JPH11146021A - 信号伝送回路、cmos半導体デバイス、及び回路基板 - Google Patents
信号伝送回路、cmos半導体デバイス、及び回路基板Info
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- JPH11146021A JPH11146021A JP10230754A JP23075498A JPH11146021A JP H11146021 A JPH11146021 A JP H11146021A JP 10230754 A JP10230754 A JP 10230754A JP 23075498 A JP23075498 A JP 23075498A JP H11146021 A JPH11146021 A JP H11146021A
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Abstract
或いは接続される被駆動回路の数が多数存在する等によ
り形成される静電容量の容量値が大きい信号線路の信号
伝送特性を改善する。 【解決手段】 駆動回路及び被駆動回路の電源電圧の中
点電圧を出力し、出力インピーダンスが低い付加回路を
信号線路に接続し、信号線路の電位を電源電圧の中点電
圧に維持すると共に、駆動回路から出力される駆動信号
を中点電圧(被駆動回路の閾値電圧)を中心に小振幅で
励振させ、この小振幅に制限された駆動信号により被駆
動回路を駆動させる。
Description
MOS半導体デバイス、及び回路基板に関し、特に、付
加回路を有する信号伝送回路、CMOS半導体デバイ
ス、及び回路基板に関する。
に、これを形成する半導体チップの形状も大形化され、
内部に形成される信号線(例えばクロックを分配する信
号線、バスラインを構成する信号線等)の配線長が長く
なる傾向にある。
の各種の形態を示す。大規模集積回路素子は一辺が約1
5〜20mm程度の正四角形の半導体チップCPに形成
される。従って内部に形成される信号線LINの線路長
は長いもので20mm以上に達する例も少なくない。
RCとの間の信号線路LINの線路長が100μm以下
の配線形態を示す。Bは線路長が20mm以上の場合の
配線形態を示す。Cはバスライン或はクロック分配線路
のように被駆動回路RCが信号線路LINに多数接続さ
れている場合の配線形態を示す。
気的な等価回路を示す。
続する信号線路LINには配線容量CLが発生し、また
被駆動回路RCの入力端には入力容量CGが形成され
る。これらの配線容量CLと入力容量CGは配線形態
A、B、Cによってそれぞれ異なる値となる。入力容量
CGは接続される被駆動回路RCの個数に比例した値と
なり、また配線容量CLは信号線路LINの長さに比例
した値となる。
配線形態Aが信号線路LINに接続される容量値が最も
小さく、次に配線形態B、配線形態Cの順に静電容量値
の値が大きくなり、この静電容量の値によって信号の伝
送特性に大きな違いが発生する。
線形態A、B、Cの信号線路にステップパルスを与えた
場合のステップ応答波形を示す。図3Aは図1に示した
配線形態Aのステップ応答波形、図3Bは図1に示した
配線形態Bのステップ応答波形、図3Cは図1に示した
配線形態Cのステップ応答波形を示す。図3から明らか
なように、図1に示した配線形態Aの線路長ではステッ
プ波形の立上りの遅れはほとんど見られないが、配線形
態BとCではステップ波形は大きくなまり、大きな応答
遅れを発生する。特に信号線路LINが長く、然も被駆
動回路RCが多数接続される配線形態Cでその傾向が著
るしく現れる。
は入力したパルスはほぼ正常に被駆動回路RCに伝達さ
れるが、配線形態BとCではパルスはほとんど被駆動回
路RCに伝達されない。つまり、パルス幅が狭いパルス
は容量性が大きい信号線路では伝達できないことが解
る。この点が半導体チップの大形化を阻害する要因とな
っている。
配線基板)に実装した集積回路素子の相互間を接続する
信号線路にも当てはまる内容である。
ために、トランジスタ等の素子の加工寸法は微細化し、
配線の線幅は細く形成しなければならない。この点で信
号線路に発生する静電容量値は小さくなるものと考えら
れるが、線幅を細く形成するのと同時に絶縁層の厚みも
薄く形成されるので、結果として信号線路の配線容量C
L及び被駆動回路RCの入力容量CGは集積度の向上の
ために形成面積が縮小化されたとしても大きく減少する
ことはない。
に示すようにクロックパルスを多数の回路領域MAPに
配給する回路において、信号線路に大容量駆動回路DR
1、中容量駆動回路DR2、小容量駆動回路DR3を接
続する方法も考えられるが、このように各信号線路LI
Nに駆動回路DR1、DR2、DR3を接続すると、集
積回路内の回路が多くなり、消費電力も増大する。ま
た、通過する回路が多くなるので、タイミング精度も劣
化する。
めることなく、長い信号線路でも確実に信号を伝送する
ことができる信号伝送回路を提案しようとするものであ
る。
とのできる信号伝送回路、CMOS半導体デバイス、及
び回路基板を提供することを目的とする。この目的は特
許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせ
により達成される。また従属項は本発明の更なる有利な
具体例を規定する。
の何れかに出力インピーダンスが低く、電源電圧の中点
の電圧を出力する付加回路を接続した構成の信号伝送回
路を提案するものである。
容量又は入力容量が大きい信号線路に対し、何れかに出
力インピーダンスが低く、電源電圧の中点の電位を出力
する付加回路を接続することにより、信号線路の電位は
電源電圧の中点電位を中心に駆動される。つまり、被駆
動回路は自己の閾値電圧を中心に駆動される。
から、信号の振幅は小振幅に抑えられる。然し被駆動回
路は自己の閾値を中心に駆動されるから、与えられる信
号の振幅は小振幅であっても、確実にオン、オフ動作
し、信号を受信することができる。また、付加回路の出
力インピーダンスが低いために、伝送信号の遷移時間を
決定する時定数(この場合は抵抗と容量の積)が小さく
なるため、高速な信号を通過させることができる。
きい形態の信号線路であっても、入力されたパルスに波
形歪みを与えることなく伝送することができる。
配線容量、入力容量への過渡的な充放電電流が小さくな
り、動作時の消費電力も減らすことができる。
の形態は、伝送信号を送り出す駆動回路と、前記伝送信
号を伝搬させる信号線路と、2つの電源電圧VSS及びV
DD(VDD>VSS)により駆動され、前記信号線路で伝播
された前記伝送信号を取り込む被駆動回路を備える信号
伝送回路において、前記信号線路に対し、前記電源電圧
VSSより大きく、前記電源電圧VDDより小さい所定の電
圧を出力する付加回路を備えることを特徴とする信号伝
送回路を提供する。
伝送回路において、前記被駆動回路は、入力された電圧
に応じて2値の出力電圧のいずれかを出力するディジタ
ル回路を有し、前記付加回路が、前記ディジタル回路の
出力が前記2値の出力電圧の一方から他方へ反転する閾
値電圧にほぼ一致する電圧を出力する。
送回路において、前記付加回路が、電源電圧VSS及びV
DDのほぼ中点の電圧を出力する。
号伝送回路において、前記付加回路が、前記駆動回路の
出力インピーダンスよりも低い出力インピーダンスを有
する。
号伝送回路において、前記付加回路の出力インピーダン
スが、前記駆動回路の出力インピーダンスの1/2から
1/4の大きさである。
号伝送回路において、前記付加回路が、第1のインバー
タと、前記第1のインバータの入力端子と出力端子を接
続した帰還回路を有する。
号伝送回路において、前記被駆動回路は第2のインバー
タを有し、前記第1のインバータが、前記第2のインバ
ータとほぼ等しいベータレシオを有する。
号伝送回路において、前記付加回路が、P型FET及び
N型FETを有し、前記P型FET及び前記N型FET
のゲートのそれぞれに、順方向バイアス電圧が印加され
る。
号伝送回路において、前記付加回路が、前記電源電圧V
SSより大きく、前記電源電圧VDDより小さい所定の電圧
を出力する電圧源を有する。
号伝送回路において、前記付加回路が、前記電圧源が出
力した前記電圧の出力インピーダンスを下げる低インピ
ーダンスバッファ回路を更に有する。
号伝送回路において、前記信号線路と、前記付加回路と
の間に流れる電流を遮断する遮断手段を備える。
号伝送回路において、前記付加回路が、NANDゲート
と、前記NANDゲートの一つの入力端子と出力端子を
接続した帰還回路を有する。
号伝送回路において、前記NANDゲートが、前記信号
線路と前記付加回路との間に流れる電流を遮断する制御
信号が入力される制御端子を有する。
号伝送回路において、前記付加回路が、NORゲート
と、前記NORゲートの一つの入力端子と出力端子を接
続した帰還回路を有する。
号伝送回路において、前記NORゲートが、前記信号線
路と前記付加回路との間に流れる電流を遮断する制御信
号が入力される制御端子を有する。
号伝送回路において、前記付加回路が、前記信号線路の
終端に接続される。
の別の形態は、伝送信号を送り出す駆動回路と、前記伝
送信号を伝搬させる信号線路と、2つの電源電圧VSS及
びV DD(VDD>VSS)により駆動され、前記信号線路で
伝播された前記伝送信号を取り込む被駆動回路を有する
信号伝送回路を形成されたCMOS半導体デバイスにお
いて、前記信号伝送回路が、前記信号線路に対し、前記
電源電圧VSSより大きく、前記電源電圧VDDより小さい
所定の電圧を出力する付加回路を有することを特徴とす
るCMOS半導体デバイスを提供する。
OS半導体デバイスにおいて、前記付加回路が、前記駆
動回路の出力インピーダンスよりも低い出力インピーダ
ンスを有する。
S半導体デバイスにおいて、前記付加回路のベータレシ
オが、前記被駆動回路のベータレシオにほぼ等しい。
の更に別の形態は、伝送信号を送り出す駆動回路を有す
る第1半導体デバイスと、2つの電源電圧VSS及びVDD
(V DD>VSS)により駆動され、前記伝送信号を取り込
む被駆動回路を有する第2半導体デバイスと、前記伝送
信号を前記駆動回路から前記被駆動回路に伝搬させる信
号線路のパターンとを備える回路基板において、前記信
号線路に対し、前記電源電圧VSSより大きく、前記電源
電圧VDDより小さい所定の電圧を出力する付加回路を備
えることを特徴とする回路基板を提供する。
回路が、前記駆動回路の出力インピーダンスよりも低い
出力インピーダンスを有する。
特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群の
サブコンビネーションも又発明となりうる。
本発明を説明するが、以下の実施形態はクレームにかか
る発明を限定するものではなく、又実施形態の中で説明
されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に
必須であるとは限らない。
施例を示す。図6に示すDR、RC、LIN、CL、C
Gは図で説明したと同様に駆動回路、被駆動回路、信号
線路、配線容量、入力容量をそれぞれ示す。
加回路を接続する。付加回路は例えばCMOS回路で構
成されるインバータIV(極性反転回路)に全帰還回路
NFを接続して構成することができる。
伝播された信号が、被駆動回路で反射し、被駆動回路で
取り込まれる信号波形に、オーバーシュート及びアンダ
ーシュートが生じることがある。このようなオーバーシ
ュート及びアンダーシュートを小さくするために、付加
回路を信号線路LINの終端に接続してもよい。
この例では駆動回路DRと被駆動回路RCもCMOS回
路で構成したインバータを用いた例を示す。付加回路も
CMOS回路構造のインバータに全帰還回路NFを接続
して構成することができる。この付加回路の回路構造に
よれば、インバータの入力端子及び出力端子の共通接続
点Jの電位を電源電圧VDD−VSSのほぼ中点電位に安定
させることができる。図8を用いてその理由を説明す
る。
直流伝達特性(入力電圧に対する出力電圧の関係)を示
している。
しているため、論理的閾値の近傍で右下がりの特性を示
す。
ため、入力と出力の端子を短絡して(あるいは抵抗のよ
うな素子で接続して)全帰還をかけると、入力と出力電
圧が等しい値になるので、曲線Yに重ねてVin=Vo
utの直線Xを描くと、この回路の出力電圧は直線Xと
曲線Yの交点に等しくなることが判る。
出力電圧が反転する点であり、すなわち、インバータの
論理的閾値に等しい。
ETのオン抵抗が等しい場合はこの交点は電源電圧のち
ょうど中点になる。
いたが、実際には非線形性を持っている。もう少し正確
に表現するため、FETのドレイン電流の流れ易さを表
す指標として、ドレイン係数βという数字を用いること
にする。
きさ、アスペクト比等で定まる比例定数である。
n、βpとすると、
x)・μn,eff
x)・μp,eff
Tox;ゲート酸化膜厚、εox;ゲート酸化膜誘電
率、μn,eff;電子の実効移動度、μp,eff;
正孔の実効移動度
流は以下のように簡単に表すことができる。 Id=β{(Vgs−Vt)Vds−(1/2)(Vd
s2)}
動度の約半分だから、N型FETとP型FETを同じ形
に作れば(閾値電圧は等しいという前提で)、 (1) N型FETはP型FETの倍の電流が流れる。 (2) N型FETのオン抵抗はP型FETの半分であ
る。と言える。
FETのβを等しくとるか、あるいは形状(W,H)を
等しくするのが普通である。
(βR=βn/βp、ベータレシオ)を10倍程度変え
た場合、概ね、図8に示す曲線Y1とY2の曲線程度の
変化になる。但し、Y1は例えば、βn>βp,(βR
=10)、Y2はβn<βp,(βR=0.1)とする
ことができる(βn,βpはそれぞれN型FET,P型
FETのドレイン電流係数)。
バータIVもN型FETQNとP型FETQPのベータレ
シオを付加回路と同様に設定することにより、被駆動回
路RCが反転動作する閾値電圧を電源電圧VDD−VSSの
中点電圧に合致させることができる。従って付加回路を
構成するインバータIVと被駆動回路RCを構成するイ
ンバータの関係を上述のような関係(一般にベータレシ
オを等しく採ると言われている)に設定することによ
り、被駆動回路RCは自己の閾値電圧を中心に駆動回路
DRから送られて来る信号を受取ることになる。
す。駆動回路DRは等価的にスイッチSWで表すことが
できる。ROUTは駆動回路DRの出力インピーダンスを
示す。図9では信号線路LINの直流抵抗は省略して示
す。RMは付加回路の出力インピーダンスに等しい等価
抵抗器を表す。つまり、付加回路は抵抗値がRTの等価
抵抗器RMを通じて中点電圧VCに接続された回路とし
て表わすことができる。
A側に切替わると、信号線路LINには出力インピーダ
ンスROUTを通じて正極電圧VDDが印加される。このと
き等価抵抗器RMのインピーダンスRTに電流I1が流
れ接続点Jには中点電圧VCより正側に偏倚する電圧E
1(図10A及びB)が発生する。この電圧E1は
Wが接点B側に切替わると、信号線路LINには電源電
圧VSSが与えられる。よってこのとき付加回路のインピ
ーダンスRTには電流I2が流れ、接点Jの電圧は中点
電位VCよりE2だけ負側に振れる。この電圧E2は
上述したように小さい値でRT<<R OUTの関係となる。
従って接続点Jに発生する信号の振幅E1とE2は微少
な値となる。然も、被駆動回路RCは中点電位VCを反
転動作の閾値として動作するから、接続点Jに発生する
電圧E1とE2の振幅の範囲内に存在する電圧EAとEB
(図10B)で確実に反転動作する。従って被駆動回路
RCは接続点Jの電位が中点電圧VCをわずかに横切る
と直ちに反転動作し、配線容量CL及び入力容量CGの
和の値が大きく、信号線路LINの電位変化に遅れが有
っても、被駆動回路RCの出力は図10Cに示すよう
に、波形歪がほとんどない波形で伝送することができ
る。
ンスROUTの関係について説明する。電圧E1及びE2
は、上式で示されるように、RTとROUTの関数である。
RT値を小さくするほど、電圧E1とE2は微少な値と
なる。しかし、被駆動回路RCは、閾値電圧を有してお
り、被駆動回路RCの信号の感度範囲で、RTの値を定
めなければならない。入力がLであるときに被駆動回路
RCが安定したL又はHの値を出力することのできる最
大の入力電圧をVthLとし、入力がHであるときに被駆
動回路RCが安定したH又はLの値を出力することので
きる最小の入力電圧をVthHとする。入力をLから徐々
に大きくした場合において、被駆動回路RCの出力が実
質的に変化し始めるときの入力電圧をVthLとし、入力
をHから徐々に小さくした場合において、被駆動回路R
Cの出力が実質的に変化し始めるときの入力電圧をV
thHとしてもよい。例えば、被駆動回路RCの入力電圧
VthHが、VC+(VDD−VC)×0.2程度であり、同様に
入力電圧VthLが、VC+(VSS−VC)×0.2程度である
とき、電圧E1とE2の式より、RTとROUTの比は、
(1):(4以下)であるのが好ましい。また、RTを
ROUTで除した値は、1/2から1/4の間にあるのが
更に好ましい。
しも電源電圧VDDからVSSの間の中心の電圧だけを意味
するものではない。図8に関して説明したように、中点
電圧は、ベータレシオの値に応じて、電源電圧VDDから
VSSの間のいずれかの電圧を意味し、中心の電圧から変
動し得る。
Nに多数の被駆動回路RCが接続されている信号線路L
INであっても、この信号線路LINに付加回路を接続
することにより、各被駆動回路RCを駆動回路DRの出
力電圧の変化に追従して動作し、例えば各被駆動回路R
Cに同一タイミングの(時間のずれのない)クロックパ
ルスを与えることができる。
実施例では信号線路LINの何れの位置に付加回路を接
続しても、正常に動作することを表わしている。
形成された信号線路LINについて述べた。集積回路の
外部に形成する信号線路LINにこの発明を適用する場
合には図13に示すように、例えば集積回路素子LSI
1とLSI2の間に接続される信号線路LINの場合
は、信号線路LINの終端側に付加回路を接続しなけれ
ばならない。つまり、集積回路素子の外部に形成される
信号線路LINは一般に特性インピーダンスを所定のイ
ンピーダンスに整合させるために、例えばマイクロスト
リップラインのような分布常数回路が用いられる。分布
常数回路は部分的に誘導性及び容量性を呈するため、結
果的には図13に示すように信号線路LINの終端に付
加回路を接続することが望ましい。
を示す。この回路基板は、LSI1とLSI2と、信号
線路LINのパターンを有する。信号線路LINには、
付加回路が接続されている。LSI1は、伝送信号を送
り出す駆動回路を有し、LSI2は、伝送信号を取り込
む被駆動回路を有する。付加回路は、上述したように、
信号線路LINの終端に接続されている。この付加回路
は、これまでの実施例と同様に、電源電圧VSSより大き
く、電源電圧VDDより小さい所定の電圧を出力する。ま
た、付加回路は、LSI1の駆動回路の出力インピーダ
ンスよりも低い出力インピーダンスを有している。
を示す。図14に示す付加回路はP型FETQP及びN
型FETQNのゲートにそれぞれ順方向バイアス電圧を
直接与える構造とした場合を示す。このように構成する
ことにより、P型FETQPと、N型FETQNは常時オ
ンの状態を維持し、接続点Jの電位を電圧VDDとVSSの
中点電圧に維持し、低インピーダンスの中点電圧源とし
て動作する。
OWと中点電圧源EJVとを組合せて付加回路を構成し
た場合を示す。低インピーダンスバッファ回路LOWの
構成はインバータと全く逆で正極電圧VDD側にN型FE
TQNのドレインを接続し、負極電圧VSS側にP型FE
TQPのドレインを接続し、ゲート及びソースをそれぞ
れ共通に接続し、ゲートの共通接続点に中点電圧源EJ
Vから中点電圧VCを与える。
バッファ回路LOWの等価回路を示す。図15に示した
インピーダンスバッファ回路LOWを構成するN型FE
TQ NとP型FETQPは利得1の電圧バッファとして見
ることができ、図10に示したと同様に出力インピーダ
ンスに等しい抵抗値RUを持つ等価抵抗器RMと中点電
圧源EJVとによって表現することができる。
いる状態では、等価抵抗器RMから信号線路LINに向
かって電流I1が流れ、接続点Jの電位を中点電位か
ら、わずかに負電位VSS(L論理)方向に偏倚させる。
従ってこのとき被駆動回路RCはH論理を出力する状態
である。
態に反転すると、等価抵抗器RMには信号線路LINか
ら中点電圧源EJVに向かって電流I2が流れる。この
電流I2が流れることによって接続点Jの電位は中点電
位VCからわずかに正極電圧VDDに近ずく方向に偏倚さ
れる。よってこの状態では被駆動回路RCはL論理を出
力する状態に反転される。
Uは図9に示した等価抵抗器の抵抗値RTよりは大きく
なるが、ROUT>>RUの関係は維持され接続点Jの電
位変化をわずかな振幅変動に抑えることができる。よっ
て図9と図10を使って説明したと同様に駆動回路DR
の出力の状態が反転したタイミングから被駆動回路RC
の閾値を横切るまでの時間(電圧変化が小さいから)を
短くでき、図15に示した実施例によっても被駆動回路
RCの応答速度を高めることができる。
EJVを抵抗分割回路によって構成した場合を示した
が、この中点電圧源EJVに図7に示した付加回路又は
図14に示した付加回路を用いることもできる。中点電
圧源EJVと低インピーダンスバッファ回路LOWとに
よって付加回路を構成する場合、図17に示すように1
個の中点電圧源EJVによって複数の低インピーダンス
バッファ回路LOWに中点電圧VCを与え、複数の信号
線路に対して付加回路を接続するように構成することも
できる。
は能動素子が静止状態に維持されている状態では消費電
流はほとんど0に近い値に収束する。従って通常半導体
集積回路素子を試験する場合、この静止時の電流を測定
し、その電流値が規定した値以下であるか否かをテスト
する項目がある。これに対し、上述した付加回路を半導
体集積回路素子に組込んだとすると、付加回路は静止状
態でも電流を消費する。この結果、付加回路を組込んだ
集積回路素子は静止電流測定が不可能な素子となる。
都合を解消するために付加回路に遮断手段CUTを付加
し、この遮断手段CUTに制御信号を与え、必要に応じ
て付加回路に流れる電流を遮断させ静止電流測定を可能
とするように構成したものである。
に遮断手段CUTを付加した例を示す。遮断手段CUT
は制御端子CTを有し、この制御端子CTにこの例では
H論理を与えることにより付加回路は動作状態に維持さ
れ、L論理を与えると非動作状態に切替えられ、付加回
路は電流を全く消費しない状態に制御されるように構成
した場合を示す。
と、FETQ1、Q3がオフ、Q2、Q4がオンの状態
に制御される。FETQ2がオン、Q1がオフの状態に
制御されることから、FETQ5がオン、Q6がオフの
状態に制御される。結果として、FETQ4とQ5がオ
ンの状態に制御され、これらFETQ4とQ5を通じて
FETQPとQNのゲート相互が接続された状態に維持さ
れて付加回路として動作する。
Q1、Q3がオン、FETQ2、Q 4がオフの状態に制
御される。FETQ1がオン、FETQ2がオフの状態
に制御されることから、FETQ5はオフ、Q6がオン
の状態に制御される。つまり、FETQ4とQ5がオフ
の状態に制御され、FETQ3とQ6がオンの状態に制
御されるから、FETQPとQNはオフの状態に制御され
る。ここでFETQ1、Q3、Q6がオンの状態に制御
されるが、これらに直列に接続されているFETQ2、
Q4、Q5がオフの状態制御されるから付加回路には全
く電源電流が流れないことになる。よって制御端子CT
にL論理を与えた状態にすれば静止電流測定を行うこと
ができる。
一般にアナログスイッチ等と呼ばれているスイッチ素子
ANSによって構成した場合を示す。スイッチ端子AN
Sをオフの状態に制御することにより、付加回路を構成
するFETQPとQNはオフの状態に制御される。
段CUTを付加した場合を示す。図18との違いはFE
TQ4のソース電極が負極電源VSSに接続されている点
と、FETQ5のソース電極が正極電源VDDに接続され
ている点である。制御端子CTにH論理を与えることに
よりこれらのFETQ4とQ5をオンの状態に制御する
と、P型FETQPのゲートとN型FETQNのゲートに
は順方向バイアス電圧VSSとVDDが与えられ、P型FE
TQPとN型FETQNはオンの状態に制御され、付加回
路として動作する。
Q4とQ5がオフ、Q3とQ6がオンの状態に制御さ
れ、この状態ではP型FETQPとN型FETQNはオフ
の状態に制御され、電流の消費をほぼ0の状態に制御さ
れる。
バッファ回路LOWと中点電圧源EJVとを組合せて付
加回路を構成した場合に、遮断手段を付加した構成を示
す。また、この実施例では図7に示した付加回路を中点
電圧源EJVに流用した場合を示す。CUT1は中点電
圧源EJVを構成するP型FETQP1とN型FETQ
N1を遮断の状態に制御するための遮断手段、CUT2
は低インピーダンスバッファ回路LOWを構成するN型
FETQN2とP型FETQP2を遮断の状態に制御する
ための遮断手段を示す。
段CUT1ではFETQ4−1とQ 5−1がオンの状態
に制御され、中点電圧源EJVを構成するP型FETQ
P1とN型FETQN1の各ゲートがこれらFETQ
4−1とQ5−1を通じて接続される。この結果、図7
に示した回路と同一の回路が構成され、接続点J1に中
点電圧を出力する。
にH論理が与えられることにより、FETQ4−2とF
ETQ5−2がオンの状態に制御される。この結果、低
インピーダンスバッファ回路LOWを構成するN型FE
TQN2とP型FETQP2はゲートがFETQ4−2と
FETQ5−2を通じて共通接続され、この共通接続点
に中点電圧源EJVから中点電圧が与えられる。よっ
て、この状態ではN型FETQN2とP型FETQP2は
図15に示した低インピーダンスバッファ回路LOWと
同じ回路構造とされ、接続点J2に駆動回路DRから信
号電位が与えられることにより、図15で説明したと同
様に動作する。
断手段CUT1ではFETQ3−1とQ6−1がオン、
Q4−1とQ5−1がオフに制御されるから中間電圧源
EJVを構成するP型FETQP1とN型FETQN1は
オフに制御される。
ETQ5−2がオフ、Q3−2とQ 6−2がオンの状態
に制御されるから、低インピーダンスバッファ回路LO
Wを構成するN型FETQN2とP型FETQP2はオフ
の状態に制御される。
端子CTにL論理を与えると全ての電流が遮断の状態と
なり、静止電流測定を行うことができる。
インバータIVに全帰還回路NFを接続した構成につい
て説明してきた。以下に、インバータIV以外の回路、
例えば、NANDゲート、NORゲートを利用して、付
加回路を形成する実施例について説明する。
の実施例を示す。図6に示された実施例と比較すると、
図6に示された付加回路が、インバータIVを有するの
に対し、本実施例による付加回路は、NANDゲートを
有している。図22に示された付加回路は、NANDゲ
ートに全帰還回路NFを接続して構成される。また、N
ANDゲートは、複数の入力端子を有するので、図示さ
れるように、一つの端子を制御端子CTとして利用する
ことが可能である。
路の具体的な構成の一例を示す。この回路構成は、制御
端子CTの入力信号をH論理とL論理の間で切り替える
ことにより、付加回路の動作をオン/オフすることがで
きる。この実施例では、制御端子CTにH論理を与える
と、付加回路は動作状態に維持されて、中点電位を出力
することができ、制御端子CTにL論理を与えると、付
加回路は非動作状態に切り替えられ、出力をHとする。
にH論理を与えると、FETQ1がオン、FETQ4が
オフの状態に制御される。従って、FETQ2とFET
Q3のドレイン相互が接続された状態に維持されて、付
加回路が動作状態に維持され、中点電位を出力する。前
述したように、被駆動回路を構成するN型FETQNと
P型FETQPのベータレシオを付加回路と同様に設定
することにより、被駆動回路RCが反転動作する閾値電
圧を電源電圧VDD−VSSの中点電圧に合致させることが
でき、被駆動回路RCは自己の閾値電圧を中心に駆動回
路DRから送られて来る信号を受取ることが可能とな
る。
FETQ1がオフ、FETQ4がオンの状態に制御され
る。従って、共通接続点Jの電位は、常にHになる。半
導体集積回路素子の漏れ電流試験(静止電流試験)時に
は、送信側(駆動回路DR)の出力を、共通接続点Jの
電位に等しく設定する必要がある。
ることによって、NANDゲートを用いて構成された付
加回路の動作をオン/オフすることができる。
に別の実施例を示す。図6に示された実施例と比較する
と、図6に示された付加回路が、インバータIVを有す
るのに対し、本実施例による付加回路は、NORゲート
を有している。図24に示された付加回路は、NORゲ
ートに全帰還回路NFを接続して構成される。また、N
ORゲートは、複数の入力端子を有するので、図示され
るように、一つの端子を制御端子CTとして利用するこ
とが可能である。
の具体的な構成の一例を示す。この回路構成は、制御端
子CTの入力信号をH論理とL論理の間で切り替えるこ
とにより、付加回路の動作をオン/オフすることができ
る。この実施例では、制御端子CTにL論理を与える
と、付加回路は動作状態に維持されて、中点電位を出力
することができ、制御端子CTにH論理を与えると、付
加回路は非動作状態に切り替えられ、出力をLとする。
にL論理を与えると、FETQ1がオフ、FETQ2が
オンの状態に制御される。FETQ3のドレインがFE
TQ 2のソースに接続しており、FETQ2がオンの状
態となることから、FETQ 3とFETQ4のドレイン
相互が接続された状態に維持されて、付加回路として動
作状態に維持され、中点電位を出力する。前述したよう
に、被駆動回路を構成するN型FETQNとP型FET
QPのベータレシオを付加回路と同様に設定することに
より、被駆動回路RCが反転動作する閾値電圧を電源電
圧VDD−VSSの中点電圧に合致させることができ、被駆
動回路RCは自己の閾値電圧を中心に駆動回路DRから
送られて来る信号を受取ることが可能となる。
FETQ1がオン、FETQ2がオフの状態に制御され
る。FETQ1がオン状態になるので、共通接続点Jの
電位は、常にLになる。半導体集積回路素子の漏れ電流
試験(静止電流試験)時には、送信側(駆動回路DR)
の出力を、共通接続点Jの電位に等しく設定する必要が
ある。
ることによって、NORゲートを用いて構成された付加
回路の動作をオン/オフすることができる。
「中点電圧」が用いられてきたが、「中点電圧」は、必
ずしも電源電圧VDDからVSSの間の中心の電圧だけを意
味するものではない。図8に関して説明したように、中
点電圧は、ベータレシオの値に応じて、電源電圧VDDか
らVSSの間のいずれかの電圧を意味し、中心の電圧から
変動し得る。例えば、図15に示された「中点電圧源」
は、必ずしも電源電圧V DDからVSSの間の中心の電圧だ
けを出力するのではなく、被駆動回路RCの閾値電圧に
対応する電圧を出力することができる。
たが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範
囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又
は改良を加えることができることが当業者に明らかであ
る。その様な変更又は改良を加えた形態も本発明の技術
的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から
明らかである。
付加回路を信号線路LINに接続することにより、信号
線路LINは電源電圧の中点電圧を中心にわずかな振幅
で励振される。また、応答速度を劣化させる容量と並列
に低抵抗が挿入されることにより遷移時間が短くなる。
この結果、被駆動回路RCは駆動回路DRの信号の反転
のタイミングから電圧がわずかに変化したタイミングで
反転動作し、駆動回路DRから送られた信号の反転のタ
イミングをわずかな時間遅れで検出することができる。
つまり、被駆動回路RCの応答速度を高速化することが
できる。この結果、駆動回路DRからパルス幅が狭いパ
ルスが出力されても、このパルスを確実に検出し、被駆
動回路RCの出力側に再現することができる。また、こ
の発明では付加回路が出力する中点電圧VCは電源電圧
が変動しても、その変動に追従して変化するからこの点
で電源電圧の変動があっても被駆動回路RCの閾値に追
従し、常に正常動作させることができる。
大規模な半導体集積回路において、例えばクロック配給
用の信号線路の全長が長くなっても、このクロック配給
用の信号線路の終端側まで確実にクロックを送り込むこ
とができる。
ンのように、各所にデータの受取回路が接続され、入力
容量が多数接続される配線形態の信号線路であっても全
てのデータ受取回路にデータを送り込むことができる。
よってこの発明を適用することにより大規模集積回路の
実現が可能となる。
レシオを有し、全帰還回路を備える付加回路は、被駆動
回路の論理的閾値電圧に合致した電圧を自動的に発生す
ることができる。特に、同一のデバイス(半導体チッ
プ)上に、被駆動回路RCおよび付加回路が共に形成さ
れる場合には、例えば温度変動によって被駆動回路RC
の論理的閾値電圧が変動しても、付加回路の出力電圧も
その論理的閾値電圧に追従して変動するので、精度の高
い伝送が可能となる。また、同一デバイス上に被駆動回
路RCおよび付加回路が共に形成される場合には、その
デバイス内の信号の伝送は、製造偏差による影響を受け
ない。
源等の回路に遮断終端CUTを付設し、この遮断手段に
よって付加回路及び中点電圧源等の回路を流れる電流を
遮断の状態に制御できる構成を提案したから、仮に付加
回路及び中点電圧源が静止状態でもアイドリング電流を
消費する回路であっても、遮断状態に制御することによ
り、アイドリング電流を除去することができる。
込んだ集積回路素子を製造した場合、その半導体集積回
路素子をテストする場合、静止電流測定を簡単に実施で
きる利点も得られる。
ップの拡大平面図である。
る。
である。
を説明するための半導体チップの拡大平面図である。
ある。
た接続図である。
ラフである。
価回路図である。
形図である。
図である。
ブロック図である。
ク図である。
るための接続図である。
を説明するための接続図である。
めのブロック図である。
した例を説明するための接続図である。
ための接続図である。
た構成を説明するための接続図である。
加回路を中点電圧源とした場合に、これらの付加回路と
中点電圧源に遮断手段を付加した構成を説明するための
接続図である。
すブロック図である。
構成の一例を示す。
を示すブロック図である。
成の一例を示す。
Claims (21)
- 【請求項1】 伝送信号を送り出す駆動回路と、前記伝
送信号を伝搬させる信号線路と、2つの電源電圧VSS及
びVDD(VDD>VSS)により駆動され、前記信号線路で
伝播された前記伝送信号を取り込む被駆動回路を備える
信号伝送回路において、 前記信号線路に対し、前記電源電圧VSSより大きく、前
記電源電圧VDDより小さい所定の電圧を出力する付加回
路を備えることを特徴とする信号伝送回路。 - 【請求項2】 前記被駆動回路は、入力された電圧に応
じて2値の出力電圧のいずれかを出力するディジタル回
路を有し、 前記付加回路が、前記ディジタル回路の出力が前記2値
の出力電圧の一方から他方へ反転する閾値電圧にほぼ一
致する電圧を出力することを特徴とする請求項1に記載
の信号伝送回路。 - 【請求項3】 前記付加回路が、電源電圧VSS及びVDD
のほぼ中点の電圧を出力することを特徴とする請求項2
に記載の信号伝送回路。 - 【請求項4】 前記付加回路が、前記駆動回路の出力イ
ンピーダンスよりも低い出力インピーダンスを有するこ
とを特徴とする請求項1に記載の信号伝送回路。 - 【請求項5】 前記付加回路の出力インピーダンスが、
前記駆動回路の出力インピーダンスの1/2から1/4
の大きさであることを特徴とする請求項4に記載の信号
伝送回路。 - 【請求項6】 前記付加回路が、第1のインバータと、
前記第1のインバータの入力端子と出力端子を接続した
帰還回路を有することを特徴とする請求項1に記載の信
号伝送回路。 - 【請求項7】 前記被駆動回路は第2のインバータを有
し、前記第1のインバータが、前記第2のインバータと
ほぼ等しいベータレシオを有することを特徴とする請求
項6に記載の信号伝送回路。 - 【請求項8】 前記付加回路が、P型FET及びN型F
ETを有し、前記P型FET及び前記N型FETのゲー
トのそれぞれに、順方向バイアス電圧が印加されること
を特徴とする請求項1に記載の信号伝送回路。 - 【請求項9】 前記付加回路が、前記電源電圧VSSより
大きく、前記電源電圧VDDより小さい所定の電圧を出力
する電圧源を有することを特徴とする請求項1に記載の
信号伝送回路。 - 【請求項10】 前記付加回路が、前記電圧源が出力し
た前記電圧の出力インピーダンスを下げる低インピーダ
ンスバッファ回路を更に有することを特徴とする請求項
9に記載の信号伝送回路。 - 【請求項11】 前記信号線路と、前記付加回路との間
に流れる電流を遮断する遮断手段を備えることを特徴と
する請求項1から10のいずれかに記載の信号伝送回
路。 - 【請求項12】 前記付加回路が、NANDゲートと、
前記NANDゲートの一つの入力端子と出力端子を接続
した帰還回路を有することを特徴とする請求項1に記載
の信号伝送回路。 - 【請求項13】 前記NANDゲートが、前記信号線路
と前記付加回路との間に流れる電流を遮断する制御信号
が入力される制御端子を有することを特徴とする請求項
12に記載の信号伝送回路。 - 【請求項14】 前記付加回路が、NORゲートと、前
記NORゲートの一つの入力端子と出力端子を接続した
帰還回路を有することを特徴とする請求項1に記載の信
号伝送回路。 - 【請求項15】 前記NORゲートが、前記信号線路と
前記付加回路との間に流れる電流を遮断する制御信号が
入力される制御端子を有することを特徴とする請求項1
4に記載の信号伝送回路。 - 【請求項16】 前記付加回路が、前記信号線路の終端
に接続されることを特徴とする請求項1に記載の信号伝
送回路。 - 【請求項17】 伝送信号を送り出す駆動回路と、前記
伝送信号を伝搬させる信号線路と、2つの電源電圧VSS
及びVDD(VDD>VSS)により駆動され、前記信号線路
で伝播された前記伝送信号を取り込む被駆動回路を有す
る信号伝送回路を形成されたCMOS半導体デバイスに
おいて、 前記信号伝送回路が、前記信号線路に対し、前記電源電
圧VSSより大きく、前記電源電圧VDDより小さい所定の
電圧を出力する付加回路を有することを特徴とするCM
OS半導体デバイス。 - 【請求項18】 前記付加回路が、前記駆動回路の出力
インピーダンスよりも低い出力インピーダンスを有する
ことを特徴とする請求項17に記載のCMOS半導体デ
バイス。 - 【請求項19】 前記付加回路のベータレシオが、前記
被駆動回路のベータレシオにほぼ等しいことを特徴とす
る請求項17に記載のCMOS半導体デバイス。 - 【請求項20】 伝送信号を送り出す駆動回路を有する
第1半導体デバイスと、2つの電源電圧VSS及びV
DD(VDD>VSS)により駆動され、前記伝送信号を取り
込む被駆動回路を有する第2半導体デバイスと、前記伝
送信号を前記駆動回路から前記被駆動回路に伝搬させる
信号線路のパターンとを備える回路基板において、 前記信号線路に対し、前記電源電圧VSSより大きく、前
記電源電圧VDDより小さい所定の電圧を出力する付加回
路を備えることを特徴とする回路基板。 - 【請求項21】 前記付加回路が、前記駆動回路の出力
インピーダンスよりも低い出力インピーダンスを有する
ことを特徴とする請求項20に記載の回路基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23075498A JP4197553B2 (ja) | 1997-08-20 | 1998-08-17 | 信号伝送回路、cmos半導体デバイス、及び回路基板 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22342597 | 1997-08-20 | ||
| JP9-223425 | 1997-08-20 | ||
| JP23075498A JP4197553B2 (ja) | 1997-08-20 | 1998-08-17 | 信号伝送回路、cmos半導体デバイス、及び回路基板 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007278169A Division JP4332574B2 (ja) | 1997-08-20 | 2007-10-25 | 信号伝送回路、cmos半導体デバイス、及び回路基板 |
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| Publication Number | Publication Date |
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Family
ID=26525465
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Cited By (5)
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|---|---|---|---|---|
| JP2001007865A (ja) * | 1999-04-21 | 2001-01-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 信号送受信装置 |
| JP2004146403A (ja) * | 2002-10-21 | 2004-05-20 | Advantest Corp | 伝送回路、cmos半導体デバイス、及び設計方法 |
| JP2010103989A (ja) * | 2009-10-01 | 2010-05-06 | Advantest Corp | 伝送回路、cmos半導体デバイス、及び設計方法 |
| WO2014148372A1 (ja) * | 2013-03-21 | 2014-09-25 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル | 半導体装置 |
| JP2021114351A (ja) * | 2020-01-21 | 2021-08-05 | キオクシア株式会社 | 半導体記憶装置 |
-
1998
- 1998-08-17 JP JP23075498A patent/JP4197553B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP2004146403A (ja) * | 2002-10-21 | 2004-05-20 | Advantest Corp | 伝送回路、cmos半導体デバイス、及び設計方法 |
| US7852122B2 (en) | 2002-10-21 | 2010-12-14 | Advantest Corporation | Transmission circuit for transmitting a differential signal having pulse time larger than a predetermined minimum pulse time and CMOS semiconductor device |
| JP2010103989A (ja) * | 2009-10-01 | 2010-05-06 | Advantest Corp | 伝送回路、cmos半導体デバイス、及び設計方法 |
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