JPH11134992A - Relay switching circuit - Google Patents

Relay switching circuit

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JPH11134992A
JPH11134992A JP9295984A JP29598497A JPH11134992A JP H11134992 A JPH11134992 A JP H11134992A JP 9295984 A JP9295984 A JP 9295984A JP 29598497 A JP29598497 A JP 29598497A JP H11134992 A JPH11134992 A JP H11134992A
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JP
Japan
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relay
circuit
reed
current
switching
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP9295984A
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Japanese (ja)
Inventor
Kaoru Nakamura
馨 中村
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Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH11134992A publication Critical patent/JPH11134992A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To stably operate a circuit while improving lifetime of a contact of a relay by connecting a semi-conductor relay to a relay circuit for switching a mechanical relay in series to each other. SOLUTION: A reed relay 2 is connected to a semi-conductor relay 11, which is connected to a load 1, in series to each other, and a load side measuring circuit 12 having a control circuit for switching the reed relay 2 after opening the semi-conductor relay 11 inside thereof is connected in series. In the condition that the semi-conductor relay 11 is opened, contact current of the reed relay 2 is cut, and the reed relay 2 is switched so as to limit the current to the only current flowing during the time when the semi-conductor relay 11 is opened. Consequently, since the contact current at the time of switching the reed relay 2 can be made remarkably small, lifetime can be improved. Since the leaked current generated from the semi-conductor 11 is cut by the reed relay 2, even in an electrical circuit having a trouble of current leakage, a characteristic of the electrical circuit is satisfied.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、リレー切り換え回
路に関し、特に、機械的なリレーの開閉寿命を延ばすこ
とのできるリレー切り換え回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a relay switching circuit, and more particularly, to a relay switching circuit capable of extending a switching life of a mechanical relay.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、メカニカルリレーやリードリレー
等の機械的なリレーを開閉することにより、被測定回路
の切り換えや、回路内部の信号切り換え等でリレーによ
る切り換え回路が使われている。
2. Description of the Related Art Hitherto, a switching circuit using a relay has been used for switching a circuit to be measured or switching a signal inside a circuit by opening and closing a mechanical relay such as a mechanical relay or a reed relay.

【0003】図2は、従来のリレー切り換え回路を示す
構成図であり、図において、1は負荷、2は負荷1に接
続され、リード片(電気接点)を開閉することにより前
記負荷1からの電流を断続させるリードリレー、3はリ
ードリレー2に接続されて負荷1の電気的特性を測定す
る負荷測定回路である。このリレー切り換え回路では、
リードリレー2を開閉して負荷1からの電流を断続さ
せ、負荷1の電気的特性を負荷測定回路3により測定し
ている。
FIG. 2 is a block diagram showing a conventional relay switching circuit. In the figure, reference numeral 1 denotes a load, 2 is connected to a load 1, and the lead 1 (electric contact) is opened and closed to open and close the load 1 from the load 1. A reed relay 3 for interrupting the current is a load measuring circuit connected to the reed relay 2 and measuring the electrical characteristics of the load 1. In this relay switching circuit,
The reed relay 2 is opened and closed to interrupt the current from the load 1, and the electrical characteristics of the load 1 are measured by the load measuring circuit 3.

【0004】一般に、電気回路において使用するリレー
には寿命があり、特に、上述したリードリレー2やメカ
ニカルリレー等の機械的なリレーでは、電気接点に流れ
る電流(接点電流)の大きさにより寿命が変わることが
知られている。図3は、リレー開閉時の接点のそれぞれ
の開閉直流電圧における接点開閉電流と寿命動作回数と
の関係を示す直流負荷寿命特性図であり、図4は、リレ
ー開閉時の接点のそれぞれの開閉交流電圧における接点
開閉電流と寿命動作回数との関係を示す交流負荷寿命特
性図である。これらの図では、誘導負荷について時定数
あるいは力率と負荷電圧をパラメータとしている。
Generally, a relay used in an electric circuit has a life. Particularly, in a mechanical relay such as the above-described reed relay 2 and mechanical relay, the life is extended due to the magnitude of a current (contact current) flowing through an electric contact. It is known to change. FIG. 3 is a DC load life characteristic diagram showing the relationship between the contact switching current and the number of life operations at each switching DC voltage of the contacts when the relay is opened and closed. FIG. FIG. 4 is an AC load life characteristic diagram showing a relationship between a contact switching current at a voltage and the number of life operations. In these figures, the time constant or the power factor and the load voltage are used as parameters for the inductive load.

【0005】これら図3及び図4により、リレー開閉時
の接点開閉電流が大きいほどリレーの寿命が短くなる傾
向があることがわかり、リレーは接点開閉電流をできる
かぎり少なくして使用したほうが寿命が延びることが明
かである。
From these FIGS. 3 and 4, it is understood that the life of the relay tends to be shorter as the contact switching current at the time of opening and closing the relay is larger. The life of the relay is preferably reduced with the contact switching current as small as possible. It is clear that it will extend.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のリレ
ーでは、回路の構成によっては接点電流を流した状態で
使用する場合がある。この場合、リレーの寿命が極端に
短くなり、回路全体の故障率がリレーの寿命により決定
されてしまうという問題点があった。
Incidentally, a conventional relay may be used with a contact current flowing depending on the circuit configuration. In this case, there is a problem that the life of the relay becomes extremely short, and the failure rate of the entire circuit is determined by the life of the relay.

【0007】例えば、上述したリレー切り換え回路で
は、リードリレー2が閉じている場合、このリードリレ
ー2には接点電流が流れている状態であるから、この状
態でリードリレー2を開閉動作させると、図3及び図4
の負荷寿命特性に示すように接点電流により寿命が短く
なってしまうこととなる。一例を挙げると、リードリレ
ー2が図5の寿命曲線を有する場合においては、接点電
流の大きさをDC24Vで2Aとすると、10万回程度
の寿命になる。
For example, in the above-described relay switching circuit, when the reed relay 2 is closed, a contact current is flowing through the reed relay 2, and when the reed relay 2 is opened and closed in this state, 3 and 4
As shown in the load life characteristics, the contact current shortens the life. As an example, when the reed relay 2 has the life curve of FIG. 5, if the magnitude of the contact current is 2 A at 24 VDC, the life is about 100,000 times.

【0008】一方、半導体リレーの寿命は一般に半永久
的といわれており、リードリレー2を半導体リレーに置
き換えると寿命は半永久的になるが、該半導体リレーを
開いた際に漏れ電流が流れる。そのため、負荷測定回路
3により、いくつかの負荷をリレーで切り換えて測定す
る場合など負荷測定回路3では半導体リレーの漏れ電流
に起因する測定誤差が生じる。したがって、漏れ電流が
問題となる回路では特性を満足することができないため
に半導体リレーを用いることができず、寿命が短くなっ
てしまうのを承知の上で漏れ電流が流れないリードリレ
ーを回路に使用せざるを得ないという問題点があった。
On the other hand, the life of a semiconductor relay is generally said to be semi-permanent, and when the reed relay 2 is replaced with a semiconductor relay, the life becomes semi-permanent, but a leakage current flows when the semiconductor relay is opened. For this reason, the load measuring circuit 3 causes a measurement error due to the leakage current of the semiconductor relay in the load measuring circuit 3, for example, when several loads are switched and measured by a relay. Therefore, in a circuit where leakage current is a problem, semiconductor relays cannot be used because the characteristics cannot be satisfied, and a reed relay in which leakage current does not flow is used in the circuit, knowing that the life will be shortened. There was a problem that it had to be used.

【0009】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
のであって、リレーの接点寿命を延ばすことができ、長
期的に回路を安定動作させることのできるリレー切り換
え回路を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a relay switching circuit which can extend the contact life of a relay and can stably operate the circuit for a long period of time. And

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は次の様なリレー切り換え回路を提供する。
すなわち、請求項1記載のリレー切り換え回路は、機械
的なリレーを開閉させることにより、回路や信号等の切
り換えを行うリレー切り換え回路において、前記機械的
なリレーに、半導体リレーを直列に接続したものであ
る。
In order to solve the above problems, the present invention provides the following relay switching circuit.
That is, the relay switching circuit according to claim 1 is a relay switching circuit that switches a circuit, a signal, and the like by opening and closing a mechanical relay, wherein a semiconductor relay is connected in series to the mechanical relay. It is.

【0011】請求項2記載のリレー切り換え回路は、前
記機械的なリレー及び半導体リレーに、該半導体リレー
を開いた状態にした後に前記機械的なリレーを開閉する
制御回路を設けたものである。
According to a second aspect of the present invention, in the relay switching circuit, the mechanical relay and the semiconductor relay are provided with a control circuit that opens and closes the mechanical relay after the semiconductor relay is opened.

【0012】本発明のリレー切り換え回路では、漏れ電
流が流れない機械的なリレーに、半永久的な寿命を有す
る半導体リレーを直列に接続し、半導体リレーを開いた
状態にして機械的なリレーの接点電流を遮断してから、
該機械的なリレーを開閉させる。ここでは、半導体リレ
ーを最初に開いているため、機械的なリレーの開閉時に
流れる電流は半導体リレーを開いた時に流れる漏れ電流
のみである。この漏れ電流は非常に小さな電流であるか
ら、この状態で機械的なリレーを開閉することで、該機
械的なリレーの寿命が延びる。
In the relay switching circuit of the present invention, a semiconductor relay having a semi-permanent life is connected in series to a mechanical relay through which no leakage current flows, and the contact of the mechanical relay is opened by opening the semiconductor relay. After interrupting the current,
Open and close the mechanical relay. Here, since the semiconductor relay is opened first, the current that flows when the mechanical relay is opened and closed is only the leakage current that flows when the semiconductor relay is opened. Since this leakage current is a very small current, opening and closing the mechanical relay in this state extends the life of the mechanical relay.

【0013】また、機械的なリレーにより半導体リレー
より生じる漏れ電流を遮断することにより、漏れ電流が
問題となるような電気回路においても、その特性を満足
させることが可能になる。
[0013] Further, by cutting off the leakage current generated from the semiconductor relay by the mechanical relay, it is possible to satisfy the characteristics even in an electric circuit in which the leakage current becomes a problem.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】本発明のリレー切り換え回路の一
実施形態について図面に基づき説明する。図1は本発明
の一実施形態のリレー切り換え回路を示す構成図であ
り、図において、11は負荷1に接続される半導体リレ
ー、2は半導体リレー11に直列に接続されたリードリ
レー(機械的なリレー)、12はリードリレー2に接続
され負荷1の電気的特性を測定する負荷測定回路であ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of a relay switching circuit according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram showing a relay switching circuit according to an embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 11 denotes a semiconductor relay connected to a load 1 and 2 denotes a reed relay (mechanical relay) connected in series to the semiconductor relay 11. And 12 are load measuring circuits connected to the reed relay 2 and measuring the electrical characteristics of the load 1.

【0015】半導体リレー11は、フォトモスリレー等
が好適に用いられる。リードリレー2は、他のメカニカ
ルリレー等の機械的なリレーに置き換えることができ
る。負荷測定回路12には、その内部に半導体リレー1
1を開いた状態にした後にリードリレー2を開閉する制
御回路が設けられている。
As the semiconductor relay 11, a photo MOS relay or the like is preferably used. The reed relay 2 can be replaced with a mechanical relay such as another mechanical relay. The load measuring circuit 12 has a semiconductor relay 1 therein.
A control circuit is provided for opening and closing the reed relay 2 after opening the first relay 1.

【0016】このリレー切り換え回路では、リードリレ
ー2と半導体リレー11が閉じている場合、リードリレ
ー2と半導体リレー11には負荷1により接点電流が流
れている。ここで、リードリレー2を開閉する場合、ま
ず、半導体リレー11を開くことでリードリレー2の接
点電流を半導体リレー11の漏れ電流のみにする。次い
で、半導体リレー11を開いた後にリードリレー2を開
閉する。これにより、リードリレー2の接点寿命を延ば
し、長期的に回路を安定動作させることが可能になる。
In this relay switching circuit, when the reed relay 2 and the semiconductor relay 11 are closed, a contact current flows through the reed relay 2 and the semiconductor relay 11 due to the load 1. Here, when the reed relay 2 is opened and closed, first, the contact current of the reed relay 2 is set to only the leakage current of the semiconductor relay 11 by opening the semiconductor relay 11. Next, after the semiconductor relay 11 is opened, the reed relay 2 is opened and closed. Thereby, the contact life of the reed relay 2 can be extended, and the circuit can be operated stably for a long time.

【0017】例えば、リードリレー2が図5の寿命曲線
を有する場合、半導体リレー11を開いた後のリードリ
レー2の接点電流の大きさは数μA以下である。したが
って、従来のリレー切り換え回路のリードリレー2の接
点電流がDC24V、2Aの場合と比較して100倍以
上寿命が延びることになる。
For example, when the reed relay 2 has the life curve shown in FIG. 5, the magnitude of the contact current of the reed relay 2 after opening the semiconductor relay 11 is several μA or less. Therefore, the life is extended 100 times or more as compared with the case where the contact current of the reed relay 2 of the conventional relay switching circuit is DC 24V, 2A.

【0018】本実施形態のリレー切り換え回路によれ
ば、負荷1に接続される半導体リレー11にリードリレ
ー2を直列に接続し、内部に半導体リレー11を開いた
状態にした後にリードリレー2を開閉する制御回路が設
けられた負荷測定回路12を直列に接続したので、半導
体リレー11を開いた状態にしてリードリレー2の接点
電流を遮断してからリードリレー2を開閉させることに
より、リードリレー2に流れる電流を半導体リレー11
を開いた時に流れる漏れ電流のみとすることができ、リ
ードリレー2の開閉時における接点電流を非常に小さく
することができ、リードリレー2の寿命を延ばすことが
できる。
According to the relay switching circuit of the present embodiment, the reed relay 2 is connected in series to the semiconductor relay 11 connected to the load 1, and after the semiconductor relay 11 is opened inside, the reed relay 2 is opened and closed. Since the load measurement circuit 12 provided with a control circuit for controlling the reed relay 2 is connected in series, the contact current of the reed relay 2 is cut off with the semiconductor relay 11 opened, and the reed relay 2 is opened and closed. The current flowing through the semiconductor relay 11
Can be limited to the leakage current flowing when the reed relay 2 is opened, the contact current when the reed relay 2 is opened and closed can be made extremely small, and the life of the reed relay 2 can be extended.

【0019】また、リードリレー2により半導体リレー
11から生じる漏れ電流を遮断するので、漏れ電流が問
題となるような電気回路においても、その電気回路の特
性を満足させることができる。
Further, since the reed relay 2 blocks the leakage current generated from the semiconductor relay 11, the characteristics of the electric circuit can be satisfied even in an electric circuit in which the leakage current is a problem.

【0020】なお、本実施形態のリレー切り換え回路で
は、負荷測定回路12の内部に半導体リレー11を開い
た状態にした後にリードリレー2を開閉する制御回路を
設けた構成としたが、この制御回路は半導体リレー11
及びリードリレー2を制御する構成であればよく、負荷
測定回路12の外部に別個設けた構成としてもよい。
In the relay switching circuit of the present embodiment, a control circuit for opening and closing the reed relay 2 after opening the semiconductor relay 11 in the load measuring circuit 12 is provided. Is a semiconductor relay 11
In addition, any configuration may be used as long as it controls the reed relay 2, and may be provided separately outside the load measurement circuit 12.

【0021】[0021]

【発明の効果】本発明のリレー切り換え回路によれば、
機械的なリレーに半導体リレーを直列に接続したので、
半導体リレーを開いた状態にして機械的なリレーの接点
電流を遮断してから該機械的なリレーを開閉させること
により、機械的なリレーの開閉時に流れる電流を半導体
リレーを開いた時に流れる漏れ電流のみとすることがで
き、機械的なリレーの開閉時における接点電流を非常に
小さくすることができ、機械的なリレーの寿命を延ばす
ことができる。
According to the relay switching circuit of the present invention,
Since a semiconductor relay was connected in series with a mechanical relay,
When the semiconductor relay is opened and the mechanical relay contact current is cut off, the mechanical relay is opened and closed. Only, the contact current when opening and closing the mechanical relay can be made very small, and the life of the mechanical relay can be extended.

【0022】また、機械的なリレーにより半導体リレー
より生じる漏れ電流を遮断するので、漏れ電流が問題と
なるような電気回路においても、その特性を満足させる
ことができる。
Further, since the leakage current generated by the semiconductor relay is interrupted by the mechanical relay, the characteristics can be satisfied even in an electric circuit in which the leakage current is a problem.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施形態のリレー切り換え回路を
示す構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram illustrating a relay switching circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】 従来のリレー切り換え回路を示す構成図であ
る。
FIG. 2 is a configuration diagram showing a conventional relay switching circuit.

【図3】 リレーの接点のそれぞれの開閉直流電圧にお
ける接点開閉電流と寿命動作回数との関係を示す直流負
荷寿命特性図である。
FIG. 3 is a DC load life characteristic diagram showing a relationship between a contact switching current and a life operation count at each switching DC voltage of a relay contact.

【図4】 リレーの接点のそれぞれの開閉交流電圧にお
ける接点開閉電流と寿命動作回数との関係を示す交流負
荷寿命特性図である。
FIG. 4 is an AC load life characteristic diagram showing a relationship between a contact switching current and a life operation count at each switching AC voltage of a relay contact.

【図5】 リードリレーの直流と交流それぞれの抵抗負
荷における接点電流と寿命との関係を示す寿命特性図で
ある。
FIG. 5 is a life characteristic diagram showing a relationship between a contact current and a life of a reed relay in a DC and AC resistive load.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 負荷 2 リードリレー 3 負荷測定回路 11 半導体リレー 12 負荷測定回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Load 2 Reed relay 3 Load measurement circuit 11 Semiconductor relay 12 Load measurement circuit

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 機械的なリレーを開閉させることによ
り、回路または信号を切り換えるリレー切り換え回路に
おいて、 前記機械的なリレーに、半導体リレーを直列に接続した
ことを特徴とするリレー切り換え回路。
1. A relay switching circuit for switching a circuit or a signal by opening and closing a mechanical relay, wherein a semiconductor relay is connected in series to the mechanical relay.
【請求項2】 前記機械的なリレー及び半導体リレー
に、該半導体リレーを開いた後に前記機械的なリレーを
開閉する制御回路を設けたことを特徴とする請求項1記
載のリレー切り換え回路。
2. The relay switching circuit according to claim 1, wherein the mechanical relay and the semiconductor relay are provided with a control circuit for opening and closing the mechanical relay after opening the semiconductor relay.
JP9295984A 1997-10-28 1997-10-28 Relay switching circuit Withdrawn JPH11134992A (en)

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JP9295984A JPH11134992A (en) 1997-10-28 1997-10-28 Relay switching circuit

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JP9295984A JPH11134992A (en) 1997-10-28 1997-10-28 Relay switching circuit

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JP (1) JPH11134992A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009159755A (en) * 2007-12-27 2009-07-16 Honda Motor Co Ltd Motor drive circuit
JP2011233517A (en) * 2010-04-23 2011-11-17 Lsis Co Ltd Hybrid fault current limiter
JP2015513198A (en) * 2012-03-05 2015-04-30 テラダイン・インコーポレーテッドTeradyne Incorporated High reliability, high voltage switch

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Legal Events

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Effective date: 20050104