JPH11207602A - 被研磨基板の保持装置及び基板の研磨方法 - Google Patents
被研磨基板の保持装置及び基板の研磨方法Info
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- JPH11207602A JPH11207602A JP10016499A JP1649998A JPH11207602A JP H11207602 A JPH11207602 A JP H11207602A JP 10016499 A JP10016499 A JP 10016499A JP 1649998 A JP1649998 A JP 1649998A JP H11207602 A JPH11207602 A JP H11207602A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 基板を研磨パッドに対して、基板の中心部及
び周縁部において等しい押圧力で押圧できるようにし
て、基板の中心部の研磨レートと周縁部の研磨レートと
を等しくする。 【解決手段】 研磨パッド11の上方には基板12を保
持する基板保持装置15Aが配置されている。基板保持
装置15Aは、回転軸16Aと、該回転軸16Aと一体
的に設けられた基板保持ヘッド17Aと、基板保持ヘッ
ド17Aに固定されたガイド部材19Aとを備えてい
る。基板保持ヘッド17Aにはシール部材20が上下動
可能に設けられており、基板保持ヘッド17A、シール
部材20及び基板12によって第1の空間部21が形成
されていると共に、基板保持ヘッド17A及びシール部
材20とによって第2の空間部22が形成されている。
第1の流体供給路25は第1の空間部21と連通してお
り、第2の流体供給路26は第2の空間部22と連通し
ている。
び周縁部において等しい押圧力で押圧できるようにし
て、基板の中心部の研磨レートと周縁部の研磨レートと
を等しくする。 【解決手段】 研磨パッド11の上方には基板12を保
持する基板保持装置15Aが配置されている。基板保持
装置15Aは、回転軸16Aと、該回転軸16Aと一体
的に設けられた基板保持ヘッド17Aと、基板保持ヘッ
ド17Aに固定されたガイド部材19Aとを備えてい
る。基板保持ヘッド17Aにはシール部材20が上下動
可能に設けられており、基板保持ヘッド17A、シール
部材20及び基板12によって第1の空間部21が形成
されていると共に、基板保持ヘッド17A及びシール部
材20とによって第2の空間部22が形成されている。
第1の流体供給路25は第1の空間部21と連通してお
り、第2の流体供給路26は第2の空間部22と連通し
ている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、シリコンよりなる
半導体基板や液晶基板等よりなる基板の表面を平坦化処
理するための化学機械研磨(CMP)を行なう基板の研
磨方法及び該基板の研磨方法に用いられる被研磨基板の
保持装置に関するものである。
半導体基板や液晶基板等よりなる基板の表面を平坦化処
理するための化学機械研磨(CMP)を行なう基板の研
磨方法及び該基板の研磨方法に用いられる被研磨基板の
保持装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】1990年以降、前記の半導体基板や液
晶基板に対する化学機械研磨技術においては、基板の径
が10cm以上と大型化し、研磨が枚葉処理化の傾向に
ある。特に半導体基板を研磨する場合には、半導体基板
に形成されるラインパターンのルールが0.5μm以下
と非常に微細化しているために、半導体基板の全面に亘
って均一な研磨が要求されるようになってきた。
晶基板に対する化学機械研磨技術においては、基板の径
が10cm以上と大型化し、研磨が枚葉処理化の傾向に
ある。特に半導体基板を研磨する場合には、半導体基板
に形成されるラインパターンのルールが0.5μm以下
と非常に微細化しているために、半導体基板の全面に亘
って均一な研磨が要求されるようになってきた。
【0003】以下、特開平8−339979号公報に示
されている従来の基板の研磨装置について、図4及び図
5を参照しながら説明する。
されている従来の基板の研磨装置について、図4及び図
5を参照しながら説明する。
【0004】図4は従来の基板の研磨装置の概略構成を
示しており、図4において、51は平坦な表面を持つ剛
体よりなるパッド載置部51aと該パッド載置部51a
の下面から垂直下方に延びる回転軸51bと該回転軸5
1bを回転させる図示しない回転手段とを有する定盤で
あって、該定盤51のパッド載置部51aの上面には弾
性を有する研磨パッド52が貼着されている。研磨パッ
ド52の上方には、基板53を保持して回転する基板保
持ヘッド54が設けられており、基板53は基板保持ヘ
ッド54により回転させられながら研磨パッド52に圧
接される。また、図4において、55は研磨剤であっ
て、該研磨剤55は、研磨剤供給管56から所定量づつ
研磨パッド52上に滴下される。
示しており、図4において、51は平坦な表面を持つ剛
体よりなるパッド載置部51aと該パッド載置部51a
の下面から垂直下方に延びる回転軸51bと該回転軸5
1bを回転させる図示しない回転手段とを有する定盤で
あって、該定盤51のパッド載置部51aの上面には弾
性を有する研磨パッド52が貼着されている。研磨パッ
ド52の上方には、基板53を保持して回転する基板保
持ヘッド54が設けられており、基板53は基板保持ヘ
ッド54により回転させられながら研磨パッド52に圧
接される。また、図4において、55は研磨剤であっ
て、該研磨剤55は、研磨剤供給管56から所定量づつ
研磨パッド52上に滴下される。
【0005】図5は、前記従来の基板の研磨装置の断面
構造を示しており、基板保持ヘッド54の内部における
基板53の周縁部と対向する部位には弾性体よりなるリ
ング状のシール部材57が上下動可能に設けられてお
り、基板保持ヘッド54、シール部材57及び基板53
によって空間部58が形成されている。空間部58に
は、基板保持ヘッド54の回転軸54aの内部に設けら
れた流体流通路59から圧力流体が供給され、基板53
は空間部58に供給される加圧流体によって研磨パッド
52に押し付けられる。
構造を示しており、基板保持ヘッド54の内部における
基板53の周縁部と対向する部位には弾性体よりなるリ
ング状のシール部材57が上下動可能に設けられてお
り、基板保持ヘッド54、シール部材57及び基板53
によって空間部58が形成されている。空間部58に
は、基板保持ヘッド54の回転軸54aの内部に設けら
れた流体流通路59から圧力流体が供給され、基板53
は空間部58に供給される加圧流体によって研磨パッド
52に押し付けられる。
【0006】以上のように構成された基板の研磨装置に
おいて、定盤51と共に回転する研磨パッド52の上に
研磨剤55を供給すると共に、基板保持ヘッド54に保
持された基板53を空間部58に供給される加圧流体の
圧力によって研磨パッド52に押しつけると、基板53
の研磨面は圧力及び相対速度を受けて研磨される。
おいて、定盤51と共に回転する研磨パッド52の上に
研磨剤55を供給すると共に、基板保持ヘッド54に保
持された基板53を空間部58に供給される加圧流体の
圧力によって研磨パッド52に押しつけると、基板53
の研磨面は圧力及び相対速度を受けて研磨される。
【0007】このとき、基板53の研磨面に凹凸部があ
ると、凸部においては研磨パッド52との接触圧力が大
きいため相対研磨速度が高くなって研磨される一方、凹
部においては研磨パッド52との接触圧力が小さいため
殆ど研磨されない。このようにして、基板53の研磨面
の凹凸が緩和されて基板53の研磨面が平坦になる。
ると、凸部においては研磨パッド52との接触圧力が大
きいため相対研磨速度が高くなって研磨される一方、凹
部においては研磨パッド52との接触圧力が小さいため
殆ど研磨されない。このようにして、基板53の研磨面
の凹凸が緩和されて基板53の研磨面が平坦になる。
【0008】ところで、前記従来の基板の研磨装置にお
いては、基板保持ヘッド54、シール部材57及び基板
53によって形成される空間部58に供給される加圧流
体によって基板53を研磨パッド52に押し付ける方法
を採用することにより、基板53の研磨パッド52に対
する均一な加圧を図っている。
いては、基板保持ヘッド54、シール部材57及び基板
53によって形成される空間部58に供給される加圧流
体によって基板53を研磨パッド52に押し付ける方法
を採用することにより、基板53の研磨パッド52に対
する均一な加圧を図っている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の基板の研磨装置においては、基板53の研磨パッド
52に対する均一な加圧という点において十分ではな
い。以下、この理由について説明する。
来の基板の研磨装置においては、基板53の研磨パッド
52に対する均一な加圧という点において十分ではな
い。以下、この理由について説明する。
【0010】流体流通路59から空間部58に加圧流体
を供給すると、基板53の中心部は加圧流体の圧力のみ
からなる押圧力を受けて研磨パッド52に押し付けられ
るが、基板53の周縁部は加圧流体の圧力とシール部材
57の自重との両方からなる押圧力を受けて研磨パッド
52に押し付けられる。
を供給すると、基板53の中心部は加圧流体の圧力のみ
からなる押圧力を受けて研磨パッド52に押し付けられ
るが、基板53の周縁部は加圧流体の圧力とシール部材
57の自重との両方からなる押圧力を受けて研磨パッド
52に押し付けられる。
【0011】ところで、シール部材57の形状を維持す
る必要性からシール部材57の厚さを余り薄くできない
ので、シール部材57の自重は無視できない程度に大き
い。
る必要性からシール部材57の厚さを余り薄くできない
ので、シール部材57の自重は無視できない程度に大き
い。
【0012】このため、基板53の周縁部は基板53の
中心部よりも大きい押圧力を受けることになるので、基
板53の周縁部の研磨レートは基板53の周縁部の研磨
レートに比べて大きくなってしまうという問題がある。
中心部よりも大きい押圧力を受けることになるので、基
板53の周縁部の研磨レートは基板53の周縁部の研磨
レートに比べて大きくなってしまうという問題がある。
【0013】前記に鑑み、本発明は、基板を研磨パッド
に対して、基板の中心部及び周縁部において等しい押圧
力で押圧できるようにして、基板の中心部の研磨レート
と周縁部の研磨レートとを等しくすることを目的とす
る。
に対して、基板の中心部及び周縁部において等しい押圧
力で押圧できるようにして、基板の中心部の研磨レート
と周縁部の研磨レートとを等しくすることを目的とす
る。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、本発明に係る被研磨基板の保持装置は、被研磨基板
を保持すると共に保持した被研磨基板を研磨パッドに押
し付ける被研磨基板の保持装置を対象とし、研磨パッド
に対して進退可能に設けられ、被研磨基板を保持する基
板保持ヘッドと、基板保持ヘッドにおける被研磨基板の
周縁部と対向する部位に基板保持ヘッドに対して接離可
能に設けられ、基板保持ヘッド及び研磨パッド上に載置
された被研磨基板と共に第1の空間部を形成し且つ基板
保持ヘッドと共に第2の空間部を第1の空間部の外側に
形成するシール部材と、基板保持ヘッドに設けられ、研
磨パッド上に載置された被研磨基板を研磨パッドに押圧
する加圧流体を第1の空間部に供給する第1の流体供給
路と、基板保持ヘッドに設けられ、シール部材を研磨パ
ッドに押圧する加圧流体を第2の空間部に供給する第2
の流体供給路とを備えている。
め、本発明に係る被研磨基板の保持装置は、被研磨基板
を保持すると共に保持した被研磨基板を研磨パッドに押
し付ける被研磨基板の保持装置を対象とし、研磨パッド
に対して進退可能に設けられ、被研磨基板を保持する基
板保持ヘッドと、基板保持ヘッドにおける被研磨基板の
周縁部と対向する部位に基板保持ヘッドに対して接離可
能に設けられ、基板保持ヘッド及び研磨パッド上に載置
された被研磨基板と共に第1の空間部を形成し且つ基板
保持ヘッドと共に第2の空間部を第1の空間部の外側に
形成するシール部材と、基板保持ヘッドに設けられ、研
磨パッド上に載置された被研磨基板を研磨パッドに押圧
する加圧流体を第1の空間部に供給する第1の流体供給
路と、基板保持ヘッドに設けられ、シール部材を研磨パ
ッドに押圧する加圧流体を第2の空間部に供給する第2
の流体供給路とを備えている。
【0015】本発明の被研磨基板の保持装置によると、
基板保持ヘッド、被研磨基板及びシール部材によって形
成される第1の空間部に第1の流体供給路から加圧流体
を供給して被研磨基板における周縁部を除く領域を研磨
パッドに押圧することができると共に、基板保持ヘッド
及びシール部材によって形成される第2の空間部に第2
の流体供給路から加圧流体を供給してシール部材を介し
て被研磨基板の周縁部を研磨パッドに押圧することがで
きる。
基板保持ヘッド、被研磨基板及びシール部材によって形
成される第1の空間部に第1の流体供給路から加圧流体
を供給して被研磨基板における周縁部を除く領域を研磨
パッドに押圧することができると共に、基板保持ヘッド
及びシール部材によって形成される第2の空間部に第2
の流体供給路から加圧流体を供給してシール部材を介し
て被研磨基板の周縁部を研磨パッドに押圧することがで
きる。
【0016】本発明の被研磨基板の保持装置は、基板保
持ヘッドにおけるシール部材が設けられている部位の外
側に基板保持ヘッドに対して接離可能に設けられ、基板
保持ヘッドと共に第3の空間部を第2の空間部の外側に
形成すると共に研磨パッド上に載置された被研磨基板を
所定の位置に保持するガイド部材と、基板保持ヘッドに
設けられ、ガイド部材を研磨パッドに押圧する加圧流体
を第3の空間部に供給する第3の流体供給路とをさらに
備えていることが好ましい。
持ヘッドにおけるシール部材が設けられている部位の外
側に基板保持ヘッドに対して接離可能に設けられ、基板
保持ヘッドと共に第3の空間部を第2の空間部の外側に
形成すると共に研磨パッド上に載置された被研磨基板を
所定の位置に保持するガイド部材と、基板保持ヘッドに
設けられ、ガイド部材を研磨パッドに押圧する加圧流体
を第3の空間部に供給する第3の流体供給路とをさらに
備えていることが好ましい。
【0017】本発明に係る基板の研磨方法は、被研磨基
板を研磨パッドに押し付けて研磨する基板の研磨方法を
対象とし、被研磨基板を保持する基板保持ヘッドと、基
板保持ヘッドに保持された状態で研磨パッド上に載置さ
れている被研磨基板と、基板保持ヘッドにおける研磨パ
ッド上に載置された被研磨基板の周縁部と対向する部位
に基板保持ヘッドに対して接離可能に設けられたシール
部材とによって形成される第1の空間部に、基板保持ヘ
ッドに設けられた第1の流体供給路から加圧流体を供給
して、研磨パッド上に載置された被研磨基板を研磨パッ
ドに押圧する工程と、基板保持ヘッドとシール部材とに
よって形成される第2の空間部に、基板保持ヘッドに設
けられた第2の流体供給路から加圧流体を供給して、シ
ール部材を研磨パッドに押圧する工程とを備えている。
板を研磨パッドに押し付けて研磨する基板の研磨方法を
対象とし、被研磨基板を保持する基板保持ヘッドと、基
板保持ヘッドに保持された状態で研磨パッド上に載置さ
れている被研磨基板と、基板保持ヘッドにおける研磨パ
ッド上に載置された被研磨基板の周縁部と対向する部位
に基板保持ヘッドに対して接離可能に設けられたシール
部材とによって形成される第1の空間部に、基板保持ヘ
ッドに設けられた第1の流体供給路から加圧流体を供給
して、研磨パッド上に載置された被研磨基板を研磨パッ
ドに押圧する工程と、基板保持ヘッドとシール部材とに
よって形成される第2の空間部に、基板保持ヘッドに設
けられた第2の流体供給路から加圧流体を供給して、シ
ール部材を研磨パッドに押圧する工程とを備えている。
【0018】本発明の基板の研磨方法によると、基板保
持ヘッド、被研磨基板及びシール部材によって形成され
る第1の空間部に第1の流体供給路から加圧流体を供給
して被研磨基板における周縁部を除く領域を研磨パッド
に押圧することができると共に、基板保持ヘッド及びシ
ール部材によって形成される第2の空間部に第2の流体
供給路から加圧流体を供給してシール部材を介して被研
磨基板の周縁部を研磨パッドに押圧することができる。
持ヘッド、被研磨基板及びシール部材によって形成され
る第1の空間部に第1の流体供給路から加圧流体を供給
して被研磨基板における周縁部を除く領域を研磨パッド
に押圧することができると共に、基板保持ヘッド及びシ
ール部材によって形成される第2の空間部に第2の流体
供給路から加圧流体を供給してシール部材を介して被研
磨基板の周縁部を研磨パッドに押圧することができる。
【0019】本発明の基板の研磨方法において、第2の
空間部に供給される加圧流体の圧力は、(第1の空間部
に供給される加圧流体の圧力)−{(シール部材の自
重)/(シール部材の被研磨基板との接触面積)}とほ
ぼ等しいことが好ましい。
空間部に供給される加圧流体の圧力は、(第1の空間部
に供給される加圧流体の圧力)−{(シール部材の自
重)/(シール部材の被研磨基板との接触面積)}とほ
ぼ等しいことが好ましい。
【0020】本発明の基板の研磨方法は、基板保持ヘッ
ドと、該基板保持ヘッドにおけるシール部材が設けられ
ている部位の外側に該基板保持ヘッドに対して接離可能
に設けられ被研磨基板を所定位置に保持するガイド部材
とによって形成される第3の空間部に、基板保持ヘッド
に設けられた第3の流体供給路から加圧流体を供給し
て、ガイド部材を研磨パッドに押圧する工程をさらに備
えていることが好ましい。
ドと、該基板保持ヘッドにおけるシール部材が設けられ
ている部位の外側に該基板保持ヘッドに対して接離可能
に設けられ被研磨基板を所定位置に保持するガイド部材
とによって形成される第3の空間部に、基板保持ヘッド
に設けられた第3の流体供給路から加圧流体を供給し
て、ガイド部材を研磨パッドに押圧する工程をさらに備
えていることが好ましい。
【0021】この場合、第3の空間部に供給される加圧
流体の圧力は、第1の空間部に供給される加圧流体の圧
力に比べて同程度か又は大きいことが好ましい。
流体の圧力は、第1の空間部に供給される加圧流体の圧
力に比べて同程度か又は大きいことが好ましい。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施形態に係る
被研磨基板の保持装置及び基板の研磨方法について、図
面を参照しながら説明する。
被研磨基板の保持装置及び基板の研磨方法について、図
面を参照しながら説明する。
【0023】(第1の実施形態)図1は本発明の第1の
実施形態に係る被研磨基板の保持装置の概略断面図であ
る。図1において、10は平坦な表面を持つ剛体よりな
る回転可能な定盤であって、該定盤10の上面には弾性
を有する研磨パッド11が貼着されている。研磨パッド
11の上方には、研磨の対象となる被研磨基板としての
基板12を保持する基板保持装置15Aが配置されてお
り、該基板保持装置15Aは、上下動可能且つ回転可能
に保持された回転軸16Aと、該回転軸16Aの下端に
一体的に設けられ、下面に凹部17aを有する円盤状の
基板保持ヘッド17Aと、基板保持ヘッド17Aの凹部
17aにおいて該基板保持ヘッド17Aと一体的に設け
られ、分散孔18aを有する流体分散板18と、基板保
持ヘッド17Aの周縁部の下面に固定されたリング状の
ガイド部材19Aとを備えている。ガイド部材19A
は、回転に伴う遠心力によって基板12が外側に飛び出
る事態を防止する。
実施形態に係る被研磨基板の保持装置の概略断面図であ
る。図1において、10は平坦な表面を持つ剛体よりな
る回転可能な定盤であって、該定盤10の上面には弾性
を有する研磨パッド11が貼着されている。研磨パッド
11の上方には、研磨の対象となる被研磨基板としての
基板12を保持する基板保持装置15Aが配置されてお
り、該基板保持装置15Aは、上下動可能且つ回転可能
に保持された回転軸16Aと、該回転軸16Aの下端に
一体的に設けられ、下面に凹部17aを有する円盤状の
基板保持ヘッド17Aと、基板保持ヘッド17Aの凹部
17aにおいて該基板保持ヘッド17Aと一体的に設け
られ、分散孔18aを有する流体分散板18と、基板保
持ヘッド17Aの周縁部の下面に固定されたリング状の
ガイド部材19Aとを備えている。ガイド部材19A
は、回転に伴う遠心力によって基板12が外側に飛び出
る事態を防止する。
【0024】図2は、基板12及びガイド部材19Aの
底面図であって、ガイド部材19Aの底面には複数本の
凹状溝19aが設けられている。
底面図であって、ガイド部材19Aの底面には複数本の
凹状溝19aが設けられている。
【0025】第1の実施形態の特徴として、基板保持ヘ
ッド17Aの周縁部と流体分散板18との間にはリング
状の凹部が形成されており、該リング状の凹部には弾性
体よりなるリング状のシール部材20が上下動可能に設
けられている。これにより、基板保持ヘッド17Aの流
体分散板18と、シール部材20と、研磨パッド11の
上に載置された基板12とによって第1の空間部21が
形成されていると共に、基板保持ヘッド17Aとシール
部材20とによって第2の空間部22が形成されてい
る。
ッド17Aの周縁部と流体分散板18との間にはリング
状の凹部が形成されており、該リング状の凹部には弾性
体よりなるリング状のシール部材20が上下動可能に設
けられている。これにより、基板保持ヘッド17Aの流
体分散板18と、シール部材20と、研磨パッド11の
上に載置された基板12とによって第1の空間部21が
形成されていると共に、基板保持ヘッド17Aとシール
部材20とによって第2の空間部22が形成されてい
る。
【0026】回転軸16Aには、互いに独立して加圧流
体例えば加圧エアを供給する、例えば1つの第1の流体
供給路25及び例えば複数の第2の流体供給路26が設
けられている。第1の流体供給路25は流体分散板18
の分散孔18aを介して第1の空間部21と連通してい
ると共に、各第2の流体供給路26は第2の空間部22
と連通している。従って、基板12の周縁部を除く領域
(以下、説明の便宜上、中心部と称する。)は、第1の
流体供給路25から第1の空間部21に供給される加圧
流体例えば加圧エアの押圧力によって研磨パッド11に
押圧され、基板12の周縁部は、第2の流体供給路26
から第2の空間部22に供給される加圧流体例えば加圧
エアの圧力とシール部材20の自重との合計の押圧力に
よって研磨パッド11に押圧される。
体例えば加圧エアを供給する、例えば1つの第1の流体
供給路25及び例えば複数の第2の流体供給路26が設
けられている。第1の流体供給路25は流体分散板18
の分散孔18aを介して第1の空間部21と連通してい
ると共に、各第2の流体供給路26は第2の空間部22
と連通している。従って、基板12の周縁部を除く領域
(以下、説明の便宜上、中心部と称する。)は、第1の
流体供給路25から第1の空間部21に供給される加圧
流体例えば加圧エアの押圧力によって研磨パッド11に
押圧され、基板12の周縁部は、第2の流体供給路26
から第2の空間部22に供給される加圧流体例えば加圧
エアの圧力とシール部材20の自重との合計の押圧力に
よって研磨パッド11に押圧される。
【0027】以上説明したように、第1の実施形態に係
る被研磨基板の保持装置によると、第1の流体供給路2
5から第1の空間部21に供給される加圧流体の圧力に
より基板12の中心部を研磨パッド11に押圧すると共
に、第2の流体供給路26から第2の空間部22に供給
される加圧流体の圧力により基板12の周縁部を研磨パ
ッド11に押圧するため、基板12の中心部を研磨パッ
ド11に押圧する押圧力と基板11の周縁部を研磨パッ
ド11に押圧する押圧力とを互いに独立して制御するこ
とができる。
る被研磨基板の保持装置によると、第1の流体供給路2
5から第1の空間部21に供給される加圧流体の圧力に
より基板12の中心部を研磨パッド11に押圧すると共
に、第2の流体供給路26から第2の空間部22に供給
される加圧流体の圧力により基板12の周縁部を研磨パ
ッド11に押圧するため、基板12の中心部を研磨パッ
ド11に押圧する押圧力と基板11の周縁部を研磨パッ
ド11に押圧する押圧力とを互いに独立して制御するこ
とができる。
【0028】以下、第1の実施形態に係る被研磨基板の
保持装置を用いて行なう基板の研磨方法について説明す
る。
保持装置を用いて行なう基板の研磨方法について説明す
る。
【0029】まず、砥粒を含んだ研磨剤を研磨パッド1
1上に滴下しながら、定盤10ひいては研磨パッド11
と基板保持ヘッド17Aとを相対回転させると共に、回
転軸16Aを所定の押圧力で研磨パッド11に押圧す
る。また、第1の流体供給路25から第1の空間部21
に所定の圧力の加圧流体を供給すると共に第2の流体供
給路26から第2の空間部22に所定の圧力の加圧流体
を供給する。
1上に滴下しながら、定盤10ひいては研磨パッド11
と基板保持ヘッド17Aとを相対回転させると共に、回
転軸16Aを所定の押圧力で研磨パッド11に押圧す
る。また、第1の流体供給路25から第1の空間部21
に所定の圧力の加圧流体を供給すると共に第2の流体供
給路26から第2の空間部22に所定の圧力の加圧流体
を供給する。
【0030】ここで、回転軸16Aに加える押圧力と第
1の空間部21に供給する加圧流体の圧力との関係につ
いて検討する。
1の空間部21に供給する加圧流体の圧力との関係につ
いて検討する。
【0031】第1の空間部21に供給する加圧流体の圧
力は、(回転軸16Aに加えられる押圧力)÷(基板1
2の面積)の1.0倍よりも若干小さい程度が好まし
い。例えば、直径が8インチのシリコンよりなる基板1
2を500g/cm2 の圧力で研磨パッド11に押し付
けて研磨する場合には、基板12に加わる押圧力は15
7kgとなるので、回転軸16Aには157kgよりも
若干大きい押圧力、例えば160kgの押圧力を加え
る。
力は、(回転軸16Aに加えられる押圧力)÷(基板1
2の面積)の1.0倍よりも若干小さい程度が好まし
い。例えば、直径が8インチのシリコンよりなる基板1
2を500g/cm2 の圧力で研磨パッド11に押し付
けて研磨する場合には、基板12に加わる押圧力は15
7kgとなるので、回転軸16Aには157kgよりも
若干大きい押圧力、例えば160kgの押圧力を加え
る。
【0032】このようにすると、回転軸16Aに加えら
れる押圧力、ひいてはガイド部材19Aが研磨パッド1
1を押圧する押圧力は、第1の空間部21に供給する加
圧流体が基板12を研磨パッド11に押圧する押圧力よ
りも若干大きくなる。従って、ガイド部材19Aは、研
磨パッド11における基板12が研磨パッド11の回転
に伴って接する直前の領域を、基板12が研磨パッド1
1を押圧する押圧力よりも若干大きい押圧力で押圧して
予め弾性変形させておくことができるので、基板12の
周縁部が研磨パッド11から反力を受けて、基板12の
周縁部に対する研磨レートが異常に上昇する事態を抑制
することができる。
れる押圧力、ひいてはガイド部材19Aが研磨パッド1
1を押圧する押圧力は、第1の空間部21に供給する加
圧流体が基板12を研磨パッド11に押圧する押圧力よ
りも若干大きくなる。従って、ガイド部材19Aは、研
磨パッド11における基板12が研磨パッド11の回転
に伴って接する直前の領域を、基板12が研磨パッド1
1を押圧する押圧力よりも若干大きい押圧力で押圧して
予め弾性変形させておくことができるので、基板12の
周縁部が研磨パッド11から反力を受けて、基板12の
周縁部に対する研磨レートが異常に上昇する事態を抑制
することができる。
【0033】第2の空間部22に供給する加圧流体の圧
力は、(第1の空間部21に供給される加圧流体の圧
力)−{(シール部材20の自重)÷(シール部材20
の基板12との接触面積)}とほぼ等しいことが好まし
い。
力は、(第1の空間部21に供給される加圧流体の圧
力)−{(シール部材20の自重)÷(シール部材20
の基板12との接触面積)}とほぼ等しいことが好まし
い。
【0034】このようにすると、基板12の周縁部が第
2の空間部22に供給される加圧流体の圧力及びシール
部材20の自重によって研磨パッド11に押圧される押
圧力と、基板12の中心部が第1の空間部21に供給さ
れる加圧流体によって研磨パッド11に押圧される押圧
力とが等しくなるため、基板12の中心部及び周縁部は
互いに等しい押圧力で研磨パッド11に押圧されるの
で、基板12の中心部及び周縁部に対する研磨レートは
均一になる。
2の空間部22に供給される加圧流体の圧力及びシール
部材20の自重によって研磨パッド11に押圧される押
圧力と、基板12の中心部が第1の空間部21に供給さ
れる加圧流体によって研磨パッド11に押圧される押圧
力とが等しくなるため、基板12の中心部及び周縁部は
互いに等しい押圧力で研磨パッド11に押圧されるの
で、基板12の中心部及び周縁部に対する研磨レートは
均一になる。
【0035】前述したように、シール部材20は、その
自重及び第2の空間部22に供給される加圧流体の圧力
のみを受けて基板12に接しているだけであるから、第
1の空間部21に供給された加圧流体は、シール部材2
0と基板12との接触面からガイド部材19Aの凹状溝
19aを通って外部に漏れ出る。この場合、回転軸16
Aに加えられる圧力は第1の空間部21に供給される加
圧流体の圧力よりも若干大きいため、基板保持ヘッド1
7A及びガイド部材19Aが第1の空間部21から外部
に漏れ出る加圧流体の圧力によって上方に押し上げられ
る恐れはない。
自重及び第2の空間部22に供給される加圧流体の圧力
のみを受けて基板12に接しているだけであるから、第
1の空間部21に供給された加圧流体は、シール部材2
0と基板12との接触面からガイド部材19Aの凹状溝
19aを通って外部に漏れ出る。この場合、回転軸16
Aに加えられる圧力は第1の空間部21に供給される加
圧流体の圧力よりも若干大きいため、基板保持ヘッド1
7A及びガイド部材19Aが第1の空間部21から外部
に漏れ出る加圧流体の圧力によって上方に押し上げられ
る恐れはない。
【0036】(第2実施形態)図3は本発明の第2の実
施形態に係る被研磨基板の保持装置の概略断面図であ
る。図3において、10は平坦な表面を持つ剛体よりな
る回転可能な定盤であって、該定盤10の上面には弾性
を有する研磨パッド11が貼着されている。研磨パッド
11の上方には、研磨の対象となる被研磨基板としての
基板12を保持する基板保持装置15Bが配置されてお
り、該基板保持装置15Bは、上下動可能且つ回転可能
に保持された回転軸16Bと、該回転軸16Bの下端に
一体的に設けられ、下面に凹部17aを有する円盤状の
基板保持ヘッド17Bと、基板保持ヘッド17Bの凹部
17aにおいて該基板保持ヘッド17Bと一体的に設け
られ、分散孔18aを有する流体分散板18とを備えて
いる。
施形態に係る被研磨基板の保持装置の概略断面図であ
る。図3において、10は平坦な表面を持つ剛体よりな
る回転可能な定盤であって、該定盤10の上面には弾性
を有する研磨パッド11が貼着されている。研磨パッド
11の上方には、研磨の対象となる被研磨基板としての
基板12を保持する基板保持装置15Bが配置されてお
り、該基板保持装置15Bは、上下動可能且つ回転可能
に保持された回転軸16Bと、該回転軸16Bの下端に
一体的に設けられ、下面に凹部17aを有する円盤状の
基板保持ヘッド17Bと、基板保持ヘッド17Bの凹部
17aにおいて該基板保持ヘッド17Bと一体的に設け
られ、分散孔18aを有する流体分散板18とを備えて
いる。
【0037】また、第1の実施形態と同様、基板保持ヘ
ッド17Bと流体分散板18との間にはリング状の凹部
が形成されており、該リング状の凹部には弾性体よりな
るリング状のシール部材20が上下動可能に設けられて
いる。これにより、基板保持ヘッド17Bの流体分散板
18と、シール部材20と、研磨パッド11の上に載置
された基板12によって第1の空間部21が形成されて
いると共に、基板保持ヘッド17Bとシール部材20と
によって第2の空間部22が形成されている。
ッド17Bと流体分散板18との間にはリング状の凹部
が形成されており、該リング状の凹部には弾性体よりな
るリング状のシール部材20が上下動可能に設けられて
いる。これにより、基板保持ヘッド17Bの流体分散板
18と、シール部材20と、研磨パッド11の上に載置
された基板12によって第1の空間部21が形成されて
いると共に、基板保持ヘッド17Bとシール部材20と
によって第2の空間部22が形成されている。
【0038】また、第1の実施形態と同様、回転軸16
Bには、互いに独立して加圧流体を供給する、例えば1
つの第1の流体供給路25及び例えば複数の第2の流体
供給路26が設けられている。第1の流体供給路25は
流体分散板18の分散孔18aを介して第1の空間部2
1と連通していると共に、各第2の流体供給路26は第
2の空間部22と連通している。
Bには、互いに独立して加圧流体を供給する、例えば1
つの第1の流体供給路25及び例えば複数の第2の流体
供給路26が設けられている。第1の流体供給路25は
流体分散板18の分散孔18aを介して第1の空間部2
1と連通していると共に、各第2の流体供給路26は第
2の空間部22と連通している。
【0039】第2の実施形態の特徴として、回転軸16
Bは上下動可能であるが、下動した際に研磨パッド11
に対して所定の間隔を有する位置で固定される。すなわ
ち、回転軸16Bは所定位置よりも下方には下動しない
ように保持されている。
Bは上下動可能であるが、下動した際に研磨パッド11
に対して所定の間隔を有する位置で固定される。すなわ
ち、回転軸16Bは所定位置よりも下方には下動しない
ように保持されている。
【0040】また、基板保持ヘッド17Bの周縁部の下
面にはリング状の凹部が形成されており、該リング状の
凹部にはハット状の断面を有するリング状のガイド部材
19Bが上下動可能に設けられている。これにより、基
板保持ヘッド17Bとガイド部材19Bとによって第3
の空間部23が形成されている。第1の実施形態と同
様、ガイド部材19Bは、回転に伴う遠心力によって基
板12が外側に飛び出る事態を防止する機能を有し、ま
た、図2に示すように、ガイド部材19Bの底面には複
数本の凹状溝19aが設けられている。
面にはリング状の凹部が形成されており、該リング状の
凹部にはハット状の断面を有するリング状のガイド部材
19Bが上下動可能に設けられている。これにより、基
板保持ヘッド17Bとガイド部材19Bとによって第3
の空間部23が形成されている。第1の実施形態と同
様、ガイド部材19Bは、回転に伴う遠心力によって基
板12が外側に飛び出る事態を防止する機能を有し、ま
た、図2に示すように、ガイド部材19Bの底面には複
数本の凹状溝19aが設けられている。
【0041】また、回転軸16Bには、第1の流体供給
路25及び第2の流体供給路26に対して独立に加圧流
体例えば加圧エアを供給する例えば複数の第3の流体供
給路27が設けられており、各第3の流体供給路27は
第3の空間部23と連通している。
路25及び第2の流体供給路26に対して独立に加圧流
体例えば加圧エアを供給する例えば複数の第3の流体供
給路27が設けられており、各第3の流体供給路27は
第3の空間部23と連通している。
【0042】従って、ガイド部材19Bは、第3の流体
供給路27から第3の空間部23に供給される加圧流体
例えば加圧エアの押圧力によって研磨パッド11に押圧
されるので、ガイド部材19Bは、回転軸16Bに加え
られる押圧力に対して独立した押圧力を受けて研磨パッ
ド11に押圧される。
供給路27から第3の空間部23に供給される加圧流体
例えば加圧エアの押圧力によって研磨パッド11に押圧
されるので、ガイド部材19Bは、回転軸16Bに加え
られる押圧力に対して独立した押圧力を受けて研磨パッ
ド11に押圧される。
【0043】以下、第2の実施形態に係る被研磨基板の
保持装置を用いて行なう基板の研磨方法について説明す
る。
保持装置を用いて行なう基板の研磨方法について説明す
る。
【0044】まず、第1の実施形態と同様、砥粒を含ん
だ研磨剤を研磨パッド11上に滴下しながら、定盤10
ひいては研磨パッド11と基板保持ヘッド17Bとを相
対回転させると共に、回転軸16Bを所定の押圧力で研
磨パッド11に押圧する。また、第1の流体供給路25
から第1の空間部21に所定の圧力の加圧流体を供給す
ると共に第2の流体供給路26から第2の空間部22に
所定の圧力の加圧流体を供給する。回転軸16Bに加え
る押圧力と、第1の空間部21に供給する加圧流体の圧
力と、第2の空間部22に供給する加圧流体の圧力との
関係については第1の実施形態と同様である。
だ研磨剤を研磨パッド11上に滴下しながら、定盤10
ひいては研磨パッド11と基板保持ヘッド17Bとを相
対回転させると共に、回転軸16Bを所定の押圧力で研
磨パッド11に押圧する。また、第1の流体供給路25
から第1の空間部21に所定の圧力の加圧流体を供給す
ると共に第2の流体供給路26から第2の空間部22に
所定の圧力の加圧流体を供給する。回転軸16Bに加え
る押圧力と、第1の空間部21に供給する加圧流体の圧
力と、第2の空間部22に供給する加圧流体の圧力との
関係については第1の実施形態と同様である。
【0045】ガイド部材19Bを研磨パッド11に押圧
するために第3の空間部23に供給する加圧流体の圧力
は、ガイド部材19Bが研磨パッド11に接する面(下
面)の圧力が、第1の空間部21に供給される加圧流体
の圧力により基板12が研磨パッド11に押圧される圧
力と同程度又はそれ以上になるように設定することが好
ましい。
するために第3の空間部23に供給する加圧流体の圧力
は、ガイド部材19Bが研磨パッド11に接する面(下
面)の圧力が、第1の空間部21に供給される加圧流体
の圧力により基板12が研磨パッド11に押圧される圧
力と同程度又はそれ以上になるように設定することが好
ましい。
【0046】このようにすると、ガイド部材19Bは、
研磨パッド11における該研磨パッド11の回転に伴っ
て基板12が接する直前の領域を、基板12が研磨パッ
ド11を押圧する押圧力と同程度又はそれ以上の圧力で
押圧して予め弾性変形させておくことができるので、基
板12の周縁部が研磨パッド11から大きな反力を受け
て、基板12の周縁部に対する研磨レートが異常に上昇
する事態を抑制することができる。
研磨パッド11における該研磨パッド11の回転に伴っ
て基板12が接する直前の領域を、基板12が研磨パッ
ド11を押圧する押圧力と同程度又はそれ以上の圧力で
押圧して予め弾性変形させておくことができるので、基
板12の周縁部が研磨パッド11から大きな反力を受け
て、基板12の周縁部に対する研磨レートが異常に上昇
する事態を抑制することができる。
【0047】尚、第1及び第2の実施形態においては、
シール部材20を第2の空間部22に供給される加圧流
体の圧力によって研磨パッド11に押圧したが、これに
代えて、シール部材20をエアシリンダ等の機械的押圧
手段により研磨パッド11に押圧してもよい。
シール部材20を第2の空間部22に供給される加圧流
体の圧力によって研磨パッド11に押圧したが、これに
代えて、シール部材20をエアシリンダ等の機械的押圧
手段により研磨パッド11に押圧してもよい。
【0048】また、第2の実施形態においては、ガイド
部材19Bを第3の空間部23に供給される加圧流体の
圧力によって研磨パッド11に押圧したが、これに代え
て、ガイド部材19Bをエアシリンダ等の機械的押圧手
段により研磨パッド11に押圧してもよい。
部材19Bを第3の空間部23に供給される加圧流体の
圧力によって研磨パッド11に押圧したが、これに代え
て、ガイド部材19Bをエアシリンダ等の機械的押圧手
段により研磨パッド11に押圧してもよい。
【0049】
【発明の効果】本発明の被研磨基板の保持装置による
と、第1の空間部に第1の流体供給路から加圧流体を供
給して被研磨基板における周縁部を除く領域を研磨パッ
ドに押圧できると共に、第2の空間部に第2の流体供給
路から加圧流体を供給してシール部材を介して被研磨基
板の周縁部を研磨パッドに押圧できるため、つまり、被
研磨基板における周縁部を除く領域を研磨パッドに押圧
する押圧力と被研磨基板の周縁部を研磨パッドに押圧す
る押圧力とを互いに独立して制御できるため、第1の空
間部に供給される加圧流体の圧力と第2の空間部に供給
される加圧流体の圧力とを最適化して被研磨基板をその
面内において均一な押圧力で研磨パッドに押圧すること
ができるので、被研磨基板に対する研磨レートを面内に
おいて均一にすることができる。
と、第1の空間部に第1の流体供給路から加圧流体を供
給して被研磨基板における周縁部を除く領域を研磨パッ
ドに押圧できると共に、第2の空間部に第2の流体供給
路から加圧流体を供給してシール部材を介して被研磨基
板の周縁部を研磨パッドに押圧できるため、つまり、被
研磨基板における周縁部を除く領域を研磨パッドに押圧
する押圧力と被研磨基板の周縁部を研磨パッドに押圧す
る押圧力とを互いに独立して制御できるため、第1の空
間部に供給される加圧流体の圧力と第2の空間部に供給
される加圧流体の圧力とを最適化して被研磨基板をその
面内において均一な押圧力で研磨パッドに押圧すること
ができるので、被研磨基板に対する研磨レートを面内に
おいて均一にすることができる。
【0050】本発明の被研磨基板の保持装置が、基板保
持ヘッドと共に第3の空間部を形成するガイド部材と、
該ガイド部材を押圧する加圧流体を第3の空間部に供給
する第3の流体供給路とを備えていると、第3の空間部
に供給される加圧流体の圧力を最適化することによっ
て、ガイド部材により研磨パッドにおける被研磨基板が
接する直前の領域を被研磨基板が研磨パッドを押圧する
押圧力と同程度又はそれ以上の圧力で押圧して予め弾性
変形させておくことができるので、被研磨基板の周縁部
が研磨パッドから反力を受けて被研磨基板の周縁部に対
する研磨レートが異常に上昇する事態を抑制することが
できる。
持ヘッドと共に第3の空間部を形成するガイド部材と、
該ガイド部材を押圧する加圧流体を第3の空間部に供給
する第3の流体供給路とを備えていると、第3の空間部
に供給される加圧流体の圧力を最適化することによっ
て、ガイド部材により研磨パッドにおける被研磨基板が
接する直前の領域を被研磨基板が研磨パッドを押圧する
押圧力と同程度又はそれ以上の圧力で押圧して予め弾性
変形させておくことができるので、被研磨基板の周縁部
が研磨パッドから反力を受けて被研磨基板の周縁部に対
する研磨レートが異常に上昇する事態を抑制することが
できる。
【0051】本発明の基板の研磨方法によると、基板押
圧工程において第1の空間部に第1の流体供給路から加
圧流体を供給して被研磨基板における周縁部を除く領域
を研磨パッドに押圧できると共に、シール部材押圧工程
において第2の空間部に第2の流体供給路から加圧流体
を供給してシール部材を介して被研磨基板の周縁部を研
磨パッドに押圧できるため、被研磨基板における周縁部
を除く領域を研磨パッドに押圧する押圧力と被研磨基板
の周縁部を研磨パッドに押圧する押圧力とを互いに独立
して制御できるので、第1の空間部に供給される加圧流
体の圧力と第2の空間部に供給される加圧流体の圧力と
を最適化して被研磨基板をその面内において均一な押圧
力で研磨パッドに押圧でき、これによって、被研磨基板
に対する研磨レートを面内において均一にすることがで
きる。
圧工程において第1の空間部に第1の流体供給路から加
圧流体を供給して被研磨基板における周縁部を除く領域
を研磨パッドに押圧できると共に、シール部材押圧工程
において第2の空間部に第2の流体供給路から加圧流体
を供給してシール部材を介して被研磨基板の周縁部を研
磨パッドに押圧できるため、被研磨基板における周縁部
を除く領域を研磨パッドに押圧する押圧力と被研磨基板
の周縁部を研磨パッドに押圧する押圧力とを互いに独立
して制御できるので、第1の空間部に供給される加圧流
体の圧力と第2の空間部に供給される加圧流体の圧力と
を最適化して被研磨基板をその面内において均一な押圧
力で研磨パッドに押圧でき、これによって、被研磨基板
に対する研磨レートを面内において均一にすることがで
きる。
【0052】本発明の基板の研磨方法において、第2の
空間部に供給される加圧流体の圧力が、(第1の空間部
に供給される加圧流体の圧力)−{(シール部材の自
重)/(シール部材の被研磨基板との接触面積)}とほ
ぼ等しいと、被研磨基板における周縁部を除く領域を研
磨パッドに押圧する押圧力と被研磨基板の周縁部を研磨
パッドに押圧する押圧力とを等しくできるため、被研磨
基板をその面内において均一な押圧力で研磨パッドに押
圧できるので、被研磨基板に対する研磨レートを面内に
おいて確実に均一にすることができる。
空間部に供給される加圧流体の圧力が、(第1の空間部
に供給される加圧流体の圧力)−{(シール部材の自
重)/(シール部材の被研磨基板との接触面積)}とほ
ぼ等しいと、被研磨基板における周縁部を除く領域を研
磨パッドに押圧する押圧力と被研磨基板の周縁部を研磨
パッドに押圧する押圧力とを等しくできるため、被研磨
基板をその面内において均一な押圧力で研磨パッドに押
圧できるので、被研磨基板に対する研磨レートを面内に
おいて確実に均一にすることができる。
【0053】本発明の基板の研磨方法が、第3の空間部
に第3の流体供給路から加圧流体を供給してガイド部材
を研磨パッドに押圧するガイド部材押圧工程を備えてい
ると、第3の空間部に供給される加圧流体の圧力を最適
化することによって、ガイド部材により研磨パッドにお
ける被研磨基板が接する直前の領域を被研磨基板が研磨
パッドを押圧する押圧力と同程度又はそれ以上の圧力で
押圧して予め弾性変形させておくことができるので、被
研磨基板の周縁部が研磨パッドから反力を受けて被研磨
基板の周縁部に対する研磨レートが異常に上昇する事態
を抑制することができる。
に第3の流体供給路から加圧流体を供給してガイド部材
を研磨パッドに押圧するガイド部材押圧工程を備えてい
ると、第3の空間部に供給される加圧流体の圧力を最適
化することによって、ガイド部材により研磨パッドにお
ける被研磨基板が接する直前の領域を被研磨基板が研磨
パッドを押圧する押圧力と同程度又はそれ以上の圧力で
押圧して予め弾性変形させておくことができるので、被
研磨基板の周縁部が研磨パッドから反力を受けて被研磨
基板の周縁部に対する研磨レートが異常に上昇する事態
を抑制することができる。
【0054】この場合、第3の空間部に供給される加圧
流体の圧力が第1の空間部に供給される加圧流体の圧力
と同程度か又は大きいと、ガイド部材により研磨パッド
における被研磨基板が接する直前の領域を予め弾性変形
させておくことができるので、被研磨基板の周縁部が研
磨パッドから反力を受けて被研磨基板の周縁部に対する
研磨レートが異常に上昇する事態を確実に抑制すること
ができる。
流体の圧力が第1の空間部に供給される加圧流体の圧力
と同程度か又は大きいと、ガイド部材により研磨パッド
における被研磨基板が接する直前の領域を予め弾性変形
させておくことができるので、被研磨基板の周縁部が研
磨パッドから反力を受けて被研磨基板の周縁部に対する
研磨レートが異常に上昇する事態を確実に抑制すること
ができる。
【図1】本発明の第1の実施形態に係る被研磨基板の保
持装置の概略断面図である。
持装置の概略断面図である。
【図2】本発明の第1及び第2の実施形態に係る被研磨
基板の保持装置における基板及びガイド部材の底面図で
ある。
基板の保持装置における基板及びガイド部材の底面図で
ある。
【図3】本発明の第2の実施形態に係る被研磨基板の保
持装置の概略断面図である。
持装置の概略断面図である。
【図4】従来の基板の研磨装置の概略斜視図である。
【図5】従来の基板の研磨装置の概略断面図である。
10 定盤 11 研磨パッド 12 基板 15A、15B 基板保持装置 16A、16B 回転軸 17A、17B 基板保持ヘッド 17a 凹部 18 流体分散板 18a 分散孔 19A、19B ガイド部材 19a 凹状溝 20 シール部材 21 第1の空間部 22 第2の空間部 23 第3の空間部 25 第1の流体供給路 26 第2の流体供給路 27 第3の流体供給路
Claims (6)
- 【請求項1】 被研磨基板を保持すると共に保持した被
研磨基板を研磨パッドに押し付ける被研磨基板の保持装
置であって、 前記研磨パッドに対して進退可能に設けられ、被研磨基
板を保持する基板保持ヘッドと、 前記基板保持ヘッドにおける被研磨基板の周縁部と対向
する部位に前記基板保持ヘッドに対して接離可能に設け
られ、前記基板保持ヘッド及び前記研磨パッド上に載置
された被研磨基板と共に第1の空間部を形成し且つ前記
基板保持ヘッドと共に第2の空間部を前記第1の空間部
の外側に形成するシール部材と、 前記基板保持ヘッドに設けられ、前記研磨パッド上に載
置された被研磨基板を前記研磨パッドに押圧する加圧流
体を前記第1の空間部に供給する第1の流体供給路と、 前記基板保持ヘッドに設けられ、前記シール部材を前記
研磨パッドに押圧する加圧流体を前記第2の空間部に供
給する第2の流体供給路とを備えていることを特徴とす
る被研磨基板の保持装置。 - 【請求項2】 前記基板保持ヘッドにおける前記シール
部材が設けられている部位の外側に前記基板保持ヘッド
に対して接離可能に設けられ、前記基板保持ヘッドと共
に第3の空間部を前記第2の空間部の外側に形成すると
共に前記研磨パッド上に載置された被研磨基板を所定の
位置に保持するガイド部材と、 前記基板保持ヘッドに設けられ、前記ガイド部材を前記
研磨パッドに押圧する加圧流体を前記第3の空間部に供
給する第3の流体供給路とをさらに備えていることを特
徴とする請求項1に記載の被研磨基板の保持装置。 - 【請求項3】 被研磨基板を研磨パッドに押し付けて研
磨する基板の研磨方法であって、 被研磨基板を保持する基板保持ヘッドと、前記基板保持
ヘッドに保持された状態で前記研磨パッド上に載置され
ている被研磨基板と、前記基板保持ヘッドにおける前記
研磨パッド上に載置された被研磨基板の周縁部と対向す
る部位に前記基板保持ヘッドに対して接離可能に設けら
れたシール部材とによって形成される第1の空間部に、
前記基板保持ヘッドに設けられた第1の流体供給路から
加圧流体を供給して、前記研磨パッド上に載置された被
研磨基板を前記研磨パッドに押圧する工程と、 前記基板保持ヘッドと前記シール部材とによって形成さ
れる第2の空間部に、前記基板保持ヘッドに設けられた
第2の流体供給路から加圧流体を供給して、前記シール
部材を前記研磨パッドに押圧する工程とを備えているこ
とを特徴とする基板の研磨方法。 - 【請求項4】 前記第2の空間部に供給される加圧流体
の圧力は、(前記第1の空間部に供給される加圧流体の
圧力)−{(前記シール部材の自重)/(前記シール部
材の被研磨基板との接触面積)}とほぼ等しいことを特
徴とする請求項3に記載の基板の研磨方法。 - 【請求項5】 前記基板保持ヘッドと、該基板保持ヘッ
ドにおける前記シール部材が設けられている部位の外側
に該基板保持ヘッドに対して接離可能に設けられ被研磨
基板を所定位置に保持するガイド部材とによって形成さ
れる第3の空間部に、前記基板保持ヘッドに設けられた
第3の流体供給路から加圧流体を供給して、前記ガイド
部材を前記研磨パッドに押圧する工程をさらに備えてい
ることを特徴とする請求項3に記載の基板の研磨方法。 - 【請求項6】 前記第3の空間部に供給される加圧流体
の圧力は、前記第1の空間部に供給される加圧流体の圧
力に比べて同程度か又は大きいことを特徴とする請求項
5に記載の基板の研磨方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10016499A JPH11207602A (ja) | 1998-01-29 | 1998-01-29 | 被研磨基板の保持装置及び基板の研磨方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10016499A JPH11207602A (ja) | 1998-01-29 | 1998-01-29 | 被研磨基板の保持装置及び基板の研磨方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11207602A true JPH11207602A (ja) | 1999-08-03 |
Family
ID=11917980
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10016499A Withdrawn JPH11207602A (ja) | 1998-01-29 | 1998-01-29 | 被研磨基板の保持装置及び基板の研磨方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11207602A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001274123A (ja) * | 2000-03-27 | 2001-10-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 基板研磨装置及び基板研磨方法 |
| CN116330150A (zh) * | 2021-12-24 | 2023-06-27 | 夏普显示科技株式会社 | 研磨装置、显示面板及基板的制造方法 |
-
1998
- 1998-01-29 JP JP10016499A patent/JPH11207602A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001274123A (ja) * | 2000-03-27 | 2001-10-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 基板研磨装置及び基板研磨方法 |
| CN116330150A (zh) * | 2021-12-24 | 2023-06-27 | 夏普显示科技株式会社 | 研磨装置、显示面板及基板的制造方法 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050405 |