JPH11211698A - 磁気探傷装置の感度校正方法および装置ならびに校正 ロール - Google Patents
磁気探傷装置の感度校正方法および装置ならびに校正 ロールInfo
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- JPH11211698A JPH11211698A JP10030627A JP3062798A JPH11211698A JP H11211698 A JPH11211698 A JP H11211698A JP 10030627 A JP10030627 A JP 10030627A JP 3062798 A JP3062798 A JP 3062798A JP H11211698 A JPH11211698 A JP H11211698A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】探傷装置の幅方向に配設された全素子の校正を
極めて短時間で、かつ、正確に行うことを目的とし、特
に、人工校正サンプルを常時使用せず、同一人工校正サ
ンプルの長期使用を可能にする校正方法を提供すること
を目的とする。 【解決手段】検査対象薄鋼帯の走行方向に磁界を発生さ
せ、内部あるいは表面欠陥で生ずる漏洩磁束を、検査対
象薄鋼帯の幅方向に多数並設された感磁性素子群を備え
た探傷ヘッドによりオンライン位置で検出して、欠陥信
号とする磁気探傷装置の感度校正方法において、検査対
象欠陥に関連した出力を発生可能な校正用磁気発生器を
設けた校正ロールをオフライン位置に設け、前記探傷ヘ
ッドを、オンライン位置から前記校正ロール位置まで移
動して、該探傷ヘッドの長さ方向と校正ロールの軸方向
が一致するように、所定のリフトオフで固定し、前記校
正ロールを回転させながら、各感磁性素子の感度を校正
する。
極めて短時間で、かつ、正確に行うことを目的とし、特
に、人工校正サンプルを常時使用せず、同一人工校正サ
ンプルの長期使用を可能にする校正方法を提供すること
を目的とする。 【解決手段】検査対象薄鋼帯の走行方向に磁界を発生さ
せ、内部あるいは表面欠陥で生ずる漏洩磁束を、検査対
象薄鋼帯の幅方向に多数並設された感磁性素子群を備え
た探傷ヘッドによりオンライン位置で検出して、欠陥信
号とする磁気探傷装置の感度校正方法において、検査対
象欠陥に関連した出力を発生可能な校正用磁気発生器を
設けた校正ロールをオフライン位置に設け、前記探傷ヘ
ッドを、オンライン位置から前記校正ロール位置まで移
動して、該探傷ヘッドの長さ方向と校正ロールの軸方向
が一致するように、所定のリフトオフで固定し、前記校
正ロールを回転させながら、各感磁性素子の感度を校正
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気探傷装置の感
度校正方法および装置に係り、特に、走行する薄鋼帯
（ストリップ）をオンラインで探傷する磁気探傷装置に
用いるのに好適な磁気探傷装置の感度校正方法および装
置ならびに校正ロールに関するものである。
度校正方法および装置に係り、特に、走行する薄鋼帯
（ストリップ）をオンラインで探傷する磁気探傷装置に
用いるのに好適な磁気探傷装置の感度校正方法および装
置ならびに校正ロールに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】走行する薄鋼帯の表面欠陥あるいは内部
欠陥を検出するためには、検査対象鋼帯の走行方向に磁
界を発生させ、内部あるいは表面欠陥により生ずる漏洩
磁束を、検査対象薄鋼帯の幅方向に多数並設された感磁
性素子群を備えた探傷ヘッドによりオンライン位置で検
出して、欠陥信号とする磁気探傷装置が用いられ、かか
る装置として実開昭６３−１０７８４９号公報には、磁
束を検出する感磁性素子群を直線上に配列した探傷ヘッ
ドを備え、一定速度で走行中の薄鋼帯の全幅に存在する
欠陥を連続的に検出する磁気探傷装置が提案されてい
る。
欠陥を検出するためには、検査対象鋼帯の走行方向に磁
界を発生させ、内部あるいは表面欠陥により生ずる漏洩
磁束を、検査対象薄鋼帯の幅方向に多数並設された感磁
性素子群を備えた探傷ヘッドによりオンライン位置で検
出して、欠陥信号とする磁気探傷装置が用いられ、かか
る装置として実開昭６３−１０７８４９号公報には、磁
束を検出する感磁性素子群を直線上に配列した探傷ヘッ
ドを備え、一定速度で走行中の薄鋼帯の全幅に存在する
欠陥を連続的に検出する磁気探傷装置が提案されてい
る。
【０００３】上記磁気探傷装置では、検査対象薄鋼帯の
幅方向に多数の感磁性素子群を並設しているので、検査
に先立ってこれら感磁性素子の感度を調整しなければな
らない。そのための手段として、従来は、特開昭６３−
２７７４７号公報に示される如く、標準となる人工欠陥
を有する標準欠陥試料を各感磁性素子（単に素子ともい
う）の上に置いて、１個ずつ感度を校正していた。
幅方向に多数の感磁性素子群を並設しているので、検査
に先立ってこれら感磁性素子の感度を調整しなければな
らない。そのための手段として、従来は、特開昭６３−
２７７４７号公報に示される如く、標準となる人工欠陥
を有する標準欠陥試料を各感磁性素子（単に素子ともい
う）の上に置いて、１個ずつ感度を校正していた。
【０００４】しかしながら、かかる方法は当然のことな
がら長時間を要し煩わしいものであるので、これを解決
する手段として、特開平３−１３４５５５号公報に示さ
れるように、外部から疑似漏洩磁束となる均一磁界を探
傷ヘッド全体に印加することによって、標準欠陥試料の
使用を排除することが提案され、さらにその改良技術と
して特開平５−１０９２６号公報には、校正用の励磁コ
イルを探傷ヘッドや磁化鉄心の周囲に巻き回したり、前
記磁化鉄心内に配設したり、薄鋼板を挟んだ反対側位置
に第２の中空ロールとともに配設することが提案されて
いる。
がら長時間を要し煩わしいものであるので、これを解決
する手段として、特開平３−１３４５５５号公報に示さ
れるように、外部から疑似漏洩磁束となる均一磁界を探
傷ヘッド全体に印加することによって、標準欠陥試料の
使用を排除することが提案され、さらにその改良技術と
して特開平５−１０９２６号公報には、校正用の励磁コ
イルを探傷ヘッドや磁化鉄心の周囲に巻き回したり、前
記磁化鉄心内に配設したり、薄鋼板を挟んだ反対側位置
に第２の中空ロールとともに配設することが提案されて
いる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記特
開平３−１３４５５５号公報あるいは特開平５−１０９
２６号公報に記載された手段は、広く、かつ、一定方向
からの磁界で校正するのみであるので、実際の介在物欠
陥の欠陥のような極めて小さく、かつ、一定方向からの
磁界のみを発生するのではない欠陥を検出するための校
正を十分に行うことができない。
開平３−１３４５５５号公報あるいは特開平５−１０９
２６号公報に記載された手段は、広く、かつ、一定方向
からの磁界で校正するのみであるので、実際の介在物欠
陥の欠陥のような極めて小さく、かつ、一定方向からの
磁界のみを発生するのではない欠陥を検出するための校
正を十分に行うことができない。
【０００６】かかる、従来技術の問題点を解決するた
め、本発明者は特願平９−２６５７３４において、検出
対象欠陥に関連した出力を発生可能な人工校正サンプル
が巻き付けられた校正ロールをオフライン位置に設け、
探傷ヘッドをオンライン位置から上記校正ロール上に移
動し、その状態で校正ロールを回転させ、かつ、軸方向
に移動して効率的に探傷装置の校正を行う手段を提案し
ている。この提案によれば、探傷装置の幅方向にわたる
全素子に対して速やかに校正を行うことが可能である
が、校正作業において常に人工校正サンプルを用いなけ
ればならないために、それが痛みやすく寿命が短いとい
う問題があった。
め、本発明者は特願平９−２６５７３４において、検出
対象欠陥に関連した出力を発生可能な人工校正サンプル
が巻き付けられた校正ロールをオフライン位置に設け、
探傷ヘッドをオンライン位置から上記校正ロール上に移
動し、その状態で校正ロールを回転させ、かつ、軸方向
に移動して効率的に探傷装置の校正を行う手段を提案し
ている。この提案によれば、探傷装置の幅方向にわたる
全素子に対して速やかに校正を行うことが可能である
が、校正作業において常に人工校正サンプルを用いなけ
ればならないために、それが痛みやすく寿命が短いとい
う問題があった。
【０００７】本発明は、かかる従来技術の有する問題点
を解決するためになされたものであって、探傷装置の幅
方向に配設された全素子の校正を極めて短時間で、か
つ、正確に行うことを目的とし、特に、人工校正サンプ
ルを常時使用せず、同一人工校正サンプルの長期使用を
可能にすることを目的とする。
を解決するためになされたものであって、探傷装置の幅
方向に配設された全素子の校正を極めて短時間で、か
つ、正確に行うことを目的とし、特に、人工校正サンプ
ルを常時使用せず、同一人工校正サンプルの長期使用を
可能にすることを目的とする。
【０００８】
【課題解決のための手段】本発明は、検査対象薄鋼帯の
走行方向に磁界を発生させ、内部あるいは表面欠陥で生
ずる漏洩磁束を、検査対象薄鋼帯の幅方向に多数並設さ
れた感磁性素子群を備えた探傷ヘッドによりオンライン
位置で検出して、欠陥信号とする磁気探傷装置の感度校
正方法において、検出対象欠陥に関連した出力を発生可
能な校正磁気発生装置を備えた校正ロールをオフライン
位置に設け、前記探傷ヘッドを、オンライン位置から前
記校正ロール位置まで移動して、該探傷ヘッド長さ方向
と校正ロールの軸方向が一致するように、所定のリフト
オフで固定し、前記校正ロールを回転させながら、各感
磁性素子の感度を校正するようにして、前記課題を解決
したものである。
走行方向に磁界を発生させ、内部あるいは表面欠陥で生
ずる漏洩磁束を、検査対象薄鋼帯の幅方向に多数並設さ
れた感磁性素子群を備えた探傷ヘッドによりオンライン
位置で検出して、欠陥信号とする磁気探傷装置の感度校
正方法において、検出対象欠陥に関連した出力を発生可
能な校正磁気発生装置を備えた校正ロールをオフライン
位置に設け、前記探傷ヘッドを、オンライン位置から前
記校正ロール位置まで移動して、該探傷ヘッド長さ方向
と校正ロールの軸方向が一致するように、所定のリフト
オフで固定し、前記校正ロールを回転させながら、各感
磁性素子の感度を校正するようにして、前記課題を解決
したものである。
【０００９】また、本発明は、検査対象薄鋼帯の走行方
向に磁界を発生させ、内部あるいは表面欠陥で生ずる漏
洩磁束を、検査対象薄鋼帯の幅方向に多数並設された感
磁性素子群を備えた探傷ヘッドによりオンラインで検出
して、欠陥信号とする磁気探傷装置の感度校正装置にお
いて、オフライン位置に設けられた前記校正磁気発生装
置を有する校正ロールと、前記校正ロールを回転させる
手段と、前記探傷ヘッドをオンライン位置から前記校正
ロール位置まで移動して、該探傷ヘッド長さ方向と校正
ロールの軸方向が一致するように、所定のリフトオフで
固定する手段と、各感磁性素子の感度を校正する手段
と、を備えたこととすることにより上記課題を解決した
ものである。
向に磁界を発生させ、内部あるいは表面欠陥で生ずる漏
洩磁束を、検査対象薄鋼帯の幅方向に多数並設された感
磁性素子群を備えた探傷ヘッドによりオンラインで検出
して、欠陥信号とする磁気探傷装置の感度校正装置にお
いて、オフライン位置に設けられた前記校正磁気発生装
置を有する校正ロールと、前記校正ロールを回転させる
手段と、前記探傷ヘッドをオンライン位置から前記校正
ロール位置まで移動して、該探傷ヘッド長さ方向と校正
ロールの軸方向が一致するように、所定のリフトオフで
固定する手段と、各感磁性素子の感度を校正する手段
と、を備えたこととすることにより上記課題を解決した
ものである。
【００１０】更に、本発明は、上記探傷装置の校正方法
に適した校正ロールとして、校正ロールを励磁ヨークと
該励磁ヨークに校正磁界を与える校正用励磁コイルを備
えたものとするものである。
に適した校正ロールとして、校正ロールを励磁ヨークと
該励磁ヨークに校正磁界を与える校正用励磁コイルを備
えたものとするものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明を詳細
に説明する。本発明の１実施形態である磁気探傷装置１
００は、図１および図２に示すごとく、磁化ヨーク１０
４と磁化コイル１０６からなる磁化器１０２と、検査対
象である薄鋼帯１０の幅方向に直線状に配置された、例
えば１０００個の感磁性素子１１１を含む探傷ヘッド１
１０と、前記磁化コイル１０６に励磁電流を供給する直
流電源１１２を備えており、薄鋼帯１０を矢印Ａ方向に
搬送する非磁性ロール８０の外側の、薄鋼帯１０と対向
する位置に設けられている。
に説明する。本発明の１実施形態である磁気探傷装置１
００は、図１および図２に示すごとく、磁化ヨーク１０
４と磁化コイル１０６からなる磁化器１０２と、検査対
象である薄鋼帯１０の幅方向に直線状に配置された、例
えば１０００個の感磁性素子１１１を含む探傷ヘッド１
１０と、前記磁化コイル１０６に励磁電流を供給する直
流電源１１２を備えており、薄鋼帯１０を矢印Ａ方向に
搬送する非磁性ロール８０の外側の、薄鋼帯１０と対向
する位置に設けられている。
【００１２】本発明装置に係る感度校正装置１２０は、
図１および図２に示すごとく、オフライン位置に設けら
ており、検査対象欠陥に関連した出力を発生可能な校正
磁気発生装置２００を内蔵した校正ロール１２４と、該
校正ロール１２４を図１の矢印Ｄ方向に回転させなが
ら、図２に矢印Ｅで示すごとく、その軸方向に移動させ
る校正ロール移動装置１２６と、前記探傷ヘッド１１０
を、磁気探傷装置１００とともに、矢印ＢおよびＣで示
すごとく、オンライン位置から前記校正ロール１２４の
位置まで移動して、該探傷ヘッド１１０の長さ方向と校
正ロール１２４の軸方向が一致するように、所定のリフ
トオフで固定するための昇降装置１５０および移動装置
１５２と、前記校正ロール１２４を回転させながら、そ
の軸方向に移動して、各感磁性素子１１１の感度を校正
する感度校正回路を備えている。
図１および図２に示すごとく、オフライン位置に設けら
ており、検査対象欠陥に関連した出力を発生可能な校正
磁気発生装置２００を内蔵した校正ロール１２４と、該
校正ロール１２４を図１の矢印Ｄ方向に回転させなが
ら、図２に矢印Ｅで示すごとく、その軸方向に移動させ
る校正ロール移動装置１２６と、前記探傷ヘッド１１０
を、磁気探傷装置１００とともに、矢印ＢおよびＣで示
すごとく、オンライン位置から前記校正ロール１２４の
位置まで移動して、該探傷ヘッド１１０の長さ方向と校
正ロール１２４の軸方向が一致するように、所定のリフ
トオフで固定するための昇降装置１５０および移動装置
１５２と、前記校正ロール１２４を回転させながら、そ
の軸方向に移動して、各感磁性素子１１１の感度を校正
する感度校正回路を備えている。
【００１３】ここにおいて、校正ロール１２４は、図３
（ａ）、（ｂ）に示す如く、校正磁気発生装置２００を
内蔵する。この校正磁気発生装置２００は、校正用励磁
コイル２０１と校正用励磁ヨーク２０２からなり、校正
用励磁コイル２０１には、スリップリング（図示しな
い）より直流電流が供給されて校正磁界が発生し、校正
用励磁ヨーク２０２が励磁されるようになっている。
（ａ）、（ｂ）に示す如く、校正磁気発生装置２００を
内蔵する。この校正磁気発生装置２００は、校正用励磁
コイル２０１と校正用励磁ヨーク２０２からなり、校正
用励磁コイル２０１には、スリップリング（図示しな
い）より直流電流が供給されて校正磁界が発生し、校正
用励磁ヨーク２０２が励磁されるようになっている。
【００１４】校正用励磁ヨーク２０２は校正ロール１２
４と同一円周上に配置されるとともに、目標欠陥の長さ
に相当するギャップ２０３を設ける。この欠陥の長さに
合わせたギャップ２０３をもつヨーク２０２を用い、起
磁力を欠陥に合わせた漏洩磁束、すなわち、０．１〜１
００×１０-4Ｗｂ／ｍ2の範囲で調整すれば、被検材で
ある薄鋼帯中の介在物などの対象欠陥と同様な漏洩磁束
が発生し、これにより実欠陥をもったサンプルと同様な
校正が可能となる。そのためにはギャップ２０３の深さ
２０４およびギャップ部のヨーク厚み２０５はギャップ
２０３の１０倍以上とするのがよい。たとえば、ギャッ
プ２０３が０．１ｍｍのとき、ギャップ２０３の深さ２
０４を２０ｍｍとし、その部分の厚み２０５を１０ｍｍ
とする。
４と同一円周上に配置されるとともに、目標欠陥の長さ
に相当するギャップ２０３を設ける。この欠陥の長さに
合わせたギャップ２０３をもつヨーク２０２を用い、起
磁力を欠陥に合わせた漏洩磁束、すなわち、０．１〜１
００×１０-4Ｗｂ／ｍ2の範囲で調整すれば、被検材で
ある薄鋼帯中の介在物などの対象欠陥と同様な漏洩磁束
が発生し、これにより実欠陥をもったサンプルと同様な
校正が可能となる。そのためにはギャップ２０３の深さ
２０４およびギャップ部のヨーク厚み２０５はギャップ
２０３の１０倍以上とするのがよい。たとえば、ギャッ
プ２０３が０．１ｍｍのとき、ギャップ２０３の深さ２
０４を２０ｍｍとし、その部分の厚み２０５を１０ｍｍ
とする。
【００１５】上記校正磁気発生装置２００を内蔵した校
正ロール１２４を用いて校正作業を行うためには、校正
ロール１２４を回転させながらその軸方向に移動させな
ければならない。そのため、前記校正ロール移動装置１
２６は、ベルト１３２およびプーリ１３４を介して校正
ロール１２４を回転するためのモータ１３０と、前記校
正ロール１２４を支持する軸受１３８およびモータ１３
０が固定された可動ベース１４０と、該可動ベース１４
０を校正ロール１２４の軸方向に移動するためのガイド
レール１３６と、該ガイドレール１３６を固定する固定
ベース１４２を含んで構成されている。
正ロール１２４を用いて校正作業を行うためには、校正
ロール１２４を回転させながらその軸方向に移動させな
ければならない。そのため、前記校正ロール移動装置１
２６は、ベルト１３２およびプーリ１３４を介して校正
ロール１２４を回転するためのモータ１３０と、前記校
正ロール１２４を支持する軸受１３８およびモータ１３
０が固定された可動ベース１４０と、該可動ベース１４
０を校正ロール１２４の軸方向に移動するためのガイド
レール１３６と、該ガイドレール１３６を固定する固定
ベース１４２を含んで構成されている。
【００１６】前記感度校正回路を含む磁気探傷装置１０
０の回路は、各感磁性素子１１１毎に設けられた、コン
デンサと、感度校正用の電子ボリュームを含む増幅器
と、該増幅器の出力を通すバンドパスフィルタと、該バ
ンドパスフィルタの出力を整流する両波整流器と、該両
波整流器の出力を通すバッファと、該バッファを介して
多数の感磁性素子の出力を組み合わせる集合回路と、該
集合回路の出力を比較する比較器から構成されている。
０の回路は、各感磁性素子１１１毎に設けられた、コン
デンサと、感度校正用の電子ボリュームを含む増幅器
と、該増幅器の出力を通すバンドパスフィルタと、該バ
ンドパスフィルタの出力を整流する両波整流器と、該両
波整流器の出力を通すバッファと、該バッファを介して
多数の感磁性素子の出力を組み合わせる集合回路と、該
集合回路の出力を比較する比較器から構成されている。
【００１７】上記装置は、通常のオンライン状態におい
ては、磁気探傷装置１００が図１の左側に実線で示す位
置にあり、非磁性ロール８０に薄鋼帯１０が例えば１８
０°巻き付いて、矢印Ａ方向に走行している。磁気探傷
装置１００の下方の、薄鋼帯１０の上方０．５ｍｍの位
置には、薄鋼帯１０に磁束を導入するための磁化ヨーク
１０４が配置され、その間には感磁性素子１１１を含む
探傷ヘッド１１０も配置されている。前記磁化ヨーク１
０４の上方に設けられた磁化コイル１０６には、探傷時
に、直流電源１１２からの直流電流の励磁により、薄鋼
帯１０を、走行方向に１ｋＧ程度まで磁化する。このと
きの磁化電流は、例えば、０．８１Ａ（６００アンペア
ターン）である。薄鋼帯１０の走行速度は、例えば最高
１２００ｍ／ｍｉｍとされている。また、介在物の検出
が不要のときや、その他検査不要のときは、磁気探傷装
置１００を昇降装置１５０により、矢印Ｂに示す如く、
上方に退避可能にしている。
ては、磁気探傷装置１００が図１の左側に実線で示す位
置にあり、非磁性ロール８０に薄鋼帯１０が例えば１８
０°巻き付いて、矢印Ａ方向に走行している。磁気探傷
装置１００の下方の、薄鋼帯１０の上方０．５ｍｍの位
置には、薄鋼帯１０に磁束を導入するための磁化ヨーク
１０４が配置され、その間には感磁性素子１１１を含む
探傷ヘッド１１０も配置されている。前記磁化ヨーク１
０４の上方に設けられた磁化コイル１０６には、探傷時
に、直流電源１１２からの直流電流の励磁により、薄鋼
帯１０を、走行方向に１ｋＧ程度まで磁化する。このと
きの磁化電流は、例えば、０．８１Ａ（６００アンペア
ターン）である。薄鋼帯１０の走行速度は、例えば最高
１２００ｍ／ｍｉｍとされている。また、介在物の検出
が不要のときや、その他検査不要のときは、磁気探傷装
置１００を昇降装置１５０により、矢印Ｂに示す如く、
上方に退避可能にしている。
【００１８】感度校正に際しては、まず、オンライン位
置にある磁気探傷装置１００を、昇降装置１５０によ
り、矢印Ｂに示す如く、上方に上昇させ、次いで、移動
装置１５２により、矢印Ｃに示す如く、オフライン位置
にある感度校正装置１２０の直上まで移動する。磁気探
傷装置１００の移動位置は、たとえばカウンタの数値に
より設定可能とされ、±数μｍの精度で移動可能とされ
ている。
置にある磁気探傷装置１００を、昇降装置１５０によ
り、矢印Ｂに示す如く、上方に上昇させ、次いで、移動
装置１５２により、矢印Ｃに示す如く、オフライン位置
にある感度校正装置１２０の直上まで移動する。磁気探
傷装置１００の移動位置は、たとえばカウンタの数値に
より設定可能とされ、±数μｍの精度で移動可能とされ
ている。
【００１９】次いで、昇降装置１５０により磁気探傷装
置１００を下降させ、校正ロール１２４に近づける。校
正ロール１２４は探傷ヘッド１１０の中央部に位置して
おり、磁気探傷装置１００内にある変位計センサ（図示
しない）により、校正ロール１２４と感磁性素子１１１
のリフトオフが、設定値、たとえば０．５ｍｍに調整さ
れる。
置１００を下降させ、校正ロール１２４に近づける。校
正ロール１２４は探傷ヘッド１１０の中央部に位置して
おり、磁気探傷装置１００内にある変位計センサ（図示
しない）により、校正ロール１２４と感磁性素子１１１
のリフトオフが、設定値、たとえば０．５ｍｍに調整さ
れる。
【００２０】次いで、図４に示すように校正ロール１２
４を矢印Ｅに示すように、軸方向に移動させ、校正ロー
ルを回転させ校正作業を行う。この校正作業は、たとえ
ば、感磁性素子群の第１素子から順に行い、各感磁性素
子の感度が目標欠陥に対して同一になるように行えばよ
い。
４を矢印Ｅに示すように、軸方向に移動させ、校正ロー
ルを回転させ校正作業を行う。この校正作業は、たとえ
ば、感磁性素子群の第１素子から順に行い、各感磁性素
子の感度が目標欠陥に対して同一になるように行えばよ
い。
【００２１】その際、校正時の校正ヨーク２０２からの
漏洩磁束は０．１×１０-4Ｗｂ／ｍ2から１００×１０
-4Ｗｂ／ｍ2まで可変できるように電流値を調整し、目
標の欠陥、たとえば非金属介在物、の漏洩磁束に合わせ
る。この値は、標準校正サンプルを用いた実験結果によ
り定めることができるが、たとえば、１×１０-3ｍｍ3
の体積の介在物の漏洩磁束に相当するのは、図３（ｂ）
におけるＭ点において１×１０-4Ｗｂ／ｍ2程度の磁束
が生じている場合である。かかる漏洩磁束の値は対象材
の材質や板厚により変動するので個々に決定すればよ
い。
漏洩磁束は０．１×１０-4Ｗｂ／ｍ2から１００×１０
-4Ｗｂ／ｍ2まで可変できるように電流値を調整し、目
標の欠陥、たとえば非金属介在物、の漏洩磁束に合わせ
る。この値は、標準校正サンプルを用いた実験結果によ
り定めることができるが、たとえば、１×１０-3ｍｍ3
の体積の介在物の漏洩磁束に相当するのは、図３（ｂ）
におけるＭ点において１×１０-4Ｗｂ／ｍ2程度の磁束
が生じている場合である。かかる漏洩磁束の値は対象材
の材質や板厚により変動するので個々に決定すればよ
い。
【００２２】自動感度校正後は、磁気探傷装置１００は
昇降装置１５０によりオンライン位置に戻る。
昇降装置１５０によりオンライン位置に戻る。
【００２３】なお、上記例においては、校正磁気発生装
置２００を内蔵する校正ロール１２４を探傷ヘッド１１
０の幅より遥かに狭く構成し、これを回転させながら軸
方向に移動する場合について説明したが、校正ロールの
幅を探傷ヘッドと同等あるいはそれより広くすれば、上
記校正ロールを軸方向に移動を要することなく、より速
やかな校正が行える。
置２００を内蔵する校正ロール１２４を探傷ヘッド１１
０の幅より遥かに狭く構成し、これを回転させながら軸
方向に移動する場合について説明したが、校正ロールの
幅を探傷ヘッドと同等あるいはそれより広くすれば、上
記校正ロールを軸方向に移動を要することなく、より速
やかな校正が行える。
【図１】本発明に係る磁気探傷装置およびその感度校正
装置の全体を示す正面図である。
装置の全体を示す正面図である。
【図２】感度校正装置のオフライン位置における側面図
である。
である。
【図３】本発明にかかる校正ロールの構成を示し、
（ａ）は校正磁気発生装置の斜視図であり、（ｂ）は側
面図である。
（ａ）は校正磁気発生装置の斜視図であり、（ｂ）は側
面図である。
【図４】本発明による校正工程を示す概念図である。
１０：薄鋼帯 ８０：非磁性ロール １００：磁気探傷装置 １０２：磁化器 １０４：磁化ヨーク １０６：磁化コイル １１０：探傷ヘッド １１１：感磁性素子 １１２：直流電源 １２０：感度校正装置 １２４：校正ロール １２６：校正ロール移動装置 １３６：ガイドレール １４０：移動ベース １４２：固定ベース １５０：昇降装置 １５２：移動装置 ２００：校正磁気発生装置 ２０１：校正用励磁コイル ２０２：校正用励磁ヨーク ２０３：ギャップ ２０４：ギャップ深さ ２０５：ギャップ部ヨーク厚み
Claims (3)
- 【請求項１】 検査対象薄鋼帯の走行方向に磁界を発生
させ、内部あるいは表面欠陥で生ずる漏洩磁束を、検査
対象薄鋼帯の幅方向に多数並設された感磁性素子群を備
えた探傷ヘッドによりオンラインで検出して、欠陥信号
とする磁気探傷装置の感度校正方法において、 検出対象欠陥に関連した出力を発生可能な校正磁気発生
装置を備えた校正ロールをオフライン位置に設け、 前記探傷ヘッドを、オンライン位置から前記校正ロール
位置まで移動して、該探傷ヘッド長さ方向と校正ロール
の軸方向が一致するように、所定のリフトオフで固定
し、 前記校正ロールを回転させながら、各感磁性素子の感度
を校正することを特徴とする磁気探傷装置の感度校正方
法。 - 【請求項２】 検査対象薄鋼帯の走行方向に磁界を発生
させ、内部あるいは表面欠陥で生ずる漏洩磁束を、検査
対象薄鋼帯の幅方向に多数並設された感磁性素子群を備
えた探傷ヘッドによりオンラインで検出して、欠陥信号
とする磁気探傷装置の感度校正装置において、 オフライン位置に設けられた校正磁気発生装置を有する
校正ロールと、 前記校正ロールを回転させる手段と、 前記探傷ヘッドをオンライン位置から前記校正ロール位
置まで移動して、該探傷ヘッド長さ方向と校正ロールの
軸方向が一致するように、所定のリフトオフで固定する
手段と、 各感磁性素子の感度を校正する手段と、を備えたことを
特徴とする磁気探傷装置の感度校正装置。 - 【請求項３】 励磁ヨークと該励磁ヨークに校正磁界を
与える校正用励磁コイルを備えたことを特徴とする校正
ロール。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10030627A JPH11211698A (ja) | 1998-01-28 | 1998-01-28 | 磁気探傷装置の感度校正方法および装置ならびに校正 ロール |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10030627A JPH11211698A (ja) | 1998-01-28 | 1998-01-28 | 磁気探傷装置の感度校正方法および装置ならびに校正 ロール |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11211698A true JPH11211698A (ja) | 1999-08-06 |
Family
ID=12309100
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10030627A Pending JPH11211698A (ja) | 1998-01-28 | 1998-01-28 | 磁気探傷装置の感度校正方法および装置ならびに校正 ロール |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11211698A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010160068A (ja) * | 2009-01-08 | 2010-07-22 | Hitachi Building Systems Co Ltd | ワイヤーロープの探傷装置の校正装置 |
| CN106290776A (zh) * | 2016-09-27 | 2017-01-04 | 马鞍山钢铁股份有限公司 | 以长度为单位的带钢工艺参数检测方法 |
| CN106959336A (zh) * | 2016-01-11 | 2017-07-18 | 宝山钢铁股份有限公司 | 用于漏磁检测标定的背景噪声去除装置及方法 |
| CN111766292A (zh) * | 2019-04-02 | 2020-10-13 | 四川大学 | 一种基于零提离滚动磁化的钢轨漏磁检测装置 |
| JP2024062591A (ja) * | 2022-10-25 | 2024-05-10 | フジテック株式会社 | ロープテスタ用検査装置 |
| CN118330020A (zh) * | 2024-04-19 | 2024-07-12 | 兴化市丽云机械铸造有限公司 | 一种金属铸件缺陷自动检测系统 |
-
1998
- 1998-01-28 JP JP10030627A patent/JPH11211698A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010160068A (ja) * | 2009-01-08 | 2010-07-22 | Hitachi Building Systems Co Ltd | ワイヤーロープの探傷装置の校正装置 |
| CN106959336A (zh) * | 2016-01-11 | 2017-07-18 | 宝山钢铁股份有限公司 | 用于漏磁检测标定的背景噪声去除装置及方法 |
| CN106290776A (zh) * | 2016-09-27 | 2017-01-04 | 马鞍山钢铁股份有限公司 | 以长度为单位的带钢工艺参数检测方法 |
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| JP2024062591A (ja) * | 2022-10-25 | 2024-05-10 | フジテック株式会社 | ロープテスタ用検査装置 |
| CN118330020A (zh) * | 2024-04-19 | 2024-07-12 | 兴化市丽云机械铸造有限公司 | 一种金属铸件缺陷自动检测系统 |
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