JPH11154342A - 制御偏差検出装置及び制御装置 - Google Patents

制御偏差検出装置及び制御装置

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JPH11154342A
JPH11154342A JP9319218A JP31921897A JPH11154342A JP H11154342 A JPH11154342 A JP H11154342A JP 9319218 A JP9319218 A JP 9319218A JP 31921897 A JP31921897 A JP 31921897A JP H11154342 A JPH11154342 A JP H11154342A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 制御偏差（オフセット）を正確且つ高速に検
出することが可能な制御偏差検出装置及び当該制御偏差
検出装置を備えて正確且つ高速に制御偏差を低減するこ
とが可能な制御装置を提供する。 【解決手段】 液晶パネル制御回路等の制御すべき制御
対象に対して予め設定された一定周波数の基準信号Ｓos
cを印加し、基準信号Ｓoscを印加した結果、制御対象か
ら制御結果として出力される再生ＲＦ信号Ｓrfの波形と
印加された基準信号Ｓoscの波形とに基づいて、再生Ｒ
Ｆ信号Ｓrfに含まれる波形変形であって、制御対象の制
御における制御偏差に起因する波形変形を検出し、検出
された波形変形に基づいて制御偏差を生成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、光ディス
クから記録されている情報を再生するための情報再生装
置におけるトラッキングサーボ制御等において発生する
制御偏差を検出する制御偏差検出装置の技術分野に属す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、例えば、上記情報再生装置等にお
いては、光ビームを本来再生すべき情報が記録されてい
る位置に正確に照射するために、当該光ビームの照射位
置をサーボ制御するための上記トラッキングサーボ制御
や、光ビームの集光位置（焦点位置）をサーボ制御する
ためのフォーカスサーボ制御や、光ディスクと光ビーム
の光軸との間の傾きをサーボ制御するためのチルトサー
ボ制御等が常時実行されている。
【０００３】ここで、これらのサーボ制御系では、種々
の原因により、当該サーボ制御のための制御信号の中心
レベルが、予め設定された所定のレベルからずれる、い
わゆるオフセット（制御偏差）が含まれる場合が多い。
そして、従来の情報再生装置では、製品出荷時に手動に
より当該オフセットが夫々予め設定された既定値以下と
なるように調整していた。
【０００４】しかしながら、上記オフセットについて
は、厳密には各光ディスク一枚毎に（すなわち、偏芯の
状態や厚さが夫々異なる光ディスク一枚毎に）異なるも
のであり、更に同一の光ディスクでも部分的な反り等に
よりその光ディスクの内周部と外周部とでオフセットの
値が異なるものである。そして、本来ならばこれら夫々
の場合に対応してオフセットを正確に消去すべきであ
る。
【０００５】そこで、従来、例えば、特開平８−１２９
７６９号公報に開示されているように、再生されたＲＦ
信号について、所定の期間におけるその振幅の最大値を
検出し、再生ＲＦ信号の振幅が最大値のときにオフセッ
トが零であるとして当該オフセットを消去していた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の方法においては、当該所定期間内の再生ＲＦ信号を
積分して平均値を求めてから他の期間における再生ＲＦ
信号の平均値と比較し、これにより再生ＲＦ信号の振幅
の最大値を検出する必要があるため、積分処理と比較処
理が必要となり、そのための所要時間が長いために高速
で動作するサーボ制御機構に追随してオフセットを消去
できない場合があるという問題点があった。
【０００７】そこで、本発明は、上記問題点に鑑みてな
されたもので、その課題は、制御偏差（オフセット）を
正確且つ高速に検出することが可能な制御偏差検出装置
及び当該制御偏差検出装置を備えて正確且つ高速に制御
偏差を低減することが可能な制御装置を提供することに
ある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項１に記載の発明は、制御すべき制御対象に
対して予め設定された一定周波数の外乱信号を印加する
Ｖ−ｆ変換器等の印加手段と、前記外乱信号を印加した
結果、前記制御対象から制御結果として出力される結果
信号の波形と前記印加された外乱信号の波形とに基づい
て、前記結果信号に含まれる波形変形であって、前記制
御対象の制御における制御偏差に起因する波形変形を検
出する位相比較器等の検出手段と、前記検出された波形
変形に基づいて前記制御偏差を生成するスイッチ等の生
成手段と、を備える。
【０００９】請求項１に記載の発明の作用によれば、印
加手段は、制御対象に対して一定周波数の外乱信号を印
加する。
【００１０】そして、検出手段は、外乱信号を印加した
結果、制御対象から制御結果として出力される結果信号
の波形と印加された外乱信号の波形とに基づいて、結果
信号に含まれる波形変形であって、制御対象の制御にお
ける制御偏差に起因する波形変形を検出する。
【００１１】その後、生成手段は、検出された波形変形
に基づいて制御偏差を生成する。
【００１２】よって、積分処理又は比較を伴う学習処理
等を行うことなく制御偏差が生成されるので、簡易な構
成で且つ高速に制御偏差を検出することができる。
【００１３】上記の課題を解決するために、請求項２に
記載の発明は、請求項１に記載の制御偏差検出装置にお
いて、前記検出手段は、前記外乱信号が予め設定された
第１の閾値に到達するタイミングと前記結果信号が予め
設定された第２の閾値に到達するタイミングとを比較す
ることにより前記波形変形を検出するように構成され
る。
【００１４】請求項２に記載の発明の作用によれば、請
求項１に記載の発明の作用に加えて、検出手段が、外乱
信号が第１の閾値に到達するタイミングと結果信号が第
２の閾値に到達するタイミングとを比較することにより
波形変形を検出するので、簡易な構成で高速に波形変形
を検出して制御偏差を検出することができる。
【００１５】上記の課題を解決するために、請求項３に
記載の発明は、請求項２に記載の制御偏差検出装置にお
いて、前記第１の閾値は前記外乱信号の平均電位レベル
であると共に、前記第２の閾値は前記結果信号の平均電
位レベルであるように構成される。
【００１６】請求項３に記載の発明の作用によれば、請
求項２に記載の発明の作用に加えて、第１の閾値が外乱
信号の平均電位レベルであると共に、第２の閾値が結果
信号の平均電位レベルであるので、より簡易な構成で波
形変形を検出することができる。
【００１７】上記の課題を解決するために、請求項４に
記載の発明は、請求項１に記載の制御偏差検出装置にお
いて、前記検出手段は、前記結果信号がピーク値となる
タイミングと前記外乱信号が予め設定された第１の閾値
に到達するタイミングとを比較することにより前記波形
変形を検出するように構成される。
【００１８】請求項４に記載の発明の作用によれば、請
求項１に記載の発明の作用に加えて、検出手段が、結果
信号がピーク値となるタイミングと外乱信号が第１の閾
値に到達するタイミングとを比較することにより波形変
形を検出するので、簡易な構成で高速に波形変形を検出
して制御偏差を検出することができる。
【００１９】上記の課題を解決するために、請求項５に
記載の発明は、請求項１から４のいずれか一項に記載の
制御偏差検出装置において、前記制御対象は、光ビーム
を用いた情報再生装置において、当該光ビームの光軸と
再生すべき情報が記録されている情報記録媒体の当該情
報が記録された情報記録面とのなす角度であるチルト角
度を制御するチルトモータ、液晶パネル制御回路等のチ
ルトサーボ制御手段であると共に、前記結果信号は、前
記光ビームの前記情報記録面からの前記情報に対応した
反射光に基づいて検出される再生信号であり、更に、前
記制御偏差は、前記チルト角度の予め設定された正規の
チルト角度からのずれであるように構成される。
【００２０】請求項５に記載の発明の作用によれば、請
求項１から４のいずれか一項に記載の発明の作用加え
て、制御対象がチルト角度を制御するチルトサーボ制御
手段であると共に、結果信号が情報に対応した反射光に
基づいて検出される再生信号であり、更に、制御偏差が
チルト角度の予め設定された正規のチルト角度からのず
れであるので、情報再生装置のチルトサーボ制御におい
て簡易な構成で且つ高速にチルト角度のずれを検出する
ことができる。
【００２１】上記の課題を解決するために、請求項６に
記載の発明は、請求項５に記載の制御偏差検出装置にお
いて、前記チルトサーボ制御手段は、液晶パネルを用い
て前記光ビームに光路差を与えることにより前記チルト
角の変化に起因する収差を補正すると共に、前記制御対
象は、前記液晶パネルを駆動するための液晶パネル制御
回路等の駆動手段であるように構成される。
【００２２】請求項６に記載の発明の作用によれば、請
求項５に記載の発明の作用に加えて、チルトサーボ制御
手段が液晶パネルを用いて光ビームに光路差を与えるこ
とによりチルト角の変化に起因する収差を補正すると共
に、制御対象が液晶パネルを駆動するための駆動手段で
あるので、高速に制御偏差を検出して駆動手段を駆動す
ることができる。
【００２３】上記の課題を解決するために、請求項７に
記載の発明は、請求項１から４のいずれか一項に記載の
制御偏差検出装置において、前記制御対象は、光ビーム
を用いた情報再生装置において、再生すべき情報が記録
されている情報記録媒体の当該情報が記録された情報記
録面に垂直な方向における前記光ビームの集光位置を制
御するドライバ等のフォーカスサーボ制御手段であると
共に、前記結果信号は、前記光ビームの前記情報記録面
からの前記情報に対応した反射光に基づいて検出される
再生信号であり、更に、前記制御偏差は、前記集光位置
の前記情報記録面からのずれであるように構成される。
【００２４】請求項７に記載の発明の作用によれば、請
求項１から４のいずれか一項に記載の発明の作用に加え
て、制御対象が情報記録面に垂直な方向における光ビー
ムの集光位置を制御するフォーカスサーボ制御手段であ
ると共に、結果信号が情報に対応した反射光に基づいて
検出される再生信号であり、更に、制御偏差が集光位置
の情報記録面からのずれであるので、情報再生装置のフ
ォーカスサーボ制御において簡易な構成で且つ高速に集
光位置のずれを検出することができる。
【００２５】上記の課題を解決するために、請求項８に
記載の発明は、請求項１から４のいずれか一項に記載の
制御偏差検出装置において、前記制御対象は、光ビーム
を用いた情報再生装置において、再生すべき情報が記録
されている情報記録媒体の当該情報が記録された情報記
録面に平行な方向における前記光ビームの集光位置を制
御するドライバ等のトラッキングサーボ制御手段である
と共に、前記結果信号は、前記光ビームの前記情報記録
面からの前記情報に対応した反射光に基づいて検出され
る再生信号であり、更に、前記制御偏差は、前記集光位
置の前記情報記録面上に前記情報により形成されたトラ
ック位置からのずれであるように構成される。
【００２６】請求項８に記載の発明の作用によれば、請
求項１から４のいずれか一項に記載の発明の作用に加え
て、制御対象が情報記録面に平行な方向における光ビー
ムの集光位置を制御するトラッキングサーボ制御手段で
あると共に、結果信号が情報に対応した反射光に基づい
て検出される再生信号であり、更に、制御偏差が集光位
置のトラック位置からのずれであるので、情報再生装置
のトラッキングサーボ制御において簡易な構成で且つ高
速に集光位置のトラック位置からのずれを検出すること
ができる。
【００２７】上記の課題を解決するために、請求項９に
記載の発明は、請求項１から８のいずれか一項に記載の
制御偏差検出装置と、前記制御偏差を消去するように前
記制御対象を制御する液晶パネル制御回路等の制御手段
と、を備える。
【００２８】請求項９に記載の発明の作用によれば、請
求項１から８のいずれか一項に記載の発明の作用に加え
て、制御手段は、検出された制御偏差を消去するように
制御対象を制御する。
【００２９】よって、簡易な構成で高速に制御すること
ができる。
【００３０】
【発明の実施の形態】次に、本発明に好適な実施の形態
について説明する。
【００３１】（Ｉ）第１実施形態 始めに、本発明に係る第１の実施形態について、図１乃
至図７を用いて説明する。なお、以下に説明する第１実
施形態は、光ディスクに記録されている記録情報を再生
する情報再生装置であって、当該光ディスクの情報記録
面と情報再生用の光ビームの光軸との間に生じている傾
斜（以下、チルトと称する。）に起因して光ビームに発
生している波面収差を、当該光ビームの光路上に配置さ
れた液晶パネルを用いて補正する機能を有する情報再生
装置に対して本発明を適用した場合の実施形態である。
【００３２】先ず、第１実施形態の情報再生装置の全体
構成について図１を用いて説明する。
【００３３】図１に示すように、第１実施形態の情報再
生装置Ｓ1は、レーザダイオード１と、偏向ビームスプ
リッタ２と、液晶パネル３と、対物レンズ４と、光ディ
スク５と、集光レンズ６と、ディテクタ７と、制御偏差
検出装置としてのエラー検出回路８と、制御手段及びチ
ルトサーボ制御手段としての液晶パネル制御回路９と、
再生回路１０と、により構成されている。
【００３４】次に、動作概要を説明する。
【００３５】レーザダイオード１は、情報再生用の光ビ
ームＢを生成し、偏向ビームスプリッタ２に出射する。
【００３６】そして、偏向ビームスプリッタ２は、入射
した光ビームＢを反射し、液晶パネル３に入射させる。
【００３７】そして、液晶パネル３は、液晶パネル制御
回路９からの駆動信号Ｓdvにより駆動されて通過する光
ビームＢに対して光路差を与え、チルトにより生じてい
る波面収差を補正する。このとき、当該液晶パネル３に
おける液晶は、図１に示すように光ビームＢの光路に垂
直な面内で碁盤目上に区分されており、当該碁盤目毎に
独立して電位差が与えられることにより、光ビームＢの
各部分毎に異なる位相差が与られて波面収差が補正され
るように構成されている。このため、液晶パネル制御回
路９は、液晶パネル３における碁盤目毎の電位差を制御
すべく上記駆動信号Ｓdvを出力する。
【００３８】一方、対物レンズ４は、液晶パネル３を通
過した光ビームＢを光ディスク５の情報記録面上に集光
する。
【００３９】次に、光ディスク５の情報記録面で反射さ
れることにより、当該情報記録面上に記録情報に対応し
て形成されているピットにより強度変調されると共に偏
光面が回転された光ビームＢは、液晶パネル３を再び通
過し、更に偏向ビームスプリッタ２を透過して集光レン
ズ６によりディテクタ７の受光面上に集光される。
【００４０】そして、ディテクタ７は、受光した光ビー
ムＢに基づいて、上記記録情報に対応する検出信号Ｓp
を生成し、エラー検出回路８に出力する。
【００４１】その後、エラー検出回路８は、検出信号Ｓ
pに基づいて記録情報に対応する再生ＲＦ（Radio Freq
uency）信号Ｓrfを生成し、再生回路１０に出力する。
【００４２】そして、再生回路１０は入力された再生Ｒ
Ｆ信号Ｓrfに基づいてこれを復調し、記録情報に対応す
る再生信号Ｓppとして外部に出力する。
【００４３】これと並行して、エラー検出回路８は、チ
ルトに起因して発生した光ビームＢの波面収差により再
生ＲＦ信号Ｓrfに生じている制御偏差としてのチルトエ
ラー（波形変形）を検出し、偏差信号Ｓccとして液晶パ
ネル制御回路９に出力する。そして、当該液晶パネル制
御回路９は、偏差信号Ｓccに基づいて発生しているチル
トエラーを除去すべく上記駆動信号Ｓdvを生成する。
【００４４】次に、本発明に係るエラー検出回路８の構
成及び動作について、図２乃至図７を用いて説明する。
【００４５】始めに、エラー検出回路８の構成につい
て、図２を用いて説明する。
【００４６】図２に示すように、エラー検出回路８は、
Ｉ−Ｖ（電流−電圧）変換器１１と、エンベロープ検出
器１２と、バンドパスフィルタ１３と、ゼロクロス検出
器１４及び２４と、片エッジ検出器１５と、検出手段と
しての位相比較器１６と、反転器１７と、生成手段とし
てのスイッチ１８と、ＡＧＣ（Automatic Gain Contr
oller）３０と、温度センサ２２と、印加手段としての
Ｖ−ｆ（電圧−周波数）変換器２３と、両エッジ検出器
２５と、ゲインコントローラ２６と、生成手段としての
加算器２７と、ループフィルタ２８と、バンド選択器３
１により構成されている。
【００４７】また、ＡＧＣ３０は、整流器１９と、積分
器２０と、減算器２１と、基準電圧発生器２９と、によ
り構成されている。
【００４８】次に、エラー検出回路８の動作について、
図２乃至図７を用いて説明する。
【００４９】始めに、光ディスク５と光ビームＢとの間
にチルトが生じていない場合の動作について、図２乃至
図４を用いて説明する。
【００５０】温度センサ２２は、情報再生装置Ｓ1の周
囲温度を検出し、検出信号Ｓtを出力する。
【００５１】そして、Ｖ−ｆ変換器２３は、検出信号Ｓ
tに基づいて、検出された周囲温度と予め設定されてい
る周波数テーブルとを比較し、周囲温度が変化しても第
１実施形態のチルトサーボ制御機構に注入する外乱量が
変動しないように周波数を選択した外乱信号としての基
準信号Ｓosc（図３最上段参照）を生成する。このと
き、基準信号Ｓoscの周波数ｆ0は、エラー検出回路８と
しての応答速度の低下を防止するためにある程度高い周
波数とする必要があり、具体的には、常温で例えば２０
０Ｈｚとされる。
【００５２】ここで、第１実施形態において基準信号Ｓ
oscの発生に温度センサ２２とＶ−ｆ変換器２３を用い
る理由は、一般に、その駆動信号の周波数が一定の場
合、液晶パネル３のゲイン特性は周囲温度により変化
し、これによって、第１実施形態のチルトサーボ制御機
構に注入する外乱量が変化することを回避するためであ
る。すなわち、例えば、周囲温度が低温の場合には液晶
パネル３のゲインは小さくなるが、高温の場合にはゲイ
ンは大きくなることにより、結果として上記注入される
外乱量が多くなって再生ＲＦ信号Ｓrfに与える影響が大
きくなってしまうことを回避するのである。
【００５３】次に、基準信号Ｓoscは、後述の制御信号
Ｓcにより制御されるゲインコントローラ２６によりそ
のゲインが最適化され、加算器２７において後述の平均
化エラー信号Ｓderが加算された後、外乱信号を含む偏
差信号Ｓccとして液晶パネル制御回路９に出力される。
【００５４】一方、基準信号Ｓoscはゼロクロス検出器
２４にも出力されて当該基準信号Ｓoscにおけるゼロク
ロス点が検出され、当該ゼロクロス検出器２４により、
当該ゼロクロス点を境にして基準信号Ｓoscが正のとき
「ＨＩＧＨ」となり負のとき「ＬＯＷ」となる検出信号
Ｓzr（図３下から２段目参照）が生成されて両エッジ検
出器２５及びスイッチ１８へ出力される。
【００５５】そして、両エッジ検出器２５は、入力され
ている検出信号Ｓzrに基づき、基準信号Ｓoscにおける
ゼロクロス点のタイミングにおいて「ＨＩＧＨ」となる
両エッジ信号Ｓbeg（図３下から四段目参照）を生成し
位相比較器１６の一方の入力端子へ出力する。
【００５６】次に、偏差信号Ｓccを用いて液晶パネル制
御回路９により生成された駆動信号Ｓdvにより駆動され
る液晶パネル３を通過して波面収差が補正された光ビー
ムＢの反射光を受光して得られた検出信号Ｓpは、Ｉ−
Ｖ変換器１１により対応する再生ＲＦ信号Ｓrfに変換さ
れ、エンベロープ検出器１２及び上記再生回路１０へ出
力される。
【００５７】ここで、当該再生ＲＦ信号Ｓrfの波形につ
いて詳説すると、再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロープは、
図３上から三段目に示すように、基準信号Ｓoscの位相
を９０度だけ遅らせた遅延基準信号Ｓoscd（図３破線参
照）に同期すると共に、当該遅延基準信号Ｓoscdの２倍
の周波数を有するようになる。これは、液晶パネル３を
用いたチルトエラーの補正機構全体がいわゆる１次遅れ
系の制御機構を構成していると共に、上述のようにエラ
ー検出回路８としての応答速度を維持するために基準信
号Ｓoscの周波数ｆ0を高く設定しているからである。
【００５８】すなわち、図４（ａ）に示すように、一般
に１次遅れ系の制御機構においては、操作量（第１実施
形態の場合、基準信号Ｓosc）の周波数を高くすると、
当該操作量を制御対象（第１実施形態の場合、液晶パネ
ル３を用いたチルトに起因する波面収差の補正機構）に
入力した結果得られる制御量（第１実施形態の場合、再
生ＲＦ信号Ｓrf）の位相は、操作量の位相に比して最大
９０度遅れる。そこで、第１実施形態の情報再生装置Ｓ
1では、エラー検出回路８としての応答速度を維持する
ことを考慮すると共に位相遅れが定常状態となるための
基準信号Ｓoscの周波数として、図４（ａ）に示す周波
数ｆ0を選択し、この結果、再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベ
ロープが図３に示す波形（遅延基準信号Ｓoscdに同期す
ると共に、当該遅延基準信号Ｓoscdの２倍の周波数を有
する波形）となるのである。
【００５９】なお、基準信号Ｓoscの周波数としては、
エラー検出回路８としての応答速度を考慮する必要がな
い場合には、図４（ａ）に示す周波数ｆ1であってもよ
い。
【００６０】次に、この再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロー
プがエンベロープ検出器１２により検出され、更に中心
周波数２×ｆ0のバンドパスフィルタ１３を通過するこ
とによりエンベロープ信号Ｓenv（図３上から四段目参
照）として整流器１９及びゼロクロス検出器１４に出力
される。
【００６１】ここで、バンドパスフィルタ１３の中心周
波数は、基準信号Ｓoscの周波数の変化に対応するよう
に、検出信号Ｓtに基づくバンド選択器３１からの選択
信号Ｓbsにより選択される。
【００６２】次に、整流器１９において当該エンベロー
プ信号Ｓenvが整流され、更に積分器２０において所定
周期で平均化された後、上記ゲインコントローラ２６に
おけるゲインの目標値に対応する基準電圧（基準電圧発
生器２９により生成されている。）と比較され、その差
が減算器２１において生成されてゲインコントローラ２
６のゲインを制御すべく上記制御信号Ｓcとして当該ゲ
インコントローラ２６へ出力される。これにより、ゲイ
ンコントローラ２６においては、周囲温度の変化によら
ず常に一定量の外乱注入が可能な基準信号Ｓoscを生成
できることとなる。このとき、上述の温度に応じて基準
信号Ｓoscの周波数を変化させることが外乱注入量一定
化のための粗調整手段となり、上記ゲインコントローラ
２６におけるレベルコントロールが外乱注入量一定化の
ための微調整手段となり、これら基準周波数Ｓoscの周
波数の変更とゲインコントローラ２６の動作とが協調動
作することになる。
【００６３】一方、ゼロクロス検出器１４に出力されて
いるエンベロープ信号Ｓenvは、当該ゼロクロス検出器
１４においてゼロクロス点が検出され、更に片エッジ検
出器１５において、検出されたゼロクロス点のうち、エ
ンベロープ信号Ｓenvが負から正に変わるゼロクロス点
のタイミングで「ＨＩＧＨ」となる片エッジ信号Ｓseg
（図３下から三段目参照）が生成されて位相比較器１６
の他方の入力端子に入力される。
【００６４】そして、位相比較器１６は、夫々に入力さ
れている両エッジ信号Ｓbegと片エッジ信号Ｓsegとを位
相比較し、両エッジ信号Ｓbegが「ＨＩＧＨ」となるタ
イミングで「ＬＯＷ」から「ＨＩＧＨ」に変わり、その
直後に片エッジ信号Ｓsegが「ＨＩＧＨ」となるタイミ
ングで「ＨＩＧＨ」から「ＬＯＷ」に変わる位相信号Ｓ
tpを生成し、スイッチ１８の一方の入力端子にそのまま
出力すると共に反転器１７に出力する。このとき、反転
器１７は入力されている位相信号Ｓtpの正負を反転し、
反転信号Ｓrevを生成してスイッチ１８の他方の入力端
子に出力する。
【００６５】これにより、スイッチ１８は、検出信号Ｓ
zrに基づいて、検出信号Ｓzrが正のとき位相信号Ｓtpを
エラー信号Ｓerとして出力し、検出信号Ｓzrが負のとき
反転信号Ｓrevをエラー信号Ｓerとして出力する。
【００６６】この結果、エラー信号Ｓerの波形として
は、図３最下段に示すように正のパルスと負のパルスが
交互に現れる波形となる。
【００６７】ここで、当該エラー信号Ｓerの波形につい
て検討すると、チルトに起因する波面収差がないとき
は、エンベロープ信号Ｓenvが遅延基準信号Ｓoscdに同
期すると共に当該遅延基準信号Ｓoscdの２倍の周波数を
有するので、その結果として、図３に示すように、エラ
ー信号Ｓerの波形は正側のパルス幅（位相信号Ｓtpに対
応する。図３中符号ｔ0で示す。）と負側のパルス幅
（反転信号Ｓrevに対応する。図３中符号ｔ0'で示
す。）とが等しい波形となっている。
【００６８】そこで、当該エラー信号Ｓerをループフィ
ルタ２８（ローパスフィルタの機能を有している。）で
平均化すると、得られる上記平均化エラー信号Ｓderは
ゼロレベルの直流信号となる。
【００６９】従って、当該平均化エラー信号Ｓderを加
算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差
信号Ｓccは、直流のレベルシフトを伴わない基準信号Ｓ
oscそのものとなる。
【００７０】これにより、当該偏差信号Ｓccが入力され
る液晶パネル制御回路９では、光ビームＢに対して何ら
位相差を与えないように（すなわち、光ビームＢの波面
収差を補正することなく当該光ビームＢを透過するよう
に）液晶パネル３を駆動すべく上記駆動信号Ｓdvを生成
する。
【００７１】次に、光ディスク５と光ビームＢとの間に
一の方向（以下、その方向を負の方向と称する。）のチ
ルトが生じている場合のエラー検出回路８の動作につい
て、図５を用いて説明する。
【００７２】負の方向のチルトが発生している場合に
は、基準信号Ｓoscとしてはチルトが生じていない場合
に比して何ら変化することなく生成されるが、この基準
信号Ｓoscが偏差信号Ｓccに含まれて液晶パネル制御回
路９に出力された結果得られる再生ＲＦ信号Ｓrfは、図
５上から三段目に示すように、チルトがない場合（図３
参照）に比して波形変形が生じる。
【００７３】この理由について、図６を用いて説明す
る。なお、図６は、遅延基準信号Ｓoscdとチルトエラー
の有無に伴う再生ＲＦ信号Ｓrfの振幅との関係を示した
ものである。
【００７４】図６に示すように、チルトエラーがない場
合、再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロープは、遅延基準信号
Ｓoscdのレベルが零のときに最大振幅となり、遅延基準
信号Ｓoscdのレベルが零以外のときにゼロレベルを中心
として正負対称に同量の振幅を有する波形となる。従っ
て、チルトエラーがないときはエンベロープ信号Ｓenv
はそのピークが等間隔に現れる波形となる（図３参照）
ところが、例えば、正又は負のいずれかの方向にチルト
エラーが生じている場合には、図６に示すように、再生
ＲＦ信号Ｓrfのエンベロープは遅延基準信号Ｓoscdのレ
ベルが零でないときに最大振幅となる。これにより、チ
ルトエラーがあるときはエンベロープ信号Ｓenvのピー
クのタイミングは遅延基準信号Ｓoscdがゼロレベルにな
るタイミングとは一致せず、従って、当該各ピークも等
間隔とはならないのである（図５又は図７参照）。
【００７５】以上の理由により、再生ＲＦ信号Ｓrfに波
形変形が生じるので、エンベロープ信号Ｓenvも、図５
に示すように波形が非周期的となり、従って、そのゼロ
レベルのタイミングを示す片エッジ信号Ｓsegの周期
も、基準信号Ｓoscの半周期毎にずれることとなる。
【００７６】なお、このときでも、両エッジ信号Ｓbeg
と検出信号Ｓzrの波形は、図３に示す場合と同様であ
る。
【００７７】よって、これらにより、エラー信号Ｓerの
波形としては、図５最下段に示すように、正側のパルス
幅（図５中符号（ｔ0＋Δｔ）で示す。）が負側のパル
ス幅（図５中符号（ｔ0−Δｔ）で示す。）よりも長い
波形となっている。
【００７８】そこで、当該エラー信号Ｓerをループフィ
ルタ２８で平均化すると、得られる上記平均化エラー信
号Ｓderは正レベルの直流信号となる。
【００７９】従って、当該平均化エラー信号Ｓderを加
算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差
信号Ｓccは、正側に直流のレベルシフトを伴う信号とな
る。
【００８０】これにより、当該偏差信号Ｓccが入力され
る液晶パネル制御回路９では、光ディスク５と光ビーム
Ｂとの間に生じているチルトの量と方向を認識でき、こ
れにより光ビームＢに対して当該正側の直流レベルシフ
トが零となる位相差を与えるように液晶パネル３を駆動
すべく上記駆動信号Ｓdvを生成し、よって、負の方向の
チルトにより生じている波面収差が補正されて正常な情
報再生ができるようになる。
【００８１】最後に、光ディスク５と光ビームＢとの間
に、図５に対応する方向とは逆の方向（以下、その方向
を正の方向と称する。）のチルトが生じている場合のエ
ラー検出回路８の動作について、図７を用いて説明す
る。
【００８２】正の方向のチルトが発生している場合に
は、基準信号Ｓoscとしては上述のようにチルトが生じ
ていない場合に比して何ら変化することなく生成される
が、この基準信号Ｓoscに対応して得られる再生ＲＦ信
号Ｓrfは、図７上から三段目に示すように、図５に示す
場合とは逆の波形変形を生じる。この理由は上記図５の
場合において説明した通りである。
【００８３】従って、エンベロープ信号Ｓenvも、図７
に示すように波形が非周期的となり、そのゼロレベルの
タイミングを示す片エッジ信号Ｓsegの周期も、基準信
号Ｓoscの半周期毎に図５に示す場合とは反対の方向に
ずれることとなる。
【００８４】なお、このときでも、両エッジ信号Ｓbeg
と検出信号Ｓzrの波形は、図３に示す場合と同様であ
る。
【００８５】よって、これらにより、エラー信号Ｓerの
波形としては、図７最下段に示すように、正側のパルス
幅（図５中符号（ｔ0−Δｔ）で示す。）が負側のパル
ス幅（図５中符号（ｔ0＋Δｔ）で示す。）よりも短い
波形となっている。
【００８６】そこで、当該エラー信号Ｓerをループフィ
ルタ２８で平均化すると、得られる上記平均化エラー信
号Ｓderは負レベルの直流信号となる。
【００８７】従って、当該平均化エラー信号Ｓderを加
算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差
信号Ｓccは、負側に直流のレベルシフトを伴う信号とな
る。
【００８８】これにより、当該偏差信号Ｓccが入力され
る液晶パネル制御回路９では、光ディスク５と光ビーム
Ｂとの間に生じているチルトの量と方向を認識でき、こ
れにより光ビームＢに対して当該負側の直流レベルシフ
トが零となる位相差を与えるように液晶パネル３を駆動
すべく上記駆動信号Ｓdvを生成し、よって、正方向のチ
ルトにより生じている波面収差が補正されて正常な情報
再生ができるようになる。
【００８９】以上説明したように、第１実施形態の情報
再生装置Ｓ1の動作によれば、積分処理又は比較を伴う
学習処理等を行うことなくチルトエラーの量と方向が検
出できるので、簡易な構成で正確且つ高速にチルトエラ
ーの量と方向を検出することができる。
【００９０】また、基準信号Ｓoscがゼロレベルに到達
するタイミングとエンベロープ信号Ｓenvがゼロレベル
に到達するタイミングとを比較することにより再生ＲＦ
信号Ｓrfの波形変形を検出するので、簡易な構成で正確
且つ高速に波形変形を検出してチルトエラーの量と方向
を検出することができる。
【００９１】更に、情報再生装置Ｓ1のチルトサーボ制
御において簡易な構成で正確且つ高速にチルトを検出す
ることができる。
【００９２】更にまた、チルトサーボ制御機構が液晶パ
ネル３を用いて光ビームＢに光路差を与えることにより
チルト角の変化に起因する収差を補正するので、正確且
つ高速に制御偏差を検出して当該液晶パネル３を駆動す
ることができる。
【００９３】なお、上述の第１実施形態では、周囲温度
に応じて液晶パネル３のゲインが変化することに起因す
る上記問題点を解消するための構成として温度センサ２
２及びＶ−ｆ変換器２３、ＡＧＣ３０及びゲインコント
ローラ２６並びにバンド選択器３１を有する構成を用い
たが、これ以外に、温度センサ２２、Ｖ−ｆ変換器２３
及びバンド選択器３１のみにより上記問題点を解消する
構成或いはＡＧＣ３０及びゲインコントローラ２６のみ
により上記問題点を解消する構成とすることもできる。
【００９４】（II）第２実施形態 次に、本発明に係る他の実施形態である第２の実施形態
について、図８乃至図１３を用いて説明する。なお、以
下に説明する第２実施形態は、光ディスクに記録されて
いる記録情報を再生する情報再生装置におけるフォーカ
スサーボ制御機構及びトラッキングサーボ制御機構に対
して本発明を適用した場合の実施形態である。
【００９５】始めに、第２実施形態の情報再生装置の全
体構成について図８及び図９を用いて説明する。なお、
図８は第２実施形態の情報再生装置のうちトラッキング
サーボ制御（いわゆる３ビーム法によるトラッキングサ
ーボ制御）に関する部分のみを示す図であり、図９は第
２実施形態の情報再生装置のうちフォーカスサーボ制御
（いわゆる非点収差法によるトラッキングサーボ制御）
に関する部分のみを示す図である。また、図８及び図９
において図１と同様の部材については、同様の部材番号
を付して細部の説明は省略する。
【００９６】図８に示すように、第２実施形態の情報再
生装置Ｓ2のうちトラッキングサーボ制御に関する部分
は、レーザダイオード１と、偏向ビームスプリッタ２
と、回折格子２’と、対物レンズ４と、光ディスク５
と、集光レンズ６と、ディテクタ７’と、制御偏差検出
装置としてのエラー検出回路８’と、制御手段及びトラ
ッキングサーボ制御手段としてのドライバ３３と、再生
回路１０と、トラッキングエラー検出回路３１と、イコ
ライザ３２と、加算器３４と、により構成されている。
【００９７】このうち、ディテクタ７’は、主ディテク
タ７ｃと副ディテクタ７ａ及び７ｂとにより構成されて
いる。
【００９８】次に、概要動作を説明する。
【００９９】レーザダイオード１は、情報再生用の光ビ
ームＢを生成し、回折格子２’に出射する。
【０１００】そして、回折格子２’は、入射した光ビー
ムＢを、情報再生用の主ビームＢＭとトラッキングエラ
ー信号を生成するための副ビームＢ1及びＢ2に分離して
夫々偏向ビームスプリッタ２に出射する。
【０１０１】次に、偏向ビームスプリッタ２は、入射し
た主ビームＢＭ、副ビームＢ1及びＢ2を反射し、対物レ
ンズ４に入射させる。
【０１０２】そして、対物レンズ４は、主ビームＢＭ、
副ビームＢ1及びＢ2を光ディスク５の情報記録面上に集
光する。
【０１０３】次に、光ディスク５の情報記録面で反射さ
れることにより、当該情報記録面上に記録情報に対応し
て形成されているピットにより強度変調されると共に偏
光面が回転された主ビームＢＭ、副ビームＢ1及びＢ2は
偏向ビームスプリッタ２を透過して集光レンズ６により
ディテクタ７’の受光面上に集光される。このとき、主
ビームＢＭは主ディテクタ７ｃ上に集光され、副ビーム
Ｂ1は副ディテクタ７ａ上に集光され、副ビームＢ2は副
ディテクタ７ｂ上に集光される。
【０１０４】そして、主ディテクタ７ｃは、受光した主
ビームＢＭに基づいて、上記記録情報に対応する検出信
号Ｓpを生成し、エラー検出回路８’に出力する。
【０１０５】一方、副ディテクタ７ａ及び７ｂは夫々受
光した副ビームに対応して、トラッキング信号Ｓta及び
Ｓtbを夫々生成してトラッキングエラー検出回路３１に
出力する。
【０１０６】そして、トラッキングエラー検出回路３１
は、３ビーム法によりトラッキング信号Ｓtaとトラッキ
ング信号Ｓtbの差を算出し、トラッキングエラー信号Ｓ
teを生成してイコライザ３２に出力する。
【０１０７】その後、イコライザ３２はトラッキングエ
ラー信号Ｓteの周波数特性を補正して補正トラッキング
エラー信号Ｓtを生成し、加算器３４に出力する。
【０１０８】次に、エラー検出回路８’は、入力されて
いる検出信号Ｓpに基づいて記録情報に対応する再生Ｒ
Ｆ信号Ｓrfを生成し、再生回路１０に出力する。
【０１０９】そして、再生回路１０は入力された再生Ｒ
Ｆ信号Ｓrfに基づいてこれを復調し、記録情報に対応す
る再生信号Ｓppとして外部に出力する。
【０１１０】これと並行して、エラー検出回路８’は、
主ビームＢＭのトラッキング位置のずれに起因して再生
ＲＦ信号Ｓrfに生じている制御偏差としてのトラッキン
グエラー（波形変形）を検出し、偏差信号Ｓcc1として
加算器３４に出力する。そして、当該加算器３４により
偏差信号Ｓcc1と補正トラッキングエラー信号Ｓtとが加
算され、トラッキング偏差信号Ｓtcとしてドライバ３３
に出力される。そして、当該ドライバ３３は、トラッキ
ング偏差信号Ｓtcに基づいて発生しているトラッキング
エラーを除去すべく、対物レンズ４を光ディスク５の情
報記録面に平行な方向に移動するための図示しないトラ
ッキングアクチュエータを駆動するためのトラッキング
駆動信号Ｓdtを生成する。
【０１１１】このとき、ドライバ３３は、トラッキング
エラーが大きいときにこれを補正するいわゆる粗調整時
にはトラッキング偏差信号Ｓtcに含まれる補正トラッキ
ングエラー信号Ｓtを主に用いてトラッキングエラーを
補正し、粗調整後にトラッキングエラーが小さくなった
ときにこれを補正するいわゆる微調整時には補正トラッ
キングエラー信号Ｓt及び偏差信号Ｓcc1を含むトラッキ
ング偏差信号Ｓtcを用いて再生ＲＦ信号Ｓrfに含まれて
いるオフセット（上記トラッキングエラーに起因して発
生しているオフセットであり、上記粗調整のみでは除去
できないものである。）を除去しつつトラッキングエラ
ーを補正する。
【０１１２】次に、情報再生装置Ｓ2のうちフォーカス
サーボ制御に関する部分について図９を用いて説明する
と、当該フォーカスサーボ制御に関する部分は、上述し
たレーザダイオード１、偏向ビームスプリッタ２、回折
格子２’、対物レンズ４、光ディスク５、集光レンズ６
及び再生回路１０に加えて、円筒レンズ６’と、ディテ
クタ７’と、エラー検出回路８”（上記エラー検出回路
８’と同様の構成を備えた別個のもの）と、制御手段、
フォーカスサーボ制御手段としてのドライバ３７と、フ
ォーカスエラー検出回路３５と、イコライザ３６と、加
算器３８と、により構成されている。
【０１１３】このとき、主ディテクタ７ｃは後述のフォ
ーカスエラー検出信号Ｓffを生成するためにその受光面
が均等な面積を有する扇形の四つの部分ディテクタに分
割されている。
【０１１４】次に、概要動作を説明する。
【０１１５】レーザダイオード１、回折格子２’、偏向
ビームスプリッタ２、対物レンズ４、及び集光レンズ６
は上述した図８に示す場合と同様の動作を行う。
【０１１６】そして、円筒レンズ６’は、主ビームＢＭ
に非点収差を与えて主ディテクタ７ｃに入射させる。
【０１１７】そして、上述のように四つの部分ディテク
タに分割されている主ディテクタ７ｃは、夫々の部分デ
ィテクタにおいて生成される受光信号を加算して検出信
号Ｓpとしてエラー検出回路８”に出力すると共に、夫
々の部分ディテクタのうち対向する二つの部分ディテク
タにおける受光信号の和信号を夫々算出し、夫々の和信
号の差をとることにより、いわゆる非点収差法に基づい
て主ビームＢＭに含まれているフォーカスエラーを示す
上記フォーカスエラー検出信号Ｓffを生成し、フォーカ
スエラー検出回路３５に出力する。
【０１１８】そして、フォーカスエラー検出回路３５
は、上記非点収差法によりフォーカスエラー検出信号Ｓ
ffからフォーカスエラーに対応する具体値を含むフォー
カスエラー信号Ｓfeを生成してイコライザ３６に出力す
る。
【０１１９】その後、イコライザ３６はフォーカスエラ
ー信号Ｓfeの周波数特性を補正して補正フォーカスエラ
ー信号Ｓfを生成し、加算器３８に出力する。
【０１２０】次に、エラー検出回路８”は検出信号Ｓp
に基づいて記録情報に対応する再生ＲＦ信号Ｓrfを生成
し、再生回路１０に出力する。
【０１２１】そして、再生回路１０は再生ＲＦ信号Ｓrf
に基づいてこれを復調し、上記再生信号Ｓppとして外部
に出力する。
【０１２２】これと並行して、エラー検出回路８”は、
主ビームＢＭのフォーカス位置のずれに起因して再生Ｒ
Ｆ信号Ｓrfに生じている制御偏差としてのフォーカスエ
ラー（波形変形）を検出し、偏差信号Ｓcc2として加算
器３８に出力する。そして、当該加算器３８により偏差
信号Ｓcc2と補正フォーカスエラー信号Ｓfとが加算さ
れ、フォーカス偏差信号Ｓfcとしてドライバ３７に出力
される。そして、当該ドライバ３7は、フォーカス偏差
信号Ｓfcに基づいて、発生しているフォーカスエラーを
除去すべく、対物レンズ４を光ディスク５の情報記録面
に垂直な方向に移動するための図示しないフォーカスア
クチュエータを駆動するためのフォーカス駆動信号Ｓdf
を生成する。
【０１２３】このとき、ドライバ３７は、フォーカスエ
ラーが大きいときにこれを補正するいわゆる粗調整時に
はフォーカス偏差信号Ｓfcに含まれる補正フォーカスエ
ラー信号Ｓfを主に用いてフォーカスエラーを補正し、
粗調整後にフォーカスエラーが小さくなったときにこれ
を補正するいわゆる微調整時には補正フォーカスエラー
信号Ｓf及び偏差信号Ｓcc2を含むフォーカス偏差信号Ｓ
fcを用いて再生ＲＦ信号Ｓrfに含まれているオフセット
（上記フォーカスエラーに起因して発生しているオフセ
ットであり、上記粗調整では除去できないものであ
る。）を除去しつつフォーカスエラーを補正する。
【０１２４】次に、第２実施形態のエラー検出回路の構
成及び動作について、図１０乃至図１３を用いて説明す
る。なお、以下の説明では、エラー検出回路８’とエラ
ー検出回路８”とを代表してエラー検出回路８’の構成
及び動作について説明する。また、図１０において、図
２に示すエラー検出回路８と同一の部材については同一
の部材番号を付して細部の説明は省略する。
【０１２５】先ず、エラー検出回路８’の構成について
図１０を用いて説明する。
【０１２６】図１０に示すように、エラー検出回路８’
は、図２において説明したＩ−Ｖ変換器１１、エンベロ
ープ検出器１２、バンドパスフィルタ１３、ゼロクロス
検出器１４及び２４、片エッジ検出器１５、位相比較器
１６、反転器１７、スイッチ１８、ＡＧＣ３０、両エッ
ジ検出器２５、ゲインコントローラ２６、加算器２７及
びループフィルタ２８と、発振器３２と、反転器４０
と、インバータ４１とにより構成されている。
【０１２７】次に、エラー検出回路８’の動作につい
て、図１０乃至図１３を用いて説明する。
【０１２８】始めに、トラッキング位置のずれが生じて
いない場合の動作について、図１０及び図１１を用いて
説明する。
【０１２９】発振器３２は、予め設定された所定周波数
の基準信号Ｓoscを生成する。
【０１３０】そして、ゲインコントローラ２６及び加算
器２７は図２において説明した動作と同様の動作を行
い、偏差信号Ｓcc1に出力する。
【０１３１】一方、ゼロクロス検出器２４は基準信号Ｓ
oscにおけるゼロクロス点を検出し、上記検出信号Ｓzr
（図１１下から三段目参照）を生成して両エッジ検出器
２５及びインバータ４１へ出力する。そして、インバー
タ４１は、検出信号Ｓzrの極性を反転し、反転検出信号
Ｓzrrを生成してスイッチ１８に出力する。
【０１３２】一方、両エッジ検出器２５は、入力されて
いる検出信号Ｓzrに基づき、上記両エッジ信号Ｓbeg
（図１１下から五段目参照）を生成し、位相比較器１６
の一方の入力端子へ出力する。
【０１３３】次に、偏差信号Ｓcc1を用いてドライバ３
３により生成された駆動信号Ｓdtにより対物レンズ４を
駆動した結果得られる検出信号Ｓpは、Ｉ−Ｖ変換器１
１により対応する再生ＲＦ信号Ｓrfに変換され、エンベ
ロープ検出器１２及び上記再生回路１０へ出力される。
【０１３４】ここで、当該再生ＲＦ信号Ｓrfの波形につ
いて詳説すると、再生ＲＦ信号Ｓrfは、図１１上から三
段目に示すように、基準信号Ｓoscの位相を１８０度だ
け遅らせた遅延基準信号Ｓoscd（図１１上から二段目参
照）に同期すると共に、当該遅延基準信号Ｓoscdの２倍
の周波数を有するようになる。これは、トラッキングサ
ーボ制御機構全体がいわゆる２次遅れ系の制御機構を構
成していると共に、エラー検出回路８’としての応答速
度を維持するために基準信号Ｓoscの周波数ｆ0を高く設
定しているからである。
【０１３５】すなわち、図４（ｂ）に示すように、一般
に２次遅れ系の制御機構においては、操作量（第２実施
形態の場合、基準信号Ｓosc）の周波数を高くすると、
当該操作量を制御対象（第２実施形態の場合、トラッキ
ングサーボ制御機構又はフォーカスサーボ制御機構）に
入力した結果得られる制御量（第２実施形態の場合、再
生ＲＦ信号Ｓrf）の位相は、操作量の位相に比して最大
１８０度遅れる。そこで、第２実施形態の情報再生装置
Ｓ2では、エラー検出回路８’としての応答速度を維持
することを考慮すると共に位相遅れが定常状態となるた
めの基準信号Ｓoscの周波数として、図４（ｂ）に示す
周波数ｆ0を選択し、この結果、再生ＲＦ信号rfのエン
ベロープが図１１に示す波形（遅延基準信号Ｓoscdに同
期すると共に、当該遅延基準信号Ｓoscdの２倍の周波数
を有する波形）となるのである。
【０１３６】なお、基準信号Ｓoscの周波数としては、
エラー検出回路８’としての応答速度を考慮する必要が
ない場合には、図４（ｂ）に示す周波数ｆ1であっても
よい。
【０１３７】次に、この再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロー
プがエンベロープ検出器１２により検出され、更に中心
周波数２×ｆ0のバンドパスフィルタ１３を通過するこ
とによりエンベロープ信号Ｓenv（図１１上から四段目
破線参照）として整流器１９及び反転器４０に出力され
る。
【０１３８】ここで、整流器１９、積分器２０、基準電
圧発生器２９及び減算器２１により構成されるＡＧＣ３
０並びにゲインコントローラ２６は、上記図２の場合と
同様の動作を行い、一定ゲインの基準信号Ｓoscを生成
する。
【０１３９】一方、反転器４０は、入力されているエン
ベロープ信号Ｓenvの極性を反転し、反転信号Ｓrを生成
してゼロクロス検出器１４に出力する。そして、当該ゼ
ロクロス検出器１４において反転信号Ｓrのゼロクロス
点が検出され、更に片エッジ検出器１５において上記片
エッジ信号Ｓseg（図１１下から四段目実線参照）が生
成されて位相比較器１６の他方の入力端子に入力され
る。
【０１４０】そして、位相比較器１６は、夫々に入力さ
れている両エッジ信号Ｓbegと片エッジ信号Ｓsegとを位
相比較し、上記位相信号Ｓtp（図１１下から二段目参
照）を生成し、スイッチ１８の一方の入力端子にそのま
ま出力すると共に反転器１７に出力する。このとき、反
転器１７は上記反転信号Ｓrevを生成してスイッチ１８
の他方の入力端子に出力する。
【０１４１】ここで、エラー検出回路８’においてイン
バータ４１及び反転器４０を用いる理由は、トラッキン
グサーボ制御機構においては、上述のように基準信号Ｓ
oscの位相と再生ＲＦ信号Ｓrfの位相とが１８０度ずれ
るので、もし、反転器４０を介さずにエンベロープ信号
Ｓenvをそのままゼロクロス検出器１４に入力すると、
生成される片エッジ信号Ｓsegは図１１下から四段目に
破線で示す波形となり、従って、位相比較器１６により
生成される位相信号Ｓtpも図１１下から二段目に破線で
示すように長いパルス幅を有する波形となる。そして、
このような波形の位相信号Ｓtpでは、スイッチ１８等の
動作において、当該位相信号Ｓtpにおける隣接するパル
ス同士を識別できなくなる場合がある（位相信号Ｓtpに
おける隣接するパルス同士が近づきすぎることに起因す
る。）。これにより、エラー検出回路８’ではエンベロ
ープ信号Ｓenvを反転させた反転信号Ｓrから片エッジ信
号Ｓsegを生成し、これに伴って検出信号Ｓzrを反転さ
せた反転検出信号Ｓzrrを用いてスイッチ１８を切り替
えるのである。
【０１４２】この結果、スイッチ１８からは、図１１最
下段に示すような、各パルスを明確に識別することが可
能なエラー信号Ｓerが生成される。
【０１４３】ここで、当該エラー信号Ｓerの波形におい
ては、図３に示す場合と同様に、トラッキング位置のず
れがないときは、エンベロープ信号Ｓenvが遅延基準信
号Ｓoscdに同期すると共に当該遅延基準信号Ｓoscdの２
倍の周波数を有するので、その結果として、図１１に示
すように、エラー信号Ｓerの波形は正側のパルス幅（位
相信号Ｓtpに対応する。図１１中符号ｔ0で示す。）と
負側のパルス幅（反転信号Ｓrevに対応している。図１
１中符号ｔ0'で示す。）とが等しい波形となっている。
【０１４４】そこで、当該エラー信号Ｓerをループフィ
ルタ２８で平均化すると、得られる上記平均化エラー信
号Ｓderはゼロレベルの直流信号となる。
【０１４５】従って、当該平均化エラー信号Ｓderを加
算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差
信号Ｓcc1は、直流のレベルシフトを伴わない基準信号
Ｓoscそのものとなる。
【０１４６】これにより、微調整時において当該偏差信
号Ｓcc1が入力されるドライバ３３では、トラッキング
サーボ制御の状態（光ビームＢＭにより形成される光ス
ポットの光ディスク５上のトラックに対する位置）を現
状から変化させないようにトラッキングアクチュエータ
を駆動すべく上記駆動信号Ｓdtを生成する。
【０１４７】次に、光スポットの位置がトラックの位置
に比して一の方向、例えば、内側にずれている場合のエ
ラー検出回路８’の動作について、図１２を用いて説明
する。
【０１４８】トラッキングが内側にずれている場合に
は、基準信号Ｓoscとしてはトラッキング位置のずれが
生じていない場合に比して何ら変化することなく生成さ
れるが、この基準信号Ｓoscが偏差信号Ｓcc1に含まれて
ドライバ３３に出力された結果得られる再生ＲＦ信号Ｓ
rfは、図１２上から三段目に示すように、トラッキング
位置のずれがない場合（図１１参照）に比して波形変形
が生じる。
【０１４９】この理由は、上記第１実施形態の場合と同
様に、トラッキング位置のずれがない場合、再生ＲＦ信
号Ｓrfのエンベロープは、遅延基準信号Ｓoscdのレベル
が零のときに最大振幅となり、遅延基準信号Ｓoscdのレ
ベルが零以外のときにゼロレベルを中心として正負対称
に同量の振幅を有する波形となる。従って、トラッキン
グ位置のずれがないときはエンベロープ信号Ｓenvはそ
のピークが等間隔に現れる波形となる（図１１参照） ところが、例えば、光ディスク５の内側又は外側にトラ
ッキング位置のずれが生じている場合には、再生ＲＦ信
号Ｓrfのエンベロープは遅延基準信号Ｓoscdのレベルが
零でないときに最大振幅となる。これにより、トラッキ
ング位置のずれがあるときはエンベロープ信号Ｓenvの
ピークのタイミングは遅延基準信号Ｓoscdがゼロレベル
のタイミングとは一致せず、従って、当該各ピークも等
間隔とはならないのである（図１２又は図１３参照）。
【０１５０】以上の理由により、再生ＲＦ信号Ｓrfに波
形変形が生じているので、反転信号Ｓrも、図１２に示
すように波形が非周期的となり、従って、そのゼロレベ
ルのタイミングを示す片エッジ信号Ｓsegの周期も、基
準信号Ｓoscの半周期毎にずれることとなる。
【０１５１】なお、このときでも、両エッジ信号Ｓbeg
と検出信号Ｓzrの波形は、図１１に示す場合と同様であ
る。
【０１５２】よって、これらにより、エラー信号Ｓerの
波形としては、図１２最下段に示すように、正側のパル
ス幅（図１２中符号（ｔ0−Δｔ）で示す。）は負側の
パルス幅（図１２中符号（ｔ0＋Δｔ）で示す。）より
も短い波形となっている。
【０１５３】そこで、当該エラー信号Ｓerをループフィ
ルタ２８で平均化すると、得られる上記平均化エラー信
号Ｓderは負レベルの直流信号となる。
【０１５４】従って、当該平均化エラー信号Ｓderを加
算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差
信号Ｓcc1は、負側に直流のレベルシフトを伴う信号と
なる。
【０１５５】これにより、当該偏差信号Ｓcc1が入力さ
れるドライバ３３では、当該負側の直流レベルシフトが
零となる外側の方向に光スポットの位置を移動させるよ
うにトラッキングアクチュエータを駆動すべく上記駆動
信号Ｓdtを生成し、よって、内側にずれているトラッキ
ングが外側に補正されて正常なトラッキングができるよ
うになる。
【０１５６】最後に、光スポットの位置がトラックの位
置に比して外側にずれている場合のエラー検出回路８’
の動作について、図１３を用いて説明する。
【０１５７】トラッキングが外側にずれている場合に
は、基準信号Ｓoscとしてはトラッキング位置のずれが
生じていない場合に比して何ら変化することなく生成さ
れるが、この基準信号Ｓoscが偏差信号Ｓcc1に含まれて
ドライバ３３に出力された結果得られる再生ＲＦ信号Ｓ
rfは、図１３上から三段目に示すように、トラッキング
位置のずれがない場合（図１１参照）に比して、図１２
に示す場合とは逆の波形変形を生じる。
【０１５８】この理由は、上記図１２に示す場合におい
て説明した通りである。
【０１５９】従って、反転信号Ｓrも、図１３に示すよ
うに波形が非周期的となり、従って、そのゼロレベルの
タイミングを示す片エッジ信号Ｓsegの周期も、基準信
号Ｓoscの半周期毎に図１２に示す場合とは反対の方向
にずれることとなる。
【０１６０】なお、このときでも、両エッジ信号Ｓbeg
と検出信号Ｓzrの波形は、図１１に示す場合と同様であ
る。
【０１６１】よって、これらにより、エラー信号Ｓerの
波形としては、図１３最下段に示すように、正側のパル
ス幅（図１３中符号（ｔ0＋Δｔ）で示す。）は負側の
パルス幅（図１３中符号（ｔ0−Δｔ）で示す。）より
も長い波形となっている。
【０１６２】そこで、当該エラー信号Ｓerをループフィ
ルタ２８で平均化すると、得られる上記平均化エラー信
号Ｓderは正レベルの直流信号となる。
【０１６３】従って、当該平均化エラー信号Ｓderを加
算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差
信号Ｓcc1は、正側に直流のレベルシフトを伴う信号と
なる。
【０１６４】これにより、当該偏差信号Ｓcc1が入力さ
れるドライバ３３では、当該正側の直流レベルシフトが
零となる内側の方向に光スポットの位置を移動させるよ
うにトラッキングアクチュエータを駆動すべく上記駆動
信号Ｓdtを生成し、よって、外側にずれているトラッキ
ングが内側に補正されて正常なトラッキングができるよ
うになる。
【０１６５】なお、上記エラー検出回路８’と図９に示
すエラー検出回路８”とは、夫々の構成は基本的に同様
であるが、動作上異なる点は、基準信号Ｓoscの周波数
が異なる（ただし、エラー検出回路８’における基準信
号Ｓoscの周波数とエラー検出回路８”における基準信
号Ｓoscの周波数とは、共に、図４（ｂ）に示す位相が
１８０度ずれる範囲の周波数とされる。）と共に、それ
に伴ってバンドパスフィルタ１３の中心周波数（基準信
号Ｓoscの周波数の２倍の周波数である。）が相互に異
なっている点である。これにより、エラー検出回路８’
ではトラッキング位置のずれに起因する再生ＲＦ信号Ｓ
rfのオフセットのみを抽出してこれに基づくエラー信号
Ｓerを生成してトラッキングサーボ制御を施すことがで
き、また、エラー検出回路８”においても、フォーカス
位置のずれに起因する再生ＲＦ信号Ｓrfのオフセットの
みを抽出してこれに基づくエラー信号Ｓerを生成してフ
ォーカスサーボ制御を施すことができる。
【０１６６】以上説明したように、第２実施形態の情報
再生装置Ｓ2の動作によれば、積分処理又は比較を伴う
学習処理等を行うことなくフォーカスエラー又はトラッ
キングエラーの量と方向が検出できるので、簡易な構成
で正確且つ高速に当該フォーカスエラー又はトラッキン
グエラーの量と方向を検出することができる。
【０１６７】また、基準信号Ｓoscがゼロレベルに到達
するタイミングと反転信号Ｓrがゼロレベルに到達する
タイミングとを比較することにより再生ＲＦ信号Ｓrfの
波形変形を検出するので、簡易な構成で正確且つ高速に
波形変形を検出してフォーカスエラー又はトラッキング
エラーの量と方向を検出することができる。
【０１６８】更に、情報再生装置Ｓ2のトラッキングサ
ーボ又はフォーカス制御において簡易な構成で正確且つ
高速にトラッキング位置のずれ又はフォーカス位置のず
れを検出することができる。
【０１６９】なお、上述の第２実施形態においては、異
なる周波数を有する基準信号Ｓoscを用いてトラッキン
グサーボ制御におけるオフセットの除去又はフォーカス
サーボ制御におけるオフセットの除去を行ったが、これ
以外に一のエラー検出回路（基準信号Ｓoscの周波数は
一種類である。）をトラッキングサーボ制御におけるオ
フセットの除去とフォーカスサーボ制御におけるオフセ
ットの除去とで共用することもできる。この場合には、
トラッキングサーボ制御に用いる場合とフォーカスサー
ボ制御に用いる場合とで時分割的にエラー検出回路の出
力を切り替えて夫々のドライバに出力し、いずれか一方
のオフセットが除去された後に他方のオフセットを除去
すべく当該共通のエラー検出回路を動作させることとな
る。
【０１７０】（III）第３実施形態 次に、本発明に係る他の実施形態である第３実施形態に
ついて、図１４乃至図１７を用いて説明する。
【０１７１】上述の第１及び第２実施形態においては、
基準信号Ｓoscがゼロレベルとなるタイミングとエンベ
ロープ信号Ｓenv（又は反転信号Ｓr）が負から正に変わ
るタイミングとを比較することによりエラー信号Ｓerを
生成していたが、第３実施形態においては、基準信号Ｓ
oscがゼロレベルとなるタイミングとエンベロープ信号
Ｓenvがピーク値となるタイミングとを比較することに
よりエラー信号Ｓerを生成する。
【０１７２】始めに、第３実施形態の情報再生装置にお
けるエラー検出回路の構成について、図１４を用いて説
明する。なお、第３実施形態の情報再生装置では、エラ
ー検出回路以外の構成及び動作は第１実施形態の情報再
生装置Ｓ1と全く同様であるので、細部の説明は省略す
る。また、図１４において、図２に示すエラー検出回路
８と同一の部材については同一の部材番号を付して細部
の説明は省略する。
【０１７３】図１４に示すように、第３実施系形態の情
報再生装置におけるエラー検出回路８"'は、図２におい
て説明したＩ−Ｖ変換器１１、エンベロープ検出器１
２、バンドパスフィルタ１３、ゼロクロス検出器２４、
ＡＧＣ３０、温度センサ２２、Ｖ−ｆ変換器２３、ゲイ
ンコントローラ２６、加算器２７、ループフィルタ２８
及びバンド選択器３１と、ピーク検出器４５と、アンド
回路４７及び４８と、ＲＳ型のフリップフロップ回路４
９と、ローパスフィルタ４６及び５０と、減算器５１と
により構成されている。
【０１７４】次に、エラー検出回路８"'の動作につい
て、図１４乃至図１７を用いて説明する。
【０１７５】始めに、光ディスク５と光ビームＢとの間
にチルトが生じていない場合の動作について、図１４及
び図１５を用いて説明する。
【０１７６】温度センサ２２、Ｖ−ｆ変換器２３、ゲイ
ンコントローラ２６及び加算器２７は図２において説明
した動作と同様の動作を行い、偏差信号Ｓccを液晶パネ
ル制御回路９に出力する。
【０１７７】一方、ゼロクロス検出器２４は基準信号Ｓ
oscにおけるゼロクロス点を検出し、上記検出信号Ｓzr
（図１５下から五段目参照）を生成してアンド回路４７
及び４８の一方の入力端子並びにローパスフィルタ４６
に出力する。このとき、アンド回路４７に対しては検出
信号Ｓzrがそのまま入力されるが、アンド回路４８に対
しては検出信号Ｓzrの極性が反転されて入力される。
【０１７８】そして、ローパスフィルタ４６は入力され
た検出信号Ｓzrを平均化して平均化検出信号Ｓezrとし
て減算器５１に出力する。
【０１７９】次に、偏差信号Ｓccを用いて液晶パネル制
御回路９により生成された駆動信号Ｓdvにより駆動され
る液晶パネル３を通過して波面収差が補正された光ビー
ムＢの反射光を受光して得られた検出信号Ｓpは、Ｉ−
Ｖ変換器１１により対応する再生ＲＦ信号Ｓrfに変換さ
れ、エンベロープ検出器１２及び上記再生回路１０へ出
力される。
【０１８０】ここで、当該再生ＲＦ信号Ｓrfの波形につ
いては図３について説明した場合と同様の波形となる。
【０１８１】次に、この再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロー
プがエンベロープ検出器１２により検出され、更に中心
周波数２×ｆ0のバンドパスフィルタ１３を通過するこ
とによりエンベロープ信号Ｓenv（図１５上から四段目
参照）として整流器１９及びピーク検出器４５に出力さ
れる。
【０１８２】ここで、整流器１９、積分器２０、基準電
圧発生器２９及び減算器２１により構成されるＡＧＣ３
０並びにゲインコントローラ２６は、上記図２の場合と
同様の動作を行い、周囲温度の変化によらず常に一定ゲ
インの基準信号Ｓoscを生成する。
【０１８３】一方、ピーク検出器４５は、入力されてい
るエンベロープ信号Ｓenvがピーク値となるタイミング
を検出し、当該タイミングで「ＨＩＧＨ」となるピーク
信号Ｓpk（図１５上から五段目参照）を生成してアンド
回路４７及び４８の他方の入力端子にそのまま出力す
る。
【０１８４】そして、アンド回路４７はピーク信号Ｓpk
と検出信号Ｓzrの論理積を算出し、セット信号Ｓst（図
１５下から四段目参照）としてフリップフロップ回路４
９のセット端子に出力する。
【０１８５】これと並行して、アンド回路４８は検出信
号Ｓzrを反転した信号とピーク信号Ｓpkとの論理積を算
出し、リセット信号Ｓrt（図１５下から三段目参照）と
してフリップフロップ回路４９のリセット端子に出力す
る。
【０１８６】これらにより、フリップフロップ回路４８
は、セット信号Ｓstが「ＨＩＧＨ」となったときに「Ｌ
ＯＷ」から「ＨＩＧＨ」に変化すると共に、リセット信
号Ｓrtが「ＨＩＧＨ」となったときに「ＨＩＧＨ」から
「ＬＯＷ」に変化するピーク間隔信号Ｓq（図１５下か
ら二段目参照）を生成してローパスフィルタ５０に出力
する。そして、ローパスフィルタ５０は、ピーク間隔信
号Ｓqを平均化して平均化ピーク間隔信号Ｓlqとして減
算器５１に出力する。
【０１８７】ここで、上記検出信号Ｓzrとピーク間隔信
号Ｓqとを比較すると、チルトに起因する波面収差がな
いときは、上述のようにエンベロープ信号Ｓenvが遅延
基準信号Ｓoscdに同期すると共に当該遅延基準信号Ｓos
cdの２倍の周波数を有するので、その結果として、図１
５に示すように、検出信号Ｓzrとピーク間隔信号Ｓqと
は、同一の波形で位相が相互に１／４周期分だけずれた
波形を有することとなる。
【０１８８】従って、減算器５１において、検出信号Ｓ
zrを平均化した平均化検出信号Ｓezrからピーク間隔信
号Ｓqを平均化した平均化ピーク間隔信号Ｓlqを減算す
ると、その結果であるエラー信号Ｓerとしてはゼロレベ
ルの直流信号となる。
【０１８９】よって、当該エラー信号Ｓerを加算器２７
で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差信号Ｓcc
は、直流のレベルシフトを伴わない基準信号Ｓoscその
ものとなる。
【０１９０】これにより、当該偏差信号Ｓccが入力され
る液晶パネル制御回路９では、光ビームＢに対して何ら
位相差を与えないように液晶パネル３を駆動すべく上記
駆動信号Ｓdvを生成する。
【０１９１】次に、光ディスク５と光ビームＢとの間に
一の方向（以下、その方向を負の方向と称する。）のチ
ルトが生じている場合のエラー検出回路８"'の動作につ
いて、図１６を用いて説明する。
【０１９２】負の方向のチルトが発生している場合に
は、第１実施形態の場合と同様に、基準信号Ｓoscとし
てはチルトが生じていない場合に比して何ら変化するこ
となく生成されるが、この基準信号Ｓoscが偏差信号Ｓc
cに含まれて液晶パネル制御回路９に出力された結果得
られる再生ＲＦ信号Ｓrfは、図１６上から三段目に示す
ように、チルトがない場合（図１５参照）に比して波形
変形が生じる。
【０１９３】この理由は、第１実施形態の図２に示す場
合において説明した通りである。
【０１９４】そして、この再生ＲＦ信号Ｓrfの波形変形
により、エンベロープ信号Ｓenvも図１６に示すように
波形が非周期的となり、従って、それがピーク値となる
タイミングを示すピーク間隔信号Ｓqの周期も、基準信
号Ｓoscの半周期毎にずれて「ＨＩＧＨ」の期間が「Ｌ
ＯＷ」の期間より短くなる。
【０１９５】なお、このときでも、検出信号Ｓzrの波形
は、図１５に示す場合と同様である。
【０１９６】これらにより、減算器５１において平均化
検出信号Ｓezrから平均化ピーク間隔信号Ｓlqを減算し
た結果であるエラー信号Ｓerとしては正レベル（図１６
中符号ｅ1で示すレベル）の直流信号となる。
【０１９７】従って、当該エラー信号Ｓerを加算器２７
で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差信号Ｓcc
は、正側に直流のレベルシフトを伴う信号となる。
【０１９８】これにより、当該偏差信号Ｓccが入力され
る液晶パネル制御回路９では、光ビームＢに対して当該
正側の直流レベルシフトが零となる位相差を与えるよう
に液晶パネル３を駆動すべく上記駆動信号Ｓdvを生成
し、よって、負方向のチルトにより生じている波面収差
が補正されて正常な情報再生ができるようになる。
【０１９９】最後に、光ディスク５と光ビームＢとの間
に図１６で説明した方向とは反対方向（以下、この方向
を正の方向と称する。）のチルトが生じている場合のエ
ラー検出回路８"'の動作について、図１７を用いて説明
する。
【０２００】正の方向のチルトが発生している場合に
は、基準信号Ｓoscとしては上述のようにチルトが生じ
ていない場合に比して何ら変化することなく生成される
が、この基準信号Ｓoscに対応して得られる再生ＲＦ信
号Ｓrfは、図１７上から三段目に示すように、図１６に
示す場合とは逆の波形変形を生じる。この理由は上記図
５の場合において説明した通りである。
【０２０１】従って、エンベロープ信号Ｓenvも、図１
７に示すように波形が非周期的となり、それがピーク値
となるタイミングを示すピーク間隔信号Ｓqの周期も、
基準信号Ｓoscの半周期毎にずれて「ＨＩＧＨ」の期間
が「ＬＯＷ」の期間より長くなる。
【０２０２】なお、このときでも、検出信号Ｓzrの波形
は、図１５に示す場合と同様である。
【０２０３】これらにより、減算器５１において平均化
検出信号Ｓezrから平均化ピーク間隔信号Ｓlqを減算し
た結果であるエラー信号Ｓerとしては負レベル（図１７
中符号ｅ2で示すレベル）の直流信号となる。
【０２０４】従って、上記偏差信号Ｓccは、負側に直流
のレベルシフトを伴う信号となる。
【０２０５】これにより、当該偏差信号Ｓccが入力され
る液晶パネル制御回路９では、光ビームＢに対して当該
負側の直流レベルシフトが零となる位相差を与えるよう
に液晶パネル３を駆動すべく上記駆動信号Ｓdvを生成
し、よって、正方向のチルトにより生じている波面収差
が補正されて正常な情報再生ができるようになる。
【０２０６】以上説明したように、第３実施形態のエラ
ー検出回路８"'の動作によれば、積分処理又は比較を伴
う学習処理等を行うことなくチルトエラーの量と方向が
検出できるので、簡易な構成で正確且つ高速にチルトエ
ラー量と方向を検出することができる。
【０２０７】また、基準信号Ｓoscがゼロレベルに到達
するタイミングとエンベロープ信号Ｓenvがピーク値に
到達するタイミングとを比較することにより再生ＲＦ信
号Ｓrfの波形変形を検出するので、簡易な構成で正確且
つ高速に波形変形を検出してチルトエラーの量と方向を
検出することができる。
【０２０８】更に、情報再生装置のチルトサーボ制御に
おいて簡易な構成で正確且つ高速にチルトを検出するこ
とができる。
【０２０９】（IV）第４実施形態 次に、本発明に係る他の実施形態である第４実施形態に
ついて、図１８及び図１９を用いて説明する。
【０２１０】上述の第１乃至第３実施形態のエラー検出
回路においては、外乱信号としての基準信号Ｓoscの影
響を受けた再生ＲＦ信号Ｓrfをそのまま用いてエンベロ
ープ信号Ｓenvを生成していたが、第４実施形態のエラ
ー検出回路では、再生ＲＦ信号Ｓrfから基準信号Ｓosc
の混入に起因する変化のみを抽出してエンベロープ信号
Ｓenvを生成すると共に当該再生ＲＦ信号Ｓrfから基準
信号Ｓoscの影響を除去して再生回路１０に出力するよ
うに構成する。
【０２１１】図１８に示すように、第４実施形態のエラ
ー検出回路５７は、図２に示すエラー検出回路８の構成
に加えて、再生ＲＦ信号Ｓrfから基準信号Ｓoscの混入
に起因する変化のみを抽出して抽出信号Ｓrf"を生成
し、エンベロープ検出器１２に出力するハイパスフィル
タ５５と、再生ＲＦ信号Ｓrfから基準信号Ｓoscの影響
を除去して再生ＲＦ信号Ｓrf'を生成し、再生回路１０
に出力するハイパスフィルタ５６とを備えて構成され
る。その他の構成及び動作は第１実施形態のエラー検出
回路８と全く同様であるので、細部の説明は省略する。
【０２１２】このとき、ハイパスフィルタ５５のカット
オフ周波数ｆc1は、図１９（ａ）左に示すように、基準
信号Ｓoscの周波数ｆ0の２倍の周波数付近の周波数を有
する信号のみを透過し、それ以下の周波数を有する信号
を減衰させるように設定される。
【０２１３】また、ハイパスフィルタ５６のカットオフ
周波数ｆc2は、図１９（ａ）右に示すように、基準信号
Ｓoscの周波数ｆ0の２倍の周波数よりも高く設定され、
周波数２×ｆ0の信号を減衰させるように設定されてい
る。
【０２１４】そして、エンベロープ検出器１２は、ハイ
パスフィルタ５５を通過した抽出信号Ｓrf"に基づいて
上記エンベロープ信号Ｓenvを生成し、一方、再生回路
１０はハイパスフィルタ５６を通過した再生ＲＦ信号Ｓ
rf'を用いて再生信号Ｓppを出力する。
【０２１５】以上説明したように、第４実施形態のエラ
ー検出回路５７によれば、再生ＲＦ信号Ｓrfから基準信
号Ｓoscの混入に起因する変化のみを抽出してエンベロ
ープ信号Ｓenvを生成するので、より正確にチルトエラ
ーの量と方向を検出できると共に、再生ＲＦ信号Ｓrfか
ら基準信号Ｓoscの影響を除去して再生回路１０に出力
するので、再生ＲＦ信号Ｓrfの信号対雑音比が良好とな
ってより忠実に光ディスク５上の記録情報を再生するこ
とができる。
【０２１６】なお、ハイパスフィルタ５６については、
これを図１９（ｂ）に示すような減衰特性を有するバン
ドエリミネーションフィルタに代えることもできる。こ
の場合は、低周波数域の記録情報をも忠実に再生するこ
とができることとなる。
【０２１７】また、第４実施形態の各ハイパスフィルタ
を第２又は第３実施形態のエラー検出回路におけるＩ−
Ｖ変換器１１とエンベロープ検出器１２と間及びＩ−Ｖ
変換器１１と再生回路１０との間に配置しても第４実施
形態の場合と同様の効果が得られる。
【０２１８】（Ｖ）第５実施形態 次に、本発明の他の実施形態である第５実施形態につい
て、図２０を用いて説明する。
【０２１９】上述の第１実施形態では、液晶パネル３を
用いてチルトに起因する波面収差を補正することによ
り、当該チルトの再生ＲＦ信号Ｓrfへの影響を除去した
が、第５実施形態では、光ビームＢの光軸を傾斜させる
ことによりチルトそのものを除去するように構成する。
【０２２０】図２０に示すように、第５実施形態の情報
再生装置Ｓ5は、第１実施形態におけるレーザダイオー
ド１、偏向ビームスプリッタ２、対物レンズ４、光ディ
スク５、集光レンズ６、ディテクタ７、エラー検出回路
８及び再生回路１０に加えて、光ディスク５におけるチ
ルトを検出するチルトセンサ６０と、減算器６４と、加
算器６１と、チルトドライバ６２と、チルトモータ６３
とを備えて構成される。
【０２２１】また、チルトセンサ６０は、光ディスク５
の半径方向に分離された部分ディテクタ６０ａ及び６０
ｂを備えている。
【０２２２】次に、動作を説明する。
【０２２３】チルトセンサ６０は、チルト検出用の光ビ
ームＣを出射し、その光ディスク５からの反射光を部分
ディテクタ６０ａ及び６０ｂで夫々受光することによ
り、チルト信号Ｓa及びＳbを出力する。そして、減算器
６４は、チルト信号Ｓbからチルト信号Ｓaを減算するこ
とにより、チルト検出信号Ｓceを生成する。このとき、
部分ディテクタ６０ａ及び６０ｂが夫々光ディスク５の
半径方向に分離して配置されているため、夫々が受光し
た光ビームの強度差に対応するチルト検出信号Ｓceは光
ディスク５の半径方向のチルトを示すこととなる。
【０２２４】そして、当該チルト検出信号Ｓceが加算器
６１においてエラー検出回路８からの偏差信号Ｓccと加
算され、チルトエラー信号Ｓmとしてチルトドライバ６
２に出力される。
【０２２５】その後、チルトドライバ６２は、入力され
たチルトエラー信号Ｓmに基づいて、発生しているチル
トを除去するべくチルトモータ６３を駆動するための駆
動信号Ｓcdを生成する。そして、当該チルトモータ６３
が駆動信号Ｓcdにより駆動され、光ビームＢの光軸が傾
斜されてチルトそのものが除去されることとなる。
【０２２６】以上説明した第５実施形態の情報再生装置
Ｓ5の動作によれば、積分処理又は比較を伴う学習処理
等を行うことなくチルトエラーの量と方向が検出できる
ので、簡易な構成で正確且つ高速にチルトエラーの量と
方向を検出することができる。
【０２２７】また、基準信号Ｓoscがゼロレベルに到達
するタイミングとエンベロープ信号Ｓenvがゼロレベル
に到達するタイミングとを比較することにより再生ＲＦ
信号Ｓrfの波形変形を検出するので、簡易な構成で正確
且つ高速に波形変形を検出してチルトエラーの量と方向
を検出することができる。
【０２２８】更に、情報再生装置Ｓ5のチルトサーボ制
御において簡易な構成で正確且つ高速にチルトを検出す
ることができる。
【０２２９】更にまた、チルトサーボ制御機構がチルト
モータ６３を用いて光ビームＢの光軸を傾斜させること
により直接チルトそのものを除去するので、正確且つ高
速にチルトエラーを解消することができる。
【０２３０】また、第５実施形態において、チルトセン
サ６０、減算器６４及び加算器６１を用いずに、偏差信
号Ｓccをそのままチルトドライバ６２に入力しても第５
実施形態とほぼ同様の効果を得ることができる。
【０２３１】なお、上述の各実施形態では光ディスク５
から情報を再生する場合について本発明を適用したが、
これ以外に、記録可能な光ディスクに対して光ビームを
用いて情報を記録する場合に本発明を適用することもで
きる。
【０２３２】また、上述の各実施形態においては、ゼロ
クロス検出器１４及び２４は、基準信号Ｓosc又はエン
ベロープ信号Ｓenvがぞれぞれの信号のゼロレベルに到
達するタイミングを検出したが、これ以外に、基準信号
Ｓosc又はエンベロープ信号Ｓenvの夫々が直流成分を含
んでいる場合は、夫々の平均電圧レベルに到達するタイ
ミングを検出するように構成してもエンベロープ信号Ｓ
envの波形変形を検出することができる。
【０２３３】更に、ゼロクロス検出器１４は、エンベロ
ープ信号Ｓenvの平均電圧レベルに限らず、エンベロー
プ信号Ｓenvの振幅の範囲内であれば、いずれの閾値に
到達するタイミングを検出してもよい。すなわち、ゼロ
クロス検出器１４としては、エンベロープ信号Ｓenvに
波形変形が生じたときに、その波形の非周期性を検出で
きればよいのである。
【０２３４】一方、ゼロクロス検出器２４については、
基準信号Ｓoscの平均電圧レベルに限らず、基準信号Ｓo
scのピーク又はボトムのタイミングを検出してもよい。
すなわち、ゼロクロス検出器２４としては、エンベロー
プ信号Ｓenvの波形変形（非周期性）を検出するための
基準となる周期的タイミングを示す信号を検出できれば
よいのである。
【０２３５】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１に記載の
発明によれば、積分処理又は比較を伴う学習処理等を行
うことなく制御偏差が生成されるので、簡易な構成で正
確且つ高速に制御偏差を検出することができる。
【０２３６】請求項２に記載の発明によれば、請求項１
に記載の発明の効果に加えて、外乱信号が第１の閾値に
到達するタイミングと結果信号が第２の閾値に到達する
タイミングとを比較することにより波形変形を検出する
ので、簡易な構成で高速に波形変形を検出して制御偏差
を検出することができる。
【０２３７】請求項３に記載の発明によれば、請求項２
に記載の発明の効果に加えて、第１の閾値が外乱信号の
平均電位レベルであると共に、第２の閾値が結果信号の
平均電位レベルであるので、より簡易な構成で波形変形
を検出することができる。
【０２３８】請求項４に記載の発明によれば、請求項１
に記載の発明の効果に加えて、結果信号がピーク値とな
るタイミングと外乱信号が第１の閾値に到達するタイミ
ングとを比較することにより波形変形を検出するので、
簡易な構成で高速に波形変形を検出して制御偏差を検出
することができる。
【０２３９】請求項５に記載の発明によれば、請求項１
から４のいずれか一項に記載の発明の効果に加えて、制
御対象がチルト角度を制御するチルトサーボ制御手段で
あると共に、結果信号が情報に対応した反射光に基づい
て検出される再生信号であり、更に、制御偏差がチルト
角度の予め設定された正規のチルト角度からのずれであ
るので、情報再生装置のチルトサーボ制御において簡易
な構成で正確且つ高速にチルト角度のずれを検出するこ
とができる。
【０２４０】請求項６に記載の発明によれば、請求項５
に記載の発明の効果に加えて、チルトサーボ制御手段が
液晶パネルを用いて光ビームに光路差を与えることによ
りチルト角の変化に起因する収差を補正すると共に、制
御対象が液晶パネルを駆動するための駆動手段であるの
で、正確且つ高速に制御偏差を検出して駆動手段を駆動
することができる。
【０２４１】請求項７に記載の発明によれば、請求項１
から４のいずれか一項に記載の発明の効果に加えて、制
御対象が情報記録面に垂直な方向における光ビームの集
光位置を制御するフォーカスサーボ制御手段であると共
に、結果信号が情報に対応した反射光に基づいて検出さ
れる再生信号であり、更に、制御偏差が集光位置の情報
記録面からのずれであるので、情報再生装置のフォーカ
スサーボ制御において簡易な構成で正確且つ高速に集光
位置のずれを検出することができる。
【０２４２】請求項８に記載の発明によれば、請求項１
から４のいずれか一項に記載の発明の効果に加えて、制
御対象が情報記録面に平行な方向における光ビームの集
光位置を制御するトラッキングサーボ制御手段であると
共に、結果信号が情報に対応した反射光に基づいて検出
される再生信号であり、更に、制御偏差が集光位置のト
ラック位置からのずれであるので、情報再生装置のトラ
ッキングサーボ制御において簡易な構成で正確且つ高速
に集光位置のトラック位置からのずれを検出することが
できる。
【０２４３】請求項９に記載の発明によれば、請求項１
から８のいずれか一項に記載の発明の効果に加えて、制
御手段が検出された制御偏差を消去するように制御対象
を制御するので、簡易な構成で高速に制御することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１実施形態の情報再生装置の概要構成を示す
ブロック図である。
【図２】第１実施形態のエラー検出回路の概要構成を示
すブロック図である。
【図３】第１実施形態においてチルトエラーがないとき
の各部の波形を示すタイミングチャートである。
【図４】基準信号周波数と再生ＲＦ信号の位相差との関
係を示す図であり、（ａ）は１次遅れ系の制御機構の場
合を示す図であり、（ｂ）は２次遅れ系の制御機構の場
合を示す図である。
【図５】第１実施形態において負の方向のチルトエラー
があるときの各部の波形を示すタイミングチャートであ
る。
【図６】再生ＲＦ信号の振幅と基準信号の振幅との関係
を示す図である。
【図７】第１実施形態において正の方向のチルトエラー
があるときの各部の波形を示すタイミングチャートであ
る。
【図８】第２実施形態の情報再生装置の概要構成を示す
ブロック図（Ｉ）である。
【図９】第２実施形態の情報再生装置の概要構成を示す
ブロック図（II）である。
【図１０】第２実施形態のエラー検出回路の概要構成を
示すブロック図である。
【図１１】第２実施形態においてチルトエラーがないと
きの各部の波形を示すタイミングチャートである。
【図１２】第２実施形態においてトラッキング位置が内
側にずれているときの各部の波形を示すタイミングチャ
ートである。
【図１３】第２実施形態においてトラッキング位置が外
側にずれているときの各部の波形を示すタイミングチャ
ートである。
【図１４】第３実施形態のエラー検出回路の概要構成を
示すブロック図である。
【図１５】第３実施形態においてチルトエラーがないと
きの各部の波形を示すタイミングチャートである。
【図１６】第３実施形態において負の方向のチルトエラ
ーがあるときの各部の波形を示すタイミングチャートで
ある。
【図１７】第３実施形態において正の方向のチルトエラ
ーがあるときの各部の波形を示すタイミングチャートで
ある。
【図１８】第４実施形態のエラー検出回路の概要構成を
示すブロック図である。
【図１９】第４実施形態における各フィルタの周波数特
性を示す図であり、（ａ）は第４実施形態のエラー検出
回路における各ハイパスフィルタの周波数特性を示す図
であり、（ｂ）は第４実施形態のエラー検出回路におけ
るバンドエリミネーションフィルタの周波数特性を示す
図である。
【図２０】第５実施形態の情報再生装置の概要構成を示
すブロック図である。
【符号の説明】
１…レーザダイオード ２…偏向ビームスプリッタ ２’…回折格子 ３…液晶パネル ４…対物レンズ ５…光ディスク ６…集光レンズ ６’…円筒レンズ ７、７’…ディテクタ ７ａ、７ｂ…副ディテクタ ７ｃ…主ディテクタ ８、８’８”８"'、５７…エラー検出回路 ９…液晶パネル制御回路 １０…再生回路 １１…Ｉ−Ｖ変換器 １２…エンベロープ検出器 １３…バンドパスフィルタ １４、２４…ゼロクロス検出器 １５…片エッジ検出器 １６…位相比較器 １７、４０…反転器 １８…スイッチ １９…整流器 ２０…積分器 ２１、５１、６４…減算器 ２２…温度センサ ２３…Ｖ−ｆ変換器 ２５…両エッジ検出器 ２６…ゲインコントローラ ２７、３４、３８、６１…加算器 ２８…ループフィルタ ２９…基準電圧発生器 ３０…ＡＧＣ ３１…トラッキングエラー検出回路 ３２、３６…イコライザ ３３、３７…ドライバ ３５…フォーカスエラー検出回路 ４１…インバータ ４５…ピーク検出器 ４６、５０…ローパスフィルタ ４７、４８…アンド回路 ４９…フリップフロップ回路 ５５、５６…ハイパスフィルタ ６０…チルトセンサ ６０ａ、６０ｂ…部分ディテクタ ６２…チルトドライバ ６３…チルトモータ Ｓrf、Ｓrf'…再生ＲＦ信号 Ｓrf"…抽出信号 Ｓpp…再生信号 Ｓp、Ｓt、Ｓzr…検出信号 Ｓzrr…反転検出信号 Ｓcc、Ｓcc1、Ｓcc2…偏差信号 Ｓdv、Ｓdt、Ｓdf、Ｓcd…駆動信号 Ｓosc…基準信号 Ｓbeg…両エッジ信号 Ｓenv…エンベロープ信号 Ｓseg…片エッジ信号 Ｓtp…位相信号 Ｓrev、Ｓr…反転信号 Ｓer…エラー信号 Ｓder…平均化エラー信号 Ｓc…制御信号 Ｓte…トラッキングエラー信号 Ｓt…補正トラッキングエラー信号 Ｓtc…トラッキング偏差信号 Ｓta、Ｓtb…トラッキング信号 Ｓfe…フォーカスエラー信号 Ｓf…補正フォーカスエラー信号 Ｓfc…フォーカス偏差信号 Ｓff…フォーカスエラー検出信号 Ｓpk…ピーク信号 Ｓst…セット信号 Ｓrt…リセット信号 Ｓq…ピーク間隔信号 Ｓlq…平均化ピーク間隔信号 Ｓezr…平均化検出信号 Ｓm…チルトエラー信号 Ｓa、Ｓb…チルト信号 Ｓce…チルト検出信号 Ｂ、Ｃ…光ビーム ＢＭ…主ビーム Ｂ1、Ｂ2…副ビーム Ｓ1、Ｓ2、Ｓ5…情報再生装置

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 制御すべき制御対象に対して予め設定さ
    れた一定周波数の外乱信号を印加する印加手段と、 前記外乱信号を印加した結果、前記制御対象から制御結
    果として出力される結果信号の波形と前記印加された外
    乱信号の波形とに基づいて、前記結果信号に含まれる波
    形変形であって、前記制御対象の制御における制御偏差
    に起因する波形変形を検出する検出手段と、 前記検出された波形変形に基づいて前記制御偏差を生成
    する生成手段と、 を備えることを特徴とする制御偏差検出装置。
  2. 【請求項２】 請求項１に記載の制御偏差検出装置にお
    いて、 前記検出手段は、前記外乱信号が予め設定された第１の
    閾値に到達するタイミングと前記結果信号が予め設定さ
    れた第２の閾値に到達するタイミングとを比較すること
    により前記波形変形を検出することを特徴とする制御偏
    差検出装置。
  3. 【請求項３】 請求項２に記載の制御偏差検出装置にお
    いて、 前記第１の閾値は前記外乱信号の平均電位レベルである
    と共に、前記第２の閾値は前記結果信号の平均電位レベ
    ルであることを特徴とする制御偏差検出装置。
  4. 【請求項４】 請求項１に記載の制御偏差検出装置にお
    いて、 前記検出手段は、前記結果信号がピーク値となるタイミ
    ングと前記外乱信号が予め設定された第１の閾値に到達
    するタイミングとを比較することにより前記波形変形を
    検出することを特徴とする制御偏差検出装置。
  5. 【請求項５】 請求項１から４のいずれか一項に記載の
    制御偏差検出装置において、 前記制御対象は、光ビームを用いた情報再生装置におい
    て、当該光ビームの光軸と再生すべき情報が記録されて
    いる情報記録媒体の当該情報が記録された情報記録面と
    のなす角度であるチルト角度を制御するチルトサーボ制
    御手段であると共に、 前記結果信号は、前記光ビームの前記情報記録面からの
    前記情報に対応した反射光に基づいて検出される再生信
    号であり、 更に、前記制御偏差は、前記チルト角度の予め設定され
    た正規のチルト角度からのずれであることを特徴とする
    制御偏差検出装置。
  6. 【請求項６】 請求項５に記載の制御偏差検出装置にお
    いて、 前記チルトサーボ制御手段は、液晶パネルを用いて前記
    光ビームに光路差を与えることにより前記チルト角の変
    化に起因する収差を補正すると共に、 前記制御対象は、前記液晶パネルを駆動するための駆動
    手段であることを特徴とする制御偏差検出装置。
  7. 【請求項７】 請求項１から４のいずれか一項に記載の
    制御偏差検出装置において、 前記制御対象は、光ビームを用いた情報再生装置におい
    て、再生すべき情報が記録されている情報記録媒体の当
    該情報が記録された情報記録面に垂直な方向における前
    記光ビームの集光位置を制御するフォーカスサーボ制御
    手段であると共に、 前記結果信号は、前記光ビームの前記情報記録面からの
    前記情報に対応した反射光に基づいて検出される再生信
    号であり、 更に、前記制御偏差は、前記集光位置の前記情報記録面
    からのずれであることを特徴とする制御偏差検出装置。
  8. 【請求項８】 請求項１から４のいずれか一項に記載の
    制御偏差検出装置において、 前記制御対象は、光ビームを用いた情報再生装置におい
    て、再生すべき情報が記録されている情報記録媒体の当
    該情報が記録された情報記録面に平行な方向における前
    記光ビームの集光位置を制御するトラッキングサーボ制
    御手段であると共に、 前記結果信号は、前記光ビームの前記情報記録面からの
    前記情報に対応した反射光に基づいて検出される再生信
    号であり、 更に、前記制御偏差は、前記集光位置の前記情報記録面
    上に前記情報により形成されたトラック位置からのずれ
    であることを特徴とする制御偏差検出装置。
  9. 【請求項９】 請求項１から８のいずれか一項に記載の
    制御偏差検出装置と、 前記制御偏差を消去するように前記制御対象を制御する
    制御手段と、 を備えることを特徴とする制御装置。
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