JPH1073486A - 蛍光体光学特性測定装置と蛍光体光学特性測定方法 - Google Patents
蛍光体光学特性測定装置と蛍光体光学特性測定方法Info
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- JPH1073486A JPH1073486A JP8231565A JP23156596A JPH1073486A JP H1073486 A JPH1073486 A JP H1073486A JP 8231565 A JP8231565 A JP 8231565A JP 23156596 A JP23156596 A JP 23156596A JP H1073486 A JPH1073486 A JP H1073486A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 薄膜やあまり厚みを持たない蛍光体サンプル
であっても、蛍光体サンプルから放射される蛍光発光の
全分光放射束をもれなく測定し、蛍光体効率を高精度に
求める。 【解決手段】 蛍光体励起波長光ビームの投射により蛍
光サンプルを発光させた場合において、分光効率がＱ
A(λ)である積分球Ａのみを蛍光体サンプルに装着させ
た場合に測定される前記積分球Ａ内壁面上の分光放射照
度ＥA(λ)と、分光効率がＱB(λ)である積分球Ｂのみを
蛍光体サンプルに装着させた場合に測定される前記積分
球Ｂ内壁面上の分光放射照度ＥB(λ)とを測定し、 ＰA(λ)＝ＥA(λ)・ＱA(λ)、ＰB(λ)＝ＥB(λ)・Ｑ
B(λ) の演算により蛍光発光分光放射束を求める。
であっても、蛍光体サンプルから放射される蛍光発光の
全分光放射束をもれなく測定し、蛍光体効率を高精度に
求める。 【解決手段】 蛍光体励起波長光ビームの投射により蛍
光サンプルを発光させた場合において、分光効率がＱ
A(λ)である積分球Ａのみを蛍光体サンプルに装着させ
た場合に測定される前記積分球Ａ内壁面上の分光放射照
度ＥA(λ)と、分光効率がＱB(λ)である積分球Ｂのみを
蛍光体サンプルに装着させた場合に測定される前記積分
球Ｂ内壁面上の分光放射照度ＥB(λ)とを測定し、 ＰA(λ)＝ＥA(λ)・ＱA(λ)、ＰB(λ)＝ＥB(λ)・Ｑ
B(λ) の演算により蛍光発光分光放射束を求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、蛍光ランプや表示
装置等に用いられる蛍光体光学特性測定装置と蛍光体光
学特性測定方法に関するものである。
装置等に用いられる蛍光体光学特性測定装置と蛍光体光
学特性測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】蛍光体はさまざまな産業において利用さ
れており、必要とされる光学特性も、励起・発光波長に
関するものや、蛍光発光の時間特性に関するもの等多種
多様となっている。しかしながら、蛍光体の光学特性の
基本特性としては発光効率が最も重要であり、さまざま
な方法で、蛍光体の発光効率を求めている。蛍光体の発
光効率を評価する方法としては、蛍光体に特定波長、特
定強度の励起光を照射して、蛍光発光における、特定方
向における分光放射輝度（輝度）や分光放射束（光束）
を測定することにより蛍光体の発光効率を求めることが
できる。
れており、必要とされる光学特性も、励起・発光波長に
関するものや、蛍光発光の時間特性に関するもの等多種
多様となっている。しかしながら、蛍光体の光学特性の
基本特性としては発光効率が最も重要であり、さまざま
な方法で、蛍光体の発光効率を求めている。蛍光体の発
光効率を評価する方法としては、蛍光体に特定波長、特
定強度の励起光を照射して、蛍光発光における、特定方
向における分光放射輝度（輝度）や分光放射束（光束）
を測定することにより蛍光体の発光効率を求めることが
できる。
【０００３】従来の方法では、特定波長、特定強度の励
起光を照射して、特定方向の放射輝度（輝度）を測定す
る測定装置において、標準蛍光体との比較測定により、
相対的に蛍光体効率を測定する方法や、特定方向の放射
輝度（輝度）を測定する代わりに、積分球により蛍光発
光の分光放射束（光束）を相対的に測定する方法があっ
た。また、最近では、蛍光体の効率の絶対値を測定する
方法も発明されている（特願平８−４２５７３号）。
起光を照射して、特定方向の放射輝度（輝度）を測定す
る測定装置において、標準蛍光体との比較測定により、
相対的に蛍光体効率を測定する方法や、特定方向の放射
輝度（輝度）を測定する代わりに、積分球により蛍光発
光の分光放射束（光束）を相対的に測定する方法があっ
た。また、最近では、蛍光体の効率の絶対値を測定する
方法も発明されている（特願平８−４２５７３号）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の方法では、励起光の入射側のみで蛍光発光を測定する
装置がほとんどであり、このため、蛍光体を評価する場
合に、特定の厚さに蛍光体粉末を圧着もしくは凝結させ
る必要があった。実際に蛍光体を利用する場合には、薄
膜、もしくは、あまり厚みを持たない状態で蛍光体を使
用しているため、蛍光発光は励起光の入射側およびその
反対側で放射されることになり、励起光の入射側のみで
蛍光発光を測定する装置装置では、実際の蛍光体利用の
状態における発光効率を正確に測定することはできなか
った。
の方法では、励起光の入射側のみで蛍光発光を測定する
装置がほとんどであり、このため、蛍光体を評価する場
合に、特定の厚さに蛍光体粉末を圧着もしくは凝結させ
る必要があった。実際に蛍光体を利用する場合には、薄
膜、もしくは、あまり厚みを持たない状態で蛍光体を使
用しているため、蛍光発光は励起光の入射側およびその
反対側で放射されることになり、励起光の入射側のみで
蛍光発光を測定する装置装置では、実際の蛍光体利用の
状態における発光効率を正確に測定することはできなか
った。
【０００５】また、励起光の入射側とその反対側におい
て特定方向の分光放射輝度（輝度）を測定する装置も使
用されているが、薄膜、もしくはあまり厚みを持たない
サンプルにおいては、蛍光発光の配光特性（分光放射輝
度（輝度）の空間分布特性）が、サンプルの厚みや蛍光
体の粒径などにより支配されるために、サンプルの厚み
や蛍光体の粒径などが異なるサンプルにおいては客観的
な評価をすることができなかった。
て特定方向の分光放射輝度（輝度）を測定する装置も使
用されているが、薄膜、もしくはあまり厚みを持たない
サンプルにおいては、蛍光発光の配光特性（分光放射輝
度（輝度）の空間分布特性）が、サンプルの厚みや蛍光
体の粒径などにより支配されるために、サンプルの厚み
や蛍光体の粒径などが異なるサンプルにおいては客観的
な評価をすることができなかった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、特定の形状を有する、励起光投射側蛍光発光測定
用積分球と励起光投射反対側蛍光発光測定用積分球とを
用い、特定の測定手順により、励起光投射側蛍光発光に
よって生じる励起光投射側蛍光発光測定用積分球および
励起光投射反対側蛍光発光測定用積分球の内壁面分光放
射照度（照度）を測定し、これらの測定値と、積分球の
分光効率より特定の演算を行うことで、蛍光発光エネル
ギーに相当する分光放射束を求めることができ、上記問
題点を解決することができる。
めに、特定の形状を有する、励起光投射側蛍光発光測定
用積分球と励起光投射反対側蛍光発光測定用積分球とを
用い、特定の測定手順により、励起光投射側蛍光発光に
よって生じる励起光投射側蛍光発光測定用積分球および
励起光投射反対側蛍光発光測定用積分球の内壁面分光放
射照度（照度）を測定し、これらの測定値と、積分球の
分光効率より特定の演算を行うことで、蛍光発光エネル
ギーに相当する分光放射束を求めることができ、上記問
題点を解決することができる。
【０００７】分光効率がＱ(λ)なる積分球において分光
放射束Ｐ(λ)が任意の位置、任意の方向において入射さ
れるとき、積分球内では相互反射作用により積分球内壁
面上に均一な分光放射照度Ｅ(λ)が生じる。このとき、
Ｑ(λ)、Ｐ(λ)、Ｅ(λ)は（７式）で表すことができ
る。
放射束Ｐ(λ)が任意の位置、任意の方向において入射さ
れるとき、積分球内では相互反射作用により積分球内壁
面上に均一な分光放射照度Ｅ(λ)が生じる。このとき、
Ｑ(λ)、Ｐ(λ)、Ｅ(λ)は（７式）で表すことができ
る。
【０００８】（式７） Ｐ(λ) ＝ Ｅ(λ) ・ Ｑ(λ) （７式）において分光放射照度Ｅ(λ)は積分球内壁面上
にて均一となるから、積分球内壁面内に測光窓を設け
て、測光窓より測光窓上の分光放射照度Ｅ(λ)を測定す
ることにより、（７式）から積分球内に入射した分光放
射束Ｐ(λ)を求めることができる。Ｑ(λ)は積分球の設
計条件や内壁面反射率等から理論的に求めることができ
る。内壁面の分光反射率がρ(λ)であり、面積ｓi、反
射率ρi(λ)（ｉ＝1,2,・・・n;n>0）なる窓をもつ積分球
の分光効率Ｑ(λ)は（８式）にて求めることができる。
にて均一となるから、積分球内壁面内に測光窓を設け
て、測光窓より測光窓上の分光放射照度Ｅ(λ)を測定す
ることにより、（７式）から積分球内に入射した分光放
射束Ｐ(λ)を求めることができる。Ｑ(λ)は積分球の設
計条件や内壁面反射率等から理論的に求めることができ
る。内壁面の分光反射率がρ(λ)であり、面積ｓi、反
射率ρi(λ)（ｉ＝1,2,・・・n;n>0）なる窓をもつ積分球
の分光効率Ｑ(λ)は（８式）にて求めることができる。
【０００９】（式８） Ｑ(λ) ＝ ｑ１／ｑ２ ただし、ｑ１＝ρ'(λ)、ｑ２＝Ｓ・｛１−ρ'(λ)｝で
ある。
ある。
【００１０】ここで、ρ'(λ)は積分球内壁面の平均反
射率であり、次式で求めることができる。
射率であり、次式で求めることができる。
【００１１】
【数１】
【００１２】したがって、励起光を蛍光体に入射させて
蛍光発光させた場合に、励起光入射側のみに積分球を装
着させて、積分球内壁面上の分光放射照度を測定するこ
とで、（７式）にて励起光入射側の蛍光発光の分光放射
束を測定することができる。このとき、積分球により励
起光が遮光されないように、励起光入射側の積分球には
積分球蛍光体サンプル装着時に励起光の光路になる壁面
部位には励起光導入口を設けておく。また、同様に励起
光入射側の反対側のみに積分球を装着させて、励起光入
射側反対側の蛍光発光の分光放射束を測定することがで
きる。
蛍光発光させた場合に、励起光入射側のみに積分球を装
着させて、積分球内壁面上の分光放射照度を測定するこ
とで、（７式）にて励起光入射側の蛍光発光の分光放射
束を測定することができる。このとき、積分球により励
起光が遮光されないように、励起光入射側の積分球には
積分球蛍光体サンプル装着時に励起光の光路になる壁面
部位には励起光導入口を設けておく。また、同様に励起
光入射側の反対側のみに積分球を装着させて、励起光入
射側反対側の蛍光発光の分光放射束を測定することがで
きる。
【００１３】励起光入射側および励起光入射側反対側に
おける、積分球内壁面の分光放射照度を測定する装置校
正や積分球効率の測定は個々に行うこともできるが、以
下の手順によって一括にして校正することもできる。
（７式）を、積分球内の分光放射束Ｐ(λ)と分光放射照
度測定出力ｉ(λ)に置き換えると（９式）のとおりにな
る。
おける、積分球内壁面の分光放射照度を測定する装置校
正や積分球効率の測定は個々に行うこともできるが、以
下の手順によって一括にして校正することもできる。
（７式）を、積分球内の分光放射束Ｐ(λ)と分光放射照
度測定出力ｉ(λ)に置き換えると（９式）のとおりにな
る。
【００１４】（式９） Ｐ(λ) ＝ ｉ(λ) ・ Ｋ(λ) （９式）において、Ｋ(λ)は積分球効率と分光放射照度
測定装置の装置係数とを総合的に含んだ積分球の装置係
数である。したがって、Ｋ(λ)をあらかじめ求めておく
ことにより、分光放射照度測定出力ｉ(λ)を測定して、
分光放射束Ｐ(λ)を求めることができる。Ｋ(λ)を求め
るには、予め測定したＰ(λ)を積分球内壁面に入射させ
た時の分光放射照度測定出力ｉ(λ)を測定すれば、（１
０式）にて求めることができる。
測定装置の装置係数とを総合的に含んだ積分球の装置係
数である。したがって、Ｋ(λ)をあらかじめ求めておく
ことにより、分光放射照度測定出力ｉ(λ)を測定して、
分光放射束Ｐ(λ)を求めることができる。Ｋ(λ)を求め
るには、予め測定したＰ(λ)を積分球内壁面に入射させ
た時の分光放射照度測定出力ｉ(λ)を測定すれば、（１
０式）にて求めることができる。
【００１５】（式１０） Ｋ(λ) ＝ Ｐ(λ) ／ ｉ(λ) 励起光入射側の積分球を積分球Ａ、励起光入射側の反対
側の積分球を積分球Ｂ、またそれぞれの積分球のみを蛍
光体サンプルに装着した場合の積分球内壁面照度をそれ
ぞれＥA(λ)、ＥB(λ)とする。また、積分球Ａおよび積
分球Ｂを同時に装着した場合の積分球内壁面照度をそれ
ぞれＥ'A(λ)、Ｅ'B(λ)とする。
側の積分球を積分球Ｂ、またそれぞれの積分球のみを蛍
光体サンプルに装着した場合の積分球内壁面照度をそれ
ぞれＥA(λ)、ＥB(λ)とする。また、積分球Ａおよび積
分球Ｂを同時に装着した場合の積分球内壁面照度をそれ
ぞれＥ'A(λ)、Ｅ'B(λ)とする。
【００１６】このときＥ'A(λ)は、励起光入射側の蛍光
発光の分光放射束に加えて、蛍光体サンプルより透過さ
れる積分球Ｂからの分光放射束が入射された分の分光放
射照度が増加したものである。また、Ｅ'B(λ)はＥ'
A(λ)とは逆に、励起光入射側反対側の蛍光発光の分光
放射束に加えて、蛍光体サンプルより透過される積分球
Ａからの分光放射束が入射された分の分光放射照度が増
加したものであり、これらは、（１１式）で表される。
発光の分光放射束に加えて、蛍光体サンプルより透過さ
れる積分球Ｂからの分光放射束が入射された分の分光放
射照度が増加したものである。また、Ｅ'B(λ)はＥ'
A(λ)とは逆に、励起光入射側反対側の蛍光発光の分光
放射束に加えて、蛍光体サンプルより透過される積分球
Ａからの分光放射束が入射された分の分光放射照度が増
加したものであり、これらは、（１１式）で表される。
【００１７】（式１１） Ｅ'A(λ) ＝ ＥA(λ) ＋ ｛（Ｅ'B(λ)・τ(λ)・
ｓcom）／ＱA(λ)｝ Ｅ'B(λ) ＝ ＥB(λ) ＋ ｛（Ｅ'A(λ)・τ(λ)・
ｓcom）／ＱB(λ)｝ ここで、τ(λ）は蛍光体サンプルの分光透過率を表
し、ｓcomは積分球Ａ及び積分球Ｂを蛍光体サンプルに
装着した場合の蛍光発光測定口の共通透過部分の面積で
ある。つまり、積分球Ａと積分球Ｂにおける蛍光体サン
プルの透過光束を伝達する部分の面積を表している。し
たがって、蛍光体サンプルの分光透過率τ(λ)は、（１
１式）より、（１２式）で表すことができる。
ｓcom）／ＱA(λ)｝ Ｅ'B(λ) ＝ ＥB(λ) ＋ ｛（Ｅ'A(λ)・τ(λ)・
ｓcom）／ＱB(λ)｝ ここで、τ(λ）は蛍光体サンプルの分光透過率を表
し、ｓcomは積分球Ａ及び積分球Ｂを蛍光体サンプルに
装着した場合の蛍光発光測定口の共通透過部分の面積で
ある。つまり、積分球Ａと積分球Ｂにおける蛍光体サン
プルの透過光束を伝達する部分の面積を表している。し
たがって、蛍光体サンプルの分光透過率τ(λ)は、（１
１式）より、（１２式）で表すことができる。
【００１８】（式１２） τ(λ) ＝ ｛ＱA(λ)・(Ｅ'A(λ)-ＥA(λ))｝／｛ｓ
com・Ｅ'B(λ)｝ または、 τ(λ) ＝ ｛ＱB(λ)・(Ｅ'B(λ)-ＥB(λ))｝／｛ｓ
com・Ｅ'A(λ)｝ （ここで、τ(λ）は蛍光体サンプルの分光透過率、ｓ
comは積分球Ａおよび積分球Ｂを蛍光体サンプルに装着
した場合の蛍光発光測定口の共通透過部分の面積、Ｅ
A(λ）は積分球Ａのみを蛍光体サンプルに装着させた場
合の積分球Ａ内壁面上の分光放射照度、Ｅ'A(λ)は積分
球Ａおよび積分球Ｂを同時に蛍光体サンプルに装着させ
た場合の積分球Ａ内壁面上の分光放射照度、ＥB(λ）は
積分球Ｂのみを蛍光体サンプルに装着させた場合の積分
球Ｂ内壁面上の分光放射照度、Ｅ'B(λ)は積分球Ａおよ
び積分球Ｂを同時に蛍光体サンプルに装着させた場合の
積分球Ｂ内壁面上の分光放射照度）。
com・Ｅ'B(λ)｝ または、 τ(λ) ＝ ｛ＱB(λ)・(Ｅ'B(λ)-ＥB(λ))｝／｛ｓ
com・Ｅ'A(λ)｝ （ここで、τ(λ）は蛍光体サンプルの分光透過率、ｓ
comは積分球Ａおよび積分球Ｂを蛍光体サンプルに装着
した場合の蛍光発光測定口の共通透過部分の面積、Ｅ
A(λ）は積分球Ａのみを蛍光体サンプルに装着させた場
合の積分球Ａ内壁面上の分光放射照度、Ｅ'A(λ)は積分
球Ａおよび積分球Ｂを同時に蛍光体サンプルに装着させ
た場合の積分球Ａ内壁面上の分光放射照度、ＥB(λ）は
積分球Ｂのみを蛍光体サンプルに装着させた場合の積分
球Ｂ内壁面上の分光放射照度、Ｅ'B(λ)は積分球Ａおよ
び積分球Ｂを同時に蛍光体サンプルに装着させた場合の
積分球Ｂ内壁面上の分光放射照度）。
【００１９】（１２式）より、（２式）で表される様
に、それぞれのτ(λ)の相加平均をとることにより測定
精度を向上させることができる。
に、それぞれのτ(λ)の相加平均をとることにより測定
精度を向上させることができる。
【００２０】（２式）において、励起光入射側および励
起光入射側反対側における、積分球内壁面の分光放射照
度を測定する装置校正や積分球効率の測定、及びｓcom
の測定は個々に行うこともできるが、以下の手順によっ
て一括にして求めることができる。分光透過率がｔ(λ)
の拡散透過板を蛍光体サンプルの代わり置き換えて、励
起光を投射する代わりに蛍光発光波長の光を用いて、上
記の手段にてＥA(λ)、Ｅ'A(λ)、ＥB(λ)、Ｅ'B(λ)を
測定すると、（１２式）より（１３式）の関係が成り立
つ。
起光入射側反対側における、積分球内壁面の分光放射照
度を測定する装置校正や積分球効率の測定、及びｓcom
の測定は個々に行うこともできるが、以下の手順によっ
て一括にして求めることができる。分光透過率がｔ(λ)
の拡散透過板を蛍光体サンプルの代わり置き換えて、励
起光を投射する代わりに蛍光発光波長の光を用いて、上
記の手段にてＥA(λ)、Ｅ'A(λ)、ＥB(λ)、Ｅ'B(λ)を
測定すると、（１２式）より（１３式）の関係が成り立
つ。
【００２１】（式１３） ｔ(λ) ＝ ｛（ＱA(λ)／ｓcom）・(Ｅ'A(λ)-Ｅ
A(λ))｝／Ｅ'B(λ) または、 ｔ(λ) ＝ ｛（ＱB(λ)／ｓcom）・(Ｅ'B(λ)-Ｅ
B(λ))｝／Ｅ'A(λ) （１３式）において、分光放射束測定手段の装置出力ｉ
(λ)と分光放射照度Ｅ(λ)との関係を（１４式）のよう
に置き換えると、（１３式）は（１５式）のとおり変形
できる。
A(λ))｝／Ｅ'B(λ) または、 ｔ(λ) ＝ ｛（ＱB(λ)／ｓcom）・(Ｅ'B(λ)-Ｅ
B(λ))｝／Ｅ'A(λ) （１３式）において、分光放射束測定手段の装置出力ｉ
(λ)と分光放射照度Ｅ(λ)との関係を（１４式）のよう
に置き換えると、（１３式）は（１５式）のとおり変形
できる。
【００２２】（式１４） Ｅ(λ) ＝ ｋ(λ) ・ ｉ(λ) （式１５） （ＱA(λ)／ｓcom）・（ｋA(λ)／ｋB(λ)）＝ ｛ｔ
(λ)・ｉ'B(λ)｝／｛ｉ'A(λ)-ｉA(λ))｝ または、 （ＱB(λ)／ｓcom）・（ｋB(λ)／ｋA(λ)）＝ ｛ｔ
(λ)・ｉ'A(λ)｝／｛(ｉ'B(λ)-ｉB(λ))｝ （１５式）の左辺をそれぞれＴA(λ)、ＴB(λ)と置き換
えると、（１５式）は（６式）になる。また、（２式）
は（５式）に置き換えることができる。（５式）および
（６式）より、分光放射照度を測定する必要なく、分光
測定手段を校正する必要のない分光測定手段の出力のみ
を測定するだけで、（５式）により蛍光体サンプルの分
光透過特性を測定することができる。
(λ)・ｉ'B(λ)｝／｛ｉ'A(λ)-ｉA(λ))｝ または、 （ＱB(λ)／ｓcom）・（ｋB(λ)／ｋA(λ)）＝ ｛ｔ
(λ)・ｉ'A(λ)｝／｛(ｉ'B(λ)-ｉB(λ))｝ （１５式）の左辺をそれぞれＴA(λ)、ＴB(λ)と置き換
えると、（１５式）は（６式）になる。また、（２式）
は（５式）に置き換えることができる。（５式）および
（６式）より、分光放射照度を測定する必要なく、分光
測定手段を校正する必要のない分光測定手段の出力のみ
を測定するだけで、（５式）により蛍光体サンプルの分
光透過特性を測定することができる。
【００２３】
（第１の実施の形態）図１は本発明の第１の実施の形態
である蛍光体光学特性測定装置の概要図、図２は本発明
の第１の実施の形態である蛍光体光学特性測定装置の測
定手順を示す図である。
である蛍光体光学特性測定装置の概要図、図２は本発明
の第１の実施の形態である蛍光体光学特性測定装置の測
定手順を示す図である。
【００２４】図１において、１は蛍光体励起光投射光
源、２は蛍光体励起光、３は蛍光体励起光分光放射束測
定装置、４は積分球Ａ、５は積分球Ａ内壁面分光放射照
度測定装置、６は積分球Ａ移動装置、７は積分球Ｂ移動
装置、８は積分球Ｂ内壁面分光放射照度測定装置、９は
積分球Ｂ、１０は蛍光体サンプル、１１は励起光投射側
蛍光発光、１２は励起光投射側反対側蛍光発光、１３は
演算装置、１４は記憶装置、１５は表示装置である。
源、２は蛍光体励起光、３は蛍光体励起光分光放射束測
定装置、４は積分球Ａ、５は積分球Ａ内壁面分光放射照
度測定装置、６は積分球Ａ移動装置、７は積分球Ｂ移動
装置、８は積分球Ｂ内壁面分光放射照度測定装置、９は
積分球Ｂ、１０は蛍光体サンプル、１１は励起光投射側
蛍光発光、１２は励起光投射側反対側蛍光発光、１３は
演算装置、１４は記憶装置、１５は表示装置である。
【００２５】積分球Ａ４は蛍光体励起光光路２上に励起
光導入光が設けてある。また積分球Ａ４および積分球Ｂ
５には形状、寸法の蛍光発光測定口があり、蛍光体サン
プル１０測定時には、蛍光体サンプル１０をはさんで対
称な位置に位置している。蛍光体励起光源１から投射さ
れる蛍光体励起光２の大きさは、蛍光体励起光分光放射
束測定装置３及び積分球Ａ４の蛍光発光測定口内に十分
はいる大きさである。
光導入光が設けてある。また積分球Ａ４および積分球Ｂ
５には形状、寸法の蛍光発光測定口があり、蛍光体サン
プル１０測定時には、蛍光体サンプル１０をはさんで対
称な位置に位置している。蛍光体励起光源１から投射さ
れる蛍光体励起光２の大きさは、蛍光体励起光分光放射
束測定装置３及び積分球Ａ４の蛍光発光測定口内に十分
はいる大きさである。
【００２６】積分球Ａ４は積分球Ａ移動装置６によっ
て、積分球Ｂ９は積分球Ｂ移動装置７によって、蛍光体
サンプル１０を自由に装着・着脱することができ、積分
球Ａ移動装置６および積分球Ｂ移動装置７は演算装置１
３によって制御されている。
て、積分球Ｂ９は積分球Ｂ移動装置７によって、蛍光体
サンプル１０を自由に装着・着脱することができ、積分
球Ａ移動装置６および積分球Ｂ移動装置７は演算装置１
３によって制御されている。
【００２７】積分球Ａ内壁面分光放射照度測定装置５は
積分球Ａ内壁面上の分光放射照度を、積分球Ｂ内壁面分
光放射照度測定装置８は積分球Ｂ内壁面上の分光放射照
度を、それぞれ測定することができ、その出力は演算装
置１３に送られる。
積分球Ａ内壁面上の分光放射照度を、積分球Ｂ内壁面分
光放射照度測定装置８は積分球Ｂ内壁面上の分光放射照
度を、それぞれ測定することができ、その出力は演算装
置１３に送られる。
【００２８】蛍光体励起光分光放射束測定装置３は蛍光
体励起光源１から投射される蛍光体励起光２の分光放射
束を測定することができ、その出力は演算装置１３に送
られる。記憶装置１４には、積分球Ａ４及び積分球Ｂ９
の分光効率データＱA(λ）、ＱB(λ)が記憶されてい
る。
体励起光源１から投射される蛍光体励起光２の分光放射
束を測定することができ、その出力は演算装置１３に送
られる。記憶装置１４には、積分球Ａ４及び積分球Ｂ９
の分光効率データＱA(λ）、ＱB(λ)が記憶されてい
る。
【００２９】まず、蛍光体励起光源１が点灯され、蛍光
体サンプル１０に蛍光体励起光２が投射される。蛍光体
励起光分光放射束測定装置３は、蛍光体励起光２の光路
上に置かれ、蛍光体励起光２の分光放射束を測定し、演
算装置１３に出力し、演算装置１３は、蛍光体励起光２
の分光放射束データを記憶装置１４に記憶する。
体サンプル１０に蛍光体励起光２が投射される。蛍光体
励起光分光放射束測定装置３は、蛍光体励起光２の光路
上に置かれ、蛍光体励起光２の分光放射束を測定し、演
算装置１３に出力し、演算装置１３は、蛍光体励起光２
の分光放射束データを記憶装置１４に記憶する。
【００３０】次に、蛍光体励起光分光放射束測定装置３
を蛍光体励起光２の光路から移動した後、演算装置１３
は、積分球Ａ移動装置６を制御して積分球Ａ４を蛍光体
サンプル１０に装着し、着脱積分球Ｂ移動装置７を制御
して積分球Ｂ９を蛍光体サンプル１０から着脱させ（図
２における（ａ）の状態）、蛍光体サンプル１０におけ
る励起光投射側蛍光発光１１による積分球Ａ４の内壁面
分光放射照度ＥA(λ）を積分球Ａ内壁面分光放射照度測
定装置５にて測定する。
を蛍光体励起光２の光路から移動した後、演算装置１３
は、積分球Ａ移動装置６を制御して積分球Ａ４を蛍光体
サンプル１０に装着し、着脱積分球Ｂ移動装置７を制御
して積分球Ｂ９を蛍光体サンプル１０から着脱させ（図
２における（ａ）の状態）、蛍光体サンプル１０におけ
る励起光投射側蛍光発光１１による積分球Ａ４の内壁面
分光放射照度ＥA(λ）を積分球Ａ内壁面分光放射照度測
定装置５にて測定する。
【００３１】積分球Ａ内壁面分光放射照度測定装置５は
分光放射照度ＥA(λ）のデータを演算装置１３に出力
し、演算装置１３は分光放射照度ＥA(λ）のデータを記
憶装置１４に記憶する。同様にして、演算装置１３によ
り積分球Ａ移動装置６および積分球Ｂ移動装置７を制御
して、積分球Ａ４および積分球Ｂ９を移動して（図２に
おける（ｂ）の状態）、蛍光体サンプル１０における励
起光投射側反対側蛍光発光１２による積分球Ｂ９の内壁
面分光放射照度ＥB(λ）を積分球Ｂ内壁面分光放射照度
測定装置８にて測定し、積分球Ｂ内壁面分光放射照度測
定装置８は分光放射照度ＥB(λ）のデータを演算装置１
３に出力し、演算装置１３は分光放射照度ＥB(λ)のデ
ータを記憶装置１４に記憶する。
分光放射照度ＥA(λ）のデータを演算装置１３に出力
し、演算装置１３は分光放射照度ＥA(λ）のデータを記
憶装置１４に記憶する。同様にして、演算装置１３によ
り積分球Ａ移動装置６および積分球Ｂ移動装置７を制御
して、積分球Ａ４および積分球Ｂ９を移動して（図２に
おける（ｂ）の状態）、蛍光体サンプル１０における励
起光投射側反対側蛍光発光１２による積分球Ｂ９の内壁
面分光放射照度ＥB(λ）を積分球Ｂ内壁面分光放射照度
測定装置８にて測定し、積分球Ｂ内壁面分光放射照度測
定装置８は分光放射照度ＥB(λ）のデータを演算装置１
３に出力し、演算装置１３は分光放射照度ＥB(λ)のデ
ータを記憶装置１４に記憶する。
【００３２】そして、演算装置１３は、記憶装置１４に
記憶されている、分光放射照度測定データＥA(λ)、ＥB
(λ)と、積分球分光効率データＱA(λ)、ＱB(λ)を用い
て、（１式）なる演算を行って、励起光投射側蛍光発光
１１の分光放射束データＰA(λ)及び励起光投射側反対
側蛍光発光１２の分光放射束データＰB(λ）を求め、記
憶装置１４に記憶する。表示装置１５は、記憶装置１４
に記憶されている、蛍光体励起光２の分光放射束デー
タ、励起光投射側蛍光発光１１の分光放射束データＰ
A(λ)、及び励起光投射側反対側蛍光発光１２の分光放
射束データＰB(λ)を表示する。
記憶されている、分光放射照度測定データＥA(λ)、ＥB
(λ)と、積分球分光効率データＱA(λ)、ＱB(λ)を用い
て、（１式）なる演算を行って、励起光投射側蛍光発光
１１の分光放射束データＰA(λ)及び励起光投射側反対
側蛍光発光１２の分光放射束データＰB(λ）を求め、記
憶装置１４に記憶する。表示装置１５は、記憶装置１４
に記憶されている、蛍光体励起光２の分光放射束デー
タ、励起光投射側蛍光発光１１の分光放射束データＰ
A(λ)、及び励起光投射側反対側蛍光発光１２の分光放
射束データＰB(λ)を表示する。
【００３３】以上のように本実施の形態は、薄膜、もし
くは、あまり厚みを持たない蛍光体サンプルであって
も、蛍光体サンプルから放射される蛍光発光の全分光放
射束をもれなく測定することができ、蛍光体効率を高精
度に求めることができる。
くは、あまり厚みを持たない蛍光体サンプルであって
も、蛍光体サンプルから放射される蛍光発光の全分光放
射束をもれなく測定することができ、蛍光体効率を高精
度に求めることができる。
【００３４】また、薄膜、もしくは、あまり厚みを持た
ない蛍光体等の、蛍光体の実際の利用形態においての評
価が可能となり、蛍光体を利用するための最適設計を本
発明により可能となる。
ない蛍光体等の、蛍光体の実際の利用形態においての評
価が可能となり、蛍光体を利用するための最適設計を本
発明により可能となる。
【００３５】なお、積分球Ａおよび積分球Ｂの内壁面表
面としては、励起光の波長帯域において低反射率特性を
もち、蛍光発光帯域において高反射率特性をもつ、拡散
反射材料を用いると良い。
面としては、励起光の波長帯域において低反射率特性を
もち、蛍光発光帯域において高反射率特性をもつ、拡散
反射材料を用いると良い。
【００３６】なお、積分球Ａおよび積分球Ｂの内壁面表
面に用いる材料としてはアルミナ（Ａｌ2Ｏ3）を用いる
とよい。
面に用いる材料としてはアルミナ（Ａｌ2Ｏ3）を用いる
とよい。
【００３７】なお、積分球Ａおよび積分球Ｂの分光放射
照度測定装置の受光窓の前面に、積分球内壁面と同材質
の表面処理をした遮光板を設置するとよい。
照度測定装置の受光窓の前面に、積分球内壁面と同材質
の表面処理をした遮光板を設置するとよい。
【００３８】（第２の実施の形態）図３は本発明の第２
の実施の形態である蛍光体光学特性測定装置の測定手順
を示す図である。第２の実施の形態は、第１の実施の形
態に記載の装置構成及び動作手順を持つとともに、以下
に説明する手順を追加して、特定の演算を行なうことに
より、蛍光体サンプルの蛍光発光特性と同時に蛍光体サ
ンプルの分光透過特性を測定することができる。
の実施の形態である蛍光体光学特性測定装置の測定手順
を示す図である。第２の実施の形態は、第１の実施の形
態に記載の装置構成及び動作手順を持つとともに、以下
に説明する手順を追加して、特定の演算を行なうことに
より、蛍光体サンプルの蛍光発光特性と同時に蛍光体サ
ンプルの分光透過特性を測定することができる。
【００３９】記憶装置１４には、積分球Ａ４及び積分球
Ｂ９で共通の、蛍光発光測定口の面積データｓcomが記
憶されている。
Ｂ９で共通の、蛍光発光測定口の面積データｓcomが記
憶されている。
【００４０】まず、第１の実施の形態で説明した手順に
より、蛍光体励起光の分光放射束測定データ、分光放射
照度測定データＥA(λ)、ＥB(λ)を測定し、演算によ
り、分光放射束データＰA(λ)およびＰB(λ)を求める。
より、蛍光体励起光の分光放射束測定データ、分光放射
照度測定データＥA(λ)、ＥB(λ)を測定し、演算によ
り、分光放射束データＰA(λ)およびＰB(λ)を求める。
【００４１】次に、演算装置１３は、積分球Ａ移動装置
６および積分球Ｂ移動装置７を制御して、積分球Ａ４お
よび積分球Ｂ９を移動して（図３の状態）、この時の積
分球Ａ４の内壁面分光放射照度Ｅ'A(λ)および積分球Ｂ
９の内壁面分光放射照度Ｅ'B(λ)を、それぞれ、積分球
Ａ内壁面分光放射照度測定装置５および積分球Ｂ内壁面
分光放射照度測定装置８にて測定し、演算装置１３に出
力し、演算装置１３はのＥ'A(λ)およびＥ'B(λ)データ
を記憶装置１４に記憶する。
６および積分球Ｂ移動装置７を制御して、積分球Ａ４お
よび積分球Ｂ９を移動して（図３の状態）、この時の積
分球Ａ４の内壁面分光放射照度Ｅ'A(λ)および積分球Ｂ
９の内壁面分光放射照度Ｅ'B(λ)を、それぞれ、積分球
Ａ内壁面分光放射照度測定装置５および積分球Ｂ内壁面
分光放射照度測定装置８にて測定し、演算装置１３に出
力し、演算装置１３はのＥ'A(λ)およびＥ'B(λ)データ
を記憶装置１４に記憶する。
【００４２】演算装置１３は、記憶装置１４に記憶され
ている分光放射照度測定データＥA(λ)、ＥB(λ)、Ｅ'A
(λ)、Ｅ'B(λ）と積分球分光効率データＱA(λ)、Ｑ
B(λ)と、積分球の蛍光発光測定口の面積データｓcomと
を用いて、(２式）なる演算を行なって、蛍光体サンプ
ル１０の分光透過率データτ(λ)を求め、記憶装置１４
に記憶する。
ている分光放射照度測定データＥA(λ)、ＥB(λ)、Ｅ'A
(λ)、Ｅ'B(λ）と積分球分光効率データＱA(λ)、Ｑ
B(λ)と、積分球の蛍光発光測定口の面積データｓcomと
を用いて、(２式）なる演算を行なって、蛍光体サンプ
ル１０の分光透過率データτ(λ)を求め、記憶装置１４
に記憶する。
【００４３】表示装置１５は、記憶装置１４に記憶され
ている、蛍光体励起光２の分光放射束データ、励起光投
射側蛍光発光１１の分光放射束データＰA(λ）、および
励起光投射側反対側蛍光発光１２の分光放射束データＰ
B(λ）、蛍光体サンプル１０の分光透過率データτ(λ)
を表示する。
ている、蛍光体励起光２の分光放射束データ、励起光投
射側蛍光発光１１の分光放射束データＰA(λ）、および
励起光投射側反対側蛍光発光１２の分光放射束データＰ
B(λ）、蛍光体サンプル１０の分光透過率データτ(λ)
を表示する。
【００４４】以上のように本実施の形態は、第１の実施
の形態の効果の他に、蛍光体サンプルの蛍光発光時の分
光透過率を同時に測定することができる。
の形態の効果の他に、蛍光体サンプルの蛍光発光時の分
光透過率を同時に測定することができる。
【００４５】（第３の実施の形態）図４は本発明の第３
の実施の形態である蛍光体光学特性測定装置の校正手順
を示す図である。
の実施の形態である蛍光体光学特性測定装置の校正手順
を示す図である。
【００４６】図４において、４は積分球Ａ、５は積分球
Ａ内壁面分光放射照度測定装置、８は積分球Ｂ内壁面分
光放射照度測定装置、９は積分球Ｂ、１３は演算装置、
１４は記憶装置、１５は表示装置、１６は蛍光体蛍光発
光波長光投射光源、１７は蛍光体蛍光発光波長光、１８
は蛍光体蛍光発光波長光分光放射束測定装置である。
Ａ内壁面分光放射照度測定装置、８は積分球Ｂ内壁面分
光放射照度測定装置、９は積分球Ｂ、１３は演算装置、
１４は記憶装置、１５は表示装置、１６は蛍光体蛍光発
光波長光投射光源、１７は蛍光体蛍光発光波長光、１８
は蛍光体蛍光発光波長光分光放射束測定装置である。
【００４７】蛍光体蛍光発光波長光投射光源１６から投
射される蛍光体蛍光発光波長光１７の大きさは、蛍光体
蛍光発光波長光分光放射束測定装置１８に十分に入る大
きさである。第３の実施の形態は、第１の実施の形態ま
たは第２の実施の形態に記載の装置構成および動作手順
をあわせて持っている。
射される蛍光体蛍光発光波長光１７の大きさは、蛍光体
蛍光発光波長光分光放射束測定装置１８に十分に入る大
きさである。第３の実施の形態は、第１の実施の形態ま
たは第２の実施の形態に記載の装置構成および動作手順
をあわせて持っている。
【００４８】第３の実施の形態の特徴は、第１の実施の
形態または第２の実施の形態に記載の手順において積分
球内壁面上の分光放射照度を測定して（１式）なる演算
を用いることに代わって、積分球に取り付けた分光放射
照度測定装置の受光器出力を測定して（３式）なる演算
を用いて蛍光発光の分光放射束を求めることと、第１の
実施の形態または第２の実施の形態に記載の分光放射照
度測定装置の校正や積分球分光効率の測定を行う代わり
に、(３式）における装置係数データＫA(λ)、ＫB(λ）
を以下に説明する手順により、図４の装置構成による校
正装置を用いて行うことを特徴としている。
形態または第２の実施の形態に記載の手順において積分
球内壁面上の分光放射照度を測定して（１式）なる演算
を用いることに代わって、積分球に取り付けた分光放射
照度測定装置の受光器出力を測定して（３式）なる演算
を用いて蛍光発光の分光放射束を求めることと、第１の
実施の形態または第２の実施の形態に記載の分光放射照
度測定装置の校正や積分球分光効率の測定を行う代わり
に、(３式）における装置係数データＫA(λ)、ＫB(λ）
を以下に説明する手順により、図４の装置構成による校
正装置を用いて行うことを特徴としている。
【００４９】まず、蛍光体蛍光発光波長光投射光源１６
が点灯され、積分球Ａ４の励起光導入口より内壁面上に
蛍光体蛍光発光波長光１７が投射される（図４の（ａ）
の状態）。蛍光体蛍光発光波長光分光放射束測定装置１
８は、蛍光体蛍光発光波長光１７の光路上に置かれ、蛍
光体蛍光発光波長光１７の分光放射束Ｐ(λ)を測定し、
演算装置１３に出力し、演算装置１３は、分光放射束デ
ータＰ(λ)を記憶装置１４に記憶する。
が点灯され、積分球Ａ４の励起光導入口より内壁面上に
蛍光体蛍光発光波長光１７が投射される（図４の（ａ）
の状態）。蛍光体蛍光発光波長光分光放射束測定装置１
８は、蛍光体蛍光発光波長光１７の光路上に置かれ、蛍
光体蛍光発光波長光１７の分光放射束Ｐ(λ)を測定し、
演算装置１３に出力し、演算装置１３は、分光放射束デ
ータＰ(λ)を記憶装置１４に記憶する。
【００５０】次に、蛍光体蛍光発光波長光分光放射束測
定装置１８を蛍光体蛍光発光波長光１７の光路上より移
動させた後、積分球Ａ内壁面分光放射照度測定装置５の
装置出力ｉA(λ)を測定する。積分球Ａ内壁面分光放射
照度測定装置５はｉA(λ)のデータを演算装置１３に出
力し、演算装置１３はデータｉA(λ）を記憶装置１４に
記憶する。
定装置１８を蛍光体蛍光発光波長光１７の光路上より移
動させた後、積分球Ａ内壁面分光放射照度測定装置５の
装置出力ｉA(λ)を測定する。積分球Ａ内壁面分光放射
照度測定装置５はｉA(λ)のデータを演算装置１３に出
力し、演算装置１３はデータｉA(λ）を記憶装置１４に
記憶する。
【００５１】次に、積分球Ｂ９の蛍光発光測定口より内
壁面上に蛍光体蛍光発光波長光１７が投射され（図４の
（ｂ）の状態）、積分球Ｂ内壁面分光放射照度測定装置
８の装置出力ｉB(λ)を測定する。
壁面上に蛍光体蛍光発光波長光１７が投射され（図４の
（ｂ）の状態）、積分球Ｂ内壁面分光放射照度測定装置
８の装置出力ｉB(λ)を測定する。
【００５２】積分球Ｂ内壁面分光放射照度測定装置８
は、ｉB(λ）のデータを演算装置１３に出力し、演算装
置１３はデータｉB(λ)を記憶装置１４に記憶する。
は、ｉB(λ）のデータを演算装置１３に出力し、演算装
置１３はデータｉB(λ)を記憶装置１４に記憶する。
【００５３】そして、演算装置１３は、記憶装置１４に
記憶されている、分光放射束データＰ(λ)と、分光放射
照度測定装置出力データｉA(λ)、ｉB(λ)とを用いて、
（４式）なる演算を行って、積分球Ａ４及び積分球Ｂ９
の装置係数データＫA(λ）、ＫB(λ)を求め、記憶装置
１４に記憶する。
記憶されている、分光放射束データＰ(λ)と、分光放射
照度測定装置出力データｉA(λ)、ｉB(λ)とを用いて、
（４式）なる演算を行って、積分球Ａ４及び積分球Ｂ９
の装置係数データＫA(λ）、ＫB(λ)を求め、記憶装置
１４に記憶する。
【００５４】蛍光サンプルの測定時には、第１の実施の
形態または第２の実施の形態に記載の測定手順におい
て、積分球内壁面上の分光放射照度を測定する代わり
に、分光放射照度測定装置の装置出力を測定し、（１
式）なる演算に代わって（３式）なる演算を行って蛍光
発光の分光放射束を求める手順にて、蛍光体サンプルの
測定を行うことができる。
形態または第２の実施の形態に記載の測定手順におい
て、積分球内壁面上の分光放射照度を測定する代わり
に、分光放射照度測定装置の装置出力を測定し、（１
式）なる演算に代わって（３式）なる演算を行って蛍光
発光の分光放射束を求める手順にて、蛍光体サンプルの
測定を行うことができる。
【００５５】以上のように本実施の形態は、第１の実施
の形態の効果および第２の実施の形態の効果の他に、蛍
光体の蛍光発光の分光放射束測定に必要な校正データを
簡単な手順にて求めることができる。また、測定装置系
にて一括して装置校正を行えるために、測定精度を向上
させることができる。
の形態の効果および第２の実施の形態の効果の他に、蛍
光体の蛍光発光の分光放射束測定に必要な校正データを
簡単な手順にて求めることができる。また、測定装置系
にて一括して装置校正を行えるために、測定精度を向上
させることができる。
【００５６】（第４の実施の形態）図５は本発明の第４
の実施の形態である蛍光体光学特性測定装置の校正手順
を示す図である。
の実施の形態である蛍光体光学特性測定装置の校正手順
を示す図である。
【００５７】図５において、４は積分球Ａ、５は積分球
Ａ内壁面分光放射照度測定装置、８は積分球Ｂ内壁面分
光放射照度測定装置、９は積分球Ｂ、１６は蛍光体蛍光
発光波長光投射光源、１７は蛍光体蛍光発光波長光、１
９は拡散透過板である。拡散透過板１９は分光透過率特
性ｔ(λ)をもつものとし、記憶装置１４に記憶されてい
るものとする。
Ａ内壁面分光放射照度測定装置、８は積分球Ｂ内壁面分
光放射照度測定装置、９は積分球Ｂ、１６は蛍光体蛍光
発光波長光投射光源、１７は蛍光体蛍光発光波長光、１
９は拡散透過板である。拡散透過板１９は分光透過率特
性ｔ(λ)をもつものとし、記憶装置１４に記憶されてい
るものとする。
【００５８】第４の実施の形態は、第２の実施の形態ま
たは第３の実施の形態に記載の装置構成及び動作手順を
あわせて持っている。第４の実施の形態の特徴は、第２
の実施の形態または第３の実施の形態に記載の（２式）
なる演算に代わって（５式）なる演算を行って蛍光体サ
ンプルの分光透過率τ(λ)求めることと、第２の実施の
形態または第３の実施の形態に記載の分光放射照度測定
装置の校正、積分球分光効率の測定、および積分球の蛍
光発光測定口の面積測定を行う代わりに、（５式）にお
ける装置係数データＴA(λ)、ＴB(λ)を以下に説明する
手順により、図５の装置構成による校正装置を用いて行
うことを特徴としている。
たは第３の実施の形態に記載の装置構成及び動作手順を
あわせて持っている。第４の実施の形態の特徴は、第２
の実施の形態または第３の実施の形態に記載の（２式）
なる演算に代わって（５式）なる演算を行って蛍光体サ
ンプルの分光透過率τ(λ)求めることと、第２の実施の
形態または第３の実施の形態に記載の分光放射照度測定
装置の校正、積分球分光効率の測定、および積分球の蛍
光発光測定口の面積測定を行う代わりに、（５式）にお
ける装置係数データＴA(λ)、ＴB(λ)を以下に説明する
手順により、図５の装置構成による校正装置を用いて行
うことを特徴としている。
【００５９】まず、拡散透過板１９を積分球Ａ４の蛍光
発光測定口に装着する。このとき、拡散透過板１９に装
着されているのは積分球Ａ４のみとする。蛍光体蛍光発
光波長光投射光源１６を点灯して、蛍光体蛍光発光波長
光１７を積分球Ａ４の励起光導入口より積分球Ａ４内に
入射させて蛍光発光測定口より拡散透過板１９上に投射
して（図５の（ａ）の状態）、積分球Ａ内壁面分光放射
照度測定装置５の装置出力ｉA(λ)を測定する。積分球
Ａ内壁面分光放射照度測定装置５はｉA(λ)のデータを
演算装置１３に出力し、演算装置１３はデータｉA(λ）
を記憶装置１４に記憶する。
発光測定口に装着する。このとき、拡散透過板１９に装
着されているのは積分球Ａ４のみとする。蛍光体蛍光発
光波長光投射光源１６を点灯して、蛍光体蛍光発光波長
光１７を積分球Ａ４の励起光導入口より積分球Ａ４内に
入射させて蛍光発光測定口より拡散透過板１９上に投射
して（図５の（ａ）の状態）、積分球Ａ内壁面分光放射
照度測定装置５の装置出力ｉA(λ)を測定する。積分球
Ａ内壁面分光放射照度測定装置５はｉA(λ)のデータを
演算装置１３に出力し、演算装置１３はデータｉA(λ）
を記憶装置１４に記憶する。
【００６０】次に、積分球Ａ４を拡散透過板１９より取
り外し、積分球Ｂ９の蛍光発光測定口を拡散透過板１９
に装着して（図５の（ｂ）の状態）、積分球Ｂ内壁面分
光放射照度測定装置８により装置出力ｉB(λ）を測定す
る。積分球Ｂ内壁面分光放射照度測定装置８はｉB(λ）
のデータを演算装置１３に出力し、演算装置１３はデー
タｉB(λ)を記憶装置１４に記憶する。
り外し、積分球Ｂ９の蛍光発光測定口を拡散透過板１９
に装着して（図５の（ｂ）の状態）、積分球Ｂ内壁面分
光放射照度測定装置８により装置出力ｉB(λ）を測定す
る。積分球Ｂ内壁面分光放射照度測定装置８はｉB(λ）
のデータを演算装置１３に出力し、演算装置１３はデー
タｉB(λ)を記憶装置１４に記憶する。
【００６１】次に、再度、積分球Ａ４を拡散透過板１９
に取り付け（図５（ｃ）の状態）、積分球Ａ内壁面分光
放射照度測定装置５の装置出力ｉ'A(λ)と積分球Ｂ内壁
面分光放射照度測定装置８により装置出力ｉ'B(λ)を測
定して、同様にｉ'A(λ)およびｉ'B(λ)を記憶装置１４
に記憶する。
に取り付け（図５（ｃ）の状態）、積分球Ａ内壁面分光
放射照度測定装置５の装置出力ｉ'A(λ)と積分球Ｂ内壁
面分光放射照度測定装置８により装置出力ｉ'B(λ)を測
定して、同様にｉ'A(λ)およびｉ'B(λ)を記憶装置１４
に記憶する。
【００６２】そして、演算装置１３は、記憶装置１４に
記憶されている、分光放射照度測定装置出力データｉ
A(λ)、ｉB(λ)、ｉ'A(λ)、ｉ'B(λ)と、拡散透過板１
９の分光透過率データｔ(λ)とを用いて、（６式）なる
演算を行って、積分球Ａ４および積分球Ｂ９の装置係数
データＴA(λ)、ＴB(λ)を求め、記憶装置１４に記憶す
る。
記憶されている、分光放射照度測定装置出力データｉ
A(λ)、ｉB(λ)、ｉ'A(λ)、ｉ'B(λ)と、拡散透過板１
９の分光透過率データｔ(λ)とを用いて、（６式）なる
演算を行って、積分球Ａ４および積分球Ｂ９の装置係数
データＴA(λ)、ＴB(λ)を求め、記憶装置１４に記憶す
る。
【００６３】蛍光サンプルの分光透過率測定時には、第
２の実施の形態または第３の実施の形態に記載の測定手
順において、積分球内壁面上の分光放射照度を測定する
代わりに、分光放射照度測定装置の装置出力を測定し、
（２式）なる演算に代わって（５式）なる演算を行なう
手順にて、蛍光体サンプルの分光透過率測定を行うこと
ができる。
２の実施の形態または第３の実施の形態に記載の測定手
順において、積分球内壁面上の分光放射照度を測定する
代わりに、分光放射照度測定装置の装置出力を測定し、
（２式）なる演算に代わって（５式）なる演算を行なう
手順にて、蛍光体サンプルの分光透過率測定を行うこと
ができる。
【００６４】以上のように本実施の形態によれば、第２
の実施の形態の効果および第３の実施の形態の効果の他
に、蛍光体の分光透過率測定に必要な校正データを簡単
な手順にて求めることができる。また、測定装置系にて
一括して装置校正を行えるために、測定精度を向上させ
ることができる。
の実施の形態の効果および第３の実施の形態の効果の他
に、蛍光体の分光透過率測定に必要な校正データを簡単
な手順にて求めることができる。また、測定装置系にて
一括して装置校正を行えるために、測定精度を向上させ
ることができる。
【００６５】
【発明の効果】以上のように第１の発明によれば、薄
膜、もしくは、あまり厚みを持たない蛍光体サンプルで
あっても、蛍光体サンプルから放射される蛍光発光の全
分光放射束をもれなく測定することができ、蛍光体効率
を高精度に求めることができる。また、薄膜、もしく
は、あまり厚みを持たない蛍光体等の、蛍光体の実際の
利用形態においての評価が可能となり、蛍光体を利用す
るための最適設計を本発明により可能となる。
膜、もしくは、あまり厚みを持たない蛍光体サンプルで
あっても、蛍光体サンプルから放射される蛍光発光の全
分光放射束をもれなく測定することができ、蛍光体効率
を高精度に求めることができる。また、薄膜、もしく
は、あまり厚みを持たない蛍光体等の、蛍光体の実際の
利用形態においての評価が可能となり、蛍光体を利用す
るための最適設計を本発明により可能となる。
【００６６】第２の発明は、第１の発明の効果の他に、
蛍光体サンプルの蛍光発光時の分光透過率を同時に測定
することができる。
蛍光体サンプルの蛍光発光時の分光透過率を同時に測定
することができる。
【００６７】第３の発明は、第１の発明の効果および第
２の発明の効果の他に、蛍光体の蛍光発光の分光放射束
測定に必要な校正データを簡単な手順にて求めることが
できる。また、測定装置系にて一括して装置校正を行え
るために、測定精度を向上させることができる。
２の発明の効果の他に、蛍光体の蛍光発光の分光放射束
測定に必要な校正データを簡単な手順にて求めることが
できる。また、測定装置系にて一括して装置校正を行え
るために、測定精度を向上させることができる。
【００６８】第４の発明は、第２の発明の効果および第
３の発明の効果の他に、蛍光体の分光透過率測定に必要
な校正データを簡単な手順にて求めることができる。ま
た、測定装置系にて一括して装置校正を行えるために、
測定精度を向上させることができる。
３の発明の効果の他に、蛍光体の分光透過率測定に必要
な校正データを簡単な手順にて求めることができる。ま
た、測定装置系にて一括して装置校正を行えるために、
測定精度を向上させることができる。
【図１】本発明の第１の実施の形態である蛍光体光学特
性測定装置の概要図
性測定装置の概要図
【図２】（ａ），（ｂ）本発明の第１の実施の形態であ
る蛍光体光学特性測定装置の測定手順を示す図
る蛍光体光学特性測定装置の測定手順を示す図
【図３】本発明の第２の実施の形態である蛍光体光学特
性測定装置の測定手順を示す図
性測定装置の測定手順を示す図
【図４】（ａ），（ｂ）本発明の第３の実施の形態であ
る蛍光体光学特性測定装置の校正手順を示す図
る蛍光体光学特性測定装置の校正手順を示す図
【図５】（ａ）〜（ｃ）本発明の第４の実施の形態であ
る蛍光体光学特性測定装置の校正手順を示す図
る蛍光体光学特性測定装置の校正手順を示す図
１ 蛍光体励起光投射光源 ２ 蛍光体励起光 ３ 蛍光体励起光分光放射束測定装置 ４ 積分球Ａ ５ 積分球Ａ内壁面分光放射照度測定装置 ６ 積分球Ａ移動装置 ７ 積分球Ｂ移動装置 ８ 積分球Ｂ内壁面分光放射照度測定装置 ９ 積分球Ｂ １０ 蛍光体サンプル １１ 励起光投射側蛍光発光 １２ 励起光投射側反対側蛍光発光 １３ 演算装置 １４ 記憶装置 １５ 表示装置
Claims (5)
- 【請求項１】蛍光体励起波長光ビーム投射光源部と、前
記蛍光体励起波長光ビーム投射光源部の放射光の放射束
測定手段と、少なくとも励起光導入口および励起投射側
の蛍光発光を導入する蛍光発光測定口および測光窓を持
つ分光効率がＱ A(λ)である積分球Ａと、前記積分球Ａ
の測光窓より前記積分球Ａ内壁面上の分光放射照度Ｅ
A(λ)を測定する分光放射照度測定手段Ａと、前記積分
球Ａの移動手段Ａと、少なくとも励起投射側の反対側の
蛍光発光を導入する蛍光発光測定口および測光窓を持つ
分光効率がＱB(λ)である積分球Ｂと、前記積分球Ｂの
測光窓より前記積分球Ｂ内壁面上の分光放射照度Ｅ
B(λ)を測定する分光放射照度測定手段Ｂと、前記積分
球Ｂの移動手段Ｂと、演算装置と、記憶装置と、表示装
置から構成されることを特徴とした蛍光体光学特性測定
装置であって、 前記蛍光体励起波長光ビーム投射光源部により蛍光サン
プルを発光させた場合において、前記積分球Ａのみを蛍
光体サンプルに装着させた場合の分光放射照度測定手段
Ａより測定される前記積分球Ａ内壁面上の分光放射照度
ＥA(λ)と、前記積分球Ｂのみを蛍光体サンプルに装着
させた場合の分光放射照度測定手段Ｂより測定される前
記積分球Ｂ内壁面上の分光放射照度ＥB(λ)とを測定
し、（式１）より蛍光発光分光放射束を前記演算装置よ
り求めることを特徴とした蛍光体光学特性測定装置。 （式１） ＰA(λ) ＝ ＥA(λ) ・ ＱA(λ) ＰB(λ) ＝ ＥB(λ) ・ ＱB(λ) （ここで、ＰA(λ)は励起光投射側の蛍光発光分光放射
束、ＥA(λ)は積分球Ａのみを蛍光体サンプルに装着さ
せた場合の積分球Ａ内壁面上の分光放射照度、Ｑ A(λ)
は積分球Ａの分光効率、ＰB(λ)は励起光投射側反対側
の蛍光発光分光放射束、ＥB(λ)は積分球Ｂのみを蛍光
体サンプルに装着させた場合の積分球Ｂ内壁面上の分光
放射照度、ＱB(λ)は積分球Ｂの分光効率）。 - 【請求項２】積分球Ａ及び積分球Ｂを同時に蛍光体サン
プルに装着させた場合の分光放射照度測定手段Ａより測
定される積分球Ａ内壁面上の分光放射照度Ｅ'A(λ)と、
積分球Ａおよび積分球Ｂを同時に蛍光体サンプルに装着
させた場合の分光放射照度測定手段Ｂより測定される積
分球Ｂ内壁面上の分光放射照度Ｅ'B(λ)とを測定し、
（式２）より蛍光体サンプルの透過特性を演算装置より
求めることを特徴とした請求項１記載の蛍光体光学特性
測定装置。 （式２） τ(λ) ＝ ０.５ × （１／ｓcom）× [{ＱA(λ)・
(Ｅ'A(λ)-ＥA(λ))/Ｅ'B(λ)}＋{ＱB(λ)・(Ｅ'B(λ)-
ＥB(λ))/Ｅ'A(λ)}] （ここで、τ(λ)は蛍光体サンプルの分光透過率、ｓ
comは積分球Ａおよび積分球Ｂを蛍光体サンプルに装着
した場合の蛍光発光測定口の共通透過部分の面積、Ｅ
A(λ)は積分球Ａのみを蛍光体サンプルに装着させた場
合の積分球Ａ内壁面上の分光放射照度、Ｅ'A(λ)は積分
球Ａおよび積分球Ｂを同時に蛍光体サンプルに装着させ
た場合の積分球Ａ内壁面上の分光放射照度、ＥB(λ)は
積分球Ｂのみを蛍光体サンプルに装着させた場合の積分
球Ｂ内壁面上の分光放射照度、Ｅ'B(λ)は積分球Ａおよ
び積分球Ｂを同時に蛍光体サンプルに装着させた場合の
積分球Ｂ内壁面上の分光放射照度）。 - 【請求項３】分光放射束測定に用いる演算として（３
式）を用いることを特徴とする蛍光体光学特性測定装置
であって、積分球Ａの装置係数ＫA(λ)および積分球Ｂ
の装置係数ＫB(λ)を求める手段として、蛍光体蛍光発
光波長光ビーム投射光源部と、前記蛍光体蛍光波長光ビ
ーム投射光源部の放射光の放射束測定手段とから構成さ
れることを特徴とする蛍光体光学特性測定装置構成手段
を持ち、前記放射束測定手段にて測定された分光放射束
がＰ(λ)なるビーム光を、励起光導入口または蛍光発光
測定口より前記蛍光体蛍光発光波長光ビーム投射光源部
にて積分球Ａおよび積分球Ｂの積分球内壁面に投射させ
たときの分光放射束測定手段ＡおよびＢの装置出力ｉ
A(λ)およびｉB(λ)を測定し、（４式）なる演算を演算
装置に行ない積分球Ａの装置係数ＫA(λ)および積分球
Ｂの装置係数ＫB(λ)を求めることを特徴とした、蛍光
体光学特性測定装置校正手段をもつことを特徴とした請
求項１または２記載の蛍光体光学特性測定装置。 （式３） ＰA(λ) ＝ ｉA(λ) ・ ＫA(λ) ＰB(λ) ＝ ｉB(λ) ・ ＫB(λ) （ここで、ＰA(λ)は励起光投射側の蛍光発光分光放射
束、ｉA(λ)は積分球Ａのみを蛍光体サンプルに装着さ
せた場合の分光放射照度測定手段Ａの装置出力、Ｋ
A(λ)は積分球Ａの装置係数、ＰB(λ)は励起光投射側反
対側の蛍光発光分光放射束、ｉB(λ)は積分球Ｂのみを
蛍光体サンプルに装着させた場合の分光放射照度測定手
段Ｂの装置出力、ＫB(λ)は積分球Ｂの装置係数）。 （式４） ＫA(λ) ＝ Ｐ(λ) ／ ｉA(λ) ＫB(λ) ＝ Ｐ(λ) ／ ｉB(λ) （ここで、Ｐ(λ)は積分球に入射する分光放射束、ｉ
A(λ)は積分球Ａの内壁面上にＰ(λ)を照射した場合の
分光放射照度測定手段Ａの装置出力、ＫA(λ)は積分球
Ａの装置係数、ｉB(λ)は積分球Ａの内壁面上にＰ(λ)
を照射した場合の分光放射照度測定手段Ｂの装置出力、
ＫB(λ)は積分球Ｂの装置係数）。 - 【請求項４】請求項２記載の蛍光体光学特性測定装置に
おける分光透過率を求める演算として（５式）を用いる
ことを特徴とする蛍光体光学特性測定装置であって、 積分球Ａの装置係数ＴA(λ)及び積分球Ｂの装置係数ＴB
(λ)を求める手段として、蛍光体蛍光発光波長光ビーム
投射光源部とから構成されることを特徴とする蛍光体光
学特性測定装置構成手段を持ち、分光透過率がｔ(λ)な
る拡散透過板を蛍光体サンプルの代わりに置き換えて、
励起光ビームの代わりに前記蛍光体蛍光波長光ビーム投
射光源部にて蛍光波長光を拡散透過板に投射した場合
の、積分球Ａおよび積分球Ｂの内壁面分光放射照度測定
手段出力ｉA(λ)、ｉ'A(λ)、ｉB(λ)、ｉ'B(λ)を測定
し、演算装置により（６式）なる演算にて積分球Ａの装
置係数ＴA(λ)および積分球Ｂの装置係数ＴB(λ)を求め
ることを特徴とした請求項２記載の蛍光体光学特性測定
装置。 （式５） τ(λ) ＝ ０.５ × [{ＴA(λ)・(ｉ'A(λ)-ｉA(λ))/
ｉ'B(λ)}＋ {ＴB(λ)・(ｉ'B(λ)-ｉB(λ))/ｉ'A(λ)}] （ここで、τ(λ)は蛍光体サンプルの分光透過率、Ｔ
A(λ)は積分球Ａの装置係数、ＴB(λ)は積分球Ａの装置
係数、ｉA(λ)は積分球Ａのみを蛍光体サンプルに装着
させた場合の積分球Ａ内壁面上の分光放射照度測定手段
出力、ｉ'A(λ)は積分球Ａおよび積分球Ｂを同時に蛍光
体サンプルに装着させた場合の積分球Ａ内壁面上の分光
放射照度測定手段出力、ｉB(λ)は積分球Ｂのみを蛍光
体サンプルに装着させた場合の積分球Ｂ内壁面上の分光
放射照度測定手段出力、ｉ'B(λ)は積分球Ａおよび積分
球Ｂを同時に蛍光体サンプルに装着させた場合の積分球
Ｂ内壁面上の分光放射照度測定手段出力）。 （式６） ＴA(λ) ＝ ｛ｔ(λ)・ｉ'B(λ)｝／（ｉ'A(λ)-ｉ
A(λ)） ＴB(λ) ＝ ｛ｔ(λ)・ｉ'A(λ)｝／（ｉ'B(λ)-ｉ
B(λ)） （ここで、ｔ(λ)は拡散透過板の分光透過率、ｉA(λ)
は積分球Ａのみを拡散透過板に装着させた場合の積分球
Ａ内壁面上の分光放射照度測定手段出力、ｉ'A(λ)は積
分球Ａおよび積分球Ｂを同時に拡散透過板に装着させた
場合の積分球Ａ内壁面上の分光放射照度測定手段出力、
ｉB(λ)は積分球Ｂのみを拡散透過板に装着させた場合
の積分球Ｂ内壁面上の分光放射照度測定手段出力、ｉ'B
(λ)は積分球Ａおよび積分球Ｂを同時に拡散透過板に装
着させた場合の積分球Ｂ内壁面上の分光放射照度測定手
段出力）。 - 【請求項５】蛍光体励起波長光ビームの投射により蛍光
サンプルを発光させた場合において、分光効率がＱ
A(λ)である積分球Ａのみを蛍光体サンプルに装着させ
た場合に測定される前記積分球Ａ内壁面上の分光放射照
度ＥA(λ)と、 分光効率がＱB(λ)である積分球Ｂのみを蛍光体サンプ
ルに装着させた場合に測定される前記積分球Ｂ内壁面上
の分光放射照度ＥB(λ)とを測定し、 ＰA(λ) ＝ ＥA(λ) ・ ＱA(λ) ＰB(λ) ＝ ＥB(λ) ・ ＱB(λ) の演算により蛍光発光分光放射束を求めることを特徴と
した蛍光体光学特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8231565A JPH1073486A (ja) | 1996-09-02 | 1996-09-02 | 蛍光体光学特性測定装置と蛍光体光学特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8231565A JPH1073486A (ja) | 1996-09-02 | 1996-09-02 | 蛍光体光学特性測定装置と蛍光体光学特性測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1073486A true JPH1073486A (ja) | 1998-03-17 |
Family
ID=16925509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8231565A Pending JPH1073486A (ja) | 1996-09-02 | 1996-09-02 | 蛍光体光学特性測定装置と蛍光体光学特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1073486A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008070172A (ja) * | 2006-09-13 | 2008-03-27 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計及びその補正方法 |
| WO2009001846A1 (ja) * | 2007-06-27 | 2008-12-31 | Shinshu University | 発光量子効率測定装置 |
| JP2009031176A (ja) * | 2007-07-30 | 2009-02-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計 |
| WO2010073778A1 (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム |
| WO2012073567A1 (ja) * | 2010-11-29 | 2012-06-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 量子収率測定装置 |
| WO2012073568A1 (ja) * | 2010-11-29 | 2012-06-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 量子収率測定装置 |
| JP2012208024A (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-25 | Toyoda Gosei Co Ltd | 蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法及び測定装置 |
| KR101257324B1 (ko) | 2011-03-08 | 2013-04-23 | 핏테크 코., 엘티디. | Ｌｅｄ 다이의 광학 특성 측정 방법 |
| JP2014500514A (ja) * | 2010-12-22 | 2014-01-09 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 発光性フィルムを検査するための方法及び装置 |
| US9389188B2 (en) | 2010-12-22 | 2016-07-12 | Koninklijke Philips N.V. | Method and apparatus for testing optical films |
| JP2019211244A (ja) * | 2018-05-31 | 2019-12-12 | 株式会社オキサイド | 蛍光体評価装置 |
-
1996
- 1996-09-02 JP JP8231565A patent/JPH1073486A/ja active Pending
Cited By (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008070172A (ja) * | 2006-09-13 | 2008-03-27 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計及びその補正方法 |
| WO2009001846A1 (ja) * | 2007-06-27 | 2008-12-31 | Shinshu University | 発光量子効率測定装置 |
| JP2009008509A (ja) * | 2007-06-27 | 2009-01-15 | Shinshu Univ | 発光量子効率測定装置 |
| JP2009031176A (ja) * | 2007-07-30 | 2009-02-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計 |
| US8462337B2 (en) | 2008-12-25 | 2013-06-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectrometer, spectrometry, and spectrometry program |
| WO2010073778A1 (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム |
| JP2010151632A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム |
| US9024278B2 (en) | 2010-11-29 | 2015-05-05 | Hamamatsu Photonics K.K. | Quantum-yield measurement device |
| WO2012073567A1 (ja) * | 2010-11-29 | 2012-06-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 量子収率測定装置 |
| CN103229043B (zh) * | 2010-11-29 | 2015-04-08 | 浜松光子学株式会社 | 量子产率测定装置 |
| WO2012073568A1 (ja) * | 2010-11-29 | 2012-06-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 量子収率測定装置 |
| CN103229043A (zh) * | 2010-11-29 | 2013-07-31 | 浜松光子学株式会社 | 量子产率测定装置 |
| CN103250045A (zh) * | 2010-11-29 | 2013-08-14 | 浜松光子学株式会社 | 量子产率测定装置 |
| US8592780B2 (en) | 2010-11-29 | 2013-11-26 | Hamamatsu Photonics K.K. | Quantum-yield measurement device |
| US8916836B2 (en) | 2010-11-29 | 2014-12-23 | Hamamatsu Photonics K.K. | Quantum-yield measurement device |
| JP2014500514A (ja) * | 2010-12-22 | 2014-01-09 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 発光性フィルムを検査するための方法及び装置 |
| US9389188B2 (en) | 2010-12-22 | 2016-07-12 | Koninklijke Philips N.V. | Method and apparatus for testing optical films |
| JP2016183969A (ja) * | 2010-12-22 | 2016-10-20 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 発光性フィルムを検査するための方法及び装置 |
| KR101257324B1 (ko) | 2011-03-08 | 2013-04-23 | 핏테크 코., 엘티디. | Ｌｅｄ 다이의 광학 특성 측정 방법 |
| JP2012208024A (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-25 | Toyoda Gosei Co Ltd | 蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法及び測定装置 |
| JP2019211244A (ja) * | 2018-05-31 | 2019-12-12 | 株式会社オキサイド | 蛍光体評価装置 |
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