JPH1064921A - 半導体製造装置の基板加熱装置 - Google Patents

半導体製造装置の基板加熱装置

Info

Publication number
JPH1064921A
JPH1064921A JP23840396A JP23840396A JPH1064921A JP H1064921 A JPH1064921 A JP H1064921A JP 23840396 A JP23840396 A JP 23840396A JP 23840396 A JP23840396 A JP 23840396A JP H1064921 A JPH1064921 A JP H1064921A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heater
substrate
panel heater
semiconductor manufacturing
substrate heating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23840396A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazumasa Makiguchi
一誠 巻口
Shiyouen Hamano
勝艶 浜野
Norinobu Akao
徳信 赤尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kokusai Denki Electric Inc
Original Assignee
Kokusai Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kokusai Electric Co Ltd filed Critical Kokusai Electric Co Ltd
Priority to JP23840396A priority Critical patent/JPH1064921A/ja
Publication of JPH1064921A publication Critical patent/JPH1064921A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】被処理基板の複数枚同時加熱が可能となり、タ
クトタイムが大幅な短縮となり、又従来の加熱ランプと
遠赤外線放射板に代えパネルヒータとしたので加熱ユニ
ットがコンパクトとなる。 【解決手段】真空槽25内に設けられたヒータ支持枠3
2と、該ヒータ支持枠内に複数段設けられた対面パネル
ヒータ40と、各対面パネルヒータの間に被処理基板2
3を支持する支持手段とを具備し、被処理基板を複数同
時に加熱可能とし、又各パネルヒータを個別に温度制御
することで、タクトタイムを大幅に短縮し、基板加熱を
均一化し、装置をコンパクトにした半導体製造装置の基
板加熱装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は基板表面に薄膜の生
成、エッチング等の処理をして半導体を製造する半導体
製造工程に於いて基板を予熱する基板加熱装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】基板表面の処理を行う前工程として、基
板を処理温度迄予熱する工程がある。
【0003】図10、図11に於いて従来の基板加熱装
置について説明する。
【0004】真空槽1は容器本体2と上蓋3から成り、
該上蓋3の下側に絶縁台4を介して加熱ランプ5が設け
られ、該加熱ランプ5の下方に遠赤外線放射板10が設
けられる。前記容器本体2の底面に台座6を介して冷却
板7が設けられ、該冷却板7に絶縁台8を介して加熱ラ
ンプ9が設けられ、該加熱ランプ9の上方に遠赤外線放
射板11が設けられている。
【0005】前記容器本体2の底面を昇降ロッド12が
貫通し、該昇降ロッド12の貫通箇所はベローズ13が
設けられ気密となっており、下端には昇降シリンダ(図
示せず)が連結されている。前記昇降ロッド12の上端
には支持ピンベース14が固着されている。該支持ピン
ベース14には4本の支持ピン15が立設され、該支持
ピン15は前記冷却板7、前記遠赤外線放射板11を貫
通して遠赤外線放射板11の上方に突出している。
【0006】前記上蓋3には冷却水路17が形成され、
該冷却水路17には給排管18が連通し、前記冷却板7
には冷却水路19が形成され、該冷却水路19には給排
管20が連通され、前記給排管18、前記給排管20は
図示しない冷却源に連通されている。又、前記加熱ラン
プ5、前記加熱ランプ9は前記上蓋3、前記容器本体2
底部にそれぞれ気密に設けられた電流導入端子21を介
して図示しない電源に接続されている。尚、図中22は
被処理基板23搬入、搬出用の基板搬送口である。
【0007】図示しない搬送アームにより該基板搬送口
22より搬入された前記被処理基板23は、図示しない
昇降シリンダによる前記支持ピンベース14の昇降によ
り、搬送アームから前記支持ピン15に移載される。前
記被処理基板23は前記遠赤外線放射板10と前記遠赤
外線放射板11との間に支持された状態で加熱される。
【0008】前記加熱ランプ5、前記加熱ランプ9に通
電され、前記遠赤外線放射板10、前記遠赤外線放射板
11が加熱され、該遠赤外線放射板10、該遠赤外線放
射板11からの輻射熱により前記被処理基板23が加熱
される。加熱後の該被処理基板23は図示しない搬送用
アームにより前記基板搬送口22より搬出される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】基板加熱装置での被処
理基板の加熱時間(タクトタイム)は、半導体製造装置
の生産性にも影響するが、上記した従来の基板加熱装置
では被処理基板を1枚ずつ加熱しており、一枚の被処理
基板毎に、基板昇温時間、搬入搬出の為の搬送時間が必
要とされ、而も昇温速度は基板に熱歪みを生じない様に
行う等の制約があり、1枚の被処理基板に要されるタク
トタイムの大幅な短縮は望めないという問題があった。
【0010】タクトタイムの短縮を目的として複数の被
処理基板を同時に加熱するものがある。この基板加熱装
置は特開平1−216522号に開示されており、図1
2に示す様に該基板加熱装置は加熱槽90の内部のサセ
プタ91に被処理基板92と発熱板93とを交互に立設
し、マイクロ波発生源94で発生させたマイクロ波を前
記加熱槽90内に導入し、該マイクロ波を前記発熱板9
3に吸収させることで該発熱板93を発熱させ、前記被
処理基板92を加熱するというものである。
【0011】然し、図12に示す基板加熱装置では個々
の前記発熱板93の加熱状態を制御することが難しく、
又該発熱板93の温度を個別に制御、管理することは不
可能であり、更に又該発熱板93の位置によりマイクロ
波の吸収の状態が異なり、各発熱基板を同一条件で発熱
させることも難しい。従って、該基板加熱装置では、複
数の処理基板を均一に加熱することが非常に難しいとい
う問題がある。
【0012】本発明は斯かる実情に鑑み、半導体製造装
置の基板加熱に於けるタクトタイムの大幅な短縮を可能
とし、更に装置のコンパクト化を図ると共に複数の被処
理基板の均一加熱を可能とするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、真空槽内に設
けられたヒータ支持枠と、該ヒータ支持枠内に複数段設
けられた対面パネルヒータと、各対面パネルヒータの間
に被処理基板を支持する支持手段とを具備する半導体製
造装置の基板加熱装置に係るものであり、又前記対面パ
ネルヒータの両端部に設けられた側面パネルヒータを有
する半導体製造装置の基板加熱装置に係るものであり、
又前記対面パネルヒータ側面の中央がヒータ支持枠に固
定され、対面パネルヒータの側面両端部に断熱カラーが
設けられ、該断熱カラーがヒータ支持枠に刻設した溝に
嵌合した半導体製造装置の基板加熱装置に係るものであ
り、又被処理基板の一辺側で被処理基板を受載可能な基
板受けをヒータ支持枠側に設け、対面パネルヒータに被
処理基板の他辺をガイドする基板ガイドピンを植設した
半導体製造装置の基板加熱装置に係るものであり、又前
記パネルヒータはヒータ素線を埋設したアルミニウム製
の鋳込型パネルヒータである半導体製造装置の基板加熱
装置に係るものであり、又複数のパネルヒータが個別に
温度制御される半導体製造装置の基板加熱装置に係るも
のであり、又1つのパネルヒータはゾーン分割され各ゾ
ーンが個別に温度制御される半導体製造装置の基板加熱
装置に係るものであり、又前記側面パネルヒータが発熱
体であり、該側面パネルヒータを少なくともヒータ支持
枠の側枠に対して断熱して設け、前記左右の側面パネル
ヒータに掛渡して対面パネルヒータを設け、該対面パネ
ルヒータが前記側面パネルヒータに熱伝導により加熱さ
れる半導体製造装置の基板加熱装置に係るものであり、
又前記側面パネルヒータは上下方向に分割された加熱ゾ
ーンを有し、該加熱ゾーンは個別に温度制御される半導
体製造装置の基板加熱装置に係るものであり、又前記側
面パネルヒータが棚部を有し、該棚部は対面パネルヒー
タの端部を受載可能であり、前記対面パネルヒータの端
部は押圧手段により前記棚部に押圧される半導体製造装
置の基板加熱装置に係るものであり、又前記押圧手段が
前記対面パネルヒータの端部に乗置されるヒータ押え
と、該ヒータ押えと前記棚部とに嵌合するヒータクラン
パと、該ヒータクランパに螺合し、前記ヒータ押えを前
記対面パネルヒータに押圧する押え螺子とから成る半導
体製造装置の基板加熱装置に係るものであり、又前記ヒ
ータ支持枠が反射板を有する半導体製造装置の基板加熱
装置に係るものであり、更に又真空槽の側壁より被処理
基板を搬入可能とし、ヒータ支持枠は真空槽底板を気密
に貫通する支柱を介して支持され、該支柱にナットを介
して連結されたスクリューロッドは昇降モータにより回
転駆動される半導体製造装置の基板加熱装置に係るもの
である。而して被処理基板の複数枚同時加熱が可能とな
り、タクトタイムが大幅な短縮となり、更に又従来の加
熱ランプと遠赤外線放射板に代えパネルヒータとしたの
で加熱ユニットがコンパクトとなり、更に被処理基板は
側方からも加熱され、更にパネルヒータはゾーン分割さ
れ各ゾーンが個別に温度制御されるので、複数枚の被処
理基板を同時に均一加熱することが可能になる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、図1〜図5を参照しつつ本
発明の第1の実施の形態を説明する。
【0015】真空槽25の底板25bを気密に貫通する
中空の支柱26を設け、該支柱26の上端に基板加熱ユ
ニット27を設け、前記支柱26は前記真空槽25の下
側に設けられたエレベータ28の昇降台29に立設され
ている。前記真空槽25の内面には反射板60が設けら
れ、又図示しないが前記真空槽25内の温度を測定する
熱電対が設けられている。前記真空槽25の天井板25
a、前記底板25bには冷却水路が形成され、該冷却水
路に冷却水が導入され、前記天井板25a、前記底板2
5bを所定温度に冷却している。
【0016】前記基板加熱ユニット27を説明する。
【0017】前記支柱26の上端に設けられたフランジ
30に台座31を固着し、該台座31にヒータ支持枠3
2を取付ける。該ヒータ支持枠32は2本の下ビーム3
3、該下ビーム33に立設された1組の側枠34、該側
枠34の上端に掛渡された2本の上ビーム35から構成
され、前記下ビーム33がボルト36により前記台座3
1に固定され、又前記側枠34の上端には前記ヒータ支
持枠32の天板を形成する如く反射板37が設けられて
いる。前記側枠34は3本の側柱を有し、該3本の側柱
の内側面にはそれぞれ所要ピッチで所要数の溝38を刻
設し、中央の側柱には該溝38の位置に合致した固定孔
39が穿設されている。
【0018】対面パネルヒータ40はヒータ素線を埋設
したアルミニウム製の鋳込型抵抗加熱パネルヒータであ
り、該対面パネルヒータ40の各側面には2本の断熱カ
ラー41が固定ピン42により固定され、前記断熱カラ
ー41は前記溝38に摺動自在に嵌合可能とする。前記
各溝38に前記断熱カラー41を介して前記対面パネル
ヒータ40を挿入し、該対面パネルヒータ40は前記固
定孔39に断熱カラー48を介して挿通した前記固定ピ
ン42により前記ヒータ支持枠32に固定される。又、
前記左右の断熱カラー41の両端面間の距離は対峙する
前記溝38の底面間の距離より小さくしてある。而し
て、前記対面パネルヒータ40は前記固定ピン42を中
心に前後方向、左右(幅)方向のいずれにも膨脹が許容
される様になっている。
【0019】前記対面パネルヒータ40の上面4箇所に
基板ガイドピン43を植設し、前記側枠34の側柱内の
前記各基板ガイドピン43の上端に対応した位置に断熱
材から成る基板受け44を設ける。該基板受け44は前
記基板ガイドピン43の上端と一致した棚面44aと該
棚面44aから幅広方向に傾斜したガイド面44bを有
する。
【0020】前記台座31の両側面には電流導入端子4
5が所要数植設された端子板46が固着され、該端子板
46と前記対面パネルヒータ40とが接続され、更に前
記電流導入端子45に接続された電源ケーブル47は前
記支柱26の内部を挿通して図示しない電源に接続され
ている。該図示しない電源は温度制御器(図示せず)に
より前記対面パネルヒータ40への給電が制御される様
になっており、前記温度制御器は前記対面パネルヒータ
40をそれぞれ個別に温度制御し、基板の上下位置を原
因とする温度差が生じない様になっている。又前記対面
パネルヒータ40に埋設したヒータ素線を複数の領域に
分割し、該分割した領域に属するヒータ素線の給電を個
別に制御することで1つの対面パネルヒータ40内での
ゾーン温度制御が可能となる。このゾーン温度制御を行
うことで同一基板内での温度の均一性を精密に制御する
ことができる。
【0021】次に、前記エレベータ28を説明する。
【0022】前記真空槽25の下面にブラケット50を
固着し、該ブラケット50に減速機付昇降モータ51を
取付け、又該減速機付昇降モータ51の出力軸にはスク
リューロッド52を連結する。前記昇降台29は図示し
ないガイドロッドに嵌合し、昇降自在となっており、該
昇降台29はナットブロック53を介して前記スクリュ
ーロッド52に螺合している。前記支柱26は前記昇降
台29に立設され、前記真空槽25の底板25bを遊貫
しており、前記支柱26の貫通部は該支柱26に被着さ
れたベローズ54により気密となっている。
【0023】図中、55は前記被処理基板23を搬入搬
出する搬送ロボット(図示せず)の搬送アームであり、
56は該搬送アーム先端の基板受載板、57は基板搬送
口である。
【0024】以下、作動を説明する。
【0025】前記減速機付昇降モータ51により前記基
板加熱ユニット27を最下位置迄降下させた状態で、前
記搬送アーム55の前記基板受載板56に被処理基板2
3を受載し、前記基板搬送口57より真空槽25内に搬
入する。前記減速機付昇降モータ51により前記基板加
熱ユニット27を若干上昇させ、前記基板受け44に前
記被処理基板23を受載する。前記真空槽25上昇の過
程で前記基板ガイドピン43により前記被処理基板23
のY方向の位置合わせ、前記基板受け44の前記ガイド
面44bによりX方向の位置合わせがなされる。ここ
で、前記基板ガイドピン43は前記対面パネルヒータ4
0に植設されており、該対面パネルヒータ40の熱膨張
により位置変化があるが、その位置は熱膨張分を見越し
て位置設定がなされており、又前記基板受け44は前記
ヒータ支持枠32側に設けられているので、前記対面パ
ネルヒータ40の熱膨張の影響を受けない。従って、前
記被処理基板23の位置決めの再現性が保証される。
【0026】前記搬送アーム55が前記真空槽25より
後退すると、前記減速機付昇降モータ51が駆動して前
記基板加熱ユニット27を所定量上昇させ、2段目の被
処理基板23挿入位置となる。尚、前記基板受載板56
より被処理基板23を前記基板受け44に移載する時の
前記基板加熱ユニット27の上昇量と2段目の被処理基
板23挿入位置とする上昇量の和は、前記溝38間のピ
ッチに等しくなる。
【0027】而して、上記被処理基板23の搬入動作を
繰返して前記基板加熱ユニット27の全ての挿入位置に
被処理基板23を挿入する。
【0028】前記電源ケーブル47、前記電流導入端子
45を介して前記各対面パネルヒータ40に電力を供給
して該対面パネルヒータ40を加熱し、輻射熱により前
記被処理基板23を加熱する。尚、前記反射板60、前
記反射板37により輻射熱の拡散が防止されるので熱効
率が向上する。
【0029】加熱完了後、前記被処理基板23を前記真
空槽25より搬出する場合は、前述した搬入動作と逆動
作を行う。
【0030】上述した様に、本実施の形態では複数の被
処理基板23を一度に加熱するので、タクトタイムTA
(sec)は、基板昇温時間TH (sec)、基板の搬入搬出に
要する搬送時間t(sec)、一度に加熱できる基板枚数n
(枚)とすると以下の式により求められ、複数枚同時加
熱によりタクトイタイムの大幅な短縮を行える。
【0031】
【数1】TA =(TH +t)/n
【0032】次に、図6〜図9により第2の実施の形態
を示す。図6〜図9に於いて、図1〜図5中で示したも
のと同様のものには同符号を付してある。又、エレベー
タ28、真空槽25については上記実施の形態と同様で
あるので詳細は省略し、以下は基板加熱ユニット27に
ついて説明する。
【0033】前記支柱26の上端に固着された前記フラ
ンジ30にヒータ支持枠62を設ける。該ヒータ支持枠
62は4本の下ビーム63、該下ビーム63の端部に立
設された1組の側枠64、該側枠64の上端に掛渡され
た3本の上ビーム65から構成され、前記下ビーム63
がボルト66により前記フランジ30に固定される。
【0034】前記下ビーム63と下ビーム63との間に
は反射板67が設けられ、又前記上ビーム65と上ビー
ム65との間には前記ヒータ支持枠62の天板を形成す
る如く反射板68が設けられ、前記側枠64には反射板
69が設けられている。
【0035】前記側枠64の内側には所要の間隙を明
け、側面パネルヒータ70が設けられる。該側面パネル
ヒータ70としては、ヒータ素線を埋設したアルミニウ
ム製の鋳込型抵抗加熱パネルヒータ等が用いられる。前
記側面パネルヒータ70は支持ピン71を介して前記下
ビーム63に乗置し、前記支持ピン71は下ビーム63
に植設される。又前記側面パネルヒータ70の側面には
断熱材であるスペーサ72が螺着され、該スペーサ72
に前記側枠64を遊貫したヒータ固定ボルト74が螺着
され、該ヒータ固定ボルト74と前記側枠64との間に
は断熱カラー73が介設され、前記側面パネルヒータ7
0は前記ヒータ支持枠62に対して断熱され設けられ
る。
【0036】前記側面パネルヒータ70の内側には上下
方向に所要の間隔で全長に亘り棚部75が所要段(本実
施の形態では7段)突設され、左右の棚部75に対面パ
ネルヒータ76が掛渡り乗載され、更に該対面パネルヒ
ータ76の端部を挾持する様に前記棚部75に対向する
ヒータ押え77が乗置される。該ヒータ押え77の端部
に段差78が形成され、該段差78と前記棚部75の端
部とにコの字状のヒータクランパ80が嵌合される。該
ヒータクランパ80には上方より押え螺子81が螺入さ
れ、該押え螺子81を締込むことで前記ヒータ押え77
が前記対面パネルヒータ76に押圧される。
【0037】前記棚部75と前記棚部75との間にコの
字状の基板受け82を配設し、前記側面パネルヒータ7
0を貫通したボルト83により前記基板受け82を前記
側面パネルヒータ70に固着する。前記基板受け82の
両端の中心側突出部は前記被処理基板23の載置部82
aとなっており、該載置部82aの基部には傾斜部82
bが形成され、該傾斜部82bにより前記被処理基板2
3載置時の位置合わせ作用が生ずる。
【0038】前記側面パネルヒータ70の中間位置に熱
電対85を設け、前記側面パネルヒータ70の温度の検
出を行い、又前記各対面パネルヒータ76の下面所要位
置、例えば中央に熱電対86を設け、前記対面パネルヒ
ータ76の温度の検出を行う。前記熱電対85、前記熱
電対86の配線は前記側面パネルヒータ70に対する給
電用のケーブルと共にケーブル固定金具87に一旦固定
され、更にケーブルベア88を通ってハーメチックシー
ル(図示せず)を介して大気側に導き出される。
【0039】以下、図1を参照して作動を説明する。
【0040】前記減速機付昇降モータ51により前記基
板加熱ユニット27を最下位置迄降下させ、その状態で
前記搬送アーム55の前記基板受載板56に被処理基板
23を受載し、前記基板搬送口57より前記真空槽25
内に搬入する。前記減速機付昇降モータ51により前記
基板加熱ユニット27を若干上昇させ、前記基板受け8
2に被処理基板23を受載する。上記した様に、前記傾
斜部82bが前記基板受け82に対する被処理基板23
の芯ずれを修正する。
【0041】前記搬送アーム55が前記真空槽25より
後退すると、前記減速機付昇降モータ51が駆動して前
記基板加熱ユニット27を所定量上昇させ、2段目の被
処理基板23挿入位置となる。尚、前記基板受載板56
より被処理基板23を前記基板受け82に移載する時の
基板加熱ユニット27の上昇量と2段目の被処理基板2
3挿入位置とする上昇量の和は、前記棚部75間のピッ
チに等しくなる。又、該第2の実施の形態では前記対面
パネルヒータ76をヒータを埋設しない単なる輻射放熱
板としたので前記棚部75間のピッチは更に小さくな
り、前記エレベータ28の昇降動作量は大幅に小さくな
り装置の小型化が促進される。
【0042】而して、上記被処理基板23の搬入動作を
繰返して前記基板加熱ユニット27の全ての挿入位置に
被処理基板23を挿入する。
【0043】前記電源ケーブル47を介して前記各側面
パネルヒータ70に電力を供給して該側面パネルヒータ
70を加熱し、輻射熱により前記被処理基板23を側方
から加熱する。更に、前記側面パネルヒータ70は前記
棚部75を介して熱伝導により前記対面パネルヒータ7
6を加熱する。
【0044】前記側面パネルヒータ70は前記対面パネ
ルヒータ76に対応させ分割したパネルヒータセグメン
トの集合体であってもよい。この場合該パネルヒータセ
グメントの加熱を個別に制御する様にすれば、前記対面
パネルヒータ76をそれぞれ個別に温度制御することが
でき基板の上下位置を原因とする温度差を解消できる。
尚、側面パネルヒータ70は必ずしもパネルヒータセグ
メントの集合とする必要はなく、埋設したヒータ素線を
上下方向にゾーン分割し、分割したヒータ素線によりゾ
ーン温度制御する様にしてもよい。
【0045】前記側面パネルヒータ70と前記棚部75
間の接触圧は前記押え螺子81の締込みで適正な値に保
持され、前記側面パネルヒータ70と前記棚部75間の
熱伝導は良好に行われる。該対面パネルヒータ76は輻
射熱により前記被処理基板23の上下両面より加熱し、
該被処理基板23は上下方向、左右方向から熱せられる
ので被処理基板23が大型化しても均一に加熱すること
ができる。尚、前記対面パネルヒータ76は均熱板とし
ての機能も有し、前記被処理基板23の温度分布の不均
一を解消する。
【0046】更に、前記側面パネルヒータ70の加熱温
度、前記対面パネルヒータ76の加熱温度はそれぞれ熱
電対85、熱電対86により検出され、図示しない制御
装置により加熱温度が制御される。
【0047】前記対面パネルヒータ76は被処理基板2
3に汚染を与えない様、アルミニウム、ステンレス鋼、
カーボン、SiC、Poly−Si、Singe−Si
等の材質が選択され、又輻射効果を高める為、適宜セラ
ミックコートを施す。
【0048】尚、前記反射板67、前記反射板68、前
記反射板69、前記反射板60により輻射熱の拡散が防
止されるので熱効率が向上する。
【0049】加熱完了後、前記被処理基板23を前記真
空槽25より搬出する場合は、前述した搬入動作と逆動
作を行う。
【0050】尚、上記第1の実施の形態に於いて第2の
実施の形態で示した側面パネルヒータ70を設けること
が可能であることは言う迄もない。
【0051】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、被処理
基板の複数枚同時加熱が可能となり、タクトタイムが大
幅な短縮となり、又従来の加熱ランプと遠赤外線放射板
に代えパネルヒータとしたので加熱ユニットがコンパク
トとなり、被処理基板は側方からも加熱され、更にパネ
ルヒータはゾーン分割され各ゾーンが個別に温度制御さ
れるので、複数枚の被処理基板を同時に均一加熱するこ
とが可能になる等の優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の第1の実施の形態を示す側断
面図である。
【図2】図2は、同前第1の実施の形態の基板加熱ユニ
ットの分解斜視図である。
【図3】図3は、同前基板加熱ユニットの部分側面図で
ある。
【図4】図4は、同前基板加熱ユニットの一部を破断し
た部分正面図である。
【図5】図5は、同前基板加熱ユニットの正面図であ
る。
【図6】図6は、本発明の第2の実施の形態の基板加熱
ユニットの分解斜視図である。
【図7】図7は、同前基板加熱ユニットの一部を破断し
た部分斜視図である。
【図8】図8は、図6のA部拡大図である。
【図9】図9は、図7のB部拡大図である。
【図10】図10は、従来例の正断面図である。
【図11】図11は、従来例の側断面図である。
【図12】図12は、他の従来例の側断面図である。
【符号の説明】
23 被処理基板 25 真空槽 26 支柱 27 基板加熱ユニット 28 エレベータ 32 ヒータ支持枠 37 反射板 40 対面パネルヒータ 43 基板ガイドピン 44 基板受け 51 減速機付昇降モータ 52 スクリューロッド 54 ベローズ 62 ヒータ支持枠 67 反射板 68 反射板 69 反射板 70 側面パネルヒータ 72 スペーサ 75 棚部 76 対面パネルヒータ 77 ヒータ押え

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空槽内に設けられたヒータ支持枠と、
    該ヒータ支持枠内に複数段設けられた対面パネルヒータ
    と、各対面パネルヒータの間に被処理基板を支持する支
    持手段とを具備することを特徴とする半導体製造装置の
    基板加熱装置。
  2. 【請求項2】 前記対面パネルヒータの両端部に設けら
    れた側面パネルヒータを有する請求項1の半導体製造装
    置の基板加熱装置。
  3. 【請求項3】 前記対面パネルヒータ側面の中央がヒー
    タ支持枠に固定され、対面パネルヒータの側面両端部に
    断熱カラーが設けられ、該断熱カラーがヒータ支持枠に
    刻設した溝に嵌合した請求項1の半導体製造装置の基板
    加熱装置。
  4. 【請求項4】 被処理基板の一辺側で被処理基板を受載
    可能な基板受けをヒータ支持枠側に設け、対面パネルヒ
    ータに被処理基板の他辺をガイドする基板ガイドピンを
    植設した請求項1の半導体製造装置の基板加熱装置。
  5. 【請求項5】 前記パネルヒータはヒータ素線を埋設し
    たアルミニウム製の鋳込型パネルヒータである請求項1
    〜請求項4の半導体製造装置の基板加熱装置。
  6. 【請求項6】 複数のパネルヒータが個別に温度制御さ
    れる請求項5の半導体製造装置の基板加熱装置。
  7. 【請求項7】 1つのパネルヒータはゾーン分割され各
    ゾーンが個別に温度制御される請求項5の半導体製造装
    置の基板加熱装置。
  8. 【請求項8】 前記側面パネルヒータが発熱体であり、
    該側面パネルヒータを少なくともヒータ支持枠の側枠に
    対して断熱して設け、前記左右の側面パネルヒータに掛
    渡して対面パネルヒータを設け、該対面パネルヒータが
    前記側面パネルヒータに熱伝導により加熱される請求項
    2の半導体製造装置の基板加熱装置。
  9. 【請求項9】 前記側面パネルヒータは上下方向に分割
    された加熱ゾーンを有し、該加熱ゾーンは個別に温度制
    御される請求項8の半導体製造装置の基板加熱装置。
  10. 【請求項10】 前記側面パネルヒータが棚部を有し、
    該棚部は対面パネルヒータの端部を受載可能であり、前
    記対面パネルヒータの端部は押圧手段により前記棚部に
    押圧される請求項8の半導体製造装置の基板加熱装置。
  11. 【請求項11】 前記押圧手段が前記対面パネルヒータ
    の端部に乗置されるヒータ押えと、該ヒータ押えと前記
    棚部とに嵌合するヒータクランパと、該ヒータクランパ
    に螺合し、前記ヒータ押えを前記対面パネルヒータに押
    圧する押え螺子とから成る請求項10の半導体製造装置
    の基板加熱装置。
  12. 【請求項12】 前記ヒータ支持枠が反射板を有する請
    求項1、請求項2の半導体製造装置の基板加熱装置。
  13. 【請求項13】 真空槽の側壁より被処理基板を搬入可
    能とし、ヒータ支持枠は真空槽底板を気密に貫通する支
    柱を介して支持され、該支柱にナットを介して連結され
    たスクリューロッドは昇降モータにより回転駆動される
    請求項1〜請求項12の半導体製造装置の基板加熱装
    置。
JP23840396A 1996-08-21 1996-08-21 半導体製造装置の基板加熱装置 Pending JPH1064921A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23840396A JPH1064921A (ja) 1996-08-21 1996-08-21 半導体製造装置の基板加熱装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23840396A JPH1064921A (ja) 1996-08-21 1996-08-21 半導体製造装置の基板加熱装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1064921A true JPH1064921A (ja) 1998-03-06

Family

ID=17029692

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23840396A Pending JPH1064921A (ja) 1996-08-21 1996-08-21 半導体製造装置の基板加熱装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1064921A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100331852B1 (ko) * 1999-09-30 2002-04-09 박종섭 반도체 소자 제조를 위한 급속 열처리 시스템
KR100370857B1 (ko) * 1998-08-27 2003-02-05 와커 실트로닉 아게 반도체 웨이퍼의 열처리 방법 및 그 열처리 지지 장치
WO2011086096A1 (en) * 2010-01-14 2011-07-21 Oerlikon Solar Ag, Trübbach Mounting for fixing a reactor in a vacuum chamber
JP2012204597A (ja) * 2011-03-25 2012-10-22 Core Technology Inc 多段式加熱装置
CN109979848A (zh) * 2017-12-28 2019-07-05 佳能特机株式会社 基板加热装置及成膜装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100370857B1 (ko) * 1998-08-27 2003-02-05 와커 실트로닉 아게 반도체 웨이퍼의 열처리 방법 및 그 열처리 지지 장치
KR100331852B1 (ko) * 1999-09-30 2002-04-09 박종섭 반도체 소자 제조를 위한 급속 열처리 시스템
WO2011086096A1 (en) * 2010-01-14 2011-07-21 Oerlikon Solar Ag, Trübbach Mounting for fixing a reactor in a vacuum chamber
CN102803556A (zh) * 2010-01-14 2012-11-28 欧瑞康太阳能股份公司(特吕巴赫) 用于在真空室内固定反应器的托架
JP2013517378A (ja) * 2010-01-14 2013-05-16 エリコン・ソーラー・アーゲー・トリュプバッハ 反応器を真空室に取り付けるためのマウント
JP2012204597A (ja) * 2011-03-25 2012-10-22 Core Technology Inc 多段式加熱装置
CN109979848A (zh) * 2017-12-28 2019-07-05 佳能特机株式会社 基板加热装置及成膜装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100245260B1 (ko) 반도체 제조장치의 기판 가열장치
KR101096342B1 (ko) 유리-세라믹 패널 및 박막 리본 히터를 갖춘 기판 가열 장치
JPS60258928A (ja) 半導体ウエ−ハの加熱装置および方法
US20040255861A1 (en) Chamber for uniform substrate heating
KR20060066633A (ko) 반도체 처리 챔버용 장치와, 웨이퍼 처리 장치 및 방법
JPH11506821A (ja) 不活性ガス基板温度調節装置及びその方法
US8698053B2 (en) Method for producing an electronic device
JPH11204442A (ja) 枚葉式の熱処理装置
JPH0214514A (ja) 半導体処理の為の急熱炉
TWI381430B (zh) Light irradiation method
CN1369109A (zh) 加热和冷却薄片形制品的热处理室
JPH01169293A (ja) 板状体を媒介とする熱エネルギ伝達方法及び装置
KR20100024892A (ko) 필라멘트 램프 및 광조사식 가열 처리 장치
JPH08288296A (ja) 半導体製造装置の基板加熱装置
JPH09232297A (ja) 熱処理装置
JPS63148623A (ja) 基板温度測定装置
JPH1064921A (ja) 半導体製造装置の基板加熱装置
CN1748285B (zh) 用于均匀加热基片的腔室
JP5646864B2 (ja) 熱処理方法および熱処理装置
JPH11204443A (ja) 枚葉式の熱処理装置
KR100831906B1 (ko) 온도 제어실 및 그 온도 제어실을 이용한 진공 처리 장치
JPH06260422A (ja) ガラス基板加熱方法及びその装置
KR100839678B1 (ko) 열 처리 방법 및 열 처리 장치
JP2000173946A (ja) 基板熱処理方法および基板熱処理装置
KR100239405B1 (ko) 반도체 제조장치