JPH11211592A - 高圧センサー及びその製造方法 - Google Patents

高圧センサー及びその製造方法

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JPH11211592A
JPH11211592A JP10286115A JP28611598A JPH11211592A JP H11211592 A JPH11211592 A JP H11211592A JP 10286115 A JP10286115 A JP 10286115A JP 28611598 A JP28611598 A JP 28611598A JP H11211592 A JPH11211592 A JP H11211592A
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JP
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pressure sensor
sensor assembly
diaphragm
dielectric layer
thick
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Application number
JP10286115A
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English (en)
Inventor
Joseph Martin Ratell
ジョセフ・マーティン・ラテル
Jr John Marcus Hart
ジョン・マーカス・ハート,ジュニアー
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Delco Electronics LLC
Original Assignee
Delco Electronics LLC
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Publication date
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    • G01L9/0041Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
    • G01L9/0051Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in ohmic resistance
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 幅広い種類の腐蝕性媒体に適合する耐蝕性の
ダイヤフラムを有する高圧センサーを提供する。 【解決手段】 高圧変換器セルは、概ね、ダイヤフラム
26を有するメタル本体と、ダイヤフラム26に設けら
れた少なくとも1つの誘電体層28、38と、誘電体層
28、38に設けられダイヤフラム26の撓みを感知す
るための少なくとも1つの厚膜ピエゾ抵抗素子34とを
備えている。メタル本体は、スチールから形成される。
ダイヤフラム26は、メタル本体をエッチングまたは機
械加工により形成できる。誘電体層28、38は、厚膜
ピエゾ抵抗素子34に施したような厚膜処理をし、メタ
ルダイヤフラム26に接着する材料を採用することによ
って、形成されることが好ましい。これによって、誘電
体層28、38は、ダイヤフラム26が撓んだとき引き
起こされる歪みに耐えることができ、そのような歪みを
厚膜ピエゾ抵抗素子34に正確に伝達することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本願発明は、概ね、圧力感知
装置及びその圧力感知装置を製造するための方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】信頼性と感度と線形性が高く、また、よ
り低コストで且つより小さな寸法の圧力センサーを開発
する継続的な努力がなされている。これらの特性の促進
に基づいて幅広く受け入れられるセンサーには、微細機
械加工された感知ダイヤフラムを備えた半導体材料を用
いたものがある。顕著な例としては、半導体製造工程を
用いて製造され、微細機械加工された単結晶のシリコン
圧力変換器セルがある。そのようなセルの加工におい
て、薄いダイヤフラムが、適宜の化学エッチングを行う
ことによって、シリコンウェーハに形成される。次い
で、イオン注入(法)や拡散技術を用いて、ダイヤフラ
ム内に素子をドーピングし、これにより、圧電抵抗素子
(換言すれば、ピエゾ抵抗素子(piezoresis
tive element))を形成する。圧電抵抗素
子の導電率は、ひずみで変化し、その結果、ダイヤフラ
ムの撓みによって、圧電抵抗素子の抵抗値が変化する。
圧電抵抗素子の抵抗値の変化と、ダイヤフラムに加えら
れる圧力の大きさにとは相互に関係づけられている。
【0003】単結晶のシリコン圧力変換器セルのダイヤ
フラムは、典型的に小さく、まれに幅が数ミリメートル
を越えることがある。前記ダイヤフラムは、厚さが大変
薄く、その厚さは、100マイクロメートルよりも小さ
いことが多い。標準の単結晶シリコンウェーハと標準の
半導体装置製造工程の使用によって、そのような多くの
セルは、単一のウェーハから製造可能になっており、こ
れによって、規模の経済が達成される。しかしながら、
シリコンは、特に、高圧媒体が感知される用途(例え
ば、ブレーキ流体、オイル、トランスミッション流体、
作動液、燃料及びステアリング流体圧力を感知する自動
車の用途)において、種々の媒体によって、化学的侵食
や腐食に影響されやすい。そのような用途のために、圧
力センサーは、また、物理的に頑丈でなければならず、
また、感知すべき媒体の劣悪な環境に抵抗力がなければ
ならない。これにより、化学的に劣悪な環境における効
果的な作動特性を実現するために、微細機械加工された
シリコン圧力変換器セルが、ある形態の防御を備えると
いうことが必要になっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】媒体に適合した高圧セ
ンサーを製造する現在の方法は、シリコーン油またはゲ
ルのような不活性液体にシリコン感知チップを封入する
ステップと、メタルダイヤフラムで感知すべき前記媒体
から前記シリコン感知チップを隔離し、前記メタルダイ
ヤフラムと流体とを介して圧力を前記シリコン感知チッ
プに伝達するステップとを備えている。これにより、シ
リコン圧力変換器セルの作動効果を奏することができる
が、これらのセンサーの製造工程とセンサー自身とが比
較的高価になり、複雑になる。その結果、これらのセン
サーは、自動車の用途のための大量生産されるセンサー
として適当ではない。さらに、作動温度範囲で、また、
ある時間にわたって、流体が前記シリコン圧力変換器セ
ルに接触する影響は、十分に大きいので、圧力の影響か
ら、前記シリコン圧力変換器セル上に加えられる影響を
切り離す複雑な電子装置が必要となる。
【0005】別のアプローチでは、セラミックダイヤフ
ラム上にコンデンサ極板(capacitor pla
te)を形成している。前記コンデンサ極板は、第2の
コンデンサ極板を備えたベースに結合されている。酸化
アルミニウム(aluminum oxide)や酸化
ジルコニウム(zirconium oxide)のよ
うな耐薬品性を有し機械的に強靱なセラミック材料を使
用することにより、前記ダイヤフラムは、圧力が測定さ
れるようになっている前記媒体に、直接的に接触可能と
なる。それによって、保護用のパッケージングが不必要
になっている。前記セラミックダイヤフラムが圧力の影
響下で撓むと、前記コンデンサ極板の間のギャップ(間
隙)が変化し、これに対応して、静電容量が変化し、加
えられた圧力との間に相関関係を生じさせることができ
る。しかしながら、静電容量の変化を検出するのに必要
な回路が、いくらか複雑になり、ノイズの悪影響を被
る。さらに、高圧の用途に対して、前記セラミックダイ
ヤフラムとベースとの間を十分に密封することは、困難
である。
【0006】さらに別のアプローチでは、耐薬品性を有
するセラミックダイヤフラムが、前記ダイヤフラムにス
クリーン印刷された厚膜ピエゾ抵抗体を用いており、そ
れによって、単結晶シリコン圧力変換器セルの場合と同
じ態様で圧力を感知するようになっている。セラミック
容量型圧力センサーのように、前記セラミック材料は、
圧力が感知される前記媒体と直接的に接触することがで
きるように選択され、これによって、保護用のパッケー
ジングが不必要になっている。使用される前記単一の検
出回路構造体は、前記容量型センサーの場合よりも複雑
ではなくなるが、前記セラミックダイヤフラムをベース
で確実に密封することは、高圧の用途における前記容量
型センサーの場合と同じように困難である。
【0007】最後に、当該技術で公知な他の媒体に適合
するセンサーでは、感知素子としてメタルダイヤフラム
を採用している。メタルダイヤフラムは、一定の厚さが
与えられ所定の圧力が加えられると、(より低い伸びを
示し、その後、破壊し、そのため、加圧下でわずかに撓
むように設計されている)セラミックダイヤフラムより
もかなり撓むので、感知は、スチール製のダイヤフラム
に付着させた薄膜のポリシリコン(thin−film
polysilicon)や薄膜のメタルによって行
われる。前記ダイヤフラムは、最初に、誘電体(絶縁
体)層(dielectric layer)でコーテ
ィング(被覆)し、これによって、前記ダイヤフラム
を、前記薄膜抵抗体や導体から絶縁しなければならな
い。薄膜のポリシリコン層が、次いで付着させられ、こ
れにより、前記ピエゾ抵抗体が形成され、続いて、薄膜
の金属被覆が形成されて、電気的に相互接続させられ
る。通常のように、前記薄膜層は、典型的に、化学蒸着
法や物理蒸着法によって付着される。これらの工程に必
要な装置は高価であり、付着速度はきわめて緩慢であ
る。薄膜層の付着は、前記必要な薄膜のフォトレジスト
や金属被覆のために、多数のパターン形成(patte
rning)ステップ、露光ステップ、現像ステップ及
びストリッピングステップを必要とする。また、薄膜層
の付着は、空中の粒子がコーティング(被覆)すべき前
記表面に付かないことを確保するために、制御された環
境で実行しなればならない。さらに、そのような工程に
より、10,000オングストロームよりも厚くない薄
膜が、通常、付着するので、前記メタルダイヤフラムの
表面を、きわめて滑らかにして、前記付着された薄膜を
貫いたりあるいは前記付着された薄膜に凹凸(不連続
性)を生成する粗面が形成されるのを避けるようにしな
ければならない。その結果として生じるポリシリコンの
薄膜ピエゾ抵抗体の抵抗は、温度で劇的に変化すること
ができる。
【0008】シリコン圧力変換器セルのいくつかの作動
効果を達成したが、前記センサー及び/又はこれらの製
造工程は、重要な欠点を備えており、かかる欠点には、
前記センサーを大量生産の用途に不適合にする複雑な製
造工程を含んでいるということが明らかである。さら
に、セラミック感知素子をセラミックベースに密封する
のが困難なので、前記セラミック圧力変換器セルは、一
般的に、圧力が約1000psi(約7MPa)(ps
i(pounds per square inch:
ポンド/平方インチ))を越える用途に適切ではない。
【0009】したがって、腐蝕性があり高圧の媒体に適
合し、比較的複雑でなく、低コストで製造でき、高い信
頼性と感度によって特徴づけられた圧力センサーが必要
になっている。
【0010】本願発明の目的は、幅広い種類の腐蝕性媒
体に適合する耐蝕性のダイヤフラムを有する高圧センサ
ーを提供することである。
【0011】本願発明の他の目的は、前記圧力センサー
が、温度変動に比較的に鈍感であって、大量生産技術に
適合できるように容易に生産可能な、化学的に且つ機械
的に強靱で大変に高い圧力を感知できるセンサーを生産
する厚膜技術を採用することである。
【0012】本願発明の他の目的は、そのようなセンサ
ーを製造する方法を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】本願発明の好適な一実施
例によれば、これらのそして他の目的や効果は、媒体に
適合した高圧力変換器セル、前記セルを組み入れた頑丈
なセンサーアセンブリ及びその製造方法で達成される。
本願発明の前記高圧力変換器セルは、概ね、ダイヤフラ
ムを有するメタル本体を備えている。少なくとも1つの
誘電体層(換言すれば、絶縁体層(dielectri
c layer))が、前記ダイヤフラムに設けられて
いる。また、少なくとも1つの厚膜のピエゾ抵抗素子
(厚膜の圧電抵抗素子)が、前記ダイヤフラムの撓みを
感知できるように、前記誘電体層に設けられている。幅
広い種類の媒体に適合できるようにするために、前記メ
タル本体は、スチール(鋼)から形成されていることが
好ましく、AISI Type 300または400シ
リーズのようなステンレススチール(ステンレス鋼)か
ら形成することが最も好ましい。前記ダイヤフラムは、
スタンピング、エッチング、または機械加工(マシニン
グ)によって形成できる。
【0014】前記誘電体層は、前記ピエゾ抵抗素子(圧
電抵抗素子)で行われているように、厚膜加工によって
形成されることが好ましい。前記メタルダイヤフラムに
適合させるために、前記ダイヤフラムに加えられる前記
誘電体層は、前記メタルダイヤフラムに接着する材料か
ら形成されなければならない。さらに、本願発明による
厚膜誘電体層は、前記ダイヤフラムが撓んだときに引き
起こされるひずみに耐えることができ、前記ダイヤフラ
ムのひずみに比例したレベルで、そのようなひずみを前
記厚膜ピエゾ抵抗体に正確に伝達することができなけれ
ばならない。そのような問題は、従来の圧力センサーに
よって採用されている薄膜構造体を用いたとき、一般的
に持ち上がらない。本願発明にしたがって、多数の誘電
体層(そのうちの少なくとも1つの層が厚膜層になって
いる)を採用することが好ましい。薄膜材料と厚膜材料
とを組み合わせると共に、薄膜用の加工処理と厚膜用の
加工処理とを組み合わせることにより、本願発明によっ
て要求される金属被覆と、厚膜ピエゾ抵抗体と、多数の
誘電体層とを形成する場合に発生する不適合性の加工処
理することを避けるために、前記誘電体層の全てが、厚
膜であることがより好ましい。
【0015】前記感知セルは、溶接によってベースに組
み付けられる。前記圧力センサーセルのメタル本体は、
前記ベースの開口部を閉鎖する。感知される前記媒体
は、前記開口部を介して、前記印刷された層から離れた
前記ダイヤフラムの側に供給される。その結果、前記ダ
イヤフラムは、前記印刷された層及び信号整形電子装置
用の、密封材(シール)及び機械的な絶縁体(isol
ator)として作動する。さらに、前記圧力変換器セ
ルのパッケージングには、当該技術において公知な電気
的な接続及びカバーを含めることができる。さらに、本
願発明の圧力センサーアセンブリは、単一の信号処理回
路構造体を備えていることが好ましい。前記信号処理回
路構造体は、前記感知素子と電気的に相互に接続させら
れている。前記信号処理回路構造体は、前記感知セルの
ダイヤフラムに直接的に取り付けられたシリコンチップ
に形成することができる。
【0016】本願発明によれば、前記構造及び方法によ
って、耐蝕性のメタルダイヤフラムと厚膜技術とを組み
合わせた圧力変換器セルが生産される。前記圧力変換器
セルは、大変に高い圧力、例えば、10,000psi
(約70MPa)を越えた圧力を感知できる。一方、前
記圧力変換器セルは、化学的且つ機械的に強靱であり、
容易に製造でき、また、比較的に温度変動に鈍感になっ
ている。特に、前記圧力変換器セルは、従来技術のシリ
コンセンサーに対して要求された前記囲い及び半導体の
加工によって妨げられない。大変に高い圧力を感知でき
ることに加えて、前記メタルダイヤフラムは、前記セン
サーの動作特性に合うように容易に製造できる。
【0017】本願発明は、添付した図面を参照して、具
体例を通して説明されている。
【0018】
【発明の実施の形態】図1は、圧力センサーアセンブリ
10を図示している。圧力センサーアセンブリ10に
は、本願発明にしたがって、感知セル12が組み込まれ
ている。図示されたように、圧力センサーアセンブリ1
0は、ベース14を備えている。感知セル12は、ベー
ス14に取りつけられている。圧力センサーアセンブリ
10は、また、前記ベース14を備えた感知セル12を
封入する連結部16を備えている。感知セル12は、感
知素子18を備えることができるように形成されてい
る。感知素子18は、媒体により加えられた圧力に応答
して撓むことができる。図1及び図2に示されているよ
うに、感知セル12は、ベース14に設けられた通路2
0の一端を閉鎖している。感知素子18は、通路20を
介して、感知すべき媒体に露出されている。しかしなが
ら、感知セル12とベース14は、前記と同様な所望の
結果を達成できるように示されたものとは別の形状に形
成できることは予知できる。図1及び図2に示されたよ
うに、1またはそれ以上のシリコンチップ24を、感知
セル12に直接的に取り付けることができる。単一の信
号処理回路構造体が、シリコンチップ24に設けられて
いる。シリコンチップ24は、CMOS、BICMOS
あるいはバイポーラー集積回路テクノロジーのような前
記信号処理回路構造体を備えた、単結晶シリコンである
ことが好ましく、これによって、温度の影響や外部応力
の結果として生じる出力誤差を補償(または、補正)す
ることができる。
【0019】図3を参照すると、感知セル12の感知素
子18が、メタルダイヤフラム26に設けられた多数の
層28、34、36及び38によって構成されるように
示されている。本願発明によれば、感知セル12とメタ
ルダイヤフラム26は、モノリシックなメタル構造体の
形状であることが好ましい。そして、メタルダイヤフラ
ム26は、メタル本体を、通常のスタンピング、機械加
工または微細機械加工することによって形成されてい
る。後者では、公知のエッチング技術を用いている。そ
して、前記メタル本体の残りは、メタルダイヤフラム2
6用の環状の支持部22を形成している。あるいは、メ
タルダイヤフラム26は、溶接などによって環状の支持
部22に強固に固定されて感知セル12を形成する、別
体の部材とすることもできることは予測可能である。
【0020】好適な実施例において、感知セル12は、
ベース14に強固に取り付けられて、それらの間を耐久
性のある状態で液密することができる。種々の方法の取
付けが可能であるが、好適な実施例において、感知セル
12及びベース14は、合金鋼(steel allo
y)から形成され、溶接によって結合されている。前記
所定の媒体に対して耐食性(耐腐食性)のレベルを適切
にするために、感知セル12やベース14にとって、ス
テンレススチール(ステンレス鋼)が好ましい。種々の
グレードのスチール(鋼)を用いることができるが、好
適な合金は、AISI Type 300及び400シ
リーズの合金である。そして、Type304L及び4
30は、後述するように、メタルダイヤフラム26に接
触したり接着される層28に適切な材料に、特に、適合
しているということがわかった。しかしながら、炭素や
亜鉛めっき鋼(galvanized steel)な
どの他の金属ばかりでなく、他のステンレススチール
(ステンレス鋼)を使用することも、本願発明の範囲に
含まれる。再び、図3を参照すると、感知素子18は、
2つの誘電体層(絶縁体層)28及び38と、ピエゾ抵
抗体(piezoresistor)34と、接触子3
6とから形成されるように示されている。ピエゾ抵抗体
34は、メタルダイヤフラム26の撓みを感知できるよ
うに採用されており、一方、誘電体層28及び38は、
ピエゾ抵抗体34をメタルダイヤフラム26から電気的
に絶縁するために必要になっている。接触子36によっ
て、ワイヤーボンディングの使用により、シリコンチッ
プ24の信号処理回路構造体をピエゾ抵抗体34に電気
的に相互に接続させることが可能になっていると共に、
信号処理回路構造体を外側の連結部16に電気的に相互
に接続させることが可能になっている。あるいは、シリ
コンチップ24は、フリップチップとすることができ、
公知のフリップチップ取付け方法によって接触子36に
接続することができる。単一のピエゾ抵抗体34が示さ
れているが、ホイートストンブリッジを使用して感知セ
ル12の出力を処理する目的などのために、任意の数の
ピエゾ抵抗体を用いることができるということが理解さ
れるであろう。
【0021】本願発明の重要な特徴は、誘電体層28及
び38、ピエゾ抵抗体34及び接触子36が、各々、厚
膜加工処理によって形成されていることである。したが
って、誘電体層28及び38、ピエゾ抵抗体34及び接
触子36の各々の厚さは、約25μm(約1ミル)ある
いはそれ以上である。そして、誘電体層28及び38、
ピエゾ抵抗体34及び接触子36の各々は、印刷技術や
同様な加工処理を用いて、適切なペーストやインキ(イ
ンク)を付着させることによって形成される。したがっ
て、誘電体層28及び38、ピエゾ抵抗体34及び接触
子36は、薄膜構造体から区別できる。ピエゾ抵抗体3
4は、さらに、単結晶圧力セルと一緒に用いられる、打
ち込み(または、注入)式のピエゾ抵抗体や拡散型のピ
エゾ抵抗体とも区別できる。本願発明によれば、ピエゾ
抵抗体34及び接触子36用の適切なインキは、当該技
術において公知である。例えば、ピエゾ抵抗体34に対
して適切とわかった市場で入手可能なインキは、Ele
ctroscienceLabsからESL D−34
14の名前で手に入れることが可能である。前記インキ
を付着させるための厚膜印刷処理やそのようなインキを
焼成するために必要な熱処理は、耐薬品性を有する(換
言すれば、化学的に抵抗力がある)セラミックダイヤフ
ラムを用いる従来の圧力変換器セルの製造において必要
な処理と、概ね等しくなっている。したがって、そのよ
うなインキ及び処理は、本願明細書においてより詳細に
は説明しない。
【0022】公知の工学上の原理にしたがって、メタル
ダイヤフラム26の直径及び厚さは、メタルダイヤフラ
ム26が前記媒体の圧力変化に応答して十分且つ確実に
撓むことができるように相対的に寸法決めされている。
一方、ベース14と環状の支持部22は、メタルダイヤ
フラム26を構造的に剛性支持している。メタルダイヤ
フラム26の適切な寸法は、約0.02ミリメートルな
いし約1.0ミリメートルの厚さであり、約4ミリメー
トルないし約20ミリメートルの直径である。しかし、
種々の寸法を有するダイヤフラムが、本願発明の範囲内
にある。
【0023】メタルダイヤフラム26に可撓性をもたせ
るには、特に、厚膜誘電体層28及び38と、厚膜ピエ
ゾ抵抗体34とを必要とする。特に、メタルダイヤフラ
ム26に適合させるように、下の方の誘電体層28を、
メタルダイヤフラム26に付着でき且つメタルダイヤフ
ラム26に接着する材料から形成しなければならない。
同様に、上の方の誘電体層38を、下の方の誘電体層2
8とピエゾ抵抗体34用の材料に適合する材料から形成
しなければならない。さらに、厚膜誘電体層28及び3
8の各々は、メタルダイヤフラム26が撓むときに引き
起こされる歪みに耐えなければならない。さらに、厚膜
誘電体層28及び38の各々は、メタルダイヤフラム2
6の歪みに比例したレベルで、そのような歪みを厚膜ピ
エゾ抵抗体34に正確に伝達しなければならない。従来
技術の圧力センサーによって採用されている薄膜構造を
使用したとき、そのような問題は、一般的に、持ち上が
っていない。本願発明は、多数の誘電体層(1またはそ
れ以上の結合剤(接合剤)や金属酸化物(metal
oxides)の混合物を含むことが好ましい少なくと
も下方の誘電体層28)を用いることによって、この問
題点と取り組むものである。適切な金属酸化物の混合物
は、誘電体層28が焼成されたとき、メタルダイヤフラ
ム26の熱膨張率にほぼ等しい熱膨張率を提供するもの
である。適切な結合剤(接合剤)は、メタルダイヤフラ
ム26の材料に対し非腐蝕性のものである。前記金属酸
化物の代わりになる他の可能な材料は、磁器(porc
elain)、石英(quartz)、SiO2 、Si
34 、SiC、ポリイミド(polyimide)な
どである。
【0024】誘電体層28及び38に対して特に適切な
インキ配合物(組成物)は、ESLD−4914とES
L 4913Bである。それらの各々は、Electr
oscience Labsから市場で入手可能であ
る。誘電体層38用の前記ESL 4913Bインキ配
合物は、上述したESL 3414Bインキ配合物から
形成されたピエゾ抵抗体と適合するように決定されてい
た。ここでの重要性は、厚膜材料及び処理が、メタル感
知ダイヤフラムに適合するピエゾ抵抗体及び厚膜誘電体
層を形成するように決定されていたことである。そのよ
うな適合性は予期されるものではないということが、E
lectroscience Labsによって製造さ
れた上記誘電体材料(絶縁体材料)が、静的な用途に対
して主として発展され、可撓性基板を含む動的な用途に
対して発展されなかったという事実からさらに理解する
ことができる。
【0025】圧力センサーアセンブリ10を取り付ける
ために、ベース14は、加圧媒体を含む容器の壁に形成
されたポートに挿入できる。図示されたように、ベース
14は、ねじ付きポート開口部に螺合できるようになっ
ている。しかし、他の適切な締結方法を採用して、ベー
ス14を固定することができ、また、ベース14と前記
容器との間を液密にすることができる。圧力センサーア
センブリ10を適切に取り付けると、前記媒体の圧力変
化によって、メタルダイヤフラム26が撓み、そのと
き、このメタルダイヤフラム26の撓みが、誘電体層2
8及び38を介してピエゾ抵抗体34によって感知され
る。
【0026】本願発明に対する評価において、変換器セ
ルは、約1ミリメートルの厚さを有する、冷間圧延され
たステンレススチール(ステンレス鋼)合金AISI
Type 304L、430及び17−7PHのプレー
トから形成され、化学的にエッチングされ、これによっ
て、直径9.5ミリメートルあるいは10.5ミリメー
トルのディスクが製造された。このとき、8ミリメート
ルの直径のダイヤフラムは、前記ディスクの外径と同心
円状になっている。約0.2ミリメートルの厚さを有す
るダイヤフラムと、約0.5ミリメートルの厚さを有す
るダイヤフラムとが、評価された。種々の処理と処理の
組み合わせとが、前記ディスクに行われ、その後、厚膜
インキが、前記ダイヤフラムの表面に印刷された。前記
処理には、脱脂、媒体ブラスチング(media bl
asting)及び酸化を含む。市場で入手可能な種々
の絶縁性のインキが、市場で入手可能な種々のピエゾ抵
抗体インキと組み合わせて印刷された。
【0027】一般的には、ガラス製の絶縁性インキが、
230メッシュスクリーン(mesh screen)
を介して塗布され、約10分ないし15分の間、約15
0°Cで乾燥させられ、次いで、約10分の間、約85
0°Cで焼成され、これにより、前記メタルダイヤフラ
ムの各々に第1の厚膜誘電体層が形成された。続いて、
第2の絶縁性インキが塗布され、乾燥させられ、そし
て、同様な態様で焼成させられ、これによって、前記第
1の厚膜誘電体層上に重なる第2の厚膜誘電体層が形成
された。引き続いて、パラジウム/銀(palladi
um/silver)、金(gold)及びピエゾ抵抗
体用のインキが加えられ、乾燥させられ、焼成させら
れ、これによって、前記接触子と4つの厚膜ピエゾ抵抗
体が形成された。前記ピエゾ抵抗体及び接触子は、4つ
の抵抗体を有するホイートストンブリッジを形成できる
パターンで印刷された。このとき、ピエゾ抵抗体は、前
記ダイヤフラムの表面上に配置され、その結果、力が、
所定の方向に前記ダイヤフラムに加えられるとき、2つ
の抵抗体は、圧縮を被り、残りの2つの抵抗体は張力を
受けることとなる。
【0028】次いで、前記変換器セルが、TIG溶接
(tungsten inert gas arc w
elding:タングステン不活性ガス溶接)あるいは
レーザー溶接によって、AISI Type 304ス
テンレススチール(ステンレス鋼)から機械加工された
ベースに溶接された。前記ベースには、ねじ付き部と平
坦部とが設けられており、これによって、圧力センサー
アセンブリは、気密状態でマニホールドに螺合できるよ
うになっている。次いで、前記マニホールドは、圧力検
査装置に接続された。前記圧力検査装置は、加えられた
圧力と温度との関数として、前記厚膜ピエゾ抵抗体の抵
抗値の変化を記録するためのものである。各変換器セル
の出力は、5VDC(直流電圧)が前記ホイートストン
ブリッジに加えられた状態で、加えられた圧力のpsi
(pounds per square inch:ポ
ンド/平方インチ)につき、概ね、約0.1ミリボルト
乃至約0.2ミリボルトの範囲にあった。
【0029】上述したことから、当業者は、本願発明の
感知セル12は、微細機械加工された単結晶シリコンか
らなる圧力センサーの作動上の効果を提供し、さらに、
腐蝕性の高圧媒体を感知するのに適切となるように、物
理的に且つ化学的に十分に頑丈とする効果を奏すること
ができるということを理解できるであろう。特に、圧力
センサーアセンブリ10の感度は、適切な微細機械加工
技術によりメタルダイヤフラム26を形成することによ
って、容易に成し遂げることができる。メタルダイヤフ
ラム26の材料は、感知される腐蝕性の媒体に抗するこ
とができるように、具体的に選択することができる。そ
の結果、圧力センサーは、大変高い圧力(例えば、1
0,000psi(約70MPa)を越えた圧力)を感
知できる低コストの圧力センサーを生産する製造方法を
用いることができ、一方、比較的に小さなセンサー用の
パッケージ内で、高い信頼性と高い性能とを同時に達成
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本願発明の一実施例にしたがった圧力
センサーアセンブリの斜視図である。
【図2】図2は、図1に示されたセンサーセル及びベー
スユニットの断面図である。
【図3】図3は、本願発明の好適な実施例にしたがった
前記センサーセルの断面図である。
【符号の説明】
10 圧力センサーアセンブリ 12 感知セル 14 ベース 16 連結部 18 感知素子 20 通路 22 環状の支持部 24 シリコン
チップ 26 メタルダイヤフラム 28 誘電体層 34 ピエゾ抵抗体 36 接触子 38 誘電体層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジョン・マーカス・ハート,ジュニアー アメリカ合衆国インディアナ州46901,コ コモ,メイフィールド・ドライブ 4705

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 圧力センサーアセンブリであって、 ダイヤフラム(26)を有するメタル本体(22)と、 前記ダイヤフラム(26)に形成された第1の誘電体層
    (28)と、 前記第1の誘電体層(28)に形成された第2の誘電体
    層(38)と、 前記第2の誘電体層(38)に形成され、前記ダイヤフ
    ラム(26)の撓みを感知するための少なくとも1つの
    厚膜ピエゾ抵抗素子(34)とを備えたことを特徴とす
    る圧力センサーアセンブリ。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の圧力センサーアセンブ
    リにおいて、 前記メタル本体(22)は、スチールから形成されてい
    ることを特徴とする圧力センサーアセンブリ。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載の圧力センサー
    アセンブリにおいて、 さらに、前記厚膜ピエゾ抵抗素子(34)と電気的に相
    互に接続させられた信号処理回路構造体(24)を備え
    ていることを特徴とする圧力センサーアセンブリ。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれか1項に記載
    の圧力センサーアセンブリにおいて、 前記信号処理回路構造体は、メタル本体(22)に取り
    付けられた半導体チップ(24)に設けられていること
    を特徴とする圧力センサーアセンブリ。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれか1項に記載
    の圧力センサーアセンブリにおいて、 前記ダイヤフラム(26)は、前記メタル本体(22)
    のうちエッチングされた構造体であることを特徴とする
    圧力センサーアセンブリ。
  6. 【請求項6】 請求項1ないし4のいずれか1項に記載
    の圧力センサーアセンブリにおいて、 前記ダイヤフラム(26)は、前記メタル本体(22)
    のうち機械加工されたあるいはスタンピング加工された
    構造体であることを特徴とする圧力センサーアセンブ
    リ。
  7. 【請求項7】 請求項1ないし6のいずれか1項に記載
    の圧力センサーアセンブリにおいて、 さらに、前記厚膜ピエゾ抵抗素子(34)に接触する厚
    膜メタル接触子(36)を備えていることを特徴とする
    圧力センサーアセンブリ。
  8. 【請求項8】 請求項1ないし7のいずれか1項に記載
    の圧力センサーアセンブリにおいて、 さらに、前記メタル本体(22)が溶接されるベース
    (14)を備えていることを特徴とする圧力センサーア
    センブリ。
  9. 【請求項9】 請求項8に記載の圧力センサーアセンブ
    リにおいて、 さらに、前記ベース(14)を通る開口部(20)を備
    えており、前記ダイヤフラム(26)は、前記開口部
    (20)の第1の端を閉鎖することを特徴とする圧力セ
    ンサーアセンブリ。
  10. 【請求項10】 請求項1ないし9のいずれか1項に記
    載の圧力センサーアセンブリにおいて、 第1の誘電体層(28)及び第2の誘電体層(38)の
    各々は、厚膜誘電体層となっていることを特徴とする圧
    力センサーアセンブリ。
  11. 【請求項11】 圧力センサーアセンブリであって、 平坦なダイヤフラム(26)を有するステンレススチー
    ル製の本体(22)と、 前記平坦なダイヤフラム(26)に形成された多数の厚
    膜誘電体層(28、38)と、 前記厚膜誘電体層(28、38)の一方に形成され、前
    記ダイヤフラム(26)の撓みを感知する少なくとも1
    つの厚膜ピエゾ抵抗素子(34)と、 前記厚膜ピエゾ抵抗素子(34)に接触する厚膜メタル
    接触子(36)と、 ベース(14)とを備えており、 前記本体(22)は、前記ベース(14)に溶接され、
    これによって、前記本体(22)と前記ベース(14)
    との間が気密状態に密閉されており、 前記ベース(14)は、当該ベース(14)を通る開口
    部(20)を備えており、前記開口部(20)は、前記
    本体(22)によって閉鎖されていることを特徴とする
    圧力センサーアセンブリ。
  12. 【請求項12】 請求項11に記載の圧力センサーアセ
    ンブリにおいて、 さらに、信号処理回路構造体を備えており、前記信号処
    理回路構造体は、前記厚膜ピエゾ抵抗素子(34)に電
    気的に相互に接続させられており、前記信号処理回路構
    造体は、前記メタル本体(22)に取り付けられた半導
    体チップ(24)に設けられていることを特徴とする圧
    力センサーアセンブリ。
  13. 【請求項13】 請求項11または12に記載の圧力セ
    ンサーアセンブリにおいて、 前記ダイヤフラム(26)は、前記メタル本体(22)
    のうちエッチングされた構造体であることを特徴とする
    圧力センサーアセンブリ。
  14. 【請求項14】 請求項11または12に記載の圧力セ
    ンサーアセンブリにおいて、 前記ダイヤフラム(26)は、前記メタル本体(22)
    のうち機械加工されたあるいはスタンピング加工された
    構造体であることを特徴とする圧力センサーアセンブ
    リ。
  15. 【請求項15】 圧力センサーアセンブリを製造するた
    めの方法であって、 前記方法は、 ダイヤフラム(26)を有するようにメタル本体(2
    2)を形成するステップと、 前記ダイヤフラム(26)に第1の誘電体層(28)を
    形成するステップと、 前記第1の誘電体層(28)に第2の誘電体層(38)
    を形成するステップと、 前記ダイヤフラム(26)の撓みを感知する少なくとも
    1つの厚膜ピエゾ抵抗素子(34)を前記第2の誘電体
    層(38)に形成するステップとを備えたことを特徴と
    する圧力センサーアセンブリを製造するための方法。
  16. 【請求項16】 請求項15に記載の圧力センサーアセ
    ンブリを製造するための方法において、 前記メタル本体(22)は、スチールから形成されてい
    ることを特徴とする圧力センサーアセンブリを製造する
    ための方法。
  17. 【請求項17】 請求項15または16に記載の圧力セ
    ンサーアセンブリを製造するための方法において、 前記第1の誘電体層(28)及び前記第2の誘電体層
    (38)の少なくとも一方が、厚膜誘電体層であること
    を特徴とする圧力センサーアセンブリを製造するための
    方法。
  18. 【請求項18】 請求項15または16に記載の圧力セ
    ンサーアセンブリを製造するための方法において、 前記第1の誘電体層(28)及び前記第2の誘電体層
    (38)の各々が、厚膜誘電体層であることを特徴とす
    る圧力センサーアセンブリを製造するための方法。
  19. 【請求項19】 請求項15ないし18のいずれか1項
    に記載の圧力センサーアセンブリを製造するための方法
    において、 さらに、前記厚膜ピエゾ抵抗素子(34)に接触する前
    記ダイヤフラム(26)に厚膜メタル接触子(36)を
    形成するステップを備えたことを特徴とする圧力センサ
    ーアセンブリを製造するための方法。
  20. 【請求項20】 請求項15ないし19のいずれか1項
    に記載の圧力センサーアセンブリを製造するための方法
    において、 さらに、ベース(14)にメタル本体(22)を溶接
    し、それによって、前記メタル本体(22)が、前記ベ
    ース(14)の開口部(20)を閉鎖するステップを備
    えたことを特徴とする圧力センサーアセンブリを製造す
    るための方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2017056698A1 (ja) * 2015-09-30 2018-04-05 日立オートモティブシステムズ株式会社 半導体センサ装置およびその製造方法

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4161410B2 (ja) * 1997-07-25 2008-10-08 株式会社デンソー 圧力検出装置
US5898359A (en) * 1997-12-19 1999-04-27 Delco Electronics Corp. Diffusion-barrier materials for thick-film piezoresistors and sensors formed therewith
US6331163B1 (en) 1998-01-08 2001-12-18 Microsense Cardiovascular Systems (1196) Ltd. Protective coating for bodily sensor
WO1999063316A1 (en) 1998-06-05 1999-12-09 Georgia Tech Research Corporation Robust substrate-based micromachining of sensors and actuators
US6022756A (en) * 1998-07-31 2000-02-08 Delco Electronics Corp. Metal diaphragm sensor with polysilicon sensing elements and methods therefor
US6782754B1 (en) 2000-07-07 2004-08-31 Rosemount, Inc. Pressure transmitter for clean environments
US20110301569A1 (en) 2001-01-20 2011-12-08 Gordon Wayne Dyer Methods and apparatus for the CVCS
US6577224B2 (en) * 2001-03-22 2003-06-10 Kulite Semiconductor Products, Inc. Ultra high pressure transducers
US6725514B2 (en) * 2002-05-31 2004-04-27 Delphi Technologies, Inc. Method of making thick film pressure and temperature sensors on a stainless steel diaphragm
JP2004045184A (ja) * 2002-07-11 2004-02-12 Denso Corp 半導体力学量センサ
DE10314910A1 (de) * 2003-04-01 2004-11-11 Siemens Ag Drucksensor
US7082834B2 (en) * 2003-06-18 2006-08-01 New Jersey Institute Of Technology Flexible thin film pressure sensor
US7093495B2 (en) * 2003-07-28 2006-08-22 Cts Corporation Pressure sensor
US6997059B2 (en) * 2003-10-07 2006-02-14 Cts Corporation Pressure sensor
JP3948452B2 (ja) * 2003-11-04 2007-07-25 松下電器産業株式会社 荷重センサ及びその製造方法
US20050103110A1 (en) * 2003-11-19 2005-05-19 Cts Corporation Integrated pressure and temperature sensor
US7240558B2 (en) * 2003-11-19 2007-07-10 Cts Corporation Pressure sensor
US7011805B2 (en) * 2004-03-19 2006-03-14 Ges Technologies Ip Gmbh Production of tetrabasic lead sulfate from solid state reactions for the preparation of active plates to be used in lead-acid batteries
DE102004024919A1 (de) * 2004-05-19 2005-12-15 Trafag Ag Drucksensor
US7347099B2 (en) * 2004-07-16 2008-03-25 Rosemount Inc. Pressure transducer with external heater
EP1811278A4 (en) * 2004-12-20 2009-04-29 Panasonic Corp STEM SENSOR AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
DE102005004603B3 (de) * 2005-02-01 2006-06-08 Siemens Ag Kraftsensor
US7910855B2 (en) * 2005-09-23 2011-03-22 Lasx Industries, Inc. No gap laser welding of coated steel
US7679033B2 (en) * 2005-09-29 2010-03-16 Rosemount Inc. Process field device temperature control
US7260994B2 (en) * 2005-11-03 2007-08-28 Honeywell International Inc. Low cost high-pressure sensor
US7266999B2 (en) * 2006-01-30 2007-09-11 Honeywell International Inc. Thick film technology based ultra high pressure sensor utilizing integral port and diaphragm construction
US7441467B2 (en) * 2006-07-12 2008-10-28 Cts Corporation Compression strain sensor
DE102007011878A1 (de) * 2007-03-13 2008-09-18 Hydac Electronic Gmbh Isolatorschichtsystem für einen Sensor und Sensor mit einem solchen Isolatorschichtsystem
FR2915494B1 (fr) * 2007-04-30 2009-07-24 Snecma Sa Procede pour realiser un depot d'alumine sur un substrat recouvert de sic
FR2915493B1 (fr) * 2007-04-30 2009-07-24 Snecma Sa Procede pour realiser un depot sur un substrat recouvert de sic
US7779698B2 (en) * 2007-11-08 2010-08-24 Rosemount Inc. Pressure sensor
DE102008042982A1 (de) 2008-10-21 2010-04-22 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung von Hochdrucksensoren
KR101017304B1 (ko) 2008-12-10 2011-03-02 이성기 상용자동차용 압력센서의 제조방법
US9250148B2 (en) 2012-03-22 2016-02-02 California Institute Of Technology Multi-directional environmental sensors
US20140290381A1 (en) * 2013-03-21 2014-10-02 California Institute Of Technology Integrated environmental sensors for harsh environment applications
CN105849521B (zh) * 2013-12-25 2019-09-27 日立汽车系统株式会社 压力测定装置
CN104390739A (zh) * 2014-11-26 2015-03-04 西安微纳传感器研究所有限公司 压阻式微熔高温压力传感器及其制造方法
CN104727808A (zh) * 2015-02-10 2015-06-24 柳州市金旭节能科技有限公司 一种井下压力计
WO2017139751A1 (en) 2016-02-12 2017-08-17 Rhode Island Board Of Education Temperature and thermal gradient sensor for ceramic matrix composites and methods of preparation thereof
US10060814B2 (en) 2016-03-15 2018-08-28 Rosemount Inc. Fluid filled elongate pressure sensor
US10782190B1 (en) * 2017-12-14 2020-09-22 University Of Rhode Island Board Of Trustees Resistance temperature detector (RTD) for ceramic matrix composites
ES1217769Y (es) * 2018-07-26 2018-12-13 Cebi Electromechanical Components Spain S A Medidor de presion para circuitos de fluidos
WO2020218570A1 (ja) * 2019-04-26 2020-10-29 長野計器株式会社 圧力センサ
US10578504B1 (en) 2019-09-04 2020-03-03 Custom Control Sensors, LLC. Systems and methods for high voltage rating thin film sensors
JP7451907B2 (ja) * 2019-09-09 2024-03-19 Tdk株式会社 圧力センサ素子

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4586018A (en) * 1983-09-19 1986-04-29 Ford Motor Company Combustion pressure sensor
JPH0670969B2 (ja) * 1984-09-13 1994-09-07 株式会社長野計器製作所 シリコン薄膜ピエゾ抵抗素子の製造法
EP0215140B1 (de) * 1985-09-11 1989-04-26 Kunz, Manfred Drucksensor
US4667518A (en) * 1986-03-18 1987-05-26 Iden Industries, Inc. Sensor circuit
US4982351A (en) * 1986-05-05 1991-01-01 Texas Instruments Incorporated Low cost high precision sensor
JPH0711461B2 (ja) * 1986-06-13 1995-02-08 株式会社日本自動車部品総合研究所 圧力検出器
US4966039A (en) * 1988-04-21 1990-10-30 Marelli Autronica S.P.A. Electrical force and/or deformation sensor, particularly for use as a pressure sensor
IT1223710B (it) * 1988-07-21 1990-09-29 Marelli Autronica Trasduttore di altissima pressione in particolare per il rilevamento della pressione di un fluido idraulico
JP3315730B2 (ja) * 1991-08-26 2002-08-19 マイクロリス、コーパレイシャン ピエゾ抵抗半導体センサ・ゲージ及びこれを作る方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2017056698A1 (ja) * 2015-09-30 2018-04-05 日立オートモティブシステムズ株式会社 半導体センサ装置およびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0911623A2 (en) 1999-04-28
US5867886A (en) 1999-02-09
EP0911623A3 (en) 1999-10-20
KR19990037223A (ko) 1999-05-25
KR100298813B1 (ko) 2002-07-06

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