermined temperature in the housing means 2.
The necessary amount can be additionally supplied from the opening at the top of the zero. The housing means 20 is provided with a squeegee (not shown). The squeegee has a liquid surface LS of the solder liquid 200, for example, an oxide film of solder or an insulating film of a wire of a coil wound around the pin 7 melted out by heat. When floating, cleaning of the liquid level LS is performed.
【0014】次に、液面位置測定手段30について説明
をする。液面位置測定手段30は、収容手段20の半田
液200の液面LSの位置の変位を高精度で測定するた
めの測定手段である。液面位置測定手段30は渦電流式
変位センサ40、演算手段60、制御部70等を有して
いる。Next, the liquid surface position measuring means 30 will be described. The liquid level position measuring means 30 is a measuring means for measuring the displacement of the position of the liquid level LS of the solder liquid 200 in the storage means 20 with high accuracy. The liquid surface position measuring means 30 has an eddy current displacement sensor 40, a calculating means 60, a control unit 70, and the like.
【0015】まず渦電流式変位センサ40について説明
をする。渦電流式変位センサ40は、液面LSに対して
図3と図4に示すように非接触で液面LSの位置のZ方
向(上下方向)の変位を検出するものである。図1と図
5に示すように変位センサ40はヘッド41と回路部4
2を備えている。ヘッド41はこの回路部42に接続さ
れており、ヘッド41は液面LSに対して所定の間隔を
おいて配置されて液面LSに対して非接触である。回路
部42は図5のように電源43、発振部44、検波部4
5、増幅部46、リニアライザー47、増幅部48を備
えている。電源43はこれら発振部44から増幅部48
に対して各々電力供給をする。First, the eddy current displacement sensor 40 will be described. The eddy current type displacement sensor 40 detects the displacement of the position of the liquid level LS in the Z direction (vertical direction) without contact with the liquid level LS as shown in FIGS. As shown in FIGS. 1 and 5, the displacement sensor 40 includes a head 41 and a circuit unit 4.
2 is provided. The head 41 is connected to the circuit section 42, and the head 41 is arranged at a predetermined distance from the liquid level LS and is not in contact with the liquid level LS. The circuit section 42 includes a power supply 43, an oscillation section 44, and a detection section 4 as shown in FIG.
5, an amplification section 46, a linearizer 47, and an amplification section 48. The power supply 43 is supplied from the oscillation section 44 to the amplification section 48.
Are supplied with power.
【0016】発振部44は、ヘッド41に対して図3の
ような高周波電流HFIを供給するようになっている。
発振部44がヘッド41のコイル41aに対して高周波
電流HFIを供給するとヘッド41には高周波発振が起
こる。この高周波電流により、ヘッド41の付近には高
周波磁界HFが起こり、この高周波磁界HFの近くに液
面LSがあると高周波磁界HFの磁束の通過と垂直方向
の面において図3に示すような渦電流Iが流れる。金属
である半田の液面LSに渦電流Iが流れると電力を消費
するが、これを渦電流損(エディカレントロス)とい
う。The oscillating section 44 supplies a high-frequency current HFI as shown in FIG.
When the oscillator 44 supplies the high-frequency current HFI to the coil 41a of the head 41, high-frequency oscillation occurs in the head 41. Due to the high-frequency current, a high-frequency magnetic field HF is generated near the head 41. If the liquid level LS is present near the high-frequency magnetic field HF, the vortex as shown in FIG. The current I flows. When the eddy current I flows through the liquid surface LS of the solder, which is a metal, power is consumed. This is called eddy current loss.
【0017】図6は、液面LSがヘッド41に対して近
づく場合と離れる場合及びその中間位置における高周波
電流の発振振幅の大きさを示している。図3と図5の渦
電流式変位センサ40は、アナログ出力を出すアナログ
センサであるが、変位センサ40では渦電流損が大きく
なるにつれて、図6の発振振幅が徐々に小さくなる発振
方式(軟発振という)を用いている。つまりヘッド41
が液面LSに近づくと発振振幅は小さくなり、液面LS
が徐々に離れていくと発振振幅が大きくなる。この液面
LSとヘッド41の距離Dと発振振幅Wの関係は図7に
示すようにほぼ正比例に近い曲線を示す。FIG. 6 shows the magnitude of the oscillation amplitude of the high-frequency current when the liquid level LS approaches and separates from the head 41 and at the intermediate position. The eddy current type displacement sensor 40 shown in FIGS. 3 and 5 is an analog sensor that outputs an analog output. In the displacement sensor 40, as the eddy current loss increases, the oscillation method shown in FIG. Oscillation). That is, the head 41
Is closer to the liquid level LS, the oscillation amplitude decreases, and the liquid level LS
Gradually increases, the oscillation amplitude increases. The relationship between the distance D between the liquid surface LS and the head 41 and the oscillation amplitude W shows a curve almost in direct proportion as shown in FIG.
【0018】図5のヘッド41のコイル41aに対して
図3の高周波電流HFIが発振部44から与えられる
と、発振部44では図6の例で示すような発振振幅が得
られ、検波部45はこの図6の発振振幅を検波する。つ
まり図8に示すように、得られた発振振幅(高周波電
圧)が検波部45で検波されると、その高周波電圧の振
幅に応じた直流電圧値を得ることができる。When the high-frequency current HFI shown in FIG. 3 is supplied from the oscillating section 44 to the coil 41a of the head 41 shown in FIG. 5, the oscillating section 44 obtains an oscillation amplitude as shown in the example of FIG. Detects the oscillation amplitude of FIG. That is, as shown in FIG. 8, when the obtained oscillation amplitude (high-frequency voltage) is detected by the detection unit 45, a DC voltage value corresponding to the amplitude of the high-frequency voltage can be obtained.
【0019】図5の増幅部46は、検波部45で得られ
た直流電圧値を増幅し、リニアライザー47に送る。リ
ニアライザー47は、図9に示すように、検波部45か
ら増幅部46で増幅された検波出力SDを、図6の距離
D(液面LSとヘッド41の距離)との関係において、
図9の破線(直線)BLに対応するように直線化する。
つまり、距離Dに比例した検波出力SD(出力電圧)を
得ることができる。そしてリニアライザー47で得られ
たこの検波出力LSDは、図5の増幅部48でさらに増
幅することで、液面LSの液面位置に対応する検出出力
信号STとなる。この電圧値である検出出力信号STは
図1の演算手段60の電圧比較器61に送られる。図6
のヘッド41と液面LSの距離Dは例えば5mm程度で
ある。The amplifying section 46 in FIG. 5 amplifies the DC voltage value obtained by the detecting section 45 and sends it to the linearizer 47. As shown in FIG. 9, the linearizer 47 converts the detection output SD amplified by the amplifying unit 46 from the detecting unit 45 into a distance D (a distance between the liquid surface LS and the head 41) in FIG.
Straightening is performed so as to correspond to the broken line (straight line) BL in FIG.
That is, a detection output SD (output voltage) proportional to the distance D can be obtained. The detection output LSD obtained by the linearizer 47 is further amplified by the amplifying unit 48 in FIG. 5 to become a detection output signal ST corresponding to the liquid level of the liquid level LS. The detection output signal ST having this voltage value is sent to the voltage comparator 61 of the calculating means 60 in FIG. FIG.
The distance D between the head 41 and the liquid level LS is, for example, about 5 mm.
【0020】上述した非接触の渦電流式変位センサ40
を採用するのは、次の理由からである。図6の距離Dの
値を、正確に電圧値に変換するセンサとしては、次のよ
うな5通りの検出方式が考えられる。つまり、渦電流
式、光学式(三角測距式)、超音波式、接触式、光学式
(レーザフォーカス方式)の5通りのセンサである。と
ころが、これら5つの検出方式のセンサの中で半田の液
面LSを10μmの精度でしかも非接触で測定できるの
は、渦電流式、光学式(三角測距式)及び光学式(レー
ザフォーカス方式)である。これら選ばれた3つの渦電
流式、光学式(三角測距式)、光学式(レーザフォーカ
ス方式)の中で、半田液の発生する高温に耐えうるセン
サは、渦電流式の変位センサだけである。The above-mentioned non-contact eddy current displacement sensor 40
Is adopted for the following reason. As a sensor for accurately converting the value of the distance D in FIG. 6 into a voltage value, the following five detection methods are conceivable. That is, there are five types of sensors: an eddy current type, an optical type (triangular distance measurement type), an ultrasonic type, a contact type, and an optical type (laser focus type). However, among these five detection type sensors, the liquid level LS of the solder can be measured with a precision of 10 μm in a non-contact manner by an eddy current type, an optical type (triangular distance measuring type) and an optical type (laser focusing type). ). Of these three eddy current type, optical type (triangular distance measuring type) and optical type (laser focus type), the only sensor that can withstand the high temperature generated by the solder liquid is the eddy current type displacement sensor. is there.
【0021】次に、図1の演算手段60について説明す
る。演算手段60は、上述した電圧比較器61とコンピ
ュータ62を備えている。電圧比較器61は、変位セン
サ40からの検出出力信号(センサ出力、電圧値)ST
を図10に示すように3種類の判定出力に変換する。こ
の3種類の判定出力とは、高判定出力(High)SH
と、低判定出力(Low)SL、および良判定出力(O
K)SNである。これらの高判定出力SH、低判定出力
SL、良判定出力SNは、電圧比較器61に予め設定さ
れている図10に例示する基準用の高設定値BHと低設
定値BLと、変位センサ40からの検出出力信号STと
の比較により得ることができる。例えば検出出力信号S
Tが高設定値BHよりも高くなれば高判定出力SHが出
力され、検出出力信号STが低設定値BLよりも低くな
れば低判定出力SLが出力され、そうでなく検出出力信
号STが高設定BHと低設定値BLの間にある場合には
良判定出力SNが出力できる。Next, the operation means 60 of FIG. 1 will be described. The calculation means 60 includes the above-described voltage comparator 61 and a computer 62. The voltage comparator 61 detects a detection output signal (sensor output, voltage value) ST from the displacement sensor 40.
Is converted into three types of determination outputs as shown in FIG. The three types of determination outputs are the high determination output (High) SH
And the low judgment output (Low) SL and the good judgment output (O
K) SN. The high determination output SH, the low determination output SL, and the good determination output SN are obtained by setting a reference high set value BH and a low set value BL preset in the voltage comparator 61 as illustrated in FIG. Can be obtained by comparison with the detection output signal ST. For example, the detection output signal S
When T becomes higher than the high set value BH, the high judgment output SH is output, and when the detection output signal ST becomes lower than the low set value BL, the low judgment output SL is output. Otherwise, the detection output signal ST becomes high. When it is between the setting BH and the low setting value BL, a good judgment output SN can be output.
【0022】このような高判定出力SHと低判定出力S
Lと良判定出力SNは、電圧比較器61から制御部70
に送られる。また図10の検出出力信号STは電圧比較
器61からコンピュータ62に送られて、図1の液面L
Sの位置の変位量に相当する出力電圧値は、電圧比較器
61において例えば4000回分(1秒間に2000回
×2秒間)を演算して、図1の液面LSの位置(高さ)
の平均値を算出して、その後、その変位量を判定して、
その変位量の判定データを電圧比較器61からコンピュ
ータ62に対して送信してそのデータをディスプレイに
表示するとともにハードディスクのような記憶媒体に記
録保存する。Such a high judgment output SH and a low judgment output S
L and the good judgment output SN are output from the voltage comparator 61 to the control unit 70.
Sent to Further, the detection output signal ST of FIG. 10 is sent from the voltage comparator 61 to the computer 62, and the liquid level L of FIG.
The output voltage value corresponding to the displacement amount of the position S is calculated, for example, for 4000 times (2000 times per second × 2 seconds) in the voltage comparator 61, and the position (height) of the liquid level LS in FIG. 1 is calculated.
Is calculated, then the amount of displacement is determined,
The determination data of the displacement amount is transmitted from the voltage comparator 61 to the computer 62, and the data is displayed on a display and recorded and stored in a storage medium such as a hard disk.
【0023】図11は、図1の電圧比較器61における
検出出力信号STのサンプリングの一例を示している。
図11において、検出出力信号STは正確な液面LSの
高さに対して微小に振動しており、このままでは正確な
液面LSの高さを測定することができない。そこで、半
田の液面LSが揺れている場合に、サンプリングのタイ
ミング(Tn)ごとに、実際の高さとは異なる高さを図
1の変位センサ40が出力してしまうことを防ぐため
に、サンプリングデータを図1の電圧比較器61で平滑
して演算するようにしている。FIG. 11 shows an example of sampling of the detection output signal ST in the voltage comparator 61 of FIG.
In FIG. 11, the detection output signal ST vibrates minutely with respect to the accurate height of the liquid level LS, and it is not possible to measure the accurate height of the liquid level LS as it is. In order to prevent the displacement sensor 40 of FIG. 1 from outputting a height different from the actual height at each sampling timing (Tn) when the liquid level LS of the solder is shaking, Are smoothed by the voltage comparator 61 of FIG.
【0024】電圧比較器61は、リアルタイムに高速に
サンプリングされた液面LSの高さのデータをデータバ
ッファに蓄えて、現時点Pから指定された個数M個分の
過去の液面LSのデータを平均して出力する機能を有し
ている。つまり、液面LSの高さのサンプリングデータ
(変位センサ40の検出出力信号ST)は移動平均化さ
れる。例えば図12に示すように現時点Pから指定され
た個数Mを3とした場合には、図12のようになる。図
1の半田供給装置10では、液面の振動周期に対して十
分に短いサンプリング間隔で測定された変位センサ40
の検出出力信号STが、振動周期に対して十分に長い時
間間隔に相当する数だけ移動平均することで、液面振動
の影響を平均化するわけである。The voltage comparator 61 stores the height data of the liquid surface LS sampled at high speed in real time in a data buffer, and compares the data of the specified number M of past liquid surfaces LS from the present time P. It has a function to output on average. That is, the sampling data of the height of the liquid surface LS (the detection output signal ST of the displacement sensor 40) is moving-averaged. For example, as shown in FIG. 12, when the number M specified from the current point P is set to 3, the result is as shown in FIG. In the solder supply device 10 of FIG. 1, the displacement sensor 40 measured at a sampling interval sufficiently short with respect to the vibration cycle of the liquid surface is used.
Are averaged by a number corresponding to a time interval that is sufficiently long with respect to the vibration cycle, thereby averaging the influence of the liquid level vibration.
【0025】次に、図1の制御部70は、電圧比較器6
1から得られた判定結果である図10の高判定出力S
H、低判定出力SL及び良判定出力SNに基づいて、図
10に示すように半田追加供給信号ADを図1の半田追
加手段21に対して出力する。この半田追加供給信号A
Dは、図10の検出出力信号STが低設定値BNより所
定値V1だけ低下した時から、直線的に上昇して高設定
値BHと低設定値BLのほぼ中間位置に達するまでの
間、半田追加手段21に送られる。半田追加手段21は
この半田追加供給信号ADに基づいて、収容手段20に
対して半田液200を追加することにより、液面LSの
位置の低下を補う。Next, the control unit 70 of FIG.
High judgment output S shown in FIG.
Based on H, the low judgment output SL, and the good judgment output SN, a solder addition supply signal AD is output to the solder addition means 21 of FIG. 1 as shown in FIG. This additional solder supply signal A
D represents a period from when the detection output signal ST in FIG. 10 falls below the low set value BN by a predetermined value V1 to when it rises linearly and reaches a substantially intermediate position between the high set value BH and the low set value BL. It is sent to the solder adding means 21. The solder adding means 21 compensates for a decrease in the position of the liquid level LS by adding the solder liquid 200 to the housing means 20 based on the solder additional supply signal AD.
【0026】ところで、図1の半田追加手段21は、半
田供給作業の1サイクル毎に固定量を追加して供給して
いる。この半田の固定量の供給は1サイクルの半田供給
作業において消費される半田を補う目的の供給である。
それに加えて、上述した半田追加供給信号ADに基づい
て、さらに半田の追加供給を行なう。この追加供給は、
図10に示すように液面LSの高さを監視する渦電流式
の変位センサ40の検出出力信号(センサ出力)STが
図10の低設定値BLよりも低くなった時に行なわれ
る。半田の追加供給量は、既に述べたように高設定値B
Hと低設定値BLの中間程度の液面高さに達する量を目
安としている。半田供給作業1サイクル毎に行なわれる
固定量の供給量は、長期的に見て液面高さが低下する傾
向を持つように、ごく僅かに少なめに調整する。このよ
うにごく僅かに少なめに調整するのは、もし半田の液面
LSの位置が高設定値BHよりも超えた場合には、人手
により収容手段20の半田液200を吸出しする作業が
必要となり、大変面倒であり、電子部品PAに対する半
田供給作業が中断してしまうからである。The solder adding means 21 shown in FIG. 1 supplies an additional fixed amount every cycle of the solder supply operation. The supply of the fixed amount of solder is a supply for the purpose of supplementing the solder consumed in one cycle of the solder supply operation.
In addition, additional solder is further supplied based on the above-mentioned additional solder supply signal AD. This additional supply
As shown in FIG. 10, the detection is performed when the detection output signal (sensor output) ST of the eddy current type displacement sensor 40 for monitoring the height of the liquid level LS becomes lower than the low set value BL in FIG. The additional supply amount of the solder is set at the high set value B as described above.
The amount that reaches a liquid level approximately halfway between H and the low set value BL is used as a guide. The supply amount of the fixed amount, which is performed for each cycle of the solder supply operation, is adjusted slightly slightly so that the liquid level tends to decrease in a long term. In order to make the adjustment slightly smaller in this manner, if the position of the liquid level LS of the solder exceeds the high set value BH, it is necessary to manually suck out the solder liquid 200 of the storage means 20. This is very troublesome, and the work of supplying solder to the electronic component PA is interrupted.
【0027】なお、図10の半田追加供給信号ADは、
変位センサ40の検出出力信号STの不安定さを考慮し
て、低判定出力SLが複数回、例えば3回程度連続して
生じた場合に行なうのが望ましい。また高判定出力SH
及び低判定出力SLが予め指定された回数、例えば5回
連続して出力された場合には、制御部70はエラー発生
部71を作動して音声もしくは光信号等により液面SL
の位置(高さ)の異常のエラーを発生させて作業者に知
らせることができる。図1のセンサ移動手段80は変位
センサ40のヘッド41を、半田液200の液面LSの
上に所定距離をおいて位置決めしたりあるいは液面LS
から外部に退避させるための装置である。センサ移動手
段80はスライダ81とスライダ82を備えている。ス
ライダ82の先端にはヘッド41が取り付けられてい
る。スライダ82はスライダ81のガイドシャフト83
に設定されており、モータ84の送りネジ85が回転す
ることにより、スライダ82はガイドシャフト83に沿
ってZ方向に上下動する。Note that the additional solder supply signal AD in FIG.
In consideration of the instability of the detection output signal ST of the displacement sensor 40, it is desirable that the determination is performed when the low determination output SL occurs a plurality of times, for example, about three times consecutively. High judgment output SH
When the low determination output SL is output continuously for a predetermined number of times, for example, five times, the control unit 70 activates the error generation unit 71 to output the liquid level SL by voice or optical signal.
An error of an abnormal position (height) can be generated to notify the operator. The sensor moving means 80 in FIG. 1 positions the head 41 of the displacement sensor 40 at a predetermined distance above the liquid level LS of the solder liquid 200, or moves the liquid level LS
It is a device for evacuating from the outside. The sensor moving means 80 has a slider 81 and a slider 82. The head 41 is attached to the tip of the slider 82. The slider 82 is a guide shaft 83 of the slider 81.
When the feed screw 85 of the motor 84 rotates, the slider 82 moves up and down along the guide shaft 83 in the Z direction.
【0028】スライダ81はガイドレール86に設定さ
れており、モータ87が作動すると送りネジ88が回転
するので、スライダ81はガイドレール86に沿ってX
方向に移動して位置決め可能である。The slider 81 is set on a guide rail 86. When the motor 87 operates, the feed screw 88 rotates.
It can be positioned by moving in the direction.
【0029】次に、上述した半田供給装置10を用いて
液面変位測定方法について説明する。図1の部品供給手
段300が電子部品PAの端子Tを液面LSにつけて半
田の端子Tへの供給を行なう作業を繰り返すと、半田液
200の液面LSが低下していくとともに、液面LSは
常に微小な揺れを伴う。そこで変位センサ40を用いて
半田液200の液面LSの位置の変位を測定する。ま
ず、スライダ81をX1方向に移動し、かつスライダ8
2をZ1方向に移動する。これによりヘッド41は液面
LSの上部に位置決めされる。そしてスライダ82をZ
2の方向に下げることにより、ヘッド41は液面LSに
対して例えば5mm程度の距離Dをおいて正確に位置決
めされる。Next, a method for measuring the liquid level displacement using the above-described solder supply device 10 will be described. When the component supply means 300 of FIG. 1 repeats the operation of attaching the terminals T of the electronic component PA to the liquid level LS and supplying the solder to the terminals T, the liquid level LS of the solder liquid 200 decreases and the liquid level LS decreases. LS always involves a slight swing. Therefore, the displacement of the position of the liquid level LS of the solder liquid 200 is measured using the displacement sensor 40. First, the slider 81 is moved in the X1 direction, and the slider 8 is moved.
2 in the Z1 direction. As a result, the head 41 is positioned above the liquid level LS. Then, move the slider 82 to Z
By lowering in the direction 2, the head 41 is accurately positioned at a distance D of, for example, about 5 mm with respect to the liquid surface LS.
【0030】変位センサ40のヘッド41は、液面LS
の位置に対応して図10の検出出力信号STを電圧比較
器61に送る。電圧比較61は、この検出出力信号ST
と高設定値BH及び低設定値BLと比較を行なうこと
で、図10の高判定出力SH、低判定出力SL、良判定
出力SNを制御部70に送る。これにより制御部70は
これら3種類の判定結果に基づいて半田追加供給信号A
Dを図10のように必要に応じて半田追加手段21に送
る。半田追加手段21は収容手段20内に追加の半田追
加信号ADに対応する追加の半田を供給する。ところで
電圧比較器61は変位センサ40からの検出出力信号S
Tを2000回/秒の速度で例えば2秒間サンプリング
して、しかもその平均値を得てその平均値を液面LSの
位置の変位の測定値とすることにより、たとえば液面L
Sの1/100mmの位置の変位を測定することができ
る。その結果、半田液200の液面LSは常時一定の位
置(高さ)を保つことができる。The head 41 of the displacement sensor 40 has a liquid level LS
The detection output signal ST shown in FIG. The voltage comparison 61 uses the detection output signal ST
Then, the high determination output SH, the low determination output SL, and the good determination output SN of FIG. 10 are sent to the control unit 70 by comparing with the high set value BH and the low set value BL. As a result, the control unit 70 sets the additional solder supply signal A based on these three types of determination results.
D is sent to the solder adding means 21 as needed as shown in FIG. The solder adding means 21 supplies the additional solder corresponding to the additional solder addition signal AD into the accommodation means 20. Incidentally, the voltage comparator 61 outputs the detection output signal S from the displacement sensor 40.
T is sampled at a rate of 2000 times / second, for example, for 2 seconds, the average value is obtained, and the average value is used as a measured value of the displacement of the position of the liquid surface LS.
The displacement at a position of 1/100 mm of S can be measured. As a result, the liquid level LS of the solder liquid 200 can always maintain a constant position (height).
【0031】このように液面LSの測定が済むと、耐熱
性の変位センサ40ではあるが、測定時間以外には、半
田液200から退出させる方がより好ましい。従って、
モータ84を作動してスライダ82をZ1方向に上げて
かつモータ87を作動してスライダ81をX2方向に移
動することにより、ヘッド41は半田液200の液面L
Sから収容手段200の外部に退出させることができ
る。このようにしてヘッド41の熱による影響を極力小
さくして保護する。When the measurement of the liquid level LS is completed as described above, the displacement sensor 40 is heat-resistant, but it is more preferable to withdraw from the solder liquid 200 except for the measurement time. Therefore,
By operating the motor 84 to raise the slider 82 in the Z1 direction and operating the motor 87 to move the slider 81 in the X2 direction, the head 41
S can be moved out of the accommodation means 200. In this way, the effect of the heat of the head 41 is minimized to protect the head.
【0032】以上のようにして、収容手段200内の半
田液200の液面Sの位置の変位は、変位センサ40の
ヘッド41を液面LSに対して所定の距離Dをおいて設
定することで、液面LSの微小な揺れをキャンセルして
高い精度で液面LSの位置の変位を測定することができ
る。測定された液面LSの変位に基づいて、制御部70
は半田追加手段21に対して指令を行なうことで、半田
追加手段21は必要とする正確な量の追加分の半田を収
容手段21に追加することができる。As described above, the displacement of the position of the liquid level S of the solder liquid 200 in the storage means 200 is set by setting the head 41 of the displacement sensor 40 at a predetermined distance D from the liquid level LS. Thus, the displacement of the position of the liquid surface LS can be measured with high accuracy by canceling the slight fluctuation of the liquid surface LS. Based on the measured displacement of the liquid level LS, the control unit 70
By issuing a command to the solder adding means 21, the solder adding means 21 can add the required amount of additional solder to the housing means 21.
【0033】ところで、従来では電子部品に対して半田
を供給するラインにおいて、ある一定の時間内に例えば
2回の液面LSの位置の変位の作業者による確認作業が
必要であった。従来、このような液面LSの位置の変位
の確認作業は1回につき10分程度必要であったが、こ
のような液面LSの位置の変位の確認作業を図1の半田
供給装置が自動的に行なうことができる。なお、上述し
たように渦電流式の変位センサ40はもともと耐熱型の
ものであり、さらに耐熱手段を付加する必要はない。Conventionally, in a line for supplying solder to an electronic component, for example, it is necessary for an operator to confirm the displacement of the liquid level LS twice within a certain time. Conventionally, such a task of confirming the displacement of the liquid level LS required about 10 minutes at a time, but the solder supply device of FIG. Can be done As described above, the eddy current type displacement sensor 40 is originally of a heat-resistant type, and it is not necessary to add heat-resistant means.
【0034】また、上述した半田供給装置では、半田液
の液面LSの常に微小な揺れが発生しているのにも係わ
らず、液面の揺れの影響なくして安定した液面LSの位
置の変位の測定結果を得ることができる。そして収容手
段20の液面LSが減少したときでも、半田液が常に供
給できるので、常に一定の液面高さを高精度に維持する
ことができる。Further, in the above-described solder supply device, despite the fact that the liquid level LS of the solder liquid is always slightly swayed, the position of the liquid level LS is stabilized without the influence of the liquid level sway. A measurement result of the displacement can be obtained. Then, even when the liquid level LS of the storage means 20 decreases, the solder liquid can always be supplied, so that a constant liquid level can always be maintained with high accuracy.
【0035】図13は、図1の変位センサ40の繰り返
し安定性の一例を示している。図13のグラフの縦軸は
変位センサの検出出力信号STの電圧値を示し、横軸は
繰り返し頻度を示している。グラフ中の破線は4096
データの移動平均を示し、実線は1024データの移動
平均を示している。測定手順は、実際に図1に示す装置
にて渦電流式の変位センサー40を用いて収容手段20
の液面LSを繰り返し測定したものである。毎測定時に
スキージ動作を行う事で、実際の使用条件に近い状態で
作り出している。図14は、図13の1024データ移
動平均測定時の測定度数分布結果を示しており、縦軸は
出現頻度であり、横軸は変位センサの検出出力信号ST
である。図15は、図13の4096データの移動平均
測定時の測定結果の一例を示しており、縦軸は出現頻度
で、横軸は変位センサの検出出力信号STである。FIG. 13 shows an example of the repetition stability of the displacement sensor 40 of FIG. The vertical axis of the graph in FIG. 13 indicates the voltage value of the detection output signal ST of the displacement sensor, and the horizontal axis indicates the repetition frequency. The broken line in the graph is 4096.
The moving average of data is shown, and the solid line shows the moving average of 1024 data. The measurement procedure is performed by using the eddy current type displacement sensor 40 in the apparatus shown in FIG.
Is repeatedly measured. By performing a squeegee operation at each measurement, the squeegee is created in a state close to actual use conditions. FIG. 14 shows the measurement frequency distribution result at the time of the 1024 data moving average measurement of FIG. 13, in which the vertical axis represents the appearance frequency, and the horizontal axis represents the detection output signal ST of the displacement sensor.
It is. FIG. 15 shows an example of the measurement result at the time of the moving average measurement of the 4096 data of FIG. 13, in which the vertical axis represents the appearance frequency and the horizontal axis represents the detection output signal ST of the displacement sensor.
【0036】図14と図15の測定結果(度数分布表)
から明らかなように、50回の測定データのうちに、半
数以上が検出出力信号ST0.065V内に収まってい
ることがわかる。液面LSの位置の変位の管理は、0.
1mm程度の精度が得られれば十分であると考えられる
ので、実質的に変位センサの検出出力信号STが0.0
659以内の幅に収まっていれば十分である。Measurement results of FIGS. 14 and 15 (frequency distribution tables)
As is clear from FIG. 5, out of the 50 measurement data, more than half of the measurement data fall within the detection output signal ST0.065V. The management of the displacement of the position of the liquid level LS is set to 0.
Since it is considered sufficient if an accuracy of about 1 mm is obtained, the detection output signal ST of the displacement sensor becomes substantially 0.0%.
It is enough if the width is within 659.
【0037】図16は、液面変化の一つの測定例を示し
ている。図17は、図16の部分A付近を拡大して示し
ており、液面低下発生前後の液面変化の一例を示してい
る。検出出力信号STの4.3Vの線が液面LSの低下
の限界値である。検出出力信号STは限界値4.3Vを
数回超えているが、この4.3Vを超える回数がたとえ
ば5回に満たないならば、図1における半田供給作業サ
イクルを停止しなくてよい。図17の時点t1と時点t
2で比べると検出出力信号STの値が低下しているが、
この信号STが低下しているということは、図1の半田
追加供給信号ADが半田追加手段21に供給されて半田
されることで、半田追加手段21が収容手段20に対し
て所定量の半田を追加した効果を示している。FIG. 16 shows one measurement example of the liquid level change. FIG. 17 is an enlarged view of the vicinity of the portion A in FIG. 16 and shows an example of a liquid level change before and after the occurrence of the liquid level drop. The 4.3 V line of the detection output signal ST is the limit value of the decrease in the liquid level LS. The detection output signal ST exceeds the limit value 4.3V several times, but if the number of times exceeding 4.3V is less than, for example, five, the solder supply operation cycle in FIG. 1 does not need to be stopped. Time point t1 and time point t in FIG.
2, the value of the detection output signal ST is lower,
The fact that the signal ST has decreased means that the additional soldering signal 21 shown in FIG. 1 is supplied to the additional soldering means 21 and soldered. Shows the effect of adding.
【0038】上述した実施の形態では、電子部品に対し
て半田を供給する装置、特に光学ピックアップの一部品
である電子部品の端子に対して半田を供給する例を示し
ている。しかし、これに限らず他の種類の電子部品に対
して半田を供給する装置においても本発明は適用でき
る。In the above-described embodiment, an example is shown in which a device for supplying solder to an electronic component, in particular, a device for supplying solder to a terminal of an electronic component which is a component of an optical pickup. However, the present invention is not limited to this, and can be applied to an apparatus for supplying solder to other types of electronic components.
【0039】[0039]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半田の液面の位置の変位を精度良く測定することができ
る。As described above, according to the present invention,
The displacement of the position of the solder liquid level can be accurately measured.
【図1】本発明の半田供給装置の好ましい実施の形態を
示す全体図。FIG. 1 is an overall view showing a preferred embodiment of a solder supply device of the present invention.
【図2】半田の供給対象となる電子部品の一例を示す
図。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of an electronic component to which solder is supplied.
【図3】半田供給装置の渦電流式の耐熱性の非接触式変
位センサのヘッド等を示す図。FIG. 3 is a diagram showing a head and the like of an eddy current heat-resistant non-contact displacement sensor of the solder supply device.
【図4】図3のヘッドと液面を示す図。FIG. 4 is a diagram showing a head and a liquid surface in FIG. 3;
【図5】変位センサの一例を示すブロック図。FIG. 5 is a block diagram illustrating an example of a displacement sensor.
【図6】変位センサのヘッドと液面との関係及び発振振
幅の関係を示す図。FIG. 6 is a diagram showing a relationship between a head of a displacement sensor and a liquid surface and a relationship between oscillation amplitudes.
【図7】発振振幅と距離の関係を示す図。FIG. 7 is a diagram showing a relationship between oscillation amplitude and distance.
【図8】ヘッドから得られる発振振幅の検波の一例を示
す図。FIG. 8 is a diagram showing an example of detection of oscillation amplitude obtained from a head.
【図9】図8における検波出力と距離との関係を示す
図。FIG. 9 is a diagram showing a relationship between a detection output and a distance in FIG. 8;
【図10】検出出力信号に基づいて3種類の判定出力の
様子を示す図。FIG. 10 is a view showing three types of determination output based on a detection output signal.
【図11】微小に揺れる半田液の液面の高さの一例を示
す図。FIG. 11 is a diagram illustrating an example of the height of the liquid level of the solder liquid that fluctuates slightly.
【図12】図11における液面のサンプリングの一例を
示す図。FIG. 12 is a diagram showing an example of liquid level sampling in FIG. 11;
【図13】変位センサの繰り返し安定性の一例を示す
図。FIG. 13 is a diagram showing an example of the repetition stability of the displacement sensor.
【図14】図13におけるデータの移動平均測定時の測
定結果の一例を示す図。FIG. 14 is a view showing an example of a measurement result at the time of moving average measurement of the data in FIG. 13;
【図15】図13における別のデータの移動平均測定時
の測定結果の一例を示す図。FIG. 15 is a view showing an example of a measurement result at the time of moving average measurement of another data in FIG. 13;
【図16】変位センサの検出出力信号と液面の位置の関
係の一例を示す図。FIG. 16 is a diagram illustrating an example of a relationship between a detection output signal of a displacement sensor and a position of a liquid surface.
【図17】図16における測定の一例の一部を拡大して
示す図。FIG. 17 is an enlarged view showing a part of an example of the measurement in FIG. 16;
【図18】従来のセンサの測定例を示す図。FIG. 18 is a diagram showing a measurement example of a conventional sensor.
10・・・半田供給装置、20・・・収容手段、21・
・・半田追加手段、30・・・液面位置測定手段、40
・・・渦電流式の変位センサ、60・・・演算手段、7
0・・・制御部、200・・・半田液、LS・・・半田
液の液面、PA・・・電子部品10: solder supply device, 20: accommodation means, 21
..Solder adding means, 30 ... liquid level position measuring means, 40
... Eddy current displacement sensor, 60 ... Calculation means, 7
0: control unit, 200: solder liquid, LS: liquid level of solder liquid, PA: electronic component
Claims (5)
いて、 半田液を収容する収容手段と、 収容手段に収容されている半田液の液面の位置を測定す
る液面位置測定手段と、を有し、 液面位置測定手段は、液面位置を非接触で検出する渦電
流式変位センサを備えることを特徴とする半田供給装
置。1. A solder supply device for supplying solder to a component, comprising: a housing means for housing a solder liquid; and a liquid surface position measuring means for measuring a liquid surface position of the solder liquid stored in the housing means. And a liquid level measuring means including an eddy current displacement sensor for detecting a liquid level position in a non-contact manner.
サが検出する液面位置に関するアナログ出力を複数回サ
ンプリングして平均化することにより液面位置を演算す
る演算手段を備える請求項1に記載の半田供給装置。2. A liquid level position measuring means comprising a calculating means for calculating a liquid level position by sampling and averaging a plurality of analog outputs relating to a liquid level detected by an eddy current displacement sensor. 3. The solder supply device according to claim 1.
追加手段と、 半田追加手段に対して演算手段で得られた液面位置の情
報を与えて半田追加手段を作動することにより、収容手
段内の半田液の液面の位置をほぼ一定にする制御部と、
を備える請求項1に記載の半田供給装置。3. A solder addition means for adding a solder liquid to the accommodation means, and information on the liquid surface position obtained by the arithmetic means is given to the solder addition means, and the solder addition means is operated to receive the solder liquid. A control unit for making the position of the liquid level of the solder liquid in the means substantially constant;
The solder supply device according to claim 1, further comprising:
変位センサを収容手段の半田液の液面に対応して非接触
で位置させ、半田液の液面位置を測定しない時には、渦
電流式変位センサを収容手段の半田液の液面から退出さ
せるセンサ移動手段を備える請求項1に記載の半田供給
装置。4. An eddy current displacement sensor is positioned in a non-contact manner in correspondence with the solder liquid level of the housing means when measuring the liquid level of the solder liquid. The solder supply device according to claim 1, further comprising a sensor moving unit that causes the current-type displacement sensor to retreat from the level of the solder liquid in the housing unit.
位置の変位を測定する半田液面変位測定方法において、 収容手段に収容されている半田液の液面の位置を、渦電
流式変位センサで非接触で検出し、 渦電流式変位センサが検出する液面位置に関するアナロ
グ出力を複数回サンプリングして、 サンプリングしたアナログ値を平均化することにより液
面位置の変位を得ることを特徴とする半田液面変位測定
方法。5. A solder liquid level displacement measuring method for measuring a displacement of a liquid level of a solder when supplying solder to a component, wherein the position of the liquid level of the solder liquid contained in the containing means is determined by an eddy current type. It is characterized in that the displacement of the liquid surface position is obtained by sampling the analog output related to the liquid surface position detected by the eddy current type displacement sensor multiple times and averaging the sampled analog values. Liquid level displacement measurement method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18660696A JPH105996A (en) | 1996-06-27 | 1996-06-27 | Solder supply device and solder level displacement measurement method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18660696A JPH105996A (en) | 1996-06-27 | 1996-06-27 | Solder supply device and solder level displacement measurement method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH105996A true JPH105996A (en) | 1998-01-13 |
Family
ID=16191519
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18660696A Pending JPH105996A (en) | 1996-06-27 | 1996-06-27 | Solder supply device and solder level displacement measurement method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH105996A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4853288A (en) * | 1987-03-27 | 1989-08-01 | Hoechst Aktiengesellschaft | Stabilized red phosphorus and process for making it |
| JP2012101263A (en) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Asahi Sunac Corp | Wire rod cutting device |
| JP2016176708A (en) * | 2015-03-18 | 2016-10-06 | 住友重機械工業株式会社 | Shape measuring device, processing device, and calibration method of shape measuring device |
-
1996
- 1996-06-27 JP JP18660696A patent/JPH105996A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4853288A (en) * | 1987-03-27 | 1989-08-01 | Hoechst Aktiengesellschaft | Stabilized red phosphorus and process for making it |
| JP2012101263A (en) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Asahi Sunac Corp | Wire rod cutting device |
| JP2016176708A (en) * | 2015-03-18 | 2016-10-06 | 住友重機械工業株式会社 | Shape measuring device, processing device, and calibration method of shape measuring device |
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