JPH11108894A - Ｌｃ／ｍｓインタフェイス - Google Patents
Ｌｃ／ｍｓインタフェイスInfo
- Publication number
- JPH11108894A JPH11108894A JP9286000A JP28600097A JPH11108894A JP H11108894 A JPH11108894 A JP H11108894A JP 9286000 A JP9286000 A JP 9286000A JP 28600097 A JP28600097 A JP 28600097A JP H11108894 A JPH11108894 A JP H11108894A
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- JP
- Japan
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- inner diameter
- chamber
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 スキマーの配置位置の許容範囲を広げる。
【解決手段】 脱溶媒パイプ２３の内部側の内径Ｄ2を
入口端側内径Ｄ0及び出口端側内径Ｄ1よりも大きくす
る。これにより、脱溶媒パイプ２３の出口端内側の圧力
Ｐ2が大気圧Ｐ0よりもずっと低くなり、出口端内外の圧
力差が小さくなる。このため、噴出するガス分子により
マッハディスクが発生せず、脱溶媒パイプ２３の出口近
傍にスキマー３６を配置してもガス分子の飛込みを抑え
ることができる。
入口端側内径Ｄ0及び出口端側内径Ｄ1よりも大きくす
る。これにより、脱溶媒パイプ２３の出口端内側の圧力
Ｐ2が大気圧Ｐ0よりもずっと低くなり、出口端内外の圧
力差が小さくなる。このため、噴出するガス分子により
マッハディスクが発生せず、脱溶媒パイプ２３の出口近
傍にスキマー３６を配置してもガス分子の飛込みを抑え
ることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば液体クロマ
トグラフ質量分析装置の液体クロマトグラフ（ＬＣ）部
と質量分析（ＭＳ）部との間に配置され、ＬＣ部から与
えられる液体試料をイオン化してＭＳ部に導入するため
のＬＣ／ＭＳインタフェイスに関する。
トグラフ質量分析装置の液体クロマトグラフ（ＬＣ）部
と質量分析（ＭＳ）部との間に配置され、ＬＣ部から与
えられる液体試料をイオン化してＭＳ部に導入するため
のＬＣ／ＭＳインタフェイスに関する。
【０００２】
【従来の技術】図２は、液体クロマトグラフ質量分析装
置（ＬＣ／ＭＳ）の一例を示す概略構成図である。ＬＣ
部１０のカラム１１内から時間的に分離して溶出する液
体試料はインタフェイス部２０に導入され、ニードル２
２先端のノズルから霧化室２１内に噴霧されてイオン化
される。発生したイオンは、インタフェイス部２０とＭ
Ｓ部３０との間に設けられたヒーテッドキャピラリ等の
脱溶媒パイプ２３を通ってＭＳ部３０へと送り込まれ
る。
置（ＬＣ／ＭＳ）の一例を示す概略構成図である。ＬＣ
部１０のカラム１１内から時間的に分離して溶出する液
体試料はインタフェイス部２０に導入され、ニードル２
２先端のノズルから霧化室２１内に噴霧されてイオン化
される。発生したイオンは、インタフェイス部２０とＭ
Ｓ部３０との間に設けられたヒーテッドキャピラリ等の
脱溶媒パイプ２３を通ってＭＳ部３０へと送り込まれ
る。
【０００３】ＭＳ部３０は、第１中間室３１、第２中間
室３２及び分析室３３の３室から成り、霧化室２１と第
１中間室３１との間に上記脱溶媒パイプ２３、第１中間
室３１と第２中間室３２との間には極小径の通過孔（オ
リフェス）を有するスキマー３６が設けられている。第
１中間室３１はロータリーポンプによって約１Torr程度
まで排気され、第２中間室３２はターボ分子ポンプによ
って約１０-3〜１０-4Torr程度まで排気され、また分析
室３３はターボ分子ポンプによって約１０-5〜１０-6To
rr程度まで排気される。
室３２及び分析室３３の３室から成り、霧化室２１と第
１中間室３１との間に上記脱溶媒パイプ２３、第１中間
室３１と第２中間室３２との間には極小径の通過孔（オ
リフェス）を有するスキマー３６が設けられている。第
１中間室３１はロータリーポンプによって約１Torr程度
まで排気され、第２中間室３２はターボ分子ポンプによ
って約１０-3〜１０-4Torr程度まで排気され、また分析
室３３はターボ分子ポンプによって約１０-5〜１０-6To
rr程度まで排気される。
【０００４】脱溶媒パイプ２３を通過したイオンはスキ
マー３６の通過孔を通って第１中間室３１から第２中間
室３２に導入され、イオンレンズ３７により収束及び加
速されて分析室３３へ送られる。そして、特定の質量数
（質量ｍ／電荷ｚ）を有する目的イオンのみが分析室３
３内に配置された四重極フィルタ３４を通り抜け、検出
器３５に到達する。検出器３５ではイオン数に応じた電
流が取り出される。
マー３６の通過孔を通って第１中間室３１から第２中間
室３２に導入され、イオンレンズ３７により収束及び加
速されて分析室３３へ送られる。そして、特定の質量数
（質量ｍ／電荷ｚ）を有する目的イオンのみが分析室３
３内に配置された四重極フィルタ３４を通り抜け、検出
器３５に到達する。検出器３５ではイオン数に応じた電
流が取り出される。
【０００５】上記インタフェイス部２０は、液体試料を
加熱、高速気流、高電界等によって霧化させることで気
体イオンを生成するものであって、エレクトロスプレイ
イオン化法（ＥＳＩ）、大気圧化学イオン化法（ＡＰＣ
Ｉ）等の大気圧イオン化法が最も広く使用されている。
加熱、高速気流、高電界等によって霧化させることで気
体イオンを生成するものであって、エレクトロスプレイ
イオン化法（ＥＳＩ）、大気圧化学イオン化法（ＡＰＣ
Ｉ）等の大気圧イオン化法が最も広く使用されている。
【０００６】図３は、ＥＳＩによるイオン化の場合のイ
ンタフェイス部周辺の詳細構成図である。液体試料が流
出するニードル２２の先端には、電圧源Ｖ１により数ｋ
Ｖの高電圧が印加されている。これによりニードル２２
先端に到達した液体試料は強く帯電し、その外周を取り
巻くネブライズ管２４から噴出する補助ガス（主として
窒素ガス）の助けを受けて帯電液滴として噴霧される。
液滴は周囲の大気成分と衝突して微細化され、液滴中の
溶媒が蒸発して気体イオンが発生する。発生したイオン
や微細液滴は、ニードル２２の前方に配置されている脱
溶媒パイプ２３の中に飛び込む。この脱溶媒パイプ２３
は電圧源Ｖ２によりマイナス数十Ｖ程度の電圧が印加さ
れるとともに、図示しないヒータにより２００℃程度の
温度に加熱されている。このため、脱溶媒パイプ２３中
に飛び込んだ微細液滴は、そのパイプ２３中を通過する
間に溶媒の蒸発が進行し、より多くのイオンが発生して
脱溶媒パイプ２３の出口から放出される。
ンタフェイス部周辺の詳細構成図である。液体試料が流
出するニードル２２の先端には、電圧源Ｖ１により数ｋ
Ｖの高電圧が印加されている。これによりニードル２２
先端に到達した液体試料は強く帯電し、その外周を取り
巻くネブライズ管２４から噴出する補助ガス（主として
窒素ガス）の助けを受けて帯電液滴として噴霧される。
液滴は周囲の大気成分と衝突して微細化され、液滴中の
溶媒が蒸発して気体イオンが発生する。発生したイオン
や微細液滴は、ニードル２２の前方に配置されている脱
溶媒パイプ２３の中に飛び込む。この脱溶媒パイプ２３
は電圧源Ｖ２によりマイナス数十Ｖ程度の電圧が印加さ
れるとともに、図示しないヒータにより２００℃程度の
温度に加熱されている。このため、脱溶媒パイプ２３中
に飛び込んだ微細液滴は、そのパイプ２３中を通過する
間に溶媒の蒸発が進行し、より多くのイオンが発生して
脱溶媒パイプ２３の出口から放出される。
【０００７】上記構成のインタフェイス部２０では、脱
溶媒パイプ２３の入口側（霧化室２１内）は大気圧Ｐ
0、出口側（第１中間室３１内）は圧力Ｐ0よりも遙かに
低い圧力Ｐ1になっている。内径Ｄ0（例えば０．５ｍ
ｍ）の脱溶媒パイプ２３内には霧化室２１側からネブラ
イズガスや大気が次々に流れ込むので、その内部はほぼ
大気圧Ｐ0になっている。また、第１中間室３１内の温
度は脱溶媒パイプ２３内部よりも遙かに低くなってい
る。このため、脱溶媒パイプ２３出口から第１中間室３
１内に噴出したガス（イオンを含む）は急激な断熱膨張
により略円錐状の高速噴流となり、所定距離だけ離れた
位置にいわゆるマッハディスクが生じる。一般に、この
所定距離（マッハディスク距離）ＸMは、次式で求めら
れる。 ＸM＝０．６７（Ｐ0／Ｐ1）1/2・ｄ ここで、ｄは脱溶媒パイプ２３の出口口径であるので、
ここではｄ＝Ｄ0である。
溶媒パイプ２３の入口側（霧化室２１内）は大気圧Ｐ
0、出口側（第１中間室３１内）は圧力Ｐ0よりも遙かに
低い圧力Ｐ1になっている。内径Ｄ0（例えば０．５ｍ
ｍ）の脱溶媒パイプ２３内には霧化室２１側からネブラ
イズガスや大気が次々に流れ込むので、その内部はほぼ
大気圧Ｐ0になっている。また、第１中間室３１内の温
度は脱溶媒パイプ２３内部よりも遙かに低くなってい
る。このため、脱溶媒パイプ２３出口から第１中間室３
１内に噴出したガス（イオンを含む）は急激な断熱膨張
により略円錐状の高速噴流となり、所定距離だけ離れた
位置にいわゆるマッハディスクが生じる。一般に、この
所定距離（マッハディスク距離）ＸMは、次式で求めら
れる。 ＸM＝０．６７（Ｐ0／Ｐ1）1/2・ｄ ここで、ｄは脱溶媒パイプ２３の出口口径であるので、
ここではｄ＝Ｄ0である。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】脱溶媒パイプ２３中に
おいてイオンはほぼその中心軸に沿って進み、脱溶媒パ
イプ２３を出た後もマッハディスクまではほぼ直進する
と考えられる。ガス流はマッハディスク距離より下流側
では残留ガス分子との衝突による熱運動流れに戻るか
ら、その進行方向が乱れ、イオン流もこの影響を受け
る。このため、イオンを効率よくサンプリングするに
は、スキマー３６の通過孔をマッハディスク距離ＸM以
内に配置するとよい。一方、通過孔を脱溶媒パイプ２３
の出口に近付け過ぎると、イオンは効率よくサンプリン
グできるものの、同時に噴出したガス分子の第２中間室
３２への飛込みも多くなる。このため、第２中間室３２
の真空度が劣化し易くなり、真空度を維持するには高い
排気能力を有する真空ポンプを用いなければならない。
このため、イオンのサンプリング効率とガス分子の飛込
みの少なさとの両者を満足するには、スキマー３６の通
過孔をマッハディスク距離ＸM又はそのやや内側に配置
するのが最適である。このように、従来の構成では、ス
キマーの通過孔の位置の調整は極めて微妙であり、適切
な位置に配置されないとイオンのサンプリング効率が極
端に落ちる、或いは、多くのガス分子が通過孔を通り抜
け後段の真空排気の負担が重くなるという問題があっ
た。
おいてイオンはほぼその中心軸に沿って進み、脱溶媒パ
イプ２３を出た後もマッハディスクまではほぼ直進する
と考えられる。ガス流はマッハディスク距離より下流側
では残留ガス分子との衝突による熱運動流れに戻るか
ら、その進行方向が乱れ、イオン流もこの影響を受け
る。このため、イオンを効率よくサンプリングするに
は、スキマー３６の通過孔をマッハディスク距離ＸM以
内に配置するとよい。一方、通過孔を脱溶媒パイプ２３
の出口に近付け過ぎると、イオンは効率よくサンプリン
グできるものの、同時に噴出したガス分子の第２中間室
３２への飛込みも多くなる。このため、第２中間室３２
の真空度が劣化し易くなり、真空度を維持するには高い
排気能力を有する真空ポンプを用いなければならない。
このため、イオンのサンプリング効率とガス分子の飛込
みの少なさとの両者を満足するには、スキマー３６の通
過孔をマッハディスク距離ＸM又はそのやや内側に配置
するのが最適である。このように、従来の構成では、ス
キマーの通過孔の位置の調整は極めて微妙であり、適切
な位置に配置されないとイオンのサンプリング効率が極
端に落ちる、或いは、多くのガス分子が通過孔を通り抜
け後段の真空排気の負担が重くなるという問題があっ
た。
【０００９】なお、上記構成では、ニードル２２の中心
軸と脱溶媒パイプ２３の中心軸とを平行にずらすことに
より大きな液滴が脱溶媒パイプ２３に飛び込むことを防
止したり、或いは、脱溶媒パイプ２３とスキマー３６と
の間にイオン偏向のための電極板を配置したりすること
もあるが、いずれの場合でもスキマー３６の位置調整が
微妙であることに変わりはない。
軸と脱溶媒パイプ２３の中心軸とを平行にずらすことに
より大きな液滴が脱溶媒パイプ２３に飛び込むことを防
止したり、或いは、脱溶媒パイプ２３とスキマー３６と
の間にイオン偏向のための電極板を配置したりすること
もあるが、いずれの場合でもスキマー３６の位置調整が
微妙であることに変わりはない。
【００１０】本発明は上記課題を解決するために成され
たものであり、その目的とするところは、スキマーの通
過孔等のイオンサンプリング部の位置精度の許容範囲を
広げつつ、イオンを効率的にサンプリングする一方、不
所望のガス分子の後段への飛込みを排除することができ
るＬＣ／ＭＳインタフェイスを提供することにある。
たものであり、その目的とするところは、スキマーの通
過孔等のイオンサンプリング部の位置精度の許容範囲を
広げつつ、イオンを効率的にサンプリングする一方、不
所望のガス分子の後段への飛込みを排除することができ
るＬＣ／ＭＳインタフェイスを提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明は、液体クロマトグラフ質量分析装置
の液体クロマトグラフ部から与えられる液体試料をイオ
ン化して質量分析部に導入するためのＬＣ／ＭＳインタ
フェイスにおいて、 a)液体試料を噴霧する噴霧手段を備えた、大気圧下にあ
る霧化室と、 b)該霧化室の後段に設けた真空室と、 c)前記霧化室で発生したイオンを前記真空室に輸送する
ための輸送管であって、その管内の一部が霧化室側入口
の内径及び真空室側出口の内径よりも太い内径となって
いる輸送管と、 d)該輸送管の出口から所定距離だけ離れた位置に配置し
たイオン採取手段と、を備えたことを特徴としている。
に成された本発明は、液体クロマトグラフ質量分析装置
の液体クロマトグラフ部から与えられる液体試料をイオ
ン化して質量分析部に導入するためのＬＣ／ＭＳインタ
フェイスにおいて、 a)液体試料を噴霧する噴霧手段を備えた、大気圧下にあ
る霧化室と、 b)該霧化室の後段に設けた真空室と、 c)前記霧化室で発生したイオンを前記真空室に輸送する
ための輸送管であって、その管内の一部が霧化室側入口
の内径及び真空室側出口の内径よりも太い内径となって
いる輸送管と、 d)該輸送管の出口から所定距離だけ離れた位置に配置し
たイオン採取手段と、を備えたことを特徴としている。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明に係るＬＣ／ＭＳインタフ
ェイスでは、噴霧手段から噴出されたガスとイオンとが
輸送管に飛び込むと、イオンは輸送管に印加されている
電圧により管内に発生する電位の影響を受けて、輸送管
の中心軸付近を通過する。一方、ガスは内径つまり断面
積の広い部分を通過する際にその内部で広がるので、こ
れにより、輸送管の出口端の内側（上流側）と外側（下
流側）との圧力差は従来のように同一内径の輸送管に比
べて小さくなる。このため、輸送管の出口において噴出
するガスの速度は従来と比較して遅くなり、マッハディ
スクは生じにくい。このため、輸送管を出たイオンは、
中心軸の略延長線上に配置されているイオン採取手段に
より採取され、一方、ガスは噴出直後から大きく広がる
のでイオン採取手段には捕らわれにくい。
ェイスでは、噴霧手段から噴出されたガスとイオンとが
輸送管に飛び込むと、イオンは輸送管に印加されている
電圧により管内に発生する電位の影響を受けて、輸送管
の中心軸付近を通過する。一方、ガスは内径つまり断面
積の広い部分を通過する際にその内部で広がるので、こ
れにより、輸送管の出口端の内側（上流側）と外側（下
流側）との圧力差は従来のように同一内径の輸送管に比
べて小さくなる。このため、輸送管の出口において噴出
するガスの速度は従来と比較して遅くなり、マッハディ
スクは生じにくい。このため、輸送管を出たイオンは、
中心軸の略延長線上に配置されているイオン採取手段に
より採取され、一方、ガスは噴出直後から大きく広がる
のでイオン採取手段には捕らわれにくい。
【００１３】
【発明の効果】このように、本発明に係るＬＣ／ＭＳイ
ンタフェイスによれば、出口に配置するイオン採取部の
位置の許容範囲が広がり、従来のインタフェイスのよう
にマッハディスクの発生位置を考慮した厳密な配置によ
らずとも、輸送管から飛び出したイオンを効率的に採取
し、他方補助ガス等の不所望のガス分子はできる限り排
除することができる。
ンタフェイスによれば、出口に配置するイオン採取部の
位置の許容範囲が広がり、従来のインタフェイスのよう
にマッハディスクの発生位置を考慮した厳密な配置によ
らずとも、輸送管から飛び出したイオンを効率的に採取
し、他方補助ガス等の不所望のガス分子はできる限り排
除することができる。
【００１４】
【実施例】以下、本発明に係るＬＣ／ＭＳインタフェイ
スの一実施例を図１により説明する。図１は本実施例の
構成図である。本発明に係るＬＣ／ＭＳインタフェイス
の特徴は、従来のように入口から出口まで一定の内径Ｄ
0を有する脱溶媒パイプを用いる代わりに、図１に示し
たように、その内部における内径Ｄ2が、入口端側内径
Ｄ0及び出口端側内径Ｄ1よりも大きくなっている、内径
が不均一の脱溶媒パイプ２３を用いることにある。図１
では、入口端側内径Ｄ0と出口端側内径Ｄ1とは同一にな
っているが、Ｄ0＜Ｄ1＜Ｄ2の関係になるようにしても
よい。
スの一実施例を図１により説明する。図１は本実施例の
構成図である。本発明に係るＬＣ／ＭＳインタフェイス
の特徴は、従来のように入口から出口まで一定の内径Ｄ
0を有する脱溶媒パイプを用いる代わりに、図１に示し
たように、その内部における内径Ｄ2が、入口端側内径
Ｄ0及び出口端側内径Ｄ1よりも大きくなっている、内径
が不均一の脱溶媒パイプ２３を用いることにある。図１
では、入口端側内径Ｄ0と出口端側内径Ｄ1とは同一にな
っているが、Ｄ0＜Ｄ1＜Ｄ2の関係になるようにしても
よい。
【００１５】補助ガスの流れに乗ってニードル２２先端
より強制噴霧された帯電液滴は、霧化室２１中の大気成
分と衝突して分裂して微細液滴となるとともに、液滴中
の溶媒が蒸発して、液滴から発生したイオンと微細液滴
とが入り混じった状態で脱溶媒パイプ２３中に飛び込
む。脱溶媒パイプ２３には電圧源Ｖ２より電圧が印加さ
れ、そのパイプ２３内には中心軸より同心円上に均一な
電位が生じているから、イオンはほぼその中心軸に沿っ
て脱溶媒パイプ２３中を右方向へ進む。
より強制噴霧された帯電液滴は、霧化室２１中の大気成
分と衝突して分裂して微細液滴となるとともに、液滴中
の溶媒が蒸発して、液滴から発生したイオンと微細液滴
とが入り混じった状態で脱溶媒パイプ２３中に飛び込
む。脱溶媒パイプ２３には電圧源Ｖ２より電圧が印加さ
れ、そのパイプ２３内には中心軸より同心円上に均一な
電位が生じているから、イオンはほぼその中心軸に沿っ
て脱溶媒パイプ２３中を右方向へ進む。
【００１６】一方、脱溶媒パイプ２３に飛び込んだガス
分子も脱溶媒パイプ２３中を右方向へ進むが、内径がＤ
2に広がった箇所で進行方向が乱れ、速度が低下する。
このため、この部分では圧力はＰ0とＰ1の中間であるＰ
2になる。また、脱溶媒パイプ２３の出口端の内側での
圧力もほぼＰ2になる。つまり、本実施例では、脱溶媒
パイプ２３の出口端の内側（上流側）と外側（下流側）
との圧力差が従来のものよりも遙かに小さくなる。この
ため、脱溶媒パイプ２３出口から噴出するガス分子の速
度は遅く、マッハディスクは発生しない。すなわち、ガ
ス分子は脱溶媒パイプ２３出口から飛び出した直後から
第１中間室３１内で大きく広がる。従って、スキマー３
６の通過孔が脱溶媒パイプ２３出口端の近傍に配置され
ていても、その通過孔に飛び込むガス分子の数は少な
い。
分子も脱溶媒パイプ２３中を右方向へ進むが、内径がＤ
2に広がった箇所で進行方向が乱れ、速度が低下する。
このため、この部分では圧力はＰ0とＰ1の中間であるＰ
2になる。また、脱溶媒パイプ２３の出口端の内側での
圧力もほぼＰ2になる。つまり、本実施例では、脱溶媒
パイプ２３の出口端の内側（上流側）と外側（下流側）
との圧力差が従来のものよりも遙かに小さくなる。この
ため、脱溶媒パイプ２３出口から噴出するガス分子の速
度は遅く、マッハディスクは発生しない。すなわち、ガ
ス分子は脱溶媒パイプ２３出口から飛び出した直後から
第１中間室３１内で大きく広がる。従って、スキマー３
６の通過孔が脱溶媒パイプ２３出口端の近傍に配置され
ていても、その通過孔に飛び込むガス分子の数は少な
い。
【００１７】脱溶媒パイプ２３中から放出されたイオン
も上記ガス流の乱れの影響を若干受けるが、殆どは図１
に示すように直進するので、スキマー３６の通過孔を通
って第２中間室３２へ送られる。
も上記ガス流の乱れの影響を若干受けるが、殆どは図１
に示すように直進するので、スキマー３６の通過孔を通
って第２中間室３２へ送られる。
【００１８】なお、上記実施例は一例であって、本発明
の趣旨の範囲で適宜変更や修正を行なえることは明らか
である。
の趣旨の範囲で適宜変更や修正を行なえることは明らか
である。
【図１】 本発明のＬＣ／ＭＳインタフェイスの一実施
例の構成図。
例の構成図。
【図２】 一般の液体クロマトグラフ質量分析装置の概
略構成図。
略構成図。
【図３】 従来のＬＣ／ＭＳインタフェイスの構成図。
２１…霧化室 ２２…ニードル ２３…脱溶媒パイプ ２４…ネブライズ管 ３１…第１中間室 ３６…スキマー Ｖ１、Ｖ２…電圧源
Claims (1)
- 【請求項１】 液体クロマトグラフ質量分析装置の液体
クロマトグラフ部から与えられる液体試料をイオン化し
て質量分析部に導入するためのＬＣ／ＭＳインタフェイ
スにおいて、 a)液体試料を噴霧する噴霧手段を備えた、大気圧下にあ
る霧化室と、 b)該霧化室の後段に設けた真空室と、 c)前記霧化室で発生したイオンを前記真空室に輸送する
ための輸送管であって、その管内の一部が霧化室側入口
の内径及び真空室側出口の内径よりも太い内径となって
いる輸送管と、 d)該輸送管の出口から所定距離だけ離れた位置に配置し
たイオン採取手段と、 を備えたことを特徴とするＬＣ／ＭＳインタフェイス。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9286000A JPH11108894A (ja) | 1997-09-30 | 1997-09-30 | Ｌｃ／ｍｓインタフェイス |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9286000A JPH11108894A (ja) | 1997-09-30 | 1997-09-30 | Ｌｃ／ｍｓインタフェイス |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11108894A true JPH11108894A (ja) | 1999-04-23 |
Family
ID=17698717
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9286000A Pending JPH11108894A (ja) | 1997-09-30 | 1997-09-30 | Ｌｃ／ｍｓインタフェイス |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11108894A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005001879A3 (en) * | 2003-02-14 | 2005-08-11 | Mds Sciex | Atmospheric pressure charged particle discriminator for mass spectrometry |
| WO2010126781A1 (en) * | 2009-05-01 | 2010-11-04 | Thermo Finnigan Llc | Ion transfer tube and mass spectrometer system |
| WO2013112680A1 (en) * | 2012-01-26 | 2013-08-01 | University Of The Sciences In Philadelphia | Ionization at intermediate pressure for atmospheric pressure ionization mass spectrometers |
| CN109075015A (zh) * | 2016-04-22 | 2018-12-21 | 史密斯探测公司 | 具有鞘气流的离子传输管 |
-
1997
- 1997-09-30 JP JP9286000A patent/JPH11108894A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005001879A3 (en) * | 2003-02-14 | 2005-08-11 | Mds Sciex | Atmospheric pressure charged particle discriminator for mass spectrometry |
| US7098452B2 (en) | 2003-02-14 | 2006-08-29 | Mds Sciex | Atmospheric pressure charged particle discriminator for mass spectrometry |
| JP2007500927A (ja) * | 2003-02-14 | 2007-01-18 | エムディーエス シエックス | 質量分析のための大気圧荷電粒子選別器 |
| US7462826B2 (en) | 2003-02-14 | 2008-12-09 | Mds Sciex | Atmospheric pressure charged particle discriminator for mass spectrometry |
| WO2010126781A1 (en) * | 2009-05-01 | 2010-11-04 | Thermo Finnigan Llc | Ion transfer tube and mass spectrometer system |
| US8242440B2 (en) | 2009-05-01 | 2012-08-14 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for an ion transfer tube and mass spectrometer system using same |
| WO2013112680A1 (en) * | 2012-01-26 | 2013-08-01 | University Of The Sciences In Philadelphia | Ionization at intermediate pressure for atmospheric pressure ionization mass spectrometers |
| US9305759B2 (en) | 2012-01-26 | 2016-04-05 | University Of The Sciences In Philadelphia | Ionization at intermediate pressure for atmospheric pressure ionization mass spectrometers |
| CN109075015A (zh) * | 2016-04-22 | 2018-12-21 | 史密斯探测公司 | 具有鞘气流的离子传输管 |
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