JPH109826A - Ｐｇａ基板の外寸測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 比較的簡単な構成でＰＧＡ基板の外形寸法の
測定精度を向上させることが可能であり、さらにスルホ
ールの中央振分け寸法の測定をも同時に行うことが可能
なＰＧＡ基板の外寸測定方法を提供する。 【解決手段】 矩形形状を有し且つ外形に沿って等間隔
矩形に並んだ多数のスルホール２を有するＰＧＡ基板１
の外形の直交する２方向すなわち、縦方向の寸法Ｙおよ
び横方向の寸法Ｘを測定するものであって、ＰＧＡ基板
１の各コーナー部を局部的に画像処理して、縦方向及び
横方向それぞれについて左右両側の最端部に位置するス
ルホール２中心とＰＧＡ基板１の側端縁との距離をそれ
ぞれ測定し、これにｘ軸方向及びｙ軸方向それぞれにつ
いて左右両側の最端部に位置するスルホール２，２間の
距離を加算した和を、それぞれ縦方向の寸法Ｙおよび横
方向のＸとして算出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はピングリットアレイ
（ＰＧＡ）基板の外寸測定方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来から、矩形形状を有し且つ格子目状
に並んだ多数のスルホールを有するＰＧＡ基板を製造す
るにあたっては、回路形成後に切断して個々のＰＧＡ基
板とする工程があり、このとき、得られたＰＧＡ基板の
寸法検査が行われている。このＰＧＡ基板の寸法検査で
は、該ＰＧＡ基板の外形寸法、ＰＧＡ基板におけるスル
ホールの形成位置を確かめる中央振分け寸法などを測定
して規定の寸法との比較を行っている。

【０００３】従来においてＰＧＡ基板の外形寸法の測定
は、ＰＧＡ基板全体を一括して画像処理することにより
該ＰＧＡ基板における外形の縦横寸法を測定する方法が
行われている。また、中央振分け寸法は、ＰＧＡ基板の
最側縁部に位置するスルホールについて、縦方向及び横
方向それぞれにおける該スルホール中心からＰＧＡ基板
の側端縁までの距離を指すものであって、スルホールの
位置ズレの有無を調べるためのものであり、該中央振分
け寸法はノギス等で測定されている。そして、ＰＧＡ基
板の寸法検査では、目標とする寸法から、例えば±１０
０μｍ外れた場合には寸法不良としているものであっ
た。したがって、寸法検査では寸法測定の測定精度には
高いレベルの精度が要求されるものであって、例えば測
定精度±５０μｍが望まれるものであった。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようにＰＧＡ基板の外形寸法を一括して画像処理するこ
とにより測定する場合には、画素数により解像度が低下
して測定精度は低いものとなるものであった。これに対
して画像処理装置の画素数を増やして解像度を向上させ
ると測定精度を高めることは可能であるものの、非常に
高価な画像処理装置が必要となるものであった。

【０００５】また、ＰＧＡ基板の外径寸法の測定とスル
ホールの中央振分け寸法の測定とは別々に行われていた
ので、一度に行えるようにして効率化を図ることも望ま
れるものであった。

【０００６】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
ので、比較的簡単な構成でＰＧＡ基板の外形寸法の測定
精度を向上させることが可能であり、さらにスルホール
の中央振分け寸法の測定をも同時に行うことが可能なＰ
ＧＡ基板の外寸測定方法を提供するものである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の請求項１に係るＰＧＡ基板の外寸測定方法
は、矩形形状を有し且つ外形に沿って等間隔矩形に並ん
だ多数のスルホールを有するＰＧＡ基板における外形の
縦横寸法を測定するＰＧＡ基板の外寸測定方法であっ
て、ＰＧＡ基板の各コーナー部を局部的に画像して、縦
方向及び横方向それぞれについて左右両側の最端部に位
置するスルホールとＰＧＡ基板の側端縁との距離をそれ
ぞれ測定し、これに縦方向及び横方向それぞれについて
左右両側の最端部に位置するスルホール間の距離を加算
した和を、縦方向及び横方向の外形寸法として算出する
ことを特徴とするものである。

【０００８】請求項２に係るＰＧＡ基板の外寸測定方法
は、請求項１に係るＰＧＡ基板の外寸測定方法におい
て、上記縦方向及び横方向それぞれについて左右両側の
最端部に位置するスルホール間の距離の寸法として、隣
合うスルホール同士の間隔寸法に、同方向にて並ぶスル
ホールの数から１だけ引いた数を掛け合わせた数値を用
いることを特徴とするものである。

【０００９】請求項３に係るＰＧＡ基板の外寸測定方法
は、請求項１に係るＰＧＡ基板の外寸測定方法におい
て、ＰＧＡ基板又は画像処理用カメラのいずれか一方を
ｘｙテーブルに縦横２軸方向に移動自在に設置し、上記
ＰＧＡ基板又は画像処理用カメラのいずれか一方を縦横
２軸方向に移動させてＰＧＡ基板の各コーナー部を画像
処理する際の、上記ＰＧＡ基板又は画像処理用カメラの
移動距離を、この移動方向における左右両側の最端部に
位置するスルホール間の距離の寸法とすることを特徴と
するものである。

【００１０】請求項４に係るＰＧＡ基板の外寸測定方法
は、請求項３に係るＰＧＡ基板の外寸測定方法におい
て、上記画像処理用カメラ又はＰＧＡ基板のいずれか一
方を縦横２軸方向に移動させてＰＧＡ基板の各コーナー
部を画像処理する際に、各コーナー部にて最端部に位置
するスルホールと画像中心との位置ズレ寸法を縦横２軸
方向について測定して、このときの測定値により、上記
ＰＧＡ基板又は画像処理用カメラの移動距離と、この移
動方向における左右両側の最端部に位置するスルホール
間の距離の寸法との誤差を校正することを特徴とするも
のである。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。

【００１２】図１は、本発明の実施形態に係るＰＧＡ基
板の外寸測定方法において、外形寸法を測定するＰＧＡ
基板を示す上面図である。

【００１３】本発明に係るＰＧＡ基板の外寸測定方法
は、矩形形状を有し且つ外形に沿って等間隔矩形に並ん
だ多数のスルホール２を有するＰＧＡ基板１の外形の直
交する２方向すなわち、縦方向の寸法Ｙおよび横方向の
寸法Ｘを測定するものであって、ＰＧＡ基板１の各コー
ナー部を局部的に画像処理して、縦方向及び横方向それ
ぞれについて左右両側の最端部に位置するスルホール２
中心とＰＧＡ基板１の側端縁との距離をそれぞれ測定
し、これにｘ軸方向及びｙ軸方向それぞれについて左右
両側の最端部に位置するスルホール２，２間の距離を加
算した和を、それぞれ縦方向の寸法Ｙおよび横方向のＸ
として算出するものである。

【００１４】本発明の第１実施形態に係るＰＧＡ基板の
外寸測定方法について説明する。図２は該第１実施形態
に係るＰＧＡ基板の外寸測定方法の説明図であって、こ
の図２に基づいて、第１実施形態におけるＰＧＡ基板１
の外形寸法の測定原理について説明する。画像処理用カ
メラによりＰＧＡ基板１の４隅のコーナー部をそれぞれ
局部的に拡大して撮影し、画像処理することにより各コ
ーナー部の最端部に位置するスルホール２に関して、該
スルホール２に近接するＰＧＡ基板１の縦側及び横側の
側端縁と該スルホール２中心との距離を測定する。この
とき、例えばＰＧＡ基板１の横方向の寸法Ｘを算出する
場合について説明すると、ＰＧＡ基板１の横方向一辺側
における左右両コーナー部について上記画像処理により
測定した、それぞれ最端部に位置するスルホール２とＰ
ＧＡ基板１縦辺側の側端縁との距離X1及びX2に、同上横
方向の左右両端のスルホール２，２中心間の距離X3を算
出して加算し、その和を寸法Ｘとする。このとき、上記
横方向の左右両端に位置するスルホール２，２中心間の
距離X3は、同方向にて隣合うスルホール２，２間の距離
ａに、同方向にて一直線に並ぶスルホール２の総数ｎ
（ｎは２以上の整数）から１を引いた数を掛け合わせて
算出するものである。すなわち、この寸法Ｘを算出する
式は、 Ｘ＝X1＋X2＋X3＝X1＋X2＋ａ×（ｎ−１） となる。

【００１５】該ＰＧＡ基板の外寸測定方法においては、
ＰＧＡ基板１の縦方向の寸法Ｙについても上記寸法Ｘと
同様に求めることができるものであり、このようにして
ＰＧＡ基板１の外形寸法である外周４辺の寸法を全て測
定ことが可能なものである。

【００１６】上記のように、該ＰＧＡ基板の外寸測定方
法では、ＰＧＡ基板１の各コーナー部を局部的に拡大し
て画像処理することにより、各コーナー部については高
い解像度で画像処理することができるものであり、ゆえ
に各コーナー部にて最端部に位置するスルホール２とＰ
ＧＡ基板１の縦横側端縁との距離を高精度で測定すると
が可能となるものである。また、一般にＰＧＡ基板１に
おいてはスルホール２はコンピュータ制御された精密穿
孔機により高精度に所定間隔で形成されていることか
ら、同方向にて隣合うスルホール２，２間の距離ａの同
方向における総和は、同方向の左右両端のスルホール
２，２中心間の距離と等しいものと見なすことができる
ものである。したがって、該ＰＧＡ基板の外寸測定方法
では、ＰＧＡ基板１の外径寸法を精度良く測定すること
ができるものであり、しかも、比較的簡易な装置で行え
るものである。また、このとき同時に、ＰＧＡ基板１に
おける各コーナー部にて最端部に位置するスルホール２
とＰＧＡ基板１の縦横側端縁との距離の測定、すなわち
スルホール２の中央振分け寸法の測定を行っていること
から、ＰＧＡ基板１の寸法検査を効率よく行えるもので
ある。

【００１７】なお、該実施形態においては、図３に示す
如く、ＰＧＡ基板１の４隅のうち一か所に一部をカット
した面取り部３が形成されているが、この面取り部３を
有するコーナー部においては図中の点線で示したように
直線補完してＰＧＡ基板１の縦横両辺の延長線を仮想し
て、このコーナー部における最端部に位置するスルホー
ル２とＰＧＡ基板１の縦横側端縁との距離を測定するも
のである。

【００１８】本発明の第２実施形態に係るＰＧＡ基板の
外寸測定方法について説明する。図４は第２実施形態に
係るＰＧＡ基板の外寸測定方法の説明図であって、この
図４に基づいて、第２実施形態におけるＰＧＡ基板１の
外形寸法の測定原理について説明する。第２実施形態に
おいては、第１実施形態と同様に、画像処理用カメラに
よりＰＧＡ基板１の４隅のコーナー部をそれぞれ局部的
に拡大して撮影し、画像処理することにより各コーナー
部の最端部に位置するスルホール２に関して、該スルホ
ール２に近接するＰＧＡ基板１の縦側及び横側の側端縁
と該スルホール２中心との距離を測定し、そして、同一
方向における上記の測定値と、同方向における左右両端
のスルホール２，２中心間の距離とを加算した和をその
方向におけるＰＧＡ基板１の寸法とすることにより、外
形寸法を測定するものであるが、第２実施形態では、同
一方向における左右両端のスルホール２，２中心間の距
離の算出方法が第１実施形態とは異なっているものであ
る。

【００１９】第２実施形態では、画像処理用カメラがＰ
ＧＡ基板１と対峙するｘｙテーブルに縦横２軸方向に移
動自在に設置されているもので、上記画像処理用カメラ
を縦横２軸方向に移動させてＰＧＡ基板１の各コーナー
部を画像処理する際の、上記画像処理用カメラがコーナ
ー部から他のコーナー部へと移動する移動距離から、こ
のときの移動方向における左右両端に位置するスルホー
ル２，２中心間の距離の寸法を算出しているものであ
る。

【００２０】第２実施形態に係るＰＧＡ基板の外寸測定
方法において、例えばＰＧＡ基板１の横方向の寸法Ｘを
算出する場合について説明すると、図４に示す如く、Ｐ
ＧＡ基板１の横方向一辺側における左右両コーナー部に
ついて上記画像処理により測定した、それぞれ最端部に
位置するスルホール２中心とＰＧＡ基板１縦辺側の側端
縁との距離X1及びX2に、同上横方向の左右両端のスルホ
ール２，２中心間の距離X3を同上横方向の画像処理用カ
メラの移動距離X5から算出して加算し、その和を寸法Ｘ
とする。

【００２１】ところで、このとき同上横方向の左右両コ
ーナー部に対する画像処理用カメラの移動距離X5は、画
像処理用カメラがそれぞれ左右両コーナー部を撮影した
ときの画像中心S1,S2 間の距離に等しいものとなる。こ
こで、画像中心S1,S2 と、同上横方向の左右両端のスル
ホール２，２中心とは一致するとは限らないものであ
り、この場合、画像中心S1,S2 と同上スルホール２，２
とが横方向にズレた距離X6,X7 の分だけ、上記左右両端
のスルホール２，２中心間の距離X3と画像処理用カメラ
の移動距離X5とは一致しないものとなる。したがって、
画像処理用カメラの移動距離X5から上記左右両端のスル
ホール２，２中心間の距離X3を算出するにあたっては、
ズレた距離X6,X7 により校正する必要があるものであ
る。例えば、画像中心S1,S2 が上記左右両端のスルホー
ル２，２中心に対して内側にズレた場合の上記ズレた距
離X6,X7 をプラスの値とし、外側にズレた場合の上記ズ
レた距離X6,X7 をマイナスの値と定義すると、上記左右
両端のスルホール２，２中心間の距離X3は、画像処理用
カメラの移動距離X5と上記ズレた距離X6,X7 とを加算し
た和に等しいものとなる。したがってこの場合、ＰＧＡ
基板1 の横方向の寸法Ｘを算出する式は、 Ｘ＝X1＋X2＋X3＝X1＋X2＋（X5+X6+X7） となる。

【００２２】ＰＧＡ基板の外寸測定方法においては、Ｐ
ＧＡ基板１の縦方向の寸法Ｙについても上記寸法Ｘと同
様に求めることができるものであり、このようにしてＰ
ＧＡ基板１の外形寸法である外周４辺の寸法を全て測定
ことが可能なものである。

【００２３】上述したように、該ＰＧＡ基板の外寸測定
方法では、ＰＧＡ基板１の各コーナー部を局部的に拡大
して画像処理することにより、各コーナー部にて最端部
に位置するスルホール２中心とＰＧＡ基板１の縦横側端
縁との距離を高精度で測定するとが可能となるものであ
る。また、画像処理用カメラの移動距離から左右両端の
スルホール２，２中心間の距離を正確に算出することが
できる。したがって、該ＰＧＡ基板の外寸測定方法で
は、ＰＧＡ基板１の外径寸法を精度良く測定することが
できるものであり、しかも、比較的簡易な装置で行える
ものである。また、このとき同時に、ＰＧＡ基板１にお
ける各コーナー部にて最端部に位置するスルホール２と
ＰＧＡ基板１の縦横側端縁との距離の測定、すなわちス
ルホール２の中央振分け寸法の測定を行っていることか
ら、ＰＧＡ基板１の寸法検査を効率よく行えるものであ
る。

【００２４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項１
乃至請求項４に係るＰＧＡ基板の外寸測定方法による
と、ＰＧＡ基板１の各コーナー部を局部的に画像処理し
て、縦方向及び横方向それぞれについて左右両側の最端
部に位置するスルホール２中心とＰＧＡ基板１の側端縁
との距離をそれぞれ測定し、これにｘ軸方向及びｙ軸方
向それぞれについて左右両側の最端部に位置するスルホ
ール２，２間の距離を加算した和を、それぞれ縦方向の
寸法Ｙおよび横方向のＸとして算出する手法により、比
較的簡単な構成でＰＧＡ基板の外形寸法の測定精度を向
上させることが可能であり、さらにスルホールの中央振
分け寸法の測定をも同時に行うことが可能なものであ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態にて外形寸法を測定するＰＧ
Ａ基板を示す上面図である。

【図２】本発明の第１実施形態に係るＰＧＡ基板の外寸
測定方法の説明図である。

【図３】本発明の実施形態に係るＰＧＡ基板の面取り部
を示す上面図である。

【図４】本発明の第２実施形態に係るＰＧＡ基板の外寸
測定方法の説明図である。

【符号の説明】 １ ＰＧＡ基板 ２ スルホール

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 矩形形状に形成され且つ外形に沿って等
   間隔矩形に並んだ多数のスルホールを有するＰＧＡ基板
   における外形の縦横寸法を測定するＰＧＡ基板の外寸測
   定方法であって、ＰＧＡ基板の各コーナー部を局部的に
   画像処理して、縦方向及び横方向それぞれについて左右
   両側の最端部に位置するスルホールとＰＧＡ基板の側端
   縁との距離をそれぞれ測定し、これに縦方向及び横方向
   それぞれについて左右両側の最端部に位置するスルホー
   ル間の距離を加算した和を、縦方向及び横方向の外形寸
   法として算出することを特徴とするＰＧＡ基板の外寸測
   定方法。
2. 【請求項２】 上記ＰＧＡ基板の縦方向及び横方向それ
   ぞれについて左右両側の最端部に位置するスルホール間
   の距離の寸法として、隣合うスルホール同士の間隔寸法
   に、同方向にて並ぶスルホールの数から１だけ引いた数
   を掛け合わせた数値を用いることを特徴とする請求項１
   記載のＰＧＡ基板の外寸測定方法。
3. 【請求項３】 ＰＧＡ基板又は画像処理用カメラのいず
   れか一方をｘｙテーブルに縦横２軸方向に移動自在に設
   置し、上記ＰＧＡ基板又は画像処理用カメラのいずれか
   一方を縦横２軸方向に移動させてＰＧＡ基板の各コーナ
   ー部を画像処理する際の、上記ＰＧＡ基板又は画像処理
   用カメラの移動距離を、この移動方向における左右両側
   の最端部に位置するスルホール間の距離の寸法とするこ
   とを特徴とする請求項１記載のＰＧＡ基板の外寸測定方
   法。
4. 【請求項４】 上記画像処理用カメラ又はＰＧＡ基板の
   いずれか一方を縦横２軸方向に移動させてＰＧＡ基板の
   各コーナー部を画像処理する際に、各コーナー部にて最
   端部に位置するスルホールと画像中心との位置ズレ寸法
   を縦横２軸方向について測定して、このときの測定値に
   より、上記ＰＧＡ基板又は画像処理用カメラの移動距離
   と、この移動方向における左右両側の最端部に位置する
   スルホール間の距離の寸法との誤差を校正することを特
   徴とする請求項３記載のＰＧＡ基板の外寸測定方法。