JPH11133060A - テスト用端子 - Google Patents

テスト用端子

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JPH11133060A
JPH11133060A JP9299744A JP29974497A JPH11133060A JP H11133060 A JPH11133060 A JP H11133060A JP 9299744 A JP9299744 A JP 9299744A JP 29974497 A JP29974497 A JP 29974497A JP H11133060 A JPH11133060 A JP H11133060A
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test
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JP9299744A
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Okie Tani
興衛 谷
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Tani Denkikogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 素子の端子部のピッチ間隔が如何様に微細と
なる場合でも、それに対処できるテスト用端子を提供す
る。 【解決手段】 導通線を接続する結線部６を備えた上部
２と、弾性を有する中間部５と、接触部４を有する下部
３とからなるテスト用端子１を、１枚の金属薄板から打
ち抜き成形する。複数枚のテスト用端子１を絶縁板９を
介在して重ね合わせ一体化して端子ブロックを形成でき
る。金属薄板の肉厚を選択することにより如何様なピッ
チ間隔にも対応できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明はテスト用端子に関
し、特にプリント基板及びそれに実装する電気・電子機
器等の導通テストをするための端子に関する。
【０００２】
【従来の技術】プリント基板やそれに実装する電気・電
子機器は、導通テストを行う必要性に迫られることがあ
る。その場合、それらの端子部の間隔がきわめて微小サ
イズであることが多いため、従来では、微細な径のパイ
プ内にコイルスプリングを挿入し、そのスプリング力で
パイプ端部から突出するニードルを導通線に適宜接続し
てそのニードルを端子部に当てて接触させ、導通を試し
ていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、微細な
パイプにコイルスプリングとニードルを挿入すること自
体が難儀な仕業であるから、テスト用端子の製造コスト
がかかり、しかも、パイプはニードルよりも径大である
から単純にそれを横に整列させても、ニードル自体を整
列させたものよりもピッチ間隔が大きくなるので、ピッ
チ間隔はおのずと制約されたものになり、したがって、
ニードルのピッチ間隔で端子部が形成されているような
素子の導通テストは、端子部の一つ々々毎直接にテスト
用端子を当てて行わねばならなかった。そのため、導通
テスト自体に時間を要して非能率的であった。
【０００４】そこで、この発明は、素子等の端子部のピ
ッチ間隔が如何様に微細であっても、それに対処できる
テスト用端子を提供する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明にかかるテスト
用端子は、導通線に接続する結線部を備えた上部と、端
子部に接触する接触部を具えた下部と、前記上部と下部
との間で上下方向で弾性を保持可能な中間部とが、金属
薄板で一体成形されていることを特徴とする。
【０００６】そして、前記中間部の形状が略Ｓ字形であ
ることを特徴とし、また、少なくとも前記上部に透孔が
穿設されていることを特徴とするとともに、前記金属薄
板の複数枚を、それらの間に電気絶縁性の高い絶縁板を
介在し重ね合わせて締結し、電気・電子機器の端子部の
数に相応する接触部を具えたブロックを形成したことを
特徴とする。
【０００７】したがって、金属薄板の肉厚を選択するこ
とにより、素子等の端子部のピッチ間隔が如何様であ
れ、それに対処できるピッチ間隔の接触部を形成できる
というものである。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
き、図を参照して説明する。図１に示すように、テスト
用端子１は略方形の上部２と、先鋭な略三角形の接触部
４を形成した略方形の下部３と、上部２と下部３を弾性
的に結ぶ中間部５とを一体成形した金属薄板からなる。
上部２には導通線を接続するのに適するような結線部６
を一体に成形し、かつ、重ね合わせて連結する際の位置
決めのための角形の透孔７を穿設してあり、また、下部
３の接触部４は素子等の端子部８（図２参照）に接触で
きる。中間部５は略Ｓ字形に打ち抜かれて上部２と下部
３との間で連続して一体で介在し、上部２又は下部３に
圧力を加えると、Ｓ字が撓んで変形することができてそ
の圧力を吸収できる。接触部４は略三角錐形に形成され
ている。
【０００９】なお、接触部４は右側の一端部に成形した
が、これを仮想線図示のように１枚毎順次、左側の端部
に向けて変位させた４種類のテスト用端子１を成形して
もよい。また、結線部６は左側に傾斜させた配置として
もよい。上部２と下部３を略方形としたのは、複数枚の
テスト用端子１を重ねて一体化する際にまとまりやすく
するためであり、その際、前記透孔７に断面角形のロッ
ド１３を挿通して締結すれば接触部４が整然と整列でき
るようにしたものである。そして、中間部５の形状はＳ
字形としたが、必要とする弾性の程度によりては、図３
に示すようなＺ字形、若しくは図４に示すようなΣ字形
でもよい。
【００１０】このテスト用端子１は、導電性の高い所望
の肉厚の金属板をプレス等にて打ち抜き成形したもの
で、例えば肉厚が０．０５ｍｍ程度のタングステン等の
比較的硬い薄板からなるが、その肉厚寸法を限定するも
のではない。したがって、上記１枚のテスト用端子１を
単体として導通テストに用いることができるのは勿論の
こと、図５〜図７に示すように、テスト用端子１の複数
枚を、それぞれの間に硬質の素材からなり、透孔７と一
致する透孔１０を形成した電気絶縁性の高い絶縁板９を
挟み重ね合わせてコ字形のホルダー１１で一体にまと
め、該ホルダー１１の外側から透孔７に角形のロッド１
３を挿通してその両端部をホルダー１１と一体化した端
子ブロック１７を形成することができる。ホルダー１１
は結線部６を上方に向けて突出させるための開口部１２
を有する。なお、テスト用端子１の肉厚が極薄板でない
場合には、図８に示すように、ロッド１３の両端部にね
じ部１４を形成し、このねじ部１４に螺合するナット１
６をホルダー１１との間にワッシャ１５を介在させて締
結することができる。
【００１１】また、端子ブロック１７を形成するための
他の例としては、図９に示すように、上部２の相対向す
る両側部に三角形状等任意の切欠部２ａ，２ａを形成す
る一方、この切欠部２ａが係合する三角形状等任意の突
起部２０を内面に相対向して形成した合成樹脂等の絶縁
部材からなる断面コ字形のホルダー２１を形成し、テス
ト用端子１の切欠部２ａを突起部２０に係合させて複数
枚のテスト用端子１を間に絶縁板を介在させてホルダー
２１に保持させた単体又はその単体の複数個を適宜一体
的にまとめるようにしてもよい。
【００１２】このように端子ブロック１７を形成する場
合、絶縁板９の肉厚は任意に選択できるから、接触部４
のピッチ間隔は自在に変更できることになる。したがっ
て、素子等の端子部８の数に相応する枚数のテスト用端
子１を絶縁板９を介在させて一つの端子ブロック１７を
形成すれば、素子等の端子部導通テストが一度で済む利
点がある。さらに、接触部４の配置について前記したよ
うな４種類のテスト用端子１を用い、図１０に示すよう
に、１枚毎に位置をずらせてジグザグ状配置としてもよ
く、また、図１１に示すように、１枚毎斜め右方向へ段
違いに移相させた２つのテスト用端子ブロック１８，１
８を並列して横幅の大きな一つのホルダー１１ａにまと
めたものとしてもよい。
【００１３】そこで、図１２に示すように、端子ブロッ
ク１７の接触部４を素子１９等の端子部８に所定の圧力
で接触させると、各テスト用端子１は、図２に示すよう
に、中間部５が撓んでその圧力を緩和・吸収することが
できる。したがって、複数の端子部８に高低差があって
もそれに影響されることなく、すべての接触部４が端子
部９から反発して離れるのを阻止し、確実な導通テスト
を行うことができる。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したこの発明によれば、金属薄
板からなるのでその肉厚を選択してその複数枚を絶縁板
を介在して重ね合わせれば、素子等の如何様なピッチ間
隔の端子部にも適用できる端子ブロックを得ることがで
き、しかも、構造単純にして生産性も良好で安価に提供
できる。また、弾性部を一体成形することにより、接触
部が端子部に反発することなく接触するのに最適の弾性
を持つ形状とすることも容易かつ簡便にでき、総じて確
実な導通テストを可能にする。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明にかかるテスト用端子の正面図（Ａ）
及び側面図（Ｂ）
【図２】テスト用端子の作用説明図
【図３】テスト用端子の他の例を示す正面図
【図４】テスト用端子の更に他の例を示す正面図
【図５】端子ブロックの分解斜視図
【図６】端子ブロックの側面図
【図７】端子ブロックの横断面図
【図８】端子ブロックの他の例を示す分解斜視図
【図９】端子ブロックの更に他の例を示す分解斜視図
【図１０】端子ブロックにおける接触部の配置を示す底
面図
【図１１】端子ブロックにおける接触部の他の配置を示
す底面図
【図１２】端子ブロックの作用説明図
【符号の説明】
１…テスト用端子 ２…上部 ３…下部 ４…接触部 ５…中間部 ６…結線部 ７，１０…透孔 ９…絶縁板 １１，１１ａ…ホルダー １２…開口部 １３…棒

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 導通線に接続する結線部を具えた上部
    と、端子部に接触する接触部を具えた下部と、前記上部
    と下部との間で上下方向で弾性を保持可能な中間部と
    が、金属薄板で一体成形されていることを特徴とするテ
    スト用端子。
  2. 【請求項２】 前記中間部の形状が略Ｓ字形であること
    を特徴とする請求項１記載のテスト用端子。
  3. 【請求項３】 少なくとも前記上部に透孔が穿設されて
    いることを特徴とする請求項１記載のテスト用端子。
  4. 【請求項４】 前記金属薄板の複数枚を、それらの間に
    電気絶縁性の高い絶縁板を介在し重ね合わせて締結し、
    電気・電子機器の端子部の数に相応する先鋭端部を具え
    たブロックを形成したことを特徴とする請求項１，２又
    は３記載のテスト用端子。
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