JPH1062394A - 超音波探傷装置の感度設定方法 - Google Patents
超音波探傷装置の感度設定方法Info
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Abstract
よるパルス圧縮処理を適用する際に、不感帯が少なくな
るように探傷感度を設定する。 【解決手段】 受信信号を増幅器1で増幅後A/D変換
器2でA/D変換し、送信信号と相似の参照信号とA/
D変換された受信信号との相互相関をFIRフィルタ3
を用いてとることにより受信信号のパルス圧縮を行い、
パルス圧縮された受信信号に基づいて評価部4において
欠陥の判別を行う超音波探傷器の感度を設定する方法で
あって、受信信号中の境界面エコーがA/D変換器2で
飽和しないように増幅器1の増幅度を設定し、パルス圧
縮後の欠陥エコーが評価部4において所望の大きさの範
囲に入るように、評価部に入力するFIRフィルタ3の
出力ビットを決定する。
Description
射波を用いて材料内部の欠陥の探傷を行なう超音波探傷
法において、デジタル信号処理によるパルス圧縮処理を
適用する際に、不感帯が少なくなるように探傷感度を設
定する方法に関する。
入射せしめ、そのエコー信号を基に材料中の欠陥を探傷
するものである。超音波探傷の信頼性や欠陥検出能力は
エコー信号のSN比(信号対雑音比)で決まり、SN比
を向上させるための努力が多く払われている。
えば特開平7ー167844号公報には、デジタル信号
処理によるパルス圧縮技術を適用した超音波探傷方法が
開示されている。図6は、この技術の原理を示したもの
である。
ピュータ30で計算して作り、D/A変換器31でアナ
ログ信号に変換して送信増幅器32で増幅し、探触子2
6で超音波信号に変換して材料へ送り込む。エコー信号
は再び探触子26で電気信号に変換され、受信増幅器3
3で増幅され、更にA/D変換器34でデジタル信号に
変換された後、FIR(Finite Impulse Response )フ
ィルタ35でパルス圧縮処理を施される。パルス圧縮さ
れたエコー信号は、CRT表示器29aや欠陥判定のた
めの評価部でエコーの大きさが評価され、欠陥の有無の
判定に供される。A/D変換器と評価部のbit数として
は、一般に10bit程度が使用される。
波を周波数変調したチャープ波(周波数が時間的に変化
する波形)や、位相変調した相補系列などが用いられ
る。これらの送信信号のパルス幅は長いが、パルス圧縮
処理により短く圧縮されるので、高い時間分解能が得ら
れる。
係数メモリに参照信号を書き込んでおき、FIRフィル
タ35で相互相関演算を行うことにより実行される。
の技術(技術文献として、Rader Handbook, Skolnik, e
t.al, McGraw-Hill Inc., 1970がある)であり、位相を
符合化した波形又は周波数を変調させた波形(FM信
号)を送信波として採用し、受信波形と送信波形の相互
相関演算をとることにより、受信波のパルス時間幅を短
くすると同時に、信号の伝播途中に加わった雑音を低減
する技術である。長いパルス幅の送信信号を用いること
と、相互相関演算によって送信信号とは無相関のノイズ
を低減することにより、SN比を大きく向上できる。パ
ルス圧縮処理技術の超音波探傷法への応用については、
前記特開平7ー167844号公報に詳しく説明されて
いる。
示す。図7において、35aは掛算器、35bは加算
器、35cはクロック1周期分の遅延回路を示す。クロ
ック信号に同期してサンプリングされた入力信号X(1
0bit )は、端子35dから入力され、128個の掛算
器35aに並列に入力される。各々の掛算器35aに
は、送信信号を127に時分割し、各分割点においてサ
ンプリングした128個の参照信号C1 〜C128 (10
bit )が入力されている。そして、クロックに同期した
タイミングで入力信号と参照信号の間に遅延回路35c
を介した積和演算が行われ、入力信号と参照信号との相
互相関が演算される。
分の振幅の入力信号と参照信号との相互相関を演算する
と、出力信号の振幅は20数bit分もの大きな信号とな
るため、一般にFIRフィルタ35の掛算器35a、加
算器35bは20数bitの桁を持ったものが使われる。
一方、検波評価部4は10bitで十分であるので、この
20数bitの内の10bitを取り出して、評価部に用い
る。
ベルの設定は、従来、次のように行われている。まず、
参照信号については、分解能を最大限に上げるため、1
0bit の場合、最大振幅が511を超えない範囲で51
1に近い値となるように選ばれている。また、パルス圧
縮前の信号が飽和するレベルで、パルス圧縮後の信号も
大体飽和するように設定されている。このようにするた
め、出力信号の20数bitの内、有効な最上位bitの位置
を10bitのMSB(Most Significant Bit)として選
択して評価部へ出力するようにする。さらに、欠陥探傷
における感度設定は、基準となる面や人工傷からのエコ
ー高さが評価部やCRTで適当な値、例えば50%になる
ように受信増幅器33の増幅度を設定する。
技術には、次のような問題があった。
とする場合、小さい人工傷、例えばφ2mm の平底穴か
らの信号が評価部で50%の大きさとなるように受信増
幅器33の増幅度を設定する。すると、Sエコー(表面
エコー)やBエコー(底面エコー)などの境界面エコー
がA/D変換器34の量子化範囲を越えて飽和すること
になる。このような感度設定で実際に探傷を行う際、境
界面エコーの手前に小さい欠陥があると、そのFエコー
(欠陥エコー)はパルス圧縮前では境界面エコーに重な
っているので、境界面エコーが飽和している部分のFエ
コーの波形の情報が失われている。この結果、パルス圧
縮後のFエコーは本来の大きさより小さくなってしま
う。このため、底面近傍に不感帯が生じることになり、
底面近傍の欠陥を見逃すことにつながる。
コーと境界面エコーの重なる割合が増えて不感帯が広が
るため、送信信号のパルス幅を長くすることができな
い。SN比は送信信号のパルス幅が長いほど高くできる
が、上記問題のため、あまり長いパルス幅を用いること
ができず、SN比に限界がある。
ためになされたもので、パルス圧縮処理を垂直探傷に適
用して超音波探傷を行う際に、表面や底面などの境界面
の不感帯を小さくし、その部分に存在する小さな欠陥を
探傷できることができる超音波探傷装置の感度設定方法
を提供することを目的とする。
増幅器で増幅後A/D変換器でA/D変換し、送信信号
と相似の参照信号とA/D変換された受信信号との相互
相関をFIRフィルタを用いてとることにより受信信号
のパルス圧縮を行い、パルス圧縮された受信信号に基づ
いて評価部において欠陥の判別を行う超音波探傷器の感
度を設定する方法であって、受信信号中の境界面エコー
が前記A/D変換器で飽和しないように前記増幅器の増
幅度を設定し、パルス圧縮後の標準欠陥エコーが評価部
において所望の大きさの範囲に入るように、評価部に入
力するFIRフィルタの出力ビットを決定することを特
徴とする超音波探傷装置の感度設定方法により解決され
る。
変換器で飽和しないように受信増幅器の増幅度が設定さ
れるので、境界エコーに重なったFエコーの波形情報が
失われることはなく、パルス圧縮後のFエコーは小さく
ならない。一方、パルス圧縮後のFIRフィルタの出力
bitから評価部に入力するbitを選択する際、選択位置を
LSB(Least Significant Bit)側へずらしていく
と、選択された10bit信号での振幅を2倍ずつ大きく
することができる。この結果、Fエコーを評価部にて所
望の例えば50〜100%のレベルになるように設定す
ることができる。
の出力ビットを決定した後、パルス圧縮後の標準欠陥エ
コーが評価部において規定の大きさとなるように、参照
信号の大きさを設定することにより、Fエコーを評価部
にて所望の例えばほぼ50%に設定することができる。
に基づいて説明する。
デジタル信号処理によるパルス圧縮処理を適用した超音
波探傷装置の受信部を示している。図中、1は受信増幅
器、2はA/D変換器、3はFIRフィルタ、4は検波
評価部であり、5はA/D変換における信号波形のレベ
ルを示した図、6はFIRフィルタ後の信号波形のレベ
ルを示した図、7は評価部における信号レベルを示した
図である。5〜7において横軸は時間を示し、縦軸は信
号の大きさを示す。5、6における横軸1目盛は1μs
を表す。5における縦軸の最大値は±500であり、6
における縦軸の最大値は±4×106 である。7におけ
る縦軸の最大値はCRT目盛100%を示し、検波評価
部の出力で500に相当する。
ある広帯域増幅器であり、その増幅度は最大100dB
まで可変できるようになっている。受信増幅器1の入力
側には超音波探触子が取り付けられ、エコー信号が入力
される。A/D変換器2はサンプリング周波数25MH
z、データ語長10bitである。FIRフィルタ3は入力
10bit、係数(参照信号)10bitであり、出力は25
bitの桁を持っている。検波評価部4は、入力10bitで
あり、入力のAC波形を整流して9bit の検波波形に
し、CRTに出力するとともに欠陥の評価を行なうよう
になっている。
が、振幅500が検波評価部4の100%に相当するよ
うにしている。また、5〜7の信号は、厚さ20mmの厚
板を用い、底面前3mmのφ2mm平底穴を、2分割垂直探
触子5Z3×20NDを用いて探傷した例を示すものである。
パルス圧縮のための送信信号にはチャープ波を用い、そ
のパルス幅は3μs、中心周波数は5MHz、周波数幅は
10MHzとし、パルス圧縮のための参照信号は送信信号
と同一の波形を用ている。
度設定法の1例について説明する。ここではFエコーが
検波評価部4で50%、すなわち振幅で250となるよ
うに設定を行う。
ないように、受信増幅器1の増幅度を設定する。5はそ
の時の信号レベルを示すものであり、パルス圧縮前のB
エコーが振幅約500の間に納まっていることが示され
ている。ここで振幅とは、10bitのデジタル信号を整
数で示したものであり、10bitのデジタル信号は−5
12〜+511までの範囲を持つので、振幅500とは
飽和する少し手前のレベルであることを意味している。
5中、FエコーはBエコーの1μs手前から現れ、2μs
分がBエコーに重なっている。
信号を示したものであり、Bエコーの振幅は約3.4×1
06 になっている。これは2進数では23bit分の信号
である。
いて示す図である。10は入力信号、11は係数(参照
信号)、12は相関器でFIRフィルタの演算部(図7
との対応においては、図7の最終段の掛算器35aと加
算器35bを組み合わせたものに対応)、13は出力信
号(図7との対応においては、図7の最終段の加算器3
5bの出力信号に対応)、14〜17は評価部への信号
でFIRフィルタの出力から10bit選択したものであ
る。
bへの前段からの遅延信号は0であり、相関器12の出
力は入力信号10と係数11の積のみで求められると仮
定し行う。
ーの最大値に対応する数値を示したものである。3.4×
106 の信号は、出力信号13に示されるようにLSB
から23bit分で表現される。但し、一番上のbitは符号
bitであり、ここがMSBとなる。
際、14、15のような選択をすると、選択された信号
のMSBから1bit 〜2bit の信号が無意味なものとな
り分解能が悪い。16のように、出力信号の有効な最上
位bitの位置を10bitのMSBとして取り出すと、Bエ
コーの振幅は10bitの範囲に収まって表現され、Bエ
コーを飽和させない範囲で最大の分解能が得られる。
あるべき信号がマイナスとして表現され、Bエコー信号
が飽和して歪みが発生する。しかし、この段階では既に
信号のパルス圧縮処理が行われているので、Bエコー信
号を飽和させても情報量が失われることはない。
あり、Bエコー信号が飽和し、Fエコー信号が飽和しな
いように、出力信号13のLSB側にずらして10bit
を選択するようにするものである。LSB側に1bit ず
らすことは相対的に2倍大きくすることに相当するの
で、Fエコーを検波評価部4にて十分な大きさにするこ
とができる。
の、FIRフィルタ出力のbit選択と参照信号の振幅設
定を図3によって説明する。図3において図中の符号は
図2と同様であるが、出力信号10bitの選択位置をさ
らにLSB側へずらした18〜19と参照信号の再設定
後を示した11’が加わっている。
3、15〜19の数値は、Fエコーに対応する数値を示
したものである。
おいて250〜500の間に入るように出力信号13の
bit を選択する。出力にて選択する10bitのMSBを
出力信号の有効な最上位bitに合わせて選択した場合、
図2の16に示されているようにBエコーの振幅は42
0である。φ2mm 平底穴のFエコーはBエコーの約1/2
0であるので、この場合、Fエコーの振幅は図3の15
に示されているように21である。
をLSB側へ4bit ずらす。このようにすると、Fエコ
ーの振幅は336となり、所望の設定値である50%、
すなわち250と500の間に入る。
り、検波評価部4におけるFエコーの振幅を250(5
0%)にする。11’に示すように、参照信号の振幅を
250/336倍して小さくする。この結果、Fエコーの振幅
は250となり、所望の50%に設定することができ
る。
や、参照信号を小さくする割合は、用いる送信信号の波
形や超音波探触子の帯域によって異なるため、必ずしも
値は上記例に限らない。以上の操作を自動的に行なう場
合の手順の例を図4のフローチャートに示す。
ておく。次に、欠陥のない部分でエコー信号を得て、パ
ルス圧縮前のBエコーの振幅が大体500になるように
受信増幅器の増幅度を設定する。次に、標準欠陥のある
部分でエコー信号を得、Fエコーの振幅が250〜50
0の範囲になるように、出力から10bit選択する際の
位置を調整する。さらに、その時のFエコーの振幅をβ
とし、参照信号の振幅を250/β倍にする。
必要はない。例えば、参照信号の大きさを変える代わり
に、検波評価部4における欠陥評価レベルを変えても同
じ効果が得られる。
るかは、探傷条件によって適宜決定されるが、bit の選
択範囲を1bit 変えると信号の大きさが2倍となるの
で、得るべきFエコーの最小値を決定すれば、最大値は
その倍とするのが普通である。もちろん、たとえば、F
エコーの範囲を250〜511として、解が二つ得られ
た場合は大きい方を採用することも考えられる。
を採用したい場合には、あるbit 選択ではFエコーが2
55未満となり、bit 選択位置を1bit LSB側にずら
すとFエコーが511を超えて飽和してしまう可能性も
ある。このような場合には、受信増幅器の増幅度を落と
すか参照信号の大きさを小さくして、Fエコーを飽和し
ない範囲とする必要がある。
2mmのφ2mm平底穴を、2分割垂直探触子5Z6×27NDを
用いて探傷した例であり、Fエコーを設定する信号レベ
ルを60%とした。
による探傷波形で、まず欠陥上でBエコーがほぼ100
%になるように受信増幅器の増幅度を設定したものであ
る。(b) はFエコーが60%になるように増幅度を16
dB増やしたものである。
で、(c) はパルス圧縮前の信号がA/D変換器で飽和し
ないように受信増幅器の増幅度を設定した時の波形であ
る。
で、(d) は、パルス圧縮前後の振幅が等しくなるよう
に、FIRフィルタの出力信号の最上位bitをMSBと
して評価部への10bitを選択したもの、(e) は、受信
増幅器の増幅度を16dB増やした結果である。
理の効果のため、(e) では(b) に比してノイズ成分が大
幅に低減し、S/N比が向上している。しかし、(e) で
は、飽和したBエコーと重なっているFエコーの成分が
失われているため、Fエコーの振幅は(b) のように60
%になっていない。
ので、評価部への10bitの選択位置を(d) における出
力bit選択位置より3bit LSB側へずらした位置に
し、その時のFエコーの大きさを基に参照信号の振幅を
1/1.26倍で設定し直した時の波形であり、Fエコーの振
幅が60%に設定されていることが示されている。そし
て、(b) に比して、ノイズ成分が大幅に低減し、S/N
比が向上していることがわかる。
語長10bit、FIRフィルタの入力10bit、係数10
bit、出力は25bit、検波評価部の入力10bitとし、
検波後の振幅500が評価部の100%に相当するよう
にしたが、これに限るものではなく、また、相関の演算
にFIRフィルタを用いたが、ソフトウェア的にFIR
フィルタと同じ演算を行なう方法に対しても適用可能で
ある。
たFエコーの波形情報が失われることがないので、パル
ス圧縮後のFエコーは小さくならない。また、Fエコー
の大きさを適当なものとすることができる。また、送信
信号のパルス幅も長くできるので、高いSN比での探傷
ができる。よって、境界エコーの近傍に存在する欠陥エ
コーを見逃しなく探傷することができるようになる。
ある。
である。
を示す図である。
る。
図である。
図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 受信信号を増幅器で増幅後A/D変換器
でA/D変換し、送信信号と相似の参照信号とA/D変
換された受信信号との相互相関をFIRフィルタを用い
てとることにより受信信号のパルス圧縮を行い、パルス
圧縮された受信信号に基づいて評価部において欠陥の判
別を行う超音波探傷器の感度を設定する方法であって、
受信信号中の境界面エコーが前記A/D変換器で飽和し
ないように前記増幅器の増幅度を設定し、パルス圧縮後
の標準欠陥エコーが評価部において所望の大きさの範囲
に入るように、評価部に入力するFIRフィルタの出力
ビットを決定することを特徴とする超音波探傷装置の感
度設定方法。 - 【請求項2】 評価部に入力するFIRフィルタの出力
ビットを決定した後、パルス圧縮後の標準欠陥エコーが
評価部において規定の大きさとなるように、参照信号の
大きさを設定することを特徴とする請求項1に記載の超
音波探傷装置の感度設定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22371896A JP3228404B2 (ja) | 1996-08-26 | 1996-08-26 | 超音波探傷装置の感度設定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22371896A JP3228404B2 (ja) | 1996-08-26 | 1996-08-26 | 超音波探傷装置の感度設定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1062394A true JPH1062394A (ja) | 1998-03-06 |
| JP3228404B2 JP3228404B2 (ja) | 2001-11-12 |
Family
ID=16802595
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22371896A Expired - Fee Related JP3228404B2 (ja) | 1996-08-26 | 1996-08-26 | 超音波探傷装置の感度設定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3228404B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010266378A (ja) * | 2009-05-15 | 2010-11-25 | Choonpa Zairyo Shindan Kenkyusho:Kk | 超音波診断評価装置 |
| JP2022021012A (ja) * | 2020-07-21 | 2022-02-02 | セイコーエプソン株式会社 | 信号処理方法及び信号処理装置 |
-
1996
- 1996-08-26 JP JP22371896A patent/JP3228404B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010266378A (ja) * | 2009-05-15 | 2010-11-25 | Choonpa Zairyo Shindan Kenkyusho:Kk | 超音波診断評価装置 |
| JP2022021012A (ja) * | 2020-07-21 | 2022-02-02 | セイコーエプソン株式会社 | 信号処理方法及び信号処理装置 |
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|---|---|
| JP3228404B2 (ja) | 2001-11-12 |
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