JPH1064280A - 半導体メモリ装置の感知増幅回路 - Google Patents
半導体メモリ装置の感知増幅回路Info
- Publication number
- JPH1064280A JPH1064280A JP9120782A JP12078297A JPH1064280A JP H1064280 A JPH1064280 A JP H1064280A JP 9120782 A JP9120782 A JP 9120782A JP 12078297 A JP12078297 A JP 12078297A JP H1064280 A JPH1064280 A JP H1064280A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- emitter
- transistor
- voltage
- coupled
- amplifier circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
- G11C7/062—Differential amplifiers of non-latching type, e.g. comparators, long-tailed pairs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
- G11C7/08—Control thereof
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 安定した動作を行うとともに、エミッターカ
ップル対称トランジスタの飽和電圧を防止することにあ
る。 【解決手段】 入力ラインL5、L6、エミッターカッ
プル対称トランジスタ80、82、電流源96及び電圧
調節部92、94を具備する。前記エミッターカップル
対称トランジスタ80、82は前記入力ラインL5、L
6を通じてメモリセルアレイから出力される差動補償信
号を感知する。前記電流源96は前記エミッターカップ
ル対称トランジスタ80、82の各エミッターと接地端
との間に連結されて前記エミッターカップル対称トラン
ジスタ80、82にバイアスを供給する。前記電圧調節
部92、94は前記入力ラインL5、L6にそれぞれ入
力されて前記エミッターカップル対称トランジスタ8
0、82の導通電圧の飽和を防止する。これによって、
安定した動作が可能であり、エミッタカップル対称トラ
ンジスタの飽和電圧を防止し得る感知増幅回路を確保し
得る。
ップル対称トランジスタの飽和電圧を防止することにあ
る。 【解決手段】 入力ラインL5、L6、エミッターカッ
プル対称トランジスタ80、82、電流源96及び電圧
調節部92、94を具備する。前記エミッターカップル
対称トランジスタ80、82は前記入力ラインL5、L
6を通じてメモリセルアレイから出力される差動補償信
号を感知する。前記電流源96は前記エミッターカップ
ル対称トランジスタ80、82の各エミッターと接地端
との間に連結されて前記エミッターカップル対称トラン
ジスタ80、82にバイアスを供給する。前記電圧調節
部92、94は前記入力ラインL5、L6にそれぞれ入
力されて前記エミッターカップル対称トランジスタ8
0、82の導通電圧の飽和を防止する。これによって、
安定した動作が可能であり、エミッタカップル対称トラ
ンジスタの飽和電圧を防止し得る感知増幅回路を確保し
得る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体メモリ装置に
係り、さらに詳細には半導体メモリ装置の感知増幅回路
に関する。
係り、さらに詳細には半導体メモリ装置の感知増幅回路
に関する。
【0002】
【従来の技術】通常、半導体メモリ装置の感知増幅回路
は、バイポーラ接合トランジスタ、接合電界効果トラン
ジスタ、絶縁ゲート電界効果トランジスタなどからな
る。前記バイポーラ接合トランジスタからなる感知増幅
回路は、主に高速のロジック回路に用いられている。そ
の一例として1984年、日本の株式会社東芝では前記
バイポーラ接合トランジスタを高密度のスタティックR
AMに用いた。その結果、ビットラインのスウィング(s
wing)が減り、ビットラインの回復時間が縮まった。さ
らに、1985年にはCMOSスタティックRAMに3
段の感知増幅回路を用いることによりCMOSスタティ
ックRAMの動作速度が向上した。前記3段の感知増幅
回路において、第1段は高速のデータを伝送する電流ミ
ラー形の増幅器を備えている。しかしながら、前記第1
段は相対的に低い電圧増幅度を有する。そして、前記第
1段は増幅度が高い第2段及び第3段に接続される。前
記感知増幅回路はビットラインを通じてメモリセルアレ
イに接続され、メモリセルアレイに貯蔵されたデータを
感知する。
は、バイポーラ接合トランジスタ、接合電界効果トラン
ジスタ、絶縁ゲート電界効果トランジスタなどからな
る。前記バイポーラ接合トランジスタからなる感知増幅
回路は、主に高速のロジック回路に用いられている。そ
の一例として1984年、日本の株式会社東芝では前記
バイポーラ接合トランジスタを高密度のスタティックR
AMに用いた。その結果、ビットラインのスウィング(s
wing)が減り、ビットラインの回復時間が縮まった。さ
らに、1985年にはCMOSスタティックRAMに3
段の感知増幅回路を用いることによりCMOSスタティ
ックRAMの動作速度が向上した。前記3段の感知増幅
回路において、第1段は高速のデータを伝送する電流ミ
ラー形の増幅器を備えている。しかしながら、前記第1
段は相対的に低い電圧増幅度を有する。そして、前記第
1段は増幅度が高い第2段及び第3段に接続される。前
記感知増幅回路はビットラインを通じてメモリセルアレ
イに接続され、メモリセルアレイに貯蔵されたデータを
感知する。
【0003】また、感知増幅回路はメモリセルアレイか
ら出力されたデータを1次に感知及び増幅するブロック
感知増幅回路と、前記ブロック感知増幅回路の出力信号
の差動補償信号を2次に感知及び増幅するメイン感知増
幅回路と、前記メイン感知増幅回路の出力信号を感知及
び増幅するサブ感知増幅回路とに区分される。前記メイ
ン感知増幅回路は増幅度が低い前記ブロック感知増幅回
路の出力を補償し、前記メイン感知増幅回路に接続され
たサブ感知増幅回路は、感知機能を最適化する。前記従
来例は、前記ブロック感知増幅回路の差動補償信号を感
知及び増幅するためのメイン感知増幅回路(以下、感知
増幅回路と称する。)に関する。
ら出力されたデータを1次に感知及び増幅するブロック
感知増幅回路と、前記ブロック感知増幅回路の出力信号
の差動補償信号を2次に感知及び増幅するメイン感知増
幅回路と、前記メイン感知増幅回路の出力信号を感知及
び増幅するサブ感知増幅回路とに区分される。前記メイ
ン感知増幅回路は増幅度が低い前記ブロック感知増幅回
路の出力を補償し、前記メイン感知増幅回路に接続され
たサブ感知増幅回路は、感知機能を最適化する。前記従
来例は、前記ブロック感知増幅回路の差動補償信号を感
知及び増幅するためのメイン感知増幅回路(以下、感知
増幅回路と称する。)に関する。
【0004】図3は従来の技術によるブロック感知増幅
回路の回路図である。前記図3を参照すれば、トランジ
スタ8,12は入力信号OWDiに応じてプリチャージ
及び等化部2,4,6によって等化及びプリチャージさ
れた後、入力ラインL1,L2を通じてメモリセルアレ
イから伝えられた差動データ出力信号SDL,SDLB
に応答して予め設定された電圧をエミッターカップル対
称トランジスタ10,14に供給する。これによって、
前記エミッターカップル対称トランジスタ10,14は
増幅された出力信号MDL,MDLBを出力する。前記
エミッターカップル対称トランジスタ10,14と前記
トランジスタ8,12は、基準ブロック感知増幅信号R
EFBSAとブロック感知増幅イネーブル信号BSAE
Nに応答する電流源1に接続されている。前記電流源1
はNMOSトランジスタ16,18,20,22からな
る、一定の電流を接地端GNDに誘起する。前記ブロッ
ク感知増幅回路は入力されるデータを高速で伝送する。
そして、前記ブロック感知増幅回路は増幅度が相対的に
小さい。
回路の回路図である。前記図3を参照すれば、トランジ
スタ8,12は入力信号OWDiに応じてプリチャージ
及び等化部2,4,6によって等化及びプリチャージさ
れた後、入力ラインL1,L2を通じてメモリセルアレ
イから伝えられた差動データ出力信号SDL,SDLB
に応答して予め設定された電圧をエミッターカップル対
称トランジスタ10,14に供給する。これによって、
前記エミッターカップル対称トランジスタ10,14は
増幅された出力信号MDL,MDLBを出力する。前記
エミッターカップル対称トランジスタ10,14と前記
トランジスタ8,12は、基準ブロック感知増幅信号R
EFBSAとブロック感知増幅イネーブル信号BSAE
Nに応答する電流源1に接続されている。前記電流源1
はNMOSトランジスタ16,18,20,22からな
る、一定の電流を接地端GNDに誘起する。前記ブロッ
ク感知増幅回路は入力されるデータを高速で伝送する。
そして、前記ブロック感知増幅回路は増幅度が相対的に
小さい。
【0005】図4は従来の技術による感知増幅回路の回
路図である。図4を参照すれば、前記図3に示したブロ
ック感知増幅回路の差動補償信号MDL,MDLBを入
力とする入力ラインL3,L4がエミッターカップル対
称トランジスタ40,42に接続されている。前記エミ
ッターカップル対称トランジスタ40,42と電源電圧
Vccとの間には抵抗36,38が接続され、前記抵抗
36,38と前記エミッターカップル対称トランジスタ
40,42との間から出力信号SAS1,SAS1Bが
出力される。
路図である。図4を参照すれば、前記図3に示したブロ
ック感知増幅回路の差動補償信号MDL,MDLBを入
力とする入力ラインL3,L4がエミッターカップル対
称トランジスタ40,42に接続されている。前記エミ
ッターカップル対称トランジスタ40,42と電源電圧
Vccとの間には抵抗36,38が接続され、前記抵抗
36,38と前記エミッターカップル対称トランジスタ
40,42との間から出力信号SAS1,SAS1Bが
出力される。
【0006】電圧調節部24,26は、前記入力ライン
L3,L4に連結されて前記エミッターカップル対称ト
ランジスタ40,42の飽和を防止する。また、電圧調
節部24,26は電源電圧Vccと前記入力ラインL
3,L4との間に直列に接続されたダイオード28,3
2と負荷抵抗30,34とからなり、前記入力ラインL
3,L4に降下された電源電圧Vccを供給する。トラ
ンジスタ44,46はそれぞれ前記入力ラインL3,L
4に接続され、基準感知増幅信号REFMSAに応答す
る。前記基準感知増幅信号REFMSAの論理値がハイ
の時に、前記入力ラインL3,L4の電源電圧のレベル
が上昇すると該上昇した電圧は直ちに接地電圧レベルに
降下される。
L3,L4に連結されて前記エミッターカップル対称ト
ランジスタ40,42の飽和を防止する。また、電圧調
節部24,26は電源電圧Vccと前記入力ラインL
3,L4との間に直列に接続されたダイオード28,3
2と負荷抵抗30,34とからなり、前記入力ラインL
3,L4に降下された電源電圧Vccを供給する。トラ
ンジスタ44,46はそれぞれ前記入力ラインL3,L
4に接続され、基準感知増幅信号REFMSAに応答す
る。前記基準感知増幅信号REFMSAの論理値がハイ
の時に、前記入力ラインL3,L4の電源電圧のレベル
が上昇すると該上昇した電圧は直ちに接地電圧レベルに
降下される。
【0007】前述したように、前記電圧調節部24,2
6は前記入力ラインL3,L4に接続されて前記入力ラ
インL3,L4を降下する。従って、前記図3に示した
エミッターカップル対称トランジスタ10,14の各コ
レクタの電圧が降下し、よって前記エミッターカップル
対称トランジスタ40,42は飽和される。
6は前記入力ラインL3,L4に接続されて前記入力ラ
インL3,L4を降下する。従って、前記図3に示した
エミッターカップル対称トランジスタ10,14の各コ
レクタの電圧が降下し、よって前記エミッターカップル
対称トランジスタ40,42は飽和される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記入
力ラインL3,L4に寄生キャパシタが存在する場合
は、前記入力ラインL3,L4の電圧がさらに降下され
る。これによって、前記エミッターカップル対称トラン
ジスタ40,42がさらに飽和され、前記感知増幅回路
の特性が劣化する。また、前記入力ラインL3,L4の
電源電圧レベルがカップリングノイズによって上昇する
場合、前記ダイオード28,32はターンオフされ、前
記トランジスタ44,46の電流経路が遮断されて前記
入力ラインL3,L4の回復時間が延び、これによって
データの出力時間が遅れてしまう。この際、前記感知増
幅イネーブル信号MSAENがイネーブルされると誤デ
ータが先に入力され、その後、正しいデータが入力され
ることによってデータのフリップが起こる。これと同時
にトランジスタ44,46の電流経路が遮られる。さら
に、前記感知増幅回路をイネーブルさせる信号MSAE
Nがイネーブルされる前に前記ダイオード28,32を
動作して前記入力ラインL3,L4を予め一定の電圧に
固定させるためにトランジスタ44,46を通じて常に
一定に流れる電流を接地端に誘起させるが、これによっ
て待機電流が増加する。図4において、トランジスタ4
8、52とトランジスタ56,58は基準感知増幅信号
REFMSAと感知増幅イネーブル信号MSAENに接
続されて電圧調節部24,26に予め設定された電圧を
制御する。さらに、トランジスタ50,54は電流源で
あって、前記エミッターカップル対称トランジスタ4
0,52から一定電流を接地端GNDに流す。
力ラインL3,L4に寄生キャパシタが存在する場合
は、前記入力ラインL3,L4の電圧がさらに降下され
る。これによって、前記エミッターカップル対称トラン
ジスタ40,42がさらに飽和され、前記感知増幅回路
の特性が劣化する。また、前記入力ラインL3,L4の
電源電圧レベルがカップリングノイズによって上昇する
場合、前記ダイオード28,32はターンオフされ、前
記トランジスタ44,46の電流経路が遮断されて前記
入力ラインL3,L4の回復時間が延び、これによって
データの出力時間が遅れてしまう。この際、前記感知増
幅イネーブル信号MSAENがイネーブルされると誤デ
ータが先に入力され、その後、正しいデータが入力され
ることによってデータのフリップが起こる。これと同時
にトランジスタ44,46の電流経路が遮られる。さら
に、前記感知増幅回路をイネーブルさせる信号MSAE
Nがイネーブルされる前に前記ダイオード28,32を
動作して前記入力ラインL3,L4を予め一定の電圧に
固定させるためにトランジスタ44,46を通じて常に
一定に流れる電流を接地端に誘起させるが、これによっ
て待機電流が増加する。図4において、トランジスタ4
8、52とトランジスタ56,58は基準感知増幅信号
REFMSAと感知増幅イネーブル信号MSAENに接
続されて電圧調節部24,26に予め設定された電圧を
制御する。さらに、トランジスタ50,54は電流源で
あって、前記エミッターカップル対称トランジスタ4
0,52から一定電流を接地端GNDに流す。
【0009】本発明は、このような従来の課題に鑑みて
なされたものであり、その目的は、安定した動作を行う
半導体メモリ装置の感知増幅回路を提供することにあ
る。
なされたものであり、その目的は、安定した動作を行う
半導体メモリ装置の感知増幅回路を提供することにあ
る。
【0010】本発明の他の目的は、エミッターカップル
対称トランジスタの飽和電圧を防止する半導体メモリ装
置の感知増幅回路を提供することにある。
対称トランジスタの飽和電圧を防止する半導体メモリ装
置の感知増幅回路を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、請求項1記載の第1の発明の感知増幅回路は、入
力ラインと、前記入力ラインから入力される信号を感知
するエミッターカップル対称トランジスタと、前記入力
ラインと前記エミッターカップル対称トランジスタとの
間に各々連結されて前記エミッターカップル対称トラン
ジスタの導通電圧の飽和を防止する電圧調節部と、前記
エミッターカップル対称トランジスタの各エミッターと
接地端との間に連結されて前記エミッターカップル対称
トランジスタにバイアスを供給する電流源とを具備する
ことを要旨とする。従って、安定した動作を行うととも
に、エミッターカップル対称トランジスタの飽和電圧を
防止できる。
めに、請求項1記載の第1の発明の感知増幅回路は、入
力ラインと、前記入力ラインから入力される信号を感知
するエミッターカップル対称トランジスタと、前記入力
ラインと前記エミッターカップル対称トランジスタとの
間に各々連結されて前記エミッターカップル対称トラン
ジスタの導通電圧の飽和を防止する電圧調節部と、前記
エミッターカップル対称トランジスタの各エミッターと
接地端との間に連結されて前記エミッターカップル対称
トランジスタにバイアスを供給する電流源とを具備する
ことを要旨とする。従って、安定した動作を行うととも
に、エミッターカップル対称トランジスタの飽和電圧を
防止できる。
【0012】請求項2記載の第2の発明は、前記各電圧
調節部は、電源電圧と前記入力ラインとの間にそれぞれ
連結された抵抗と、前記入力ラインにベースが連結さ
れ、前記電源電圧に第1電極がそれぞれ連結され、前記
エミッターカップル対称トランジスタの各入力端に第2
電極がそれぞれ連結されて前記降下した電源電圧を前記
エミッターカップル対称トランジスタに供給するバイポ
ーラ接合トランジスタとを具備することを要旨とする。
従って、エミッターカップル対称トランジスタの導通電
圧の飽和を防止できる。
調節部は、電源電圧と前記入力ラインとの間にそれぞれ
連結された抵抗と、前記入力ラインにベースが連結さ
れ、前記電源電圧に第1電極がそれぞれ連結され、前記
エミッターカップル対称トランジスタの各入力端に第2
電極がそれぞれ連結されて前記降下した電源電圧を前記
エミッターカップル対称トランジスタに供給するバイポ
ーラ接合トランジスタとを具備することを要旨とする。
従って、エミッターカップル対称トランジスタの導通電
圧の飽和を防止できる。
【0013】請求項3記載の第3の発明は、前記エミッ
ターカップル対称トランジスタの各入力端に連結されて
前記エミッターカップル対称トランジスタの各入力を制
御信号に応じて予め設定された電流を放電させる電流源
をさらに具備することを要旨とする。従って、エミッタ
ーカップル対称トランジスタの導通電圧の飽和を防止で
きる。
ターカップル対称トランジスタの各入力端に連結されて
前記エミッターカップル対称トランジスタの各入力を制
御信号に応じて予め設定された電流を放電させる電流源
をさらに具備することを要旨とする。従って、エミッタ
ーカップル対称トランジスタの導通電圧の飽和を防止で
きる。
【0014】請求項4記載の第4の発明は、前記電流源
は、前記エミッターカップル対称トランジスタの各入力
端と接地端との間にチャネルが直列に接続されるMOS
トランジスタであることを要旨とする。従って、エミッ
ターカップル対称トランジスタの導通電圧の飽和を防止
できる。
は、前記エミッターカップル対称トランジスタの各入力
端と接地端との間にチャネルが直列に接続されるMOS
トランジスタであることを要旨とする。従って、エミッ
ターカップル対称トランジスタの導通電圧の飽和を防止
できる。
【0015】請求項5記載の第5の発明は、前記各電圧
調節部は、前記入力ラインに降下した電源電圧を供給す
る第1抵抗と、前記第1抵抗と前記エミッターカップル
対称トランジスタの一入力端の間に連結され、前記降下
した電源電圧に応答して前記電源電圧を前記エミッター
カップル対称トランジスタに供給する第2抵抗とを具備
することを要旨とする。従って、エミッターカップル対
称トランジスタの導通電圧の飽和を防止できる。
調節部は、前記入力ラインに降下した電源電圧を供給す
る第1抵抗と、前記第1抵抗と前記エミッターカップル
対称トランジスタの一入力端の間に連結され、前記降下
した電源電圧に応答して前記電源電圧を前記エミッター
カップル対称トランジスタに供給する第2抵抗とを具備
することを要旨とする。従って、エミッターカップル対
称トランジスタの導通電圧の飽和を防止できる。
【0016】請求項6記載の第6の発明は、前記第1抵
抗はその抵抗値に応答して前記電源電圧を降下して前記
入力ラインに供給することを要旨とする。従って、エミ
ッターカップル対称トランジスタの導通電圧の飽和を防
止できる。
抗はその抵抗値に応答して前記電源電圧を降下して前記
入力ラインに供給することを要旨とする。従って、エミ
ッターカップル対称トランジスタの導通電圧の飽和を防
止できる。
【0017】請求項7記載の第7の発明は、前記第2抵
抗はバイポーラ接合トランジスタであり、前記バイポー
ラ接合トランジスタのエミッターとベースとの間の電源
に応答して前記電源電圧を降下してエミッターカップル
対称トランジスタの一入力端に供給することを要旨とす
る。従って、エミッターカップル対称トランジスタの導
通電圧の飽和を防止できる。
抗はバイポーラ接合トランジスタであり、前記バイポー
ラ接合トランジスタのエミッターとベースとの間の電源
に応答して前記電源電圧を降下してエミッターカップル
対称トランジスタの一入力端に供給することを要旨とす
る。従って、エミッターカップル対称トランジスタの導
通電圧の飽和を防止できる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面に基づき本発
明の好ましい実施の形態を詳細に説明する。
明の好ましい実施の形態を詳細に説明する。
【0019】図1は本発明による感知増幅回路の回路図
である。前記図1を参照すれば、エミッターカップル対
称トランジスタ80,82の各エミッターは互いに接続
されており、前記エミッターカップル対称トランジスタ
80,82のエミッターに電流源96が連結されて前記
エミッターカップル対称トランジスタ80,82にバイ
アスを供給する。前記電流源96は直列に連結された二
つのトランジスタ88,90からなる。そして、入力ラ
インL5、L6に差動補償信号MDL,MDLBが入力
される。前記差動補償信号MDL,MDLBは前記図3
に示したブロック感知増幅回路の出力信号である。前記
入力ラインL5、L6には電圧調節部92,94がそれ
ぞれ連結されている。
である。前記図1を参照すれば、エミッターカップル対
称トランジスタ80,82の各エミッターは互いに接続
されており、前記エミッターカップル対称トランジスタ
80,82のエミッターに電流源96が連結されて前記
エミッターカップル対称トランジスタ80,82にバイ
アスを供給する。前記電流源96は直列に連結された二
つのトランジスタ88,90からなる。そして、入力ラ
インL5、L6に差動補償信号MDL,MDLBが入力
される。前記差動補償信号MDL,MDLBは前記図3
に示したブロック感知増幅回路の出力信号である。前記
入力ラインL5、L6には電圧調節部92,94がそれ
ぞれ連結されている。
【0020】前記電圧調節部92,94は、前記入力ラ
インL5,L6にそれぞれ接続された負荷抵抗64,5
6とバイポーラ接合トランジスタ66,58とからな
る。前記入力ラインL5,L6の電圧は、それぞれ前記
バイポーラ接合トランジスタ66,58の各ベースに誘
起される。即ち、負荷抵抗56,64は、その抵抗値に
応答して降下した電圧を前記入力ラインL5,L6に供
給し、前記バイポーラ接合トランジスタ58,66はそ
れぞれベースとエミッタとの間の電圧に応答して電源電
圧Vccを降下して前記入力ラインL5,L6に供給す
る。したがって、前記バイポーラ接合トランジスタ5
8,66は、降下した電源電圧Vccを前記エミッター
カップル対称トランジスタ80,82に供給する。前記
各バイポーラ接合トランジスタ58,66と接地端GN
Dとの間には、基準感知増幅信号REFMSA(制御信
号)と感知増幅イネーブル信号MSAEN(制御信号)
とに応答するトランジスタ60,62とトランジスタ6
8,72とが各々直列に連結されて、前記各バイポーラ
接合トランジスタ58,66に予め設定された電圧を制
御する。
インL5,L6にそれぞれ接続された負荷抵抗64,5
6とバイポーラ接合トランジスタ66,58とからな
る。前記入力ラインL5,L6の電圧は、それぞれ前記
バイポーラ接合トランジスタ66,58の各ベースに誘
起される。即ち、負荷抵抗56,64は、その抵抗値に
応答して降下した電圧を前記入力ラインL5,L6に供
給し、前記バイポーラ接合トランジスタ58,66はそ
れぞれベースとエミッタとの間の電圧に応答して電源電
圧Vccを降下して前記入力ラインL5,L6に供給す
る。したがって、前記バイポーラ接合トランジスタ5
8,66は、降下した電源電圧Vccを前記エミッター
カップル対称トランジスタ80,82に供給する。前記
各バイポーラ接合トランジスタ58,66と接地端GN
Dとの間には、基準感知増幅信号REFMSA(制御信
号)と感知増幅イネーブル信号MSAEN(制御信号)
とに応答するトランジスタ60,62とトランジスタ6
8,72とが各々直列に連結されて、前記各バイポーラ
接合トランジスタ58,66に予め設定された電圧を制
御する。
【0021】従って、前記入力ラインL5,L6に発生
するカップリングノイズによって上昇した電圧は、前記
負荷抵抗56,64により放電されるので、前記カップ
リングノイズに対して前記感知増幅回路はさらに安定し
た動作ができる。また、前記電圧調節部92,94によ
って2次降下された電圧が前記エミッターカップル対称
トランジスタ80,82の各ベースに入力されることに
よって前記エミッターカップル対称トランジスタ80、
82の飽和が防止される。
するカップリングノイズによって上昇した電圧は、前記
負荷抵抗56,64により放電されるので、前記カップ
リングノイズに対して前記感知増幅回路はさらに安定し
た動作ができる。また、前記電圧調節部92,94によ
って2次降下された電圧が前記エミッターカップル対称
トランジスタ80,82の各ベースに入力されることに
よって前記エミッターカップル対称トランジスタ80、
82の飽和が防止される。
【0022】図5は前記図4に示した感知増幅回路の各
信号の波形図で、図2は前記図1に示した感知増幅回路
の各信号の波形図である。前記図5及び前記図2は前述
したような効果をシミュレーションした結果を示したグ
ラフであって、時間による電圧変動率を示した。前記図
5及び前記図2を参照すれば、従来の技術に該当する前
記図5に示した差動補償信号MDL,MDLBは約4.76
2vまで急激に増加し、ノイズ源によって感知増幅イネー
ブル信号MSAENがイネーブルされると前記感知増幅
回路の出力信号SAS1,SAS1Bにはピーク現象及
びフリップ現象が起こる。しかしながら、本発明の実施
の形態による前記図2において、ノイズ源による前記差
動補償信号MDL,MDLBのピーク電圧は約4.127vで
あって、前記図5に示した前記差動補償信号MDL,M
DLBに比べて著しく減少した。
信号の波形図で、図2は前記図1に示した感知増幅回路
の各信号の波形図である。前記図5及び前記図2は前述
したような効果をシミュレーションした結果を示したグ
ラフであって、時間による電圧変動率を示した。前記図
5及び前記図2を参照すれば、従来の技術に該当する前
記図5に示した差動補償信号MDL,MDLBは約4.76
2vまで急激に増加し、ノイズ源によって感知増幅イネー
ブル信号MSAENがイネーブルされると前記感知増幅
回路の出力信号SAS1,SAS1Bにはピーク現象及
びフリップ現象が起こる。しかしながら、本発明の実施
の形態による前記図2において、ノイズ源による前記差
動補償信号MDL,MDLBのピーク電圧は約4.127vで
あって、前記図5に示した前記差動補償信号MDL,M
DLBに比べて著しく減少した。
【0023】また、前記感知増幅イネーブル信号MSA
ENがイネーブルされた場合も前記感知増幅器の出力信
号SAS1,SAS1Bはピーク現象及びフリップ現象
無しで一定の電圧を保った。この際、前記感知増幅回路
のノイズ源は通常、差動補償信号MDL,MDLBとカ
ップリングされた周辺ノイズであったり、又は隣接した
他のデータラインとの干渉によって発生する。前記ブロ
ック感知増幅回路の出力信号MDL,MDLBを感知及
び増幅して最終に出力した信号SAS1,SAS1Bは
安定していることが判る。
ENがイネーブルされた場合も前記感知増幅器の出力信
号SAS1,SAS1Bはピーク現象及びフリップ現象
無しで一定の電圧を保った。この際、前記感知増幅回路
のノイズ源は通常、差動補償信号MDL,MDLBとカ
ップリングされた周辺ノイズであったり、又は隣接した
他のデータラインとの干渉によって発生する。前記ブロ
ック感知増幅回路の出力信号MDL,MDLBを感知及
び増幅して最終に出力した信号SAS1,SAS1Bは
安定していることが判る。
【0024】本発明は前記実施の形態に限らず、多くの
変形が本発明の技術的思想内で当業者によって可能なこ
とは明白である。
変形が本発明の技術的思想内で当業者によって可能なこ
とは明白である。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、第1の発明の感知
増幅回路は、入力ラインと、前記入力ラインから入力さ
れる信号を感知するエミッターカップル対称トランジス
タと、前記入力ラインと前記エミッターカップル対称ト
ランジスタとの間に各々連結されて前記エミッターカッ
プル対称トランジスタの導通電圧の飽和を防止する電圧
調節部と、前記エミッターカップル対称トランジスタの
各エミッターと接地端との間に連結されて前記エミッタ
ーカップル対称トランジスタにバイアスを供給する電流
源とを具備するので、安定した動作を行うとともに、エ
ミッターカップル対称トランジスタの飽和電圧を防止で
きる。
増幅回路は、入力ラインと、前記入力ラインから入力さ
れる信号を感知するエミッターカップル対称トランジス
タと、前記入力ラインと前記エミッターカップル対称ト
ランジスタとの間に各々連結されて前記エミッターカッ
プル対称トランジスタの導通電圧の飽和を防止する電圧
調節部と、前記エミッターカップル対称トランジスタの
各エミッターと接地端との間に連結されて前記エミッタ
ーカップル対称トランジスタにバイアスを供給する電流
源とを具備するので、安定した動作を行うとともに、エ
ミッターカップル対称トランジスタの飽和電圧を防止で
きる。
【0026】第2の発明は、前記各電圧調節部は、電源
電圧と前記入力ラインとの間にそれぞれ連結された抵抗
と、前記入力ラインにベースが連結され、前記電源電圧
に第1電極がそれぞれ連結され、前記エミッターカップ
ル対称トランジスタの各入力端に第2電極がそれぞれ連
結されて前記降下した電源電圧を前記エミッターカップ
ル対称トランジスタに供給するバイポーラ接合トランジ
スタとを具備するので、エミッターカップル対称トラン
ジスタの導通電圧の飽和を防止できる。
電圧と前記入力ラインとの間にそれぞれ連結された抵抗
と、前記入力ラインにベースが連結され、前記電源電圧
に第1電極がそれぞれ連結され、前記エミッターカップ
ル対称トランジスタの各入力端に第2電極がそれぞれ連
結されて前記降下した電源電圧を前記エミッターカップ
ル対称トランジスタに供給するバイポーラ接合トランジ
スタとを具備するので、エミッターカップル対称トラン
ジスタの導通電圧の飽和を防止できる。
【0027】第3の発明は、前記エミッターカップル対
称トランジスタの各入力端に連結されて前記エミッター
カップル対称トランジスタの各入力を制御信号に応じて
予め設定された電流を放電させる電流源をさらに具備す
るので、エミッターカップル対称トランジスタの導通電
圧の飽和を防止できる。
称トランジスタの各入力端に連結されて前記エミッター
カップル対称トランジスタの各入力を制御信号に応じて
予め設定された電流を放電させる電流源をさらに具備す
るので、エミッターカップル対称トランジスタの導通電
圧の飽和を防止できる。
【0028】第4の発明は、前記電流源は、前記エミッ
ターカップル対称トランジスタの各入力端と接地端との
間にチャンネルが直列に接続されるMOSトランジスタ
であるので、エミッターカップル対称トランジスタの導
通電圧の飽和を防止できる。
ターカップル対称トランジスタの各入力端と接地端との
間にチャンネルが直列に接続されるMOSトランジスタ
であるので、エミッターカップル対称トランジスタの導
通電圧の飽和を防止できる。
【0029】第5の発明は、前記各電圧調節部は、前記
入力ラインに降下した電源電圧を供給する第1抵抗と、
前記第1抵抗と前記エミッターカップル対称トランジス
タの一入力端の間に連結され、前記降下した電源電圧に
応答して前記電源電圧を前記エミッターカップル対称ト
ランジスタに供給する第2抵抗とを具備するので、エミ
ッターカップル対称トランジスタの導通電圧の飽和を防
止できる。
入力ラインに降下した電源電圧を供給する第1抵抗と、
前記第1抵抗と前記エミッターカップル対称トランジス
タの一入力端の間に連結され、前記降下した電源電圧に
応答して前記電源電圧を前記エミッターカップル対称ト
ランジスタに供給する第2抵抗とを具備するので、エミ
ッターカップル対称トランジスタの導通電圧の飽和を防
止できる。
【0030】第6の発明は、前記第1抵抗はその抵抗値
に応答して前記電源電圧を降下して前記入力ラインに供
給するので、エミッターカップル対称トランジスタの導
通電圧の飽和を防止できる。
に応答して前記電源電圧を降下して前記入力ラインに供
給するので、エミッターカップル対称トランジスタの導
通電圧の飽和を防止できる。
【0031】第7の発明は、前記第2抵抗はバイポーラ
接合トランジスタであり、前記バイポーラ接合トランジ
スタのエミッターとベースとの間の電源に応答して前記
電源電圧を降下してエミッターカップル対称トランジス
タの一入力端に供給するので、エミッターカップル対称
トランジスタの導通電圧の飽和を防止できる。
接合トランジスタであり、前記バイポーラ接合トランジ
スタのエミッターとベースとの間の電源に応答して前記
電源電圧を降下してエミッターカップル対称トランジス
タの一入力端に供給するので、エミッターカップル対称
トランジスタの導通電圧の飽和を防止できる。
【図1】本発明による感知増幅回路の回路図である。
【図2】図1に示した感知増幅回路の各信号の波形図で
ある。
ある。
【図3】従来の技術によるブロック感知増幅回路の回路
図である。
図である。
【図4】従来の技術による感知増幅回路の回路図であ
る。
る。
【図5】図4に示した感知増幅回路の各信号の波形図で
ある。
ある。
56、64 負荷抵抗 58、66 バイポーラ接合トランジスタ 60、62、68、70 トランジスタ 80、82 エミッターカップル対称トランジスタ 96 第1の電流源 L5、L6 入力ライン MDL、MDLB 差動補償信号 REFMSA 基準感知増幅信号 MSAEN 感知増幅イネーブル信号
Claims (7)
- 【請求項1】 入力ラインと、 前記入力ラインから入力される信号を感知するエミッタ
ーカップル対称トランジスタと、 前記入力ラインと前記エミッターカップル対称トランジ
スタとの間に各々連結されて前記エミッターカップル対
称トランジスタの導通電圧の飽和を防止する電圧調節部
と、 前記エミッターカップル対称トランジスタの各エミッタ
ーと接地端との間に連結されて前記エミッターカップル
対称トランジスタにバイアスを供給する電流源と、 を具備することを特徴とする半導体メモリ装置の感知増
幅回路。 - 【請求項2】 前記各電圧調節部は、電源電圧と前記入
力ラインとの間にそれぞれ連結された抵抗と、 前記入力ラインにベースが連結され、前記電源電圧に第
1電極がそれぞれ連結され、前記エミッターカップル対
称トランジスタの各入力端に第2電極がそれぞれ連結さ
れて前記降下した電源電圧を前記エミッターカップル対
称トランジスタに供給するバイポーラ接合トランジスタ
と、 を具備することを特徴とする請求項1に記載の半導体メ
モリ装置の感知増幅回路。 - 【請求項3】 前記エミッターカップル対称トランジス
タの各入力端に連結されて前記エミッターカップル対称
トランジスタの各入力を制御信号に応じて予め設定され
た電流を放電させる電流源をさらに具備することを特徴
とする請求項1に記載の半導体メモリ装置の感知増幅回
路。 - 【請求項4】 前記電流源は、前記エミッターカップル
対称トランジスタの各入力端と接地端との間にチャネル
が直列に接続されるMOSトランジスタであることを特
徴とする請求項3に記載の半導体メモリ装置の感知増幅
回路。 - 【請求項5】 前記各電圧調節部は、前記入力ラインに
降下した電源電圧を供給する第1抵抗と、 前記第1抵抗と前記エミッターカップル対称トランジス
タの一入力端の間に連結され、前記降下した電源電圧に
応答して前記電源電圧を前記エミッターカップル対称ト
ランジスタに供給する第2抵抗と、 を具備することを特徴とする請求項1に記載の半導体メ
モリ装置の感知増幅回路。 - 【請求項6】 前記第1抵抗はその抵抗値に応答して前
記電源電圧を降下して前記入力ラインに供給することを
特徴とする請求項5に記載の半導体メモリ装置の感知増
幅回路。 - 【請求項7】 前記第2抵抗はバイポーラ接合トランジ
スタであり、前記バイポーラ接合トランジスタのエミッ
ターとベースとの間の電源に応答して前記電源電圧を降
下してエミッターカップル対称トランジスタの一入力端
に供給することを特徴とする請求項5に記載の半導体メ
モリ装置の感知増幅回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1996-15691 | 1996-05-11 | ||
| KR1019960015691A KR100204315B1 (ko) | 1996-05-11 | 1996-05-11 | 반도체 메모리 장치의 감지증폭회로 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1064280A true JPH1064280A (ja) | 1998-03-06 |
Family
ID=19458442
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9120782A Pending JPH1064280A (ja) | 1996-05-11 | 1997-05-12 | 半導体メモリ装置の感知増幅回路 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1064280A (ja) |
| KR (1) | KR100204315B1 (ja) |
| DE (1) | DE19719316A1 (ja) |
| GB (1) | GB2312978A (ja) |
| TW (1) | TW322636B (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100264075B1 (ko) | 1997-06-20 | 2000-08-16 | 김영환 | 전하 증폭 비트 라인 센스 앰프 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2598412B2 (ja) * | 1987-07-10 | 1997-04-09 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
| US4991141A (en) * | 1990-02-08 | 1991-02-05 | Texas Instruments Incorporated | Sense amplifier and method for sensing the outputs of static random access memory cells |
-
1996
- 1996-05-11 KR KR1019960015691A patent/KR100204315B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-05-05 TW TW086105940A patent/TW322636B/zh active
- 1997-05-07 GB GB9709255A patent/GB2312978A/en not_active Withdrawn
- 1997-05-08 DE DE19719316A patent/DE19719316A1/de not_active Withdrawn
- 1997-05-12 JP JP9120782A patent/JPH1064280A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB9709255D0 (en) | 1997-06-25 |
| GB2312978A (en) | 1997-11-12 |
| KR970076828A (ko) | 1997-12-12 |
| TW322636B (ja) | 1997-12-11 |
| DE19719316A1 (de) | 1997-11-13 |
| KR100204315B1 (ko) | 1999-06-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5270883A (en) | Magnetic read/write circuit | |
| EP0492906B1 (en) | Method and apparatus for high-speed bi-CMOS differential amplifier with controlled output voltage swing | |
| EP0213032A2 (en) | Temperature compensated sense amplifier | |
| US6281713B1 (en) | Current sense amplifiers having equalization circuits therin that inhibit signal oscillations during active modes | |
| KR970005281B1 (ko) | 반도체 기억장치 | |
| KR950004527A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
| JP2672721B2 (ja) | センスアンプ回路 | |
| US6490301B1 (en) | Laser drive device | |
| JP3172430B2 (ja) | 半導体メモリ装置の電流感知増幅回路 | |
| US6218901B1 (en) | High speed differential output driver with increased voltage swing and predrive common mode adjustment | |
| US5120994A (en) | Bicmos voltage generator | |
| JPH1064280A (ja) | 半導体メモリ装置の感知増幅回路 | |
| US5760626A (en) | BICMOS latch circuit for latching differential signals | |
| US4871931A (en) | Logic circuit resistant to errors due to supply fluctuations | |
| EP0443776A2 (en) | Sense circuit for non-volatile memory device | |
| US4980578A (en) | Fast sense amplifier | |
| US6072331A (en) | Amplifier for active terminator | |
| JPH08287688A (ja) | 半導体メモリ装置の入力保護回路 | |
| US5764105A (en) | Push-pull output circuit method | |
| JPH10134574A (ja) | 半導体メモリ装置 | |
| KR100609995B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
| JPH0241112B2 (ja) | ||
| US6469548B1 (en) | Output buffer crossing point compensation | |
| US5508964A (en) | Write recovery time minimization for Bi-CMOS SRAM | |
| JP2690212B2 (ja) | 半導体メモリ装置用電流検出型データバス増幅器 |