JPH11185462A - テープ厚測定装置 - Google Patents
テープ厚測定装置Info
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- JPH11185462A JPH11185462A JP9349199A JP34919997A JPH11185462A JP H11185462 A JPH11185462 A JP H11185462A JP 9349199 A JP9349199 A JP 9349199A JP 34919997 A JP34919997 A JP 34919997A JP H11185462 A JPH11185462 A JP H11185462A
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- cycle
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 リールに巻回されたテープのテープ厚を自動
的に測定する。 【解決手段】 キャプスタン20、ピンチローラ22、
サーボモータ24、ならびに走行制御手段26から成る
テープ走行手段は、供給リール10から磁気テープ12
を繰り出しつつ磁気テープ12を一定速度Vで走行さ
せ、周期測定手段28は、供給リール10の回転周期を
測定する。そして、演算手段30は、第1の時点で周期
測定手段28が測定した供給リール10の回転周期Ts
と、第1の時点から時間Twが経過した第2の時点で周
期測定手段28が測定した供給リール10の回転周期T
eとにもとづき、磁気テープ12の厚さDを式D=V
(Ts2−Te2 )/(4πTw)により算出する。
的に測定する。 【解決手段】 キャプスタン20、ピンチローラ22、
サーボモータ24、ならびに走行制御手段26から成る
テープ走行手段は、供給リール10から磁気テープ12
を繰り出しつつ磁気テープ12を一定速度Vで走行さ
せ、周期測定手段28は、供給リール10の回転周期を
測定する。そして、演算手段30は、第1の時点で周期
測定手段28が測定した供給リール10の回転周期Ts
と、第1の時点から時間Twが経過した第2の時点で周
期測定手段28が測定した供給リール10の回転周期T
eとにもとづき、磁気テープ12の厚さDを式D=V
(Ts2−Te2 )/(4πTw)により算出する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばリールに巻
回された磁気テープなどのテープ残量を求めるために、
テープの厚さを測定するテープ厚測定装置に関するもの
である。
回された磁気テープなどのテープ残量を求めるために、
テープの厚さを測定するテープ厚測定装置に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】ビデオテープレコーダなどの磁気テープ
情報記録再生装置は、多くの場合、テープ残量あるいは
テープ残量時間の表示機能を備えており、利用者は後ど
の程度の時間録画できるか、あるいは残りの再生時間は
どの程度かを容易に知ることができるようになってい
る。このテープ残量は、リールに巻回されてるテープの
面積から求めることができ、図3はテープ残量の算出原
理を示す説明図である。リール102の中心にリールハ
ブ104が形成され、リールハブ104にテープ106
が巻回されている。図中、斜線部がテープ巻回部108
である。テープ残量はリール102のテープ面積S(テ
ープ巻回部108の面積)をテープ106の厚さDによ
り除することで得られる。
情報記録再生装置は、多くの場合、テープ残量あるいは
テープ残量時間の表示機能を備えており、利用者は後ど
の程度の時間録画できるか、あるいは残りの再生時間は
どの程度かを容易に知ることができるようになってい
る。このテープ残量は、リールに巻回されてるテープの
面積から求めることができ、図3はテープ残量の算出原
理を示す説明図である。リール102の中心にリールハ
ブ104が形成され、リールハブ104にテープ106
が巻回されている。図中、斜線部がテープ巻回部108
である。テープ残量はリール102のテープ面積S(テ
ープ巻回部108の面積)をテープ106の厚さDによ
り除することで得られる。
【0003】テープ106がリール102から一定速度
Vで繰り出され、図3の状態のときリール102の回転
周期がTであったとすると、テープ巻回部108の外周
の長さはT×Vであるから、テープ巻回部108の半径
rはT×V/(2π)となる。したがって、テープ巻回
部108とリールハブ104の面積S0を合わせた総面
積は(T×V)2 /(4π)となり、テープ巻回部10
8の面積Sはこの総面積からリールハブ104の面積S
0を減じることで得られ、
Vで繰り出され、図3の状態のときリール102の回転
周期がTであったとすると、テープ巻回部108の外周
の長さはT×Vであるから、テープ巻回部108の半径
rはT×V/(2π)となる。したがって、テープ巻回
部108とリールハブ104の面積S0を合わせた総面
積は(T×V)2 /(4π)となり、テープ巻回部10
8の面積Sはこの総面積からリールハブ104の面積S
0を減じることで得られ、
【0004】
【数1】S=(T×V)2 /(4π)−S0 となる。そのため、リール102に巻回されているテー
プ106の長さL、すなわちテープ残量はテープ面積S
をテープ106の厚さDにより除して、
プ106の長さL、すなわちテープ残量はテープ面積S
をテープ106の厚さDにより除して、
【0005】
【数2】L=S/D となる。したがってまた、テープ残量時間は、このテー
プ残量を走行速度Vで除することで得られ、次式により
表される。
プ残量を走行速度Vで除することで得られ、次式により
表される。
【0006】
【数3】Tr=L/V=L/(DV)
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、磁気テープ
などではテープの厚さにばらつきがあり、同じタイプの
ビデオカセットテープであってもカセットが異なればテ
ープの厚さは若干異なったものとなる。しかし、従来は
上記[数3]にもとづき、予め設定したテープ厚Dを用
いてテープ残量時間を算出していたので、算出したテー
プ残量時間にはテープ厚のばらつきに伴う誤差が含まれ
ていた。例えば、従来のビデオテープレコーダの場合、
T120のVHSテープを用い、供給側リールにすべて
のテープが巻回されている状態で標準モード(SPモー
ド)で再生あるいは録画を開始した場合、表示されるテ
ープ残量時間には±10分程度の誤差があった。
などではテープの厚さにばらつきがあり、同じタイプの
ビデオカセットテープであってもカセットが異なればテ
ープの厚さは若干異なったものとなる。しかし、従来は
上記[数3]にもとづき、予め設定したテープ厚Dを用
いてテープ残量時間を算出していたので、算出したテー
プ残量時間にはテープ厚のばらつきに伴う誤差が含まれ
ていた。例えば、従来のビデオテープレコーダの場合、
T120のVHSテープを用い、供給側リールにすべて
のテープが巻回されている状態で標準モード(SPモー
ド)で再生あるいは録画を開始した場合、表示されるテ
ープ残量時間には±10分程度の誤差があった。
【0008】また、例えばVHSテープでは、現在テー
プ厚の異なる4種類のタイプが存在し、どのタイプのテ
ープを使用するかに応じて厚さデータを切り替える必要
がある。そのため、従来は、ビデオテープレコーダに接
続されたテレビに、テープの種類を選択するためのメニ
ューを表示し、利用者がテープの種類を選択するように
していた。図4はテープの種類を選択する機能を備えた
従来のビデオテープレコーダの一例を示す説明図であ
る。ビデオテープレコーダ110にテレビ112が接続
され、そのテレビ112の画面114にテープの種類と
してT120、T160、T180のいずれかを選択す
るためのメニューが表示されている。利用者はこのメニ
ューを見ながら例えばビデオテープレコーダのリモコン
を操作してテープの種類を選択する。そして、ビデオテ
ープレコーダ側ではこの選択結果にもとづいてテープ厚
のデータを切り替え、そのテープ厚データを用いてテー
プ残量を算出する。したがって、この方式では、利用者
はテープ106の種類を選択するための操作を必ず行わ
なければならず、面倒である。
プ厚の異なる4種類のタイプが存在し、どのタイプのテ
ープを使用するかに応じて厚さデータを切り替える必要
がある。そのため、従来は、ビデオテープレコーダに接
続されたテレビに、テープの種類を選択するためのメニ
ューを表示し、利用者がテープの種類を選択するように
していた。図4はテープの種類を選択する機能を備えた
従来のビデオテープレコーダの一例を示す説明図であ
る。ビデオテープレコーダ110にテレビ112が接続
され、そのテレビ112の画面114にテープの種類と
してT120、T160、T180のいずれかを選択す
るためのメニューが表示されている。利用者はこのメニ
ューを見ながら例えばビデオテープレコーダのリモコン
を操作してテープの種類を選択する。そして、ビデオテ
ープレコーダ側ではこの選択結果にもとづいてテープ厚
のデータを切り替え、そのテープ厚データを用いてテー
プ残量を算出する。したがって、この方式では、利用者
はテープ106の種類を選択するための操作を必ず行わ
なければならず、面倒である。
【0009】しかし、このようなテープ残量の算出にお
ける誤差の問題や、テープ厚データの切り替えに伴う面
倒な操作の問題は、個々のテープの厚さを知ることがで
きればいずれも解決できる。そこで本発明の目的はリー
ルに巻回されたテープのテープ厚を自動的に測定するこ
とが可能なテープ厚測定装置を提供することにある。
ける誤差の問題や、テープ厚データの切り替えに伴う面
倒な操作の問題は、個々のテープの厚さを知ることがで
きればいずれも解決できる。そこで本発明の目的はリー
ルに巻回されたテープのテープ厚を自動的に測定するこ
とが可能なテープ厚測定装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明のテープ厚測定装
置は上記目的を達成するため、テープを巻回したリール
から前記テープを繰り出しつつ、またはリールにテープ
を巻き取りつつ前記テープを一定速度Vで走行させるテ
ープ走行手段と、前記リールの回転周期を測定する周期
測定手段と、第1の時点で前記周期測定手段が測定した
前記リールの回転周期Tsと、前記第1の時点から時間
Twが経過した第2の時点で前記周期測定手段が測定し
た前記リールの回転周期Teとにもとづき、前記テープ
の厚さDを式D=V(Ts2 −Te2 )/(4πTw)
により算出する演算手段と、を備えたことを特徴とす
る。本発明のテープ厚測定装置では、テープ走行手段
は、テープを巻回したリールからテープを繰り出しつ
つ、またはリールにテープを巻き取りつつテープを一定
速度Vで走行させる。そして、演算手段は、第1の時点
で周期測定手段が測定したリールの回転周期Tsと、第
1の時点から時間Twが経過した第2の時点で周期測定
手段が測定したリールの回転周期Teとにもとづき、テ
ープの厚さDを式D=V(Ts2 −Te2 )/(4πT
w)により算出する。
置は上記目的を達成するため、テープを巻回したリール
から前記テープを繰り出しつつ、またはリールにテープ
を巻き取りつつ前記テープを一定速度Vで走行させるテ
ープ走行手段と、前記リールの回転周期を測定する周期
測定手段と、第1の時点で前記周期測定手段が測定した
前記リールの回転周期Tsと、前記第1の時点から時間
Twが経過した第2の時点で前記周期測定手段が測定し
た前記リールの回転周期Teとにもとづき、前記テープ
の厚さDを式D=V(Ts2 −Te2 )/(4πTw)
により算出する演算手段と、を備えたことを特徴とす
る。本発明のテープ厚測定装置では、テープ走行手段
は、テープを巻回したリールからテープを繰り出しつ
つ、またはリールにテープを巻き取りつつテープを一定
速度Vで走行させる。そして、演算手段は、第1の時点
で周期測定手段が測定したリールの回転周期Tsと、第
1の時点から時間Twが経過した第2の時点で周期測定
手段が測定したリールの回転周期Teとにもとづき、テ
ープの厚さDを式D=V(Ts2 −Te2 )/(4πT
w)により算出する。
【0011】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態例につい
て図面を参照して説明する。図1は本発明の実施の形態
例のテープ厚測定装置を組み込んだビデオテープレコー
ダの一例を示す構成図である。このビデオテープレコー
ダ2は、メカデッキ部4と、メカデッキ部4を制御する
マイクロコンピュータ6(以下、マイコン6ともいう)
を含んで構成されている。メカデッキ部4には、ビデオ
カセットテープ8が装着され、供給リール10から繰り
出された磁気テープ12はガイドローラ14によりガイ
ドされてドラム16の表面を摺動し、そして、巻取リー
ル18に巻とられる。ドラム16と巻取リール18との
間にはキャプスタン20とピンチローラ22とが配設さ
れ、磁気テープ12は、ピンチローラ22によりキャプ
スタン20に押圧され、キャプスタン20がサーボモー
タ24(駆動手段)により回転することで一定速度で走
行する。ここで、マイコン6により構成された走行制御
手段26は、サーボモータ24の回転速度を制御してキ
ャプスタン20を一定速度で回転させ、その結果、磁気
テープ12の走行速度を一定速度に維持する。上記キャ
プスタン20、ピンチローラ22、サーボモータ24、
ならびに走行制御手段26は、本発明に係わるテープ走
行手段を構成している。
て図面を参照して説明する。図1は本発明の実施の形態
例のテープ厚測定装置を組み込んだビデオテープレコー
ダの一例を示す構成図である。このビデオテープレコー
ダ2は、メカデッキ部4と、メカデッキ部4を制御する
マイクロコンピュータ6(以下、マイコン6ともいう)
を含んで構成されている。メカデッキ部4には、ビデオ
カセットテープ8が装着され、供給リール10から繰り
出された磁気テープ12はガイドローラ14によりガイ
ドされてドラム16の表面を摺動し、そして、巻取リー
ル18に巻とられる。ドラム16と巻取リール18との
間にはキャプスタン20とピンチローラ22とが配設さ
れ、磁気テープ12は、ピンチローラ22によりキャプ
スタン20に押圧され、キャプスタン20がサーボモー
タ24(駆動手段)により回転することで一定速度で走
行する。ここで、マイコン6により構成された走行制御
手段26は、サーボモータ24の回転速度を制御してキ
ャプスタン20を一定速度で回転させ、その結果、磁気
テープ12の走行速度を一定速度に維持する。上記キャ
プスタン20、ピンチローラ22、サーボモータ24、
ならびに走行制御手段26は、本発明に係わるテープ走
行手段を構成している。
【0012】マイコン6はさらに、図1に示したよう
に、供給リール10の回転周期を測定する周期測定手段
28と、第1の時点で周期測定手段28が測定した供給
リール10の回転周期Tsと、第1の時点から時間Tw
が経過した第2の時点で周期測定手段28が測定した供
給リール10の回転周期Teとにもとづき、磁気テープ
12の厚さDを次の[数4]にもとづいて算出する演算
手段30としての機能を備えている。
に、供給リール10の回転周期を測定する周期測定手段
28と、第1の時点で周期測定手段28が測定した供給
リール10の回転周期Tsと、第1の時点から時間Tw
が経過した第2の時点で周期測定手段28が測定した供
給リール10の回転周期Teとにもとづき、磁気テープ
12の厚さDを次の[数4]にもとづいて算出する演算
手段30としての機能を備えている。
【0013】
【数4】D=V(Ts2 −Te2 )/(4πTw) ただし、この式において、Vは磁気テープ12の走行速
度を表している。ここで、[数4]の導出について説明
する。図2は[数4]の導出を説明するための図であ
り、(A)はリール10に磁気テープ12が巻回されて
いる状態を示す模式図、(B)はリール10に巻回され
ていた磁気テープ12を直線状に延在させた状態を示す
模式図である。
度を表している。ここで、[数4]の導出について説明
する。図2は[数4]の導出を説明するための図であ
り、(A)はリール10に磁気テープ12が巻回されて
いる状態を示す模式図、(B)はリール10に巻回され
ていた磁気テープ12を直線状に延在させた状態を示す
模式図である。
【0014】図2の(A)において、第1の時点におけ
る磁気テープ12の半径はrs、第2の時点における磁
気テープ12の半径はreであるとする。そして、半径
rsから半径reまでの間の磁気テープ12を直線状に
したものが図2の(B)であり、磁気テープ12の全長
をLとする。図2の(A)における半径rsと半径re
との間のテープ面積ΔSは、図2の(B)におけるテー
プ面積D×Lに等しい。したがって、テープ厚Dは次式
により表される。
る磁気テープ12の半径はrs、第2の時点における磁
気テープ12の半径はreであるとする。そして、半径
rsから半径reまでの間の磁気テープ12を直線状に
したものが図2の(B)であり、磁気テープ12の全長
をLとする。図2の(A)における半径rsと半径re
との間のテープ面積ΔSは、図2の(B)におけるテー
プ面積D×Lに等しい。したがって、テープ厚Dは次式
により表される。
【0015】
【数5】D=ΔS/L 一方、図2の(A)において磁気テープ12の半径が、
半径rsから半径reになるまでにかかる時間は上記時
間Twであり、磁気テープ12の走行速度はVであるか
ら、磁気テープ12の長さLは次式により表される。
半径rsから半径reになるまでにかかる時間は上記時
間Twであり、磁気テープ12の走行速度はVであるか
ら、磁気テープ12の長さLは次式により表される。
【0016】
【数6】L=V×Tw したがって、[数5]は、[数6]を代入することで次
のようになる。
のようになる。
【0017】
【数7】D=ΔS/(V×Tw) そして、図2の(A)において、半径がrsのときの磁
気テープ12の外周の長さは、供給リール10の回転周
期Tsに走行速度Vを乗じることで得られ、その結果よ
り半径が求まるので半径rsの範囲の面積SsはV2 ×
Ts2 /(4π)となる。同様に、半径reの範囲の面
積SeはV2 ×Te2 /(4π)となる。したがって、
ΔSは次式により表される。
気テープ12の外周の長さは、供給リール10の回転周
期Tsに走行速度Vを乗じることで得られ、その結果よ
り半径が求まるので半径rsの範囲の面積SsはV2 ×
Ts2 /(4π)となる。同様に、半径reの範囲の面
積SeはV2 ×Te2 /(4π)となる。したがって、
ΔSは次式により表される。
【0018】
【数8】 ΔS=Ss−Se=V2 (Ts2 −Te2 )/(4π) このΔSを[数7]に代入して整理することで上記[数
4]が得られる。
4]が得られる。
【0019】周期測定手段28は、詳しくは、光学セン
サを含んで供給リール10が1回転する間に一例として
8つのリールパルスを生成するパルス生成手段32と、
パルス生成手段32が連続して生成した8つのリールパ
ルスを計数し、このリールパルスの計数に要した時間を
測定する第1の計時手段34とを含み、周期測定手段2
8は、第1の計時手段34が測定した時間をリール10
2の回転周期として出力する。
サを含んで供給リール10が1回転する間に一例として
8つのリールパルスを生成するパルス生成手段32と、
パルス生成手段32が連続して生成した8つのリールパ
ルスを計数し、このリールパルスの計数に要した時間を
測定する第1の計時手段34とを含み、周期測定手段2
8は、第1の計時手段34が測定した時間をリール10
2の回転周期として出力する。
【0020】マイコン6はさらに、供給リール10が所
定回数だけ回転したことを、パルス生成手段32からの
リールパルスにもとづいて検出する回転数検出手段36
と、第1の時点の後、リール102が所定回数だけ回転
したことを回転数検出手段36が検出するまでの経過時
間を測定する第2の計時手段38としての機能をさらに
備え、そして、演算手段30は、リール10が所定回数
だけ回転したことを回転数検出手段36が検出した時点
を上記第2の時点として周期測定手段28が測定したリ
ール102の回転周期Teを取得し、さらに、第2の計
時手段38が測定した経過時間を時間Twとして上記
[数4]にもとづき磁気テープ12の厚さを算出する。
定回数だけ回転したことを、パルス生成手段32からの
リールパルスにもとづいて検出する回転数検出手段36
と、第1の時点の後、リール102が所定回数だけ回転
したことを回転数検出手段36が検出するまでの経過時
間を測定する第2の計時手段38としての機能をさらに
備え、そして、演算手段30は、リール10が所定回数
だけ回転したことを回転数検出手段36が検出した時点
を上記第2の時点として周期測定手段28が測定したリ
ール102の回転周期Teを取得し、さらに、第2の計
時手段38が測定した経過時間を時間Twとして上記
[数4]にもとづき磁気テープ12の厚さを算出する。
【0021】マイコン6はまた、テープ残量算出手段4
0としての機能を有し、演算手段30が算出した磁気テ
ープ12の厚さを用いてテープ残量時間を算出する。テ
ープ残量算出手段40はこの算出結果を不図示の例えば
液晶表示装置に供給して表示させる。
0としての機能を有し、演算手段30が算出した磁気テ
ープ12の厚さを用いてテープ残量時間を算出する。テ
ープ残量算出手段40はこの算出結果を不図示の例えば
液晶表示装置に供給して表示させる。
【0022】次に、このように構成されたビデオテープ
レコーダ2の動作について説明する。このビデオテープ
レコーダ2では、新たなビデオカセットテープ8が装着
されると、マイコン6は、テープ速度が一定である情報
の記録中や再生中にテープ厚の測定を実行する。このテ
ープ厚の測定においては、走行制御手段26は、上記サ
ーボモータ24の回転速度を制御してキャプスタン20
を、磁気テープ12が供給リール10から繰り出される
方向に一定速度で回転させ、磁気テープ12の走行速度
を一定速度Vに維持する。このとき、パルス生成手段3
2は、供給リール10が1回転する間に8つのリールパ
ルスを生成し、第1の計時手段34および回転数検出手
段36に出力する。また、走行制御手段26は、磁気テ
ープ12の走行速度Vのデータを演算手段30に供給す
る。
レコーダ2の動作について説明する。このビデオテープ
レコーダ2では、新たなビデオカセットテープ8が装着
されると、マイコン6は、テープ速度が一定である情報
の記録中や再生中にテープ厚の測定を実行する。このテ
ープ厚の測定においては、走行制御手段26は、上記サ
ーボモータ24の回転速度を制御してキャプスタン20
を、磁気テープ12が供給リール10から繰り出される
方向に一定速度で回転させ、磁気テープ12の走行速度
を一定速度Vに維持する。このとき、パルス生成手段3
2は、供給リール10が1回転する間に8つのリールパ
ルスを生成し、第1の計時手段34および回転数検出手
段36に出力する。また、走行制御手段26は、磁気テ
ープ12の走行速度Vのデータを演算手段30に供給す
る。
【0023】そして、演算手段30は、回転数検出手段
36および第2の計時手段38を同時に起動し、それぞ
れの動作を行わせる。第1の計時手段34は、常時、パ
ルス生成手段32が連続して生成した8つのリールパル
スを計数し、この16のリールパルスの計数に要した時
間を測定することで供給リール10の回転周期を測定
し、結果を演算手段30に出力している。演算手段30
は、上述のように回転数検出手段36および第2の計時
手段38を起動すると同時に、第1の計時手段34が出
力する回転周期を、第1の時点における供給リール10
の回転周期Tsとして取り込み保持する。
36および第2の計時手段38を同時に起動し、それぞ
れの動作を行わせる。第1の計時手段34は、常時、パ
ルス生成手段32が連続して生成した8つのリールパル
スを計数し、この16のリールパルスの計数に要した時
間を測定することで供給リール10の回転周期を測定
し、結果を演算手段30に出力している。演算手段30
は、上述のように回転数検出手段36および第2の計時
手段38を起動すると同時に、第1の計時手段34が出
力する回転周期を、第1の時点における供給リール10
の回転周期Tsとして取り込み保持する。
【0024】一方、回転数検出手段36は、演算手段3
0により起動されると、パルス生成手段32からのリー
ルパルスにもとづいて供給リール10の回転数の検出動
作を行い、供給リール10が所定回数だけ回転したこと
を検出すると、そのことを演算手段30および第2の計
時手段38に通知する。演算手段30は、回転数検出手
段36から供給リール10が所定回転数だけ回転した旨
の通知を受け取ると、その時点で第1の計時手段34が
出力する回転周期を第2の時点における供給リール10
の回転周期Teとして取り込み保持する。
0により起動されると、パルス生成手段32からのリー
ルパルスにもとづいて供給リール10の回転数の検出動
作を行い、供給リール10が所定回数だけ回転したこと
を検出すると、そのことを演算手段30および第2の計
時手段38に通知する。演算手段30は、回転数検出手
段36から供給リール10が所定回転数だけ回転した旨
の通知を受け取ると、その時点で第1の計時手段34が
出力する回転周期を第2の時点における供給リール10
の回転周期Teとして取り込み保持する。
【0025】また、第2の計時手段38は、上述のよう
に演算手段30により起動されると、計時動作を開始
し、回転数検出手段36からリール10が所定回数だけ
回転した旨の通知を受け取るまでの経過時間、すなわち
第1の時点から第2の時点までの時間Twを測定し、結
果を演算手段30に供給する。演算手段30はこの時間
Twを第2の計時手段38から受け取って保持する。
に演算手段30により起動されると、計時動作を開始
し、回転数検出手段36からリール10が所定回数だけ
回転した旨の通知を受け取るまでの経過時間、すなわち
第1の時点から第2の時点までの時間Twを測定し、結
果を演算手段30に供給する。演算手段30はこの時間
Twを第2の計時手段38から受け取って保持する。
【0026】演算手段30はその後、磁気テープ12の
走行速度V、第1の計時手段34からの回転周期Ts、
Te、第2の計時手段38からの時間Twを、[数4]
に代入して磁気テープ12の厚さDを[数4]により算
出し、テープ残量算出手段40に算出した厚さDを供給
する。テープ残量算出手段40はこの磁気テープ12の
厚さDを演算手段30から受け取り、保持する。
走行速度V、第1の計時手段34からの回転周期Ts、
Te、第2の計時手段38からの時間Twを、[数4]
に代入して磁気テープ12の厚さDを[数4]により算
出し、テープ残量算出手段40に算出した厚さDを供給
する。テープ残量算出手段40はこの磁気テープ12の
厚さDを演算手段30から受け取り、保持する。
【0027】その後、テープ残量算出手段40は、第1
の計時手段34が出力する供給リール10の回転周期T
を逐次取り込み、まず、上記[数1]に、供給リール1
0の回転周期T、走行制御手段26から供給されるテー
プ走行速度V、ならびに供給リール10のリールハブの
面積S0を代入してテープ面積Sを算出する。なお、テ
ープ残量算出手段40は、リールハブ半径を予め記憶し
ており、このリールハブ半径を用いてリールハブの面積
S0を算出し、[数1]に代入する。テープ残量算出手
段40はその後、[数2]に、算出したテープ面積Sお
よびテープ厚Dを代入して供給リール10に巻回されて
いる磁気テープ12の長さL、すなわちテープ残量を算
出し、さらに、磁気テープ12の長さLを走行速度Vで
除することで([数3])テープ残量時間を求める。テ
ープ残量算出手段40は、求めたテープ残量時間を不図
示の液晶表示装置に供給して表示させる。
の計時手段34が出力する供給リール10の回転周期T
を逐次取り込み、まず、上記[数1]に、供給リール1
0の回転周期T、走行制御手段26から供給されるテー
プ走行速度V、ならびに供給リール10のリールハブの
面積S0を代入してテープ面積Sを算出する。なお、テ
ープ残量算出手段40は、リールハブ半径を予め記憶し
ており、このリールハブ半径を用いてリールハブの面積
S0を算出し、[数1]に代入する。テープ残量算出手
段40はその後、[数2]に、算出したテープ面積Sお
よびテープ厚Dを代入して供給リール10に巻回されて
いる磁気テープ12の長さL、すなわちテープ残量を算
出し、さらに、磁気テープ12の長さLを走行速度Vで
除することで([数3])テープ残量時間を求める。テ
ープ残量算出手段40は、求めたテープ残量時間を不図
示の液晶表示装置に供給して表示させる。
【0028】ここで表示されるテープ残量時間は、ビデ
オテープレコーダ2に装着された磁気テープ12の厚さ
を実際に測定して得られるテープ厚Dを用いて算出した
ものであり、極めて精度の高いものとなっている。さら
に、このビデオテープレコーダ2では、従来のように利
用者はテープ厚データの切り替えに伴う面倒な操作を一
切行う必要がない。
オテープレコーダ2に装着された磁気テープ12の厚さ
を実際に測定して得られるテープ厚Dを用いて算出した
ものであり、極めて精度の高いものとなっている。さら
に、このビデオテープレコーダ2では、従来のように利
用者はテープ厚データの切り替えに伴う面倒な操作を一
切行う必要がない。
【0029】なお、本実施の形態例では、供給リール1
0側でリールの回転周期を測定してテープ厚を求めた
が、巻取リール18側で回転周期を測定してテープ厚を
算出することも無論可能である。また、本実施の形態例
のテープ厚測定装置を用いたビデオテープレコーダ2で
は、新たに磁気テープ12が装着されるごとに、テープ
厚の測定を行うとしたが、一度測定したテープ厚のデー
タをMOC(Memory On Casset)や非
接触MOC、あるいは磁気テープ12の特定箇所(先頭
部など)に記録しておき、次回からは記録されたテープ
厚データを読み出してテープ残量時間を算出する構成と
することも可能であり、その場合には、毎回テープ厚の
測定を行う必要がなく、即座にテープ残量時間を表示す
ることが可能となる。
0側でリールの回転周期を測定してテープ厚を求めた
が、巻取リール18側で回転周期を測定してテープ厚を
算出することも無論可能である。また、本実施の形態例
のテープ厚測定装置を用いたビデオテープレコーダ2で
は、新たに磁気テープ12が装着されるごとに、テープ
厚の測定を行うとしたが、一度測定したテープ厚のデー
タをMOC(Memory On Casset)や非
接触MOC、あるいは磁気テープ12の特定箇所(先頭
部など)に記録しておき、次回からは記録されたテープ
厚データを読み出してテープ残量時間を算出する構成と
することも可能であり、その場合には、毎回テープ厚の
測定を行う必要がなく、即座にテープ残量時間を表示す
ることが可能となる。
【0030】
【実施例】磁気テープ12の厚さDの実際の値はμmの
オーダーであり、したがって極めて精密な測定が必要で
ある。厚さDの精度を左右する要因としては第1の時点
から第2の時点までの経過時間Twの影響が大きく、こ
の値ができるだけ大きくなるようにしたほうが精度を高
める上で有利である。そのためには、上記所定回転数
(第1の時点から第2の時点の間の供給リール10の回
転数)を多くすればよいが、この回転数を多くすると測
定に時間がかかり、利用者はその間、待たされることに
なる。
オーダーであり、したがって極めて精密な測定が必要で
ある。厚さDの精度を左右する要因としては第1の時点
から第2の時点までの経過時間Twの影響が大きく、こ
の値ができるだけ大きくなるようにしたほうが精度を高
める上で有利である。そのためには、上記所定回転数
(第1の時点から第2の時点の間の供給リール10の回
転数)を多くすればよいが、この回転数を多くすると測
定に時間がかかり、利用者はその間、待たされることに
なる。
【0031】この兼合いについて実験により検討を行っ
た結果、VHSテープの場合、上記所定回転数を40回
転程度にすれば、十分な精度でテープ厚を測定でき、そ
して、測定終了までの待ち時間も許容できる程度になる
ことが分った。具体的には、例えば、T120のVHS
テープを用い、供給側リールにすべてのテープが巻回さ
れている状態で標準モード(SPモード)で再生あるい
は録画を開始した場合、表示されるテープ残量時間の誤
差は±1分程度と大幅に減少した。
た結果、VHSテープの場合、上記所定回転数を40回
転程度にすれば、十分な精度でテープ厚を測定でき、そ
して、測定終了までの待ち時間も許容できる程度になる
ことが分った。具体的には、例えば、T120のVHS
テープを用い、供給側リールにすべてのテープが巻回さ
れている状態で標準モード(SPモード)で再生あるい
は録画を開始した場合、表示されるテープ残量時間の誤
差は±1分程度と大幅に減少した。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように本発明のテープ厚測
定装置は、テープを巻回したリールから前記テープを繰
り出しつつ、またはリールにテープを巻き取りつつ前記
テープを一定速度Vで走行させるテープ走行手段と、前
記リールの回転周期を測定する周期測定手段と、第1の
時点で前記周期測定手段が測定した前記リールの回転周
期Tsと、前記第1の時点から時間Twが経過した第2
の時点で前記周期測定手段が測定した前記リールの回転
周期Teとにもとづき、前記テープの厚さDを式D=V
(Ts2 −Te2 )/(4πTw)により算出する演算
手段とを備えたことを特徴とする。したがって、本発明
のテープ厚測定装置によりリールに巻回されたテープの
厚さを自動的に測定することができる。そのため、例え
ばビデオテープレコーダにおけるテープ残量時間を表示
するために本発明のテープ厚測定装置を用いた場合に
は、ビデオテープレコーダに装着された磁気テープの厚
さを実際に測定してテープ残量時間を算出することがで
きるので、算出結果は、同一タイプの磁気テープ間のテ
ープ厚のばらつきがあってもその影響を一切受けること
なく極めて高精度となる。また、タイプが異なる種々の
テープ厚の磁気テープが装着されても、装着された磁気
テープの厚さを実際に測定してテープ残量時間を算出す
ることができるので、利用者は従来のようにテープ厚デ
ータの切り替えに伴う面倒な操作を一切行う必要がな
い。
定装置は、テープを巻回したリールから前記テープを繰
り出しつつ、またはリールにテープを巻き取りつつ前記
テープを一定速度Vで走行させるテープ走行手段と、前
記リールの回転周期を測定する周期測定手段と、第1の
時点で前記周期測定手段が測定した前記リールの回転周
期Tsと、前記第1の時点から時間Twが経過した第2
の時点で前記周期測定手段が測定した前記リールの回転
周期Teとにもとづき、前記テープの厚さDを式D=V
(Ts2 −Te2 )/(4πTw)により算出する演算
手段とを備えたことを特徴とする。したがって、本発明
のテープ厚測定装置によりリールに巻回されたテープの
厚さを自動的に測定することができる。そのため、例え
ばビデオテープレコーダにおけるテープ残量時間を表示
するために本発明のテープ厚測定装置を用いた場合に
は、ビデオテープレコーダに装着された磁気テープの厚
さを実際に測定してテープ残量時間を算出することがで
きるので、算出結果は、同一タイプの磁気テープ間のテ
ープ厚のばらつきがあってもその影響を一切受けること
なく極めて高精度となる。また、タイプが異なる種々の
テープ厚の磁気テープが装着されても、装着された磁気
テープの厚さを実際に測定してテープ残量時間を算出す
ることができるので、利用者は従来のようにテープ厚デ
ータの切り替えに伴う面倒な操作を一切行う必要がな
い。
【図1】本発明の実施の形態例のテープ厚測定装置を組
み込んだビデオテープレコーダの一例を示す構成図であ
る。
み込んだビデオテープレコーダの一例を示す構成図であ
る。
【図2】[数4]の導出を説明するための図であり、
(A)はリールに磁気テープが巻回されている状態を示
す模式図、(B)はリールに巻回されていた磁気テープ
を直線状に延在させた状態を示す模式図である。
(A)はリールに磁気テープが巻回されている状態を示
す模式図、(B)はリールに巻回されていた磁気テープ
を直線状に延在させた状態を示す模式図である。
【図3】テープ残量の算出原理を示す説明図である。
【図4】テープの種類を選択する機能を備えた従来のビ
デオテープレコーダの一例を示す説明図である。
デオテープレコーダの一例を示す説明図である。
2……ビデオテープレコーダ、4……メカデッキ部、6
……マイクロコンピュータ(マイコン)、8……ビデオ
カセットテープ、10……供給リール、12……磁気テ
ープ、14……ガイドローラ、16……ドラム、18…
…巻取リール、20……キャプスタン、22……ピンチ
ローラ、24……サーボモータ、26……走行制御手
段、28……周期測定手段、30……演算手段、32…
…パルス生成手段、34……第1の計時手段、36……
回転数検出手段、38……第2の計時手段、40……テ
ープ残量算出手段、102……リール、104……リー
ルハブ、106……テープ、108……テープ巻回部、
110……ビデオテープレコーダ、112……テレビ、
114……画面。
……マイクロコンピュータ(マイコン)、8……ビデオ
カセットテープ、10……供給リール、12……磁気テ
ープ、14……ガイドローラ、16……ドラム、18…
…巻取リール、20……キャプスタン、22……ピンチ
ローラ、24……サーボモータ、26……走行制御手
段、28……周期測定手段、30……演算手段、32…
…パルス生成手段、34……第1の計時手段、36……
回転数検出手段、38……第2の計時手段、40……テ
ープ残量算出手段、102……リール、104……リー
ルハブ、106……テープ、108……テープ巻回部、
110……ビデオテープレコーダ、112……テレビ、
114……画面。
Claims (7)
- 【請求項1】 テープを巻回したリールから前記テープ
を繰り出しつつ、またはリールにテープを巻き取りつつ
前記テープを一定速度Vで走行させるテープ走行手段
と、 前記リールの回転周期を測定する周期測定手段と、 第1の時点で前記周期測定手段が測定した前記リールの
回転周期Tsと、前記第1の時点から時間Twが経過し
た第2の時点で前記周期測定手段が測定した前記リール
の回転周期Teとにもとづき、前記テープの厚さDを式
D=V(Ts2−Te2 )/(4πTw)により算出す
る演算手段と、 を備えたことを特徴とするテープ厚測定装置。 - 【請求項2】 前記テープ走行手段は、供給リール、巻
取リール、これらリールの間に配設されたドラム、ドラ
ムと巻取リールの間に配設されたキャプスタン、テープ
をキャプスタンに押圧するピンチローラ、キャプスタン
の駆動手段、ならびにキャプスタンを一定速度で回転さ
せるべく前記駆動手段を制御する走行制御手段を含んで
構成されていることを特徴とする請求項1記載のテープ
厚測定装置。 - 【請求項3】 前記周期測定手段は、 前記リールが1回転する間に所定数のリールパルスを生
成するパルス生成手段と、 パルス生成手段が連続して生成した前記所定数のリール
パルスを計数し、このリールパルスの計数に要した時間
を測定する第1の計時手段とを備え、 前記第1の計時手段が測定した前記時間を前記リールの
前記回転周期とすることを特徴とする請求項1記載のテ
ープ厚測定装置。 - 【請求項4】 前記リールが所定回数だけ回転したこと
を検出する回転数検出手段と、 前記第1の時点の後、前記リールが所定回数だけ回転し
たことを前記回転数検出手段が検出するまでの経過時間
を測定する第2の計時手段とをさらに備え、 前記演算手段は、前記リールが所定回数だけ回転したこ
とを前記回転数検出手段が検出した時点を前記第2の時
点として前記周期測定手段が測定した前記リールの前記
回転周期Teを取得し、さらに、前記第2の計時手段が
測定した前記経過時間を前記時間Twとして前記テープ
の厚さを算出することを特徴とする請求項1記載のテー
プ厚測定装置。 - 【請求項5】 前記演算手段はマイクロコンピュータに
より構成されていることを特徴とする請求項1記載のテ
ープ厚測定装置。 - 【請求項6】 前記テープは磁気テープであることを特
徴とする請求項1記載のテープ厚測定装置。 - 【請求項7】 磁気テープ情報記録再生装置に組み込ま
れ、前記磁気テープ情報記憶再生装置は、前記演算手段
が算出した前記テープの厚さにもとづいてテープ残量を
算出するテープ残量算出手段を備えていることを特徴と
する請求項1記載のテープ厚測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9349199A JPH11185462A (ja) | 1997-12-18 | 1997-12-18 | テープ厚測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9349199A JPH11185462A (ja) | 1997-12-18 | 1997-12-18 | テープ厚測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11185462A true JPH11185462A (ja) | 1999-07-09 |
Family
ID=18402150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9349199A Pending JPH11185462A (ja) | 1997-12-18 | 1997-12-18 | テープ厚測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11185462A (ja) |
-
1997
- 1997-12-18 JP JP9349199A patent/JPH11185462A/ja active Pending
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