JPH11190684A - 自動試料交換機能を備えた測定装置 - Google Patents

自動試料交換機能を備えた測定装置

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JPH11190684A
JPH11190684A JP36879997A JP36879997A JPH11190684A JP H11190684 A JPH11190684 A JP H11190684A JP 36879997 A JP36879997 A JP 36879997A JP 36879997 A JP36879997 A JP 36879997A JP H11190684 A JPH11190684 A JP H11190684A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 オートサンプルチェンジャ交換時の入力設定
の手間を省く。 【解決手段】 オートサンプルチェンジャ20は、回転
板21上での各試料セル22の回転角度を示す情報を予
め記憶させたROM25を内蔵する。該チェンジャ20
が試料室13に設置され、コネクタ26a、26bが接
続されると、本体部10の読出部31はROM25内の
情報を読み込んでRAM33に記憶させる。駆動制御部
32は、測定者により測定対象の試料が指示されると、
該試料に対応した回転角度をRAM33から読み出し、
必要な駆動パルス信号数を算出して送出する。ステッピ
ングモータ23はこれにより回転し、所望の試料セル2
2が測定光照射位置に来て分光測定が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の試料を選択
自在に装着してなるオートサンプルチェンジャと、該オ
ートサンプルチェンジャの試料選択動作を制御する制御
手段を内蔵する本体装置とから成る、自動試料交換機能
を備えた測定装置に関する。本発明に係る測定装置は、
例えば回転自在の円盤状部材の外周同心円上に複数の試
料を配設したオートサンプルチェンジャを用いた分光測
定装置等に利用することができる。
【0002】
【従来の技術】複数の試料を連続的に測定したい場合、
オートサンプルチェンジャやオートサンプラといった、
複数の試料を自動的に選択又は切り替えて所定の測定位
置に移送又は装填するための付属装置が利用されること
が多い。このような付属装置を使用すれば、測定開始前
に複数の全試料を準備しておくことにより、測定者が必
ずしも測定に立ち会うことなく全試料に対する自動測定
を終了することも可能である。特に、測定対象となる物
質が比較的化学的に安定であって、しかも化学的な前処
理が不要であるものである場合には、上記のような自動
測定がより有効である。
【0003】一般に、赤外分光測定の対象となる物質は
上記条件を満たしていることが多く、オートサンプルチ
ェンジャを用いた自動測定がよく行なわれる。図4は、
一般的な従来のフーリエ変換赤外分光測定装置の概略構
成図である。この赤外分光測定装置は、大別して、本体
部10と該本体部10の試料室13内に着脱自在に設置
されるオートサンプルチェンジャ20とから構成され
る。
【0004】本体部10の光源11から発せられた赤外
光は干渉計12に導入される。干渉計12はビームスプ
リッタ121、固定鏡122、移動鏡123等を含み、
前後に摺動している移動鏡123からの反射光と固定鏡
122からの反射光とをビームスプリッタ121にて同
一進行方向に導くことにより、時間的に振幅が変動する
干渉赤外光を得る。該干渉赤外光は試料室13に導入さ
れ、オートサンプルチェンジャ20中の1個の試料セル
22に照射される。試料セル22内の気体、液体又は固
体試料は、その成分に応じて特有の波長を有する光を吸
収する。この試料セル22を透過した光は試料室13か
ら出て検出器14にて検出される。このときの検出器1
4からの信号は時間軸に対する信号の強度であり、これ
をフーリエ変換することで周波数(光の波長)と信号強
度の情報とを得ることができる。そこで、信号処理部1
5は検出器14からの信号をフーリエ変換して吸光スペ
クトルを作成し、必要に応じて該スペクトルを用いて吸
光度や透過率のスペクトルを計算する。
【0005】図5は上記オートサンプルチェンジャ20
の一例を示す要部の外観斜視図である。図5に示すよう
に、このオートサンプルチェンジャ20は円盤状の回転
板21の外周同心円上に複数の試料セル22を備えてお
り、該回転板21の軸はモータ23により直接的又は間
接的に(例えば適当な減速機構等を介して)回転駆動さ
れる。測定対象の試料セル22を選択するべくモータ2
3を駆動するための制御信号MCは、コネクタ24a、
24bを介して制御部30から与えられる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】一般に、オートサンプ
ルチェンジャ20は例えば試料の大きさ等に合わせて試
料セル数の相違するもの、一部に標準試料を装着したも
の、等様々な種類のものが用意されており、測定目的や
測定対象物等に応じて適当なオートサンプルチェンジャ
が選択されて試料室13内に設置される。例えば、試料
セル数が相違する場合、隣接する試料セル22の離間角
度θが相違するから、制御部30は、設置されたオート
サンプルチェンジャの種別に応じて試料セル選択の際の
モータ23の制御量を変える必要がある。
【0007】そこで従来のこの種の装置では、測定者自
らが操作部(例えばキーボード等)16により、設置し
たオートサンプルチェンジャに応じて、試料セルの配置
(例えば離間角度θや試料セル数等)や標準試料の位置
等を入力設定するようにしていた。このような入力設定
の操作は複雑であって、測定者がその操作方法を記憶し
ていることは殆どないから、測定者は取扱説明書等の文
書を参照しながら操作を行なうのが一般的である。この
ような作業は大変煩わしいばかりでなく、参照すべき文
書の管理が良好でないとこれを探すのに時間を要し、作
業効率が悪いという問題がある。
【0008】これに対し、制御部30にオートサンプル
チェンジャの種別の識別機能をもたせたものも提案され
ている。すなわち、オートサンプルチェンジャ20に複
数のピンを有する識別用コネクタを設けることとし、オ
ートサンプルチェンジャの種別に応じて各ピンの接続状
態(例えば開放又は接地)を予め取り決めておく。この
オートサンプルチェンジャ20が試料室13内に設置さ
れ、制御部30に接続されているコネクタが上記識別用
コネクタに嵌合されると、制御部30は該コネクタの各
ピンの導通状態によりオートサンプルチェンジャ20の
種別を判断することができる。
【0009】しかしながら、このような方法では、識別
用コネクタのピン数により判別可能なチェンジャの数が
制約を受ける。また制御部30は、予め決められた複数
のオートサンプルチェンジャのみを判別可能であるの
で、設計時点で想定されていない新規な構成のオートサ
ンプルチェンジャには対応できず、極めて拡張性に乏し
い。
【0010】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、面倒な
入力設定の操作を行なうことなく様々な種別のオートサ
ンプルチェンジャを利用することができる、自動試料交
換機能を備えた測定装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明は、複数の試料を搭載可能なオートサ
ンプルチェンジャと、該オートサンプルチェンジャ中の
任意の試料に対する測定を行なう測定手段を備えた測定
装置本体とから成る、自動試料交換機能を備えた測定装
置において、前記オートサンプルチェンジャは、複数の
試料のうちの任意の試料を選択するための駆動機構と、
該駆動機構の動作を制御するための制御信号を受ける制
御入力端子と、当該オートサンプルチェンジャの種別毎
の制御情報を予め記憶しておく記憶手段と、該記憶手段
中の記憶内容を読み出すための情報出力端子とを備える
一方、前記測定装置本体は、前記情報出力端子と接続可
能な情報入力端子と、該情報入力端子を介して前記記憶
手段から制御情報を読み出す読出手段と、読み出された
制御情報を利用して前記駆動機構を制御するための制御
信号を作成する制御手段と、該制御信号を送出するため
に前記制御入力端子と接続可能な制御出力端子と、を備
えることを特徴としている。
【0012】
【発明の実施の形態】例えばオートサンプルチェンジャ
は、駆動手段であるモータにより回転駆動される円盤状
部材の外周同心円上に複数の試料を配設した構成とし、
測定装置本体の測定手段は、円盤状部材の所定の回転位
置に来た試料を測定可能な構成とすることができる。こ
のような構成では、上記制御情報は、例えば隣接する試
料の離間角度又は所定の円周上の基準位置からの回転角
度等による各試料の大きさや位置に関する情報、各試料
の種別と該試料の位置との関係を示す情報等とすること
ができる。
【0013】当該オートサンプルチェンジャが測定装置
本体の所定部位に設置され、その制御入力端子及び情報
出力端子が測定装置本体の制御出力端子及び情報入力端
子とそれぞれ接続されると、読出手段は前記記憶手段か
ら離間角度等の制御情報を読み出す。この制御情報によ
りオートサンプルチェンジャの試料選択動作を制御する
ための基本的なパラメータが得られるので、駆動制御手
段は、複数の試料のうちの選択すべき試料に応じてその
パラメータを利用して制御量を求め、制御信号を送出す
る。オートサンプルチェンジャのモータは制御信号に応
じて円盤状部材を回転させ、所望の試料が測定位置に来
るようにする。また、上記円盤状部材の所定位置に既知
の特性を有する試料が固定的に装着されている場合に
は、該試料の種別と位置との関係を示す制御情報を用い
て、必要に応じて該試料を自動的に選択して測定位置に
来るようにすることができる。
【0014】従来のこの種の測定装置では上記制御情報
に相当する情報を測定者自身の操作により入力設定する
必要があったが、本発明に係る測定装置では、この制御
情報がオートサンプルチェンジャ自体に内蔵されている
ため、所定の接続を行なうのみで正確な情報が測定装置
本体側に設定される。
【0015】
【実施例】以下、本発明に係る自動試料交換機能を備え
た測定装置をフーリエ変換赤外分光測定装置に適用した
実施例を図1〜図3を参照して説明する。図1は本実施
例による分光測定装置の構成図、図2は本実施例におけ
るオートサンプルチェンジャに内蔵されたROMに格納
されている制御情報の内容を示す概念図、図3は本実施
例における測定動作の手順を示すフローチャートであ
る。
【0016】図1に示すように、本実施例によるオート
サンプルチェンジャ20には、図2に示すような制御情
報が予め(例えば工場出荷時に)格納されているROM
25が内蔵されており、該ROM25の読出制御信号R
Sとその出力信号ROとは、モータ23の駆動制御信号
MCとともに一つのコネクタ26aに接続されている。
モータ23はステッピングモータであって、機械的スト
ッパにより規制された回転位置を基準位置とし、駆動制
御信号MCとして印加される駆動パルス信号の数に応じ
て該基準位置から所定角度だけロータが回転するように
なっている。本実施例では、回転板21の軸がモータ2
3の回転軸に直結する、いわゆるダイレクトドライブ構
造となっているが、適宜の減速機構を介して両者を連結
する構造とすることもできる。なお、モータ23及びR
OM25の動作に必要な電源も、コネクタ26aを介し
て供給されるようになっている。
【0017】上記制御信号は、そのオートサンプルチェ
ンジャ20の構造に特有な情報であって、具体的には図
2に示すように、試料番号とその試料番号を付された試
料セル22の回転板21上での回転位置(これは基準位
置からの回転角度で表わされる)、更には試料の種別
(予め所定位置に固定的に装着された標準試料又は測定
者により脱着される試料)から成る。
【0018】分光測定装置本体部10の制御部30は、
読出部31、駆動制御部32及びRAM33を含んでい
る。読出部31は上記ROM25の読出制御信号RSを
出力し、これに対応してROM25から出力される出力
信号ROを順次読み込んでRAM33に一旦格納する。
読出制御信号RSは、例えばROM25のアドレスを直
接指定するための信号としてもよいし、或いは、ROM
25側にカウンタ等から成るアドレス発生回路を内蔵し
ておき、このアドレス発生回路を動作させるためのリセ
ット信号やクロック信号を読出制御信号RSとして与え
るようにしてもよい。
【0019】駆動制御部32は、モータ23のロータ
(つまり回転板21)の回転角度と駆動パルス信号数と
の対応関係が予め記憶されたROMを内蔵している。そ
して後述の如く、RAM33に格納されたオートサンプ
ルチェンジャ20に関する制御情報を利用し、所望の試
料セル22が測定光の照射位置に来るように駆動制御信
号MCを送出する。
【0020】なお、制御部30及び信号処理部15は、
例えば一般のパーソナルコンピュータに所定のソフトウ
エアを実行させることにより具現化することができ、そ
の場合、操作部16はパーソナルコンピュータに付設さ
れたキーボード、マウス等の入力手段、表示部17はC
RT又は液晶によるディスプレイを利用することができ
る。
【0021】図3のフローチャートに沿って、本実施例
の分光測定装置による測定動作を説明する。まず、測定
者はオートサンプルチェンジャ20の各試料セル22に
測定対象の試料を装着する。勿論、必ずしも全ての試料
セル22に試料を装着する必要はない。その後、このオ
ートサンプルチェンジャ20を本体部10の試料室13
内に設置し、両者のコネクタ26a、26bを接続する
(ステップS1)。
【0022】その後、測定者が操作部16にて、例えば
装着完了のボタンを押す等の所定の指示操作を行なうと
(ステップS2)、読出部31はコネクタ26a、26
bを介してROM25に読出制御信号RSを送る。そし
て、これに対応してROM25から出力される図2に示
したような制御情報を読み込んで、これをRAM33の
所定領域に格納する(ステップS3)。また、制御部3
0は、この制御情報によりオートサンプルチェンジャ2
0内の試料セル22の総数を認識できるから、表示部1
7の画面上にその全試料番号を表示する(ステップS
4)。
【0023】測定者はこの表示を見て、測定したい試料
番号を所望の測定順序をもって選択するとともに、測定
方法(透過率又は吸光度モード等)や必要に応じてその
他の測定条件を入力設定する(ステップS5)。このと
き、各試料番号に対応して試料名等、適宜の情報を操作
部16より入力設定できるようにしてもよい。
【0024】全ての入力設定が終了したならば、測定者
は測定開始の指示操作を行なう(ステップS6)。駆動
制御部32は、この指示を受けて、測定順序の早いもの
から順に、選択された試料番号に対応する回転角度をR
AM33から読み出し、回転角度と駆動パルス信号数と
の対応関係に基づき必要なパルス信号数を求め、その数
の駆動パルス信号を駆動制御信号MCとして送出する
(ステップS7)。モータ23はその駆動パルス信号に
応じて微小角度ずつ回転し、所望の試料セル22が測定
光照射位置に来たときにその回転は停止する。その後、
分光測定が実行され、上記試料セル22を通過した光が
検出器14に到達し、それに対する検出信号が信号処理
部15に取り込まれる。これにより、信号処理部15で
は、測定者により指示された試料の吸光スペクトルが作
成される(ステップS8)。
【0025】1回の分光測定の終了後、制御部30では
測定者により指示された試料の測定が全て終了したか否
かが判定される(ステップS9)。指示された試料がま
だ残っている場合には、ステップS7に戻り、駆動制御
部32は、次の測定対象の試料番号に対応する回転角度
をRAM33から読み出し、上述と同様の処理によりそ
の試料セル22が測定光照射位置に来るようにモータ2
3へ駆動パルス信号を送る。このように測定者により指
示された全ての試料の測定が終了する迄、処理を自動的
に繰り返す。
【0026】また、測定者が、一連の測定の最初、最後
又は途中の適宜の時点で標準試料の測定を実行させるよ
うな指示を該測定開始前に行なうと、制御部30はRO
M25から読み出した制御情報により試料番号1が付さ
れた試料が標準試料であることを認識できるから、予め
指示された時点において、試料番号1が測定されるよう
にモータ23の回転を制御する。
【0027】この実施例の分光測定装置では、例えば、
試料セル数の相違するオートサンプルチェンジャでは、
図2において最下行の試料番号が相違するとともに各試
料番号に対する回転角度が相違する。読出部31は一連
の測定の開始毎にROM25の制御情報を読み出してR
AM33の内容を書き直すので、測定者が入力設定する
ことなく、設置されたオートサンプルチェンジャ20に
対応する制御情報がRAM33に保持され、常に適切な
測定が行なえる。
【0028】また、上記実施例における標準試料とは、
例えば標準白板等の吸光度や透過率等を計算する際の基
準となる試料であるが、これ以外にも、例えば未知試料
の吸光スペクトル等を評価又は判定する際の比較対象又
は参照のために、適宜の特性を有する試料を用いること
ができる。
【0029】また、例えば分光測定装置の検査用オート
サンプルチェンジャでは、検査用の所定の特性を有する
フィルム、ガラス、フィルタ、プリズム等を上記回転板
21の試料セル22の代わりに装着した構成とすること
ができる。このようなオートサンプルチェンジャの各試
料を自動的に測定するには、上記制御情報としてこのよ
うな試料の種類を含むようにしておくとよく、更には該
試料に応じた測定条件も含むようにしておき、制御部3
0は該測定条件に応じて各部の設定が自動的に行なわれ
るようにするとよい。このように制御情報は、そのオー
トサンプルチェンジャが予め備える様々な事項に関する
情報を含むものとすることができる。
【0030】なお、上記実施例は一例であって、本発明
の趣旨に沿って適宜変形や修正を行なえることは明らか
である。
【0031】具体的には、上記実施例のように回転機構
により試料セルを選択する構成でなく、複数の試料バイ
アルを平面状に収納したラックをX−Y(更にZ軸)方
向に移動し、所定位置からバイアルを取り出す又はバイ
アル中の試料のみを取り出すような構成のオートサンプ
ルチェンジャにおいても、各バイアルの位置を(X、
Y)座標上の数値としてROMに格納しておくことによ
り、上記実施例と同様の効果を奏する。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る自動
試料交換機能を備えた測定装置によれば、オートサンプ
ルチェンジャの設置時又は交換時に測定者がそのチェン
ジャを制御するための情報をわざわざ入力設定する必要
がないので、測定者の手間が省け、測定効率も向上す
る。また、入力設定の間違いに起因する無駄な測定も防
止できる。
【0033】また、測定装置本体はオートサンプルチェ
ンジャの制御情報を数値として取得することができるの
で、従来のこの種の装置のように対応可能なオートサン
プルチェンジャが極めて限られるといった不都合がなく
なり、オートサンプルチェンジャの種別を殆ど無限に拡
張することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る自動試料交換機能を備えた測定
装置の一実施例である分光測定装置の構成図。
【図2】 本実施例における制御情報の内容を示す概念
図。
【図3】 本実施例における測定動作の手順を示すフロ
ーチャート。
【図4】 従来の一般的な分光測定装置の構成図。
【図5】 オートサンプルチェンジャの要部の構成を示
す外観斜視図。
【符号の説明】
10…分光測定装置本体部 11…光源 12…干渉計 13…試料室 14…検出器 15…信号処理部 16…操作部 17…表示部 20…オートサンプルチェンジャ 21…回転板 22…試料セル 23…ステッピングモータ 25…ROM 26a、26b…コネクタ 30…制御部 31…読出部 32…駆動制御部 33…RAM

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の試料を搭載可能なオートサンプル
    チェンジャと、該オートサンプルチェンジャ中の任意の
    試料に対する測定を行なう測定手段を備えた測定装置本
    体とから成る、自動試料交換機能を備えた測定装置にお
    いて、 前記オートサンプルチェンジャは、複数の試料のうちの
    任意の試料を選択するための駆動機構と、該駆動機構の
    動作を制御するための制御信号を受ける制御入力端子
    と、当該オートサンプルチェンジャの種別毎の制御情報
    を予め記憶しておく記憶手段と、該記憶手段中の記憶内
    容を読み出すための情報出力端子とを備える一方、 前記測定装置本体は、前記情報出力端子と接続可能な情
    報入力端子と、該情報入力端子を介して前記記憶手段か
    ら制御情報を読み出す読出手段と、読み出された制御情
    報を利用して前記駆動機構を制御するための制御信号を
    作成する制御手段と、該制御信号を送出するために前記
    制御入力端子と接続可能な制御出力端子と、 を備えることを特徴とする測定装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003521707A (ja) * 2000-01-31 2003-07-15 アストラゼネカ・アクチエボラーグ 分析のための装置及び方法
JP2008096104A (ja) * 2006-10-05 2008-04-24 Japan Atomic Energy Agency ナトリウム漏えい検知方法及び装置
JP2011149885A (ja) * 2010-01-25 2011-08-04 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
WO2016063569A1 (ja) * 2014-10-23 2016-04-28 シャープ株式会社 試料分析装置
CN112630200A (zh) * 2020-11-24 2021-04-09 北京华泰诺安探测技术有限公司 一种危险气体检测设备的元件自动更换方法
JP2024137818A (ja) * 2023-03-21 2024-10-07 ネッチ ゲレーテバウ ゲーエムベーハー 測定装置の制御方法及び測定装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6864487B1 (en) * 2002-01-21 2005-03-08 Mcmurtry Gary M Environmental sampler for mass spectrometer
RU2301416C2 (ru) * 2005-04-27 2007-06-20 Андрей Юрьевич Холин Измерительное устройство для анализа серии образцов
CN110596161A (zh) * 2019-10-21 2019-12-20 散裂中子源科学中心 一种自动换样装置及中子反射实验装置
CN111965110A (zh) * 2020-08-12 2020-11-20 中国科学院上海高等研究院 一种紧凑式多功能真空实验系统
CN119023696B (zh) * 2024-10-29 2025-01-28 山东沃特世生物工程有限公司 一种生化分析仪使用前的光学组件自动检测装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4024395A (en) * 1976-03-23 1977-05-17 Actus, Inc. Sample changer having modular track assembly
US4582990A (en) * 1980-10-27 1986-04-15 Randam Electronics, Inc. Analytical instrument with two moving trains of sample holder-carrying trays under microprocessor control

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003521707A (ja) * 2000-01-31 2003-07-15 アストラゼネカ・アクチエボラーグ 分析のための装置及び方法
JP2008096104A (ja) * 2006-10-05 2008-04-24 Japan Atomic Energy Agency ナトリウム漏えい検知方法及び装置
JP2011149885A (ja) * 2010-01-25 2011-08-04 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
WO2016063569A1 (ja) * 2014-10-23 2016-04-28 シャープ株式会社 試料分析装置
JP2016085078A (ja) * 2014-10-23 2016-05-19 シャープ株式会社 試料分析装置
CN112630200A (zh) * 2020-11-24 2021-04-09 北京华泰诺安探测技术有限公司 一种危险气体检测设备的元件自动更换方法
JP2024137818A (ja) * 2023-03-21 2024-10-07 ネッチ ゲレーテバウ ゲーエムベーハー 測定装置の制御方法及び測定装置

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