JPH1086344A - 印刷物検査装置および印刷物検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 欠陥の種類によることなく印刷物の被検査画
像と参照画像の相違部分を検出することができる印刷物
検査装置および印刷物検査方法を提供することである。 【解決手段】 領域判定部５は、マスタメモリ部４に記
憶された参照画像データの領域が網点領域であるか非網
点領域であるかを判定する。比較判定部６は、被検査画
像データおよび参照画像データを複数の検査ブロックに
区分し、各検査ブロック内で検査ウィンドウを１画素ず
つ２次元的にずらせながら順次設定する。検査ウィンド
ウが網点領域にある場合には、当該検査ウィンドウ内の
被検査画像データおよび参照画像データの対応する画素
について符号付き差分加算を実行する。検査ウィンドウ
が非網点領域に相当ある場合には、当該検査ウィンドウ
内の被検査画像データおよび参照画像データの対応する
画素について絶対値差分加算を実行する。その加算値を
判定基準値と比較する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、印刷物の画像を参
照画像と比較して相違部分を検出する印刷物検査装置お
よび印刷物検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】印刷物の良否を検査するために種々の検
査方法が提案されている。例えば、特開平５−７７４０
９号公報には、印刷物の色濃度を検出する方法が開示さ
れている。

【０００３】この色濃度検出方法は、センサカメラによ
り基準印刷物の印刷面（参照パターン）および被検査印
刷物の印刷面（被検査パターン）をこれらの印刷物の移
動方向と直交する方向に走査し、このセンサカメラから
の映像信号を走査方向および移動方向に分割して印刷面
を多数のブロック状の検査対象領域に区分けすることに
相当する分割処理を行い、区分けされた検査対象領域ご
とに映像信号のレベルを加算して検査対象領域ごとの濃
度レベル基準値および被検査濃度レベルを得て、検査対
象領域ごとに被検査濃度レベルを濃度レベル基準値と比
較するものである。

【０００４】この色濃度検出方法によれば、ブロック状
の検査対象領域で映像信号のレベルを加算することによ
り得られる濃度レベル基準値と被検査濃度レベルとを比
較しているので、被検査印刷物の姿勢のばらつきやセン
サカメラからの映像信号の比較のタイミングのずれの影
響を小さくすることができる。

【０００５】一方、印刷物の印刷パターン等の被検査パ
ターンの良否を判定するためにパターンマッチング検査
方法が提案されている。このパターンマッチング検査方
法は、図１２に示すように、参照パターンの撮像信号を
処理して輪郭（エッジ）を抽出し、この抽出されたエッ
ジパターンに対してマスク領域（不感帯領域）Ｍを拡大
して（エッジパターンを太らせて）与えることによりマ
スタパターンを形成した後、同様に被検査パターンの撮
像信号を処理してエッジを抽出し、この抽出されたエッ
ジパターンをマスタパターンと比較し、パターンマッチ
ングを行うものである。

【０００６】このパターンマッチング検査方法では、マ
スク領域を拡大して与えることにより、印刷物の位置精
度や被検査パターンの印刷位置のずれ等を許容できる。
しかしながら、例えばバーコードで代表されるように隣
接する被検査パターン相互の間隔が狭く近接している場
合には、それぞれの被検査パターンに与えたマスク領域
がオーバーラップする。互いにオーバーラップするマス
ク領域により被検査パターンの全体が不感帯領域となる
ので、この不感帯領域に生じた欠点を検出することがで
きない。

【０００７】そこで、特開平６−２６５４８２５号公報
に、図１３に示すパターンマッチング検査方法が提案さ
れている。図１３に示すように、参照パターンの走査方
向に対して平行な方向のエッジについてのみマスク領域
の拡大処理を行って第１のマスタパターンを形成すると
ともに、参照パターンの走査方向に対して交差する方向
のエッジについてのみマスク領域の拡大処理を行って第
２のマスタパターンを形成する。そして、被検査パター
ンの走査方向に対して平行な方向のエッジパターンを第
１のマスタパターンと比較して差異を出力し、かつ被検
査パターンの走査方向に対して交差する方向のエッジパ
ターンを第２のマスタパターンと比較して差異を出力
し、それらの差異の論理和を相違部分として出力する。

【０００８】このパターンマッチング検査方法によれ
ば、走査方向に対して平行な方向および走査方向と交差
する方向について別々にパターンマッチングを行ってい
るので、被検査パターン相互が接近していても、被検査
パターンの輪郭上やその近傍にあるマスク領域内の欠点
を検出することができる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】上記の従来の色濃度検
出方法は、印刷物の汚れ等の濃度の違いによる欠陥の検
出には有効であるが、図１４に示すような文字部でのダ
ブリ欠陥については検出漏れが生じることがある。図１
４（ａ）において、ＰＲは参照パターンであり、ＰＩは
被検査パターンである。この例では、印刷機や版の精度
不良等により検査パターンＰＩにダブリ欠陥が生じ、被
検査パターンＰＩが参照パターンＰＲよりも太くなり、
濃度が薄くなっている。

【００１０】図１４（ｂ）は、図１４（ａ）のＸ−Ｘ’
方向における映像信号のレベルを表わす。図１４（ｂ）
において、ＬＲは参照パターンＰＲの映像信号のレベル
であり、ＬＩは被検査パターンＰＩの映像信号のレベル
である。映像信号のレベルＬＩと映像信号のレベルＬＲ
の差分は、領域ＤＡでは正となり、領域ＤＢでは負とな
る。したがって、領域ＤＡでの差分の積算値と領域ＤＢ
での差分の積算値が互いに相殺され、相違部分として検
出されない。

【００１１】これに対して、図１２および図１３に示し
た従来のパターンマッチング検査方法は、図１４に示す
ようなダブリ欠陥の検出に対しては有効であるが、濃度
差が少なく、エッジを検出することが困難な薄い汚れ等
の欠陥を検出することができない。

【００１２】本発明の目的は、印刷物の欠陥の種類によ
ることなく被検査画像と参照画像の相違部分を検出する
ことができる印刷物検査装置および印刷物検査方法を提
供することである。

【００１３】

【課題を解決するための手段および発明の効果】

（１）第１の発明 第１の発明に係る印刷物検査装置は、印刷物の被検査画
像に対応する被検査画像データを参照画像に対応する参
照画像データと比較して相違部分を検出する印刷物検査
装置であって、記憶手段、識別手段、設定手段および判
定手段を備える。

【００１４】記憶手段は、参照画像データを記憶する。
識別手段は、記憶手段に記憶された参照画像データの各
領域が網点領域に相当するか非網点領域に相当するかを
識別する。設定手段は、被検査画像データおよび参照画
像データの対応する領域に所定画素数の寸法を有する検
査ウィンドウを所定画素ずつずらせながら順次設定す
る。

【００１５】判定手段は、設定手段により設定された検
査ウィンドウが網点領域にある場合に、当該検査ウィン
ドウ内の被検査画像データの各画素の値と参照画像デー
タの対応する画素の値との符号付きの差分値を順次算出
し、当該検査ウィンドウ内で符号付きの差分値を積算
し、積算結果に基づいて当該検査ウィンドウに対応する
被検査画像の領域に相違部分があるか否かを判定し、設
定手段により設定された検査ウィンドウが非網点領域に
ある場合に、当該検査ウィンドウ内の被検査画像データ
の各画素の値と参照画像データの対応する画素の値との
差分の絶対値を順次算出し、当該検査ウィンドウ内で差
分の絶対値を積算し、積算結果に基づいて当該検査ウィ
ンドウに対応する被検査画像の領域に相違部分があるか
否かを判定する。

【００１６】第１の発明に係る印刷物検査装置において
は、参照画像データの各領域が網点領域に相当するか非
網点領域に相当するかが識別される。被検査画像の検査
時には、被検査画像データおよび参照画像データの対応
する領域に検査ウィンドウが順次設定される。

【００１７】検査ウィンドウが網点領域にある場合に
は、当該検査ウィンドウ内の被検査画像データおよび参
照画像データの対応する画素について符号付きの差分値
が積算され、その積算結果に基づいて相違部分があるか
否かが判定される。これにより、絵柄部における汚れ等
の濃度の違いによる欠陥が確実に検出される。

【００１８】検査ウィンドウが非網点領域にある場合に
は、当該検査ウィンドウ内の被検査画像データおよび参
照画像データの対応する画素について差分の絶対値が積
算され、その積算結果に基づいて相違部分があるか否か
が判定される。これにより、線画部におけるパターンの
相違が検出され、ダブリ欠陥の検出漏れも生じない。

【００１９】したがって、欠陥の種類によることなく被
検査画像と参照画像との相違部分を確実に検出すること
が可能となる。 （２）第２の発明 第２の発明に係る印刷物検査装置は、第１の発明に係る
印刷物検査装置の構成において、判定手段が、被検査画
像データおよび参照画像データを検査ウィンドウよりも
大きな寸法を有する複数の検査ブロックに区分し、各検
査ブロック内で検査ウィンドウを順次設定して相違部分
の有無を判定し、各検査ブロック内に少なくとも１つの
相違部分があるときに当該検査ブロックに対応する被検
査画像の領域が相違部分であると判定するものである。

【００２０】第２の発明に係る印刷物検査装置において
は、被検査画像データと参照画像データの相違部分の有
無が検査ウィンドウよりも大きな検査ブロックの単位で
判定されるので、検査者が被検査画像の欠陥の有無およ
びその位置を容易に認識することができる。

【００２１】（３）第３の発明 第３の発明に係る印刷物検査装置は、第２の発明に係る
印刷物検査装置の構成において、判定手段が、参照画像
データにおいて被検査画像データの検査ブロックと位置
的に対応する領域を中心として２次元的に所定画素数だ
け周辺に拡張された範囲内で２次元的に１画素ずつずれ
た複数の検査ブロックを順次設定し、被検査画像データ
の検査ブロックと参照画像データに設定された複数の検
査ブロックとの間でそれぞれ相違部分の有無を判定し、
被検査画像データの検査ブロックと参照画像データに設
定された複数の検査ブロックの少なくとも１つとの間で
相違部分がないときに当該検査ブロックに対応する被検
査画像の領域が相違部分でないと判定し、被検査画像デ
ータの検査ブロックと参照画像データに設定された複数
の検査ブロックの全てとの間で相違部分があるときに当
該検査ブロックに対応する被検査画像の領域が相違部分
であると判定するものである。

【００２２】第３の発明に係る印刷物検査装置において
は、参照画像データにおいて被検査画像データの検査ブ
ロックと位置的に対応する領域に対して拡張された範囲
内で検査ブロックがずらされつつ相違部分の有無が判定
されるので、被検査画像および参照画像の位置合わせ精
度が高くない場合または被検査画像に局所的な歪みがあ
る場合でも、被検査画像と参照画像との相違部分を高い
精度で検出することができる。

【００２３】（４）第４の発明 第４の発明に係る印刷物検査装置は、第１〜第３のいず
れかの発明に係る印刷物検査装置の構成において、参照
画像データに基づいて参照画像のパターンのエッジ部分
を検出するエッジ検出手段をさらに備え、判定手段が、
エッジ検出手段により検出されたエッジ部分に対応する
参照画像データの領域において符号付きの差分値または
差分の絶対値を積算しないものである。

【００２４】第４の発明に係る印刷物検査装置において
は、参照画像のパターンのエッジ部分に対応する領域で
符号付きの差分値または差分の絶対値の積算が行われな
いので、量子化誤差によるエッジ部分での誤検出が防止
される。

【００２５】（５）第５の発明 第５の発明に係る印刷物検査方法は、印刷物の被検査画
像に対応する被検査画像データを参照画像に対応する参
照画像データと比較して相違部分を検出する印刷物検査
方法において、参照画像データの各領域が網点領域であ
るか非網点領域であるかを識別し、被検査画像データお
よび参照画像データの対応する領域に所定画素数の寸法
を有する検査ウィンドウを所定画素数ずつずらせながら
順次設定し、設定された検査ウィンドウが網点領域にあ
る場合に、当該検査ウィンドウ内の被検査画像データの
各画素の値と参照画像データの対応する画素の値との符
号付きの差分値を順次算出し、当該検査ウィンドウ内で
符号付きの差分値を積算し、積算結果に基づいて当該検
査ウィンドウに対応する被検査画像の領域に相違部分が
あるか否かを判定し、設定された検査ウィンドウが非網
点領域にある場合に、当該検査ウィンドウ内の被検査画
像データの各画素の値と参照画像データの対応する画素
の値との差分の絶対値を順次算出し、当該検査ウィンド
ウ内で差分の絶対値を積算し、積算結果に基づいて当該
検査ウィンドウに対応する被検査画像の領域に相違部分
があるか否かを判定するものである。

【００２６】第５の発明に係る印刷物検査方法において
は、参照画像データの各領域が網点領域に相当するか非
網点領域に相当するかが識別される。被検査画像の検査
時には、被検査画像データおよび参照画像データの対応
する領域に検査ウィンドウが順次設定される。

【００２７】検査ウィンドウが網点領域にある場合に
は、当該検査ウィンドウ内の被検査画像データおよび参
照画像データの対応する画素について符号付きの差分値
が積算され、その積算結果に基づいて相違部分があるか
否かが判定される。これにより、絵柄部における汚れ等
の濃度の違いによる欠陥が確実に検出される。

【００２８】検査ウィンドウが非網点領域にある場合に
は、当該検査ウィンドウ内の被検査画像データおよび参
照画像データの対応する画素について差分の絶対値が積
算され、その積算結果に基づいて相違部分があるか否か
が判定される。これにより、線画部におけるパターンの
相違が検出され、ダブリ欠陥の検出漏れも生じない。

【００２９】したがって、欠陥の種類によることなく被
検査画像と参照画像との相違部分を確実に検出すること
が可能となる。 （６）第６の発明 第６の発明に係る印刷物検査方法は、第５の発明に係る
印刷物検査方法において、被検査画像データおよび参照
画像データを検査ウィンドウよりも大きな寸法を有する
複数の検査ブロックに区分し、各検査ブロック内で検査
ウィンドウを順次設定して相違部分の有無を判定し、各
検査ブロック内に少なくとも１つの相違部分があるとき
に当該検査ブロックに対応する被検査画像の領域が相違
部分であると判定するものである。

【００３０】第６の発明に係る印刷物検査方法において
は、被検査画像データと参照画像データの相違部分の有
無が検査ウィンドウよりも大きな検査ブロックの単位で
判定されるので、検査者が被検査画像の欠陥の有無およ
びその位置を容易に認識することができる。

【００３１】（７）第７の発明 第７の発明に係る印刷物検査方法は、第６の発明に係る
印刷物検査方法において、参照画像データにおいて被検
査画像データの検査ブロックと位置的に対応する領域を
中心として２次元的に所定画素数だけ周辺に拡張された
範囲内で２次元的に１画素ずつずれた複数の検査ブロッ
クを順次設定し、検査画像データの検査ブロックと参照
画像データに設定された複数の検査ブロックとの間でそ
れぞれ相違部分の有無を判定し、被検査画像データの検
査ブロックと参照画像データに設定された複数の検査ブ
ロックの少なくとも１つとの間で相違部分がないときに
当該検査ブロックに対応する被検査画像の領域が相違部
分でないと判定し、被検査画像データの検査ブロックと
参照画像データに設定された複数の検査ブロックの全て
との間で相違部分があるときに当該検査ブロックに対応
する被検査画像の領域が相違部分であると判定するもの
である。

【００３２】第７の発明に係る印刷物検査方法において
は、参照画像データにおいて被検査画像データの検査ブ
ロックと位置的に対応する領域に対して拡張された範囲
内で検査ブロックがずらされつつ相違部分の有無が判定
されるので、被検査画像および参照画像の位置合わせ精
度が高くない場合または被検査画像に局所的な歪みがあ
る場合でも、被検査画像と参照画像との相違部分を高い
精度で検出することができる。

【００３３】（８）第８の発明 第８の発明に係る印刷物検査方法は、第５〜第７のいず
れかの発明に係る印刷物検査方法において、参照画像デ
ータに基づいて参照画像のパターンのエッジ部分を検出
し、検出されたエッジ部分に対応する参照画像データの
領域において符号付きの差分値または差分の絶対値を積
算しないものである。

【００３４】第８の発明に係る印刷物検査方法において
は、参照画像のパターンのエッジ部分に対応する領域で
符号付きの差分値または差分の絶対値の積算が行われな
いので、量子化誤差によるエッジ部分での誤検出が防止
される。

【００３５】

【発明の実施の形態】図１は本発明の第１の実施例にお
ける印刷物検査装置の構成を示すブロック図である。

【００３６】図１の印刷物検査装置は、カラーＣＣＤ
（電荷結合素子）カメラ１、アナログ・デジタル変換器
（以下、Ａ／Ｄ変換器と呼ぶ）２、スイッチ３ａ，３
ｂ，３ｃ、マスタメモリ部４、領域判定部５、比較判定
部６、結果合成部７および出力部８を含む。

【００３７】マスタメモリ部４は、Ｒ画像（赤色画
像）、Ｇ画像（緑色画像）およびＢ画像（青色画像）に
それぞれ対応するＲ画像用メモリ部４ａ、Ｇ画像用メモ
リ部４ｂおよびＢ画像用メモリ部４ｃを含む。同様に、
領域判定部５は、Ｒ画像用領域判定部５ａ、Ｇ画像用領
域判定部５ｂおよびＢ画像用領域判定部５ｃを含み、比
較判定部６は、Ｒ画像用比較判定部６ａ、Ｇ画像用比較
判定部６ｂおよびＢ画像用比較判定部６ｃを含む。

【００３８】マスタメモリ部４、領域判定部５、比較判
定部６および結果合成部７はハードウエアにより構成さ
れる。出力部８は、モニタまたはプリンタからなる。本
実施例では、マスタメモリ部４が記憶手段を構成し、領
域判定部５が識別手段を構成し、比較判定部６が設定手
段および判定手段を構成する。

【００３９】カラーＣＣＤカメラ１により撮像された印
刷物の参照パターン（参照画像）および被検査パターン
（被検査画像）は映像信号としてＡ／Ｄ変換器２に与え
られる。Ａ／Ｄ変換器２は、参照パターンの映像信号ま
たは被検査パターンの映像信号をアナログ・デジタル変
換し、多値のＲ画像データ１００ａ、Ｇ画像データ１０
０ｂおよびＢ画像データ１００ｃを出力する。

【００４０】以下、参照パターンに対応するＲ画像デー
タ、Ｇ画像データおよびＢ画像データを参照画像データ
と総称する。また、被検査パターンに対応するＲ画像デ
ータ、Ｇ画像データおよびＢ画像データを被検査画像デ
ータと総称する。

【００４１】参照パターンの入力時には、Ｒ画像データ
１００ａ、Ｇ画像データ１００ｂおよびＢ画像データ１
００ｃがスイッチ３ａ，３ｂ，３ｃを介してマスタメモ
リ部４のＲ画像用マスタメモリ部４ａ、Ｇ画像用マスタ
メモリ部４ｂおよびＢ画像用マスタメモリ部４ｃにそれ
ぞれ入力される。

【００４２】マスタメモリ部４に記憶される各参照画像
データは、図２（ａ）に示すように、ｍ画素×ｎ画素の
サイズを有する複数の検査ブロックＢＫに区分される。
ここで、ｍおよびｎは任意の整数であり、検査ブロック
ＢＫのサイズは５ｍｍ角程度であり、例えば４０画素×
４０画素からなる。

【００４３】マスタメモリ部４に記憶されたＲ画像デー
タ、Ｇ画像データおよびＢ画像データは領域判定部５の
Ｒ画像用領域判定部５ａ、Ｇ画像用領域判定部５ｃおよ
びＢ画像用領域判定部５ｃにそれぞれ与えられるととも
に、比較判定部６のＲ画像用比較判定部６ａ、Ｇ画像用
比較判定部６ｂおよびＢ画像用比較判定部６ｃにそれぞ
れ与えられる。

【００４４】領域判定部５は、図２（ａ）に示すよう
に、各参照画像データの各検査ブロックＢＫ内でｋ画素
×ｋ画素のサイズを有する検査ウィンドウＷＮを１画素
ずつ２次元的にずらせながら順次設定し、検査ウィンド
ウＷＮ単位で画素値の極点（ピーク）を検出することに
より、当該検査ブロックＢＫが網点領域であるか非網点
領域（べた領域）であるかを判定する。なお、ｋは任意
の整数であり、ｋ＜ｍ，ｋ＜ｎである。本実施例では、
図２（ｂ）に示すように、検査ウィンドウＷＮは３画素
×３画素のサイズを有するものとする。

【００４５】印刷物の文字部（線画部）は非網点領域
（べた領域）であり、絵柄部は主として網点領域であ
る。網点領域と非網点領域の判別は、例えば特開平２−
１１２０７７号公報等に開示されている公知の網点領域
分離方法を用いて行う。各参照画像データにおける検査
ブロックＢＫごとの領域判定結果は領域判定信号として
比較判定部６に与えられる。

【００４６】被検査パターンの入力時（パターン検査
時）には、Ａ／Ｄ変換器２から出力されるＲ画像データ
１００ａ、Ｇ画像データ１００ｂおよびＢ画像データ１
００ｃがスイッチ３ａ，３ｂ，３ｃを介して比較判定部
６のＲ画像用比較判定部６ａ、Ｇ画像用比較判定部６ｂ
およびＢ画像用比較判定部６ｃにそれぞれ入力される。

【００４７】被検査パターンに対応する各被検査画像デ
ータは、図２に示した参照画像データと同様に、複数の
検査ブロックＢＫに区分される。比較判定部６は、領域
判定部５から与えられる領域判定信号に基づいてマスタ
メモリ部４から与えられる参照画像データとＡ／Ｄ変換
器２から与えられる被検査画像データとの比較判定処理
を以下の方法で行い、検査ブロックＢＫごとに相違部分
（欠陥）の有無を検出する。

【００４８】図３は比較判定部６の一部の構成を示すブ
ロック図である。図３において、符号付き差分加算器７
１および絶対値差分加算器７２には、参照画像データＲ
ＥＦおよび被検査画像データＯＢＪが検査ウィンドウ単
位で入力される。

【００４９】符号付き差分加算器７１は、検査ウィンド
ウ内の参照画像データＲＥＦの各画素の値と被検査画像
データＯＢＪの対応する画素の値との符号付き差分値を
順次算出し、当該検査ウィンドウ内で差分値を順次加算
（積算）する。符号付き差分加算器７１から出力される
加算結果は絶対値回路７３を介してセレクタ７４の入力
端子ａに与えられる。

【００５０】絶対値差分加算器７２は、検査ウィンドウ
内の参照画像データＲＥＦの各画素の値と被検査画像デ
ータの対応する画素の値との差分の絶対値を順次算出
し、当該検査ウィンドウ内で差分の絶対値を加算（積
算）する。絶対値差分加算器７２から出力される加算結
果はセレクタ７４の入力端子ｂに与えられる。

【００５１】このようにして、セレクタ７４の入力端子
ａには式（１）で示される符号付き差分加算値Ａ１が与
えられ、セレクタ７４の入力端子ｂには式（２）で示さ
れる絶対値差分加算値Ａ２が与えられる。

【００５２】 Ａ１＝ＡＢＳ｛ΣΣ（Ｒｅｆ_ij−Ｏｂｊ_ij）｝・・・（１） Ａ２＝ΣΣ｛ＡＢＳ（Ｒｅｆ_ij−Ｏｂｊ_ij）｝・・・（２） 式（１），（２）において、ＡＢＳは絶対値を意味し、
Ｒｅｆ_ijは検査ウィンドウ内の参照画像データの各画素
の値を示し、Ｏｂｊ_ijは検査ウィンドウ内の被検査画像
データの各画素の値を示す。ｉ，ｊは各画素の検査ウィ
ンドウ内での位置であり、本実施例では、ｉおよびｊは
１，２，３である。

【００５３】セレクタ７４は、領域判定部５から検査ブ
ロックごとに与えられる領域判定信号ＤＳに基づいて符
号付き差分加算値Ａ１または絶対値差分加算値Ａ２を選
択して出力する。すなわち、セレクタ７４は、領域判定
信号ＤＳが網点領域を示しているときには、符号付き差
分加算値Ａ１を当該検査ウィンドウの加算値Ａとして比
較器７５に出力し、領域判定信号ＢＳが非網点領域を示
しているときには、絶対値差分加算値Ａ２を当該検査ウ
ィンドウの加算値Ａとして比較器７５に出力する。

【００５４】比較器７５は、セレクタ７４から出力され
る加算値Ａを予め定められた判定基準値ＳＴと比較し、
その比較結果を判定信号Ｂとして出力する。加算値Ａが
判定基準値ＳＴよりも小さいときには、判定信号Ｂは
「欠陥なし」を示し、加算値Ａが判定基準値ＳＴ以上の
ときには、判定信号Ｂは「欠陥有り」を示す。

【００５５】上記の比較判定処理を各検査ブロック内で
２次元的に１画素ずつ検査ウィンドウをずらせながら実
行する。各検査ブロックにおいて少なくとも１つの検査
ウィンドウが「欠陥有り」と判定された場合には、当該
検査ブロックは相違部分であると判定される。このよう
な比較判定処理をＲ画像データ、Ｇ画像データおよびＢ
画像データについてそれぞれ実行する。

【００５６】結果合成部７は、Ｒ画像データ、Ｇ画像デ
ータおよびＢ画像データの対応する各検査ブロックの判
定信号の論理和を演算し、その演算結果を各検査ブロッ
クの判定結果として出力する。出力部８は、結果合成部
７から出力される判定結果を表示または印字する。

【００５７】本実施例の印刷物検査装置では、比較判定
部６による比較判定処理の際に、印刷物の位置精度や被
検査パターンの印刷位置のずれによる被検査画像データ
と参照画像データとの位置ずれの影響をなくすために、
特公平６−２１７６９号公報に開示されている揺すらせ
比較法を用いる。

【００５８】図４に示すように、参照画像データにおい
て被検査画像データの１つの検査ブロックＭ０に対応す
る検査ブロックを中心として２次元的に所定画素数だけ
周囲に拡張された範囲を設定する。この拡張された範囲
を「揺すらせ範囲」と呼び、図４では検査ブロックＭ０
から上下左右に３画素ずつ広げた範囲を揺すらせ範囲と
している。

【００５９】比較判定部６は、この揺すらせ範囲内で２
次元的に１画素ずつ順次ずれた複数の検査ブロックＭ１
１〜Ｍ７７を設定する。被検査画像データに設定された
検査ブロックＭ０と参照画像データに設定された複数の
検査ブロックＭ１１〜Ｍ７７との間でそれぞれ上記の比
較判定処理を行う。

【００６０】被検査画像データの検査ブロックＭ０と参
照画像データに設定された複数の検査ブロックＭ１１〜
Ｍ７７の少なくとも１つとの間で欠陥が検出されない場
合には、当該検査ブロックＭ０に対応する被検査パター
ンの領域に欠陥がないと判定する。被検査画像データの
検査ブロックＭ０と参照画像データに設定された複数の
検査ブロックＭ１１〜Ｍ７７の全てとの間で欠陥が検出
された場合には、当該検査ブロックＭ０に対応する被検
査パターンの領域に欠陥があると判定する。

【００６１】本実施例の印刷物検査装置においては、絵
柄部のような網点領域では式（１）で示される符号付き
差分加算が実行されるので、印刷物の汚れ等の濃度の違
いによる欠陥についても確実に検出することが可能とな
る。また、文字部（線画部）のような非網点領域では式
（２）で示される絶対値差分加算が実行されるので、図
１４に示したようなダブリ欠陥についても確実に検出す
ることが可能となる。

【００６２】図５は、参照パターンと被検査パターンと
の間に相違部分がなく、かつ参照パターンの網点の位置
と被検査パターンの網点の位置とが僅かにずれている状
態を示している。図５に示すように、通常、カラーＣＣ
Ｄカメラ１の分解能は、印刷物の網点の分解能よりも低
い。

【００６３】本実施例の印刷物検査装置では、網点領域
では、式（１）で示される符号付き差分加算が実行され
るので、欠陥のない領域では差分値が相殺される。例え
ば、撮像位置Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ６，Ｒ７では、参照
パターンの画素値と被検査パターンの画素値との差分Ｄ
１，Ｄ２，Ｄ３，Ｄ６，Ｄ７が正となり、撮像位置Ｒ
４，Ｒ５，Ｒ８では、参照パターンの画素値と被検査パ
ターンの画素値との差分Ｄ４，Ｄ５，Ｄ８が負となる。
そのため、正の差分Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３，Ｄ６，Ｄ７と負
の差分Ｄ４，Ｄ５，Ｄ８とが互いに相殺され、誤検出が
生じない。

【００６４】図６は本発明の第２の実施例における印刷
物検査装置の構成を示すブロック図である。図６の印刷
物検査装置が図１の印刷物検査装置と異なるのは、エッ
ジ抽出部９がさらに設けられている点である。エッジ抽
出部９は、Ｒ画像用エッジ抽出部９ａ、Ｇ画像用エッジ
抽出部９ｂおよびＢ画像用エッジ抽出部９ｃを含む。

【００６５】参照パターンの入力時には、エッジ抽出部
９が、参照画像データに基づいて参照パターンのエッジ
部分を抽出し、このエッジ部分をマスクパターンとして
比較判定部６に与える。例えば、図７に示すように、参
照パターンのエッジ部分を抽出してマスクパターンを形
成する。

【００６６】比較判定部６は、被検査パターンの入力時
（パターンの検査時）に、マスクパターンに相当する参
照画像データおよび被検査画像データの領域を不感帯領
域として差分の加算を実行しない。

【００６７】参照パターンおよび被検査パターンのエッ
ジ部分では、量子化誤差により参照画像データの画素値
と被検査画像データの画素値とのレベル差が判定基準値
よりも大きくなって誤検出の原因となることがある。本
実施例の印刷物検査装置では、参照パターンのエッジ部
分に相当する参照画像データおよび被検査画像データの
領域で差分の加算が実行されないので、欠陥の誤検出が
防止される。

【００６８】本実施例の印刷物検査装置においても、図
１の印刷物検査装置と同様に、比較判定部６における比
較判定処理の際に揺すらせ比較法が用いられるので、マ
スクパターンの範囲は必要最小限の大きさで十分であ
り、従来のパターンマッチング検査方法のように拡大処
理を必要としない。そのため、被検査パターンのエッジ
近辺での欠陥についても確実に検出することができる。

【００６９】図８は本発明の第３の実施例における印刷
物検査装置の構成を示すブロック図である。図８の印刷
物検査装置においては、検査部２０の主要部がソフトウ
エアにより構成される。

【００７０】カラーＣＣＤカメラ１１から出力される映
像信号はＡ／Ｄ変換器１２に与えられる。Ａ／Ｄ変換器
１２は、映像信号をアナログ・デジタル変換し、Ｒ画像
データＧ画像データおよびＢ画像データとして一時収納
用バッファメモリ１３に入力する。この一時収納用バッ
ファメモリ１３は、カラーＣＣＤカメラ１１による参照
パターンまたは被検査ハターンの入力とソフトウエアの
処理とを時間軸上で整合させるために設けられている。

【００７１】コンピュータシステム１４は、パーソナル
コンピュータまたはワークステーションからなる。Ａ／
Ｄ変換器１２および一時収納用バッファメモリ１３は、
このコンピュータシステム１４の拡張ボード上に構成さ
れる。コンピュータシステム１４は、図９、図１０およ
び図１１に示す比較判定処理を実行し、判定結果をモニ
タ１５およびプリンタ１６に出力する。

【００７２】次に、図８のコンピュータシステム１４の
動作の一例を図９、図１０および図１１のフローチャー
トを参照しながら説明する。まず、検査ウィンドウ単位
で一時収納用バッファメモリ１３からＲＧＢ各色の画像
データを取り込む（図９のステップＳ１）。次に、取り
込まれた画像データの種類を判別する（ステップＳ
２）。

【００７３】画像データが参照画像データである場合に
は、その参照画像データをメモリに記憶する（図１１の
ステップＳ３）。そして、検査ウィンドウ単位での極点
（ピク値）の検出を行う（ステップＳ４）。ステップＳ
１〜Ｓ４の処理を検査ブロック内で検査ウィンドウを１
画素ずつずらせながら行う。

【００７４】検査ブロック内で最終の検査ウィンドウの
処理が終了すると（ステップＳ５）、検査ウィンドウ単
位で検出された極点に基づいて当該検査ブロックの領域
判定を行う（ステップＳ６）。すなわち、当該検査ブロ
ックが網点領域であるか非網点領域であるかを判定す
る。当該検査ブロックが最終の検査ブロックでない場合
には（ステップＳ７）、次の検査ブロックの処理に移り
（ステップＳ８）、ステップＳ１〜Ｓ６の領域判定処理
を参照画像データの全ての検査ブロックについて行う。

【００７５】当該検査ブロックが最終の検査ブロックで
ある場合には（ステップＳ７）、参照画像データの領域
判定処理を終了する。これにより、参照画像データの検
査ブロックごとに網点領域であるか非網点領域であるか
を示す領域マップが作成され、メモリに記憶される。

【００７６】図９のステップＳ２において画像データが
被検査画像データである場合には、対応する参照画像デ
ータおよび領域マップをメモリから読み出す（ステップ
Ｓ８）。そして、領域マップに基づいて当該検査ブロッ
クが非網点領域であるか否かを判別する（ステップＳ
９）。

【００７７】当該検査ブロックが網点領域にある場合に
は、検査ウィンドウ内で参照画像データの各画素の値と
被検査画像データの対応する画素の値との符号付き差分
値を順次加算する（ステップＳ１０）。そして、加算値
の絶対値が判定基準値よりも小さいか否かを判定する
（ステップＳ１１）。加算値の絶対値が判定基準値より
も小さい場合には、ステップＳ１５に進む。加算値の絶
対値が判定基準値以上の場合には、欠陥フラグをセット
し（ステップＳ１２）、ステップＳ１５に進む。

【００７８】当該検査ブロックが非網点領域にある場合
には、検査ウィンドウ内で参照画像データの各画素の値
と非検査画像データの対応する画素の値との差分の絶対
値を順次加算する（ステップＳ１３）。そして、加算値
が判定基準値よりも小さいか否かを判定する（ステップ
Ｓ１４）。加算値が判定基準値よりも小さい場合には、
ステップＳ１５に進む。加算値が判定基準値以上の場合
には、欠陥フラグをセットし（ステップＳ１２）、ステ
ップＳ１５に進む。

【００７９】ステップＳ１５では、検査ブロック内で当
該検査ウィンドウが最終の検査ウィンドウであるかどう
かを判別する（ステップＳ１５）。当該検査ウィンドウ
が最終の検査ウィンドウでない場合には、検査ブロック
内で検査ウィンドウを１画素ずつずらせながらステップ
Ｓ１，Ｓ２，Ｓ８〜Ｓ１４の比較判定処理を繰り返す。

【００８０】検査ブロック内で最終の検査ウィンドウの
比較判定処理が終了すると、当該検査ブロック内に欠陥
フラグがあるかどうかを判定する（図１０のステップＳ
１６）。当該検査ブロック内に欠陥フラグがある場合に
は、当該検査ブロックに欠陥があると判定する（ステッ
プＳ１７）。当該検査ブロック内に欠陥フラグがない場
合には、当該検査ブロックには欠陥がないと判定する
（ステップＳ１８）。

【００８１】当該検査ブロックが最終の検査ブロックで
ない場合には（ステップＳ１９）、次の検査ブロックの
処理に移り（ステップＳ２０）、ステップＳ１，Ｓ２，
Ｓ８〜Ｓ１８の比較判定処理を全ての検査ブロックにつ
いて行う。

【００８２】当該検査ブロックが最終の検査ブロックで
ある場合には（ステップＳ１９）、欠陥を有する検査ブ
ロックの位置をモニタ１５またはプリンタ１６に表示す
る（ステップＳ２１）。

【００８３】なお、本実施例においても、第１および第
２の実施例と同様に、ステップＳ１，Ｓ２，Ｓ８〜Ｓ１
８の比較判定処理の際に揺すらせ比較法を用いることが
好ましい。これにより、印刷物の位置精度や被検査パタ
ーンの印刷位置のずれによる被検査画像データと参照画
像データとの位置ずれの影響が除去される。

【００８４】また、第２の実施例と同様に、参照パター
ンの入力時にエッジ部分の抽出を行い、そのエッジ部分
からなるマスクパターンを形成し、被検査パターンの入
力時（パターン検査時）にマスクパターンに対応する参
照画像データおよび被検査画像データの領域を不感帯領
域として差分を加算しないことが好ましい。これによ
り、パターンのエッジ部分での誤検出が防止される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例における印刷物検査装置
の構成を示すブロック図である。

【図２】画像データの検査ブロックおよび検査ウィンド
ウを示す図である。

【図３】図１の比較判定部の一部の構成を示すブロック
図である。

【図４】揺すらせ比較法を示す概念図である。

【図５】網点領域における参照パターンおよび被検査パ
ターンの画素値の差分の相殺を説明するための図であ
る。

【図６】本発明の第２の実施例における印刷物検査装置
の構成を示すブロック図である。

【図７】参照パターンのエッジ部分の抽出によるマスク
パターンの形成を示す図である。

【図８】本発明の第３の実施例における印刷物検査装置
の構成を示すブロック図である。

【図９】図８の印刷物検査装置におけるコンピュータシ
ステムの動作を示すフローチャートである。

【図１０】図８の印刷物検査装置におけるコンピュータ
システムの動作を示すフローチャートである。

【図１１】図８の印刷物検査装置におけるコンピュータ
システムの動作を示すフローチャートである。

【図１２】従来のパターンマッチング検査方法の一例を
示す図である。

【図１３】従来のパターンマッチング検査方法の他の例
を示す図である。

【図１４】ダブリ欠陥および従来の濃度検出方法におけ
る映像信号のレベルを示す図である。

【符号の説明】

１，１１ カラーＣＣＤカメラ ２，１２ Ａ／Ｄ変換器 ３ａ，３ｂ，３ｃ スイッチ ４ マスタメモリ部 ５ 領域判定部 ６ 比較判定部 ７ 結果合成部 ８ 出力部 １３ 一時収納用バッファメモリ １４ コンピュータシステム １５ モニタ １６ プリンタ ２０ 検査部 ＢＫ 検査ブロック ＷＮ 検査ウィンドウ

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 印刷物の被検査画像に対応する被検査画
   像データを参照画像に対応する参照画像データと比較し
   て相違部分を検出する印刷物検査装置であって、 前記参照画像データを記憶する記憶手段と、 前記記憶手段に記憶された前記参照画像データの各領域
   が網点領域に相当するか非網点領域に相当するかを識別
   する識別手段と、 前記被検査画像データおよび前記参照画像データの対応
   する領域に所定画素数の寸法を有する検査ウィンドウを
   所定画素ずつずらせながら順次設定する設定手段と、 前記設定手段により設定された検査ウィンドウが前記網
   点領域にある場合に、当該検査ウィンドウ内の前記被検
   査画像データの各画素の値と前記参照画像データの対応
   する画素の値との符号付きの差分値を順次算出し、当該
   検査ウィンドウ内で前記符号付きの差分値を積算し、積
   算結果に基づいて当該検査ウィンドウに対応する前記被
   検査画像の領域に相違部分があるか否かを判定し、前記
   設定手段により設定された検査ウィンドウが前記非網点
   領域にある場合に、当該検査ウィンドウ内の前記被検査
   画像データの各画素の値と前記参照画像データの対応す
   る画素の値との差分の絶対値を順次算出し、当該検査ウ
   ィンドウ内で前記差分の絶対値を積算し、積算結果に基
   づいて当該検査ウィンドウに対応する前記被検査画像の
   領域に相違部分があるか否かを判定する判定手段とを備
   えたことを特徴とする印刷物検査装置。
2. 【請求項２】 前記判定手段は、前記被検査画像データ
   および前記参照画像データを前記検査ウィンドウよりも
   大きな寸法を有する複数の検査ブロックに区分し、各検
   査ブロック内で前記検査ウィンドウを順次設定して相違
   部分の有無を判定し、各検査ブロック内に少なくとも１
   つの相違部分があるときに当該検査ブロックに対応する
   前記被検査画像の領域が相違部分であると判定すること
   を特徴とする請求項１記載の印刷物検査装置。
3. 【請求項３】 前記判定手段は、前記参照画像データに
   おいて前記被検査画像データの検査ブロックと位置的に
   対応する領域を中心として２次元的に所定画素数だけ周
   辺に拡張された範囲内で２次元的に１画素ずつずれた複
   数の検査ブロックを順次設定し、前記被検査画像データ
   の検査ブロックと前記参照画像データに設定された前記
   複数の検査ブロックとの間でそれぞれ相違部分の有無を
   判定し、前記被検査画像データの検査ブロックと前記参
   照画像データに設定された前記複数の検査ブロックの少
   なくとも１つとの間で相違部分がないときに当該検査ブ
   ロックに対応する前記被検査画像の領域が相違部分でな
   いと判定し、前記被検査画像データの検査ブロックと前
   記参照画像データに設定された前記複数の検査ブロック
   の全てとの間で相違部分があるときに当該検査ブロック
   に対応する前記被検査画像の領域が相違部分であると判
   定することを特徴とする請求項２記載の印刷物検査装
   置。
4. 【請求項４】 前記参照画像データに基づいて前記参照
   画像のパターンのエッジ部分を検出するエッジ検出手段
   をさらに備え、 前記判定手段は、前記エッジ検出手段により検出された
   エッジ部分に対応する前記参照画像データの領域におい
   て前記符号付きの差分値または前記差分の絶対値を積算
   しないことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載
   の印刷物検査装置。
5. 【請求項５】 印刷物の被検査画像に対応する被検査画
   像データを参照画像に対応する参照画像データと比較し
   て相違部分を検出する印刷物検査方法において、 前記参照画像データの各領域が網点領域に相当するか非
   網点領域に相当するかを識別し、前記被検査画像データ
   および前記参照画像データの対応する領域に所定画素数
   の寸法を有する検査ウィンドウを所定画素数ずつずらせ
   ながら順次設定し、設定された検査ウィンドウが前記網
   点領域にある場合に、当該検査ウィンドウ内の前記被検
   査画像データの各画素の値と前記参照画像データの対応
   する画素の値との符号付きの差分値を順次算出し、当該
   検査ウィンドウ内で前記符号付きの差分値を積算し、積
   算結果に基づいて当該検査ウィンドウに対応する前記被
   検査画像の領域に相違部分があるか否かを判定し、設定
   された検査ウィンドウが前記非網点領域にある場合に、
   当該検査ウィンドウ内の前記被検査画像データの各画素
   の値と前記参照画像データの対応する画素の値との差分
   の絶対値を順次算出し、当該検査ウィンドウ内で前記差
   分の絶対値を積算し、積算結果に基づいて当該検査ウィ
   ンドウに対応する前記被検査画像の領域に相違部分があ
   るか否かを判定することを特徴とする印刷物検査方法。
6. 【請求項６】 前記被検査画像データおよび前記参照画
   像データを前記検査ウィンドウよりも大きな寸法を有す
   る複数の検査ブロックに区分し、各検査ブロック内で前
   記検査ウィンドウを順次設定して相違部分の有無を判定
   し、各検査ブロック内に少なくとも１つの相違部分があ
   るときに当該検査ブロックに対応する前記被検査画像の
   領域が相違部分であると判定することを特徴とする請求
   項５記載の印刷物検査方法。
7. 【請求項７】 前記参照画像データにおいて前記被検査
   画像データの検査ブロックと位置的に対応する領域を中
   心として２次元的に所定画素数だけ周辺に拡張された範
   囲内で２次元的に１画素ずつずれた複数の検査ブロック
   を順次設定し、前記被検査画像データの検査ブロックと
   前記参照画像データに設定された前記複数の検査ブロッ
   クとの間でそれぞれ相違部分の有無を判定し、前記被検
   査画像データの検査ブロックと前記参照画像データに設
   定された前記複数の検査ブロックの少なくとも１つとの
   間で相違部分がないときに当該検査ブロックに対応する
   前記被検査画像の領域が相違部分でないと判定し、前記
   被検査画像データの検査ブロックと前記参照画像データ
   に設定された前記複数の検査ブロックの全てとの間で相
   違部分があるときに当該検査ブロックに対応する前記被
   検査画像の領域が相違部分であると判定することを特徴
   とする請求項６記載の印刷物検査方法。
8. 【請求項８】 前記参照画像データに基づいて前記参照
   画像のパターンのエッジ部分を検出し、検出されたエッ
   ジ部分に対応する前記参照画像データの領域において前
   記符号付きの差分値または前記差分の絶対値を積算しな
   いことを特徴とする請求項５〜７のいずれかに記載の印
   刷物検査方法。