JPH1062809A5 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH1062809A5 JPH1062809A5 JP1996213414A JP21341496A JPH1062809A5 JP H1062809 A5 JPH1062809 A5 JP H1062809A5 JP 1996213414 A JP1996213414 A JP 1996213414A JP 21341496 A JP21341496 A JP 21341496A JP H1062809 A5 JPH1062809 A5 JP H1062809A5
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- projection
- pattern
- exposure method
- scanning direction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Description
【0022】
また、所定のずらし量を継ぎ部の幅より大きくすれば、上層と下層の継ぎ部が相互に影響を及ぼし合うことがなくなる。従って、重ね合わせ誤差の最大値を従来の半分にすることができるので、継ぎ部をずらすことにより継ぎ部の箇所が2倍に増えても画面分かれは視認されない。
上記目的は、基板面上に投影領域が分離して形成され、且つ各投影領域の隣接部分同士が基板面内で基板の走査方向と垂直な方向に所定の重複幅で重複すると共に、投影領域に対して第1のパターンと前記基板とを同期させて前記走査方向に走査させて、第1の複数の投影領域により基板上に前記第1のパターンを転写し、第1の複数の投影領域を基板面内で走査方向と直角な方向に相対的に所定のずれ幅だけずらした第2の複数の投影領域により基板上に前記第1のパターンとは異なる第2のパターンを投影し、前記第2の複数の投影領域に対して前記第2のパターンと前記基板とを同期させて前記走査方向に走査させて、前記第2のパターンを前記基板上に転写するようにして達成される。
また、所定のずれ幅は、所定の重複幅よりも大きくすることにより、上層と下層との継ぎ部が相互に影響を及ぼし合わないようにすることができる。
また、所定のずらし量を継ぎ部の幅より大きくすれば、上層と下層の継ぎ部が相互に影響を及ぼし合うことがなくなる。従って、重ね合わせ誤差の最大値を従来の半分にすることができるので、継ぎ部をずらすことにより継ぎ部の箇所が2倍に増えても画面分かれは視認されない。
上記目的は、基板面上に投影領域が分離して形成され、且つ各投影領域の隣接部分同士が基板面内で基板の走査方向と垂直な方向に所定の重複幅で重複すると共に、投影領域に対して第1のパターンと前記基板とを同期させて前記走査方向に走査させて、第1の複数の投影領域により基板上に前記第1のパターンを転写し、第1の複数の投影領域を基板面内で走査方向と直角な方向に相対的に所定のずれ幅だけずらした第2の複数の投影領域により基板上に前記第1のパターンとは異なる第2のパターンを投影し、前記第2の複数の投影領域に対して前記第2のパターンと前記基板とを同期させて前記走査方向に走査させて、前記第2のパターンを前記基板上に転写するようにして達成される。
また、所定のずれ幅は、所定の重複幅よりも大きくすることにより、上層と下層との継ぎ部が相互に影響を及ぼし合わないようにすることができる。
Claims (8)
- 基板面上で各投影領域が分離しており、且つ前記各投影領域の隣接部分同士が基板面内で基板の走査方向と垂直な方向に所定の重複幅で重複している第1の複数の投影領域で前記基板上に第1のパターンの一部を投影し、前記第1の複数の投影領域に対して前記第1のパターンと前記基板とを同期させて前記走査方向に走査させて、前記基板上に前記第1のパターンを転写し、
前記第1の複数の投影領域を前記基板面内で前記走査方向と直角な方向に相対的に所定のずれ幅だけずらした第2の複数の投影領域で前記基板上に第2のパターンの一部を投影し、前記第2の複数の投影領域に対して前記第2のパターンと前記基板とを同期させて前記走査方向に走査させて、前記第2のパターンを前記基板上に転写することを特徴とする投影露光方法。 - 請求項1記載の投影露光方法において、
前記第1のパターンが描画されたレチクル及び前記基板の配置に対して、前記第2のパターンが描画されたレチクル及び前記基板の配置を前記基板面内で前記走査方向と直角な方向に相対的に前記所定のずれ幅だけずらすことにより、
前記第1の複数の投影領域に対して前記第2の複数の投影領域を相対的にずらすようにすることを特徴とする投影露光方法。 - 請求項1記載の投影露光方法において、
前記第1のパターンのレチクル上での描画位置に対して、前記第2のパターンのレチクル上での描画位置を前記基板面内で前記走査方向と直角な方向に相対的に所定のずれ幅だけずらし、
前記第1のパターンに対する前記基板の位置に対して、前記第2のパターンに対する前記基板の位置を前記基板面内で前記走査方向と直角な方向に相対的に前記所定のずれ幅だけずらすことにより、
前記第1の複数の投影領域に対して前記第2の複数の投影領域を相対的にずらすようにすることを特徴とする投影露光方法。 - 請求項1記載の投影露光方法において、
前記第1の複数の投影領域に投影する第1の複数の投影光学系に対して、前記第2の複数の投影領域に投影する第2の複数の投影光学系を前記基板面内で前記走査方向と直角な方向に相対的に前記所定のずれ幅だけずらすことにより、
前記第1の複数の投影領域に対する前記第2の複数の投影領域を相対的にずらすようにすることを特徴とする投影露光方法。 - 請求項1乃至4のいずれかに記載の投影露光方法において、
前記所定のずれ幅は、前記所定の重複幅にほぼ等しくすることを特徴とする投影露光方法。 - 請求項1乃至5のいずれかに記載の投影露光方法において、
前記所定のずれ幅は、前記所定の重複幅から前記所定の重複幅のほぼ2倍の範囲内にすることを特徴とする投影露光方法。 - 基板面上に投影領域が分離して形成され、且つ前記各投影領域の隣接部分同士が基板面内で基板の走査方向と垂直な方向に所定の重複幅で重複すると共に、前記投影領域に対して第1のパターンと前記基板とを同期させて前記走査方向に走査させて、第1の複数の投影領域により前記基板上に前記第1のパターンを転写し、
前記第1の複数の投影領域を前記基板面内で前記走査方向と直角な方向に相対的に所定のずれ幅だけずらした第2の複数の投影領域により前記基板上に前記第1のパターンとは異なる第2のパターンを投影し、前記第2の複数の投影領域に対して前記第2のパターンと前記基板とを同期させて前記走査方向に走査させて、前記第2のパターンを前記基板上に転写することを特徴とする投影露光方法。 - 請求項7に記載の投影露光方法において、
前記所定のずれ幅は、前記所定の重複幅よりも大きくすることを特徴とする投影露光方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8213414A JPH1062809A (ja) | 1996-08-13 | 1996-08-13 | 投影露光方法 |
| KR1019970015622A KR100468234B1 (ko) | 1996-05-08 | 1997-04-25 | 노광방법,노광장치및디스크 |
| US08/848,394 US6204912B1 (en) | 1996-05-08 | 1997-05-08 | Exposure method, exposure apparatus, and mask |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8213414A JPH1062809A (ja) | 1996-08-13 | 1996-08-13 | 投影露光方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1062809A JPH1062809A (ja) | 1998-03-06 |
| JPH1062809A5 true JPH1062809A5 (ja) | 2004-08-19 |
Family
ID=16638842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8213414A Pending JPH1062809A (ja) | 1996-05-08 | 1996-08-13 | 投影露光方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1062809A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW447009B (en) | 1999-02-12 | 2001-07-21 | Nippon Kogaku Kk | Scanning exposure method and scanning type exposure device |
| KR101006435B1 (ko) * | 2003-09-01 | 2011-01-06 | 삼성전자주식회사 | 노광 마스크, 이를 포함하는 노광 장치 및 이를 이용한표시 장치용 표시판의 제조 방법 |
| US7704850B2 (en) * | 2006-09-08 | 2010-04-27 | Asml Netherlands B.V. | Semiconductor device for measuring an overlay error, method for measuring an overlay error, lithographic apparatus and device manufacturing method |
| CN110945430B (zh) | 2017-07-25 | 2022-08-12 | 凸版印刷株式会社 | 曝光装置及曝光方法 |
| JP7204507B2 (ja) * | 2019-02-05 | 2023-01-16 | キオクシア株式会社 | 露光方法および露光装置 |
| JP2019117403A (ja) * | 2019-03-22 | 2019-07-18 | 株式会社ニコン | 露光装置、並びにディスプレイ及びデバイスの製造方法 |
| JP6734573B2 (ja) * | 2019-03-22 | 2020-08-05 | 株式会社ニコン | 露光装置、並びにディスプレイ及びデバイスの製造方法 |
-
1996
- 1996-08-13 JP JP8213414A patent/JPH1062809A/ja active Pending
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