JPH11134992A - リレー切り換え回路 - Google Patents
リレー切り換え回路Info
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- JPH11134992A JPH11134992A JP9295984A JP29598497A JPH11134992A JP H11134992 A JPH11134992 A JP H11134992A JP 9295984 A JP9295984 A JP 9295984A JP 29598497 A JP29598497 A JP 29598497A JP H11134992 A JPH11134992 A JP H11134992A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 43
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 abstract description 43
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
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- Relay Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 リレーの接点寿命を延ばすことができ、長期
的に回路を安定動作させることのできるリレー切り換え
回路を提供する。 【解決手段】 機械的なリレー２を開閉させることによ
り電気回路の電流の断続を行う回路で、機械的なリレー
２に、半導体リレー１１を直列に接続したことを特徴と
する。
的に回路を安定動作させることのできるリレー切り換え
回路を提供する。 【解決手段】 機械的なリレー２を開閉させることによ
り電気回路の電流の断続を行う回路で、機械的なリレー
２に、半導体リレー１１を直列に接続したことを特徴と
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、リレー切り換え回
路に関し、特に、機械的なリレーの開閉寿命を延ばすこ
とのできるリレー切り換え回路に関するものである。
路に関し、特に、機械的なリレーの開閉寿命を延ばすこ
とのできるリレー切り換え回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、メカニカルリレーやリードリレー
等の機械的なリレーを開閉することにより、被測定回路
の切り換えや、回路内部の信号切り換え等でリレーによ
る切り換え回路が使われている。
等の機械的なリレーを開閉することにより、被測定回路
の切り換えや、回路内部の信号切り換え等でリレーによ
る切り換え回路が使われている。
【０００３】図２は、従来のリレー切り換え回路を示す
構成図であり、図において、１は負荷、２は負荷１に接
続され、リード片（電気接点）を開閉することにより前
記負荷１からの電流を断続させるリードリレー、３はリ
ードリレー２に接続されて負荷１の電気的特性を測定す
る負荷測定回路である。このリレー切り換え回路では、
リードリレー２を開閉して負荷１からの電流を断続さ
せ、負荷１の電気的特性を負荷測定回路３により測定し
ている。
構成図であり、図において、１は負荷、２は負荷１に接
続され、リード片（電気接点）を開閉することにより前
記負荷１からの電流を断続させるリードリレー、３はリ
ードリレー２に接続されて負荷１の電気的特性を測定す
る負荷測定回路である。このリレー切り換え回路では、
リードリレー２を開閉して負荷１からの電流を断続さ
せ、負荷１の電気的特性を負荷測定回路３により測定し
ている。
【０００４】一般に、電気回路において使用するリレー
には寿命があり、特に、上述したリードリレー２やメカ
ニカルリレー等の機械的なリレーでは、電気接点に流れ
る電流（接点電流）の大きさにより寿命が変わることが
知られている。図３は、リレー開閉時の接点のそれぞれ
の開閉直流電圧における接点開閉電流と寿命動作回数と
の関係を示す直流負荷寿命特性図であり、図４は、リレ
ー開閉時の接点のそれぞれの開閉交流電圧における接点
開閉電流と寿命動作回数との関係を示す交流負荷寿命特
性図である。これらの図では、誘導負荷について時定数
あるいは力率と負荷電圧をパラメータとしている。
には寿命があり、特に、上述したリードリレー２やメカ
ニカルリレー等の機械的なリレーでは、電気接点に流れ
る電流（接点電流）の大きさにより寿命が変わることが
知られている。図３は、リレー開閉時の接点のそれぞれ
の開閉直流電圧における接点開閉電流と寿命動作回数と
の関係を示す直流負荷寿命特性図であり、図４は、リレ
ー開閉時の接点のそれぞれの開閉交流電圧における接点
開閉電流と寿命動作回数との関係を示す交流負荷寿命特
性図である。これらの図では、誘導負荷について時定数
あるいは力率と負荷電圧をパラメータとしている。
【０００５】これら図３及び図４により、リレー開閉時
の接点開閉電流が大きいほどリレーの寿命が短くなる傾
向があることがわかり、リレーは接点開閉電流をできる
かぎり少なくして使用したほうが寿命が延びることが明
かである。
の接点開閉電流が大きいほどリレーの寿命が短くなる傾
向があることがわかり、リレーは接点開閉電流をできる
かぎり少なくして使用したほうが寿命が延びることが明
かである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のリレ
ーでは、回路の構成によっては接点電流を流した状態で
使用する場合がある。この場合、リレーの寿命が極端に
短くなり、回路全体の故障率がリレーの寿命により決定
されてしまうという問題点があった。
ーでは、回路の構成によっては接点電流を流した状態で
使用する場合がある。この場合、リレーの寿命が極端に
短くなり、回路全体の故障率がリレーの寿命により決定
されてしまうという問題点があった。
【０００７】例えば、上述したリレー切り換え回路で
は、リードリレー２が閉じている場合、このリードリレ
ー２には接点電流が流れている状態であるから、この状
態でリードリレー２を開閉動作させると、図３及び図４
の負荷寿命特性に示すように接点電流により寿命が短く
なってしまうこととなる。一例を挙げると、リードリレ
ー２が図５の寿命曲線を有する場合においては、接点電
流の大きさをＤＣ２４Ｖで２Ａとすると、１０万回程度
の寿命になる。
は、リードリレー２が閉じている場合、このリードリレ
ー２には接点電流が流れている状態であるから、この状
態でリードリレー２を開閉動作させると、図３及び図４
の負荷寿命特性に示すように接点電流により寿命が短く
なってしまうこととなる。一例を挙げると、リードリレ
ー２が図５の寿命曲線を有する場合においては、接点電
流の大きさをＤＣ２４Ｖで２Ａとすると、１０万回程度
の寿命になる。
【０００８】一方、半導体リレーの寿命は一般に半永久
的といわれており、リードリレー２を半導体リレーに置
き換えると寿命は半永久的になるが、該半導体リレーを
開いた際に漏れ電流が流れる。そのため、負荷測定回路
３により、いくつかの負荷をリレーで切り換えて測定す
る場合など負荷測定回路３では半導体リレーの漏れ電流
に起因する測定誤差が生じる。したがって、漏れ電流が
問題となる回路では特性を満足することができないため
に半導体リレーを用いることができず、寿命が短くなっ
てしまうのを承知の上で漏れ電流が流れないリードリレ
ーを回路に使用せざるを得ないという問題点があった。
的といわれており、リードリレー２を半導体リレーに置
き換えると寿命は半永久的になるが、該半導体リレーを
開いた際に漏れ電流が流れる。そのため、負荷測定回路
３により、いくつかの負荷をリレーで切り換えて測定す
る場合など負荷測定回路３では半導体リレーの漏れ電流
に起因する測定誤差が生じる。したがって、漏れ電流が
問題となる回路では特性を満足することができないため
に半導体リレーを用いることができず、寿命が短くなっ
てしまうのを承知の上で漏れ電流が流れないリードリレ
ーを回路に使用せざるを得ないという問題点があった。
【０００９】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
のであって、リレーの接点寿命を延ばすことができ、長
期的に回路を安定動作させることのできるリレー切り換
え回路を提供することを目的とする。
のであって、リレーの接点寿命を延ばすことができ、長
期的に回路を安定動作させることのできるリレー切り換
え回路を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は次の様なリレー切り換え回路を提供する。
すなわち、請求項１記載のリレー切り換え回路は、機械
的なリレーを開閉させることにより、回路や信号等の切
り換えを行うリレー切り換え回路において、前記機械的
なリレーに、半導体リレーを直列に接続したものであ
る。
に、本発明は次の様なリレー切り換え回路を提供する。
すなわち、請求項１記載のリレー切り換え回路は、機械
的なリレーを開閉させることにより、回路や信号等の切
り換えを行うリレー切り換え回路において、前記機械的
なリレーに、半導体リレーを直列に接続したものであ
る。
【００１１】請求項２記載のリレー切り換え回路は、前
記機械的なリレー及び半導体リレーに、該半導体リレー
を開いた状態にした後に前記機械的なリレーを開閉する
制御回路を設けたものである。
記機械的なリレー及び半導体リレーに、該半導体リレー
を開いた状態にした後に前記機械的なリレーを開閉する
制御回路を設けたものである。
【００１２】本発明のリレー切り換え回路では、漏れ電
流が流れない機械的なリレーに、半永久的な寿命を有す
る半導体リレーを直列に接続し、半導体リレーを開いた
状態にして機械的なリレーの接点電流を遮断してから、
該機械的なリレーを開閉させる。ここでは、半導体リレ
ーを最初に開いているため、機械的なリレーの開閉時に
流れる電流は半導体リレーを開いた時に流れる漏れ電流
のみである。この漏れ電流は非常に小さな電流であるか
ら、この状態で機械的なリレーを開閉することで、該機
械的なリレーの寿命が延びる。
流が流れない機械的なリレーに、半永久的な寿命を有す
る半導体リレーを直列に接続し、半導体リレーを開いた
状態にして機械的なリレーの接点電流を遮断してから、
該機械的なリレーを開閉させる。ここでは、半導体リレ
ーを最初に開いているため、機械的なリレーの開閉時に
流れる電流は半導体リレーを開いた時に流れる漏れ電流
のみである。この漏れ電流は非常に小さな電流であるか
ら、この状態で機械的なリレーを開閉することで、該機
械的なリレーの寿命が延びる。
【００１３】また、機械的なリレーにより半導体リレー
より生じる漏れ電流を遮断することにより、漏れ電流が
問題となるような電気回路においても、その特性を満足
させることが可能になる。
より生じる漏れ電流を遮断することにより、漏れ電流が
問題となるような電気回路においても、その特性を満足
させることが可能になる。
【００１４】
【発明の実施の形態】本発明のリレー切り換え回路の一
実施形態について図面に基づき説明する。図１は本発明
の一実施形態のリレー切り換え回路を示す構成図であ
り、図において、１１は負荷１に接続される半導体リレ
ー、２は半導体リレー１１に直列に接続されたリードリ
レー（機械的なリレー）、１２はリードリレー２に接続
され負荷１の電気的特性を測定する負荷測定回路であ
る。
実施形態について図面に基づき説明する。図１は本発明
の一実施形態のリレー切り換え回路を示す構成図であ
り、図において、１１は負荷１に接続される半導体リレ
ー、２は半導体リレー１１に直列に接続されたリードリ
レー（機械的なリレー）、１２はリードリレー２に接続
され負荷１の電気的特性を測定する負荷測定回路であ
る。
【００１５】半導体リレー１１は、フォトモスリレー等
が好適に用いられる。リードリレー２は、他のメカニカ
ルリレー等の機械的なリレーに置き換えることができ
る。負荷測定回路１２には、その内部に半導体リレー１
１を開いた状態にした後にリードリレー２を開閉する制
御回路が設けられている。
が好適に用いられる。リードリレー２は、他のメカニカ
ルリレー等の機械的なリレーに置き換えることができ
る。負荷測定回路１２には、その内部に半導体リレー１
１を開いた状態にした後にリードリレー２を開閉する制
御回路が設けられている。
【００１６】このリレー切り換え回路では、リードリレ
ー２と半導体リレー１１が閉じている場合、リードリレ
ー２と半導体リレー１１には負荷１により接点電流が流
れている。ここで、リードリレー２を開閉する場合、ま
ず、半導体リレー１１を開くことでリードリレー２の接
点電流を半導体リレー１１の漏れ電流のみにする。次い
で、半導体リレー１１を開いた後にリードリレー２を開
閉する。これにより、リードリレー２の接点寿命を延ば
し、長期的に回路を安定動作させることが可能になる。
ー２と半導体リレー１１が閉じている場合、リードリレ
ー２と半導体リレー１１には負荷１により接点電流が流
れている。ここで、リードリレー２を開閉する場合、ま
ず、半導体リレー１１を開くことでリードリレー２の接
点電流を半導体リレー１１の漏れ電流のみにする。次い
で、半導体リレー１１を開いた後にリードリレー２を開
閉する。これにより、リードリレー２の接点寿命を延ば
し、長期的に回路を安定動作させることが可能になる。
【００１７】例えば、リードリレー２が図５の寿命曲線
を有する場合、半導体リレー１１を開いた後のリードリ
レー２の接点電流の大きさは数μＡ以下である。したが
って、従来のリレー切り換え回路のリードリレー２の接
点電流がＤＣ２４Ｖ、２Ａの場合と比較して１００倍以
上寿命が延びることになる。
を有する場合、半導体リレー１１を開いた後のリードリ
レー２の接点電流の大きさは数μＡ以下である。したが
って、従来のリレー切り換え回路のリードリレー２の接
点電流がＤＣ２４Ｖ、２Ａの場合と比較して１００倍以
上寿命が延びることになる。
【００１８】本実施形態のリレー切り換え回路によれ
ば、負荷１に接続される半導体リレー１１にリードリレ
ー２を直列に接続し、内部に半導体リレー１１を開いた
状態にした後にリードリレー２を開閉する制御回路が設
けられた負荷測定回路１２を直列に接続したので、半導
体リレー１１を開いた状態にしてリードリレー２の接点
電流を遮断してからリードリレー２を開閉させることに
より、リードリレー２に流れる電流を半導体リレー１１
を開いた時に流れる漏れ電流のみとすることができ、リ
ードリレー２の開閉時における接点電流を非常に小さく
することができ、リードリレー２の寿命を延ばすことが
できる。
ば、負荷１に接続される半導体リレー１１にリードリレ
ー２を直列に接続し、内部に半導体リレー１１を開いた
状態にした後にリードリレー２を開閉する制御回路が設
けられた負荷測定回路１２を直列に接続したので、半導
体リレー１１を開いた状態にしてリードリレー２の接点
電流を遮断してからリードリレー２を開閉させることに
より、リードリレー２に流れる電流を半導体リレー１１
を開いた時に流れる漏れ電流のみとすることができ、リ
ードリレー２の開閉時における接点電流を非常に小さく
することができ、リードリレー２の寿命を延ばすことが
できる。
【００１９】また、リードリレー２により半導体リレー
１１から生じる漏れ電流を遮断するので、漏れ電流が問
題となるような電気回路においても、その電気回路の特
性を満足させることができる。
１１から生じる漏れ電流を遮断するので、漏れ電流が問
題となるような電気回路においても、その電気回路の特
性を満足させることができる。
【００２０】なお、本実施形態のリレー切り換え回路で
は、負荷測定回路１２の内部に半導体リレー１１を開い
た状態にした後にリードリレー２を開閉する制御回路を
設けた構成としたが、この制御回路は半導体リレー１１
及びリードリレー２を制御する構成であればよく、負荷
測定回路１２の外部に別個設けた構成としてもよい。
は、負荷測定回路１２の内部に半導体リレー１１を開い
た状態にした後にリードリレー２を開閉する制御回路を
設けた構成としたが、この制御回路は半導体リレー１１
及びリードリレー２を制御する構成であればよく、負荷
測定回路１２の外部に別個設けた構成としてもよい。
【００２１】
【発明の効果】本発明のリレー切り換え回路によれば、
機械的なリレーに半導体リレーを直列に接続したので、
半導体リレーを開いた状態にして機械的なリレーの接点
電流を遮断してから該機械的なリレーを開閉させること
により、機械的なリレーの開閉時に流れる電流を半導体
リレーを開いた時に流れる漏れ電流のみとすることがで
き、機械的なリレーの開閉時における接点電流を非常に
小さくすることができ、機械的なリレーの寿命を延ばす
ことができる。
機械的なリレーに半導体リレーを直列に接続したので、
半導体リレーを開いた状態にして機械的なリレーの接点
電流を遮断してから該機械的なリレーを開閉させること
により、機械的なリレーの開閉時に流れる電流を半導体
リレーを開いた時に流れる漏れ電流のみとすることがで
き、機械的なリレーの開閉時における接点電流を非常に
小さくすることができ、機械的なリレーの寿命を延ばす
ことができる。
【００２２】また、機械的なリレーにより半導体リレー
より生じる漏れ電流を遮断するので、漏れ電流が問題と
なるような電気回路においても、その特性を満足させる
ことができる。
より生じる漏れ電流を遮断するので、漏れ電流が問題と
なるような電気回路においても、その特性を満足させる
ことができる。
【図１】 本発明の一実施形態のリレー切り換え回路を
示す構成図である。
示す構成図である。
【図２】 従来のリレー切り換え回路を示す構成図であ
る。
る。
【図３】 リレーの接点のそれぞれの開閉直流電圧にお
ける接点開閉電流と寿命動作回数との関係を示す直流負
荷寿命特性図である。
ける接点開閉電流と寿命動作回数との関係を示す直流負
荷寿命特性図である。
【図４】 リレーの接点のそれぞれの開閉交流電圧にお
ける接点開閉電流と寿命動作回数との関係を示す交流負
荷寿命特性図である。
ける接点開閉電流と寿命動作回数との関係を示す交流負
荷寿命特性図である。
【図５】 リードリレーの直流と交流それぞれの抵抗負
荷における接点電流と寿命との関係を示す寿命特性図で
ある。
荷における接点電流と寿命との関係を示す寿命特性図で
ある。
１ 負荷 ２ リードリレー ３ 負荷測定回路 １１ 半導体リレー １２ 負荷測定回路
Claims (2)
- 【請求項１】 機械的なリレーを開閉させることによ
り、回路または信号を切り換えるリレー切り換え回路に
おいて、 前記機械的なリレーに、半導体リレーを直列に接続した
ことを特徴とするリレー切り換え回路。 - 【請求項２】 前記機械的なリレー及び半導体リレー
に、該半導体リレーを開いた後に前記機械的なリレーを
開閉する制御回路を設けたことを特徴とする請求項１記
載のリレー切り換え回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9295984A JPH11134992A (ja) | 1997-10-28 | 1997-10-28 | リレー切り換え回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9295984A JPH11134992A (ja) | 1997-10-28 | 1997-10-28 | リレー切り換え回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11134992A true JPH11134992A (ja) | 1999-05-21 |
Family
ID=17827640
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9295984A Withdrawn JPH11134992A (ja) | 1997-10-28 | 1997-10-28 | リレー切り換え回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11134992A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009159755A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Honda Motor Co Ltd | モータ駆動回路 |
| JP2011233517A (ja) * | 2010-04-23 | 2011-11-17 | Lsis Co Ltd | ハイブリッド限流器 |
| JP2015513198A (ja) * | 2012-03-05 | 2015-04-30 | テラダイン・インコーポレーテッドＴｅｒａｄｙｎｅ Ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄ | 高信頼性、高電圧スイッチ |
-
1997
- 1997-10-28 JP JP9295984A patent/JPH11134992A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009159755A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Honda Motor Co Ltd | モータ駆動回路 |
| JP2011233517A (ja) * | 2010-04-23 | 2011-11-17 | Lsis Co Ltd | ハイブリッド限流器 |
| JP2015513198A (ja) * | 2012-03-05 | 2015-04-30 | テラダイン・インコーポレーテッドＴｅｒａｄｙｎｅ Ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄ | 高信頼性、高電圧スイッチ |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050104 |