JPH11190703A - 部品検査装置 - Google Patents

部品検査装置

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JPH11190703A
JPH11190703A JP36141597A JP36141597A JPH11190703A JP H11190703 A JPH11190703 A JP H11190703A JP 36141597 A JP36141597 A JP 36141597A JP 36141597 A JP36141597 A JP 36141597A JP H11190703 A JPH11190703 A JP H11190703A
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JP
Japan
Prior art keywords
component
imaging
circuit board
printed circuit
gap
Prior art date
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Pending
Application number
JP36141597A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Miyagi
隆 宮城
Eiji Kajiwara
英士 梶原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba FA Systems Engineering Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba FA Systems Engineering Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba FA Systems Engineering Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 部品のプリント基板への半田付け状態を的確
に検査することを目的とする。 【解決手段】 プリント基板7とこのプリント基板7上
に実装された部品9との間隙を部品側面から照明する照
明手段1,3,5と、この照明手段1,3,5で照明さ
れたプリント基板7と部品9との間隙を撮像する撮像手
段11,13,15と、照明手段1,3,5および撮像
手段11,13,15を被検査対象の部品9に対し所定
の検査位置に移動配置する移動配置手段と、撮像手段1
1,13,15による撮像結果を表示する表示手段17
と、を有し、各種部品が入り組んだプリント基板上に実
装された部品下部の隙間を側面から肉眼で直接観察する
ことを可能としている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板に実
装された部品の半田付け状態を検査する部品検査装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】電子部品のプリント基板への実装におい
ては、半田付けが確実になされていることが重要である
が、半田付け部分が部品の直下となって直接視認できな
い部品実装、例えばボールグリッドアレイ部品(以下、
適宜「部品」という)の実装の場合には、特に、半田付
けの状態の検査が難しい。
【0003】例えば、図5に示すように機械的接触をも
って試験を行なう方法では、部品周辺回路に対して有効
であっても、部品101をプリント基板103に実装固
定している半田ボール105自身へプローブ107を直
接接触することができない。X線を使用した検査では、
半田ボール間の半田ブリッジ状態は容易に発見できるも
のの、半田ボールがプリント基板上のパッドから浮き上
がった状態を検出することは困難である。また、X線装
置は取り扱いが難しく、装置自身も高価である。通電検
査では、不良基板と判定された場合、不良箇所を特定す
るために周辺回路の影響を考慮した複雑な解析作業を要
する。部品が搭載されるような高密度実装基板では、こ
の解析作業は大きな負担となる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように、例えば半
田ボールを用いた半田付け状態の検査については、従来
より適当な方法がなく、適当な検査手段の出現が切望さ
れている。
【0005】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的としては、部品のプリント基板への半田付け状
態を的確に検査し得る部品検査装置を提供することにあ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の本発明は、プリント基板とこのプリ
ント基板上に実装された部品との間隙を部品側面から照
明する照明手段と、この照明手段で照明されたプリント
基板と部品との間隙を撮像する撮像手段と、照明手段お
よび撮像手段を被検査対象の部品に対し所定の検査位置
に移動配置する移動配置手段と、撮像手段による撮像結
果を表示する表示手段と、を有することを要旨とする。
この構成により、各種部品が入り組んだプリント基板上
に実装された部品下部の隙間を側面から肉眼で直接観察
することが可能となる。
【0007】請求項2記載の本発明は、請求項1記載の
発明において、撮像手段からの画像データに基づいて部
品をプリント基板に実装固定している半田付け状態を判
定する判定手段を有することを要旨とする。この構成に
より、半田付け状態を人手を介することなく、自動で行
なうことができる。
【0008】請求項3記載の本発明は、請求項2記載の
発明において、前記判定手段が、部品のプリント基板に
おける取り付け高さを求める取付高さ演算手段と、求め
た取り付け高さから当該部品のプリント基板に対する取
り付け角度を求める取付角度演算手段と、求めた取り付
け高さおよび取り付け角度に基づいて半田付け状態を判
定する状態判定手段とを有することを要旨とする。この
構成により、半田を直接観察できない場合でも、半田付
け状態を的確に判断することができる。
【0009】請求項4記載の本発明は、プリント基板と
このプリント基板上に実装された部品との間隙を部品側
面から照明する照明手段と、当該部品を挟んで照明手段
に対向する位置に配置され、プリント基板と部品との間
隙の透過光を撮像する撮像手段と、照明手段および撮像
手段を被検査対象の部品に対し所定の検査位置に移動配
置する移動配置手段と、撮像手段で撮像した透過光に基
づいて部品をプリント基板に実装固定している半田付け
状態を判定する判定手段を有することを要旨とする。こ
の構成により、部品下部であって、外部から観察不可能
な位置にある半田を含めて、半田付け状態を判断するこ
とができる。特に、照明手段としてレーザのような指向
性の高い光を用いると効果的である。
【0010】請求項5記載の本発明は、請求項1または
4記載の発明において、前記照明手段が、光源と、光源
からの光を照明部位に誘導する光誘導手段を具備し、ま
た、前記撮像手段が、カメラと、このカメラに被撮像光
を誘導する光誘導手段を具備することを要旨とする。こ
の構成により、部品下部の隙間の的確な撮像を可能にし
ている。
【0011】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて、本発明の実施
の形態を説明する。
【0012】図1は、本発明の第1の実施の形態に係る
検査装置を示す図である。同図において、1は光源で、
光ファイバ3およびこの光ファイバ3の先端に設けられ
ている光屈折部5を介してプリント基板7とこのプリン
ト基板7上に実装された部品9との間隙を照明するもの
である。11は、照明されたプリント基板7と部品9と
の間隙を光屈折部13および光ファイバ15を介して撮
像するカメラである。ここで、光源1、光ファイバ3、
光屈折部5とカメラ11、光ファイバ15、光屈折部1
3とは、観測位置を適宜変えるため、図示していない移
動配置手段によりプリント基板7に対し相対的に移動可
能であるが、この場合、プリント基板7を固定して光源
1、カメラ11側を移動してもよいし、逆にプリント基
板7を光源1、カメラ11に対して移動させてもよい。
17は、このカメラ11からの撮像信号を受けてこれを
画像表示する画像表示装置である。なお、光屈折部5,
13は、光ファイバ3,15と共に光誘導手段を構成す
るものであるが、部品9とプリント基板7との狭い隙間
に対し光を誘導あるいは採光するためのもので、例えば
偏光器などが用いられる。
【0013】したがって、本実施の形態によれば、光源
1からの光に基づいて部品9とプリント基板7との狭い
隙間空間が照明され、この照明された隙間空間をカメラ
11で撮像し、この結果を画像表示装置17に表示出力
するようにしているので、検査者が部品9の最外周部の
半田ボール19の状況を部品側面から観察することがで
きる。
【0014】図2は、本発明の第2の実施の形態に係る
検査装置を示す図である。その特徴としては、カメラ1
1からの画像データに基づき画像処理部21で形状パタ
ーンを抽出し、判定部23でこの形状パターンから半田
ボール19の半田付け状態を判定するようにしたことに
ある。なお、図2において、図1と同一物には同一の符
号を付すこととする。
【0015】したがって、本実施の形態によれば、部品
9の最外周部の半田ボール19の状況検査を人間の視覚
を頼ることなく自動で行なうことができる。
【0016】図3は、本発明の第3の実施の形態に係る
検査装置を示す図である。その特徴としては、カメラ1
1からの画像データに基づき画像処理部21で形状パタ
ーンを抽出後、この抽出した形状パターンに基づき部品
取付高さ演算部25において部品9の取り付け高さを求
め、さらにこの求めた取り付け高さに基づいて部品取付
角度演算部27で部品9のプリント基板7に対する取り
付け角度を求め、そして判定部29でこの求めた取り付
け高さおよび取り付け角度を良品データと比較すること
で半田ボール19の半田付け状態を判定するようにした
ことにある。なお、ここで、取り付け高さの算出につい
ては、単一側面の画像を元に算出する方法と、複数の側
面から取り込んだ形状パターンから算出する方法のどち
らを用いてもよい。また、図3において、図2と同一物
には同一の符号を付すこととする。
【0017】したがって、本実施の形態によれば、半田
ボール19の綿密な状況検査を人間の視覚に頼ることな
く自動で行なうことができる。
【0018】図4は、本発明の第4の実施の形態に係る
検査装置を示す図である。その特徴としては、光源とし
てレーザ発振装置31を用いると共に、このレーザ発振
装置31からのレーザ光を部品9とプリント基板7との
間隙に誘導する光屈折部5を、当該間隙を挟んで光屈折
部13に対向する位置に配置することで、当該間隙を透
過する透過レーザ光をカメラ11にて観測するようにし
たことにある。なお、図4において、図2と同一物には
同一の符号を付すこととする。
【0019】したがって、本実施の形態によれば、特
に、部品9下部に配置された外部から確認できない位置
の半田ボール19の半田付け状態を判定することができ
る。すなわち、部品下部の半田ボール19に半田ブリッ
ジがある場合には、光屈折部5を介して照射されたレー
ザ光が全く透過しないか、あるいは大幅な光量不足とな
って観測される。また半田ボール19の浮きや、形状に
異常がある場合などは、照射したレーザ光によって、部
品下部に整列した半田ボール19表面による反射光が変
化するので、予め取り込んでおいた良品データとの比較
によって、不良の発見が可能となるのである。
【0020】
【発明の効果】以上、説明したように、請求項1記載の
本発明によれば、各種部品が入り組んだプリント基板上
に実装された部品下部の隙間を側面から肉眼で直接観察
することが可能となり、もって部品の半田付け状態を的
確に検査することができる。
【0021】請求項2記載の本発明によれば、撮像デー
タに基づいて半田付け状態を自動判定するようにしたの
で、半田付け状態を人手を介することなく、自動で行な
うことができる。
【0022】請求項3記載の本発明によれば、撮像デー
タに基づいて得た部品の取り付け高さおよび取り付け角
度により半田付け状態を自動判定するようにしたので、
半田を直接観察できない場合でも、半田付け状態を的確
に判断することができる。
【0023】請求項4記載の本発明によれば、照明手段
と撮像手段を部品を挟んで対向配置し、透過光に基づい
て半田付け状態を判定するようにしたので、部品下部で
あって、外部から観察不可能な位置にある半田を含め
て、半田付け状態を判断することができる。
【0024】請求項5記載の本発明によれば、部品下部
の隙間の的確な撮像を可能にしている。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態を示す図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態を示す図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態を示す図である。
【図4】本発明の第4の実施の形態を示す図である。
【図5】従来例を示す図である。
【符号の説明】
1 光源 3,15 光ファイバ 5,13 光屈折部 7 プリント基板 9 部品 11 カメラ 17 画像表示装置 19 半田ボール 21 画像処理部 23,29 判定部 25 部品取付高さ演算部 27 部品取付角度演算部 31 レーザ発振装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 梶原 英士 東京都府中市東芝町1番地 株式会社東芝 府中工場内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント基板とこのプリント基板上に実
    装された部品との間隙を部品側面から照明する照明手段
    と、 この照明手段で照明されたプリント基板と部品との間隙
    を撮像する撮像手段と、 照明手段および撮像手段を被検査対象の部品に対し所定
    の検査位置に移動配置する移動配置手段と、 撮像手段による撮像結果を表示する表示手段と、 を有することを特徴とする部品検査装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の検査装置において、撮像
    手段からの画像データに基づいて部品をプリント基板に
    実装固定している半田付け状態を判定する判定手段を有
    することを特徴とする請求項1記載の部品検査装置。
  3. 【請求項3】 前記判定手段は、部品のプリント基板に
    おける取り付け高さを求める取付高さ演算手段と、求め
    た取り付け高さから当該部品のプリント基板に対する取
    り付け角度を求める取付角度演算手段と、求めた取り付
    け高さおよび取り付け角度に基づいて半田付け状態を判
    定する状態判定手段とを有することを特徴とする請求項
    2記載の部品検査装置。
  4. 【請求項4】 プリント基板とこのプリント基板上に実
    装された部品との間隙を部品側面から照明する照明手段
    と、 当該部品を挟んで照明手段に対向する位置に配置され、
    プリント基板と部品との間隙の透過光を撮像する撮像手
    段と、 照明手段および撮像手段を被検査対象の部品に対し所定
    の検査位置に移動配置する移動配置手段と、 撮像手段で撮像した透過光に基づいて部品をプリント基
    板に実装固定している半田付け状態を判定する判定手段
    を有することを特徴とする部品検査装置。
  5. 【請求項5】 前記照明手段は、光源と、光源からの光
    を照明部位に誘導する光誘導手段を具備し、また、前記
    撮像手段は、カメラと、このカメラに被撮像光を誘導す
    る光誘導手段を具備することを特徴とする請求項1また
    は4記載の部品検査装置。
JP36141597A 1997-12-26 1997-12-26 部品検査装置 Pending JPH11190703A (ja)

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JP36141597A JPH11190703A (ja) 1997-12-26 1997-12-26 部品検査装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013132638A1 (ja) * 2012-03-08 2013-09-12 富士通株式会社 電子部品検査装置及び方法
JP2021148532A (ja) * 2020-03-18 2021-09-27 日本電気株式会社 電子装置の検査装置及び検査方法

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