JPH11148942A - カンチレバーホルダー - Google Patents
カンチレバーホルダーInfo
- Publication number
- JPH11148942A JPH11148942A JP9313530A JP31353097A JPH11148942A JP H11148942 A JPH11148942 A JP H11148942A JP 9313530 A JP9313530 A JP 9313530A JP 31353097 A JP31353097 A JP 31353097A JP H11148942 A JPH11148942 A JP H11148942A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cantilever
- mounting portion
- sample
- microscope
- holder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】試料周辺の障害物に衝突しないカンチレバーホ
ルダーを提供する。 【解決手段】本カンチレバーホルダー10は、原子間力
顕微鏡本体の圧電スキャナ61の取付部62に固定され
る平板状の顕微鏡側取付部10a、試料台11上の試料
に近づく方向(Z軸方向)に延びたカンチレバー取付部1
0bを有している。カンチレバー60の支持体部60c
は、カンチレバー取付部10bの先端面に接着されてい
る。カンチレバー取付部10bの先端付近の断面積は、
顕微鏡側取付部10aの面積よりも十分に小さくなって
いる。カンチレバー取付部材10bの長さは、試料Aの
周囲にある障害物Bの高さに応じて定めてある。
ルダーを提供する。 【解決手段】本カンチレバーホルダー10は、原子間力
顕微鏡本体の圧電スキャナ61の取付部62に固定され
る平板状の顕微鏡側取付部10a、試料台11上の試料
に近づく方向(Z軸方向)に延びたカンチレバー取付部1
0bを有している。カンチレバー60の支持体部60c
は、カンチレバー取付部10bの先端面に接着されてい
る。カンチレバー取付部10bの先端付近の断面積は、
顕微鏡側取付部10aの面積よりも十分に小さくなって
いる。カンチレバー取付部材10bの長さは、試料Aの
周囲にある障害物Bの高さに応じて定めてある。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、走査型プローブ顕
微鏡本体にカンチレバーを取り付けるためのカンチレバ
ーホルダーの構造に関する。
微鏡本体にカンチレバーを取り付けるためのカンチレバ
ーホルダーの構造に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイス等の微細な表面構造の計
測等には、原子レベルの高空間分解能を有する走査型プ
ローブ顕微鏡が用いられることが多い。例えば、図6
(a)に示すような、片持ちバネ60aの先端に設けられ
た探針60bと試料Aの表面との間に働く原子間力によ
る片持ちバネ60aのたわみを、光てこ法等の測定方法
で測定することによって、試料Aの表面形状の像を得る
原子間力顕微鏡(AFM:Atomic Force Microscope)は、
代表的な走査型プローブ顕微鏡の1つとして知られてい
る。以下、片持ちバネ60a、探針60b、及び、片持
ちバネ60aの一端に固定された支持体部60cを合わ
せて、カンチレバー60と呼ぶこととする。
測等には、原子レベルの高空間分解能を有する走査型プ
ローブ顕微鏡が用いられることが多い。例えば、図6
(a)に示すような、片持ちバネ60aの先端に設けられ
た探針60bと試料Aの表面との間に働く原子間力によ
る片持ちバネ60aのたわみを、光てこ法等の測定方法
で測定することによって、試料Aの表面形状の像を得る
原子間力顕微鏡(AFM:Atomic Force Microscope)は、
代表的な走査型プローブ顕微鏡の1つとして知られてい
る。以下、片持ちバネ60a、探針60b、及び、片持
ちバネ60aの一端に固定された支持体部60cを合わ
せて、カンチレバー60と呼ぶこととする。
【0003】ところで、この原子間力顕微鏡の圧電スキ
ャナ61(例えば、チューブ型ピエゾスキャナ)の取付部
62にカンチレバー60を取り付けるためには、平板型
のカンチレバーホルダー63が利用されている。具体的
には、図6(b)に示すように、圧電スキャナ61の取付
部62に取り付けられているカンチレバーホルダー63
に、2本の金属製ネジ65と押え金具64とによってカ
ンチレバー60の支持体部60cが固定されている。
尚、例えば、非接触状態の探針60bと試料Aとの間に
働く静電気力等を測定する場合等には、カンチレバーホ
ルダー63に押え金具64の両端部を固定している金属
製ネジ65が、電圧印加用の端子として利用される。
ャナ61(例えば、チューブ型ピエゾスキャナ)の取付部
62にカンチレバー60を取り付けるためには、平板型
のカンチレバーホルダー63が利用されている。具体的
には、図6(b)に示すように、圧電スキャナ61の取付
部62に取り付けられているカンチレバーホルダー63
に、2本の金属製ネジ65と押え金具64とによってカ
ンチレバー60の支持体部60cが固定されている。
尚、例えば、非接触状態の探針60bと試料Aとの間に
働く静電気力等を測定する場合等には、カンチレバーホ
ルダー63に押え金具64の両端部を固定している金属
製ネジ65が、電圧印加用の端子として利用される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
カンチレバーホルダー63を使用した場合、凹部の底面
等に配置された試料Aの表面形状の像が得られないこと
がある。その理由は、図7に示すように、カンチレバー
ホルダー63若しくは押え金具64が凹部の側壁Bのコ
ーナー部bに衝突してしまうため、凹部の底面に配置さ
れている試料Aにまでカンチレバー60の探針60bを
到達させることができないことにある。
カンチレバーホルダー63を使用した場合、凹部の底面
等に配置された試料Aの表面形状の像が得られないこと
がある。その理由は、図7に示すように、カンチレバー
ホルダー63若しくは押え金具64が凹部の側壁Bのコ
ーナー部bに衝突してしまうため、凹部の底面に配置さ
れている試料Aにまでカンチレバー60の探針60bを
到達させることができないことにある。
【0005】このようなことから、上記従来のカンチレ
バーホルダー63は、パッケージ内に搭載されているI
C等、凹部の内部に収容されている試料表面の観察に使
用するには不向きなものとされている。
バーホルダー63は、パッケージ内に搭載されているI
C等、凹部の内部に収容されている試料表面の観察に使
用するには不向きなものとされている。
【0006】そこで、本発明は、試料周辺の障害物に衝
突しないカンチレバーホルダーを提供することを目的と
する。
突しないカンチレバーホルダーを提供することを目的と
する。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、カンチレバーと試料とを相対的に移動さ
せる走査型プローブ顕微鏡本体に、前記カンチレバーを
取り付けるためのカンチレバーホルダーにおいて、前記
走査型プローブ顕微鏡本体に固定される顕微鏡側取付部
と、前記カンチレバーを取り付けるためのカンチレバー
取付部とを有し、前記カンチレバー取付部は、前記顕微
鏡取付部から前記試料台に近づく方向に延びたことを特
徴とするカンチレバーホルダーを提供する。
め、本発明は、カンチレバーと試料とを相対的に移動さ
せる走査型プローブ顕微鏡本体に、前記カンチレバーを
取り付けるためのカンチレバーホルダーにおいて、前記
走査型プローブ顕微鏡本体に固定される顕微鏡側取付部
と、前記カンチレバーを取り付けるためのカンチレバー
取付部とを有し、前記カンチレバー取付部は、前記顕微
鏡取付部から前記試料台に近づく方向に延びたことを特
徴とするカンチレバーホルダーを提供する。
【0008】このように、試料に近づく方向に延びたカ
ンチレバー取付部を設けて、このカンチレバー取付部の
先端部分にカンチレバーを取り付けることによって、試
料にカンチレバーを接近させる際に、試料周辺にある障
害物と顕微鏡側取付部との衝突を防止することができる
(図3参照)。従って、図7に示したような、従来観察が
困難とされていた状態におかれている試料(例えば、パ
ッケージ内部のIC等)の表面形状の像を得ることがで
きるようになる。
ンチレバー取付部を設けて、このカンチレバー取付部の
先端部分にカンチレバーを取り付けることによって、試
料にカンチレバーを接近させる際に、試料周辺にある障
害物と顕微鏡側取付部との衝突を防止することができる
(図3参照)。従って、図7に示したような、従来観察が
困難とされていた状態におかれている試料(例えば、パ
ッケージ内部のIC等)の表面形状の像を得ることがで
きるようになる。
【0009】尚、顕微鏡側取付部さえ規格寸法通りに設
計しておけば、既存の走査型プローブ顕微鏡本体側にそ
のまま取付け可能という利点もある。即ち、既存の走査
型プローブ顕微鏡本体側に何ら改造を要しないという利
点もある。
計しておけば、既存の走査型プローブ顕微鏡本体側にそ
のまま取付け可能という利点もある。即ち、既存の走査
型プローブ顕微鏡本体側に何ら改造を要しないという利
点もある。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照しなが
ら、本発明に係る実施の一形態について説明する。
ら、本発明に係る実施の一形態について説明する。
【0011】まず、図1及び図2により、本実施の形態
に係るカンチレバーホルダーの基本構造について説明す
る。尚、ここでは、カンチレバー移動用の圧電スキャナ
を備えた原子間力顕微鏡本体への本発明の適用例を挙げ
て説明することとするが、このことは、それ以外の原子
間力顕微鏡本体、例えば、試料移動用の圧電スキャナを
備えた原子間力顕微鏡本体への本発明の適用の禁じるこ
とを意図したものではない。
に係るカンチレバーホルダーの基本構造について説明す
る。尚、ここでは、カンチレバー移動用の圧電スキャナ
を備えた原子間力顕微鏡本体への本発明の適用例を挙げ
て説明することとするが、このことは、それ以外の原子
間力顕微鏡本体、例えば、試料移動用の圧電スキャナを
備えた原子間力顕微鏡本体への本発明の適用の禁じるこ
とを意図したものではない。
【0012】図1に示すように、本カンチレバーホルダ
ー10は、原子間力顕微鏡本体の圧電スキャナ61の取
付部62に固定される平板型の顕微鏡側取付部10a、
試料台11上の試料に近づく方向(概ねZ軸方向に沿う
方向)に延びたカンチレバー取付部10bを有してい
る。そして、カンチレバー取付部10bの先端面には、
図2に示すように、カンチレバー60の支持体部60c
が接着剤によって接着されている。
ー10は、原子間力顕微鏡本体の圧電スキャナ61の取
付部62に固定される平板型の顕微鏡側取付部10a、
試料台11上の試料に近づく方向(概ねZ軸方向に沿う
方向)に延びたカンチレバー取付部10bを有してい
る。そして、カンチレバー取付部10bの先端面には、
図2に示すように、カンチレバー60の支持体部60c
が接着剤によって接着されている。
【0013】ここで顕微鏡側取付部10aを平板型にし
ているのは、既存の原子間力顕微鏡の取付部62の規格
に合わせるために過ぎない。従って、万一、取付部62
の規格に変更があった場合には、それに合わせて顕微鏡
側取付部10aの形状を変更すればよい。また、本実施
の形態では、柱状のカンチレバー取付部10bを顕微鏡
側取付部10aに対して傾けているが、試料等の配置状
態に応じて顕微鏡側取付部10aに対してカンチレバー
取付部10bをほぼ垂直に設けたり、カンチレバー取付
部10bを屈折させる等、適宜の設計変更を行うことは
一向に差し支えない。
ているのは、既存の原子間力顕微鏡の取付部62の規格
に合わせるために過ぎない。従って、万一、取付部62
の規格に変更があった場合には、それに合わせて顕微鏡
側取付部10aの形状を変更すればよい。また、本実施
の形態では、柱状のカンチレバー取付部10bを顕微鏡
側取付部10aに対して傾けているが、試料等の配置状
態に応じて顕微鏡側取付部10aに対してカンチレバー
取付部10bをほぼ垂直に設けたり、カンチレバー取付
部10bを屈折させる等、適宜の設計変更を行うことは
一向に差し支えない。
【0014】また、後述の効果を確実に達成するために
は、カンチレバー取付部10bの先端付近の断面積(t1
×t2)を、顕微鏡側取付部10aの面積(T1×T2)より
も十分に小さくすることが望ましい。但し、カンチレバ
ー取付部材10bの先端面には、カンチレバー60の支
持体部60cを適当な強度で接着することができる必要
最小限の接着面積が確保されている必要がある。具体的
には、カンチレバー取付部材10bの先端面に、カンチ
レバー60の支持体部60cの面積(通常、2mm×4
mm程度)とほぼ同程度の面積を確保しておけば十分で
ある。
は、カンチレバー取付部10bの先端付近の断面積(t1
×t2)を、顕微鏡側取付部10aの面積(T1×T2)より
も十分に小さくすることが望ましい。但し、カンチレバ
ー取付部材10bの先端面には、カンチレバー60の支
持体部60cを適当な強度で接着することができる必要
最小限の接着面積が確保されている必要がある。具体的
には、カンチレバー取付部材10bの先端面に、カンチ
レバー60の支持体部60cの面積(通常、2mm×4
mm程度)とほぼ同程度の面積を確保しておけば十分で
ある。
【0015】また、カンチレバー取付部材10bの長さ
sは、試料Aの周囲にある障害物の高さに応じて定める
ことが望ましい。例えば、凹部の内部に試料が収容され
ている場合には、その凹部の深さに応じた妥当な寸法と
すればよい。
sは、試料Aの周囲にある障害物の高さに応じて定める
ことが望ましい。例えば、凹部の内部に試料が収容され
ている場合には、その凹部の深さに応じた妥当な寸法と
すればよい。
【0016】尚、このような形状を有するカンチレバー
ホルダー60は、切削等の通常の機械加工によって一体
成形することができる。また、このカンチレバーホルダ
ー60の形成材料としては、機械加工容易なアルミニウ
ム等を選択すればよい。
ホルダー60は、切削等の通常の機械加工によって一体
成形することができる。また、このカンチレバーホルダ
ー60の形成材料としては、機械加工容易なアルミニウ
ム等を選択すればよい。
【0017】このように、カンチレバー60の支持体部
60cと顕微鏡側取付部10aとの間にカンチレバー取
付部10bを介在させたことによって、凹部の内部に収
容されている試料A(例えば、パッケージ内部のIC等)
を観察対象とする場合であっても、図3に示すように、
顕微鏡側取付部10aをカンチレバー取付部10bの長
さの分だけ凹部Bのコーナー部bから逃がすことができ
るため、カンチレバーホルダー10と凹部Bのコーナー
部bとの接触を防止することができる。即ち、このよう
な形状を有するカンチレバーホルダー10を使用すれ
ば、凹部Bの底部にまでスムーズにカンチレバー60全
体(即ち、片持ちバネ60a、探針60b、支持体部6
0c)を挿入することができるようになるため、従来観
察が非常に困難とされていた、凹部Bの内部に収容され
ている試料Aの表面形状の像を得ることができるように
なる。尚、凹部Bの内部に収容されている試料Aを観察
対象とする場合のみならず、ある程度の高さがある障害
物に囲まれているような試料Aを観察対象とする場合で
あれば、このカンチレバーホルダー10の使用は有益で
ある。
60cと顕微鏡側取付部10aとの間にカンチレバー取
付部10bを介在させたことによって、凹部の内部に収
容されている試料A(例えば、パッケージ内部のIC等)
を観察対象とする場合であっても、図3に示すように、
顕微鏡側取付部10aをカンチレバー取付部10bの長
さの分だけ凹部Bのコーナー部bから逃がすことができ
るため、カンチレバーホルダー10と凹部Bのコーナー
部bとの接触を防止することができる。即ち、このよう
な形状を有するカンチレバーホルダー10を使用すれ
ば、凹部Bの底部にまでスムーズにカンチレバー60全
体(即ち、片持ちバネ60a、探針60b、支持体部6
0c)を挿入することができるようになるため、従来観
察が非常に困難とされていた、凹部Bの内部に収容され
ている試料Aの表面形状の像を得ることができるように
なる。尚、凹部Bの内部に収容されている試料Aを観察
対象とする場合のみならず、ある程度の高さがある障害
物に囲まれているような試料Aを観察対象とする場合で
あれば、このカンチレバーホルダー10の使用は有益で
ある。
【0018】ところで、本実施の形態では、カンチレバ
ーホルダー10を一体成形することとしているが、必ず
しも、このようにする必要はない。例えば、図4に示す
ように、顕微鏡側取付部10aとカンチレバー取付部1
0bとをパーツ化し、これら2つのパーツを固定式継ぎ
手40によって連結し、適当な本数(例えば、2本程度)
の固定ネジ41で固定するようにしても構わない。この
ようにすれば、カンチレバー取付部10bごとカンチレ
バー60を交換することができるようになるため、一般
に熟練を要するとされているカンチレバー交換作業を簡
便化することができるという利点がある。また、より単
純な形状の部品10a,10bにパーツ化したことによ
って、一体成形するよりも加工が一層容易になるという
利点もある。
ーホルダー10を一体成形することとしているが、必ず
しも、このようにする必要はない。例えば、図4に示す
ように、顕微鏡側取付部10aとカンチレバー取付部1
0bとをパーツ化し、これら2つのパーツを固定式継ぎ
手40によって連結し、適当な本数(例えば、2本程度)
の固定ネジ41で固定するようにしても構わない。この
ようにすれば、カンチレバー取付部10bごとカンチレ
バー60を交換することができるようになるため、一般
に熟練を要するとされているカンチレバー交換作業を簡
便化することができるという利点がある。また、より単
純な形状の部品10a,10bにパーツ化したことによ
って、一体成形するよりも加工が一層容易になるという
利点もある。
【0019】また、本実施の形態では、カンチレバー取
付部材10bの先端面にカンチレバー60の支持体部6
0cを接着剤で接着することとしたが、必ずしも、この
ようにする必要はない。例えば、図5に示すように、カ
ンチレバー取付部材10bの先端面と、この先端面に掛
け渡された押え部材50との間に、カンチレバー60の
支持体部60cを挟み込んでから、押え部材50の両端
部をカンチレバーホルダー10の適当な位置に固定ネジ
51で固定するようにしても構わない。この場合のカン
チレバー60の交換は、固定ネジ51を緩めて押え部材
50がカンチレバーホルダー10に仮止めされている状
態で行えばよい。そして、2本の固定用ネジ51と押え
部材50とを導電材料で形成しておけば、非接触状態の
探針10bと試料Aとの間に働く静電気力を測定する場
合等に、2本の固定用ネジ51を、探針60bと試料A
との間への電圧印加用の端子として利用することもでき
る。あるいは、導電材料で形成された押え部材50の両
端をカンチレバーホルダー10に半田付けするようにし
ても同様である。
付部材10bの先端面にカンチレバー60の支持体部6
0cを接着剤で接着することとしたが、必ずしも、この
ようにする必要はない。例えば、図5に示すように、カ
ンチレバー取付部材10bの先端面と、この先端面に掛
け渡された押え部材50との間に、カンチレバー60の
支持体部60cを挟み込んでから、押え部材50の両端
部をカンチレバーホルダー10の適当な位置に固定ネジ
51で固定するようにしても構わない。この場合のカン
チレバー60の交換は、固定ネジ51を緩めて押え部材
50がカンチレバーホルダー10に仮止めされている状
態で行えばよい。そして、2本の固定用ネジ51と押え
部材50とを導電材料で形成しておけば、非接触状態の
探針10bと試料Aとの間に働く静電気力を測定する場
合等に、2本の固定用ネジ51を、探針60bと試料A
との間への電圧印加用の端子として利用することもでき
る。あるいは、導電材料で形成された押え部材50の両
端をカンチレバーホルダー10に半田付けするようにし
ても同様である。
【0020】尚、静電気力を測定する場合等には、探針
10bと試料Aとの間の浮遊容量の発生を防止する必要
があるため、カンチレバーホルダー10を絶縁材料(例
えば、ポリカーボネート等)で形成することが望まし
い。
10bと試料Aとの間の浮遊容量の発生を防止する必要
があるため、カンチレバーホルダー10を絶縁材料(例
えば、ポリカーボネート等)で形成することが望まし
い。
【0021】
【発明の効果】本発明に係るカンチレバーホルダーによ
れば、試料周辺の障害物との衝突によって試料表面の観
察が妨げられるようなことがない。従って、例えば、凹
部の内部に収容されている試料等であっても、その表面
形状の像を得ることができる。
れば、試料周辺の障害物との衝突によって試料表面の観
察が妨げられるようなことがない。従って、例えば、凹
部の内部に収容されている試料等であっても、その表面
形状の像を得ることができる。
【0022】尚、原子間力顕微鏡を表面観察装置として
使用する場合だけでなく、例えば、微細加工装置として
使用する場合、容器内部の生物試料の取扱に使用する場
合等であっても、本発明に係るカンチレバーホルダーの
使用が、カンチレバーホルダーと試料周辺の障害物との
衝突を避けることができる点において有利であることは
変らない。
使用する場合だけでなく、例えば、微細加工装置として
使用する場合、容器内部の生物試料の取扱に使用する場
合等であっても、本発明に係るカンチレバーホルダーの
使用が、カンチレバーホルダーと試料周辺の障害物との
衝突を避けることができる点において有利であることは
変らない。
【図1】本発明の実施の一形態に係るカンチレバーホル
ダーを原子間力顕微鏡本体に取り付けた状態を示した概
略図である。
ダーを原子間力顕微鏡本体に取り付けた状態を示した概
略図である。
【図2】(a)は、本発明の実施の一形態に係るカンチレ
バーホルダーの正面図であり、(b)は、その底面図であ
り、(c)は、そのA−A断面図である。
バーホルダーの正面図であり、(b)は、その底面図であ
り、(c)は、そのA−A断面図である。
【図3】本発明の実施の一形態に係るカンチレバーホル
ダーの使用により得られる効果を説明するための図であ
る。
ダーの使用により得られる効果を説明するための図であ
る。
【図4】(a)は、本発明の実施の一形態に係るカンチレ
バーホルダーの正面図であり、(b)は、その底面図であ
り、(c)は、その側面図である。
バーホルダーの正面図であり、(b)は、その底面図であ
り、(c)は、その側面図である。
【図5】(a)は、本発明の実施の一形態に係るカンチレ
バーホルダーの正面図であり、(b)は、その底面図であ
り、(c)は、その側面図である。
バーホルダーの正面図であり、(b)は、その底面図であ
り、(c)は、その側面図である。
【図6】(a)は、従来のカンチレバーホルダーを原子間
力顕微鏡本体に取り付けた状態を示した概略図であり、
(b)は、従来のカンチレバーホルダーにカンチレバーを
取り付けた状態を示した概略図である。
力顕微鏡本体に取り付けた状態を示した概略図であり、
(b)は、従来のカンチレバーホルダーにカンチレバーを
取り付けた状態を示した概略図である。
【図7】従来のカンチレバーホルダーを使用した場合の
問題点を説明するための図である。
問題点を説明するための図である。
10…カンチレバーホルダー 10a…顕微鏡側取付部 10b…カンチレバー取付部 11…試料台 40…固定式継ぎ手 41…固定ネジ 50…押え金具 51…金属製固定ネジ 60…カンチレバー 60a…片持ちバネ 60b…探針 60c…支持体部 61…圧電スキャナ 62…圧電スキャナの取付部
Claims (3)
- 【請求項1】カンチレバーと試料とを相対的に移動させ
る走査型プローブ顕微鏡本体に、前記カンチレバーを取
り付けるためのカンチレバーホルダーにおいて、 前記走査型プローブ顕微鏡本体に固定される顕微鏡側取
付部と、 前記カンチレバーを取り付けるためのカンチレバー取付
部とを有し、 前記カンチレバー取付部は、前記顕微鏡取付部から前記
試料に近づく方向に延びたことを特徴とするカンチレバ
ーホルダー。 - 【請求項2】請求項1記載のカンチレバーホルダーであ
って、 前記カンチレバー取付部は、前記顕微鏡側取付部に対し
て着脱可能であることを特徴とするカンチレバーホルダ
ー。 - 【請求項3】請求項1または2記載のカンチレバーホル
ダーであって、 前記カンチレバー取付部の先端面に前記カンチレバーを
固定するための、導電性を有する押え部材を備えること
を特徴とするカンチレバーホルダー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9313530A JPH11148942A (ja) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | カンチレバーホルダー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9313530A JPH11148942A (ja) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | カンチレバーホルダー |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11148942A true JPH11148942A (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=18042432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9313530A Pending JPH11148942A (ja) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | カンチレバーホルダー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11148942A (ja) |
-
1997
- 1997-11-14 JP JP9313530A patent/JPH11148942A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0331148B1 (en) | Microscope apparatus | |
| EP0475564B1 (en) | Fine scanning mechanism for atomic force microscope | |
| EP0421355B1 (en) | Scanning tunneling microscope | |
| JP4174357B2 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 | |
| EP0509856B1 (en) | Microscope apparatus combining a scanning probe type microscope and an optical microscope | |
| US20020017615A1 (en) | Scanning unit and scanning microscope having the same | |
| US20080149829A1 (en) | Scanning probe microscope with automatic probe replacement function | |
| EP1351256A3 (en) | Scanning probe system with spring probe | |
| EP1386324B1 (en) | Actuating and sensing device for scanning probe microscopes | |
| US20040216518A1 (en) | Multiple plate tip or sample scanning reconfigurable scanned probe microscope with transparent interfacing of far-field optical microscopes | |
| JP5061013B2 (ja) | 装置構造及びその構造を備えた走査型プローブ顕微鏡 | |
| US7656075B2 (en) | Nanomanipulator used for analyzing or machining objects | |
| US7388199B2 (en) | Probe manufacturing method, probe, and scanning probe microscope | |
| US6437343B1 (en) | Scanner system and piezoelectric micro-inching mechansim used in scanning probe microscope | |
| US5847387A (en) | Support device and stage assembly for a scanned-probe microscope | |
| US7631547B2 (en) | Scanning probe apparatus and drive stage therefor | |
| US20070187594A1 (en) | Scanning probe apparatus | |
| US9482690B2 (en) | Scanning probe microscope | |
| EP1454335A1 (en) | Measurement device for electron microscope | |
| WO2016105109A1 (ko) | 헤드 일체형 원자간력 현미경 및 이를 포함한 융합 현미경 | |
| JP2006184079A (ja) | 原子間力顕微鏡 | |
| JPH07181030A (ja) | 原子間力顕微鏡 | |
| JPH0549921B2 (ja) | ||
| EP0855574A3 (en) | Measuring device and -jig for measurements on automobiles | |
| JPH0755444Y2 (ja) | 圧電素子微小位置決め機構 |