JPH11190703A - Parts inspection equipment - Google Patents

Parts inspection equipment

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JPH11190703A
JPH11190703A JP36141597A JP36141597A JPH11190703A JP H11190703 A JPH11190703 A JP H11190703A JP 36141597 A JP36141597 A JP 36141597A JP 36141597 A JP36141597 A JP 36141597A JP H11190703 A JPH11190703 A JP H11190703A
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JP
Japan
Prior art keywords
component
imaging
circuit board
printed circuit
gap
Prior art date
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Pending
Application number
JP36141597A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Miyagi
隆 宮城
Eiji Kajiwara
英士 梶原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba FA Systems Engineering Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba FA Systems Engineering Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba FA Systems Engineering Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH11190703A publication Critical patent/JPH11190703A/en
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 部品のプリント基板への半田付け状態を的確
に検査することを目的とする。 【解決手段】 プリント基板7とこのプリント基板7上
に実装された部品9との間隙を部品側面から照明する照
明手段1,3,5と、この照明手段1,3,5で照明さ
れたプリント基板7と部品9との間隙を撮像する撮像手
段11,13,15と、照明手段1,3,5および撮像
手段11,13,15を被検査対象の部品9に対し所定
の検査位置に移動配置する移動配置手段と、撮像手段1
1,13,15による撮像結果を表示する表示手段17
と、を有し、各種部品が入り組んだプリント基板上に実
装された部品下部の隙間を側面から肉眼で直接観察する
ことを可能としている。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To accurately inspect the soldering state of a component to a printed circuit board. SOLUTION: Illuminating means 1, 3, 5 for illuminating a gap between a printed board 7 and a component 9 mounted on the printed board 7 from a component side surface, and a print illuminated by the illuminating means 1, 3, 5 The imaging means 11, 13, 15 for imaging the gap between the substrate 7 and the component 9, the illumination means 1, 3, 5 and the imaging means 11, 13, 15 are moved to a predetermined inspection position with respect to the component 9 to be inspected. Moving arrangement means to arrange and imaging means 1
Display means 17 for displaying the imaging results by 1, 13, and 15
This allows direct observation with the naked eye from the side surface of the gap under the component mounted on the printed circuit board in which various components are intricate.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板に実
装された部品の半田付け状態を検査する部品検査装置に
関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a component inspection apparatus for inspecting a soldering state of a component mounted on a printed circuit board.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子部品のプリント基板への実装におい
ては、半田付けが確実になされていることが重要である
が、半田付け部分が部品の直下となって直接視認できな
い部品実装、例えばボールグリッドアレイ部品(以下、
適宜「部品」という)の実装の場合には、特に、半田付
けの状態の検査が難しい。
2. Description of the Related Art In mounting electronic components on a printed circuit board, it is important that soldering is performed securely. However, component mounting where the soldered portion is directly under the component and is not directly visible, for example, a ball grid Array components (hereinafter
In particular, in the case of mounting “parts” as appropriate, it is particularly difficult to inspect the state of soldering.

【0003】例えば、図5に示すように機械的接触をも
って試験を行なう方法では、部品周辺回路に対して有効
であっても、部品101をプリント基板103に実装固
定している半田ボール105自身へプローブ107を直
接接触することができない。X線を使用した検査では、
半田ボール間の半田ブリッジ状態は容易に発見できるも
のの、半田ボールがプリント基板上のパッドから浮き上
がった状態を検出することは困難である。また、X線装
置は取り扱いが難しく、装置自身も高価である。通電検
査では、不良基板と判定された場合、不良箇所を特定す
るために周辺回路の影響を考慮した複雑な解析作業を要
する。部品が搭載されるような高密度実装基板では、こ
の解析作業は大きな負担となる。
[0005] For example, in the method of performing a test by mechanical contact as shown in FIG. 5, even if it is effective for a peripheral circuit of a component, the solder ball 105 itself mounting and fixing the component 101 to a printed circuit board 103 is used. The probe 107 cannot be directly contacted. In the inspection using X-ray,
Although the state of the solder bridge between the solder balls can be easily found, it is difficult to detect the state in which the solder balls have risen from the pads on the printed circuit board. Further, the X-ray apparatus is difficult to handle, and the apparatus itself is expensive. In the energization inspection, when it is determined that the substrate is defective, a complicated analysis operation in which the influence of peripheral circuits is taken into account is required to specify the defective portion. On a high-density mounting board on which components are mounted, this analysis work becomes a heavy burden.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このように、例えば半
田ボールを用いた半田付け状態の検査については、従来
より適当な方法がなく、適当な検査手段の出現が切望さ
れている。
As described above, for the inspection of the soldering state using, for example, a solder ball, there has been no suitable method conventionally, and it has been desired to provide a suitable inspection means.

【0005】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的としては、部品のプリント基板への半田付け状
態を的確に検査し得る部品検査装置を提供することにあ
る。
[0005] The present invention has been made in view of the above,
An object of the present invention is to provide a component inspection apparatus capable of accurately inspecting a state of soldering a component to a printed circuit board.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の本発明は、プリント基板とこのプリ
ント基板上に実装された部品との間隙を部品側面から照
明する照明手段と、この照明手段で照明されたプリント
基板と部品との間隙を撮像する撮像手段と、照明手段お
よび撮像手段を被検査対象の部品に対し所定の検査位置
に移動配置する移動配置手段と、撮像手段による撮像結
果を表示する表示手段と、を有することを要旨とする。
この構成により、各種部品が入り組んだプリント基板上
に実装された部品下部の隙間を側面から肉眼で直接観察
することが可能となる。
To achieve the above object, according to the present invention, there is provided an illuminating means for illuminating a gap between a printed board and a component mounted on the printed board from a side of the component. An imaging unit for imaging a gap between the printed circuit board and the component illuminated by the illumination unit; a moving arrangement unit for moving and arranging the illumination unit and the imaging unit to a predetermined inspection position with respect to the component to be inspected; And display means for displaying the imaging result.
With this configuration, it is possible to directly observe the gap under the component mounted on the printed board on which the various components are intricate from the side with the naked eye.

【0007】請求項2記載の本発明は、請求項1記載の
発明において、撮像手段からの画像データに基づいて部
品をプリント基板に実装固定している半田付け状態を判
定する判定手段を有することを要旨とする。この構成に
より、半田付け状態を人手を介することなく、自動で行
なうことができる。
According to a second aspect of the present invention, in accordance with the first aspect of the present invention, there is provided a judging means for judging a soldering state in which a component is mounted and fixed on a printed circuit board based on image data from an imaging means. Is the gist. With this configuration, the soldering state can be performed automatically without manual intervention.

【0008】請求項3記載の本発明は、請求項2記載の
発明において、前記判定手段が、部品のプリント基板に
おける取り付け高さを求める取付高さ演算手段と、求め
た取り付け高さから当該部品のプリント基板に対する取
り付け角度を求める取付角度演算手段と、求めた取り付
け高さおよび取り付け角度に基づいて半田付け状態を判
定する状態判定手段とを有することを要旨とする。この
構成により、半田を直接観察できない場合でも、半田付
け状態を的確に判断することができる。
According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the determining means includes: a mounting height calculating means for calculating a mounting height of the component on the printed circuit board; The present invention has a mounting angle calculating means for calculating the mounting angle with respect to the printed circuit board and a state determining means for determining a soldering state based on the obtained mounting height and mounting angle. With this configuration, even when the solder cannot be directly observed, the soldering state can be accurately determined.

【0009】請求項4記載の本発明は、プリント基板と
このプリント基板上に実装された部品との間隙を部品側
面から照明する照明手段と、当該部品を挟んで照明手段
に対向する位置に配置され、プリント基板と部品との間
隙の透過光を撮像する撮像手段と、照明手段および撮像
手段を被検査対象の部品に対し所定の検査位置に移動配
置する移動配置手段と、撮像手段で撮像した透過光に基
づいて部品をプリント基板に実装固定している半田付け
状態を判定する判定手段を有することを要旨とする。こ
の構成により、部品下部であって、外部から観察不可能
な位置にある半田を含めて、半田付け状態を判断するこ
とができる。特に、照明手段としてレーザのような指向
性の高い光を用いると効果的である。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an illuminating means for illuminating a gap between a printed circuit board and a component mounted on the printed circuit board from a side surface of the component, and a position facing the illuminating means with the component interposed therebetween. Imaging means for imaging transmitted light in a gap between the printed circuit board and the component; moving arrangement means for moving and arranging the illumination means and the imaging means to a predetermined inspection position with respect to the component to be inspected; The gist of the present invention is to include a determination unit that determines a soldering state in which a component is mounted and fixed on a printed circuit board based on transmitted light. With this configuration, it is possible to determine the soldering state including the solder at a position below the component and not observable from the outside. In particular, it is effective to use highly directional light such as a laser as the illumination means.

【0010】請求項5記載の本発明は、請求項1または
4記載の発明において、前記照明手段が、光源と、光源
からの光を照明部位に誘導する光誘導手段を具備し、ま
た、前記撮像手段が、カメラと、このカメラに被撮像光
を誘導する光誘導手段を具備することを要旨とする。こ
の構成により、部品下部の隙間の的確な撮像を可能にし
ている。
According to a fifth aspect of the present invention, in the first or the fourth aspect of the present invention, the illuminating means includes a light source and a light guiding means for guiding light from the light source to an illuminated portion. The gist is that the imaging means includes a camera and a light guiding means for guiding light to be imaged to the camera. With this configuration, accurate imaging of the gap under the component is enabled.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下図面を用いて、本発明の実施
の形態を説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0012】図1は、本発明の第1の実施の形態に係る
検査装置を示す図である。同図において、1は光源で、
光ファイバ3およびこの光ファイバ3の先端に設けられ
ている光屈折部5を介してプリント基板7とこのプリン
ト基板7上に実装された部品9との間隙を照明するもの
である。11は、照明されたプリント基板7と部品9と
の間隙を光屈折部13および光ファイバ15を介して撮
像するカメラである。ここで、光源1、光ファイバ3、
光屈折部5とカメラ11、光ファイバ15、光屈折部1
3とは、観測位置を適宜変えるため、図示していない移
動配置手段によりプリント基板7に対し相対的に移動可
能であるが、この場合、プリント基板7を固定して光源
1、カメラ11側を移動してもよいし、逆にプリント基
板7を光源1、カメラ11に対して移動させてもよい。
17は、このカメラ11からの撮像信号を受けてこれを
画像表示する画像表示装置である。なお、光屈折部5,
13は、光ファイバ3,15と共に光誘導手段を構成す
るものであるが、部品9とプリント基板7との狭い隙間
に対し光を誘導あるいは採光するためのもので、例えば
偏光器などが用いられる。
FIG. 1 is a diagram showing an inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a light source,
The gap between the printed board 7 and the components 9 mounted on the printed board 7 is illuminated via the optical fiber 3 and the light refracting portion 5 provided at the tip of the optical fiber 3. Reference numeral 11 denotes a camera that captures an image of the illuminated gap between the printed circuit board 7 and the component 9 via the light refracting unit 13 and the optical fiber 15. Here, the light source 1, the optical fiber 3,
Light refraction unit 5, camera 11, optical fiber 15, light refraction unit 1
3 means that the observation position can be changed as appropriate so that it can be moved relative to the printed circuit board 7 by a moving arrangement means (not shown). In this case, the printed circuit board 7 is fixed and the light source 1 and the camera 11 side are fixed. The printed board 7 may be moved with respect to the light source 1 and the camera 11.
An image display device 17 receives an image signal from the camera 11 and displays the image. In addition, the light refraction unit 5,
Reference numeral 13 denotes a light guiding means together with the optical fibers 3 and 15. The light guiding means 13 guides or collects light in a narrow gap between the component 9 and the printed circuit board 7. For example, a polarizer is used. .

【0013】したがって、本実施の形態によれば、光源
1からの光に基づいて部品9とプリント基板7との狭い
隙間空間が照明され、この照明された隙間空間をカメラ
11で撮像し、この結果を画像表示装置17に表示出力
するようにしているので、検査者が部品9の最外周部の
半田ボール19の状況を部品側面から観察することがで
きる。
Therefore, according to the present embodiment, the narrow gap between the component 9 and the printed circuit board 7 is illuminated based on the light from the light source 1, and the illuminated gap is imaged by the camera 11. Since the result is displayed and output on the image display device 17, the inspector can observe the condition of the solder ball 19 on the outermost peripheral portion of the component 9 from the side of the component.

【0014】図2は、本発明の第2の実施の形態に係る
検査装置を示す図である。その特徴としては、カメラ1
1からの画像データに基づき画像処理部21で形状パタ
ーンを抽出し、判定部23でこの形状パターンから半田
ボール19の半田付け状態を判定するようにしたことに
ある。なお、図2において、図1と同一物には同一の符
号を付すこととする。
FIG. 2 is a view showing an inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention. Its features include a camera 1
The image processing unit 21 extracts a shape pattern based on the image data from No. 1 and the determination unit 23 determines the soldering state of the solder ball 19 from this shape pattern. In FIG. 2, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.

【0015】したがって、本実施の形態によれば、部品
9の最外周部の半田ボール19の状況検査を人間の視覚
を頼ることなく自動で行なうことができる。
Therefore, according to the present embodiment, the condition inspection of the solder ball 19 at the outermost peripheral portion of the component 9 can be automatically performed without relying on human vision.

【0016】図3は、本発明の第3の実施の形態に係る
検査装置を示す図である。その特徴としては、カメラ1
1からの画像データに基づき画像処理部21で形状パタ
ーンを抽出後、この抽出した形状パターンに基づき部品
取付高さ演算部25において部品9の取り付け高さを求
め、さらにこの求めた取り付け高さに基づいて部品取付
角度演算部27で部品9のプリント基板7に対する取り
付け角度を求め、そして判定部29でこの求めた取り付
け高さおよび取り付け角度を良品データと比較すること
で半田ボール19の半田付け状態を判定するようにした
ことにある。なお、ここで、取り付け高さの算出につい
ては、単一側面の画像を元に算出する方法と、複数の側
面から取り込んだ形状パターンから算出する方法のどち
らを用いてもよい。また、図3において、図2と同一物
には同一の符号を付すこととする。
FIG. 3 is a view showing an inspection apparatus according to a third embodiment of the present invention. Its features include a camera 1
After the shape pattern is extracted by the image processing unit 21 based on the image data from No. 1, the component mounting height calculation unit 25 calculates the mounting height of the component 9 based on the extracted shape pattern, and further calculates the mounting height. The component mounting angle calculation unit 27 calculates the mounting angle of the component 9 with respect to the printed circuit board 7 based on the calculated mounting height and the mounting angle, and compares the obtained mounting height and mounting angle with the non-defective data. Is determined. Here, as for the calculation of the mounting height, either a method of calculating based on an image of a single side surface or a method of calculating from a shape pattern taken from a plurality of side surfaces may be used. In FIG. 3, the same components as those in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals.

【0017】したがって、本実施の形態によれば、半田
ボール19の綿密な状況検査を人間の視覚に頼ることな
く自動で行なうことができる。
Therefore, according to the present embodiment, a detailed situation inspection of the solder ball 19 can be automatically performed without relying on human vision.

【0018】図4は、本発明の第4の実施の形態に係る
検査装置を示す図である。その特徴としては、光源とし
てレーザ発振装置31を用いると共に、このレーザ発振
装置31からのレーザ光を部品9とプリント基板7との
間隙に誘導する光屈折部5を、当該間隙を挟んで光屈折
部13に対向する位置に配置することで、当該間隙を透
過する透過レーザ光をカメラ11にて観測するようにし
たことにある。なお、図4において、図2と同一物には
同一の符号を付すこととする。
FIG. 4 is a diagram showing an inspection apparatus according to a fourth embodiment of the present invention. As a feature, a laser oscillation device 31 is used as a light source, and a light refraction portion 5 that guides a laser beam from the laser oscillation device 31 to a gap between the component 9 and the printed circuit board 7 is refracted with the gap interposed therebetween. The arrangement is such that the laser beam transmitted through the gap is observed by the camera 11 by disposing the laser beam at a position facing the portion 13. In FIG. 4, the same components as those in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals.

【0019】したがって、本実施の形態によれば、特
に、部品9下部に配置された外部から確認できない位置
の半田ボール19の半田付け状態を判定することができ
る。すなわち、部品下部の半田ボール19に半田ブリッ
ジがある場合には、光屈折部5を介して照射されたレー
ザ光が全く透過しないか、あるいは大幅な光量不足とな
って観測される。また半田ボール19の浮きや、形状に
異常がある場合などは、照射したレーザ光によって、部
品下部に整列した半田ボール19表面による反射光が変
化するので、予め取り込んでおいた良品データとの比較
によって、不良の発見が可能となるのである。
Therefore, according to the present embodiment, it is possible to determine the soldering state of the solder ball 19 at a position, which is arranged below the component 9 and cannot be confirmed from the outside, in particular. That is, when there is a solder bridge in the solder ball 19 below the component, the laser beam irradiated via the light refracting portion 5 is not transmitted at all, or is observed as a significant shortage of light amount. In the case where the solder ball 19 is lifted or has an abnormal shape, for example, the reflected light from the surface of the solder ball 19 arranged under the component changes due to the irradiated laser light. This makes it possible to find defects.

【0020】[0020]

【発明の効果】以上、説明したように、請求項1記載の
本発明によれば、各種部品が入り組んだプリント基板上
に実装された部品下部の隙間を側面から肉眼で直接観察
することが可能となり、もって部品の半田付け状態を的
確に検査することができる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, it is possible to directly observe the gap under a component mounted on a printed circuit board on which various components are intricate from the side with the naked eye. Thus, the soldering state of the component can be accurately inspected.

【0021】請求項2記載の本発明によれば、撮像デー
タに基づいて半田付け状態を自動判定するようにしたの
で、半田付け状態を人手を介することなく、自動で行な
うことができる。
According to the second aspect of the present invention, the soldering state is automatically determined based on the image data, so that the soldering state can be automatically performed without manual operation.

【0022】請求項3記載の本発明によれば、撮像デー
タに基づいて得た部品の取り付け高さおよび取り付け角
度により半田付け状態を自動判定するようにしたので、
半田を直接観察できない場合でも、半田付け状態を的確
に判断することができる。
According to the third aspect of the present invention, the soldering state is automatically determined based on the mounting height and mounting angle of the component obtained based on the image data.
Even when the solder cannot be directly observed, the soldering state can be accurately determined.

【0023】請求項4記載の本発明によれば、照明手段
と撮像手段を部品を挟んで対向配置し、透過光に基づい
て半田付け状態を判定するようにしたので、部品下部で
あって、外部から観察不可能な位置にある半田を含め
て、半田付け状態を判断することができる。
According to the fourth aspect of the present invention, the illuminating means and the imaging means are arranged to face each other with the component interposed therebetween, and the state of soldering is determined based on transmitted light. The soldering state can be determined, including the solder at a position that cannot be observed from the outside.

【0024】請求項5記載の本発明によれば、部品下部
の隙間の的確な撮像を可能にしている。
According to the fifth aspect of the present invention, it is possible to accurately image the gap under the component.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施の形態を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3の実施の形態を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a third embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第4の実施の形態を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a fourth embodiment of the present invention.

【図5】従来例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源 3,15 光ファイバ 5,13 光屈折部 7 プリント基板 9 部品 11 カメラ 17 画像表示装置 19 半田ボール 21 画像処理部 23,29 判定部 25 部品取付高さ演算部 27 部品取付角度演算部 31 レーザ発振装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light source 3,15 Optical fiber 5,13 Light refraction part 7 Printed circuit board 9 Parts 11 Camera 17 Image display device 19 Solder ball 21 Image processing part 23,29 Judgment part 25 Component mounting height calculating part 27 Component mounting angle calculating part 31 Laser oscillation device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 梶原 英士 東京都府中市東芝町1番地 株式会社東芝 府中工場内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Eiji Kajiwara 1 Toshiba-cho, Fuchu-shi, Tokyo Inside the Fuchu factory, Toshiba Corporation

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリント基板とこのプリント基板上に実
装された部品との間隙を部品側面から照明する照明手段
と、 この照明手段で照明されたプリント基板と部品との間隙
を撮像する撮像手段と、 照明手段および撮像手段を被検査対象の部品に対し所定
の検査位置に移動配置する移動配置手段と、 撮像手段による撮像結果を表示する表示手段と、 を有することを特徴とする部品検査装置。
An illumination unit configured to illuminate a gap between a printed board and a component mounted on the printed board from a side of the component; an imaging unit configured to image a gap between the printed board and the component illuminated by the illumination unit; A component inspection apparatus, comprising: a moving arrangement unit that moves and arranges an illumination unit and an imaging unit to a predetermined inspection position with respect to a component to be inspected; and a display unit that displays an imaging result obtained by the imaging unit.
【請求項2】 請求項1記載の検査装置において、撮像
手段からの画像データに基づいて部品をプリント基板に
実装固定している半田付け状態を判定する判定手段を有
することを特徴とする請求項1記載の部品検査装置。
2. The inspection apparatus according to claim 1, further comprising: a determination unit configured to determine a soldering state in which the component is mounted and fixed on the printed circuit board based on image data from the imaging unit. The component inspection device according to 1.
【請求項3】 前記判定手段は、部品のプリント基板に
おける取り付け高さを求める取付高さ演算手段と、求め
た取り付け高さから当該部品のプリント基板に対する取
り付け角度を求める取付角度演算手段と、求めた取り付
け高さおよび取り付け角度に基づいて半田付け状態を判
定する状態判定手段とを有することを特徴とする請求項
2記載の部品検査装置。
3. The mounting device according to claim 1, wherein the determining unit calculates a mounting height of the component with respect to the printed circuit board, and calculates an mounting angle of the component with respect to the printed circuit board from the determined mounting height. 3. The component inspection apparatus according to claim 2, further comprising: state determination means for determining a soldering state based on the mounting height and the mounting angle.
【請求項4】 プリント基板とこのプリント基板上に実
装された部品との間隙を部品側面から照明する照明手段
と、 当該部品を挟んで照明手段に対向する位置に配置され、
プリント基板と部品との間隙の透過光を撮像する撮像手
段と、 照明手段および撮像手段を被検査対象の部品に対し所定
の検査位置に移動配置する移動配置手段と、 撮像手段で撮像した透過光に基づいて部品をプリント基
板に実装固定している半田付け状態を判定する判定手段
を有することを特徴とする部品検査装置。
4. An illuminating means for illuminating a gap between a printed board and a component mounted on the printed board from a side surface of the component;
Imaging means for imaging transmitted light in the gap between the printed circuit board and the component; moving arrangement means for moving and arranging the illumination means and the imaging means to a predetermined inspection position with respect to the component to be inspected; and transmitted light imaged by the imaging means A component inspection apparatus comprising: a determination unit configured to determine a soldering state in which a component is mounted and fixed on a printed circuit board based on a component.
【請求項5】 前記照明手段は、光源と、光源からの光
を照明部位に誘導する光誘導手段を具備し、また、前記
撮像手段は、カメラと、このカメラに被撮像光を誘導す
る光誘導手段を具備することを特徴とする請求項1また
は4記載の部品検査装置。
5. The illuminating means includes a light source, and a light guiding means for guiding light from the light source to an illuminated part, and the imaging means includes a camera and a light for guiding light to be imaged to the camera. The component inspection apparatus according to claim 1, further comprising a guiding unit.
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JP36141597A JPH11190703A (en) 1997-12-26 1997-12-26 Parts inspection equipment

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