JPH109933A - 電子天びん - Google Patents
電子天びんInfo
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- JPH109933A JPH109933A JP16700196A JP16700196A JPH109933A JP H109933 A JPH109933 A JP H109933A JP 16700196 A JP16700196 A JP 16700196A JP 16700196 A JP16700196 A JP 16700196A JP H109933 A JPH109933 A JP H109933A
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- temperature
- constant current
- balance
- temperature sensor
- magnetic circuit
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 パルス幅変調方式の電子天びんにおける定電
流発生回路中の基準電圧素子および基準抵抗素子等に温
度係数の小さな高価な素子を用いずに、高精度の温度補
償を行うことのできる電子天びんを提供する。 【解決手段】 定電流発生回路11中の基準電圧素子1
1aと基準抵抗素子11bの温度を、磁気回路5の温度
検出用の温度センサ11eまたは別の温度センサで検出
し、計量値演算部10でその温度検出結果を用いて計量
値の温度補償演算を行うことで、素子11a,11bの
温度係数をソフト的に補償することを可能とする。
流発生回路中の基準電圧素子および基準抵抗素子等に温
度係数の小さな高価な素子を用いずに、高精度の温度補
償を行うことのできる電子天びんを提供する。 【解決手段】 定電流発生回路11中の基準電圧素子1
1aと基準抵抗素子11bの温度を、磁気回路5の温度
検出用の温度センサ11eまたは別の温度センサで検出
し、計量値演算部10でその温度検出結果を用いて計量
値の温度補償演算を行うことで、素子11a,11bの
温度係数をソフト的に補償することを可能とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子天びんに関し、
更に詳しくは、磁気回路中に置かれたフォースコイルに
パルス電流を流すとともに、そのパルス電流のデューテ
ィを変化させることによって、被測定荷重平衡用の電磁
力を発生する、いわゆるパルス幅変調方式の電子天びん
に関する。
更に詳しくは、磁気回路中に置かれたフォースコイルに
パルス電流を流すとともに、そのパルス電流のデューテ
ィを変化させることによって、被測定荷重平衡用の電磁
力を発生する、いわゆるパルス幅変調方式の電子天びん
に関する。
【0002】
【従来の技術】電磁力平衡型の電子天びんにおいては、
一般に、磁気回路が作る静磁場中に設けたフォースコイ
ルに電流を流すことによって発生する電磁力を被測定荷
重に対抗させて天びん機構を平衡させ、その平衡状態を
得るに要した電流値から被測定荷重の大きさを求め、計
量値として表示する。このような平衡動作は、通常、天
びん機構の変位を検出してその変位が0となるようにフ
ォースコイルに流す電流を制御するサーボ機構によって
行われる。
一般に、磁気回路が作る静磁場中に設けたフォースコイ
ルに電流を流すことによって発生する電磁力を被測定荷
重に対抗させて天びん機構を平衡させ、その平衡状態を
得るに要した電流値から被測定荷重の大きさを求め、計
量値として表示する。このような平衡動作は、通常、天
びん機構の変位を検出してその変位が0となるようにフ
ォースコイルに流す電流を制御するサーボ機構によって
行われる。
【0003】ここで、以上のような電子天びんでは、フ
ォースコイルに流す電流を電圧信号に変換してデジタル
化し、そのデジタルデータを用いて被測定荷重の大き
さ、つまり計量値を決定するのであるが、このような方
式では、電流信号を電圧信号に変換する測定抵抗、ある
いはフォースコイル自体に、被測定荷重の大きさに応じ
た電流が流れることになり、被測定荷重の大きさによっ
てこれらの発熱量が相違するなどの問題がある。
ォースコイルに流す電流を電圧信号に変換してデジタル
化し、そのデジタルデータを用いて被測定荷重の大き
さ、つまり計量値を決定するのであるが、このような方
式では、電流信号を電圧信号に変換する測定抵抗、ある
いはフォースコイル自体に、被測定荷重の大きさに応じ
た電流が流れることになり、被測定荷重の大きさによっ
てこれらの発熱量が相違するなどの問題がある。
【0004】そこで、従来、天びん機構の変位の検出出
力に基づくデューティを持つパルス電流を生成して、そ
のパルス電流をフォースコイルに流すとともに、PID
演算結果に基づいて被測定荷重の大きさを求める、いゆ
るパルス幅変調方式の電子天びんが実用化されている。
このパルス幅変調方式の電子天びんにおいては、フォー
スコイルに流すべき電流は、定電流発生回路からの出力
電流を電子スイッチ等によってチョッピングすることに
よって、一定波高値、一定周期のパルス電流で、かつ、
そのデューティが変位のPID演算結果に応じて変化す
るパルス電流とされる。このパルス変調方式の電子天び
んによれば、上記したアナログサーボ方式の電子天びん
のような測定抵抗が不要となるとともに、PID演算を
デジタル演算によって行うことが容易となり、回路の集
積化や製品性能の均一化が容易となるなど、多くの利点
を有している。
力に基づくデューティを持つパルス電流を生成して、そ
のパルス電流をフォースコイルに流すとともに、PID
演算結果に基づいて被測定荷重の大きさを求める、いゆ
るパルス幅変調方式の電子天びんが実用化されている。
このパルス幅変調方式の電子天びんにおいては、フォー
スコイルに流すべき電流は、定電流発生回路からの出力
電流を電子スイッチ等によってチョッピングすることに
よって、一定波高値、一定周期のパルス電流で、かつ、
そのデューティが変位のPID演算結果に応じて変化す
るパルス電流とされる。このパルス変調方式の電子天び
んによれば、上記したアナログサーボ方式の電子天びん
のような測定抵抗が不要となるとともに、PID演算を
デジタル演算によって行うことが容易となり、回路の集
積化や製品性能の均一化が容易となるなど、多くの利点
を有している。
【0005】ここで、以上のようなパルス幅変調方式の
天びんにおいても、フォースコイルが置かれる静磁場の
大きさが変化すれば、フォースコイルに流すパルス電流
のデューティが同じであっても、発生電磁力の大きさが
異なることになり、正確な計量値を得ることができなく
なることは言うまでもないが、静磁場を生成するための
磁気回路中の永久磁石は、一般には400ppm/°C
程度の温度係数を持つため、これを補償する目的で、磁
気回路中の永久磁石に近接して温度センサを設け、その
温度センサの出力によって、磁気回路が作る静磁場の温
度依存性を補償することが行われる。このような温度補
償は、通常、温度センサを定電流発生回路の中に組み込
み、その発生電流値に永久磁石の温度係数と逆極性の温
度係数を持たせることで、ある程度ハード的に温度補償
をしたうえで、個々の電子天びんを恒温炉等に挿入し
て、温度変化による計量値の誤差を実測し、その実測結
果に基づく係数と温度センサの出力を用いて、計量値を
ソフト的に補償する方法が採用されることが多い。
天びんにおいても、フォースコイルが置かれる静磁場の
大きさが変化すれば、フォースコイルに流すパルス電流
のデューティが同じであっても、発生電磁力の大きさが
異なることになり、正確な計量値を得ることができなく
なることは言うまでもないが、静磁場を生成するための
磁気回路中の永久磁石は、一般には400ppm/°C
程度の温度係数を持つため、これを補償する目的で、磁
気回路中の永久磁石に近接して温度センサを設け、その
温度センサの出力によって、磁気回路が作る静磁場の温
度依存性を補償することが行われる。このような温度補
償は、通常、温度センサを定電流発生回路の中に組み込
み、その発生電流値に永久磁石の温度係数と逆極性の温
度係数を持たせることで、ある程度ハード的に温度補償
をしたうえで、個々の電子天びんを恒温炉等に挿入し
て、温度変化による計量値の誤差を実測し、その実測結
果に基づく係数と温度センサの出力を用いて、計量値を
ソフト的に補償する方法が採用されることが多い。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、以上のよう
な温度補償は、あくまでも永久磁石の温度係数に起因す
る静磁場の大きさの変化を補償するためのものであっ
て、定電流発生回路中の回路要素の温度変化に起因する
電流の大きさの変化は補償されない。
な温度補償は、あくまでも永久磁石の温度係数に起因す
る静磁場の大きさの変化を補償するためのものであっ
て、定電流発生回路中の回路要素の温度変化に起因する
電流の大きさの変化は補償されない。
【0007】そこで従来のこの種の天びんにおいては、
一般に、定電流発生回路中の主たる要素、つまりツェナ
ーダイオード等の基準電圧素子と基準抵抗素子は、でき
るだけ温度係数の小さい素子を用いるとともに、これら
を天びんケース内において可能な限り温度変化の小さい
場所に置くことで、定電流発生回路の各要素の温度変化
に起因する出力電流の変化を極力抑える、という対策が
採られることが多い。
一般に、定電流発生回路中の主たる要素、つまりツェナ
ーダイオード等の基準電圧素子と基準抵抗素子は、でき
るだけ温度係数の小さい素子を用いるとともに、これら
を天びんケース内において可能な限り温度変化の小さい
場所に置くことで、定電流発生回路の各要素の温度変化
に起因する出力電流の変化を極力抑える、という対策が
採られることが多い。
【0008】しかしながら、温度係数の小さい基準電圧
素子や基準抵抗素子は高価で、天びんコストをアップさ
せる要因となる。なお、定電流発生回路中の基準電圧素
子については、永久磁石の近傍に配置して永久磁石の温
度とほぼ同等の温度にするとともに、その基準電圧素子
の温度変化に起因する電圧変化分を含めて、温度センサ
の出力に基づく温度補償を行う対策が採られることもあ
るが、基準抵抗素子についてはあくまでも温度係数の小
さい高安定の素子が用いられている。しかも温度係数が
0という素子は実質的には存在せず、高価な素子を用い
てもなお、その素子には1ppm/°C程度の温度依存
性がある。
素子や基準抵抗素子は高価で、天びんコストをアップさ
せる要因となる。なお、定電流発生回路中の基準電圧素
子については、永久磁石の近傍に配置して永久磁石の温
度とほぼ同等の温度にするとともに、その基準電圧素子
の温度変化に起因する電圧変化分を含めて、温度センサ
の出力に基づく温度補償を行う対策が採られることもあ
るが、基準抵抗素子についてはあくまでも温度係数の小
さい高安定の素子が用いられている。しかも温度係数が
0という素子は実質的には存在せず、高価な素子を用い
てもなお、その素子には1ppm/°C程度の温度依存
性がある。
【0009】本発明はこのような実情に鑑みてなされた
もので、定電流発生回路中の基準電圧素子並びに基準抵
抗素子等に温度係数の小さい高価な素子を用いることな
く、高精度の温度補償をすることのできるパルス変調方
式の電子天びんを提供することを目的としている。
もので、定電流発生回路中の基準電圧素子並びに基準抵
抗素子等に温度係数の小さい高価な素子を用いることな
く、高精度の温度補償をすることのできるパルス変調方
式の電子天びんを提供することを目的としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の電子天びんは、天びん機構の変位の検出信
号にPID演算処理を施すPID演算部と、そのPID
演算部の出力に基づいて計量表示値を決定する計量値演
算部と、PID演算部の出力をパルスデューティ情報に
変換するとともに、そのパルスデューティ情報に基づい
て定電流発生回路からの出力電流をパルス化するパルス
幅変調部を備え、磁気回路中に置かれたフォースコイル
にそのパルス幅変調部からのパルス電流を流すことによ
って天びん機構をバランスさせる電子天びんにおいて、
定電流発生回路は、磁気回路の温度を検出してその温度
補償をするための温度センサを含むとともに、当該定電
流発生回路中の少なくとも基準電圧素子および基準抵抗
素子の温度が、上記温度センサもくしは別の温度センサ
によって検出され、計量値演算部は、その温度検出結果
を用いて計量値の温度補償演算を行うように構成されて
いることによって特徴づけられる。
め、本発明の電子天びんは、天びん機構の変位の検出信
号にPID演算処理を施すPID演算部と、そのPID
演算部の出力に基づいて計量表示値を決定する計量値演
算部と、PID演算部の出力をパルスデューティ情報に
変換するとともに、そのパルスデューティ情報に基づい
て定電流発生回路からの出力電流をパルス化するパルス
幅変調部を備え、磁気回路中に置かれたフォースコイル
にそのパルス幅変調部からのパルス電流を流すことによ
って天びん機構をバランスさせる電子天びんにおいて、
定電流発生回路は、磁気回路の温度を検出してその温度
補償をするための温度センサを含むとともに、当該定電
流発生回路中の少なくとも基準電圧素子および基準抵抗
素子の温度が、上記温度センサもくしは別の温度センサ
によって検出され、計量値演算部は、その温度検出結果
を用いて計量値の温度補償演算を行うように構成されて
いることによって特徴づけられる。
【0011】ここで、本発明においては、定電流発生回
路中の基準電圧素子および基準抵抗素子の温度を、磁気
回路の温度補償用の温度センサによって検出する場合
と、これとは別に設けた温度センサによって検出する場
合のいずれでもよいが、磁気回路の温度補償用の温度セ
ンサによって基準電圧素子および基準抵抗素子の温度を
検出する場合には、当然のことながら、その温度センサ
は磁気回路の温度を測定すべく磁気回路の近傍に置かれ
る関係上、基準電圧素子および基準抵抗素子は磁気回路
の近傍に置いてそれと実質的に熱的に結合する必要があ
る。一方、これら基準電圧素子および基準抵抗素子の温
度を別の温度センサで検出する場合には、これらの素子
の配設位置は特に限定されるものではない。
路中の基準電圧素子および基準抵抗素子の温度を、磁気
回路の温度補償用の温度センサによって検出する場合
と、これとは別に設けた温度センサによって検出する場
合のいずれでもよいが、磁気回路の温度補償用の温度セ
ンサによって基準電圧素子および基準抵抗素子の温度を
検出する場合には、当然のことながら、その温度センサ
は磁気回路の温度を測定すべく磁気回路の近傍に置かれ
る関係上、基準電圧素子および基準抵抗素子は磁気回路
の近傍に置いてそれと実質的に熱的に結合する必要があ
る。一方、これら基準電圧素子および基準抵抗素子の温
度を別の温度センサで検出する場合には、これらの素子
の配設位置は特に限定されるものではない。
【0012】本発明は、定電流発生回路中の基準電圧素
子および基準抵抗素子の温度を検出し、その温度検出結
果を用いて計量値をソフト的に温度補償することで、定
電流発生回路に用いられている素子に温度係数があって
も、従って安価な素子を用いても、それに伴う計量誤差
を解消するものである。
子および基準抵抗素子の温度を検出し、その温度検出結
果を用いて計量値をソフト的に温度補償することで、定
電流発生回路に用いられている素子に温度係数があって
も、従って安価な素子を用いても、それに伴う計量誤差
を解消するものである。
【0013】ここで、本発明が対象とするパルス幅変調
方式の天びんにあっては、定電流発生回路の基準抵抗素
子に流れる電流は、アナログサーボ方式の天びんにおけ
る抵抗に流れる電流のように被測定荷重の大きさによっ
て大きく変化するものではなく、従って、その基準抵抗
素子を磁気回路の近傍に置いてこれと熱的に結合して
も、その抵抗素子の発熱が磁気回路中の永久磁石の温度
を大きく変化させてしまう不具合は生じない。従って、
本発明の好ましい実施の形態においては、定電流発生回
路中の基準電圧素子並びに基準抵抗素子は、磁気回路の
近傍に配置されてこれと熱的に結合され、磁気回路の温
度補償用の温度センサによってこれらの素子の温度が検
出される。このような実施の形態によれば、基準電圧素
子および基準抵抗素子としてある程度の大きさの温度係
数を持つものを用い、しかもその温度を検出するための
温度センサは磁気回路の温度補償用の温度センサを兼用
させるため、ハード的に新たな部材を用いることなく、
単に計量値決定演算において、従来から行われている磁
気回路の温度補償のための演算と併せて、基準電圧素子
および基準抵抗素子の温度補償のための演算を行うだけ
でよい。従ってこの場合、これらの素子として温度係数
の大きなものを用いることによるコストダウンの効果
が、そのまま天びんのコストダウンに寄与することにな
る。
方式の天びんにあっては、定電流発生回路の基準抵抗素
子に流れる電流は、アナログサーボ方式の天びんにおけ
る抵抗に流れる電流のように被測定荷重の大きさによっ
て大きく変化するものではなく、従って、その基準抵抗
素子を磁気回路の近傍に置いてこれと熱的に結合して
も、その抵抗素子の発熱が磁気回路中の永久磁石の温度
を大きく変化させてしまう不具合は生じない。従って、
本発明の好ましい実施の形態においては、定電流発生回
路中の基準電圧素子並びに基準抵抗素子は、磁気回路の
近傍に配置されてこれと熱的に結合され、磁気回路の温
度補償用の温度センサによってこれらの素子の温度が検
出される。このような実施の形態によれば、基準電圧素
子および基準抵抗素子としてある程度の大きさの温度係
数を持つものを用い、しかもその温度を検出するための
温度センサは磁気回路の温度補償用の温度センサを兼用
させるため、ハード的に新たな部材を用いることなく、
単に計量値決定演算において、従来から行われている磁
気回路の温度補償のための演算と併せて、基準電圧素子
および基準抵抗素子の温度補償のための演算を行うだけ
でよい。従ってこの場合、これらの素子として温度係数
の大きなものを用いることによるコストダウンの効果
が、そのまま天びんのコストダウンに寄与することにな
る。
【0014】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態の全体
構成図で、機械的構成を示す模式図と電気的構成を示す
ブロック図とを併記して示す図であり、図2はその定電
流発生回路11の回路構成図(A)と、その定電流発生
回路11中の各素子の実装位置を示す要部縦断面図であ
る。
構成図で、機械的構成を示す模式図と電気的構成を示す
ブロック図とを併記して示す図であり、図2はその定電
流発生回路11の回路構成図(A)と、その定電流発生
回路11中の各素子の実装位置を示す要部縦断面図であ
る。
【0015】被測定荷重Wを負荷するための皿1は、支
点2aを中心として回動自在のビーム2の一端部に支承
されている。天びんビーム2の他端部には変位センサ3
が配設されており、この変位センサ3によって天びんビ
ーム2の変位(回動)が検出される。天びんビーム2に
は、支点2aを挟んで皿1の支承位置とは反対側の位置
にフォースコイル4が固着されており、そのフォースコ
イル4は磁気回路5が作る静磁場中に配置されている。
従ってこのフォースコイル4に電流を流すことによって
電磁力が発生し、その電磁力は、後述するように被測定
荷重Wに抗して天びんビーム2の変位を0に戻すべく作
用する。
点2aを中心として回動自在のビーム2の一端部に支承
されている。天びんビーム2の他端部には変位センサ3
が配設されており、この変位センサ3によって天びんビ
ーム2の変位(回動)が検出される。天びんビーム2に
は、支点2aを挟んで皿1の支承位置とは反対側の位置
にフォースコイル4が固着されており、そのフォースコ
イル4は磁気回路5が作る静磁場中に配置されている。
従ってこのフォースコイル4に電流を流すことによって
電磁力が発生し、その電磁力は、後述するように被測定
荷重Wに抗して天びんビーム2の変位を0に戻すべく作
用する。
【0016】変位センサ3による天びんビーム2の変位
検出信号は、増幅器6、A−D変換器7を介して変位デ
ータとしてPID演算部8に取り込まれ、比例(P)・
積分(I)・微分(D)演算処理が施される。そして、
そのPID出力はパルス変調部9および計量値演算部1
0に供給される。
検出信号は、増幅器6、A−D変換器7を介して変位デ
ータとしてPID演算部8に取り込まれ、比例(P)・
積分(I)・微分(D)演算処理が施される。そして、
そのPID出力はパルス変調部9および計量値演算部1
0に供給される。
【0017】パルス変調部9は、PID演算部8からの
PID出力の大きさに基づき、一定周期内におけるH,
Lの比率が変化するデューティ信号を形成するパルスデ
ューティ変換部9aと、そのパルスデューティ変換部9
aからのデューティ信号に従って開閉する電子スイッチ
9bによって構成されており、この電子スイッチ9aに
よって、定電流発生回路11からの出力電流がチョッピ
ングされ、パルス電流としてフォースコイル4に流され
る。つまり、フォースコイル4には、変位センサ3によ
る天びんビーム2の変位検出信号のPID演算結果に応
じて一定周期内のデューティが変化する一定波高値のパ
ルス電流が流され、これによって発生する電磁力により
天びんビーム2の変位が常に0となるように制御され
る。
PID出力の大きさに基づき、一定周期内におけるH,
Lの比率が変化するデューティ信号を形成するパルスデ
ューティ変換部9aと、そのパルスデューティ変換部9
aからのデューティ信号に従って開閉する電子スイッチ
9bによって構成されており、この電子スイッチ9aに
よって、定電流発生回路11からの出力電流がチョッピ
ングされ、パルス電流としてフォースコイル4に流され
る。つまり、フォースコイル4には、変位センサ3によ
る天びんビーム2の変位検出信号のPID演算結果に応
じて一定周期内のデューティが変化する一定波高値のパ
ルス電流が流され、これによって発生する電磁力により
天びんビーム2の変位が常に0となるように制御され
る。
【0018】そして、以上のPID演算結果は、天びん
ビーム2をバランスさせるべくフォースコイル4に流し
ている電流と比例するものであり、従って計量値演算部
10では、そのPID演算結果を用いて皿1上の被測定
荷重Wの大きさ、つまり計量値を算出し、表示器12に
表示する。
ビーム2をバランスさせるべくフォースコイル4に流し
ている電流と比例するものであり、従って計量値演算部
10では、そのPID演算結果を用いて皿1上の被測定
荷重Wの大きさ、つまり計量値を算出し、表示器12に
表示する。
【0019】なお、以上の構成のうち、PID演算部
8,パルスデューティ変換部9aおよび計量値演算部1
0は、図1では機能別のブロック図で示しているが、実
際にはCPU,ROM,RAMを主体とするマイクロコ
ンピュータとその周辺機器によって構成される。
8,パルスデューティ変換部9aおよび計量値演算部1
0は、図1では機能別のブロック図で示しているが、実
際にはCPU,ROM,RAMを主体とするマイクロコ
ンピュータとその周辺機器によって構成される。
【0020】さて、この例において磁気回路5は、2つ
の永久磁石5a,5bと、これらの間に挟まれたポール
ピース5c、並びにこれらを囲むように配置されたヨー
ク5dによって構成されているが、永久磁石5a,5b
が作る磁場の温度依存性に起因して、この磁気回路5に
より生成される静磁場は約400ppm/°C程度の温
度係数を持つ。この静磁場の温度による変化は、定電流
発生回路11内の基準電圧素子11a並びに基準抵抗素
子11b、および抵抗11c,11dの温度係数に起因
する定電流発生回路11からの出力電流の温度による変
化とともに、定電流発生回路11内に組み込まれ、か
つ、磁気回路5内に配置された温度センサ11eによっ
て以下のようにハード的およびソフト的に補償される。
の永久磁石5a,5bと、これらの間に挟まれたポール
ピース5c、並びにこれらを囲むように配置されたヨー
ク5dによって構成されているが、永久磁石5a,5b
が作る磁場の温度依存性に起因して、この磁気回路5に
より生成される静磁場は約400ppm/°C程度の温
度係数を持つ。この静磁場の温度による変化は、定電流
発生回路11内の基準電圧素子11a並びに基準抵抗素
子11b、および抵抗11c,11dの温度係数に起因
する定電流発生回路11からの出力電流の温度による変
化とともに、定電流発生回路11内に組み込まれ、か
つ、磁気回路5内に配置された温度センサ11eによっ
て以下のようにハード的およびソフト的に補償される。
【0021】定電流発生回路11は、図2(A)に示す
ように、基本的には、基準電圧素子11aと基準抵抗素
子11b並びに電流アンプ11fによって構成されてい
るが、電流アンプ11fの電圧入力端子には、基準電圧
素子11aと温度センサ11eがそれぞれ分圧用の抵抗
11c,11dを介して並列に接続されている。従って
電流アンプ11fの入力電圧は、磁気回路5中に配置さ
れてこれと熱的に結合された温度センサ11eの抵抗変
化分の影響を受ける。つまり、定電流発生回路11の出
力電流は、磁気回路5の温度に応じて変化する。
ように、基本的には、基準電圧素子11aと基準抵抗素
子11b並びに電流アンプ11fによって構成されてい
るが、電流アンプ11fの電圧入力端子には、基準電圧
素子11aと温度センサ11eがそれぞれ分圧用の抵抗
11c,11dを介して並列に接続されている。従って
電流アンプ11fの入力電圧は、磁気回路5中に配置さ
れてこれと熱的に結合された温度センサ11eの抵抗変
化分の影響を受ける。つまり、定電流発生回路11の出
力電流は、磁気回路5の温度に応じて変化する。
【0022】また、この例において定電流発生回路11
中の基準電圧素子11a,基準抵抗素子11b、および
抵抗11c,11dはそれぞれ温度係数の小さい高価な
素子を用いておらず、ある程度の大きさの温度係数を持
っている。従ってこれらの素子の温度が変化すると、定
電流発生回路11の出力電流が変化する。この例におい
ては、図2(B)に示すように、定電流発生回路11中
の基準電圧素子11a,基準抵抗素子11b、および抵
抗11c,11dは、磁気回路5のヨーク5dに接する
ように配置されてこれと熱的に結合されている。従っ
て、これらの各素子11a〜11dの温度は、温度セン
サ11eの温度と同等となり、結果的に温度センサ11
eは磁気回路5の温度とともに基準電圧素子11a、基
準抵抗素子11b、抵抗11c,11dの温度を検出し
ていることになる。そして、この温度センサ11eの出
力は、A−D変換器13を介して計量値演算部10に取
り込まれ、磁気回路5および定電流発生回路11中の各
素子の温度係数の補償演算に供される。なお、図2
(B)において20は基板である。
中の基準電圧素子11a,基準抵抗素子11b、および
抵抗11c,11dはそれぞれ温度係数の小さい高価な
素子を用いておらず、ある程度の大きさの温度係数を持
っている。従ってこれらの素子の温度が変化すると、定
電流発生回路11の出力電流が変化する。この例におい
ては、図2(B)に示すように、定電流発生回路11中
の基準電圧素子11a,基準抵抗素子11b、および抵
抗11c,11dは、磁気回路5のヨーク5dに接する
ように配置されてこれと熱的に結合されている。従っ
て、これらの各素子11a〜11dの温度は、温度セン
サ11eの温度と同等となり、結果的に温度センサ11
eは磁気回路5の温度とともに基準電圧素子11a、基
準抵抗素子11b、抵抗11c,11dの温度を検出し
ていることになる。そして、この温度センサ11eの出
力は、A−D変換器13を介して計量値演算部10に取
り込まれ、磁気回路5および定電流発生回路11中の各
素子の温度係数の補償演算に供される。なお、図2
(B)において20は基板である。
【0023】以上の本発明の実施の形態において、定電
流発生回路11中の分圧用抵抗11c,11dの大きさ
を適宜に選択することによって、磁気回路5の温度係数
並びに定電流発生回路11中の各素子11a〜11dの
温度係数は、温度センサ11eによってハード的にある
程度補償することができる。具体的には、これらの温度
係数≒400ppm/°Cを10〜20ppm/°C程
度にまで抑えることができる。
流発生回路11中の分圧用抵抗11c,11dの大きさ
を適宜に選択することによって、磁気回路5の温度係数
並びに定電流発生回路11中の各素子11a〜11dの
温度係数は、温度センサ11eによってハード的にある
程度補償することができる。具体的には、これらの温度
係数≒400ppm/°Cを10〜20ppm/°C程
度にまで抑えることができる。
【0024】そして、ハード的に抑えられた温度係数
は、計量値演算部10における温度センサ11eの出力
を用いた温度補償演算により、最終的に1〜2ppm程
度にまで抑えることができる。この温度補償演算は、従
来から行われている磁気回路5の温度補償演算と同様な
手法によって行うことができる。すなわち、図2(B)
のような配置を採り、かつ、前記のようにハード的に温
度係数がある程度補償された本発明の実施の形態を、例
えば恒温炉中に挿入した状態で既知質量を負荷して温度
を種々に変化させ、そのときの計量値の変化を記録する
ことにより、ハード的な補償後の残余の温度係数を測定
する。そして、その係数をメモリ(図示せず)に書き込
んでおき、その係数を用いて計量値を補正することによ
り、最終的に計量値の温度依存性を1〜2ppm/°C
程度にまで補償することができる。
は、計量値演算部10における温度センサ11eの出力
を用いた温度補償演算により、最終的に1〜2ppm程
度にまで抑えることができる。この温度補償演算は、従
来から行われている磁気回路5の温度補償演算と同様な
手法によって行うことができる。すなわち、図2(B)
のような配置を採り、かつ、前記のようにハード的に温
度係数がある程度補償された本発明の実施の形態を、例
えば恒温炉中に挿入した状態で既知質量を負荷して温度
を種々に変化させ、そのときの計量値の変化を記録する
ことにより、ハード的な補償後の残余の温度係数を測定
する。そして、その係数をメモリ(図示せず)に書き込
んでおき、その係数を用いて計量値を補正することによ
り、最終的に計量値の温度依存性を1〜2ppm/°C
程度にまで補償することができる。
【0025】以上の実施の形態によれば、定電流発生回
路11中の各素子、特に基準電圧素子11aと基準抵抗
素子11bとして温度係数の小さな高価な素子を用いる
ことなく、これらの素子を磁気回路5と熱的に結合する
ことによって、その温度を磁気回路5の温度検出用の温
度センサ11eによって検出し、その検出結果によって
磁気回路5と併せて定電流発生回路11中の各素子の温
度係数をも補償するから、ハード的には従来のパルス幅
変調方式の電子天びんに対して何ら追加を要することな
く、従って基準電圧素子11aと基準抵抗素子11bに
安価な素子を用いることによるコストダウンの効果が、
そのまま電子天びんのコストダウンに寄与することにな
る。
路11中の各素子、特に基準電圧素子11aと基準抵抗
素子11bとして温度係数の小さな高価な素子を用いる
ことなく、これらの素子を磁気回路5と熱的に結合する
ことによって、その温度を磁気回路5の温度検出用の温
度センサ11eによって検出し、その検出結果によって
磁気回路5と併せて定電流発生回路11中の各素子の温
度係数をも補償するから、ハード的には従来のパルス幅
変調方式の電子天びんに対して何ら追加を要することな
く、従って基準電圧素子11aと基準抵抗素子11bに
安価な素子を用いることによるコストダウンの効果が、
そのまま電子天びんのコストダウンに寄与することにな
る。
【0026】ここで、本発明は以上の実施の形態に限ら
れることなく、定電流発生回路11中の各素子の温度
を、磁気回路5の温度検出用の温度センサ11eとは別
の温度センサによって検出し、その検出結果によって計
量値の温度補償演算を行ってもよい。
れることなく、定電流発生回路11中の各素子の温度
を、磁気回路5の温度検出用の温度センサ11eとは別
の温度センサによって検出し、その検出結果によって計
量値の温度補償演算を行ってもよい。
【0027】すなわち、温度センサ11eは磁気回路5
と熱的に結合させ、かつ、図2(A)のように定電流発
生回路5内に組み込むことによって、磁気回路5の温度
係数をハード的にある程度補償するとともに、その残余
の温度係数を、計量値演算部10において、温度センサ
11eの出力を用いた補償演算によってソフト的に補償
する。この点は従来の温度補償手法と同等である。そし
て、定電流発生回路11中の基準電圧素子11a,基準
抵抗素子11b等は、任意の位置に配置され、その温度
を別の温度センサで検出し、その検出出力を用いて、計
量値演算部10においてこれらの素子の温度補償演算を
行う。この場合、磁気回路5の温度補償演算と、定電流
発生回路11内の各素子の温度補償演算は個別に行う必
要があり、従ってその温度補償演算に供される係数は、
磁気回路5と定電流発生回路11中の各素子について個
別に測定して記憶する。
と熱的に結合させ、かつ、図2(A)のように定電流発
生回路5内に組み込むことによって、磁気回路5の温度
係数をハード的にある程度補償するとともに、その残余
の温度係数を、計量値演算部10において、温度センサ
11eの出力を用いた補償演算によってソフト的に補償
する。この点は従来の温度補償手法と同等である。そし
て、定電流発生回路11中の基準電圧素子11a,基準
抵抗素子11b等は、任意の位置に配置され、その温度
を別の温度センサで検出し、その検出出力を用いて、計
量値演算部10においてこれらの素子の温度補償演算を
行う。この場合、磁気回路5の温度補償演算と、定電流
発生回路11内の各素子の温度補償演算は個別に行う必
要があり、従ってその温度補償演算に供される係数は、
磁気回路5と定電流発生回路11中の各素子について個
別に測定して記憶する。
【0028】このような構成においても、先の例に比し
て温度センサを一つ追加する必要はあるものの、基準電
圧素子11a,基準抵抗素子11bとして温度係数の大
きな素子を用いることによるコストダウン効果は、温度
センサを一つ追加することによるコストアップ分を差し
引いても大きく、従って天びん全体としてのコストを低
下させることが可能となる。
て温度センサを一つ追加する必要はあるものの、基準電
圧素子11a,基準抵抗素子11bとして温度係数の大
きな素子を用いることによるコストダウン効果は、温度
センサを一つ追加することによるコストアップ分を差し
引いても大きく、従って天びん全体としてのコストを低
下させることが可能となる。
【0029】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、パルス
幅変調方式の電子天びんにおける定電流発生回路中の少
なくとも基準電圧素子および基準抵抗素子の温度を検出
し、その検出出力によって計量値の温度補償演算を行う
から、これらの素子として従来のように温度係数の小さ
な高価な素子を用いることなく、高精度の温度補償を行
うことが可能となり、天びんのコストを大幅に低下させ
ることが可能となった。特に、上記した各素子を磁気回
路と熱的に結合する位置に配置して、磁気回路の温度を
検出するための温度センサによってこれらの各素子の温
度を検出するように構成した場合には、ハード的には何
ら追加を要することなく、基準電圧素子と基準抵抗素子
として温度係数の大きな安価な素子を用いることによる
コストダウン効果が、そのまま天びんのコストダウンに
寄与することになって好ましい。
幅変調方式の電子天びんにおける定電流発生回路中の少
なくとも基準電圧素子および基準抵抗素子の温度を検出
し、その検出出力によって計量値の温度補償演算を行う
から、これらの素子として従来のように温度係数の小さ
な高価な素子を用いることなく、高精度の温度補償を行
うことが可能となり、天びんのコストを大幅に低下させ
ることが可能となった。特に、上記した各素子を磁気回
路と熱的に結合する位置に配置して、磁気回路の温度を
検出するための温度センサによってこれらの各素子の温
度を検出するように構成した場合には、ハード的には何
ら追加を要することなく、基準電圧素子と基準抵抗素子
として温度係数の大きな安価な素子を用いることによる
コストダウン効果が、そのまま天びんのコストダウンに
寄与することになって好ましい。
【図1】本発明の実施の形態の全体構成図で、機械的構
成を示す模式図と電気的構成を示すブロック図とを併記
して示す図
成を示す模式図と電気的構成を示すブロック図とを併記
して示す図
【図2】その定電流発生回路11の回路構成図(A)
と、その回路中の各素子の実装位置を示す要部断面図
(B)
と、その回路中の各素子の実装位置を示す要部断面図
(B)
1 皿 2 天びんビーム 3 変位センサ 4 フォースコイル 5 磁気回路 5a,5b 永久磁石 5c ポールピース 5d ヨーク 8 PID演算部 9 パルス幅変調部 9a パルスデューティ変換部 9b 電子スイッチ 10 計量値演算部 11 定電流発生回路 11a 基準電圧素子 11b 基準抵抗素子 11c,11d 分圧用の抵抗 11e 温度センサ
Claims (1)
- 【請求項1】 天びん機構の変位の検出信号にPID演
算処理を施すPID演算部と、そのPID演算部の出力
に基づいて計量表示値を決定する計量値演算部と、上記
PID演算部の出力をパルスデューティ情報に変換する
とともに、そのパルスデューティ情報に基づいて定電流
発生回路からの出力電流をパルス化するパルス幅変調部
を備え、磁気回路中に置かれたフォースコイルにそのパ
ルス幅変調部からのパルス電流を流すことによって天び
ん機構をバランスさせる電子天びんにおいて、上記定電
流発生回路は、上記磁気回路の温度を検出してその温度
補償をするための温度センサを含むとともに、当該定電
流発生回路中の少なくとも基準電圧素子および基準抵抗
素子の温度が、上記温度センサもくしは別の温度センサ
によって検出され、上記計量値演算部は、その温度検出
結果を用いて計量値の温度補償演算を行うように構成さ
れていることを特徴とする電子天びん。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16700196A JPH109933A (ja) | 1996-06-27 | 1996-06-27 | 電子天びん |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16700196A JPH109933A (ja) | 1996-06-27 | 1996-06-27 | 電子天びん |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH109933A true JPH109933A (ja) | 1998-01-16 |
Family
ID=15841547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16700196A Pending JPH109933A (ja) | 1996-06-27 | 1996-06-27 | 電子天びん |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH109933A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105716696A (zh) * | 2015-02-25 | 2016-06-29 | 陈万元 | 柱体螺旋弹簧电感线圈高温称重传感器的制造方法 |
| CN115962827A (zh) * | 2022-08-09 | 2023-04-14 | 天津中德应用技术大学 | 电子分析天平及用于电子分析天平的电路装置 |
-
1996
- 1996-06-27 JP JP16700196A patent/JPH109933A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105716696A (zh) * | 2015-02-25 | 2016-06-29 | 陈万元 | 柱体螺旋弹簧电感线圈高温称重传感器的制造方法 |
| CN115962827A (zh) * | 2022-08-09 | 2023-04-14 | 天津中德应用技术大学 | 电子分析天平及用于电子分析天平的电路装置 |
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