JPH11142673A - 光ファイバアレイ - Google Patents

光ファイバアレイ

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JPH11142673A
JPH11142673A JP30223297A JP30223297A JPH11142673A JP H11142673 A JPH11142673 A JP H11142673A JP 30223297 A JP30223297 A JP 30223297A JP 30223297 A JP30223297 A JP 30223297A JP H11142673 A JPH11142673 A JP H11142673A
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JP
Japan
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substrate
optical fiber
grooves
adhesive
fiber array
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP30223297A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidehiro Konishi
秀広 小西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yazaki Corp
Original Assignee
Yazaki Corp
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Publication date
Application filed by Yazaki Corp filed Critical Yazaki Corp
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Publication of JPH11142673A publication Critical patent/JPH11142673A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 耐環境試験を行った際に、凸部において、接
着剤が剥離するのを防止し、基板と押さえ部材とで光フ
ァイバを挟んだ状態に維持し、光ファイバを高精度に保
つことができる光ファイバアレイを提供する。 【解決手段】 基板22に並設された複数のV溝25に
複数の光ファイバ30をそれぞれ嵌め込んで並べ、基板
22および光ファイバ30上に接着剤を塗布して、基板
22と押さえ部材26とで光ファイバ30を挟んだ状態
にし、基板22、押さえ部材26および光ファイバ30
を一体的に接着固定する際に、接着剤を介して押さえ部
材26に対向する、基板22の凸部23bの表面を粗面
状態とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板に並設された
複数のV溝に複数の光ファイバをそれぞれ嵌め込んで並
べ、前記基板と押さえ部材とで前記光ファイバを挟んだ
状態にし、前記基板、前記押さえ部材および前記光ファ
イバを一体的に固定して成る光ファイバアレイに関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の光ファイバアレイとしては、高精
度に加工された基板のV溝アレイの各V溝に光ファイバ
を整列させ、基板および光ファイバ上に接着剤を塗布
し、その上から押さえ板によって挟み込み、基板、光フ
ァイバおよび、押さえ板を一体的に接着固定するもので
ある。ここで、基板には例えば、ガラス板が使用されて
おり、ガラス板の表面は鏡面研磨され、鏡面研磨された
表面にV溝が加工されている。隣り合うV溝の間の凸部
は、加工されないで、鏡面研磨されたままの状態に成っ
ている。小型化等の要請により、隣り合うV溝の間隔は
狭いことから、凸部の表面の面積は狭くなっている。ま
た、一般的に、接着剤は、硬化後に、その体積が数%収
縮することが知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の光ファイバアレイでは、接着剤が硬化してそ
の体積が収縮すると、その収縮による引張応力が発生す
る。また、前記基板の未加工の凸部は、鏡面研磨の状態
に維持されていることから、凸部の表面状態は滑らか
で、粗くなく、その表面積(接着面積)が小さくなって
いる。さらに、前述したように、小型化等の要請によ
り、凸部の表面の面積(接着面積)を広くするのには限
界がある。その結果、十分な接着強度が得られていない
場合には、ヒートサイクル、耐水試験等の耐環境試験を
行うと、凸部の部分において、接着剤が剥離し、接着剤
が剥離すると、光ファイバを高精度に維持することがで
きないという問題点があった。
【0004】一方、基板の凸部の部分は、光ファイバの
位置決めには直接関係しないことから、凸部の部分を未
加工の状態にした場合にも、光ファイバの配列精度に悪
い影響を与えないで済む。
【0005】本発明は、このような従来の問題点に着目
してなされたもので、光ファイバの基板の凸部の表面を
粗面に処理することで、凸部の表面積(接着面積)を広
くして、凸部における接着強度を十分なものにして、接
着剤の剥離を防止し、耐環境性の優れた光ファイバアレ
イを提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明により成された請求項1に記載の発明は、基板
22に並設された複数のV溝25に複数の光ファイバ3
0をそれぞれ嵌め込んで並べ、前記基板22と押さえ部
材26とで前記光ファイバ30を挟んだ状態に接着固定
して成る光ファイバアレイ20において、前記基板22
の表面部23は、前記複数のV溝25が成す凹部と、前
記複数のV溝25において隣り合うV溝25の間に位置
する凸部23bとを有しており、前記基板22の凸部2
3bは粗面に形成されており、前記接着剤は、前記基板
22の凹部および凸部23bを含む表面部23と光ファ
イバ30とに塗布されており、前記押さえ部材26は、
前記複数のV溝25に並べられた光ファイバ30を前記
基板22とにより挟んだ状態に接着固定することを特徴
とする光ファイバアレイ20である。
【0007】請求項1の発明に依れば、基板22に並設
された複数のV溝25に複数の光ファイバ30をそれぞ
れ嵌め込んで並べ、基板22および光ファイバ30上に
接着剤を塗布して、基板22と押さえ部材26とで光フ
ァイバ30を挟んだ状態に接着固定する。
【0008】このとき、基板22の凸部23bの表面が
粗面状態に成っているので、凸部23bの表面積が比較
的広くなり、接着剤が硬化後に収縮した場合であって
も、凸部23bにおける接着強度を十分なものに維持し
て、耐環境試験を行った際に、凸部23bにおいて、接
着剤が剥離するのを防止し、基板22と押さえ部材26
とで光ファイバ30を挟んだ状態に維持し、光ファイバ
30を高精度に保つことができる。
【0009】上記課題を解決するために本発明により成
された請求項2に記載の発明は、基板22に並設された
複数のV溝25に複数の光ファイバ30をそれぞれ嵌め
込んで並べ、前記基板22と押さえ部材26とで前記光
ファイバ30を挟んだ状態に接着固定して成る光ファイ
バアレイ2において、前記基板22の表面部23を粗研
磨し、前記基板22の表面部23をV溝25加工して、
前記複数のV溝25を形成する一方、前記複数のV溝2
5において隣り合うV溝25の間に位置する凸部23b
を未加工にして、該凸部23bの表面を前記粗研磨した
状態に維持することを特徴とする光ファイバアレイ20
である。
【0010】請求項2に記載の発明に依れば、基板22
の表面部23が粗研磨されており、基板22の凸部23
bは、複数のV溝25において隣り合うV溝25の間に
位置していて、V溝25加工において加工されないで粗
研磨した状態に維持される。
【0011】その結果、凸部23bの表面積(接着面
積)が比較的広くなり、同じく、接着剤が硬化後に収縮
した場合であっても、凸部23bにおける接着強度を十
分なものに維持することができ、光ファイバ30を高精
度に保つことができる。
【0012】また、基板22の凸部23bは、粗研磨し
たままの状態に維持され、例えば、粗研磨された基板2
2の素材の表面状態をそのまま加工しないで、凸部23
bの表面状態として用いることができる場合には、凸部
23bの表面加工の工程を省略することができ、結果的
に製造コストを低減することができる。
【0013】上記課題を解決するために本発明により成
された請求項3に記載の発明は、請求項1又は請求項2
に記載の光ファイバアレイにおいて、前記基板22の凸
部23bの表面あらさは、0.5から2.0μmである
ことを特徴とする。
【0014】請求項3に記載の発明に依れば、基板22
の凸部23bの表面あらさが、0.5から2.0μmで
あるので、凸部23bの表面積(接着面積)を広げるに
は十分なあらさであり、かつ、0.5から2.0μmの
表面あらさは、粗研磨した基板22の素材の表面状態で
あり、素材の表面状態をそのまま凸部23bの表面とし
て用いれば、凸部23bの表面加工の工数を削減するこ
とができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づき本発明の一実
施の形態を説明する。各図は本発明の第1実施の形態を
示している。図1は、本発明の一実施の形態に係る光フ
ァイバアレイを示す分解斜視図である。図2は、同じく
光ファイバアレイを示す斜視図である。図3は、同じく
光ファイバアレイを示す断面図である。
【0016】図1および図2において、本実施の形態に
係る光ファイバアレイ20は、基板22と、押さえ部材
26と、複数の光ファイバ30とを備えている。本実施
の形態に係る光ファイバ30は4本並んだ状態で樹脂製
(ナイロン等)の被覆材32により被覆されている。こ
のように被覆されたものは、ファイバリボン(fibe
r ribbon)あるいはテープ心線と呼ばれる。基
板22の上面部である表面部23は、粗研磨することに
より成形されており、その一端部に一段高いマウント部
23aを有している。基板22の表面部23のマウント
部23aにはV溝アレイ24が形成されている。
【0017】V溝アレイ24は、表面部23に複数(4
個)のV溝25が凹設されて成る。各V溝25は、その
溝方向が互いに平行に成るようにV溝加工により成形さ
れ、V溝25に嵌合する光ファイバ30を整列させてい
る。凹部であるV溝25とそれに隣接するV溝25との
間に位置する凸部23bは、台形の断面形状に形成され
ていて、台形の上底に相当する上底面部23cは、V溝
加工されないで粗研磨の表面(表面部23の表面)状態
に成っている。
【0018】凸部23bの上底面部23cの面精度は、
光ファイバ30の位置決めには無関係であるので、粗研
磨の表面状態になっていても問題はない。凸部23bの
上底面部23cの表面粗さは、0.5〜2.0μmの状
態が望ましい。その程度の表面粗さを得るためには、一
般的には研磨機により基板22の表面部23を研磨する
が、#1000の研磨紙で研磨した場合にも、その程度
の表面粗さを得ることができる。押さえ部材26は、平
板形状に形成されており、マウント部23aと同じ長さ
の厚板部27と、その厚板部27に続く薄板部27aと
から構成され、基板22と同じ幅を有している。
【0019】図2および図3に示すように、基板22の
マウント部23aと押さえ部材26の厚板部27とで挟
まれるべきファイバリボンの端部は、樹脂製の被覆材3
2を除去されて光ファイバ30が外部に露呈している。
光ファイバ30の露呈部分である端部34は、基板22
のマウント部23aに形成されるV溝25の長さにほぼ
相当していて、V溝に嵌め込まれている。基板22のマ
ウント部23aおよび光ファイバ30の端部34(露呈
部分)にも接着剤が塗布され、接着剤は、基板22のマ
ウント部23aと押さえ部材26の厚板部27とで光フ
ァイバ30の端部34(露呈部分)を挟んだ状態に接着
固定している。
【0020】次に、このように構成される光ファイバア
レイ20を製造する作業の一形態について説明する。ま
ず、光ファイバ30を覆っている樹脂製の被覆材32の
端部を所定の長さだけ除去する。除去した後、外部に露
呈する光ファイバ30の端部34(露呈部分)を基板2
2のV溝25に対応して配設する。このため、光ファイ
バ30の端部34がV溝25を構成する傾斜面である両
溝壁に係合する。
【0021】光ファイバ30の端部34が基板22のV
溝25の両側壁に係合した状態において、基板22の表
面部23全体(マウント部23aを含む)に接着剤を塗
布する。次に、図2に示すように、押さえ部材26と基
板22とで光ファイバ30を挟む。このとき、押さえ部
材26の厚板部27が光ファイバ30の端部34(露呈
部分)をV溝25側へ押さえ込んだ状態になる。接着剤
が硬化すると、基板22、光ファイバ30および押さえ
部材26が一体的に固定される。この接着剤として、例
えば、エポキシ系の硬化剤が使用される。なお、接着剤
の塗布する順番は、これに限定されるものではなく、本
実施形態で示した順番以外にも考えられる。
【0022】一体的に接着固定された光ファイバアレイ
20において、基板22の端面、押さえ部材26の端面
および、光ファイバ30の端部34を、光ファイバ30
のファイバ軸に対して直交する方向から切断し、切断さ
れた各端面を研磨処理する。光ファイバアレイ20の端
面の研磨処理は、一般的に、荒削り、中間研磨、鏡面研
磨の3段階から成る。
【0023】このような光ファイバアレイ20におい
て、接着剤を介して押さえ部材26の厚板部27に対面
する、基板22のマウント部23aの凸部23bの上底
面部23cは、接着力を上げるべく十分に広い幅を確保
するという要請がある一方で、複数の光ファイバ30の
配置等の関係から、凸部23bの上底面部23cの幅を
広げるには必然的に制約がある。
【0024】しかし、そのような制約の下、上底面部2
3cの表面状態は、粗研磨の状態のままであるから、接
着面積としては、実質的には十分に広いものになる。そ
して、接着剤が硬化後に収縮した場合であっても、凸部
23bにおける接着強度を十分なものに維持して、耐環
境試験を行った際に、凸部23bにおいて、接着剤が剥
離するのを防止し、基板22と押さえ部材26とで光フ
ァイバ30を十分な力で挟んだ状態に維持し、光ファイ
バ30の位置精度を高く保つことができる。
【0025】また、基板22の凸部23bの上底面部2
3cの表面は、V溝加工されないで粗研磨の状態のまま
維持されているので、例えば、粗研磨された基板22の
素材の表面状態をそのまま加工しないで、マウント部2
3aにして、凸部23bの表面状態として用いることが
できる場合には、凸部23bの表面加工の工程を省略す
ることができ、結果的に製造コストを低減することがで
きる。
【0026】前記実施の形態においては、基板22の表
面23を研磨紙や研磨機で研削するものを示したが、そ
れ以外に、ダイシング機で表面を研削したり、あるい
は、ケミカルエッチング(ガラスの場合フッ酸によるエ
ッチング)などの手段で研削してもよい。
【0027】
【発明の効果】請求項1に係る発明によれば、基板に並
設された複数のV溝に複数の光ファイバをそれぞれ嵌め
込んで並べ、基板および光ファイバ上に接着剤を塗布し
て、基板と押さえ部材とで光ファイバを挟んだ状態に
し、基板、押さえ部材および光ファイバを一体的に接着
固定する際に、接着剤を介して押さえ部材に対向する、
基板の凸部の表面が粗面状態に成っているので、凸部の
表面積が比較的広くなり、接着剤が硬化後に収縮した場
合であっても、凸部における接着強度を十分なものに維
持して、耐環境試験を行った際に、凸部において、接着
剤が剥離するのを防止し、基板と押さえ部材とで光ファ
イバを挟んだ状態に維持し、光ファイバを高精度に保つ
ことができる。
【0028】請求項2に係る発明によれば、基板の表面
部が粗研磨されており、基板の凸部は、複数のV溝にお
いて隣り合うV溝の間に位置していて、V溝加工におい
て加工されないで粗研磨した状態に維持されるので、例
えば、粗研磨された基板の素材の表面状態をそのまま加
工しないで、凸部の表面状態として用いることが可能に
なり、凸部の表面加工、例えば鏡面研磨工程を省略する
ことができ、製造コストを低減することができる。
【0029】請求項3に係る発明によれば、基板の凸部
の表面あらさが、0.5から2.0μmであるので、凸
部の表面積(接着面積)を広げるには十分なあらさであ
り、かつ、0.5から2.0μmの表面あらさは、粗研
磨した基板の素材の表面状態であり、素材の表面状態を
そのまま凸部の表面として用いれば、凸部の表面加工、
例えば鏡面研磨工数を省略することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態に係る光ファイバアレイ
を示す分解斜視図である。
【図2】本発明の一実施の形態に係る光ファイバアレイ
を示す斜視図である。
【図3】本発明の一実施の形態に係る光ファイバアレイ
を示す断面図である。
【符号の説明】
20…光ファイバアレイ 22…基板 23…表面部 23a…マウント部 23b…凸部 23c…上底面部 24…V溝アレイ 25…V溝 26…押さえ部材 30…光ファイバ 32…被覆材 34…端部露呈部分

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に並設された複数のV溝に複数の光
    ファイバをそれぞれ嵌め込んで並べ、前記基板と押さえ
    部材とで前記光ファイバを挟んだ状態に接着固定して成
    る光ファイバアレイにおいて、 前記基板の表面部は、前記複数のV溝が成す凹部と、前
    記複数のV溝において隣り合うV溝の間に位置する凸部
    とを有しており、 前記基板の凸部は粗面に形成されており、 前記接着剤は、前記基板の凹部および凸部を含む表面部
    と光ファイバとに塗布されており、 前記押さえ部材は、前記複数のV溝に並べられた光ファ
    イバを前記基板とにより挟んだ状態に接着固定すること
    を特徴とする光ファイバアレイ。
  2. 【請求項2】 基板に並設された複数のV溝に複数の光
    ファイバをそれぞれ嵌め込んで並べ、前記基板と押さえ
    部材とで前記光ファイバを挟んだ状態に接着固定して成
    る光ファイバアレイにおいて、 前記基板の表面部を粗研磨し、 前記基板の表面部をV溝加工して、前記複数のV溝を形
    成する一方、前記複数のV溝において隣り合うV溝の間
    に位置する凸部を未加工にして、該凸部の表面を前記粗
    研磨した状態に維持することを特徴とする光ファイバア
    レイ。
  3. 【請求項3】 前記基板の凸部の表面あらさは、0.5
    から2.0μmであることを特徴とする請求項1又は請
    求項2に記載の光ファイバアレイ。
JP30223297A 1997-11-04 1997-11-04 光ファイバアレイ Withdrawn JPH11142673A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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