JPH1118012A5 - - Google Patents

Description

また、第３の発明に係る画素欠陥補正装置は、固体撮像素子から出力される５つの連続する画素信号ｘ_j-2 ，ｘ_j-1 ，ｘ_j ，ｘ_j+1 ，ｘ_j+2 のうち、少なくとも３つの画素信号ｘ_j-2 ，ｘ_j-1 ，ｘ_j を用いて前記画素信号ｘ_j が欠陥信号であるかどうかを評価すると共に、前記画素信号ｘ_j の第１の予測画素信号ｘ^* _jを算出する第１の欠陥判定手段と、少なくとも３つの画素信号ｘ_j ，ｘ_j+1 ，ｘ_j+2 を用いて前記画素信号ｘ_j が欠陥信号であるかどうかを評価すると共に、前記画素信号ｘ_j の第２の予測画素信号ｘ^*’ _j を算出する第２の欠陥判定手段と、前記第１および第２の欠陥判定手段の出力から前記画素信号ｘ_j が欠陥信号であると判定された場合に、前記第１および第２の予測画素信号ｘ^* _jおよびｘ^*’ _j に基づいて補正画素信号ｘ^c _jを算出し、前記画素信号ｘ_j をこの補正画素信号ｘ^c _jに置き換えて補正する補正手段とを具備する。
また、第４の発明に係る画素欠陥補正装置は、第３の発明に係る画素欠陥補正装置において、更に所定のパラメータを記録する記録手段を有し、かつ前記第１の欠陥判定手段は、注目画素信号ｘ _j の近傍画素信号による第１の線形予測画素信号ｘ ^* _j と実測信号ｘ _j との差を計算する第１の差信号算出手段と、前記パラメータと前記第１の差信号算出手段の算出結果との大小関係を判定する第１の比較手段とを有し、前記第２の欠陥判定手段は、注目画素信号ｘ _j の近傍画素信号による第２の線形予測画素信号ｘ ^*’ _j と実測信号ｘ _j との差を算出する第２の差信号算出手段と、前記パラメータと前記第２の差信号算出手段の算出結果との大小関係を判定する第２の比較手段とを有する。

また、第２の発明に係る画素欠陥補正装置においては、前記第１および第２の予測手段が予測画素信号の計算を行う場合に、線形予測を用いる。
また、第３の発明に係る画素欠陥補正装置においては、まず、第１の欠陥判定手段によって、固体撮像素子から出力される５つの連続する画素信号ｘ_j-2 ，ｘ_j-1 ，ｘ_j ，ｘ_j+1 ，ｘ_j+2 のうち、少なくとも３つの画素信号ｘ_j-2 ，ｘ_j-1 ，ｘ_j を用いて前記画素信号ｘ_j が欠陥信号であるかどうかを評価すると共に、前記画素信号ｘ_j の第１の予測画素信号ｘ^* _jを算出する。次に、第２の欠陥判定手段によって、少なくとも３つの画素信号ｘ_j ，ｘ_j+1 ，ｘ_j+2 を用いて前記画素信号ｘ_j が欠陥信号であるかどうかを評価すると共に、前記画素信号ｘ_j の第２の予測画素信号ｘ^*’ _j を算出する。そして、前記第１および第２の欠陥判定手段の出力から前記画素信号ｘ_j が欠陥信号であると判定された場合に、補正手段によって前記第１および第２の予測画素信号ｘ^* _jおよびｘ^*’ _j に基づいて補正画素信号ｘ^c _jを算出し、前記画素信号ｘ_j をこの補正画素信号ｘ^c _jに置き換えて補正する。
また、第４の発明に係る画素欠陥補正装置によれば、第３の発明に係る画素欠陥補正装置において、更に所定のパラメータを記録手段により記録し、かつ前記第１の欠陥判定手段は、第１の差信号算出手段を用いて注目画素信号ｘ _j の近傍画素信号による第１の線形予測画素信号ｘ ^* _j と実測信号ｘ _j との差を計算するとともに、第１の比較手段を用いて前記パラメータと前記第１の差信号算出手段の算出結果との大小関係を判定し、前記第２の欠陥判定手段は、第２の差信号算出手段を用いて注目画素信号ｘ _j の近傍画素信号による第２の線形予測画素信号ｘ ^*’ _j と実測信号ｘ _j との差を算出するとともに、第２の比較手段を用いて前記パラメータと前記第２の差信号算出手段の算出結果との大小関係を判定する。

Claims (4)

1. 固体撮像素子から出力される４つの連続する画素信号ｘ_j-2 ，ｘ_j-1 ，ｘ_j ，ｘ_j+1 のうち、前記画素信号ｘ_j-2 およびｘ_j-1 に基づいて予測される第１の予測画素信号ｘ^* _jを算出する第１の予測手段と、
   前記画素信号ｘ_j と前記第１の予測画素信号ｘ^* _jとの差異を評価する第１の評価手段と、
   前記第１の予測手段における算出値を基に第２の予測画素信号ｘ^* _j+1を算出する第２の予測手段と、
   前記画素信号ｘ_j+1 と前記第２の予測画素信号ｘ^* _j+1との差異を評価する第２の評価手段と、
   前記第１の評価手段において前記画素信号ｘ_j と前記第１の予測画素信号ｘ^* _jとの差異が大きいと判定され、かつ前記第２の評価手段において前記画素信号ｘ_j+1 と前記第２の予測画素信号ｘ^* _j+1との差異が小さいと判定された場合に、前記画素信号ｘ_j を前記第１の予測画素信号ｘ^* _jに置き換えて補正する補正手段と、
   を具備することを特徴とする画素欠陥補正装置。
2. 前記第１および第２の予測手段は、線形予測に基づいて予測画素信号の計算を行うことを特徴とする請求項１記載の画素欠陥補正装置。
3. 固体撮像素子から出力される５つの連続する画素信号ｘ_j-2 ，ｘ_j-1 ，ｘ_j ，ｘ_j+1 ，ｘ_j+2 のうち、少なくとも３つの画素信号ｘ_j-2 ，ｘ_j-1 ，ｘ_j を用いて前記画素信号ｘ_j が欠陥信号であるかどうかを評価すると共に、前記画素信号ｘ_j の第１の予測画素信号ｘ^* _jを算出する第１の欠陥判定手段と、少なくとも３つの画素信号ｘ_j ，ｘ_j+1 ，ｘ_j+2 を用いて前記画素信号ｘ_j が欠陥信号であるかどうかを評価すると共に、前記画素信号ｘ_j の第２の予測画素信号ｘ^{* ’} _j を算出する第２の欠陥判定手段と、
   前記第１および第２の欠陥判定手段の出力から前記画素信号ｘ_j が欠陥信号であると判定された場合に、前記第１および第２の予測画素信号ｘ^* _jおよびｘ^{* ’} _j に基づいて補正画素信号ｘ^c _jを算出し、前記画素信号ｘ_j をこの補正画素信号ｘ^c _jに置き換えて補正する補正手段と、
   を具備することを特徴とする画素欠陥補正装置。
4. 更に所定のパラメータを記録する記録手段を有し、かつ前記第１の欠陥判定手段は、
   注目画素信号ｘ _j の近傍画素信号による第１の線形予測画素信号ｘ ^* _j と実測信号ｘ _j との差を計算する第１の差信号算出手段と、前記パラメータと前記第１の差信号算出手段の算出結果との大小関係を判定する第１の比較手段とを有し、
   前記第２の欠陥判定手段は、
   注目画素信号ｘ _j の近傍画素信号による第２の線形予測画素信号ｘ ^{* ’} _j と実測信号ｘ _j との差を算出する第２の差信号算出手段と、前記パラメータと前記第２の差信号算出手段の算出結果との大小関係を判定する第２の比較手段とを有する
   ことを特徴とする請求項３記載の画素欠陥補正装置。