JPH0854372A - 溶質サンプルのイオン化分子への変換装置 - Google Patents

溶質サンプルのイオン化分子への変換装置

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JPH0854372A
JPH0854372A JP7197083A JP19708395A JPH0854372A JP H0854372 A JPH0854372 A JP H0854372A JP 7197083 A JP7197083 A JP 7197083A JP 19708395 A JP19708395 A JP 19708395A JP H0854372 A JPH0854372 A JP H0854372A
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charged
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electrospray
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ジェイムズ・エイ・アプフェル・ジュニア
Mark H Werlich
マーク・エイチ・ワーリッチ
James L Bertsch
ジェイムズ・エル・ベルツ
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Hewlett Packard Co
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 流量分配器を用いることなく、１ｍｌ／分を
上回る流速で、分析対象サンプルをイオン化するための
変換装置を提供する。 【解決手段】 溶液を通す第１オリフィスを有し、帯電
分子を含む電気噴霧の形で溶液を放出する第１出口１５
を有する第１通路１４；帯電イオン質量を検出し、測定
することのできる分析装置；第１電圧源に接続され、電
気噴霧の中の帯電分子が第１の出口１５から直接通過
し、横方向に移動して、ハウジングの開口部２１を通っ
てハウジング内に包含された第２通路２２の方へ横切っ
て移動できるように、第１出口と分析装置との間に置か
れた電導性ハウジング１６；第２電圧源に接続され、電
気噴霧の中から引付けた帯電分子を受けるオリフィス１
７を有し、分析装置への第２出口を有する第２通路２
２；からなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＬＣ／ＭＳに対す
る電気噴霧において改善されたイオン収集効率を得るた
めの技術に関する。
【０００２】
【技術背景】電気噴霧ＬＣ／ＭＳ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｈ
ｒｏｍａｔｏｇｒａｐｈｙ／Ｍａｓｓ Ｓｐｅｃｔｒｏ
ｍｅｔｅｒ）用の初期のシステムは、流量分配器（ｆｌ
ｏｗｓｐｌｉｔｔｅｒ）を利用するものであって、ＨＰ
ＬＣのカラム流出液の大部分を廃棄物またはフラクショ
ン・コレクターに向ける一方、小部分、典型的には毎分
５〜５０マイクロリットルを“噴霧室”に導くように分
配するものである。低流速が電気噴霧システムに導入さ
れているため、静電力を用いるだけで噴霧を発生させる
ことが可能になっている。ＥＳ（Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｓｐ
ｒａｙ）／ＭＳは、濃度感応（ｃｏｎｃｅｎｔｒａｔｉ
ｏｎ ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ）検出器であるため、全流量
を噴霧室に導入するものと比べて（チャージおよびサン
プリング効果が等しいと仮定して）、感度損失を来さな
い。しかし、流量分配器を用いることには重大な目詰ま
り問題があり、さらに再現性が悪いことから、悪評を得
ている。
【０００３】比較的新しい電気噴霧システムは、静電力
と補助噴霧化（ａｓｓｉｓｔｅｄｎｅｂｕｌｉｚａｔｉ
ｏｎ）を組合わせて帯電噴霧を発生させるものである。
補助噴霧化によってＨＰＬＣ流出液からエアロゾルが生
じる一方、電場は液滴上に電荷を誘発し、これが最終的
にイオン気化プロセスを経て脱溶媒和（ｄｅｓｏｌｖａ
ｔｅｄ）分析物のイオンを発生させることになる。補助
噴霧化は、空気作用、超音波、または熱的噴霧化を用い
て、またはある種の別の噴霧化技術によって行ってよ
い。
【０００４】これらの比較的新しい各噴霧システムで
は、エアロゾル中にある溶媒和液滴が真空系に入らない
ようにシステムを設計する必要があった。これは、いく
つかのやり方で達成されている。
【０００５】現在使用できる１つのシステムでは、エア
ロゾルはサンプリング・オリフィスの軸に関して４５°
程度の角度で“オフ・アクシス（ｏｆｆ ａｘｉｓ）”
で噴霧される。加えて、溶媒和液滴をオリフィスから吹
飛ばすために、向流（ｃｏｕｎｔｅｒ ｃｕｒｒｅｎ
ｔ）の乾燥用気体が、サンプリング・オリフィスの周り
に噴霧される。典型的に用いられる気体の圧力によっ
て、小液滴のプルーム（ｐｌｕｍｅ）が生じ、最適性能
が毎分２００マイクロリットル以下の流速に限定される
ものと思われる。
【０００６】現在利用できる別のシステムでは、エアロ
ゾルは空気作用で発生し、真空系の中へ入るように加熱
キャピラリー管の入口へ直に向けられる。脱溶媒和イオ
ンがキャピラリーに入る代わりに、大きい帯電液滴がキ
ャピラリーに引き寄せられ、その液滴が通過中に脱溶媒
和される。その上、気化作用もキャピラリーで生ずる。
蒸気の超音波ジェットがキャピラリーを出て、そして分
析物のイオンが集束され、質量が分析され検出される。
このシステムには、いくつかの欠点がある。高温のキャ
ピラリーの使用により、熱的に不安定なサンプルの熱劣
化が招来されるかも知れない。超音波ジェットの膨張で
脱溶媒和イオンと蒸気が再凝縮し、溶媒クラスター（ｃ
ｌｕｓｔｅｒ）およびバックグラウンド信号を生ずるこ
とになるかも知れない。これらのクラスターは、衝突で
誘発される作用によって再分離されるだろうが、これ
は、故意に衝突誘発分離される分析サンプルの構造特性
の同定に干渉するかも知れない。キャピラリーを出る大
量の溶媒和蒸気、イオンおよび液滴のために、検出器
は、検出器を叩く中性の液滴に起因する雑音を防ぐべ
く、キャピラリーに関して事実上オフ・アクシスで配置
されなければならない。さらに、真空に入る溶媒のた
め、大き目のポンプが必要となる。
【０００７】さらに別の現在利用できるシステムでは、
噴霧は超音波で発生する。そのシステムは、向流乾燥用
気体と共に用いられ、通常、サンプリング・キャピラリ
ーへ向けられた噴霧について操作されるものである。専
門家の見地から、このシステムの主なる欠点は、最適性
能が毎分５００マイクロリットル未満に事実上限定され
ることと、水性移動相に関して厄介な問題があるという
ことである。さらに、その装置は複雑で、かつ機械的・
電子工学的故障を起こしがちである。
【０００８】通常用いられる別のシステムでは、空気作
用ネブライザ（噴霧器）が実際上（他のシステムと比
べ）より高い入口圧力で用いられる。これによって、高
度に平行化し、かつ方向付けされた液滴ビームになる。
これは、オフ・アクシスで、ノズルキャップのオリフィ
スの側面に向けられる。これは完全に稼動するが、おそ
らく浮遊液滴に起因するいくらかの雑音はやはり存在す
る。ネブライザ・ジェットは、信号の強さを維持しつつ
雑音を最小にするために、注意深く方向を定めなければ
ならない。
【０００９】
【発明の目的】本発明は、電気噴霧であろうと、大気圧
の化学的イオン化（ＡＰＣＩ）であろうと、流量分配し
ないで、１ｍｌ／分を上回る流速で、慣用の高速液体ク
ロマトグラフィーを用いて、大気圧イオン化（ＡＰＩ）
を行う可能性を有する、溶質サンプルのイオン化分子へ
の変換装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【発明の概要】本発明によって、脱溶媒和イオンが比較
的大容積の気化カラム流出液から分離でき、従ってでき
るだけ多くの溶媒を中に入れないで、できるだけ小量の
溶媒を入れながら、質量検出・分析用の真空系に脱溶媒
和イオンを導入することが可能となる。本発明は、対象
とする脱溶媒和イオンを大容積の蒸気から分離し、かつ
その脱溶媒和イオンを（大気圧で動作する）電気噴霧
（ＥＳ）室から（１０−６〜１０−４Ｔｏｒｒで動作す
る）質量分析計へ向ける可能性を提供するものである。
その選択は、最大量の分析物が質量分析・検出用の真空
系に導かれるために、真空系を破ることなく、かつシス
テムの感度を犠牲にすることなく、イオン導入を可能に
するものである。
【００１１】本発明による直交イオン・サンプリング
は、溶媒蒸気と溶媒和液滴を、それらが真空系に入らな
いような方向に外して方向付けしながら、サンプリング
・オリフィスを通過させて帯電液滴を噴霧することによ
り、分析物のより効率的濃縮を可能にするものである。
【００１２】本発明に沿って構成された装置の雑音レベ
ルは、現行システムの５倍ほどまで落とされ、従って雑
音に比して信号が大きくなり、感度がより高くなる。ニ
ードル位置、気体流量および電圧を最適化すれば、小さ
い変化にほとんど感じなくなるため、性能は単純化さ
れ、システムはより強靭になる。性能が単純化され、か
つ最適化に対する必要性が低減されると、システムは、
流量および移動相の条件にほとんど依存しなくなる。最
適化に対する必要性が低減されることは、移動相の流量
と比率の可変範囲を拡張する。このことは、調整しない
で、種々の条件下で、システムを運転してよいことを意
味するものである。
【００１３】本発明で教示される別の利点は、噴霧は排
気物ラインに直接方向付けされ、その系から容易に除去
できるという事実のために、排気物除去が単純化される
ということである。さらに、本発明は、何ら感度損失を
しないで、高電圧要素を排除する選択肢を提供するもの
である。
【００１４】
【発明の実施の形態】図１は、本発明によって構成した
装置１０を示すものである。従来のサンプル導入におけ
るように、液体サンプルは、第１の通路１４をもつネブ
ライザを通して導かれ、帯電液滴の蒸気すなわち“電気
噴霧”１１を作り出す条件下で、第２のオリフィスすな
わち第１の通路の出口１５から出る。本発明は、従来の
電気噴霧と比べて、幾分異なった電気噴霧粒子の輸送を
もたらす。図１は、第１の通路の第２のオリフィスの出
口１５から第２の通路の入口１７までの距離を通って、
放出電気噴霧１１の軸と第２の通路２２とがなす角度Θ
が互いに７５°と１０５°の間にある第２の通路１８に
入る電気噴霧液滴の輸送を示すものである。その角度
は、１０５°より大きく、原理的には１８０°ほどの大
きさであってよい；最良の結果は、９０°またはその近
辺に設定した際に得られた。帯電液滴は、第１の通路の
出口１５と第２の通路の開口部１７との間のギャップを
横切って第２の通路の開口部１７へ、横方向に静電的に
引きつけられる。静電引力は、複数の電圧源を装置部品
に付着させて生じさせる。第１の電圧源１６は、第２の
通路２２を収容しているハウジング１９に接続される。
ハウジングは、必ずしも囲いでなくて、イオンに対する
ガイドとして作用でき、かつ乾燥用気体の流動をサポー
トすることのできる任意の形状であってよい（下記参
照）。第２の電圧源１８は、第２の通路２２に接続され
る。第１の通路１４は、一般に接地される。
【００１５】ギャップを横切り第２の通路２２への入口
に近づく過程で、特に第２の通路２２を包含しているハ
ウジング１９の開口部２１を通過後は、電気噴霧は、気
体２０のクロスフロー（ｃｒｏｓｓ ｆｌｏｗ）の支配
−−溶媒を液滴から取り除き、それによって小さい帯電
液滴を残すように作用する条件−−を受ける。小液滴
は、質量分析計（図示せず）のような、粒子の質量と電
荷を検出・測定できる分析装置の操作で、分析し易いも
のである。第２の通路は、質量分析計もしくは等価の装
置の方へ出ていく。
【００１６】空気作用のネブライザを有する標準の電気
噴霧システム（ヒューレット・パッカード社製のＨＰ５
９８９）は、基本構造を与えるものである。プレキシガ
ラス（ｐｌｅｘｉｇｌａｓｓ）またはその他衝撃と含有
有毒蒸気を防御する適当な材料から作られた噴霧箱１２
は、標準噴霧室の代わりをするものである。離れた高電
圧点間の距離が放電を防ぐのに十分である限り、噴霧箱
１２の内部にネブライザ１４を様々な形態で配置してよ
い。高電圧にある付加面は、噴霧が経験する電場を形作
るために用いてよい。図１に示した例では、システム
は、脱溶媒和を助長し、噴霧液滴１１が第２の通路１７
のオリフィスと真空系（図示せず）に入り込むことを防
ぐ乾燥用気体２０を包含する。それに代わる例では、内
部源のオフ・アクシスな幾何学的配置において、第２の
通路２２として、キャピラリーと四重極および検出器構
成部品とがオフ・アクシスとなるように、加熱キャピラ
リーを包含してよい。
【００１７】図１に示す構成は、一般的に、典型的には
−４．５ｋＶに設定された第２の電圧源１８と、−４ｋ
Ｖの第１の電圧源１６とを有し、また一般的に第１の通
路１４は接地したニードルから構成される。気体、通常
は公称２００〜４００℃で毎分約１０標準リットルの窒
素、が典型的にクロスフローの乾燥用気体として用いら
れるが、他の気体を用いてもよい。乾燥用気体２０は、
入ってくる帯電分子の軸に対して約９０°の開口（ａｐ
ｅｒｔｕｒｅ）を横切って流れる。
【００１８】ここで用いる用語、“通路”は、どんな形
状であれ“イオンガイド”を意味する。通路は、オリフ
ィスと呼んでよいような、開口部直径に比して長さが短
いことはあり得る。用いられているか、または用いられ
るようになってよい、キャピラリーを含む他のイオンガ
イドは、本発明で作動することができる。ここにおける
構成は、これに限定されるものではなく、かつ熟練した
当業者は、ここでは特に言及されなかったが、可能な諸
構成が本発明の教示と特許請求の範囲に包含されること
を理解するであろう。
【００１９】
【実施例】多くの異なった構成が可能であることが立証
されている。試験したいくつかの構成例を下記する。
【００２０】図２は、発明の１構成を示すもので、第３
の電圧源、プレート２４は、第１の通路の出口１５の横
に配置され、それに近い側面の端部に第１の電圧源１６
と第２の通路の空洞１７とが配置される。プレート２４
は、第１の電圧源１６に関連して正の電圧を通す。実験
から、帯電液滴の電気噴霧は、プレート２４と帯電した
ハウジング１９との間で平均電圧を“経験する”ことが
示されている。結果は、反射電極効果が取り込まれ、ま
たイオン収集収率が電場と気体の流れのパターンとの双
方を注意深く整えることによって増加されるかも知れな
いことを示唆している。
【００２１】図３は、接地した噴霧室２６が追加された
図２におけるような２つの電圧源系を示すものである。
噴霧室２６は、エアロゾルを含有し、凝縮蒸気を廃棄口
へ運ぶよう動作する。
【００２２】図４は、図３におけるように配置した全要
素を有し、接地ニードルまたは第１の通路１４から出て
くる流れを取り囲む環状電極２８を追加したものを示
す。環状電極２８は、液滴と環状電極２８との間の電荷
の電位差によって液滴に電荷を誘発するものである。シ
ステムの他の電位は、イオンのサンプリングを行うのに
用いてよい。
【００２３】以上のように、本発明の溶質サンプルのイ
オン化分子への変換装置は、次のような好ましい実施態
様を有する。
【００２４】〔１〕第１の通路の中心軸と第２の通路の
中心軸とがなす角度（Θ）が７５°より大きく、１８０
°以下である特許請求の範囲の請求項１（以下、単に
「請求項１」と略す）記載の装置。
【００２５】〔２〕乾燥用気体（２０）の流れが第２の
通路のオリフィス（１７）を横切ることができるように
ハウジング（１６）を構成し、その結果ハウジングの開
口部を通過する分子が第２の通路へ侵入中に乾燥用気体
に出会うようにした上記〔１〕の装置。
【００２６】〔３〕第１と第２の電圧源を電圧差を作り
出すように互いに関連させて設定し、その結果その差が
帯電分子によって経験され、かつ帯電分子が乾燥用気体
中を通って第２の通路のオリフィスの方向へハウジング
の開口部中を移動するようにした請求項１記載の装置。
【００２７】〔４〕さらに、第１の通路と、縦方向に位
置合せされかつ第１の通路を越えてハウジングの反対位
置に置かれた第３の電圧源（２９）を包含する上記
〔３〕の装置。
【００２８】〔５〕第１の通路がニードルであり、かつ
第２の通路がキャピラリーである上記〔３〕の装置。
【００２９】〔６〕前記キャピラリーが加熱されている
上記〔５〕の装置。
【００３０】〔７〕前記第２の通路がオリフィスである
上記〔５〕の装置。
【００３１】
【発明の効果】本発明によれば、流量分配器を用いるこ
となく、１ｍｌ／分を上回る流速で、サンプルをイオン
化することができる。また、本発明によれば、溶媒の導
入量をできるだけ少なくして、質量検出・分析用の真空
系に脱溶媒和イオンを導入することができ、この結果と
して、より正確な質量分析を行うことができるととも
に、該溶媒導入に起因する雑音を減少することができ、
かつ真空ポンプを大きめのものとする必要もない。さら
に、本発明では、溶媒クラスター等を生じることがない
ため、該クラスターの再分離に起因するサンプルの構造
特性の同定への干渉が解消される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による装置の一例を説明するための図で
ある。
【図２】本発明による装置の代替例を説明するための図
である。
【図３】本発明による装置の代替例を説明するための図
である。
【図４】本発明による装置の代替例を説明するための図
である。
【符号の説明】
１０ 本発明による装置 １１ 電気噴霧 １２ 噴霧箱１２ １４ 第１の通路（ネブライザ） １５ 第１の通路の出口 １６ 第１の電圧源 １７ 第２の通路の開口部 １８ 第２の電圧源 １９ ハウジング ２０ 気体 ２２ 第２の通路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジェイムズ・エル・ベルツ アメリカ合衆国カリフォルニア州パロアル ト サウス・コート・ストリート 3251

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 溶質サンプルを分析するために該サンプ
    ルをイオン化分子に変換する装置であって、 溶液を通す第１のオリフィスを有し、かつ帯電分子を含
    有する電気噴霧の形で溶液を放出する第１の出口（１
    ５）を有する第１の通路（１４）と、 帯電するイオン質量を検出し、測定することのできる分
    析装置と、 第１の電圧源に接続されていて、かつ電気噴霧の中の帯
    電分子が第１の出口（１５）から直接通過し、横方向に
    移動して、ハウジングの開口部（２１）を通ってハウジ
    ング内に包含された第２の通路（２２）の方へ横切って
    移動できるように、第１の出口と分析装置との間に置か
    れた電導性ハウジング（１６）と、 第２の電圧源に接続されており、電気噴霧の中から引き
    付けた帯電分子を受けるオリフィス（１７）を有し、か
    つ分析装置への第２の出口を有する第２の通路（２２）
    とからなることを特徴とする溶質サンプルのイオン化分
    子への変換装置。
JP7197083A 1994-07-11 1995-07-10 溶質サンプルのイオン化分子への変換装置 Pending JPH0854372A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
US273250 1994-07-11
US08/273,250 US5495108A (en) 1994-07-11 1994-07-11 Orthogonal ion sampling for electrospray LC/MS

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JPH0854372A true JPH0854372A (ja) 1996-02-27

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ID=23043172

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JP7197083A Pending JPH0854372A (ja) 1994-07-11 1995-07-10 溶質サンプルのイオン化分子への変換装置

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EP (1) EP0692713A1 (ja)
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014515831A (ja) * 2011-04-20 2014-07-03 マイクロマス ユーケー リミテッド 高速スプレーとターゲットとの相互作用による大気圧イオン源
JP6106864B1 (ja) * 2016-09-21 2017-04-05 ヒューマン・メタボローム・テクノロジーズ株式会社 イオン源アダプタ

Families Citing this family (65)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6653626B2 (en) 1994-07-11 2003-11-25 Agilent Technologies, Inc. Ion sampling for APPI mass spectrometry
US6294779B1 (en) * 1994-07-11 2001-09-25 Agilent Technologies, Inc. Orthogonal ion sampling for APCI mass spectrometry
US5750988A (en) * 1994-07-11 1998-05-12 Hewlett-Packard Company Orthogonal ion sampling for APCI mass spectrometry
JP3274302B2 (ja) 1994-11-28 2002-04-15 株式会社日立製作所 質量分析計
GB9525507D0 (en) * 1995-12-14 1996-02-14 Fisons Plc Electrospray and atmospheric pressure chemical ionization mass spectrometer and ion source
US5868322A (en) * 1996-01-31 1999-02-09 Hewlett-Packard Company Apparatus for forming liquid droplets having a mechanically fixed inner microtube
US5672868A (en) * 1996-02-16 1997-09-30 Varian Associates, Inc. Mass spectrometer system and method for transporting and analyzing ions
US5753910A (en) * 1996-07-12 1998-05-19 Hewlett-Packard Company Angled chamber seal for atmospheric pressure ionization mass spectrometry
US5726448A (en) * 1996-08-09 1998-03-10 California Institute Of Technology Rotating field mass and velocity analyzer
AU4338997A (en) * 1996-09-10 1998-04-02 Analytica Of Branford, Inc. Improvements to atmospheric pressure ion sources
US5838003A (en) * 1996-09-27 1998-11-17 Hewlett-Packard Company Ionization chamber and mass spectrometry system containing an asymmetric electrode
GB2324906B (en) 1997-04-29 2002-01-09 Masslab Ltd Ion source for a mass analyser and method of providing a source of ions for analysis
JP2001516140A (ja) * 1997-09-12 2001-09-25 アナリティカ オブ ブランフォード インコーポレーテッド 多重試料導入質量分光測定法
EP1023742A4 (en) * 1997-10-15 2006-03-22 Analytica Of Branford Inc CURVED INTAKE DEVICE FOR MASS SPECTROMETERS
US6139734A (en) * 1997-10-20 2000-10-31 University Of Virginia Patent Foundation Apparatus for structural characterization of biological moieties through HPLC separation
CN100525876C (zh) 1998-09-17 2009-08-12 阿德文生物系统公司 产生液体电喷射的方法
US6633031B1 (en) 1999-03-02 2003-10-14 Advion Biosciences, Inc. Integrated monolithic microfabricated dispensing nozzle and liquid chromatography-electrospray system and method
US6410914B1 (en) 1999-03-05 2002-06-25 Bruker Daltonics Inc. Ionization chamber for atmospheric pressure ionization mass spectrometry
US6911650B1 (en) * 1999-08-13 2005-06-28 Bruker Daltonics, Inc. Method and apparatus for multiple frequency multipole
JP5057318B2 (ja) 1999-12-30 2012-10-24 アドビオン インコーポレイテッド 多重電気噴霧装置、システム、および方法
EP1248949B1 (en) * 2000-01-18 2013-05-22 Advion, Inc. Electrospray device with array of separation columns and method for separation of fluidic samples
US6627880B2 (en) 2000-02-17 2003-09-30 Agilent Technologies, Inc. Micro matrix ion generator for analyzers
US6967324B2 (en) * 2000-02-17 2005-11-22 Agilent Technologies, Inc. Micro matrix ion generator for analyzers
US6787764B2 (en) 2000-02-18 2004-09-07 Bruker Daltonics, Inc. Method and apparatus for automating a matrix-assisted laser desorption/ionization (MALDI) mass spectrometer
US6777672B1 (en) 2000-02-18 2004-08-17 Bruker Daltonics, Inc. Method and apparatus for a multiple part capillary device for use in mass spectrometry
US6794644B2 (en) * 2000-02-18 2004-09-21 Melvin A. Park Method and apparatus for automating an atmospheric pressure ionization (API) source for mass spectrometry
US6809312B1 (en) 2000-05-12 2004-10-26 Bruker Daltonics, Inc. Ionization source chamber and ion beam delivery system for mass spectrometry
CA2409860A1 (en) * 2000-05-22 2001-11-29 David D. Y. Chen Atmospheric pressure ion lens for generating a larger and more stable ion flux
GB0021902D0 (en) * 2000-09-06 2000-10-25 Kratos Analytical Ltd Ion optics system for TOF mass spectrometer
US6627883B2 (en) * 2001-03-02 2003-09-30 Bruker Daltonics Inc. Apparatus and method for analyzing samples in a dual ion trap mass spectrometer
US6568245B2 (en) * 2001-03-15 2003-05-27 Tsi Incorporated Evaporative electrical detector
US7399961B2 (en) * 2001-04-20 2008-07-15 The University Of British Columbia High throughput ion source with multiple ion sprayers and ion lenses
US6642526B2 (en) * 2001-06-25 2003-11-04 Ionfinity Llc Field ionizing elements and applications thereof
US6902937B2 (en) * 2001-07-13 2005-06-07 Air Liquide America, L.P. Method for the determination of low-concentration anions in the presence of an excess of another anion
US6649908B2 (en) 2001-09-20 2003-11-18 Agilent Technologies, Inc. Multiplexing capillary array for atmospheric pressure ionization-mass spectrometry
WO2003038086A1 (en) * 2001-10-31 2003-05-08 Ionfinity Llc Soft ionization device and applications thereof
JP2003331776A (ja) * 2002-05-10 2003-11-21 Hitachi Ltd イオン源および質量分析装置および質量分析方法
KR100890579B1 (ko) * 2002-08-19 2009-04-27 프로테온 주식회사 Ｒｎａ 결합 단백질의 유전자를 융합파트너로 이용한재조합 단백질의 제조방법
WO2004038752A2 (en) * 2002-10-21 2004-05-06 The Government Of The United States Of America, As Represented By The Secretary, Department Of Health And Human Services Contiguous capillary electrospray sources and analytical device
US6794647B2 (en) 2003-02-25 2004-09-21 Beckman Coulter, Inc. Mass analyzer having improved mass filter and ion detection arrangement
US6997031B2 (en) 2003-05-01 2006-02-14 Waters Corporation Fraction collector for composition analysis
US7015466B2 (en) * 2003-07-24 2006-03-21 Purdue Research Foundation Electrosonic spray ionization method and device for the atmospheric ionization of molecules
US7186972B2 (en) * 2003-10-23 2007-03-06 Beckman Coulter, Inc. Time of flight mass analyzer having improved mass resolution and method of operating same
JP5008568B2 (ja) 2004-10-07 2012-08-22 ウオーターズ・テクノロジーズ・コーポレイシヨン Ｈｐｌｃキャピラリーカラム装置
US20060255261A1 (en) * 2005-04-04 2006-11-16 Craig Whitehouse Atmospheric pressure ion source for mass spectrometry
US20070023677A1 (en) * 2005-06-29 2007-02-01 Perkins Patrick D Multimode ionization source and method for screening molecules
WO2008054855A2 (en) * 2006-04-13 2008-05-08 Ada Technologies, Inc. Electrotherapeutic treatment device and method
US7534997B2 (en) * 2006-05-25 2009-05-19 Agilent Technologies, Inc. Mass spectrometer interface for atmospheric ionization ion sources
JP2010540965A (ja) 2007-12-05 2010-12-24 オールテック・アソシエイツ・インコーポレーテッド サンプルの画分を収集しサンプルを分析するための方法および装置
WO2009124298A2 (en) 2008-04-04 2009-10-08 Agilent Technologies, Inc. Ion sources for improved ionization
JP5653930B2 (ja) 2008-12-04 2015-01-14 オールテック・アソシエイツ・インコーポレーテッド 流体のアリコットサンプルを移動させるための方法および装置
WO2010068276A1 (en) 2008-12-10 2010-06-17 Alltech Associates Inc. Chromatography systems and system components
US8314934B2 (en) 2009-09-01 2012-11-20 Alltech Associates, Inc. Methods and apparatus for analyzing samples and collecting sample fractions
RU2451364C1 (ru) * 2010-11-10 2012-05-20 Учреждение Российской академии наук Институт аналитического приборостроения Российской академии наук (ИАП РАН) Устройство ортогонального ввода ионов в ион-дрейфовый или масс-спектрометр
US8698075B2 (en) * 2011-05-24 2014-04-15 Battelle Memorial Institute Orthogonal ion injection apparatus and process
RU2530783C2 (ru) * 2012-04-27 2014-10-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт аналитического приборостроения Российской академии наук (ИАП РАН) Устройство электрораспыления хроматографических потоков анализируемых растворов веществ для источников ионов
US9851333B2 (en) 2013-05-29 2017-12-26 Dionex Corporation Nebulizer for charged aerosol detection (CAD) system
RU2612324C2 (ru) * 2014-10-20 2017-03-07 Общество с ограниченной ответственностью "Альфа" (ООО "Альфа") Способ непрерывного стабильного электрораспыления растворов в источнике ионов при атмосферном давлении
RU2587679C2 (ru) * 2014-11-14 2016-06-20 Федеральное государственное унитарное предприятие Научно-технический центр радиационно-химической безопасности и гигиены ФМБА России Устройство непрерывного стабильного электрораспыления растворов в источнике ионов при атмосферном давлении
RU2608361C2 (ru) * 2015-06-04 2017-01-18 Общество с ограниченной ответственностью "Альфа" (ООО "Альфа") Устройство образования бескапельного ионного потока при электрораспылении анализируемых растворов в источниках ионов с атмосферным давлением
WO2019162853A1 (en) * 2018-02-20 2019-08-29 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Integrated electrospray ion source
RU2733530C1 (ru) * 2019-06-27 2020-10-05 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт аналитического приборостроения Российской академии наук Устройство для нанесения наночастиц оксидов металлов на металлическую поверхность при нормальных условиях
US12259370B2 (en) 2020-03-08 2025-03-25 The Board Of Regents Of The University Of Oklahoma Electrospray assisted capillary device for processing ultra low-volume samples
US11340200B2 (en) * 2020-03-08 2022-05-24 The Board Of Regents Of The University Of Oklahoma Electrospray assisted capillary device for processing ultra low-volume samples
GB202004961D0 (en) 2020-04-03 2020-05-20 Micromass Ltd De-clustering guide

Family Cites Families (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US34757A (en) * 1862-03-25 Improved composition for manufacture of moldings and other purposes
US3867631A (en) * 1972-09-28 1975-02-18 Varian Associates Leak detection apparatus and inlet interface
US4023398A (en) * 1975-03-03 1977-05-17 John Barry French Apparatus for analyzing trace components
JPS5266488A (en) * 1975-11-28 1977-06-01 Hitachi Ltd Mass spectrometer directly connected with gas chromatography
US4209696A (en) * 1977-09-21 1980-06-24 Fite Wade L Methods and apparatus for mass spectrometric analysis of constituents in liquids
US4300044A (en) * 1980-05-07 1981-11-10 Iribarne Julio V Method and apparatus for the analysis of chemical compounds in aqueous solution by mass spectroscopy of evaporating ions
JPS5919623B2 (ja) * 1982-06-28 1984-05-08 株式会社東芝 質量分析計の試料導入装置
JPS5935347A (ja) * 1982-08-20 1984-02-27 Masahiko Tsuchiya イオン生成装置
US4542293A (en) * 1983-04-20 1985-09-17 Yale University Process and apparatus for changing the energy of charged particles contained in a gaseous medium
US4531056A (en) * 1983-04-20 1985-07-23 Yale University Method and apparatus for the mass spectrometric analysis of solutions
GB2150289A (en) * 1983-11-22 1985-06-26 Prutec Ltd Introduction of samples into a mass spectrometer
US4667100A (en) * 1985-04-17 1987-05-19 Lagna William M Methods and apparatus for mass spectrometric analysis of fluids
US4641541A (en) * 1986-02-11 1987-02-10 Daryl Sharp Internal mass spectrometer interface to a gas chromatograph
US4746068A (en) * 1986-10-29 1988-05-24 Hewlett-Packard Company Micro-nebulizer for analytical instruments
US5285064A (en) * 1987-03-06 1994-02-08 Extrel Corporation Method and apparatus for introduction of liquid effluent into mass spectrometer and other gas-phase or particle detectors
US4885076A (en) * 1987-04-06 1989-12-05 Battelle Memorial Institute Combined electrophoresis-electrospray interface and method
US4842701A (en) * 1987-04-06 1989-06-27 Battelle Memorial Institute Combined electrophoretic-separation and electrospray method and system
US4861988A (en) * 1987-09-30 1989-08-29 Cornell Research Foundation, Inc. Ion spray apparatus and method
US4935624A (en) * 1987-09-30 1990-06-19 Cornell Research Foundation, Inc. Thermal-assisted electrospray interface (TAESI) for LC/MS
JPH01146242A (ja) * 1987-12-02 1989-06-08 Hitachi Ltd 質量分折計
US4977785A (en) * 1988-02-19 1990-12-18 Extrel Corporation Method and apparatus for introduction of fluid streams into mass spectrometers and other gas phase detectors
USRE34757E (en) * 1988-04-05 1994-10-18 Battelle Memorial Institute Combined electrophoresis-electrospray interface and method
US4851700A (en) * 1988-05-16 1989-07-25 Goodley Paul C On-axis electron acceleration electrode for liquid chromatography/mass spectrometry
US4994165A (en) * 1989-02-16 1991-02-19 Cornell Research Foundation, Inc. Liquid junction coupling for capillary zone electrophoresis/ion spray spectrometry
US4982097A (en) * 1989-05-19 1991-01-01 Battelle Memorial Institute Vaporization device for continuous introduction of liquids into a mass spectrometer
JP2607698B2 (ja) * 1989-09-29 1997-05-07 株式会社日立製作所 大気圧イオン化質量分析計
US4960991A (en) * 1989-10-17 1990-10-02 Hewlett-Packard Company Multimode ionization source
US4977320A (en) * 1990-01-22 1990-12-11 The Rockefeller University Electrospray ionization mass spectrometer with new features
US5030826A (en) * 1990-03-01 1991-07-09 Hewlett-Packard Company Single port thermospray ion source with coaxial vapor flow
US4999493A (en) * 1990-04-24 1991-03-12 Vestec Corporation Electrospray ionization interface and method for mass spectrometry
US5015845A (en) * 1990-06-01 1991-05-14 Vestec Corporation Electrospray method for mass spectrometry
US5170053A (en) * 1990-08-30 1992-12-08 Finnigan Corporation Electrospray ion source and interface apparatus and method
JP2872375B2 (ja) * 1990-09-21 1999-03-17 株式会社日立製作所 質量分析計
JP2598566B2 (ja) * 1990-10-26 1997-04-09 株式会社日立製作所 質量分析計
US5162650A (en) * 1991-01-25 1992-11-10 Finnigan Corporation Method and apparatus for multi-stage particle separation with gas addition for a mass spectrometer
IT1247521B (it) * 1991-04-24 1994-12-17 Erba Strumentazione Metodo e dispositivo per interfacciare uno spettometro di massa
US5115131A (en) * 1991-05-15 1992-05-19 The University Of North Carolina At Chapel Hill Microelectrospray method and apparatus
US5122670A (en) * 1991-05-17 1992-06-16 Finnigan Corporation Multilayer flow electrospray ion source using improved sheath liquid
US5171990A (en) * 1991-05-17 1992-12-15 Finnigan Corporation Electrospray ion source with reduced neutral noise and method
US5157260A (en) * 1991-05-17 1992-10-20 Finnian Corporation Method and apparatus for focusing ions in viscous flow jet expansion region of an electrospray apparatus
AU2170392A (en) * 1991-05-21 1992-12-30 Analytica Of Branford, Inc. Method and apparatus for improving electrospray ionization of solute species
US5247842A (en) * 1991-09-30 1993-09-28 Tsi Incorporated Electrospray apparatus for producing uniform submicrometer droplets
US5245186A (en) * 1991-11-18 1993-09-14 The Rockefeller University Electrospray ion source for mass spectrometry
US5235186A (en) * 1992-01-24 1993-08-10 Finnigan Mat, Inc. Probe-based electrospray adapter for thermospray equipped quadrupole based LC/MS systems
US5304798A (en) * 1992-04-10 1994-04-19 Millipore Corporation Housing for converting an electrospray to an ion stream
US5306910A (en) * 1992-04-10 1994-04-26 Millipore Corporation Time modulated electrified spray apparatus and process
US5223226A (en) * 1992-04-14 1993-06-29 Millipore Corporation Insulated needle for forming an electrospray
US5289003A (en) * 1992-05-29 1994-02-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Of Health And Human Services Probe for thermospray mass spectrometry
JPH0660847A (ja) * 1992-08-13 1994-03-04 Hitachi Ltd 大気圧イオン化質量分析計のイオン源及びその放電針位置決め装置
JP3172283B2 (ja) * 1992-10-20 2001-06-04 株式会社日立製作所 質量分析用試料のイオン化装置
US5331160A (en) * 1993-03-31 1994-07-19 Hewlett-Packard Company Particle-beam generator for LC/MS interface
US5349186A (en) * 1993-06-25 1994-09-20 The Governors Of The University Of Alberta Electrospray interface for mass spectrometer and method of supplying analyte to a mass spectrometer
US5423964A (en) * 1993-08-02 1995-06-13 Battelle Memorial Institute Combined electrophoresis-electrospray interface and method
JP3367719B2 (ja) * 1993-09-20 2003-01-20 株式会社日立製作所 質量分析計および静電レンズ
EP0655769A1 (en) * 1993-11-17 1995-05-31 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for preparing an electrospray ion source sample
US5412208A (en) * 1994-01-13 1995-05-02 Mds Health Group Limited Ion spray with intersecting flow
EP0749350B1 (en) * 1994-03-08 2004-11-10 Analytica Of Branford, Inc. Improvements to electrospray and atmospheric pressure chemical ionization sources
US5416322A (en) * 1994-04-21 1995-05-16 International Business Machines Corporation Interface for linking an atmospheric pressure thermogravimetric analyzer to a low pressure mass spectrometer
DE4415480C2 (de) * 1994-05-02 1999-09-02 Bruker Daltonik Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur massenspektrometrischen Untersuchung von Substanzgemischen durch Kopplung kapillarelektrophoretischer Separation (CE) mit Elektrospray-Ionisierung (ESI)
US5559326A (en) * 1995-07-28 1996-09-24 Hewlett-Packard Company Self generating ion device for mass spectrometry of liquids

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014515831A (ja) * 2011-04-20 2014-07-03 マイクロマス ユーケー リミテッド 高速スプレーとターゲットとの相互作用による大気圧イオン源
JP6106864B1 (ja) * 2016-09-21 2017-04-05 ヒューマン・メタボローム・テクノロジーズ株式会社 イオン源アダプタ
JP2018048918A (ja) * 2016-09-21 2018-03-29 ヒューマン・メタボローム・テクノロジーズ株式会社 イオン源アダプタ
US10734214B2 (en) 2016-09-21 2020-08-04 Human Metabolome Technologies, Inc. Ion source adapter

Also Published As

Publication number Publication date
USRE36892E (en) 2000-10-03
EP0692713A1 (en) 1996-01-17
US5495108A (en) 1996-02-27

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