JPH11135667A - Bga型半導体装置の半田ボ−ル形成方法及び半田ボ−ル - Google Patents
Bga型半導体装置の半田ボ−ル形成方法及び半田ボ−ルInfo
- Publication number
- JPH11135667A JPH11135667A JP31588497A JP31588497A JPH11135667A JP H11135667 A JPH11135667 A JP H11135667A JP 31588497 A JP31588497 A JP 31588497A JP 31588497 A JP31588497 A JP 31588497A JP H11135667 A JPH11135667 A JP H11135667A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solder ball
- substrate
- solder
- semiconductor device
- type semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3465—Application of solder
- H05K3/3478—Application of solder preforms; Transferring prefabricated solder patterns
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 基板が半田ボ−ルを設置必要箇所に漏れなく
設置し形成でき、また、半田ボ−ルが小さく、多数であ
っても生産性よく当該基板に形成する。 【解決手段】 BGA半導体装置の基板に外部接続電極
として半田ボ−ルを形成する方法において、半田用金属
板からプレスにより半田ボ−ル素片を基板に配列格子状
に順次打抜き、打抜かれた半田ボ−ル素片10を接着剤
着きテ−プ16を走行させて仮受け被着させ、該仮受け
した半田ボ−ル素片10の中の基板の半田ボ−ル不要領
域18内の半田ボ−ル素片10を除去し、基板の半田ボ
−ル配列箇所に移し換えるBGA型半導体装置の半田ボ
−ル形成方法。また、半田ボ−ルは円柱状で実装基板と
の接合が良好な円柱状である。
設置し形成でき、また、半田ボ−ルが小さく、多数であ
っても生産性よく当該基板に形成する。 【解決手段】 BGA半導体装置の基板に外部接続電極
として半田ボ−ルを形成する方法において、半田用金属
板からプレスにより半田ボ−ル素片を基板に配列格子状
に順次打抜き、打抜かれた半田ボ−ル素片10を接着剤
着きテ−プ16を走行させて仮受け被着させ、該仮受け
した半田ボ−ル素片10の中の基板の半田ボ−ル不要領
域18内の半田ボ−ル素片10を除去し、基板の半田ボ
−ル配列箇所に移し換えるBGA型半導体装置の半田ボ
−ル形成方法。また、半田ボ−ルは円柱状で実装基板と
の接合が良好な円柱状である。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はBGA型半導体装置
の半田ボ−ル形成に関する。
の半田ボ−ル形成に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の小型化、高速化あるいは多
ピン化のためにBGA型半導体装置が提案されている。
該BGA型半導体装置は、例えば配線パタ−ンを設けた
基板に半導体チップを接着材にて固着搭載し、半導体チ
ップの端子と配線パタ−ンをワイヤ−で接続し、当該半
導体チップと配線パタ−ンを樹脂封止してパッケージと
し、前記基板に外部接続電極として半田ボ−ルを設け、
配線パタ−ンと半田ボ−ルをスル−ホ−ルを経て電気的
に接続している。
ピン化のためにBGA型半導体装置が提案されている。
該BGA型半導体装置は、例えば配線パタ−ンを設けた
基板に半導体チップを接着材にて固着搭載し、半導体チ
ップの端子と配線パタ−ンをワイヤ−で接続し、当該半
導体チップと配線パタ−ンを樹脂封止してパッケージと
し、前記基板に外部接続電極として半田ボ−ルを設け、
配線パタ−ンと半田ボ−ルをスル−ホ−ルを経て電気的
に接続している。
【0003】従来における基板への半田ボ−ル形成は、
図5の(A)に示すように半田ボ−ル貯留容器1に収容
した球状の半田ボ−ル2を、吸着孔3を格子状に設けた
吸着ヘッド4により所定個数取り出し、(B)に示すよ
うに基板5に形成されたランド6上へ移送して配置後、
加熱し溶融させて行われている。なお、図中の7は吸気
路である。
図5の(A)に示すように半田ボ−ル貯留容器1に収容
した球状の半田ボ−ル2を、吸着孔3を格子状に設けた
吸着ヘッド4により所定個数取り出し、(B)に示すよ
うに基板5に形成されたランド6上へ移送して配置後、
加熱し溶融させて行われている。なお、図中の7は吸気
路である。
【0004】これでは基板1枚について半田ボ−ルを例
えば500個程度まで設置するのであれば、それ程問題
なくなされる。しかし、半田ボ−ルの設置数がより多数
になると、前記吸着ヘッドに所定個数例えば1000個
すべて1個の漏れもなく吸着させることが難しく基板へ
の設置精度が劣化する。また半田ボ−ルの大きさが小さ
く例えば0.2mm以下になると前記設置精度がより劣
化し、置き直し作業をせねばならず生産性が低下する。
えば500個程度まで設置するのであれば、それ程問題
なくなされる。しかし、半田ボ−ルの設置数がより多数
になると、前記吸着ヘッドに所定個数例えば1000個
すべて1個の漏れもなく吸着させることが難しく基板へ
の設置精度が劣化する。また半田ボ−ルの大きさが小さ
く例えば0.2mm以下になると前記設置精度がより劣
化し、置き直し作業をせねばならず生産性が低下する。
【0005】また、他の基板へ半田ボ−ルの形成方法と
して、半田金属板から半田片をパンチで打抜き、該打抜
いた半田片を基板のランド上に移送し設置することが提
案されている。
して、半田金属板から半田片をパンチで打抜き、該打抜
いた半田片を基板のランド上に移送し設置することが提
案されている。
【0006】
【この発明が解決しようとする課題】しかし、従来のパ
ンチとダイにより打抜きされた半田片は受け板上でバラ
バラになり、これを基板の所定箇所例えばランドに設置
するのに時間を要する問題が前記貯留した半田ボ−ルを
設置する場合と同様にある。
ンチとダイにより打抜きされた半田片は受け板上でバラ
バラになり、これを基板の所定箇所例えばランドに設置
するのに時間を要する問題が前記貯留した半田ボ−ルを
設置する場合と同様にある。
【0007】また、基板には半田ボ−ルを全面的に必要
とせずに、ある領域には設置しないことがよくあるが、
この所定箇所にのみ半田ボ−ルを設置するのが難しく生
産性を低下させている。
とせずに、ある領域には設置しないことがよくあるが、
この所定箇所にのみ半田ボ−ルを設置するのが難しく生
産性を低下させている。
【0008】本発明は、基板の必要とする箇所に半田ボ
−ルを漏れなく設置し形成でき、且つ半田ボ−ルが小さ
く、また多数であっても生産性よく行うことを目的とす
る。
−ルを漏れなく設置し形成でき、且つ半田ボ−ルが小さ
く、また多数であっても生産性よく行うことを目的とす
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の要旨は、半導体
チップを搭載するBGA型半導体装置の基板に外部接続
電極として半田ボ−ルを形成する方法において、半田用
金属板からプレスにより半田ボ−ル素片を基板に配列格
子状に順次打抜き、該打抜かれた半田ボ−ル素片を接着
剤着きテ−プに当該テ−プをプレス打抜き毎に基板の半
田ボ−ル配列間隔に相当長さ走行させて仮受け被着さ
せ、該仮受けした半田ボ−ル素片の中の前記基板の半田
ボ−ル不要領域の半田ボ−ル素片を除去し、前記基板の
半田ボ−ル配列箇所に移し換えるBGA型半導体装置の
半田ボ−ル形成方法にある。
チップを搭載するBGA型半導体装置の基板に外部接続
電極として半田ボ−ルを形成する方法において、半田用
金属板からプレスにより半田ボ−ル素片を基板に配列格
子状に順次打抜き、該打抜かれた半田ボ−ル素片を接着
剤着きテ−プに当該テ−プをプレス打抜き毎に基板の半
田ボ−ル配列間隔に相当長さ走行させて仮受け被着さ
せ、該仮受けした半田ボ−ル素片の中の前記基板の半田
ボ−ル不要領域の半田ボ−ル素片を除去し、前記基板の
半田ボ−ル配列箇所に移し換えるBGA型半導体装置の
半田ボ−ル形成方法にある。
【0010】
【発明の実施の形態】次に、本発明の1実施例について
図面を参照して説明する。図面において、8は半田用金
属板で、例えば鉛又は鉛合金金属板等が採用される。該
半田用金属板8をプレス金型装置9で半田ボ−ル素片1
0を打抜きする。打抜れた半田ボ−ル素片10は円柱状
であり、その後の実装基板との実装が球状と違って面接
触するので接合不良なく行える。
図面を参照して説明する。図面において、8は半田用金
属板で、例えば鉛又は鉛合金金属板等が採用される。該
半田用金属板8をプレス金型装置9で半田ボ−ル素片1
0を打抜きする。打抜れた半田ボ−ル素片10は円柱状
であり、その後の実装基板との実装が球状と違って面接
触するので接合不良なく行える。
【0011】前記プレス金型装置9にはパンチ11が基
板5の半田ボ−ル配列間隔に対応して、この実施例では
半田ボ−ルの1列配置分を打抜きする個数設けられてい
る。このパンチ11の配置は、前記基板5の半田ボ−ル
の1列配置数に限らず、該1列配置数を分けても構わな
い。また、2列分を配置してもよい。
板5の半田ボ−ル配列間隔に対応して、この実施例では
半田ボ−ルの1列配置分を打抜きする個数設けられてい
る。このパンチ11の配置は、前記基板5の半田ボ−ル
の1列配置数に限らず、該1列配置数を分けても構わな
い。また、2列分を配置してもよい。
【0012】12はダイで、13はそのダイ支持台であ
る。該ダイ12と前記パンチ11の間を前記半田用金属
板8が紙面の表から裏面に走行し、パンチ11とダイ1
2により打抜きされる。なお、14はストリッパ−、1
5はパンチホルダ−である。
る。該ダイ12と前記パンチ11の間を前記半田用金属
板8が紙面の表から裏面に走行し、パンチ11とダイ1
2により打抜きされる。なお、14はストリッパ−、1
5はパンチホルダ−である。
【0013】16は表面に接着剤が付けられたテ−プ
で、該接着剤付きテ−プ16は前記ダイ12の下方で走
行自在に設けられ、前記パンチ11が1ストロ−クする
毎に基板5の半田ボ−ル配列間隔と同じ長さ走行するよ
うになっている。17は前記ダイ12の下方に設けられ
前記接着剤付きテ−プ16の支え板である。
で、該接着剤付きテ−プ16は前記ダイ12の下方で走
行自在に設けられ、前記パンチ11が1ストロ−クする
毎に基板5の半田ボ−ル配列間隔と同じ長さ走行するよ
うになっている。17は前記ダイ12の下方に設けられ
前記接着剤付きテ−プ16の支え板である。
【0014】前記接着剤付きテ−プ16は、前記パンチ
11とダイ12により打抜れた半田ボ−ル素片10を、
パンチ11のストロ−ク毎に基板5の半田ボ−ル配列間
隔ずつ走行して仮受け被着する。このようにして、半田
用金属板8から打抜かれた半田ボ−ル素片10は、接着
剤付きテ−プ16に基板5の半田ボ−ル配列状に、例え
ば図2に示すように貼着される。
11とダイ12により打抜れた半田ボ−ル素片10を、
パンチ11のストロ−ク毎に基板5の半田ボ−ル配列間
隔ずつ走行して仮受け被着する。このようにして、半田
用金属板8から打抜かれた半田ボ−ル素片10は、接着
剤付きテ−プ16に基板5の半田ボ−ル配列状に、例え
ば図2に示すように貼着される。
【0015】基板5には、半田ボ−ル2を設置する必要
のない箇所があり、その領域は前記図2の枠線18内で
ある。該枠線18内にも半田ボ−ル素片10が被着して
いるので、これを例えばバキュ−ウム装置(図示しな
い)や、ピックアップ装置(図示しない)等により除去
し、図3に示すように基板5が半田ボ−ル2を必要とす
る箇所にだけに着けるようにする。
のない箇所があり、その領域は前記図2の枠線18内で
ある。該枠線18内にも半田ボ−ル素片10が被着して
いるので、これを例えばバキュ−ウム装置(図示しな
い)や、ピックアップ装置(図示しない)等により除去
し、図3に示すように基板5が半田ボ−ル2を必要とす
る箇所にだけに着けるようにする。
【0016】その後、該接着剤付きテ−プ16に被着し
た半田ボ−ル素片10を、基板5の半田ボ−ル配列位置
のランド6上に図4に示すように移し換え、加熱作用を
与えて設置する。このようにして半田ボ−ル2を設置し
形成するので、基板5の必要箇所に半田ボ−ル2の個数
が多数であっても、また、小さいものても漏れなくなさ
れる。
た半田ボ−ル素片10を、基板5の半田ボ−ル配列位置
のランド6上に図4に示すように移し換え、加熱作用を
与えて設置する。このようにして半田ボ−ル2を設置し
形成するので、基板5の必要箇所に半田ボ−ル2の個数
が多数であっても、また、小さいものても漏れなくなさ
れる。
【0017】また、半田ボ−ル素片の設置は、この発明
では半導体チップを搭載する基板としているが、該基板
は半導体チップを直接的に搭載するもの、他の部材を介
して間接的に搭載するものを含むものである。
では半導体チップを搭載する基板としているが、該基板
は半導体チップを直接的に搭載するもの、他の部材を介
して間接的に搭載するものを含むものである。
【0018】
【発明の効果】本発明によれば、プレスにより半田ボ−
ル素片を基板の半田ボ−ルの配列格子状に打抜き、それ
を接着剤付きテ−プで受け取り、その中の基板に半田ボ
−ル設置不要領域に該当する箇所の半田ボ−ル素片を除
去し、基板に移設するので、半田ボ−ルが多数でまた小
さくとも欠けることなく確実に必要箇所に設置できる。
また半田ボ−ル素片が円柱状であるから、その後の実装
基板への実装面が広くなり接合不良を生じない等の効果
がある。
ル素片を基板の半田ボ−ルの配列格子状に打抜き、それ
を接着剤付きテ−プで受け取り、その中の基板に半田ボ
−ル設置不要領域に該当する箇所の半田ボ−ル素片を除
去し、基板に移設するので、半田ボ−ルが多数でまた小
さくとも欠けることなく確実に必要箇所に設置できる。
また半田ボ−ル素片が円柱状であるから、その後の実装
基板への実装面が広くなり接合不良を生じない等の効果
がある。
【図1】本発明の1実施例における半田ボ−ル素片の打
抜きを示す図。
抜きを示す図。
【図2】本発明の1実施例における打抜かれ接着剤付き
テ−プに仮受け被着された半田ボ−ル素片を示す平面
図。
テ−プに仮受け被着された半田ボ−ル素片を示す平面
図。
【図3】本発明の1実施例において接着剤付きテ−プに
仮受け被着された半田ボ−ル素片の中の不要領域のもの
を除去したもの示す図。
仮受け被着された半田ボ−ル素片の中の不要領域のもの
を除去したもの示す図。
【図4】本発明の1実施例における基板に半田ボ−ル素
片を移設した側面図。
片を移設した側面図。
【図5】従来の基板への半田ボ−ル設置を説明するため
の図。
の図。
2 半田ボ−ル 5 基板 6 ランド 8 半田用金属板 9 プレス金型装置 10 半田ボ−ル素片 11 パンチ 12 ダイ 13 ダイ支持台 14 ストリッパ− 15 パンチホルダ− 16 接着剤付きテ−プ 17 支え板 18 枠線
Claims (2)
- 【請求項1】 半導体チップを搭載するBGA型半導体
装置の基板に外部接続電極として半田ボ−ルを形成する
方法において、半田用金属板からプレスにより半田ボ−
ル素片を基板に配列格子状に順次打抜き、該打抜かれた
半田ボ−ル素片を接着剤着きテ−プに当該テ−プをプレ
ス打抜き毎に基板の半田ボ−ル配列間隔に相当長さ走行
させて仮受け被着させ、該仮受けした半田ボ−ル素片の
中の前記基板の半田ボ−ル不要領域の半田ボ−ル素片を
除去し、前記基板の半田ボ−ル配列箇所に移し換えるこ
とを特徴とするBGA型半導体装置の半田ボ−ル形成方
法。 - 【請求項2】 半導体チップを搭載するBGA型半導体
装置の基板に外部接続電極としての半田ボ−ルにおい
て、該半田ボ−ルが円柱状であることを特徴とするBG
A型半導体装置の半田ボ−ル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31588497A JPH11135667A (ja) | 1997-10-31 | 1997-10-31 | Bga型半導体装置の半田ボ−ル形成方法及び半田ボ−ル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31588497A JPH11135667A (ja) | 1997-10-31 | 1997-10-31 | Bga型半導体装置の半田ボ−ル形成方法及び半田ボ−ル |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11135667A true JPH11135667A (ja) | 1999-05-21 |
Family
ID=18070770
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31588497A Pending JPH11135667A (ja) | 1997-10-31 | 1997-10-31 | Bga型半導体装置の半田ボ−ル形成方法及び半田ボ−ル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11135667A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014097661A1 (ja) * | 2012-12-22 | 2014-06-26 | 株式会社小松精機工作所 | 金属粉末の製造方法及び金属粉末 |
| US12149009B2 (en) | 2021-09-01 | 2024-11-19 | Tdk Corporation | Antenna module |
-
1997
- 1997-10-31 JP JP31588497A patent/JPH11135667A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014097661A1 (ja) * | 2012-12-22 | 2014-06-26 | 株式会社小松精機工作所 | 金属粉末の製造方法及び金属粉末 |
| US12149009B2 (en) | 2021-09-01 | 2024-11-19 | Tdk Corporation | Antenna module |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4903114A (en) | Resin-molded semiconductor | |
| US4137546A (en) | Stamped lead frame for semiconductor packages | |
| EP1936686A3 (en) | Semiconductor Device, Method for Manufacturing the same, and Method for Mounting the same | |
| JP3837215B2 (ja) | 個別半導体装置およびその製造方法 | |
| US7534661B2 (en) | Method of forming molded resin semiconductor device | |
| US7846775B1 (en) | Universal lead frame for micro-array packages | |
| JP3292082B2 (ja) | ターミナルランドフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法 | |
| JPH03250756A (ja) | 半導体素子の外部リードの成型方法 | |
| JP3414663B2 (ja) | 半導体装置の製造方法およびそれに用いられる基板フレーム | |
| JPH11135666A (ja) | Bga型半導体装置の半田ボ−ル形成方法 | |
| JPH11145329A (ja) | Bga型半導体装置の半田ボ−ル形成方法 | |
| JP4042400B2 (ja) | 打抜金型 | |
| JP2006237503A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| US20050026417A1 (en) | Process for fabricating a semiconductor component and semiconductor component | |
| JPH10154768A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
| JPH10163408A (ja) | Bga型半導体装置の製造方法 | |
| JP3157249B2 (ja) | 半導体装置実装体及び実装方法 | |
| US20060151879A1 (en) | Electronic component and leadframe for producing the component | |
| JPH0645497A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| JP3449265B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 | |
| JP3285008B2 (ja) | 多連結型半導体装置 | |
| JPH07249708A (ja) | 半導体装置及びその実装構造 | |
| JP2000114446A (ja) | 放熱板付リードフレームの製造方法 | |
| KR100294912B1 (ko) | 유에프피엘패키지및그제조방법 | |
| JP3405303B2 (ja) | リードフレーム及び電子部品の製造方法 |