JPH1090322A - 可変抵抗器の摺動雑音測定装置 - Google Patents

可変抵抗器の摺動雑音測定装置

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Publication number
JPH1090322A
JPH1090322A JP24304296A JP24304296A JPH1090322A JP H1090322 A JPH1090322 A JP H1090322A JP 24304296 A JP24304296 A JP 24304296A JP 24304296 A JP24304296 A JP 24304296A JP H1090322 A JPH1090322 A JP H1090322A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
variable resistor
bcd
sliding noise
resistor
binary
Prior art date
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Pending
Application number
JP24304296A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Komada
賢一 駒田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH1090322A publication Critical patent/JPH1090322A/ja
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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 監視装置としてオシロスコープやX−Tレコ
ーダ等の一般に市販されている測定器が用いられている
が、それらは高価であるため、それらを用いた測定装置
全体が高価なものとなってしまう。 【解決手段】 可変抵抗器2の抵抗体と可動端子2bと
の間において発生する電圧を検出し、その電圧値をデジ
タル値に変換するA/D変換器3と、A/D変換器3に
おいて変換されたデジタル値をBCD信号に変換するバ
イナリ/BCD変換回路5と、バイナリ/BCD変換回
路5において変換されたBCD信号を表示する表示管7
a,7bとを設けることにより、高価な測定器を用いず
に容易に可変抵抗器の摺動雑音を測定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、可変抵抗器やポテ
ンションメータ等における摺動雑音を測定する装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】図2は、従来の、可変抵抗器の摺動雑音
測定装置の一構成例を示す図である。
【0003】本従来例は図2に示すように、電源を供給
するための直流定電流電源101と、可変抵抗102の
摺動雑音を検出するための監視装置103とから構成さ
れている。
【0004】上記のように構成された、可変抵抗器の摺
動雑音測定装置においては、直流定電流電源101から
可変抵抗器102に電源が供給され、その状態において
可変抵抗器102の可動端子102bを端子102aと
端子102cとの間を移動させ、そのときに可変抵抗器
2の抵抗体と可動端子102bとの間において発生する
電圧値から監視装置103において接触抵抗が求めら
れ、それにより摺動雑音が測定されている。
【0005】なお、監視装置103においては、迅速か
つ容易に測定を行うためにオシロスコープやX−Yレコ
ーダ等が用いられている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
ものにおいては、監視装置としてオシロスコープやX−
Tレコーダ等の一般に市販されている測定器が用いられ
ているが、それらは高価であるため、それらを用いた測
定装置全体が高価なものとなってしまうという問題点が
ある。
【0007】本発明は、上述したような従来の技術が有
する問題点に鑑みてなされたものであって、高価な測定
器を用いることなく、可変抵抗器の摺動雑音を測定する
ことができる、可変抵抗器の摺動雑音測定装置を提供す
ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、可変抵抗器の抵抗体と可動端子との間に発
生する摺動雑音を測定する、可変抵抗器の摺動雑音測定
装置であって、前記可変抵抗器に電流を供給するための
電源と、前記可変抵抗器の抵抗体と可動端子との間にお
いて検出された電圧値をデジタル値に変換して出力する
A/D変換器と、該A/D変換器から出力されたデジタ
ル値を保持する記憶回路と、該記憶回路に保持されてい
るデジタル値をBCD信号に変換して出力するバイナリ
ー/BCD変換回路と、該バイナリー/BCD変換回路
から出力されたBCD信号に基づいて、前記可変抵抗器
の抵抗体と可動端子との間における電圧値を表示する表
示管とを有することを特徴とする。
【0009】また、前記表示管は、LEDであることを
特徴とする。
【0010】(作用)上記のように構成された本発明に
おいては、可変抵抗器の抵抗体と可動端子との間におい
て発生する電圧が検出され、その電圧値がA/D変換器
においてデジタル値に変換され、さらに、BCD変換回
路においてBCD信号に変換されて、表示管において桁
別に表示されることにより、可変抵抗器の摺動雑音が測
定される。
【0011】このように、高価な測定器を用いることな
く、容易に可変抵抗器の摺動雑音が測定される。
【0012】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。
【0013】図1は、本発明の、可変抵抗器の摺動雑音
測定装置の実施の一形態を示す図である。
【0014】本形態は図1に示すように、可変抵抗器2
に電流を供給するための電源1と、可変抵抗器2の抵抗
体と可動端子2bとの間に発生する電圧値を検出し、検
出した電圧値(アナログ値)をバイナリーのデジタル値
に変換して出力するA/D変換器3と、A/D変換器3
から出力されたバイナリーのデジタル値を保持するため
の記憶回路4と、記憶回路4に保持されたデジタル値を
BCD信号に変換して出力するバイナリー/BCD変換
回路5と、バイナリー/BCD変換回路5から出力され
たBCD信号の上位4ビットから電圧値の上位桁を表示
するLED等の表示管7aと、バイナリー/BCD変換
回路5から出力されたBCD信号の下位4ビットから電
圧値の下位桁を表示するLED等の表示管7bと、表示
管7a,7bをそれぞれ駆動させるドライバー回路6
a,6bとから構成されている。
【0015】以下に、上記のように構成された、可変抵
抗器の摺動雑音測定装置の動作について説明する。
【0016】なお、本形態においては、可変抵抗器2の
全抵抗値を1kΩとする。通常、摺動雑音の規格は、全
抵抗値の3%以下であるため、本形態における摺動雑音
は30Ω以下となる。
【0017】電源1から可変抵抗器2に電流を供給し、
可変抵抗器2の可動端子2bを端子2aと端子2cとの
間を移動させると、可変抵抗器2の抵抗体と可動端子2
bとの間において接触抵抗が介在するために接触抵抗に
対応する摺動雑音となる電圧が発生する。この電圧は、
端子2cと電源1のマイナス端子との電位差に相当す
る。
【0018】ここで、電源1から可変抵抗器2に供給す
る電流を10mAとすると、上述したように摺動雑音が
30Ω以下であるため、可変抵抗器2の抵抗体と可動端
子2bとの間において約0.3Vの電圧が発生する。
【0019】すると、A/D変換器3において、可変抵
抗器2の抵抗体と可動端子2bとの間において発生した
電圧が8ビットのデジタル値に変換され、出力される。
【0020】A/D変換器3から出力された電圧値は、
記憶回路4において保持された後、バイナリー/BCD
変換回路5において、BCD信号に変換され、BCD信
号の上位4ビットがドライバー回路6aへ、BCD信号
の下位4ビットがドライバー回路6bへそれぞれ送り込
まれる。
【0021】その後、ドライバー回路6a,6bの制御
により、表示管7a,7bがそれぞれ駆動し、表示管7
aにおいて、バイナリー/BCD変換回路5から出力さ
れたBCD信号の上位4ビットに基づいて可変抵抗器2
の抵抗体と可動端子2bとの間において検出された電圧
値の上位桁“0”が表示され、表示管7aにおいて、バ
イナリー/BCD変換回路5から出力されたBCD信号
の下位4ビットに基づいて可変抵抗器2の抵抗体と可動
端子2bとの間において検出された電圧値の下位桁
“3”が表示される。
【0022】なお、検出された電圧値が3.0Vである
場合は、表示管7aに上位桁“3”が表示され、表示管
7bに下位桁“0”が表示される。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように本発明においては、
可変抵抗器の抵抗体と可動端子との間において発生する
電圧を検出し、その電圧値をデジタル値に変換するA/
D変換器と、A/D変換器において変換されたデジタル
値をBCD信号に変換するバイナリ/BCD変換回路
と、バイナリ/BCD変換回路において変換されたBC
D信号を表示する表示管とを設けたため、高価な測定器
を用いることなく、容易に可変抵抗器の摺動雑音を測定
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の、可変抵抗器の摺動雑音測定装置の実
施の一形態を示す図である。
【図2】従来の、可変抵抗器の摺動雑音測定装置の一構
成例を示す図である。
【符号の説明】
1 電源 2 可変抵抗器 2a,2c 端子 2b 可動端子 3 A/D変換器 4 記憶回路 5 バイナリー/BCD変換回路 6a,6b ドライバー回路 7a,7b 表示管

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 可変抵抗器の抵抗体と可動端子との間に
    発生する摺動雑音を測定する、可変抵抗器の摺動雑音測
    定装置であって、 前記可変抵抗器に電流を供給するための電源と、 前記可変抵抗器の抵抗体と可動端子との間において検出
    された電圧値をデジタル値に変換して出力するA/D変
    換器と、 該A/D変換器から出力されたデジタル値を保持する記
    憶回路と、 該記憶回路に保持されているデジタル値をBCD信号に
    変換して出力するバイナリー/BCD変換回路と、 該バイナリー/BCD変換回路から出力されたBCD信
    号に基づいて、前記可変抵抗器の抵抗体と可動端子との
    間における電圧値を表示する表示管とを有することを特
    徴とする、可変抵抗器の摺動雑音測定装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の、可変抵抗器の摺動雑
    音測定装置において、 前記表示管は、LEDであることを特徴とする、可変抵
    抗器の摺動雑音測定装置。
JP24304296A 1996-09-13 1996-09-13 可変抵抗器の摺動雑音測定装置 Pending JPH1090322A (ja)

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JP24304296A JPH1090322A (ja) 1996-09-13 1996-09-13 可変抵抗器の摺動雑音測定装置

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JPH1090322A true JPH1090322A (ja) 1998-04-10

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ID=17097974

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JP24304296A Pending JPH1090322A (ja) 1996-09-13 1996-09-13 可変抵抗器の摺動雑音測定装置

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JP (1) JPH1090322A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116324431A (zh) * 2020-10-27 2023-06-23 美国亚德诺半导体公司 无线完整性感测采集模块

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