JPH1114692A - イオンマイグレーション測定装置 - Google Patents
イオンマイグレーション測定装置Info
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- JPH1114692A JPH1114692A JP9185940A JP18594097A JPH1114692A JP H1114692 A JPH1114692 A JP H1114692A JP 9185940 A JP9185940 A JP 9185940A JP 18594097 A JP18594097 A JP 18594097A JP H1114692 A JPH1114692 A JP H1114692A
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- ion migration
- sample
- electrodes
- protective resistor
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Links
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- 230000005012 migration Effects 0.000 title claims abstract description 39
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 22
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 abstract 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】小型で、簡単な構成であり、確実にマイグレー
ションの検査が可能なイオンマイグレーション測定装置
を提供する。 【解決手段】 イオンマイグレーションの発生を検査す
る測定装置であって、測定対象である電極１３，１４が
形成されたサンプル１２に直列に保護抵抗１８を接続す
る。保護抵抗１８に電圧測定装置２０を接続し、サンプ
ル１２、保護抵抗１８、及び電圧測定装置２０は複数の
組が並列に設けられる。
ションの検査が可能なイオンマイグレーション測定装置
を提供する。 【解決手段】 イオンマイグレーションの発生を検査す
る測定装置であって、測定対象である電極１３，１４が
形成されたサンプル１２に直列に保護抵抗１８を接続す
る。保護抵抗１８に電圧測定装置２０を接続し、サンプ
ル１２、保護抵抗１８、及び電圧測定装置２０は複数の
組が並列に設けられる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、基板に形成され
た回路パターンや電極間で生じるイオンマイグレーショ
ンの発生を検知するイオンマイグレーション測定装置に
関する。
た回路パターンや電極間で生じるイオンマイグレーショ
ンの発生を検知するイオンマイグレーション測定装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、電子機器の小型化により回路基板
上のパターンや電極間の間隔がきわめて小さいものとな
ってきており、さらに、電子機器の使用環境の多様化に
より結露が発生し、これによりイオンマイグレーション
の発生が問題となっている。このイオンマイグレーショ
ンの発生検査は、従来、図３、図４に示すように、測定
対象のサンプル２の電極３，４を電源６に接続し、各サ
ンプル２と並列に絶縁抵抗測定装置８を接続して、電極
３，４間の絶縁抵抗値Ｒを測定してイオンマイグレーシ
ョン１０の状況を検査していた。
上のパターンや電極間の間隔がきわめて小さいものとな
ってきており、さらに、電子機器の使用環境の多様化に
より結露が発生し、これによりイオンマイグレーション
の発生が問題となっている。このイオンマイグレーショ
ンの発生検査は、従来、図３、図４に示すように、測定
対象のサンプル２の電極３，４を電源６に接続し、各サ
ンプル２と並列に絶縁抵抗測定装置８を接続して、電極
３，４間の絶縁抵抗値Ｒを測定してイオンマイグレーシ
ョン１０の状況を検査していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術の場
合、絶縁抵抗Ｒを測定するため、測定環境の湿度や温
度、風による影響を受けやすく、これらのノイズにより
絶縁抵抗の測定値が不安定となり易いものであった。し
かも、複数の測定に際して絶縁計、絶縁計用スキャナ
ー、シールド配線等を用いなければならないため、測定
コストが高いものであった。
合、絶縁抵抗Ｒを測定するため、測定環境の湿度や温
度、風による影響を受けやすく、これらのノイズにより
絶縁抵抗の測定値が不安定となり易いものであった。し
かも、複数の測定に際して絶縁計、絶縁計用スキャナ
ー、シールド配線等を用いなければならないため、測定
コストが高いものであった。
【０００４】この発明は、上記従来の問題点に鑑みてな
されたもので、小型で、簡単な構成であり、確実にマイ
グレーションの検査が可能なイオンマイグレーション測
定装置を提供することを目的とする。
されたもので、小型で、簡単な構成であり、確実にマイ
グレーションの検査が可能なイオンマイグレーション測
定装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は、イオンマイ
グレーションの発生を検査する測定装置であって、測定
対象である電極が形成されたサンプルに直列に保護抵抗
を接続し、この保護抵抗に電圧測定装置を接続してなる
イオンマイグレーション測定装置である。また、上記サ
ンプル、保護抵抗、及び電圧測定装置は複数の組が並列
に設けられているものである。
グレーションの発生を検査する測定装置であって、測定
対象である電極が形成されたサンプルに直列に保護抵抗
を接続し、この保護抵抗に電圧測定装置を接続してなる
イオンマイグレーション測定装置である。また、上記サ
ンプル、保護抵抗、及び電圧測定装置は複数の組が並列
に設けられているものである。
【０００６】この発明のイオンマイグレーション測定装
置は、サンプルの電極間にイオンマイグレーションが発
生し、電極間が短絡した状態でも、保護抵抗によりイオ
ンマイグレーションによる短絡部分が熱で消滅すること
がなく、この間の電圧を測定することによりイオンマイ
グレーションの検査可能なものである。
置は、サンプルの電極間にイオンマイグレーションが発
生し、電極間が短絡した状態でも、保護抵抗によりイオ
ンマイグレーションによる短絡部分が熱で消滅すること
がなく、この間の電圧を測定することによりイオンマイ
グレーションの検査可能なものである。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて図面に基づいて説明する。図１、図２はこの発明の
一実施形態を示すもので、この実施形態のイオンマイグ
レーション測定装置１１は、絶縁性の基板の表裏面に、
電極１３，１４が形成されたサンプル１２を測定する。
サンプル１２は、直列に保護抵抗１８が接続され、この
保護抵抗１８には並列に電圧測定装置２０が接続されて
いる。このサンプル１２、保護抵抗１８、電圧測定装置
２０が、並列に複数組接続され、図示しないスキャナー
により電圧測定装置２０の電圧が検知される。
いて図面に基づいて説明する。図１、図２はこの発明の
一実施形態を示すもので、この実施形態のイオンマイグ
レーション測定装置１１は、絶縁性の基板の表裏面に、
電極１３，１４が形成されたサンプル１２を測定する。
サンプル１２は、直列に保護抵抗１８が接続され、この
保護抵抗１８には並列に電圧測定装置２０が接続されて
いる。このサンプル１２、保護抵抗１８、電圧測定装置
２０が、並列に複数組接続され、図示しないスキャナー
により電圧測定装置２０の電圧が検知される。
【０００８】このイオンマイグレーション測定装置１１
は、サンプル１２の電極間にイオンマイグレーション１
０が発生し、電極１３から電極１４へイオンマイグレー
ション１０が延びていき、電極１３，１４が短絡した状
態で測定可能となる。測定に際して、サンプル２には保
護抵抗１８が直列に接続されているので、電極１３，１
４間のイオンマイグレーション１０が、短絡による発熱
で消滅してしまうことがなく、保護抵抗１８の電圧を測
定することによりイオンマイグレーションの発生を検知
することができる。
は、サンプル１２の電極間にイオンマイグレーション１
０が発生し、電極１３から電極１４へイオンマイグレー
ション１０が延びていき、電極１３，１４が短絡した状
態で測定可能となる。測定に際して、サンプル２には保
護抵抗１８が直列に接続されているので、電極１３，１
４間のイオンマイグレーション１０が、短絡による発熱
で消滅してしまうことがなく、保護抵抗１８の電圧を測
定することによりイオンマイグレーションの発生を検知
することができる。
【０００９】この実施形態のイオンマイグレーション測
定装置１１は、測定装置が簡単なものであり、コストが
安価に製作することができ、測定も容易なものである。
しかも、スキャナーを用いて任意に複数の測定が可能で
あり、測定の自動化も容易に可能である。
定装置１１は、測定装置が簡単なものであり、コストが
安価に製作することができ、測定も容易なものである。
しかも、スキャナーを用いて任意に複数の測定が可能で
あり、測定の自動化も容易に可能である。
【００１０】なお、この発明のイオンマイグレーション
測定装置は、任意に複数のサンプルを測定するこことが
でき、測定を自動化するために、電圧測定装置をパソコ
ンに接続し、自動的に複数のサンプルの測定を可能にし
ても良い。また、この発明のイオンマイグレーション測
定装置は、イオンマイグレーションが電極間を短絡させ
ないと発見できないものであり、パソコンで自動的に定
期的に電圧測定装置の電圧を検査することにより、容易
に正確な測定が可能である。
測定装置は、任意に複数のサンプルを測定するこことが
でき、測定を自動化するために、電圧測定装置をパソコ
ンに接続し、自動的に複数のサンプルの測定を可能にし
ても良い。また、この発明のイオンマイグレーション測
定装置は、イオンマイグレーションが電極間を短絡させ
ないと発見できないものであり、パソコンで自動的に定
期的に電圧測定装置の電圧を検査することにより、容易
に正確な測定が可能である。
【００１１】
【発明の効果】この発明のイオンマイグレーション測定
装置は、簡単な装置で正確にイオンマイグレーションを
検査することができ、コストも安価なものである。
装置は、簡単な装置で正確にイオンマイグレーションを
検査することができ、コストも安価なものである。
【図１】この発明のイオンマイグレーション測定装置の
第一実施形態の回路図である。
第一実施形態の回路図である。
【図２】この発明のイオンマイグレーション測定装置の
模式図である。
模式図である。
【図３】従来のイオンマイグレーション測定装置の回路
図である。
図である。
【図４】従来のイオンマイグレーションの測定を示すの
模式図である。
模式図である。
１０ イオンマイグレーション １１ イオンマイグレーション測定装置 １２ サンプル １３，１４ 電極 １８ 保護抵抗 ２０ 電圧測定装置
Claims (2)
- 【請求項１】 イオンマイグレーションの発生を検査す
る測定装置であって、測定対象である電極が形成された
サンプルに直列に保護抵抗を接続し、この保護抵抗に電
圧測定装置を接続してなるイオンマイグレーション測定
装置。 - 【請求項２】 上記サンプル、保護抵抗、及び電圧測定
装置は複数の組が並列に設けられている請求項１記載の
イオンマイグレーション測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9185940A JPH1114692A (ja) | 1997-06-25 | 1997-06-25 | イオンマイグレーション測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9185940A JPH1114692A (ja) | 1997-06-25 | 1997-06-25 | イオンマイグレーション測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1114692A true JPH1114692A (ja) | 1999-01-22 |
Family
ID=16179553
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9185940A Pending JPH1114692A (ja) | 1997-06-25 | 1997-06-25 | イオンマイグレーション測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1114692A (ja) |
-
1997
- 1997-06-25 JP JP9185940A patent/JPH1114692A/ja active Pending
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