JPH1090363A - スキューキャリブレーション装置 - Google Patents
スキューキャリブレーション装置Info
- Publication number
- JPH1090363A JPH1090363A JP8246671A JP24667196A JPH1090363A JP H1090363 A JPH1090363 A JP H1090363A JP 8246671 A JP8246671 A JP 8246671A JP 24667196 A JP24667196 A JP 24667196A JP H1090363 A JPH1090363 A JP H1090363A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- skew
- circuit
- calibration
- driver
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 スキューキャリブレーションの高速化。
【構成】 本発明のスキューキャリブレーション装置は
ドライバピンに対設されキャリブレーション対象信号の
位相を基準信号の位相に一致させるキャリブレーション
回路と、基準信号を各キャリブレーション回路に与える
をスキュードライバ回路27とを備えていることを特徴
とする。キャリブレーション回路は、ドライバ出力信号
伝送路に挿入されたディレイ手段21と、ドライバ出力
信号と基準信号との位相差を検出する位相差検出手段2
3と、検出位相差に応じてディレイ手段を調整するディ
レイ調整手段24〜26とを備える。 【効果】 新たに追加した一つのスキュードライバ回路
から全てのキャリブレーション回路に基準信号を与える
ので、キャリブレーションの高速化が図れる。
ドライバピンに対設されキャリブレーション対象信号の
位相を基準信号の位相に一致させるキャリブレーション
回路と、基準信号を各キャリブレーション回路に与える
をスキュードライバ回路27とを備えていることを特徴
とする。キャリブレーション回路は、ドライバ出力信号
伝送路に挿入されたディレイ手段21と、ドライバ出力
信号と基準信号との位相差を検出する位相差検出手段2
3と、検出位相差に応じてディレイ手段を調整するディ
レイ調整手段24〜26とを備える。 【効果】 新たに追加した一つのスキュードライバ回路
から全てのキャリブレーション回路に基準信号を与える
ので、キャリブレーションの高速化が図れる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本考案は、スキューキャリブ
レーション装置に関するものであって、特に半導体装置
の自動測定等に用いられるものである。
レーション装置に関するものであって、特に半導体装置
の自動測定等に用いられるものである。
【0002】
【従来の技術】従来のスキューキャリブレーションの回
路構成を図11に示す。半導体自動測定装置のドライバ
出力ピン数に応じてドライバコンパレータ回路が備えら
れている。スキューキャリブレーションとは、ドライバ
間、コンパレータ間のスキューを校正することである。
路構成を図11に示す。半導体自動測定装置のドライバ
出力ピン数に応じてドライバコンパレータ回路が備えら
れている。スキューキャリブレーションとは、ドライバ
間、コンパレータ間のスキューを校正することである。
【0003】従来のドライバ出力のスキューキャリブレ
ーションでは、図11のドライバ出力信号S1は、リレ
ーマトリクス回路8に入力され、ドライバ間スキューを
行うドライバピンを選択する。次いで、電圧変換器9に
おいて、選択されたドライバ出力信号と基準信号S2と
の位相差を電圧に変換し、A/D変換器で電圧値に変換
されCPU12で読取る。この動作を全てのドライバ回
路について行い、最も電圧値が大きいもの、つまり、最
大遅れのものを検出する。この最大遅れのドライバ出力
信号を基準ドライバ出力とし、その電圧値(最大電圧
値)を基準電圧とする。再び、リレーマトリクス回路8
で選択された信号により電圧値を測定する。この電圧値
を基準電圧値に近付けるようにディレイ回路1を変換さ
せていく。これを全てのドライバ出力について行う。
ーションでは、図11のドライバ出力信号S1は、リレ
ーマトリクス回路8に入力され、ドライバ間スキューを
行うドライバピンを選択する。次いで、電圧変換器9に
おいて、選択されたドライバ出力信号と基準信号S2と
の位相差を電圧に変換し、A/D変換器で電圧値に変換
されCPU12で読取る。この動作を全てのドライバ回
路について行い、最も電圧値が大きいもの、つまり、最
大遅れのものを検出する。この最大遅れのドライバ出力
信号を基準ドライバ出力とし、その電圧値(最大電圧
値)を基準電圧とする。再び、リレーマトリクス回路8
で選択された信号により電圧値を測定する。この電圧値
を基準電圧値に近付けるようにディレイ回路1を変換さ
せていく。これを全てのドライバ出力について行う。
【0004】コンパレータ出力のスキューキャリブレー
ションでは、ドライバ出力信号S1はリレーマトリクス
回路8に入力され、コンパレータ間スキューを行うコン
パレータピンを選択する。選択されたコンパレータ入力
信号をアナログコンパレータ回路6,7に入力し、アナ
ログコンパレータ回路6,7の出力信号のエッジとスト
ローブ信号のエッジが等しくなるようにディレイ回路
2,3,4を変化させ、PASS,FAIL判定を行いながら、
スキューキャリブレーションを行う。この動作を全ての
コンパレータ回路について行う。これらスキューキャリ
ブレーションはCPU12上のスキュープログラムによ
り行う。
ションでは、ドライバ出力信号S1はリレーマトリクス
回路8に入力され、コンパレータ間スキューを行うコン
パレータピンを選択する。選択されたコンパレータ入力
信号をアナログコンパレータ回路6,7に入力し、アナ
ログコンパレータ回路6,7の出力信号のエッジとスト
ローブ信号のエッジが等しくなるようにディレイ回路
2,3,4を変化させ、PASS,FAIL判定を行いながら、
スキューキャリブレーションを行う。この動作を全ての
コンパレータ回路について行う。これらスキューキャリ
ブレーションはCPU12上のスキュープログラムによ
り行う。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ドライバ間
スキュー、コンパレータ間スキューにおいて、リレーマ
トリクス回路8で1ピンずつリレーを切換え、CPU1
2からの制御によりディレイ回路値を変化させながら、
全てのピンについてスキューキャリブレーションを行っ
ていく。このため、ドライバ出力ピンの数に比例して、
キャリブレーション時間が増加する。将来、半導体自動
測定装置はドライバ出力が増加の傾向にあり、キャリブ
レーション時間の増大が懸念される。また、スキューキ
ャリブレーションのみ使用する装置(リレーマトリクス
回路8、電圧変換器9)が必要となるため、コストの増
加に繋がる。
スキュー、コンパレータ間スキューにおいて、リレーマ
トリクス回路8で1ピンずつリレーを切換え、CPU1
2からの制御によりディレイ回路値を変化させながら、
全てのピンについてスキューキャリブレーションを行っ
ていく。このため、ドライバ出力ピンの数に比例して、
キャリブレーション時間が増加する。将来、半導体自動
測定装置はドライバ出力が増加の傾向にあり、キャリブ
レーション時間の増大が懸念される。また、スキューキ
ャリブレーションのみ使用する装置(リレーマトリクス
回路8、電圧変換器9)が必要となるため、コストの増
加に繋がる。
【0006】アプリケーションボード(パフォーマンス
ボード)を作成する時のデジタル部のケーブル長はスキ
ューキャリブレーションで規定された長さで作成され
る。ところが、デジタル・アナログ混在LSIを半導体
自動測定装置で測定する場合、アプリケーションボード
のデジタル部のケーブルはLSIのアナログ部を精度良
く測定するためにケーブル長を変更したり、リレーを通
したりする。したがって、スキューキャリブレーション
時とLSIを測定する時では、ストローブオフセット
(テストヘッド内部でスキューキャリブレーションを行
うため、ドライバ回路からコンパレータ回路までの時間
の差を測定し、スキューキャリブレーションを行う際に
ストローブのタイミングに与える時間)にズレが生じ、
機能テストが正確に測定できなくなることがある。ま
た、そのズレを無くすためには、アプリケーションボー
ド上のケーブル長を変化させることがある。また、その
ずれをを無くすためには、アプリケーションボード上の
ケーブル長を変化させる毎にコンパレータ回路オフセッ
トを測定し、システムを変更しなければならなくなり、
作業効率が悪化する。
ボード)を作成する時のデジタル部のケーブル長はスキ
ューキャリブレーションで規定された長さで作成され
る。ところが、デジタル・アナログ混在LSIを半導体
自動測定装置で測定する場合、アプリケーションボード
のデジタル部のケーブルはLSIのアナログ部を精度良
く測定するためにケーブル長を変更したり、リレーを通
したりする。したがって、スキューキャリブレーション
時とLSIを測定する時では、ストローブオフセット
(テストヘッド内部でスキューキャリブレーションを行
うため、ドライバ回路からコンパレータ回路までの時間
の差を測定し、スキューキャリブレーションを行う際に
ストローブのタイミングに与える時間)にズレが生じ、
機能テストが正確に測定できなくなることがある。ま
た、そのズレを無くすためには、アプリケーションボー
ド上のケーブル長を変化させることがある。また、その
ずれをを無くすためには、アプリケーションボード上の
ケーブル長を変化させる毎にコンパレータ回路オフセッ
トを測定し、システムを変更しなければならなくなり、
作業効率が悪化する。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のスキューキャリ
ブレーション装置は、ドライバピンに対設され、キャリ
ブレーション対象信号の位相を基準信号の位相に一致さ
せるキャリブレーション回路と、前記基準信号を前記各
キャリブレーション回路に与えるスキュードライバ回路
とを備えたことを特徴とする。
ブレーション装置は、ドライバピンに対設され、キャリ
ブレーション対象信号の位相を基準信号の位相に一致さ
せるキャリブレーション回路と、前記基準信号を前記各
キャリブレーション回路に与えるスキュードライバ回路
とを備えたことを特徴とする。
【0008】キャリブレーション回路は、ドライバ出力
信号伝送路に挿入されたディレイ手段と、前記ドライバ
出力信号と基準信号との位相差を検出する位相差検出手
段と、該検出位相差に応じて前記ディレイ手段を調整す
るディレイ調整手段とを備えるものとして実現すること
ができる。
信号伝送路に挿入されたディレイ手段と、前記ドライバ
出力信号と基準信号との位相差を検出する位相差検出手
段と、該検出位相差に応じて前記ディレイ手段を調整す
るディレイ調整手段とを備えるものとして実現すること
ができる。
【0009】キャリブレーション対象信号はドライバ出
力信号やストローブ信号となる。前者はドライバスキュ
ーキャリブレーション時に、後者はコンパレータスキュ
ーキャリブレーション時にそれぞれ対象となる。
力信号やストローブ信号となる。前者はドライバスキュ
ーキャリブレーション時に、後者はコンパレータスキュ
ーキャリブレーション時にそれぞれ対象となる。
【0010】さらに、本発明のスキューキャリブレーシ
ョン装置は、第1の端子に入力された信号と第2の端子
に入力された信号との時間差を求める時間差測定回路
と、ドライバ出力信号を前記第1の端子に与える第1の
信号伝送路と、前記ドライバ出力信号を該第1の信号伝
送路からアプリケーションボード上の信号伝送路を経由
させて前記第2の端子に与える第2の信号伝送路とを備
えていることを特徴とする。
ョン装置は、第1の端子に入力された信号と第2の端子
に入力された信号との時間差を求める時間差測定回路
と、ドライバ出力信号を前記第1の端子に与える第1の
信号伝送路と、前記ドライバ出力信号を該第1の信号伝
送路からアプリケーションボード上の信号伝送路を経由
させて前記第2の端子に与える第2の信号伝送路とを備
えていることを特徴とする。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明によるドライバスキューキ
ャリブレーションの実施の形態を図1に示す。このドラ
イバスキューキャリブレーション装置はディレイ回路2
1、ドライバ回路22、位相差判定回路23、アップカ
ウンタ24、ダウンカウンタ25、D/A変換器26、
スキュードライバ回路27、リレー121,122から
構成される。信号S5はディレイ回路21を通してドラ
イバ回路22に入力され、ドライバ出力信号S51は位
相差判定回路23に入力される。ドライバスキューキャ
リブレーションを行う際、リレー121は閉じ、リレー
122は開く。信号S4はスキュードライバ回路27に
入力され、全てのドライバ回路スキュー回路に分配され
た信号S41は位相差判定回路23に入力される。ここ
で、S4,S5は同じタイミングの波形である。
ャリブレーションの実施の形態を図1に示す。このドラ
イバスキューキャリブレーション装置はディレイ回路2
1、ドライバ回路22、位相差判定回路23、アップカ
ウンタ24、ダウンカウンタ25、D/A変換器26、
スキュードライバ回路27、リレー121,122から
構成される。信号S5はディレイ回路21を通してドラ
イバ回路22に入力され、ドライバ出力信号S51は位
相差判定回路23に入力される。ドライバスキューキャ
リブレーションを行う際、リレー121は閉じ、リレー
122は開く。信号S4はスキュードライバ回路27に
入力され、全てのドライバ回路スキュー回路に分配され
た信号S41は位相差判定回路23に入力される。ここ
で、S4,S5は同じタイミングの波形である。
【0012】位相差判定回路23は、図2に示すよう
に、AND素子41,45,49、NOR素子43,5
3、NOT素子42,46、Dフリップフロップ47,
48、セット/リセットフリップフロップ(以下、RS
フリップフロップという。)49,50、ディレイ回路
44から構成される。位相差判定回路23に入力される
スキュードライバ信号S41はOR素子43、ディレイ
回路44、AND素子45によりパルス化されDフリッ
プフロップ47,48のクロックS41−1となる。ド
ライバ出力信号S51はDフリップフロップ47,48
のデータとなる。Dフリップフロップ48のデータはN
OT素子46により反転される。スキュードライバ出力
S41がドライバ出力S51より遅れていた場合、クロ
ックS41−1によるDフリップフロップ47から出力
された信号と、ドライバ出力信号S51とスキュードラ
イバ出力信号S41の反転したものとがAND素子50
を通りセット/リセットでパルス化され、ダウンカウン
タ25に入力される。スキュードライバ出力S41とド
ライバ出力S51が一致していた場合、AND素子4
1、RSフリップフロップ51,52の出力はローレベ
ルとなり、NOR素子42の出力S73からハイレベル
が出力される。全てのドライバスキューからのS73の
ハイレベル出力をCPU12で検出されるというドライ
バスキューキャリブレーションが終了する。
に、AND素子41,45,49、NOR素子43,5
3、NOT素子42,46、Dフリップフロップ47,
48、セット/リセットフリップフロップ(以下、RS
フリップフロップという。)49,50、ディレイ回路
44から構成される。位相差判定回路23に入力される
スキュードライバ信号S41はOR素子43、ディレイ
回路44、AND素子45によりパルス化されDフリッ
プフロップ47,48のクロックS41−1となる。ド
ライバ出力信号S51はDフリップフロップ47,48
のデータとなる。Dフリップフロップ48のデータはN
OT素子46により反転される。スキュードライバ出力
S41がドライバ出力S51より遅れていた場合、クロ
ックS41−1によるDフリップフロップ47から出力
された信号と、ドライバ出力信号S51とスキュードラ
イバ出力信号S41の反転したものとがAND素子50
を通りセット/リセットでパルス化され、ダウンカウン
タ25に入力される。スキュードライバ出力S41とド
ライバ出力S51が一致していた場合、AND素子4
1、RSフリップフロップ51,52の出力はローレベ
ルとなり、NOR素子42の出力S73からハイレベル
が出力される。全てのドライバスキューからのS73の
ハイレベル出力をCPU12で検出されるというドライ
バスキューキャリブレーションが終了する。
【0013】位相差判定回路出力S71はアップカウン
タ24でカウントアップされ、その出力をD/A変換器
26で変換し、ディレイ回路21のディレイ値をアップ
させ(遅らせ)、位相差判定回路23のクロックS41
−1でDフリップフロップ47からパルスデータ(ハイ
レベル)が出力されなくなるまでディレイ回路21を変
化させる。位相差判定回路出力S72はダウンカウンタ
25でカウントダウンされその出力をD/A変換器26
で変換し、ディレイ回路21のディレイ値をダウンさせ
(はやめ)、位相差判定回路23のクロックS41−1
でDフリップフロップ48からパルスデータ(ハイレベ
ル)が出力されなくなるまでディレイ回路21を変化さ
せる。
タ24でカウントアップされ、その出力をD/A変換器
26で変換し、ディレイ回路21のディレイ値をアップ
させ(遅らせ)、位相差判定回路23のクロックS41
−1でDフリップフロップ47からパルスデータ(ハイ
レベル)が出力されなくなるまでディレイ回路21を変
化させる。位相差判定回路出力S72はダウンカウンタ
25でカウントダウンされその出力をD/A変換器26
で変換し、ディレイ回路21のディレイ値をダウンさせ
(はやめ)、位相差判定回路23のクロックS41−1
でDフリップフロップ48からパルスデータ(ハイレベ
ル)が出力されなくなるまでディレイ回路21を変化さ
せる。
【0014】次に上述したキャリブレーション装置の動
作例を示す。図8はクロックS51がクロックS41よ
り遅れている場合について示すものである。このような
時間関係になっているため、Dフリップフロップ47の
出力は“L”となるため、RSフリップフロップ51の
出力Qは“L”のままでアップカウンタ24はカウント
動作しないことになる。また、Dフリップフロップ47
の出力は“H”となり、RSフリップフロップ51の出
力/Q(ここで、“/”は反転(否定)を意味するもの
である。)が“H”のため、AND素子41からのパル
スによりRSフリップフロップ52の出力S72として
パルス信号が出力される。その結果、ダウンカウンタ2
5がカウントダウンを行い、ディレイ回路21を小さく
する(進める)こととなる。
作例を示す。図8はクロックS51がクロックS41よ
り遅れている場合について示すものである。このような
時間関係になっているため、Dフリップフロップ47の
出力は“L”となるため、RSフリップフロップ51の
出力Qは“L”のままでアップカウンタ24はカウント
動作しないことになる。また、Dフリップフロップ47
の出力は“H”となり、RSフリップフロップ51の出
力/Q(ここで、“/”は反転(否定)を意味するもの
である。)が“H”のため、AND素子41からのパル
スによりRSフリップフロップ52の出力S72として
パルス信号が出力される。その結果、ダウンカウンタ2
5がカウントダウンを行い、ディレイ回路21を小さく
する(進める)こととなる。
【0015】図9は逆にクロックS51がクロックS4
1より進んでいる場合について示すものである。この時
間関係のため、Dフリップフロップ48の出力は“L”
となるため、RSフリップフロップ52の出力Qは
“L”のままでダウンカウンタ25はカウント動作しな
いことになる。また、Dフリップフロップ47の出力は
“H”となり、RSフリップフロップ51の出力/Qが
“H”のため、AND素子41からのパルスによりRS
フリップフロップ51の出力S71としてパルス信号が
出力される。その結果、アップカウンタ24がカウント
アップを行い、ディレイ回路21を大きくする(遅らせ
る)こととなる。
1より進んでいる場合について示すものである。この時
間関係のため、Dフリップフロップ48の出力は“L”
となるため、RSフリップフロップ52の出力Qは
“L”のままでダウンカウンタ25はカウント動作しな
いことになる。また、Dフリップフロップ47の出力は
“H”となり、RSフリップフロップ51の出力/Qが
“H”のため、AND素子41からのパルスによりRS
フリップフロップ51の出力S71としてパルス信号が
出力される。その結果、アップカウンタ24がカウント
アップを行い、ディレイ回路21を大きくする(遅らせ
る)こととなる。
【0016】クロックS51,S41が同期している場
合、スキューエンド信号としてNOR素子53から
“H”が出力される。
合、スキューエンド信号としてNOR素子53から
“H”が出力される。
【0017】本発明による内部コンパレータスキューキ
ャリブレーションの実施の形態を図5に示す。このコン
パレータスキューキャリブレーション装置はディレイ回
路37、コンパレータ回路31,32、位相差検出回路
33、アップカウンタ34、ダウンカウンタ35、スキ
ュードライバ回路27、D/A変換器36、リレー13
2、133、134、135から構成される。コンパレ
ータスキューを行うときは、リレー134を閉じ、リレ
ー135を開け、H−コンパレータスキューの場合、リ
レー132を閉じ、L−コンパレータスキューの場合、
リレー133を閉じる。リレー131は信号S42の入
力側へ切換える。信号S4はスキュードライバ回路27
に入力され、すべてのコンパレータ回路に分配された信
号S42はコンパレータを通り、位相差判定回路33に
入力される。ストローブ信号S6はディレイ回路37を
通り位相差判定回路33に入力される。
ャリブレーションの実施の形態を図5に示す。このコン
パレータスキューキャリブレーション装置はディレイ回
路37、コンパレータ回路31,32、位相差検出回路
33、アップカウンタ34、ダウンカウンタ35、スキ
ュードライバ回路27、D/A変換器36、リレー13
2、133、134、135から構成される。コンパレ
ータスキューを行うときは、リレー134を閉じ、リレ
ー135を開け、H−コンパレータスキューの場合、リ
レー132を閉じ、L−コンパレータスキューの場合、
リレー133を閉じる。リレー131は信号S42の入
力側へ切換える。信号S4はスキュードライバ回路27
に入力され、すべてのコンパレータ回路に分配された信
号S42はコンパレータを通り、位相差判定回路33に
入力される。ストローブ信号S6はディレイ回路37を
通り位相差判定回路33に入力される。
【0018】コンパレータ回路のスキューキャリブレー
ションの位相差判定回路は、図5に示すように、AND
素子63、67、68、NOR素子71、NOT素子6
1,62,64、Dフリップフロップ65、66、RS
フリップフロップ69,70から構成される。H−コン
パレータ回路31のスキューキャリブレーションは位相
差判定回路33に入力されるストローブ信号S6はDフ
リップフロップ65,66のクロックとなる。コンパレ
ータ出力信号S43−1はDフリップフロップ65,6
6のデータとなる。Dフリップフロップ66のデータは
NOT素子64により反転される。ストローブ信号S6
がコンパレータ出力信号S43−1より遅れていた場
合、クロックS6によりDフリップフロップ65により
データが出力された信号と、コンパレータ出力信号43
−1とストローブ信号S6の反転したものがAND素子
63を通った信号各々がAND素子67を通り、セット
/リセットでパルス化され、ダウンカウンタ34に入力
される。コンパレータ出力S43−1とストローブ信号
S6の反転したものがAND素子63を通った信号各々
がAND素子68を通りセット/リセットでパルス化さ
れ、アップカウンタ35に入力される。
ションの位相差判定回路は、図5に示すように、AND
素子63、67、68、NOR素子71、NOT素子6
1,62,64、Dフリップフロップ65、66、RS
フリップフロップ69,70から構成される。H−コン
パレータ回路31のスキューキャリブレーションは位相
差判定回路33に入力されるストローブ信号S6はDフ
リップフロップ65,66のクロックとなる。コンパレ
ータ出力信号S43−1はDフリップフロップ65,6
6のデータとなる。Dフリップフロップ66のデータは
NOT素子64により反転される。ストローブ信号S6
がコンパレータ出力信号S43−1より遅れていた場
合、クロックS6によりDフリップフロップ65により
データが出力された信号と、コンパレータ出力信号43
−1とストローブ信号S6の反転したものがAND素子
63を通った信号各々がAND素子67を通り、セット
/リセットでパルス化され、ダウンカウンタ34に入力
される。コンパレータ出力S43−1とストローブ信号
S6の反転したものがAND素子63を通った信号各々
がAND素子68を通りセット/リセットでパルス化さ
れ、アップカウンタ35に入力される。
【0019】コンパレータ出力S43−1とストローブ
信号S6のエッジが一致していた場合、AND素子71
の出力S83からハイレベルが出力される。全てのHコ
ンパレータスキューからのS83のハイレベル出力をC
PU12で検出されるとHコンパレータスキューキャリ
ブレーションが終了する。
信号S6のエッジが一致していた場合、AND素子71
の出力S83からハイレベルが出力される。全てのHコ
ンパレータスキューからのS83のハイレベル出力をC
PU12で検出されるとHコンパレータスキューキャリ
ブレーションが終了する。
【0020】位相差判定回路出力S81はダウンカウン
タ34でカウントダウンされ、その出力をD/A変換器
36で変換しディレイ回路37のディレイ値をダウンさ
せ(早め)、位相差判定回路のクロックS6でDフリッ
プフロップ65からパルスデータ(ハイレベル)が出力
されなくなるまで、ディレイ回路37を変化させる。位
相差判定回路出力S82はアップカウンタ35でカウン
トアップされ、その出力をD/A変換器36で変換しデ
ィレイ回路37のディレイ値をアップさせ(遅らせ)、
位相差判定回路33のクロックS6でDフリップフロッ
プ66からパルスデータ(ハイレベル)が出力されなく
なるまでディレイ回路37を変化させる。
タ34でカウントダウンされ、その出力をD/A変換器
36で変換しディレイ回路37のディレイ値をダウンさ
せ(早め)、位相差判定回路のクロックS6でDフリッ
プフロップ65からパルスデータ(ハイレベル)が出力
されなくなるまで、ディレイ回路37を変化させる。位
相差判定回路出力S82はアップカウンタ35でカウン
トアップされ、その出力をD/A変換器36で変換しデ
ィレイ回路37のディレイ値をアップさせ(遅らせ)、
位相差判定回路33のクロックS6でDフリップフロッ
プ66からパルスデータ(ハイレベル)が出力されなく
なるまでディレイ回路37を変化させる。
【0021】L−コンパレータ回路32の位相差判定回
路は、図5に示すようにコンパレータ出力信号43−2
はNOT素子61により反転されDフリップフロップ6
5,66のデータとなる。Dフリップフロップ66のデ
ータはNOT素子64により反転される。ストローブ信
号S6がコンパレータ出力信号S43−2より遅れてい
た場合、クロックS6によりDフリップフロップ65か
ら出力された信号と、コンパレータ出力信号S43−2
とストローブ信号S6より遅れていた場合、クロックS
6によりDフリップフロップ68から出力された信号
と、コンパレータ出力信号S43−1とストローブ信号
S6の反転したものがAND素子63を通った信号各々
がAND素子68を通りセット/リセットでパルス化さ
れ、アップカウンタ35に入力される。
路は、図5に示すようにコンパレータ出力信号43−2
はNOT素子61により反転されDフリップフロップ6
5,66のデータとなる。Dフリップフロップ66のデ
ータはNOT素子64により反転される。ストローブ信
号S6がコンパレータ出力信号S43−2より遅れてい
た場合、クロックS6によりDフリップフロップ65か
ら出力された信号と、コンパレータ出力信号S43−2
とストローブ信号S6より遅れていた場合、クロックS
6によりDフリップフロップ68から出力された信号
と、コンパレータ出力信号S43−1とストローブ信号
S6の反転したものがAND素子63を通った信号各々
がAND素子68を通りセット/リセットでパルス化さ
れ、アップカウンタ35に入力される。
【0022】コンパレータ出力S43−2とストローブ
信号S6のエッジが一致していた場合、AND素子6
7,68、RSフリップフロップ69,70の出力はロ
ーレベルとなり、NOT素子71の出力S83からハイ
レベルが出力される。全てのL−コンパレータスキュー
からのS83のハイレベル出力をCPU12で検出され
ると、Lコンパレータスキューキャリブレーションが終
了する。
信号S6のエッジが一致していた場合、AND素子6
7,68、RSフリップフロップ69,70の出力はロ
ーレベルとなり、NOT素子71の出力S83からハイ
レベルが出力される。全てのL−コンパレータスキュー
からのS83のハイレベル出力をCPU12で検出され
ると、Lコンパレータスキューキャリブレーションが終
了する。
【0023】位相差判定回路出力S81はダウンカウン
タ34でカウントダウンされ、その出力をD/A変換器
36で変換し、ディレイ回路37のディレイ値をダウン
させ(早め)、位相差判定回路23のクロックS6でD
フリップフロップからパルスデータ(ハイレベル)が出
力されなくなるまでディレイ回路37を変化させる。位
相差判定回路出力S82はアップカウンタ25でカウン
トアップさせ(遅らせ)、位相差判定回路33のクロッ
クS6でDフリップフロップ68からパルスデータ(ハ
イレベル)が出力されなくなるまでディレイ回路37を
変化させる。
タ34でカウントダウンされ、その出力をD/A変換器
36で変換し、ディレイ回路37のディレイ値をダウン
させ(早め)、位相差判定回路23のクロックS6でD
フリップフロップからパルスデータ(ハイレベル)が出
力されなくなるまでディレイ回路37を変化させる。位
相差判定回路出力S82はアップカウンタ25でカウン
トアップさせ(遅らせ)、位相差判定回路33のクロッ
クS6でDフリップフロップ68からパルスデータ(ハ
イレベル)が出力されなくなるまでディレイ回路37を
変化させる。
【0024】以下にコンパレータスキューキャリブレー
ションの動作例を示す。図7及び図8は、“H”コンパ
レータの場合を信号S43−1がストローブ信号S6よ
り進んでいる場合、及び信号S43−1がストローブ信
号S6より遅れている場合について示す。
ションの動作例を示す。図7及び図8は、“H”コンパ
レータの場合を信号S43−1がストローブ信号S6よ
り進んでいる場合、及び信号S43−1がストローブ信
号S6より遅れている場合について示す。
【0025】まず、図7に示すように、信号S43−1
がストローブ信号S6より進んでいる場合、Dフリップ
フロップ66の出力は“L”となるため、RSフリップ
フロップ70の出力Qは“L”のままでアップカウンタ
24はカウント動作しないことになる。また、Dフリッ
プフロップ65の出力は“H”となり、RSフリップフ
ロップ69の出力/Q(ここで、“/”は反転(否定)
を意味するものである。)が“H”のため、AND素子
63からのパルスによりRSフリップフロップ69の出
力S81としてパルス信号が出力される。その結果、ダ
ウンカウンタ34がカウントダウンを行い、ディレイ回
路37を小さくする(進める)こととなる。
がストローブ信号S6より進んでいる場合、Dフリップ
フロップ66の出力は“L”となるため、RSフリップ
フロップ70の出力Qは“L”のままでアップカウンタ
24はカウント動作しないことになる。また、Dフリッ
プフロップ65の出力は“H”となり、RSフリップフ
ロップ69の出力/Q(ここで、“/”は反転(否定)
を意味するものである。)が“H”のため、AND素子
63からのパルスによりRSフリップフロップ69の出
力S81としてパルス信号が出力される。その結果、ダ
ウンカウンタ34がカウントダウンを行い、ディレイ回
路37を小さくする(進める)こととなる。
【0026】図8は逆に信号S43−1がストローブ信
号S6より遅れている場合であって、このような時間関
係のため、Dフリップフロップ65の出力は“L”とな
るため、RSフリップフロップ69の出力Qは“L”の
ままでダウンカウンタ25はカウント動作しないことに
なる。また、Dフリップフロップ66の出力は“H”と
なり、RSフリップフロップ70の出力/Qが“H”の
ため、AND素子63からのパルスによりRSフリップ
フロップ70の出力S82としてパルス信号が出力され
る。その結果、アップカウンタ35がカウントアップを
行い、ディレイ回路37を大きくする(遅らせる)こと
となる。
号S6より遅れている場合であって、このような時間関
係のため、Dフリップフロップ65の出力は“L”とな
るため、RSフリップフロップ69の出力Qは“L”の
ままでダウンカウンタ25はカウント動作しないことに
なる。また、Dフリップフロップ66の出力は“H”と
なり、RSフリップフロップ70の出力/Qが“H”の
ため、AND素子63からのパルスによりRSフリップ
フロップ70の出力S82としてパルス信号が出力され
る。その結果、アップカウンタ35がカウントアップを
行い、ディレイ回路37を大きくする(遅らせる)こと
となる。
【0027】信号S43−1とストローブ信号S6のエ
ッジが一致している場合、スキューエンド信号としてN
OR素子71から“H”が出力される。
ッジが一致している場合、スキューエンド信号としてN
OR素子71から“H”が出力される。
【0028】図9はアプリケーションボードの任意ケー
ブル長のスキューキャリブレーションの実施例を示す。
この回路はスキュードライバ回路27、時間測定回路8
1、CPU12、スキュードライバ回路83、コンパレ
ータスキュー端子84,リレー141〜144から構成
される。アプリケーションボードの任意ケーブル長のス
キューキャリブレーションはまず、アプリケーションボ
ード上にロジック部のケーブル長と等長でソケット86
で折返されたケーブル85を通り、コンパレータ回路3
1,32へ入力される(S42−2)。スキューキャリ
ブレーションの方法はH,Lコンパレータキャリブレー
ションと同様に行う。(ただし、H、Lコンパレータス
キューのスキュードライバ信号S42はコンパレータス
キュー端子かたの信号S42はコンパレータスキュー端
子S92−2となる。)ここで、リレー153,141
は閉じている。
ブル長のスキューキャリブレーションの実施例を示す。
この回路はスキュードライバ回路27、時間測定回路8
1、CPU12、スキュードライバ回路83、コンパレ
ータスキュー端子84,リレー141〜144から構成
される。アプリケーションボードの任意ケーブル長のス
キューキャリブレーションはまず、アプリケーションボ
ード上にロジック部のケーブル長と等長でソケット86
で折返されたケーブル85を通り、コンパレータ回路3
1,32へ入力される(S42−2)。スキューキャリ
ブレーションの方法はH,Lコンパレータキャリブレー
ションと同様に行う。(ただし、H、Lコンパレータス
キューのスキュードライバ信号S42はコンパレータス
キュー端子かたの信号S42はコンパレータスキュー端
子S92−2となる。)ここで、リレー153,141
は閉じている。
【0029】スキュードライバ信号S91と時間測定端
子からの信号との相対時間を求める回路である、実施例
1としてストローブオフセット時間(ヘッド内部でドラ
イバ回路からコンパレータ回路までの時間とドライバ回
路からパフォーマンスボード上を経由してコンパレータ
回路までの時間の差)を測定する場合、信号S4はスキ
ュードライバ回路27を通り、時間測定回路81に入力
する信号S42とスキュードライバ回路端子83からコ
ンパレータスキュー端子を通り、時間測定回路81に入
力する信号92との電圧を求め、それをCPU59で時
間変換し、コンパレータオフセット時間を求める。ここ
で、スキュードライバ回路60と時間測定用端子61は
任意の長さのケーブルで配線されているものとする。こ
れにより、任意の長さにおけるコンパレータオフセット
時間をシステムに取込む。リレー143は閉じている。
子からの信号との相対時間を求める回路である、実施例
1としてストローブオフセット時間(ヘッド内部でドラ
イバ回路からコンパレータ回路までの時間とドライバ回
路からパフォーマンスボード上を経由してコンパレータ
回路までの時間の差)を測定する場合、信号S4はスキ
ュードライバ回路27を通り、時間測定回路81に入力
する信号S42とスキュードライバ回路端子83からコ
ンパレータスキュー端子を通り、時間測定回路81に入
力する信号92との電圧を求め、それをCPU59で時
間変換し、コンパレータオフセット時間を求める。ここ
で、スキュードライバ回路60と時間測定用端子61は
任意の長さのケーブルで配線されているものとする。こ
れにより、任意の長さにおけるコンパレータオフセット
時間をシステムに取込む。リレー143は閉じている。
【0030】以上本発明の実施例について説明したが、
上述した3つの装置は図10に示すように組合わせるこ
とができる。
上述した3つの装置は図10に示すように組合わせるこ
とができる。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、新
たに追加した一つのスキュードライバ回路から全てのキ
ャリブレーション回路にキャリブレーション基準信号を
与えるようになっているので、スキューキャリブレーシ
ョンの高速化を図ることができることとなる。
たに追加した一つのスキュードライバ回路から全てのキ
ャリブレーション回路にキャリブレーション基準信号を
与えるようになっているので、スキューキャリブレーシ
ョンの高速化を図ることができることとなる。
【0032】また、アプリケーションボードのロジック
部の任意のケーブル長(ただし、全ピンのケーブル長は
等長)に対して、新たに追加したスキュードライバの出
力をアプリケーションボード上に出力することで、ロジ
ック部の任意のケーブル長に対するストローブオフセッ
ト時間についても測定することができる。
部の任意のケーブル長(ただし、全ピンのケーブル長は
等長)に対して、新たに追加したスキュードライバの出
力をアプリケーションボード上に出力することで、ロジ
ック部の任意のケーブル長に対するストローブオフセッ
ト時間についても測定することができる。
【図1】本発明に係るドライバスキューキャリブレーシ
ョン回路の構成を示す回路図。
ョン回路の構成を示す回路図。
【図2】その位相差判定回路の構成を示す回路図。
【図3】図1および図2に示す装置の動作を示すタイミ
ングチャート。
ングチャート。
【図4】図1および図2に示す装置の動作を示すタイミ
ングチャート。
ングチャート。
【図5】本発明に係るコンパレータスキューキャリブレ
ーション回路の構成を示す回路図。
ーション回路の構成を示す回路図。
【図6】その位相差判定回路の構成を示す回路図。
【図7】図1および図2に示す装置の動作を示すタイミ
ングチャート。
ングチャート。
【図8】図1および図2に示す装置の動作を示すタイミ
ングチャート。
ングチャート。
【図9】本発明に係る時間測定回路の構成を示す回路
図。
図。
【図10】図1、図5、図9の組合わせ例の構成を示す
回路図。
回路図。
【図11】従来のスキューキャリブレーション回路の構
成を示す回路図。
成を示す回路図。
1〜4,21,37,44 ディレイ回路 5,22,27 スキュードライバ回路 6,7,31,32 コンパレータ回路 8 リレーマトリクス回路 9 電圧変換器 10 A/D変換器 11 ディジタルコンパレータ回路 12 CPU 23,33 位相差判定回路 24,34 アップカウンタ 25,35 ダウンカウンタ 26,36 D/A変換器 41,45,49,50 AND素子 42,61,62 NOT素子 43 OR素子 47,48,65,66 Dフリップフロップ 51,52,69,70 RSフリップフロップ 53,71 NOR素子 132〜135 リレー
Claims (5)
- 【請求項1】ドライバピンに対設され、キャリブレーシ
ョン対象信号の位相を基準信号の位相に一致させるキャ
リブレーション回路と、 前記基準信号を前記各キャリブレーション回路に与える
スキュードライバ回路とを備えたスキューキャリブレー
ション装置。 - 【請求項2】前記キャリブレーション回路は、 ドライバ出力信号伝送路に挿入されたディレイ手段と、 前記ドライバ出力信号と基準信号との位相差を検出する
位相差検出手段と、 該検出位相差に応じて前記ディレイ手段を調整するディ
レイ調整手段とを備えたことを特徴とする請求項1記載
のスキューキャリブレーション装置。 - 【請求項3】キャリブレーション対象信号がドライバ出
力信号である請求項1または2に記載のスキューキャリ
ブレーション装置。 - 【請求項4】キャリブレーション対象信号がストローブ
信号である請求項1または2に記載のスキューキャリブ
レーション装置。 - 【請求項5】第1の端子に入力された信号と第2の端子
に入力された信号との時間差を求める時間差測定回路
と、 ドライバ出力信号を前記第1の端子に与える第1の信号
伝送路と、 前記ドライバ出力信号を該第1の信号伝送路からアプリ
ケーションボード上の信号伝送路を経由させて前記第2
の端子に与える第2の信号伝送路とを備えたスキューキ
ャリブレーション装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8246671A JPH1090363A (ja) | 1996-09-18 | 1996-09-18 | スキューキャリブレーション装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8246671A JPH1090363A (ja) | 1996-09-18 | 1996-09-18 | スキューキャリブレーション装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1090363A true JPH1090363A (ja) | 1998-04-10 |
Family
ID=17151891
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8246671A Pending JPH1090363A (ja) | 1996-09-18 | 1996-09-18 | スキューキャリブレーション装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1090363A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002139556A (ja) * | 2000-11-02 | 2002-05-17 | Advantest Corp | 半導体試験装置 |
-
1996
- 1996-09-18 JP JP8246671A patent/JPH1090363A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002139556A (ja) * | 2000-11-02 | 2002-05-17 | Advantest Corp | 半導体試験装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2760284B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| US20080061766A1 (en) | System and method for testing integrated circuit timing margins | |
| JP2002139553A (ja) | 電子回路素子の端部位置特定およびジッタの測定装置 | |
| US6349267B1 (en) | Rise and fall time measurement circuit | |
| JPH1090363A (ja) | スキューキャリブレーション装置 | |
| JPH0342810B2 (ja) | ||
| US5754063A (en) | Method and apparatus to measure internal node timing | |
| US8058902B1 (en) | Circuit for aligning input signals | |
| US10128828B2 (en) | Synchronous, internal clock edge alignment for integrated circuit testing | |
| US5838172A (en) | Timing error detecting circuit | |
| US7152195B2 (en) | Scan test circuit | |
| JP2005030978A (ja) | 位相差測定装置、位相差測定方法および試験装置 | |
| KR101100756B1 (ko) | 스큐 일치 출력 회로 | |
| JP2622845B2 (ja) | 遅延時間測定回路 | |
| WO2008056206A1 (en) | Method for testing noise immunity of an integrated circuit and a device having noise immunity testing capabilities | |
| JP2947178B2 (ja) | クロックスキュー判定回路 | |
| JP2571082B2 (ja) | 伝送線路長測定装置 | |
| JP2920998B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JP5055016B2 (ja) | 位相差計測回路 | |
| JPH0352692B2 (ja) | ||
| JP4657825B2 (ja) | 半導体装置のインタフェース回路及び測定方法 | |
| CN100397506C (zh) | 电信号传输方法及用于所传输电信号的输出驱动电路 | |
| JPH11101852A (ja) | 可変遅延素子試験回路 | |
| JPH04269674A (ja) | 伝送線路長測定装置 | |
| JP2527608Y2 (ja) | 論理判定回路 |