JPH11201895A - Inspection method for internal heterogeneity of optical member and tool glass - Google Patents
Inspection method for internal heterogeneity of optical member and tool glassInfo
- Publication number
- JPH11201895A JPH11201895A JP10006236A JP623698A JPH11201895A JP H11201895 A JPH11201895 A JP H11201895A JP 10006236 A JP10006236 A JP 10006236A JP 623698 A JP623698 A JP 623698A JP H11201895 A JPH11201895 A JP H11201895A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical member
- image
- test sample
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 研磨加工を不要とし、簡易に、光学ガラス部
材の内部不均質を検査することを実現する。
【解決手段】 工具ガラス32aは、光学部材24の表
面に嵌合可能な第1の表面34aと、この第1の表面3
4aに対向する平面光学研磨面である第2の表面34b
とを有している。工具ガラス32bは、光学部材24の
表面に嵌合可能な第1の表面36aと、この第1の表面
36aに対向する平面光学研磨面である第2の表面36
bとを有している。これら工具ガラスは、光学部材を介
して互いに対向するような形で、それぞれ光学部材の表
面に装着されている。これら工具ガラスの装着は、各々
の第2の表面が互いに平行となるように行う。そして、
検査時には、例えば、工具ガラス32aの第2の表面3
4bが光の入射面となり、工具ガラス32bの第2の表
面36bが光の出射面となる。従って、このように構成
すると、検査試料12の入射面34bおよび出射面36
bを実質的に平行になすことができる。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To easily inspect the internal heterogeneity of an optical glass member without the need for polishing. SOLUTION: A tool glass 32a has a first surface 34a which can be fitted on a surface of an optical member 24, and a first surface 3a.
Second surface 34b which is a flat optically polished surface facing 4a
And The tool glass 32b includes a first surface 36a that can be fitted to the surface of the optical member 24, and a second surface 36 that is a planar optical polishing surface facing the first surface 36a.
b. These tool glasses are respectively mounted on the surface of the optical member in such a manner as to face each other via the optical member. The mounting of these tool glasses is performed such that the respective second surfaces are parallel to each other. And
At the time of inspection, for example, the second surface 3 of the tool glass 32a
4b serves as a light incident surface, and the second surface 36b of the tool glass 32b serves as a light emitting surface. Therefore, with this configuration, the incident surface 34b and the output surface 36 of the test sample 12 are formed.
b can be substantially parallel.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、光学部材の内部
不均質の検査方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting the inside of optical members for inhomogeneity.
【0002】[0002]
【従来の技術】光学部材を製造する際には、製造過程に
おける溶融時の諸条件の揺らぎ等によって、ガラス部材
の内部に、脈理、泡、微小泡および微結晶といった内部
不均質が発生することがある。そのため、製造されたガ
ラス部材は、品質保証のためにその内部不均質の検査を
行う必要がある。例えば、石英ガラスの場合、内部不均
質の検査にあたって、インゴットを適当な間隔で輪切り
にして円筒形の光学ガラス部材(以下、単に部材とも称
する。)を切り出す。そして、切り出された各部材毎
に、目視またはピンホール法といった方法を用いて内部
不均質の検査を行っていた。目視による検査とは、例え
ば、部材を光にかざして内部不均質を肉眼で見つける方
法である。また、ピンホール法を用いた方法では、例え
ば、日本光学硝子工業会規格の「光学ガラスの脈理の測
定方法(JOGIS11−1975)」が用いられてい
る。また、泡の検査方法としては、例えば、日本光学硝
子工業会規格の「光学ガラスの泡の測定方法(JOGI
S12−1994)」が用いられている。また、微結晶
および微小泡の検査方法としては、例えば、日本光学硝
子工業会規格の「光学ガラスの異物の測定方法(JOG
IS13−1994)」が用いられている。2. Description of the Related Art When manufacturing an optical member, internal inhomogeneities such as striae, bubbles, fine bubbles, and microcrystals are generated in a glass member due to fluctuations in various conditions during melting in a manufacturing process. Sometimes. Therefore, the manufactured glass member needs to be inspected for internal heterogeneity for quality assurance. For example, in the case of quartz glass, when inspecting for internal heterogeneity, a cylindrical optical glass member (hereinafter, also simply referred to as a member) is cut out by cutting an ingot into rings at appropriate intervals. Then, for each of the cut-out members, inspection for internal heterogeneity was performed by using a method such as visual observation or a pinhole method. The visual inspection is, for example, a method in which a member is exposed to light to find internal inhomogeneity with the naked eye. Further, in the method using the pinhole method, for example, “Method for measuring striae of optical glass (JOGIS 11-1975)” of the Japan Optical Glass Industrial Association is used. In addition, as a method for inspecting bubbles, for example, “Method for measuring bubbles in optical glass (JOGI)” of the Japan Optical Glass Industrial Association
S12-1994) ". Examples of the method for inspecting microcrystals and microbubbles include, for example, “Method for measuring foreign matter in optical glass (JOG)” of the Japan Optical Glass Industrial Association.
IS13-1994) ".
【0003】そして、これらの検査の方法においては、
いずれも内部不均質の像(観察像)を得るために、検査
する部材の相対する2面を平行に光学研磨し、これら光
学研磨面をそれぞれ光の入射面および出射面として検査
を行っていた。さらに、光学研磨の加工の手間を省くた
めに、部材の相対する2面を平行に研削して、そこに部
材と同じ屈折率を有するマッチングオイルを塗布し、平
面の光学研磨ガラスを当てて光学面を得るオイルオンプ
レート法も一般的に行われていた。[0003] In these inspection methods,
In each case, two opposing surfaces of the member to be inspected were optically polished in parallel in order to obtain an image of an internal heterogeneity (observed image), and the inspection was performed using these optically polished surfaces as a light incident surface and a light emitting surface, respectively. . Furthermore, in order to save the labor of optical polishing, two opposing surfaces of the member are ground in parallel, a matching oil having the same refractive index as the member is applied thereto, and a flat optically polished glass is applied thereto. The oil-on-plate method for obtaining a surface has also been commonly used.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】近年、レーザ精密加工
や光リソグラフィ技術の進歩に伴い、より高精度な光学
設計および制御が要求されている。そのため、使用され
る光学ガラス部材の内部均質への要求も高まり、光学素
子として使用する光学研磨面方向(光軸方向)のみなら
ず、光学研磨を施さない横方向(光軸方向に垂直な方
向)の内部均質の把握や制御も必要となっている。In recent years, with the advance of laser precision processing and optical lithography technology, higher precision optical design and control have been required. For this reason, there is an increasing demand for the internal homogeneity of the optical glass member to be used, and not only in the optically polished surface direction (optical axis direction) used as an optical element, but also in the lateral direction without optical polishing (in the direction perpendicular to the optical axis direction). It is also necessary to understand and control the internal homogeneity of).
【0005】そこで、従来より、光学研磨面以外に、横
方向の内部均質の検査が可能な光学面を作る作業が行わ
れていた。図6は、上述した各検査方法に基づいて検査
するために光学ガラス部材の横方向に施した研磨加工の
例を示す平面図である。図6に示す光学ガラス部材10
0は、加工前はほぼ円筒形状のものであり、図6にはそ
の上面(あるいは下面)側が示されている。光学研磨
は、光学ガラス部材100の円筒面に対して行われる。
図6に示すように、光学研磨により、相対する平行な2
面がそれぞれ入射面100aおよび出射面100bとし
て形成される。図中の破線aは、光学素子の完成サイズ
を示すものである。このように、内部均質を検査するた
めには研磨加工代(破線aより外側の部分)が必要とな
る。従って、このような円筒形の光学ガラス部材に対し
て、横方向(図6の矢印bで示す方向)から光を照射し
て検査する場合には、円筒面を研削する必要があるた
め、検査後の部材からできあがる光学素子のサイズはも
との部材よりも一回り小さくなるという問題があった。
また、広い視野で内部不均質を検査するためには、光学
面を複数にしたり、あるいは比較的広い範囲を研磨加工
する必要があった。[0005] Therefore, conventionally, there has been performed an operation of forming an optical surface capable of inspecting the inside in the lateral direction in addition to the optically polished surface. FIG. 6 is a plan view showing an example of a polishing process performed on the optical glass member in a lateral direction for inspection based on the above-described inspection methods. Optical glass member 10 shown in FIG.
Reference numeral 0 denotes a substantially cylindrical shape before processing, and FIG. 6 shows the upper surface (or lower surface) thereof. The optical polishing is performed on the cylindrical surface of the optical glass member 100.
As shown in FIG. 6, two parallel and
The surfaces are formed as an entrance surface 100a and an exit surface 100b, respectively. The broken line a in the figure indicates the completed size of the optical element. As described above, in order to inspect the internal homogeneity, a polishing allowance (a portion outside the broken line a) is required. Accordingly, when such a cylindrical optical glass member is inspected by irradiating light from the lateral direction (the direction indicated by the arrow b in FIG. 6), it is necessary to grind the cylindrical surface. There is a problem that the size of the optical element formed from the later member is slightly smaller than the original member.
Further, in order to inspect the internal heterogeneity with a wide field of view, it is necessary to use a plurality of optical surfaces or to grind a relatively wide area.
【0006】従って、従来より、研磨加工が不要であ
り、簡易に、光学ガラス部材の内部不均質を検査するこ
とが望まれていた。[0006] Therefore, it has been desired to simply inspect the internal inhomogeneity of an optical glass member without the need for polishing.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】そこで、この発明の光学
部材の内部均質の検査方法によれば、光学部材を含む検
査試料に光を照射して得られる観察像によってこの光学
部材の内部均質を検査するにあたり、光学部材の表面
に、当該表面に嵌合可能な面を有した工具ガラスを装着
することにより、検査試料の光の入射面および出射面を
実質的に平行にすることを特徴とする。According to the method for inspecting the homogeneity of the inside of an optical member according to the present invention, the homogeneity of the inside of the optical member is determined by an observation image obtained by irradiating a test sample including the optical member with light. Upon inspection, by mounting a tool glass having a surface that can be fitted to the surface of the optical member, the light incident surface and the light exit surface of the test sample are made substantially parallel. I do.
【0008】このように、この検査方法によれば、検査
を行う光学部材の表面に、検査光に対して透明な工具ガ
ラスを装着する。好ましくは、この工具ガラスは、検査
対象の光学部材の屈折率と同じものとする。この工具ガ
ラスは、光学部材の表面と一致する形状の面を有してい
る。従って、この面を光学部材の表面に沿わせた状態で
合わせることができる。また、この工具ガラスの、光学
部材に接合する面と対向する面が平面(光学研磨面)と
なっている。このような工具ガラスを用いれば、検査試
料の光の入射面および出射面を実質的に平行にすること
ができる。よって、従来のように光学部材を研磨する必
要がなくなる。As described above, according to this inspection method, a tool glass transparent to the inspection light is mounted on the surface of the optical member to be inspected. Preferably, the tool glass has the same refractive index as the optical member to be inspected. This tool glass has a surface whose shape matches the surface of the optical member. Therefore, the surfaces can be aligned with the surface of the optical member. The surface of the tool glass facing the surface to be bonded to the optical member is a flat surface (optically polished surface). By using such a tool glass, the light entrance surface and the light exit surface of the test sample can be made substantially parallel. Therefore, it is not necessary to grind the optical member as in the related art.
【0009】この発明の光学部材の内部不均質の検査方
法において、好ましくは、第1の方向から検査試料に光
を照射して観察像が得られた場合、検査試料の光の入射
面および出射面の少なくとも一方の表面上であって印の
像が観察像と実質的に重なる位置に当該印を付け、検査
試料の入射面に対して第1の方向とは異なる第2の方向
から検査試料に光を照射したときに観察像と印の像とが
実質的に重なった場合、観察像が光学部材の内部不均質
に由来するものではなく印を付けた表面に由来するもの
と判断すると良い。In the method for inspecting internal heterogeneity of an optical member according to the present invention, preferably, when an inspection image is obtained by irradiating the inspection sample with light from the first direction, the light incident surface and the emission surface of the inspection sample light. At least one of the surfaces is marked at a position where the image of the mark substantially overlaps the observed image, and the test sample is placed in a second direction different from the first direction with respect to the incident surface of the test sample. If the observed image and the image of the mark substantially overlap when irradiating light, it is good to judge that the observed image is not derived from the internal heterogeneity of the optical member but is derived from the marked surface. .
【0010】このように、第1の方向とは異なる第2の
方向から光学ガラスに光を照射したときに観察像と印の
像とが実質的に重なった場合、その観察像が光学ガラス
の内部不均質に由来するものではなく、印を付けた表面
に由来するものと判断する。また、観察像が内部不均質
に由来する場合は観察像と印の像とが重ならない。従っ
て、観察像と印の像との重なり方によって、その観察像
が光学ガラスの内部不均質に由来するものか、印を付け
た表面に由来するものかを容易に判断することができ
る。従って、光学ガラスの内部不均質のより確実な検査
方法の実現を図ることができる。As described above, when the observation image and the image of the mark substantially overlap each other when the optical glass is irradiated with light from the second direction different from the first direction, the observation image is formed on the optical glass. Judgment is not due to internal heterogeneity, but to the marked surface. When the observed image is derived from internal heterogeneity, the observed image and the image of the mark do not overlap. Therefore, it is possible to easily determine whether or not the observed image is derived from the internal heterogeneity of the optical glass or from the marked surface, depending on how the observed image and the image of the mark overlap. Therefore, it is possible to realize a more reliable inspection method for the internal heterogeneity of the optical glass.
【0011】また、この発明の光学部材の内部不均質の
検査方法において、好ましくは、印として、入射面に入
射側印、および出射面に出射側印を付け、第2の方向か
ら光を照射したときの、入射側印の像と出射側印の像と
の距離に対する、観察像と入射側印の像および出射側印
の像の少なくとも一方との距離の比率に基づいて、内部
不均質の位置を求めると良い。In the method for inspecting the internal heterogeneity of an optical member according to the present invention, it is preferable that a mark is provided on an incident surface on an entrance surface and a mark on an exit surface is provided on an exit surface, and light is irradiated from a second direction. When, the distance between the image of the incident side mark and the image of the exit side mark, based on the ratio of the distance between the observed image and at least one of the image of the entrance side mark and the image of the exit side mark, the internal heterogeneity Find the position.
【0012】このように、入射側印および出射側印を付
ければ、内部不均質の位置を求めることができる。As described above, if the incident side mark and the output side mark are attached, the position of the internal inhomogeneity can be obtained.
【0013】また、この発明の光学部材の内部不均質の
検査方法において、光学部材が石英ガラスである場合は
石英ガラスインゴットまたはこのインゴットから切り出
された部材を検査試料とすることが好ましい。In the method for inspecting internal heterogeneity of an optical member according to the present invention, when the optical member is quartz glass, a quartz glass ingot or a member cut out of the ingot is preferably used as an inspection sample.
【0014】このように、石英ガラスインゴットの内部
不均質の位置を求めることができれば、インゴットの切
断にあたり、例えば、内部不均質の存在する位置で切断
することによって、内部不均質の少ない複数の光学部材
を効率よく切り出すことが可能となる。また、インゴッ
トの切断にあたり、例えば、複数の内部不均質が近接し
て存在している場合には、これらの内部不均質が含まれ
る部材の厚さが薄くなるようにインゴットを切断するこ
とができる。また、部材の内部不均質の位置を求めるこ
とができれば、この内部不均質を避けて、この部材をさ
らに切断することによって、内部不均質が含まれない一
回り小さな部材を切り出して得ることができる。As described above, if the position of the internal inhomogeneity of the quartz glass ingot can be determined, when cutting the ingot, for example, by cutting at a position where the internal inhomogeneity exists, a plurality of optical elements with less internal inhomogeneity can be obtained. The members can be cut out efficiently. Further, in cutting the ingot, for example, when a plurality of internal inhomogeneities are present in close proximity, the ingot can be cut so that the thickness of the member including these internal inhomogeneities is reduced. . Further, if the position of the internal heterogeneity of the member can be obtained, it is possible to cut out a slightly smaller member that does not include the internal heterogeneity by further cutting this member, avoiding the internal heterogeneity. .
【0015】従って、内部不均質の位置を求めることが
できれば、良品効率の向上を図ることができる。ここ
で、良品効率(若しくは、良品率)とは、例えば、イン
ゴットの質量Wに対する、内部不均質が検出されなかっ
た部材の合計の質量wの比率(w/W)として表され
る。Therefore, if the position of the internal inhomogeneity can be obtained, the efficiency of non-defective products can be improved. Here, the non-defective product efficiency (or non-defective product ratio) is expressed, for example, as a ratio (w / W) of the total mass w of the members in which the internal inhomogeneity was not detected to the mass W of the ingot.
【0016】また、この発明の光学部材の内部不均質の
検査方法において、好ましくは、光学部材に照射する光
をピンホールを介した照射光とすると良い。In the method for inspecting the inside of an optical member for inhomogeneity according to the present invention, it is preferable that the light applied to the optical member is irradiated light via a pinhole.
【0017】ピンホールを介した照射光を用いたいわゆ
るピンホール法を用いれば、簡単な構造で、内部不均質
の検査を行うことができる。The use of the so-called pinhole method using irradiation light through a pinhole allows a simple structure to be used to inspect for internal heterogeneity.
【0018】また、この発明の光学部材の内部不均質の
検査方法において、好ましくは、光学部材に照射する光
をシュリーレン光学系における照射光とすると良い。In the method for inspecting the inside of an optical member for inhomogeneity according to the present invention, it is preferable that the light applied to the optical member be the irradiation light in the schlieren optical system.
【0019】シュリーレン光学系を用いれば、暗いバッ
クグラウンドに明るい像として観察像および印の像を得
ることができるので、より精度良く内部不均質の検査を
行うことができる。If the schlieren optical system is used, the observation image and the image of the mark can be obtained as a bright image on a dark background, so that the internal heterogeneity can be inspected with higher accuracy.
【0020】また、この発明の光学部材の内部不均質の
検査方法において、好ましくは、シュリーレン光学系に
おける照射光を平行光とし、この平行光と平行でない軸
を回転軸として検査試料を回転させて、入射面に対する
平行光の入射角度を第1の方向の角度とは異なる角度に
変えることによって、第2の方向から検査試料に平行光
を照射すると良い。In the method for inspecting the internal heterogeneity of an optical member according to the present invention, preferably, the irradiation light in the schlieren optical system is set to parallel light, and the inspection sample is rotated using an axis which is not parallel to the parallel light as a rotation axis. By changing the incident angle of the parallel light on the incident surface to an angle different from the angle in the first direction, the inspection sample may be irradiated with the parallel light from the second direction.
【0021】このように、シュリーレン光学系における
検査試料を照射する照射光を平行光とすれば、試料を回
転させて、検査試料の入射面に対する入射角度を変える
だけで、容易に第2の方向からの照射光を得ることがで
きる。As described above, if the irradiation light for irradiating the test sample in the schlieren optical system is parallel light, the sample can be rotated and the incident angle of the test sample to the incident surface can be easily changed in the second direction. Irradiation light can be obtained.
【0022】また、この発明の工具ガラスによれば、光
学部材を含む検査試料に光を照射して得られる観察像に
よってこの光学部材の内部不均質を検査するときに用い
られ、光学部材の表面に嵌合可能な第1の表面と、この
第1の表面に対向する平面光学研磨面である第2の表面
とを有していることを特徴とする。Further, according to the tool glass of the present invention, it is used when inspecting the internal heterogeneity of the optical member by an observation image obtained by irradiating the inspection sample including the optical member with light, and the surface of the optical member is used. And a second surface which is a flat optically polished surface facing the first surface.
【0023】このように、この工具ガラスは、光学部材
の表面と一致する形状の第1の表面を有している。従っ
て、この面を光学部材の表面に沿わせた状態で合わせる
ことができる。また、この工具ガラスの、光学部材に接
合する面と対向する第2の表面が平面光学研磨面となっ
ている。このような工具ガラスを用いれば、検査試料の
光の入射面および出射面を実質的に平行にすることがで
きる。よって、従来のように光学部材を研削等する必要
がなくなる。As described above, the tool glass has the first surface having a shape corresponding to the surface of the optical member. Therefore, the surfaces can be aligned with the surface of the optical member. The second surface of the tool glass opposite to the surface to be bonded to the optical member is a planar optical polished surface. By using such a tool glass, the light entrance surface and the light exit surface of the test sample can be made substantially parallel. Therefore, it is not necessary to grind the optical member as in the related art.
【0024】この発明の工具ガラスにおいて、好ましく
は、第1の表面を、光学研磨面としてあると良い。In the tool glass of the present invention, the first surface is preferably an optically polished surface.
【0025】また、この発明の工具ガラスにおいて、好
ましくは、光学部材の屈折率と実質的に等しい屈折率を
有する材料で構成してあると良い。The tool glass of the present invention is preferably made of a material having a refractive index substantially equal to the refractive index of the optical member.
【0026】このように構成すれば、工具ガラスは検査
光に対して透明となり、接合面における反射、屈折、散
乱などを抑制できる。According to this structure, the tool glass becomes transparent to the inspection light, and it is possible to suppress reflection, refraction, scattering and the like at the joint surface.
【0027】[0027]
【発明の実施の形態】以下、図を参照して、この実施の
形態の光学部材の内部不均質の検査方法につき説明す
る。尚、参照する図は、この発明が理解できる程度に各
構成成分の大きさ、形状および配置関係を概略的に示し
ており、この発明は図示例にのみ限定されるものではな
い。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view showing a method of inspecting an optical member for inhomogeneity in an optical member according to an embodiment of the present invention; It should be noted that the drawings referred to schematically show the size, shape, and arrangement relationship of each component so that the present invention can be understood, and the present invention is not limited to the illustrated examples.
【0028】一般に、光学素子の性能は、最終的な形状
例えばレンズになってはじめて分かるものである。しか
し、加工途中の半製品(光学部材)の段階で、内部不均
質を把握し、最終の製品である光学素子の性能を予想で
きれば、生産性および良品率を高めることができる。従
来の検査方法においては、内部不均質を評価するための
検査試料を用いていたために、光学素子の使用状況に近
い形での評価が困難であった。特に、内部不均質のうち
でも脈理は屈折率の不均質部分であるために、試料の厚
さや傾きに依存して見え方が変化する。そのため、ある
程度厚い試料を用いた方が肉眼では検査しやすく、光学
素子の使用状況に近い形での評価がしづらかった。この
実施の形態で説明する検査方法および工具ガラスによれ
ば、上述したような不都合がなくなる。In general, the performance of an optical element can be known only when it has a final shape such as a lens. However, if the internal heterogeneity is grasped at the stage of a semi-finished product (optical member) during processing and the performance of the optical element as the final product can be predicted, the productivity and the yield rate can be increased. In the conventional inspection method, since an inspection sample for evaluating internal heterogeneity was used, it was difficult to evaluate the optical element in a form close to the usage state. In particular, among the internal inhomogeneities, since the striae are inhomogeneous portions of the refractive index, the appearance changes depending on the thickness and inclination of the sample. Therefore, it was easier to inspect with the naked eye when a somewhat thick sample was used, and it was difficult to evaluate the optical element in a form close to the usage state. According to the inspection method and the tool glass described in this embodiment, the above-described inconvenience is eliminated.
【0029】この実施の形態の検査方法につき説明す
る。この実施の形態では、光学部材を含む検査試料に光
を照射して観察像を得て、この観察像に基づいて光学部
材の内部均質を検査する。その際に、光学部材の表面
に、当該表面に嵌合可能な面を有した工具ガラスを装着
することにより、検査試料の光の入射面および出射面を
実質的に平行にする。先ず、工具ガラスの構成および工
具ガラスの光学部材への装着の仕方について、図1を参
照して説明する。図1は、工具ガラスの構成を示す図で
ある。An inspection method according to this embodiment will be described. In this embodiment, an inspection sample including an optical member is irradiated with light to obtain an observation image, and the homogeneity inside the optical member is inspected based on the observation image. At this time, by attaching a tool glass having a surface that can be fitted to the surface of the optical member, the light entrance surface and the light exit surface of the test sample are made substantially parallel. First, the configuration of the tool glass and how to attach the tool glass to the optical member will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of the tool glass.
【0030】図1の(A)は、工具ガラスを検査対象の
光学部材に装着したところを示す平面図である。図1
(A)に示すように、この例では、検査対象として円筒
形状の光学部材24を用いている。図1(A)には、光
学部材24の上面側(あるいは下面側)が示されてい
る。この光学部材24は、例えば石英ガラス部材であ
る。そして、この光学部材24の円筒状の面(以下、単
に円筒面と略称する。)に工具ガラス32aおよび32
bを装着して検査試料12とする。FIG. 1A is a plan view showing a state where a tool glass is mounted on an optical member to be inspected. FIG.
As shown in (A), in this example, a cylindrical optical member 24 is used as an inspection target. FIG. 1A shows the upper surface side (or the lower surface side) of the optical member 24. The optical member 24 is, for example, a quartz glass member. The cylindrical surfaces of the optical member 24 (hereinafter simply abbreviated as cylindrical surfaces) have tool glasses 32a and 32a.
The test sample 12 is attached by attaching the sample b.
【0031】上述した工具ガラス32aおよび32b
は、それぞれ同じ形状のものである。図1(B)は、工
具ガラス32aの形状を示す斜視図である。図1(B)
に示すように、この工具ガラス32aは、光学部材24
の表面に嵌合可能な第1の表面34aと、この第1の表
面34aに対向する平面光学研磨面である第2の表面3
4bとを有している。すなわち、工具ガラス32aは、
円筒面の第1の表面34aと平面の第2の表面34bと
を有したシリンドリカルレンズ形状のガラス部材であ
る。The above-mentioned tool glasses 32a and 32b
Have the same shape. FIG. 1B is a perspective view showing the shape of the tool glass 32a. FIG. 1 (B)
As shown in FIG. 3, the tool glass 32a is
And a second surface 3 which is a planar optically polished surface facing the first surface 34a.
4b. That is, the tool glass 32a is
This is a cylindrical lens-shaped glass member having a cylindrical first surface 34a and a flat second surface 34b.
【0032】工具ガラス32aおよび32bは、光学部
材24を介して互いに対向するような形で、それぞれ光
学部材24の表面に装着されている。これら工具ガラス
32aおよび32bの装着は、各々の第2の表面34b
および36bが互いに平行となるように行う。そして、
検査時には、例えば、工具ガラス32aの第2の表面3
4bが光の入射面となり、工具ガラス32bの第2の表
面36bが光の出射面となる。従って、このように構成
した結果、検査試料12の入射面34bおよび出射面3
6bを実質的に平行になすことができる。The tool glasses 32a and 32b are mounted on the surface of the optical member 24 so as to face each other via the optical member 24. The mounting of these tool glasses 32a and 32b is carried out on each second surface 34b.
And 36b are parallel to each other. And
At the time of inspection, for example, the second surface 3 of the tool glass 32a
4b serves as a light incident surface, and the second surface 36b of the tool glass 32b serves as a light emitting surface. Therefore, as a result of such a configuration, the entrance surface 34b and the exit surface 3
6b can be substantially parallel.
【0033】尚、工具ガラス32aおよび32bは、そ
れぞれ光学部材24の屈折率と実質的に等しい屈折率を
有する材料で構成してある。このようにすれば、これら
工具ガラス32aおよび32bは検査光に対して透明で
あり、また、光学部材24との接合面における検査光の
反射、屈折、散乱等を抑止することができる。The tool glasses 32a and 32b are each made of a material having a refractive index substantially equal to the refractive index of the optical member 24. In this way, the tool glasses 32a and 32b are transparent to the inspection light, and the reflection, refraction, scattering, and the like of the inspection light at the joint surface with the optical member 24 can be suppressed.
【0034】また、工具ガラス32aの第1の表面34
aおよび工具ガラス32bの第1の表面36aは、それ
ぞれ光学研磨してあるのが良い。このように光学研磨し
ておけば、いわゆるオイルオンプレート法を用いる必要
もない。これら工具ガラス32aおよび32bの第1の
表面34aおよび36aが、単なる研削面の場合には、
オイルオンプレート法を実行する必要がある。この場合
には、工具ガラス32aの第1の表面34aと光学部材
24の表面との間、および工具ガラス32bの第1の表
面36aと光学部材24の表面との間に、それぞれマッ
チングオイルを塗布してから装着を行う。このマッチン
グオイルとして、光学部材24の屈折率と同じ屈折率の
ものを用いるのが好ましい。The first surface 34 of the tool glass 32a
a and the first surface 36a of the tool glass 32b are preferably optically polished. If optical polishing is performed in this manner, there is no need to use a so-called oil-on-plate method. When the first surfaces 34a and 36a of these tool glasses 32a and 32b are merely ground surfaces,
It is necessary to perform an oil-on-plate method. In this case, a matching oil is applied between the first surface 34a of the tool glass 32a and the surface of the optical member 24 and between the first surface 36a of the tool glass 32b and the surface of the optical member 24, respectively. And then attach it. It is preferable to use a matching oil having the same refractive index as that of the optical member 24 as the matching oil.
【0035】次に、上述した検査試料12を用いて、光
学部材24の内部不均質の検査を行う手順につき説明す
る。Next, a procedure for inspecting the inside of the optical member 24 for inhomogeneity using the above-described inspection sample 12 will be described.
【0036】この実施の形態で説明する検査方法では、
検査精度が、工具ガラスの平面光学研磨面(面34b、
36b)、接合面(面34a、36a)、被検物(光学
部材24)の検査面の加工精度およびマッチングオイル
の選択により決定される。研削面の表面粗さはマッチン
グオイルと同様に被検物の屈折率により決定される。被
検物が高い屈折率を有する場合は、空気との界面での散
乱量が増加するため、表面粗さを小さくする必要があ
る。また、被検物は比較的厚みを有しているために、被
検物の検査波長における透過率も検査精度に大きな影響
を与える。In the inspection method described in this embodiment,
Inspection accuracy is flat optically polished surface of tool glass (surface 34b,
36b), the bonding surface (surfaces 34a, 36a), the processing accuracy of the inspection surface of the test object (optical member 24), and the selection of the matching oil. The surface roughness of the ground surface is determined by the refractive index of the test object as in the case of the matching oil. When the test object has a high refractive index, the amount of scattering at the interface with air increases, so that it is necessary to reduce the surface roughness. In addition, since the test object has a relatively large thickness, the transmittance of the test object at the test wavelength also has a large effect on the test accuracy.
【0037】また、被検査物は通常の光学ガラスや石英
ガラスのほか、蛍石等の光学結晶材料であっても検査が
可能である。特に、光学結晶材料は加工が難しく高価で
あるために、この実施の形態の検査方法は有効である。The object to be inspected can be inspected not only with ordinary optical glass and quartz glass but also with an optical crystal material such as fluorite. In particular, since the optical crystal material is difficult to process and expensive, the inspection method of this embodiment is effective.
【0038】上述したように、工具ガラスを配した被検
物を検査試料とすることで、光学部材を小さく加工する
ことなく内部均質を検査することが可能となった。さら
に、本検査試料12は、様々な検査方法に対応できる。
具体的な検査方法としては、一般的な目視、投影法、シ
ュリーレン法、干渉法等を用いることができる。ただ
し、最も検査者の熟練を要さず、検査操作が容易で装置
が簡易に済むのは投影法である。As described above, by using the test object on which the tool glass is disposed as an inspection sample, it is possible to inspect the internal homogeneity without working the optical member small. Further, the present test sample 12 can support various test methods.
As a specific inspection method, general visual observation, a projection method, a Schlieren method, an interference method, or the like can be used. However, it is the projection method that requires the least skill of the inspector, facilitates the inspection operation, and simplifies the apparatus.
【0039】(第1の実施の形態)以下、図2を参照し
て、検査方法の一例につき説明する。この実施の形態で
は、上述した検査試料12に対して、ピンホール法を用
いた場合の光学部材の内部不均質の検査方法の例につい
て説明する。図2は、第1の実施の形態の光学部材の内
部不均質の検査方法の説明に供する概念図である。(First Embodiment) An example of the inspection method will be described below with reference to FIG. In this embodiment, an example of a method for inspecting the above-described inspection sample 12 for inhomogeneity inside an optical member when a pinhole method is used will be described. FIG. 2 is a conceptual diagram for explaining a method for inspecting an optical member for inhomogeneity inside according to the first embodiment.
【0040】第1の実施の形態においては、暗室に、光
源10、検査試料12およびスクリーン14を順に並べ
て、この光源10から検査試料12に光を照射し、検査
試料12を透過してスクリーン14に投影される観察像
を観察する。In the first embodiment, the light source 10, the test sample 12, and the screen 14 are arranged in order in a dark room, and the light source 10 irradiates the test sample 12 with light. Observe the observation image projected on.
【0041】ここでは、光源10として、450Wの超
高圧水銀灯を用いる。また、この超高圧水銀灯が格納さ
れたランプハウス16には、光源10のフレアを除去す
るためにピンホール18を設ける。このピンホール18
から出射した光を、迷光を除去し、かつ、検査光束を整
えるために凸レンズ20および絞り22を介して検査試
料12に照射する。検査試料12を透過した光は、スク
リーン14に達する。ここでは、スクリーン14とし
て、光がスクリーン上で乱反射せずに観察像が見えやす
いものとして、印刷用紙A、JISP3101(印刷用
紙)に規定する程度のものを用いると良い。また、スク
リーン14としては、例えばアクリル板に白色の塗料を
むらなく塗布したものを用いても良い。Here, a 450 W ultra-high pressure mercury lamp is used as the light source 10. Further, a pinhole 18 is provided in the lamp house 16 in which the ultrahigh-pressure mercury lamp is stored in order to remove flare of the light source 10. This pinhole 18
Is emitted to the inspection sample 12 through the convex lens 20 and the stop 22 in order to remove stray light and adjust the inspection light flux. The light transmitted through the test sample 12 reaches the screen 14. Here, as the screen 14, it is preferable to use a screen that is defined by the printing paper A and the JISP 3101 (printing paper) so that the observation image is easily visible without irregular reflection of light on the screen. Further, as the screen 14, for example, a screen in which a white paint is uniformly applied to an acrylic plate may be used.
【0042】そして、検査試料12に内部不均質があれ
ば、その投影像がスクリーン14上に観察像として投影
される。尚、ピンホール18の大きさを小さくすると、
スクリーン14上に投影される観察像の解像度は向上す
るが、光量は低下する。一方、ピンホール18の大きさ
を大きくすると、観察像の解像度は低下するが、光量は
増加する。そこで、この実施の形態においては、スクリ
ーン上における照度が例えば100ルクス以上となるよ
うに、ピンホール18の大きさおよび光源10とスクリ
ーン14との距離を調整する。If the inspection sample 12 has internal inhomogeneity, the projected image is projected on the screen 14 as an observation image. When the size of the pinhole 18 is reduced,
The resolution of the observation image projected on the screen 14 is improved, but the light amount is reduced. On the other hand, when the size of the pinhole 18 is increased, the resolution of the observed image is reduced, but the light amount is increased. Therefore, in this embodiment, the size of the pinhole 18 and the distance between the light source 10 and the screen 14 are adjusted so that the illuminance on the screen is, for example, 100 lux or more.
【0043】また、スクリーン14上に投影される観察
像の大きさは、検査試料12の内部不均質の大きさより
も拡大される。この拡大率は、光源10からスクリーン
14までの距離をa、光源10から検査試料12までの
距離をbとすると、a/bで表される。例えば、a=1
35mm、b=60mmの場合の拡大率は、a/b=
2.25となる。The size of the observation image projected on the screen 14 is larger than the size of the internal heterogeneity of the inspection sample 12. This magnification is expressed as a / b, where a is the distance from the light source 10 to the screen 14 and b is the distance from the light source 10 to the test sample 12. For example, a = 1
The magnification in the case of 35 mm and b = 60 mm is a / b =
It becomes 2.25.
【0044】次に、検査試料12について説明する。光
学部材24は、火炎加水分解法によって製造された石英
ガラスのインゴットから切り出された円筒状の部材であ
る。この光学部材24は、直径がΦ200mmであり屈
折率ndが1.4585である。この光学部材24の側
面(円筒面)の研削面は#170の砂掛け面としてあ
る。この側面に、屈折率がnd=1.4585と被検物
の石英ガラス部材と等しく、被検物と同じ形状である円
筒状の研削面を有した工具ガラス32aおよび32bを
装着する。これら工具ガラス32aおよび32bの研削
面は#170の砂掛け面とする。上述したように、これ
ら工具ガラス32aおよび32bは、光学部材24の直
径方向に関して対向するように、被検物の側面に当てら
れる。さらに、被検物すなわち光学部材24と工具ガラ
ス32aおよび32bとの間には、被検物と同じ屈折率
を持つマッチングオイルを塗布し、保持させて内部不均
質の検査が可能な検査光を透過させる光学面を得てい
る。Next, the test sample 12 will be described. The optical member 24 is a cylindrical member cut out from a quartz glass ingot manufactured by a flame hydrolysis method. The optical member 24 has a diameter of 200 mm and a refractive index nd of 1.4585. The ground surface on the side surface (cylindrical surface) of the optical member 24 is a sanding surface of # 170. On this side surface, tool glasses 32a and 32b having a cylindrical ground surface having the same refractive index as the quartz glass member having a refractive index of nd = 1.45885 and the same shape as the subject are attached. The ground surfaces of the tool glasses 32a and 32b are # 170 sanding surfaces. As described above, the tool glasses 32a and 32b are applied to the side surfaces of the test object so as to face each other in the diametrical direction of the optical member 24. Further, a matching oil having the same refractive index as the test object is applied between the test object, that is, the optical member 24 and the tool glasses 32a and 32b, and an inspection light capable of inspecting the inside for inhomogeneity is applied. Obtain an optical surface to transmit.
【0045】従って、光が入射する側の工具ガラス32
aの表面34bが検査試料12の入射面34bとなる。
また、光が出射する側の工具ガラス32bの表面36b
が検査試料12の出射面36bとなる。Therefore, the tool glass 32 on the side where light is incident
The surface 34b of “a” becomes the incident surface 34b of the test sample 12.
The surface 36b of the tool glass 32b on the side from which light is emitted
Becomes the emission surface 36b of the test sample 12.
【0046】そして、光学部材24の内部不均質を検査
するにあたり、先ず、第1の方向から光学部材24に光
を照射する。この実施の形態においては、第1の方向か
らの光を得るために、光軸38が、入射面34bの中央
付近で入射面34bに垂直になるように、検査試料12
を配置する。そして、検査試料12に第1の方向から光
を照射して、スクリーン14上に投影される観察像を観
察する。Then, when inspecting the inside of the optical member 24 for inhomogeneity, first, the optical member 24 is irradiated with light from a first direction. In this embodiment, in order to obtain light from the first direction, the test sample 12 is set so that the optical axis 38 is perpendicular to the incident surface 34b near the center of the incident surface 34b.
Place. Then, the inspection sample 12 is irradiated with light from the first direction, and an observation image projected on the screen 14 is observed.
【0047】一方、観察像が観察されない場合には、光
学部材24のうちの光が透過している部分に内部不均質
がないことが分かる。On the other hand, when the observation image is not observed, it can be understood that there is no internal heterogeneity in the portion of the optical member 24 through which light is transmitted.
【0048】また、観察像が観察された場合には、検査
試料12の光の入射面34bおよび出射面36bの少な
くとも一方の表面上であって、印の像が観察像と実質的
に重なる位置に、マジックやテープで当該印を付ける。
すなわち、検査試料12の光の入射面34bおよび出射
面36bの少なくとも一方の表面上であって、観察像を
通る光路上に印を付ける。ここでは、入射面34b上に
印を付ける。In the case where the observation image is observed, a position on at least one of the light incident surface 34b and the light exit surface 36b of the inspection sample 12 where the mark image substantially overlaps the observation image. To the mark with magic or tape.
That is, a mark is made on at least one of the light incident surface 34b and the light exit surface 36b of the test sample 12 and on the optical path passing through the observation image. Here, a mark is made on the incident surface 34b.
【0049】ところで、内部不均質が存在しない場合に
も、観察像が観察される場合がある。例えば、入射面3
4bや出射面36bに傷や曇がある場合にも、観察像が
観察される。このため、観察像が内部不均質に由来する
ものであるのか、それとも、入射面34bや出射面36
bの傷等によるものであるのかを判断する必要がある。Incidentally, even when there is no internal heterogeneity, an observation image may be observed. For example, the incident surface 3
The observation image is also observed when there is a flaw or fogging on 4b or the exit surface 36b. For this reason, whether the observed image is derived from internal heterogeneity, or whether the incident surface 34b or the exit surface 36
It is necessary to judge whether the damage is caused by the damage of b or the like.
【0050】そこで、この実施の形態では、入射面34
bに対して第1の方向とは異なる第2の方向から光学部
材24に光を照射する。第2の方向から光を照射するた
めに、この実施の形態では、検査試料12を、光軸38
に垂直な面内、すなわち、スクリーン14に平行な面内
で平行移動させる。ピンホール18から出射された光は
広がりを持つ光であって平行光線ではないので、検査試
料12を平行移動することによって、検査試料12の入
射面34bに入射する光の入射角度を第1の方向に対し
て変化させることができる。Therefore, in this embodiment, the incident surface 34
Light is applied to the optical member 24 from a second direction different from the first direction with respect to b. In order to irradiate light from the second direction, in this embodiment, the test sample 12 is moved along the optical axis 38.
, Ie, in a plane parallel to the screen 14. Since the light emitted from the pinhole 18 is a light having a spread and not a parallel ray, the incident angle of the light incident on the incident surface 34b of the test sample 12 is changed by moving the test sample 12 in parallel. It can be changed with respect to the direction.
【0051】そして、第2の方向から検査試料12に光
を照射してスクリーン14に投影された観察像と印の像
とが実質的に重なった場合は、観察像が光学部材24の
内部不均質に由来するものではなく、印を付けた表面に
由来するものと判断する。When the observation image projected on the screen 14 and the image of the mark substantially overlap with each other by irradiating the inspection sample 12 with light from the second direction, the observation image is not reflected inside the optical member 24. It is judged that it does not originate from homogeneity but originates from the marked surface.
【0052】一方、観察像と印の像とが重ならなかった
場合には、観察像が印を付けた表面に由来するものでは
ないと判断する。従って、観察像は、実質的に内部不均
質に由来するものと判断される。On the other hand, if the observed image and the mark image do not overlap, it is determined that the observed image is not derived from the marked surface. Therefore, it is determined that the observed image is substantially derived from internal heterogeneity.
【0053】このように、観察像と印の像との重なり方
によって、その観察像が光学部材24の内部不均質に由
来するものか、印を付けた表面に由来するものかを容易
に判断することができる。従って、光学部材24の内部
不均質のより確実な検査方法の実現を図ることができ
る。As described above, it is easy to judge whether the observed image is derived from the internal heterogeneity of the optical member 24 or the marked surface based on how the observed image and the image of the mark overlap. can do. Therefore, it is possible to realize a more reliable inspection method for the internal heterogeneity of the optical member 24.
【0054】尚、第1の実施の形態では、測定対象の光
学部材24にマッチングオイルを介して工具ガラス32
aおよび32bを装着したが、光学部材24の側面や工
具ガラス32a、32bの表面34a、36aに研磨面
を得れば、マッチングオイルを塗布する必要はない。In the first embodiment, the tool glass 32 is attached to the optical member 24 to be measured via the matching oil.
Although a and 32b are attached, if a polished surface is obtained on the side surface of the optical member 24 or the surfaces 34a and 36a of the tool glasses 32a and 32b, it is not necessary to apply the matching oil.
【0055】また、ここでは、入射面34bにのみ印を
付けたが、この発明では、出射面36bにのみ印を付け
ても良い。また、入射面34bおよび出射面36bの両
方に印を付けても良い。Although only the incident surface 34b is marked here, in the present invention, only the emitting surface 36b may be marked. Further, both the incident surface 34b and the output surface 36b may be marked.
【0056】また、ここでは、第2の方向から光を入射
させるために、検査試料12を平行移動させたが、例え
ば、光軸38と平行でない軸を回転軸として検査試料1
2を回転させて、入射面34bに対する平行光の入射角
度を第1の方向の角度とは異なる角度に変えても良い。In this case, the test sample 12 is translated in order to make light incident from the second direction. However, for example, the test sample 1 is set with an axis that is not parallel to the optical axis 38 as a rotation axis.
2, the incident angle of the parallel light on the incident surface 34b may be changed to an angle different from the angle in the first direction.
【0057】また、第1の実施の形態では、第2の方向
から光を入射させるために、検査試料12を移動させた
が、例えば、第1の方向からの照射の際の光軸38上で
ない位置に光源10を移動させることによって、第1の
方向とは異なる方向から検査試料12へ光を照射しても
良い。In the first embodiment, the test sample 12 is moved so that light is incident from the second direction. For example, the test sample 12 is moved on the optical axis 38 during irradiation from the first direction. By moving the light source 10 to a position other than the first direction, the test sample 12 may be irradiated with light from a direction different from the first direction.
【0058】(第2の実施の形態)第2の実施の形態に
おいては、内部不均質の位置を求める。第2の実施の形
態においては、上述した第1の実施の形態において図2
に示した検査試料12の入射面34bおよび出射面36
bの両方に、第1の方向から光を入射した状態で印を付
ける。入射面34bには、入射側印を付け、出射面36
bには、出射側印を付ける。この入射印の像、出射印の
像および観察像は、スクリーン14上に重なって投影さ
れる。(Second Embodiment) In the second embodiment, the position of the internal heterogeneity is determined. In the second embodiment, FIG.
The incident surface 34b and the exit surface 36 of the test sample 12 shown in FIG.
Both b are marked with light incident from the first direction. The entrance surface 34b is marked on the entrance side, and the exit surface 36
An emission side mark is attached to b. The image of the entrance mark, the image of the exit mark and the observation image are projected on the screen 14 in an overlapping manner.
【0059】そして、第2の実施の形態においても、検
査試料12に、第2の方向から光を照射する。そして、
観察像が入射側印の像または出射側印の像のいずれかと
実質的に重なったままの場合は、観察像は、内部不均質
に由来するものではなく、観察像と実質的に重なった像
がついた面上の傷や曇りに由来するものであることが分
かる。Then, also in the second embodiment, the test sample 12 is irradiated with light from the second direction. And
If the observed image remains substantially overlapping either the image of the entrance mark or the image of the exit mark, the observed image is not due to internal heterogeneity, but rather substantially overlaps the observed image. It can be seen that they are derived from scratches and fogging on the surface with the mark.
【0060】一方、第2の方向から光を照射したとき
に、観察像が、入射側印の像および出射側印の像のいず
れの像とも重ならずに、スクリーン14上に、入射側印
の像、観察像および出射側印の像が順に一直線上に投影
されている場合は、この観察像は内部不均質に由来する
ものであると判断する。On the other hand, when light is irradiated from the second direction, the observation image does not overlap any of the image of the incident side mark and the image of the emission side mark, In the case where the image, the observation image, and the image of the emission side mark are sequentially projected on a straight line, it is determined that the observation image is derived from internal heterogeneity.
【0061】そして、入射側印の像と出射側印の像との
距離に対する、観察像と入射側印の像との距離の比率に
基づいて、内部不均質の位置を求める。例えば、入射側
印の像と出射側印の像との距離がWで、観察像と入射側
印の像との距離がL(<W)である場合は、入射面34
bから、入射面34bと出射面36bとの距離である検
査試料12の厚さにL/Wをかけた深さの位置に内部不
均質があることが分かる。Then, based on the ratio of the distance between the observation image and the image of the incident side mark to the distance between the image of the incident side mark and the image of the exit side mark, the position of the internal heterogeneity is determined. For example, when the distance between the image of the incident side mark and the image of the emission side mark is W and the distance between the observation image and the image of the incident side mark is L (<W), the incident surface 34 is used.
From b, it can be seen that there is internal inhomogeneity at a depth of L / W times the thickness of the test sample 12, which is the distance between the entrance surface 34b and the exit surface 36b.
【0062】さらに、例えば、内部不均質が表面付近の
浅い位置に発見された場合には、光学部材24の内部不
均質に近い表面付近の部分のみを研削することによっ
て、内部不均質を除去することが可能である。このた
め、研削されて一回り小さくなった光学部材24を光学
素子として利用することが可能となる。その結果、良品
効率の向上を図ることができる。Further, for example, when the internal inhomogeneity is found at a shallow position near the surface, the internal inhomogeneity is removed by grinding only the portion of the optical member 24 near the internal inhomogeneity. It is possible. For this reason, it becomes possible to use the optical member 24, which has been slightly reduced by grinding, as an optical element. As a result, non-defective product efficiency can be improved.
【0063】(第3の実施の形態)また、第1および第
2の実施の形態においては、石英ガラスのインゴットか
ら切り出された光学部材24を検査試料12として用い
たが、第3の実施の形態においては、光学部材24を切
り出す前のインゴットを検査試料12に用いる。(Third Embodiment) In the first and second embodiments, the optical member 24 cut out from the quartz glass ingot is used as the test sample 12, but the third embodiment is not limited to the above. In the embodiment, an ingot before cutting out the optical member 24 is used for the test sample 12.
【0064】この実施の形態において、インゴットの検
査試料は、一端が半球状をしたほぼ円筒形の形状をして
おり、その直径は370〜383mmであり、その重量
は197.8kgであった。このインゴットの円筒状の
側面に、石英ガラスの屈折率に近い屈折率を有するマッ
チングオイルの浸液を介して工具ガラス32aおよび3
2bを付けて検査試料12とした。In this embodiment, the test sample of the ingot had a substantially cylindrical shape with one end having a hemispherical shape, a diameter of 370 to 383 mm, and a weight of 197.8 kg. The tool glasses 32a and 3a are placed on the cylindrical side surface of the ingot through a immersion liquid of a matching oil having a refractive index close to that of quartz glass.
Inspection sample 12 was added with 2b.
【0065】尚、インゴットの全長よりも小さな寸法の
工具ガラス32aおよび32bを用いる場合は、検査位
置に応じて、インゴットの側面上に沿って工具ガラス3
2aおよび32bを順に移動させて観察すると良い。
尚、光源10として、超高圧水銀灯を用いているので、
インゴットに光源10からの光を透過させてもスクリー
ン14上で100ルクス以上の明るさを確保することが
できる。When the tool glasses 32a and 32b having a size smaller than the entire length of the ingot are used, the tool glass 3 is moved along the side of the ingot depending on the inspection position.
It is preferable to sequentially move 2a and 32b for observation.
Since an ultra-high pressure mercury lamp is used as the light source 10,
Even if light from the light source 10 is transmitted through the ingot, brightness of 100 lux or more on the screen 14 can be secured.
【0066】次に、図3に、図1に示した検査試料12
の代わりにインゴットを用いた検査試料を観察して発見
された内部不均質を示す。このインゴット40には、微
小泡42、泡44、脈理46および大泡48といった内
部不均質が存在している。Next, FIG. 3 shows the test sample 12 shown in FIG.
9 shows internal heterogeneity found by observing a test sample using an ingot instead of the ingot. The ingot 40 has internal heterogeneity such as micro bubbles 42, bubbles 44, stria 46, and large bubbles 48.
【0067】従来は、インゴットを等間隔で切断して部
材を切り出していたが、切断前に内部不均質の位置が分
かれば、内部不均質が含まれる部材の厚さが薄くなるよ
うにインゴットを切断することができる。図3には、イ
ンゴット40の切断位置を破線I〜VIで示す。各破線の
下端の数字は、インゴット40のヘッド(先端部)から
の長さ(mm)を表す。各破線でインゴット40を切断
することにより、第1〜第7の部材が切り出される。第
1の部材50は、太さの一定でないインゴット40の先
端の部分を切り分けたものである。そして第2の部材5
2および第3の部材54を、厚さ150mmの一定の厚
さで切り出す。また、第4の部材56には、微小泡42
および二つの泡44が含まれている。また、第5の部材
58には、脈理46が含まれている。また、第6の部材
60には、大泡48が含まれている。第4および第6の
部材56、60は、150mmよりも薄い80mmの厚
さでそれぞれ切り出す。また、第5の部材58は、70
mmの厚さで切り出す。そして残りの部分を第7の部材
62として厚さ290mmで切り出す。このように、内
部不均質が含まれる部材の厚さを薄くして切り出すこと
により、良品効率の向上を図ることができる。Conventionally, members have been cut out by cutting the ingot at equal intervals. However, if the position of the internal inhomogeneity is known before cutting, the ingot is cut so that the thickness of the member including internal inhomogeneity is reduced. Can be cut. In FIG. 3, the cutting positions of the ingot 40 are indicated by broken lines I to VI. The number at the lower end of each broken line represents the length (mm) of the ingot 40 from the head (tip). By cutting the ingot 40 at each broken line, the first to seventh members are cut out. The first member 50 is obtained by cutting off the tip portion of the ingot 40 having an irregular thickness. And the second member 5
The second and third members 54 are cut out at a constant thickness of 150 mm. Further, the fourth member 56 includes the microbubbles 42.
And two bubbles 44 are included. The fifth member 58 includes the stria 46. The sixth member 60 contains the large bubbles 48. The fourth and sixth members 56 and 60 are each cut out at a thickness of 80 mm, which is thinner than 150 mm. In addition, the fifth member 58 includes 70
Cut out to a thickness of mm. Then, the remaining part is cut out as a seventh member 62 with a thickness of 290 mm. As described above, by cutting out a member including the internal heterogeneity with a reduced thickness, it is possible to improve non-defective product efficiency.
【0068】また、良品効率の向上を図るためには、内
部不均質の存在する箇所でインゴットを切断することに
より、内部不均質の一部または全部を切り代に含めても
良い。また、内部不均質の近くでインゴットを切断し、
切断面を研削して内部不均質を除去しても良い。Further, in order to improve the efficiency of non-defective products, a part or all of the internal inhomogeneity may be included in the cutting margin by cutting the ingot at a portion where the internal inhomogeneity exists. Also cut the ingot near the internal heterogeneity,
The cut surface may be ground to remove internal heterogeneity.
【0069】(第4の実施の形態)第4の実施の形態に
おいては、図4を参照して、シュリーレン光学系を用い
た場合の光学部材の内部不均質の検査方法の例について
説明する。図4は、第4の実施の形態の光学部材の内部
不均質の検査方法の説明に供する概念図である。(Fourth Embodiment) In the fourth embodiment, an example of a method for inspecting the internal inhomogeneity of an optical member when a schlieren optical system is used will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a conceptual diagram serving to explain a method for inspecting the inside of an optical member for inhomogeneity according to the fourth embodiment.
【0070】第4の実施の形態においては、暗室に、光
源70、第1の凸レンズ72、検査試料74、第2の凸
レンズ76およびスクリーン78を順に並べ、この光源
70から第1の凸レンズ72を介して検査試料74に光
を照射する。検査試料74に照射される光は、集光点8
0に集光する。そして、集光点80に集光した光は遮光
される。検査試料74は、この集光点80と凸レンズ7
2との間に配置される。In the fourth embodiment, the light source 70, the first convex lens 72, the test sample 74, the second convex lens 76, and the screen 78 are arranged in this order in a dark room. The test sample 74 is irradiated with light through the light source. The light applied to the test sample 74 is
Focus on 0. Then, the light converged on the converging point 80 is shielded. The inspection sample 74 includes the converging point 80 and the convex lens 7.
2 are arranged.
【0071】第4の実施の形態では、検査試料74とし
て、図1を参照して説明した検査試料12と同じものを
用いている。そして、入射側および出射側にそれぞれ装
着した工具ガラスの表面を入射面82および出射面84
としている。シュリーレン光学系では、入射面82と出
射面84との平行度が高い程、測定精度が向上する。In the fourth embodiment, the same test sample 12 as that described with reference to FIG. 1 is used as the test sample 74. Then, the surfaces of the tool glass mounted on the entrance side and the exit side are respectively attached to the entrance surface 82 and the exit surface 84.
And In the Schlieren optical system, the higher the degree of parallelism between the entrance surface 82 and the exit surface 84, the better the measurement accuracy.
【0072】この検査試料74に内部不均質がある場合
は、内部不均質を照射した光は集光点80を通らないた
め遮光されない。そして、遮光されなかった光は第2の
凸レンズ76を介してスクリーン78に達する。従っ
て、内部不均質のスクリーン78上の観察像は、暗いバ
ックグランドに明るい像として観察される。また、観察
像は、内部不均質の形状によって、例えば筋状や斑点状
の像として観察される。シュリーレン光学系では、観察
像が暗いバックグランドに明るい像として観察されるの
で、観察が容易である。When the inspection sample 74 has internal inhomogeneity, the light irradiated to the internal inhomogeneity does not pass through the converging point 80 and is not blocked. The light that is not blocked reaches the screen 78 via the second convex lens 76. Therefore, the observation image on the screen 78 having an internal inhomogeneity is observed as a bright image on a dark background. Further, the observation image is observed as, for example, a streak-like or spot-like image due to the internal heterogeneous shape. In the Schlieren optical system, the observation image is observed as a bright image on a dark background, so that observation is easy.
【0073】観察にあたっては、先ず、検査試料74の
入射面をスクリーン78と平行に配置して、第1の方向
から光を照射する。そして、スクリーン78上に観察像
が観察されない場合は、内部不均質が無いと判断され
る。一方、第1の方向から光学ガラスに光を照射して観
察像が得られた場合に、検査試料の光の入射面および出
射面の少なくとも一方の表面上であって、印の像が観察
像と実質的に重なる位置に、当該印を付ける。ここで実
質的に重なる位置とは、観察像と印の像とが正確に一致
する位置に限らず、例えば、観察像の近傍に印の像が来
る位置であっても良い。In observation, first, the incident surface of the test sample 74 is arranged in parallel with the screen 78, and light is irradiated from a first direction. If no observation image is observed on the screen 78, it is determined that there is no internal heterogeneity. On the other hand, when an observation image is obtained by irradiating the optical glass with light from the first direction, the mark image is formed on at least one of the light incident surface and the light exit surface of the test sample. The mark is placed at a position substantially overlapping with. Here, the substantially overlapping position is not limited to a position where the observation image and the mark image exactly match, but may be, for example, a position where the mark image comes near the observation image.
【0074】ところで、内部不均質がなくとも、入射面
82や出射面84に傷がついていると観察像が観察され
ることがある。そのため、観察像が内部不均質に由来す
るものなのか、それとも、入射面82の傷等に由来する
ものであるのかを判断する必要がある。By the way, even if there is no internal inhomogeneity, an observation image may be observed if the entrance surface 82 or the exit surface 84 is damaged. For this reason, it is necessary to determine whether the observed image is derived from internal inhomogeneity or whether it is derived from a scratch or the like on the incident surface 82.
【0075】そこで、入射面に対して第1の方向とは異
なる第2の方向から検査試料74に光を照射する。ここ
では、第2の方向を得るために、検査試料74をスクリ
ーン78と平行な面内で平行移動させる。検査試料74
に照射する光は、第1の凸レンズ72を介した集光系で
あって平行光線ではないので、検査試料74を平行移動
することによって、検査試料74の入射面82に入射す
る光の入射角度を第1の方向に対して変化させることが
できる。Then, the inspection sample 74 is irradiated with light from a second direction different from the first direction with respect to the incident surface. Here, the test sample 74 is translated in a plane parallel to the screen 78 in order to obtain the second direction. Inspection sample 74
Is incident on the incident surface 82 of the test sample 74 by moving the test sample 74 in parallel because the light is a condensing system via the first convex lens 72 and is not a parallel light beam. Can be varied with respect to the first direction.
【0076】そして、第2の方向から検査試料74に光
を照射してスクリーン78上の観察像と印の像とが実質
的に重なった場合は、観察像が光学ガラスの内部不均質
に由来するものではなく、印を付けた表面に由来するも
のと判断する。When the inspection sample 74 is irradiated with light from the second direction and the observation image on the screen 78 and the image of the mark substantially overlap, the observation image is derived from the internal inhomogeneity of the optical glass. It is determined that it is derived from the marked surface, not the surface.
【0077】一方、観察像と印の像とが重ならなかった
場合には、観察像が印を付けた表面に由来するものでは
ないと判断する。従って、観察像は、実質的に内部不均
質に由来するものと判断される。On the other hand, if the observation image and the mark image do not overlap, it is determined that the observation image is not derived from the marked surface. Therefore, it is determined that the observed image is substantially derived from internal heterogeneity.
【0078】このように、観察像と印の像との重なり方
によって、その観察像が光学部材の内部不均質に由来す
るものか、印を付けた表面に由来するものかを容易に判
断することができる。従って、光学部材の内部不均質の
より確実な検査方法の実現を図ることができる。As described above, it is easy to judge whether the observed image is derived from the internal heterogeneity of the optical member or the marked surface based on how the observed image and the image of the mark overlap. be able to. Therefore, it is possible to realize a more reliable inspection method for the internal heterogeneity of the optical member.
【0079】また、シュリーレン光学系の場合も、検査
試料の入射面および出射面の両方に印を付ければ、第2
の実施の形態の場合と同様にして、内部不均質の位置を
求めることができる。In the case of the schlieren optical system, if both the entrance surface and the exit surface of the test sample are marked, the second
In the same manner as in the embodiment, the position of the internal heterogeneity can be obtained.
【0080】(第5の実施の形態)第5の実施の形態に
おいては、図5を参照して、シュリーレン光学系を用い
た場合の光学部材の内部不均質の検査方法の例について
説明する。図5は、第5の実施の形態の光学部材の内部
不均質の検査方法の説明に供する概念図である。(Fifth Embodiment) In the fifth embodiment, an example of a method for inspecting the internal inhomogeneity of an optical member when a schlieren optical system is used will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a conceptual diagram serving to explain a method for inspecting the inside of an optical member for inhomogeneity according to the fifth embodiment.
【0081】第5の実施の形態においては、上述の第4
の実施の形態と同様に、暗室に、光源70、第1の凸レ
ンズ72、検査試料74、第2の凸レンズ76およびス
クリーン78を順に並べ、この光源70から第1の凸レ
ンズ72を介して検査試料74に光を照射する。In the fifth embodiment, the fourth embodiment
Similarly to the embodiment, the light source 70, the first convex lens 72, the test sample 74, the second convex lens 76, and the screen 78 are sequentially arranged in the dark room, and the test sample is supplied from the light source 70 through the first convex lens 72. 74 is irradiated with light.
【0082】但し、第5の実施の形態においては、上述
の第4の実施の形態と異なり、光源70を第1の凸レン
ズ72の焦点に配置する。その結果、光源70から発し
た光は、第1の凸レンズ72を透過して平行光となる。
この平行光は、第2の凸レンズ76に入射し、第2の凸
レンズ76のスクリーン78側の焦点86に集光する。
この焦点86に集光した光は遮蔽される。そして、検査
試料74は、平行光線を照射するために、第1の凸レン
ズ72と第2の凸レンズ76との間に配置される。However, in the fifth embodiment, unlike the above-described fourth embodiment, the light source 70 is arranged at the focal point of the first convex lens 72. As a result, the light emitted from the light source 70 passes through the first convex lens 72 and becomes parallel light.
The parallel light is incident on the second convex lens 76 and is focused on the focal point 86 of the second convex lens 76 on the screen 78 side.
The light collected at the focal point 86 is blocked. Then, the test sample 74 is disposed between the first convex lens 72 and the second convex lens 76 to irradiate a parallel light beam.
【0083】そして、第1の方向を得るために、ここで
は、検査試料74の入射面をスクリーン78と平行に配
置して、平行光を検査試料74に照射する。第1の方向
から検査試料74に光を照射して観察像が得られた場合
に、検査試料74の光の入射面の上であって、印の像が
観察像と実質的に重なる位置に、当該印を付ける。Then, in order to obtain the first direction, here, the incident surface of the test sample 74 is arranged in parallel with the screen 78, and the test sample 74 is irradiated with parallel light. In the case where an observation image is obtained by irradiating the inspection sample 74 with light from the first direction, a position on the light incident surface of the inspection sample 74 where the image of the mark substantially overlaps the observation image is obtained. Mark.
【0084】次に、第2の方向から検査試料74に平行
光を照射するために、平行光と平行でない軸を回転軸と
して検査試料を回転させて、入射面に対する平行光の入
射角度を第1の方向の角度とは異なる角度に変える。こ
のように、シュリーレン光学系における検査試料を照射
する照射光を平行光とすれば、試料を回転させて、検査
試料の入射面に対する入射角度を変えるだけで、容易に
第2の方向からの照射光を得ることができる。Next, in order to irradiate the test sample 74 with parallel light from the second direction, the test sample is rotated about an axis that is not parallel to the parallel light as a rotation axis, and the incident angle of the parallel light with respect to the incident surface is set to the second angle. The angle is changed to an angle different from the angle in the first direction. As described above, if the irradiation light for irradiating the test sample in the schlieren optical system is parallel light, the irradiation from the second direction can be easily performed simply by rotating the sample and changing the incident angle of the test sample with respect to the incident surface. You can get light.
【0085】そして、第2の方向から検査試料74を照
射してスクリーン78上の観察像と印の像とが実質的に
重なった場合は、観察像が光学部材の内部不均質に由来
するものではなく、印を付けた表面に由来するものと判
断する。If the observation image on the screen 78 and the image of the mark are substantially overlapped by irradiating the inspection sample 74 from the second direction, the observation image is derived from the internal heterogeneity of the optical member. Instead, it is determined that the origin is from the marked surface.
【0086】一方、観察像と印の像とが重ならなかった
場合には、観察像が印を付けた表面に由来するものでは
ないと判断する。従って、観察像は、実質的に内部不均
質に由来するものと判断される。On the other hand, if the observed image and the image of the mark do not overlap, it is determined that the observed image is not derived from the marked surface. Therefore, it is determined that the observed image is substantially derived from internal heterogeneity.
【0087】上述した各実施の形態では、この発明を特
定の材料を用い、特定の条件で構成した例についてのみ
説明したが、この発明は多くの変更および変形を行うこ
とができる。例えば、上述した実施の形態においては、
ピンホール法またはシュリーレン光学系を用いた場合に
ついて説明したが、この発明は、これらの場合に限定さ
れるものではなく、例えば、干渉法に適用することもで
きる。In each of the embodiments described above, the present invention has been described only with respect to an example in which a specific material is used and a specific condition is used. However, the present invention can be variously modified and modified. For example, in the above-described embodiment,
Although the case where the pinhole method or the schlieren optical system is used has been described, the present invention is not limited to these cases, and can be applied to, for example, an interferometry.
【0088】また、上述した各実施の形態では、検査試
料の等級分けは行わなかったが、この発明は、標準試料
との比較による等級分けに適用しても良い。例えば、脈
理等の内部不均質が検出されない均質な光透過基板に、
既知の光路差を有するように光透過物質を蒸着し、さら
に、人工的に脈理を形成したものを標準試料として比較
に用いることにより、規格化することも可能である。Further, in each of the embodiments described above, the classification of the test sample is not performed, but the present invention may be applied to the classification by comparison with a standard sample. For example, on a homogeneous light-transmitting substrate where internal heterogeneity such as striae is not detected,
It is also possible to standardize by vapor-depositing a light-transmitting substance so as to have a known optical path difference and further using an artificially formed striae as a standard sample for comparison.
【0089】また、上述した各実施の形態では、スクリ
ーン上の観察像を観察したが、この発明では、必ずしも
スクリーンを用いる必要はなく、例えば、スクリーンの
代わりにカメラを配置して観察像を観察しても良い。In each of the embodiments described above, the observation image on the screen is observed. However, in the present invention, it is not always necessary to use the screen. For example, a camera is provided instead of the screen to observe the observation image. You may.
【0090】以上説明した検査試料および装置を用いて
検査した結果、光学ガラスの脈理の検査方法(JOGI
S11−1975)における標準試料B(薄く分散した
脈理で目に見える限界のもの)に相当する脈理を検査す
ることができた。As a result of the inspection using the inspection sample and the apparatus described above, a method for inspecting the striae of the optical glass (JOGI
S11-1975) could be examined for the striae corresponding to the standard sample B (thin with a thinly dispersed striae and visible limit).
【0091】このように、被検物の外周部をそのまま使
って内部を検査できるので、光学素子の完成サイズの状
態で、正確な検査をすることが可能である。特に、高価
な結晶材料では、このことは大きなメリットである。ま
た、外周部に平面部を作製する必要がないために加工の
手間も省ける。As described above, since the inside can be inspected by using the outer peripheral portion of the test object as it is, accurate inspection can be performed in the state of the completed optical element. This is a great advantage, especially for expensive crystalline materials. Further, since it is not necessary to form a flat portion on the outer peripheral portion, the labor for processing can be omitted.
【0092】[0092]
【発明の効果】この発明の光学部材の内部不均質の検査
方法によれば、光学部材を含む検査試料に光を照射して
得られる観察像によってこの光学部材の内部均質を検査
するにあたり、光学部材の表面に、当該表面に嵌合可能
な工具ガラスを装着することにより、検査試料の光の入
射面および出射面を実質的に平行にする。According to the method for inspecting the internal heterogeneity of an optical member according to the present invention, when inspecting the internal homogeneity of the optical member based on an observation image obtained by irradiating a test sample including the optical member with light, an optical system is required. By mounting a tool glass that can be fitted to the surface of the member, the light incident surface and the light emitting surface of the test sample are made substantially parallel.
【0093】このように、この検査方法によれば、検査
を行う光学部材の表面に、検査光に対して透明な工具ガ
ラスを装着する。この工具ガラスは、光学部材の表面と
一致する形状の面を有している。従って、この面を光学
部材の表面に沿わせた状態で合わせることができる。ま
た、この工具ガラスの、光学部材に接合する面と対向す
る面が平面(光学研磨面)となっている。このような工
具ガラスを用いれば、検査試料の光の入射面および出射
面を実質的に平行にすることができる。よって、従来の
ように光学部材を研磨する必要がなくなる。As described above, according to this inspection method, a tool glass transparent to the inspection light is mounted on the surface of the optical member to be inspected. This tool glass has a surface whose shape matches the surface of the optical member. Therefore, the surfaces can be aligned with the surface of the optical member. The surface of the tool glass facing the surface to be bonded to the optical member is a flat surface (optically polished surface). By using such a tool glass, the light entrance surface and the light exit surface of the test sample can be made substantially parallel. Therefore, it is not necessary to grind the optical member as in the related art.
【図1】工具ガラスの構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a tool glass.
【図2】第1の実施の形態の光学部材の内部均質の検査
方法の説明に供する図である。FIG. 2 is a diagram for explaining a method for inspecting the inside of the optical member according to the first embodiment for homogeneity;
【図3】第3の実施の形態おいて観察された、インゴッ
トの内部不均質を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing the inhomogeneity inside an ingot observed in a third embodiment.
【図4】第4の実施の形態の光学部材の内部均質の検査
方法の説明に供する図である。FIG. 4 is a diagram provided for explaining a method for inspecting the inside of an optical member for homogeneity according to a fourth embodiment;
【図5】第5の実施の形態の光学部材の内部均質の検査
方法の説明に供する図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a method for inspecting the inside of an optical member according to a fifth embodiment of the present invention;
【図6】光学ガラス部材の研磨加工例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an example of polishing processing of an optical glass member.
10:光源 12:検査試料 14:スクリーン 16:ランプハウス 18:ピンホール 20:凸レンズ 22:絞り 24:光学部材 32a、32b:工具ガラス 34a、36b:第1の表面 34b:入射面 36b:出射面 38:光軸 40:インゴット 42:微小泡 44:泡 46:脈理 48:大泡 50:第1の部材 52:第2の部材 54:第3の部材 56:第4の部材 58:第5の部材 60:第6の部材 62:第7の部材 70:光源 72:第1の凸レンズ 74:検査試料 76:第2の凸レンズ 78:スクリーン 80:集光点 82:入射面 84:出射面 86:焦点 10: Light source 12: Inspection sample 14: Screen 16: Lamp house 18: Pinhole 20: Convex lens 22: Aperture 24: Optical member 32a, 32b: Tool glass 34a, 36b: First surface 34b: Incident surface 36b: Exit surface 38: optical axis 40: ingot 42: microbubble 44: bubble 46: striae 48: large bubble 50: first member 52: second member 54: third member 56: fourth member 58: fifth 60: Sixth member 62: Seventh member 70: Light source 72: First convex lens 74: Test sample 76: Second convex lens 78: Screen 80: Focus point 82: Incident surface 84: Exit surface 86 :focus
Claims (10)
得られる観察像によって該光学部材の内部不均質を検査
するにあたり、 前記光学部材の表面に、当該表面に嵌合可能な面を有す
る工具ガラスを装着することにより、検査試料の光の入
射面および出射面を実質的に平行平面とすることを特徴
とする光学部材の内部不均質の検査方法。When inspecting the internal heterogeneity of an optical member using an observation image obtained by irradiating a test sample including the optical member with light, a surface that can be fitted to the surface is provided on the surface of the optical member. A method for inspecting the inside of an optical member for inhomogeneity, wherein a light incident surface and a light exit surface of a test sample are made substantially parallel planes by mounting a tool glass having the same.
の検査方法において、 第1の方向から前記検査試料に光を照射して観察像が得
られた場合、前記検査試料の光の入射面および出射面の
少なくとも一方の表面上であって印の像が前記観察像と
実質的に重なる位置に当該印を付け、 前記検査試料の入射面に対して前記第1の方向とは異な
る第2の方向から前記検査試料に光を照射したときに前
記観察像と前記印の像とが実質的に重なった場合、前記
観察像が前記印を付けた前記表面に由来するものと判断
することを特徴とする光学部材の内部不均質の検査方
法。2. The method according to claim 1, wherein when an observation image is obtained by irradiating the test sample with light from a first direction, the light of the test sample is measured. The mark is attached to a position on at least one of the entrance surface and the exit surface where the image of the mark substantially overlaps the observation image, and is different from the first direction with respect to the entrance surface of the test sample. When the observation image and the image of the mark substantially overlap when the test sample is irradiated with light from the second direction, it is determined that the observation image is derived from the surface with the mark. A method for inspecting the inside of an optical member for inhomogeneity.
の検査方法において、 前記印として、前記入射面に入射側印、および前記出射
面に出射側印を付け、 前記第2の方向から光を照射したときの、前記入射側印
の像と前記出射側印の像との距離に対する、前記観察像
と前記入射側印の像および前記出射側印の像の少なくと
も一方との距離の比率に基づいて、内部不均質の位置を
求めることを特徴とする光学部材の内部不均質の検査方
法。3. The method for inspecting the inside of an optical member for inhomogeneity according to claim 2, wherein an incident side mark is attached to the incident surface and an exit side mark is attached to the exit surface as the mark, and the second direction is provided. When light is irradiated from the distance between the image of the incident side mark and the image of the emission side mark, the distance between the observation image and at least one of the image of the incident side mark and the image of the emission side mark. A method for inspecting internal inhomogeneity of an optical member, wherein a position of internal inhomogeneity is obtained based on a ratio.
の検査方法において、 前記光学部材を石英ガラスインゴットまたは該インゴッ
トから切り出された部材とすることを特徴とする光学部
材の内部不均質の検査方法。4. The method according to claim 1, wherein the optical member is a quartz glass ingot or a member cut out of the ingot. Inspection method.
の検査方法において、 前記光学部材に照射する前記光をピンホールを介した照
射光とすることを特徴とする光学部材の内部不均質の検
査方法。5. The method according to claim 2, wherein the light irradiating the optical member is radiated through a pinhole. Homogeneous inspection method.
の検査方法において、 前記光学部材に照射する前記光を、シュリーレン光学系
における照射光とすることを特徴とする光学部材の内部
不均質の検査方法。6. The method according to claim 2, wherein the light irradiating the optical member is irradiating light in a schlieren optical system. Homogeneous inspection method.
の検査方法において、 シュリーレン光学系における前記照射光を平行光とし、
該平行光と平行でない軸を回転軸として前記検査試料を
回転させて、前記入射面に対する前記平行光の入射角度
を前記第1の方向の角度とは異なる角度に変えることに
よって、前記第2の方向から該検査試料に前記平行光を
照射することを特徴とする光学部材の内部不均質の検査
方法。7. The method for inspecting internal inhomogeneity of an optical member according to claim 6, wherein the irradiation light in the Schlieren optical system is a parallel light,
By rotating the test sample around an axis that is not parallel to the parallel light and changing the incident angle of the parallel light to the incident surface to an angle different from the angle in the first direction, the second A method of inspecting the inside of an optical member for heterogeneity, comprising irradiating the inspection sample with the parallel light from a direction.
得られる観察像によって該光学部材の内部不均質を検査
するときに用いられる工具ガラスであって、 前記光学部材の表面に嵌合可能な第1の表面と、該第1
の表面に対向する平面光学研磨面である第2の表面とを
有することを特徴とする工具ガラス。8. A tool glass used for inspecting internal heterogeneity of an optical member by an observation image obtained by irradiating a test sample including the optical member with light, wherein the tool glass is fitted to a surface of the optical member. A possible first surface and the first
And a second surface which is a flat optically polished surface facing the surface of the tool glass.
具ガラス。9. The tool glass according to claim 8, wherein the first surface is an optically polished surface.
て、 前記光学部材の屈折率と実質的に等しい屈折率を有する
材料で構成することを特徴とする工具ガラス。10. The tool glass according to claim 8, wherein the tool glass is made of a material having a refractive index substantially equal to a refractive index of the optical member.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10006236A JPH11201895A (en) | 1998-01-16 | 1998-01-16 | Inspection method for internal heterogeneity of optical member and tool glass |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10006236A JPH11201895A (en) | 1998-01-16 | 1998-01-16 | Inspection method for internal heterogeneity of optical member and tool glass |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11201895A true JPH11201895A (en) | 1999-07-30 |
Family
ID=11632891
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10006236A Pending JPH11201895A (en) | 1998-01-16 | 1998-01-16 | Inspection method for internal heterogeneity of optical member and tool glass |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11201895A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100381134B1 (en) * | 2000-09-14 | 2003-04-23 | 주식회사 에이스월드 | a checking machine for glass and control method thereof |
| JP2014182077A (en) * | 2013-03-21 | 2014-09-29 | Jasco Corp | Infrared spectrometry apparatus and method |
-
1998
- 1998-01-16 JP JP10006236A patent/JPH11201895A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100381134B1 (en) * | 2000-09-14 | 2003-04-23 | 주식회사 에이스월드 | a checking machine for glass and control method thereof |
| JP2014182077A (en) * | 2013-03-21 | 2014-09-29 | Jasco Corp | Infrared spectrometry apparatus and method |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI797296B (en) | System and method for inspecting optical power and thickness of ophthalmic lenses immersed in a solution | |
| KR100606460B1 (en) | Method for testing nonuniformity of translucent material and method for screening device and transparent substrate | |
| JP3936220B2 (en) | Edge inspection equipment | |
| JP3422935B2 (en) | Inspection method and apparatus for non-uniformity of translucent substance and method for selecting transparent substrate | |
| TW201602563A (en) | Method for particle detection on flexible substrates | |
| TWI817991B (en) | Optical system, illumination module and automated optical inspection system | |
| TWI649535B (en) | Optical element characteristic measuring device | |
| TWI404926B (en) | Surface defect inspection device and surface defect inspection method | |
| KR100532238B1 (en) | Thin film inspection method, apparatus and inspection system used therein | |
| TW201925764A (en) | Methods and apparatus for detecting surface defects on glass sheets | |
| JPH07128244A (en) | Nondestructive surface inspection method and apparatus | |
| JPS6168543A (en) | Optical inspection and apparatus for defect in sample | |
| JP4588361B2 (en) | External surface inspection device | |
| JP2821460B2 (en) | Inspection device for transparent substrate | |
| JP3095855B2 (en) | Light inspection device for visual inspection | |
| JP3469714B2 (en) | Photoconductor surface inspection method and photoconductor surface inspection device | |
| JPH10160627A (en) | Inspection method for internal inhomogeneity of optical glass | |
| JP2005233695A (en) | Flaw inspection device for transparent panel | |
| JPH11190698A (en) | Defect inspection equipment | |
| JP3095856B2 (en) | Light inspection device for visual inspection | |
| JP2003121385A (en) | Defect inspection method and inspection device inside quartz glass material | |
| JP5255763B2 (en) | Optical inspection method and apparatus | |
| JPH01250846A (en) | Defect inspecting equipment for transparent body | |
| JP2021148794A (en) | Inspection device for transmissive optical system | |
| JP2007163315A (en) | Method for measuring the shape and position of defects in transparent materials |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041215 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060324 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060404 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060801 |