JPH11171682A - 単結晶引上装置のカーボンサセプタ - Google Patents
単結晶引上装置のカーボンサセプタInfo
- Publication number
- JPH11171682A JPH11171682A JP33611197A JP33611197A JPH11171682A JP H11171682 A JPH11171682 A JP H11171682A JP 33611197 A JP33611197 A JP 33611197A JP 33611197 A JP33611197 A JP 33611197A JP H11171682 A JPH11171682 A JP H11171682A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carbon susceptor
- carbon
- susceptor
- single crystal
- divided
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 103
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 103
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims description 29
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims abstract description 19
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 19
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 claims abstract description 7
- 150000001721 carbon Chemical class 0.000 abstract 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BGPVFRJUHWVFKM-UHFFFAOYSA-N N1=C2C=CC=CC2=[N+]([O-])C1(CC1)CCC21N=C1C=CC=CC1=[N+]2[O-] Chemical compound N1=C2C=CC=CC2=[N+]([O-])C1(CC1)CCC21N=C1C=CC=CC1=[N+]2[O-] BGPVFRJUHWVFKM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
スを交換部材と選択的に反応させることにより、カーボ
ンサセプタの減肉を効果的に防止して長寿命化を図る。 【解決手段】 半導体融液を貯留する石英ルツボを収容
して支持する周方向に分割されたカーボンサセプタの内
周に、その分割線に沿って炭素材料からなる交換部材を
着脱可能に嵌め込む。この交換部材は、カーボンサセプ
タの分割線と重なるように分割され、SiOガスと交換
部材との珪化反応により発生したCOガスが、カーボン
サセプタの分割部から外へと放出されるようになってい
る。これにより、交換部材の分割部周辺ではCOガス濃
度が上昇せず、SiOガスと交換部材との珪化反応が選
択的に行われることになる。
Description
留された半導体融液より半導体単結晶を引き上げる単結
晶引上装置に係わり、特に、半導体融液を貯留するため
の石英ルツボを収容して支持するカーボンサセプタに関
する。
(GaAs)等の半導体単結晶を製造する方法の一つと
して、チョクラルスキー法(以下、CZ法と称する)が
知られている。このCZ法は、大口径、高純度の単結晶
が無転位あるいは格子欠陥の極めて少ない状態で容易に
得ることができる等の特徴を有することから、様々な半
導体単結晶の製造に用いられている方法である。
結晶引上装置の一例を示している。この単結晶引上装置
1は、中空の気密容器であるチャンバー2内に石英ルツ
ボ3、ヒーター4がそれぞれ配置されるとともに、前記
チャンバ2の外部にマグネット5が配置されている。
防止するため、シャフト6によってその軸線回りに回転
可能に支持されるカーボンサセプタ7内に収容されてい
る。また、このカーボンサセプタ7は、冷却時等におけ
る割れを防止するため、周方向に分割されて石英ルツボ
3の外周に組み付けられている。
体融液8に上方から回転可能に吊り下ろされた種結晶9
を浸漬してこれを引き上げることにより半導体単結晶1
2を成長させるようになっている。
晶の引き上げ操作中、石英ルツボ3から発生したSiO
ガスとカーボンサセプタ7との間では、 SiO+2C→SiC+CO↑ の珪化反応が進み、カーボンサセプタ7からC(炭素)
がCOガスとなって離脱して減肉が生じている。
のように説明することができる。すなわち、ヒーター4
による加熱により石英ルツボ3が変形する温度に達する
と、半導体融液8の重みで石英ルツボ3がカーボンサセ
プタ7に密着し、前記COガスの通り道がカーボンサセ
プタ7の分割部に集中するようになる。
部を通過してカーボンサセプタ7の外に移動できるた
め、COガス濃度が上昇せず、絶えず前記珪化反応が進
行する。一方、当該分割部以外の部位では、発生したC
Oガスが移動し難く滞留しやすいため、前記珪化反応が
進み難くなっている。
は、COガス濃度が上昇せず、前記珪化反応が右辺側に
進む傾向があるため、減肉が他の部位に比べて進みやす
いと考えられる。
ほどではないが減肉が進んでおり、この湾曲部7Aが、
単結晶成長軸方向の温度分布において高温領域にあるこ
とから、前記珪化反応を促進させる条件としては温度も
関係していると考えられる。
の要求に伴い、石英ルツボ3が大口径化しているため、
原料溶解時あるいは結晶成長時のヒーター4の温度が上
昇し、これにより前記珪化反応が促進されてカーボンサ
セプタ7の寿命が短くなっているという問題が生じてい
る。
6(a)〜(c)に示すように、前記湾曲部7Aの減肉
が速められ、カーボンサセプタ7を新品のものに交換す
る交換頻度が増加してコストの上昇を来たす。このた
め、従来からカーボンサセプタ7の寿命を延ばすべく、
様々な改良が試みられている。
に示すように、前記ヒーター4からの熱を多く受けて前
記珪化反応が促進されるカーボンサセプタ7の下部内面
にカーボンリング11を嵌め込み、肉厚の減少したカー
ボンリング11のみを交換することにより、カーボンサ
セプタ7の長寿命化を図るといった技術が開示されてい
る。
タ7の分割線8a(図7参照)に沿ってカーボン片12
を嵌め込むことにより、分割部13での減肉を抑制する
とともに、肉厚の減少したカーボン片12を交換可能と
することにより、カーボンサセプタ7の長寿命化を図る
といった技術も考えられる。
ても、前記珪化反応により発生したCOガスの通り道
が、カーボンサセプタ7とカーボンリング11との当接
部14(図7参照)およびカーボンサセプタ7とカーボ
ン片12との当接部15(図8参照)に集中することに
なるから減肉を効果的に抑制できず、カーボンサセプタ
7の長寿命化には限界があった。
で、石英ルツボから発生するSiOガスを交換部材と選
択的に反応させることにより、カーボンサセプタの減肉
を効果的に防止することのできる単結晶引上装置のカー
ボンサセプタの提供を目的とする。
る目的を達成するため、本発明の単結晶引上装置のカー
ボンサセプタは、チャンバ内に、半導体融液を貯留する
ための石英ルツボと、該石英ルツボを収容して支持する
ための周方向に分割されたカーボンサセプタとが設けら
れる単結晶引上装置において、前記カーボンサセプタの
内周に、その分割線に沿って炭素材料からなる交換部材
が着脱可能に嵌め込まれ、前記交換部材は、前記カーボ
ンサセプタの分割線と重なるように分割されていること
を特徴とするものである。
サセプタの分割線と重なるように分割されているため、
該交換部材と石英ルツボからのSiOガスとの珪化反応
により発生したCOガスは、カーボンサセプタの分割部
から外へと放出される。
ス濃度が上昇せず、SiOガスとの珪化反応が促進され
る。これにより、SiOガスは交換部材の分割部を通過
する間に消費され、カーボンサセプタの分割部を流通し
ないことになる。
COガス濃度が上昇せず、しかもヒーターに面して交換
部材よりも高温状態にあるためにSiOガスとの珪化反
応が促進されやすくなっているにもかかわらず、該珪化
反応が抑制される。
ンサセプタは、請求項1記載の単結晶引上装置のカーボ
ンサセプタにおいて、前記交換部材の内周に、その分割
線に沿って切欠が形成されていることを特徴とするもの
である。
ガスによる交換部材との珪化反応は、該交換部材に形成
された切欠において促進されることになる。これによ
り、SiOガスと交換部材との珪化反応をより選択的に
行わせることができ、SiOガスとカーボンサセプタと
の珪化反応を効果的に抑制することができる。
ンサセプタは、請求項1または請求項2のいずれかに記
載の単結晶引上装置のカーボンサセプタにおいて、前記
カーボンサセプタの内周に、前記交換部材と前記カーボ
ンサセプタとの当接線を覆う炭素材料からなる遮蔽フィ
ルムが設けられていることを特徴とするものである。
ンサセプタと交換部材との当接部におけるSiOガスに
よる珪化反応を防止することができるので、該当接部周
辺におけるSiOガスとカーボンサセプタとの珪化反応
を効果的に抑制することができる。
ーボンサセプタと交換部材との当接部に直接接触するこ
とがなくなるため、交換部材における分割部での珪化反
応がより選択的に行われることになり、SiOガスとカ
ーボンサセプタとの珪化反応をより一層効果的に抑制す
ることができる。
実施形態について説明する。図1は、本発明の第一の実
施形態に係るカーボンサセプタの平面図、図2は、図1
のA−A線断面図であり、これらの図中、符号21はカ
ーボンサセプタ、22は交換部材である。
に、周方向に三分割された側面部21a,21b,21
cから構成され、これらが組み立てられて石英ルツボ
(図示略)を収容するようになっている。
てられた側面部21a,21b,21cが互いに当接し
て形成される分割線に沿って交換部材22を収納するた
めの溝23が設けられている。
21a,21b,21cにおける直線部21Aおよび湾
曲部21Bに対応する溝23に嵌め込み可能なように板
状部22aと湾曲部22bとから構成されている。
a,21b,21c同士が当接して形成される分割線と
重なるように、自身の長さ方向に分割されており、交換
部材22の分割線24と側面部21a,21b,21c
の分割線とが同一平面内に配されるようになっている。
ツボから発生したSiOガスは、カーボンサセプタ21
の分割線と重なるように分割線24を境界として分割さ
れた交換部材22と珪化反応を起こし、該珪化反応によ
り発生したCOガスは、図1および図2における矢印G
で示すように、カーボンサセプタ21の外へと放出され
る。
は、COガス濃度が上昇せず、SiOガスと当該交換部
材22との珪化反応が促進される。これにより、SiO
ガスは交換部材22の分割部を通過する間に消費され、
カーボンサセプタ21の分割部を流通しないことにな
る。
は、COガス濃度が上昇せず、しかもヒーターに面して
交換部材22よりも高温状態にあるために珪化反応が促
進されやすくなっているにもかかわらず、SiOガスと
の珪化反応が抑制され、カーボンサセプタ21自身の肉
厚の減少を有効に防止することができる。
珪化反応により肉厚が減少した交換部材22のみを交換
することで、カーボンサセプタ21の寿命を延ばして交
換頻度を少なくすることができるので、カーボンサセプ
タ21に係る総合的なコストを低く抑えることができ
る。
実施形態について説明する。図3は、本実施形態に係る
カーボンサセプタの要部を示す斜視図であり、同図中、
符号31はカーボンサセプタ、32は交換部材である。
は、側面部31a,31bが組み立てられて形成される
分割線に重なるように分割された交換部材32が該分割
線に沿って嵌め込まれている点で前記第一の実施形態に
係るカーボンサセプタ21と共通するが、交換部材32
の内周に、その分割線に沿って断面くさび状の切欠33
が設けられている点が異なっている。
よる交換部材32との珪化反応は、該交換部材32に形
成された切欠33において促進され、該交換部材32の
分割部34での珪化反応がより選択的に行われることに
なる。
スとの珪化反応により肉厚の減少した交換部材32のみ
を交換することで、カーボンサセプタ31の寿命を延ば
して交換頻度を少なくすることができるので、カーボン
サセプタ31に係る総合的なコストを低く抑えることが
できる。
実施形態について説明する。図4は、本実施形態に係る
カーボンサセプタの要部を示す斜視図であり、同図中、
符号41は、カーボンサセプタ、42は交換部材であ
る。
は、側面部41a,41bが組み立てられて形成される
分割線に重なるように分割された交換部材42が該分割
線に沿って嵌め込まれている点で前記第一の実施形態に
係るカーボンサセプタ21と共通するが、カーボンサセ
プタ41の内周に、交換部材42とカーボンサセプタ4
1との当接線43を覆う炭素材料からなる遮蔽フィルム
44が設けられている点が異なっている。
プタ41と交換部材42との当接部45におけるSiO
ガスによる珪化反応を防止することができるので、当該
当接部45の周辺におけるSiOガスとカーボンサセプ
タ41との珪化反応を効果的に抑制することができる。
が当接部45に直接接触することがなくなるため、交換
部材42との珪化反応がより選択的に行われることにな
り、SiOガスとカーボンサセプタ41との珪化反応を
より一層効果的に抑制することができる。
スとの珪化反応により肉厚の減少した交換部材42のみ
を交換することで、カーボンサセプタ41の寿命を延ば
して交換頻度を少なくすることができるので、カーボン
サセプタ41に係る総合的なコストを低く抑えることが
できる。
当接線43の上部を覆っていない状態を示しているが、
当該遮蔽フィルム44を、当接線43全てを覆うように
設けても構わない。
によれば、次のような効果を奏することができる。 (a)請求項1記載の単結晶引上装置のカーボンサセプ
タによれば、交換部材がカーボンサセプタの分割線と重
なるように分割されているため、SiOガスとカーボン
サセプタとの珪化反応を抑制し、SiOガスによる珪化
反応を交換部材と選択的に行わせることができる。
厚の減少した交換部材のみを交換するだけで、カーボン
サセプタの交換頻度を少なくでき、総合的なコストを低
く抑えることができる。
ーボンサセプタによれば、SiOガスによる交換部材と
の珪化反応が切欠において選択的に行われることにな
る。これにより、カーボンサセプタの寿命のさらなる延
長を図ることができ、総合的なコストをより低く抑える
ことができる。
ーボンサセプタによれば、カーボンサセプタと交換部材
との当接部におけるSiOガスによる珪化反応を防止す
ることができるので、該当接部におけるSiOガスとカ
ーボンサセプタとの珪化反応を効果的に防止することが
できる。
タと交換部材との当接部がSiOガスに直接接触するこ
とがなくなるため、交換部材における分割部での珪化反
応がより選択的に行われることになり、SiOガスとカ
ーボンサセプタとの珪化反応をより一層効果的に抑制す
ることができる。よって、カーボンサセプタの寿命を飛
躍的に延長することができ、総合的なコストをより一層
低く抑えることができる。
プタの平面図である。
プタの要部を示す斜視図である。
プタの要部を示す斜視図である。
面図である。
た状態を示す斜視図、(b)は(a)のA−A線断面
図、(c)は(a)のB−B線断面図である。
す斜視図である。
す斜視図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 チャンバ内に、半導体融液を貯留するた
めの石英ルツボと、該石英ルツボを収容して支持するた
めの周方向に分割されたカーボンサセプタとが設けられ
る単結晶引上装置において、 前記カーボンサセプタの内周に、その分割線に沿って炭
素材料からなる交換部材が着脱可能に嵌め込まれ、 前記交換部材は、前記カーボンサセプタの分割線と重な
るように分割されていることを特徴とする単結晶引上装
置のカーボンサセプタ。 - 【請求項2】 前記交換部材の内周に、その分割線に沿
って切欠が形成されていることを特徴とする請求項1記
載の単結晶引上装置のカーボンサセプタ。 - 【請求項3】 前記カーボンサセプタの内周に、前記交
換部材と前記カーボンサセプタとの当接線を覆う炭素材
料からなる遮蔽フィルムが設けられていることを特徴と
する請求項1または請求項2のいずれかに記載の単結晶
引上装置のカーボンサセプタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33611197A JP3551736B2 (ja) | 1997-12-05 | 1997-12-05 | 単結晶引上装置のカーボンサセプタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33611197A JP3551736B2 (ja) | 1997-12-05 | 1997-12-05 | 単結晶引上装置のカーボンサセプタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11171682A true JPH11171682A (ja) | 1999-06-29 |
| JP3551736B2 JP3551736B2 (ja) | 2004-08-11 |
Family
ID=18295813
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33611197A Expired - Fee Related JP3551736B2 (ja) | 1997-12-05 | 1997-12-05 | 単結晶引上装置のカーボンサセプタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3551736B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2804131A1 (fr) * | 2000-01-20 | 2001-07-27 | Lorraine Carbone | Porte-creuset pour le tirage de monocristaux |
| FR2804132A1 (fr) * | 2000-01-20 | 2001-07-27 | Lorraine Carbone | Porte-creuset pour le tirage de monocristaux |
| KR100841996B1 (ko) | 2006-12-18 | 2008-06-27 | 주식회사 실트론 | 실리콘 단결정 잉곳 제조 장치 |
| JP2012066969A (ja) * | 2010-09-24 | 2012-04-05 | Heraeus Shin-Etsu America Inc | るつぼとサスセプタとの間のガスを排気するための方法及び装置 |
-
1997
- 1997-12-05 JP JP33611197A patent/JP3551736B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2804131A1 (fr) * | 2000-01-20 | 2001-07-27 | Lorraine Carbone | Porte-creuset pour le tirage de monocristaux |
| FR2804132A1 (fr) * | 2000-01-20 | 2001-07-27 | Lorraine Carbone | Porte-creuset pour le tirage de monocristaux |
| US6334898B1 (en) | 2000-01-20 | 2002-01-01 | Le Carbone Lorraine | Crucible holder for pulling monocrystals |
| WO2001053572A3 (fr) * | 2000-01-20 | 2002-03-07 | Lorraine Carbone | Porte-creuset pour le tirage de monocristaux |
| KR100841996B1 (ko) | 2006-12-18 | 2008-06-27 | 주식회사 실트론 | 실리콘 단결정 잉곳 제조 장치 |
| JP2012066969A (ja) * | 2010-09-24 | 2012-04-05 | Heraeus Shin-Etsu America Inc | るつぼとサスセプタとの間のガスを排気するための方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3551736B2 (ja) | 2004-08-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3944879B2 (ja) | 単結晶インゴットの製造装置 | |
| JP4195738B2 (ja) | 単結晶製造装置 | |
| JP7440660B2 (ja) | 気相成長装置 | |
| JP2005056984A (ja) | 気相成長装置及び気相成長方法 | |
| TWI518215B (zh) | A single crystal pulling device and a low thermal conductivity member for a single crystal pulling device | |
| JPH11171682A (ja) | 単結晶引上装置のカーボンサセプタ | |
| JPH10158089A (ja) | 単結晶引上装置のルツボ構造 | |
| US12071704B2 (en) | Apparatus for manufacturing a single crystal by the Czochralski method comprising a cooling cylinder with an auxiliary cooling cylinder fitted inside the cooling cylinder | |
| JP2009001489A (ja) | 単結晶の製造装置及び製造方法 | |
| JP2000169285A (ja) | 融液収容ルツボ | |
| JPH10245297A (ja) | 単結晶引上装置の整流筒及びその装着用治具 | |
| JPH11292685A (ja) | シリコンナイトライド被覆により単結晶シリコン成長用のグラファイトサセプタの寿命を延長するための装置および方法 | |
| JP3799865B2 (ja) | 単結晶引上装置用黒鉛ルツボおよび単結晶引上装置 | |
| JP3640940B2 (ja) | 半導体単結晶製造装置 | |
| KR100906281B1 (ko) | 실리콘 단결정 잉곳 성장장치의 열실드 구조물 및 이를 이용한 실리콘 단결정 잉곳 성장장치 | |
| JP2018035003A (ja) | 単結晶引き上げ装置および単結晶の製造方法 | |
| JPH07223894A (ja) | 半導体単結晶製造装置 | |
| JPH0725694A (ja) | 半導体単結晶育成装置の黒鉛るつぼ | |
| KR102731089B1 (ko) | 도가니 및 이를 포함하는 실리콘 단결정 잉곳의 성장 장치 | |
| JPH05117074A (ja) | 半導体単結晶製造方法および製造装置 | |
| JPH01100087A (ja) | 単結晶引上装置 | |
| CN117552081A (zh) | 石墨坩埚、坩埚托盘和单晶炉 | |
| JPH0614475Y2 (ja) | 半導体製造装置 | |
| JP2004345931A (ja) | 熱遮蔽部材およびこれを用いた単結晶引上げ装置 | |
| KR20030052467A (ko) | 실리콘 잉곳 성장용 흑연 도가니 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040301 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040406 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040419 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090514 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090514 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100514 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100514 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110514 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120514 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130514 Year of fee payment: 9 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |