JPH11212105A - 液晶表示パネル - Google Patents
液晶表示パネルInfo
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- JPH11212105A JPH11212105A JP10009175A JP917598A JPH11212105A JP H11212105 A JPH11212105 A JP H11212105A JP 10009175 A JP10009175 A JP 10009175A JP 917598 A JP917598 A JP 917598A JP H11212105 A JPH11212105 A JP H11212105A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザー光での切断工程を行わない簡易な検
査を行うことができ、なおかつ欠陥救済処理が行える液
晶表示パネルを提供する。 【解決手段】 複数の映像信号配線２と複数の走査信号
配線３との少なくとも一方に対応して液晶画面外に共通
バス配線１を設ける。信号配線２、３と、対応する共通
バス配線１とを半導体配線１２で接続する。液晶表示パ
ネルの厚さ方向における、液晶画面と、信号配線２、３
および共通バス配線１および半導体配線１２との間に、
欠陥のある信号配線をショートさせて欠陥救済を行うた
めの補助信号配線１１を設ける。補助信号配線１１の少
なくとも１本を、半導体配線１２に対し交差させて配置
する。
査を行うことができ、なおかつ欠陥救済処理が行える液
晶表示パネルを提供する。 【解決手段】 複数の映像信号配線２と複数の走査信号
配線３との少なくとも一方に対応して液晶画面外に共通
バス配線１を設ける。信号配線２、３と、対応する共通
バス配線１とを半導体配線１２で接続する。液晶表示パ
ネルの厚さ方向における、液晶画面と、信号配線２、３
および共通バス配線１および半導体配線１２との間に、
欠陥のある信号配線をショートさせて欠陥救済を行うた
めの補助信号配線１１を設ける。補助信号配線１１の少
なくとも１本を、半導体配線１２に対し交差させて配置
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は液晶表示パネルに
関するものである。
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図５に示したように、液晶表示パネル
は、複数の走査信号配線３と、複数の映像信号配線２
と、これらの配線２、３が交差する位置に存在する透明
導電膜（ＩＴＯ）にて形成された画素電極６とによって
構成されている。その画素電極６の一つ一つの液晶セル
に印加する電圧をＴＦＴトランジスタにより制御して、
画像表示を行っている。７はガラス基板である。
は、複数の走査信号配線３と、複数の映像信号配線２
と、これらの配線２、３が交差する位置に存在する透明
導電膜（ＩＴＯ）にて形成された画素電極６とによって
構成されている。その画素電極６の一つ一つの液晶セル
に印加する電圧をＴＦＴトランジスタにより制御して、
画像表示を行っている。７はガラス基板である。
【０００３】図示の液晶表示パネルは、チップオングラ
ス工法（ＣＯＧ）で作成されたものであり、液晶を駆動
させるための回路としてのゲートドライバ４やソースド
ライバ５がガラス基板７の上に実装されている。
ス工法（ＣＯＧ）で作成されたものであり、液晶を駆動
させるための回路としてのゲートドライバ４やソースド
ライバ５がガラス基板７の上に実装されている。
【０００４】このような液晶表示パネルの製造工程にお
いては、ダストによるパターニング異常や、静電気等に
よる素子破壊など、様々な原因で不良が発生するおそれ
がある。そこで、液晶駆動用ＬＳＩに実装する電極の全
数に検査用プローブ電極を接触させて、製造工程で複数
回の検査を実施している。
いては、ダストによるパターニング異常や、静電気等に
よる素子破壊など、様々な原因で不良が発生するおそれ
がある。そこで、液晶駆動用ＬＳＩに実装する電極の全
数に検査用プローブ電極を接触させて、製造工程で複数
回の検査を実施している。
【０００５】しかし、近年、表示品位の向上のために液
晶表示パネルの高精細化が進んでおり、画素数が増加す
る傾向がある。そのため液晶駆動用ＬＳＩの実装電極間
隔は狭くなり、上記で述べたように製造過程で複数回の
検査をするための検査用プローブ電極の接触間隔も狭く
なる。
晶表示パネルの高精細化が進んでおり、画素数が増加す
る傾向がある。そのため液晶駆動用ＬＳＩの実装電極間
隔は狭くなり、上記で述べたように製造過程で複数回の
検査をするための検査用プローブ電極の接触間隔も狭く
なる。
【０００６】すると、映像信号配線２や走査信号配線３
の一本一本にプローブ電極を接触することは、その作製
費用が非常に高価なものとなり、また作製期間も長くな
るうえに、プローブ電極の接触の安定性に問題が生じ、
しかもプローブ電極の保守などが大変困難である。特に
液晶駆動用ＬＳＩドライバを直接ガラス基板７上に実装
するチップオングラス工法を用いた液晶表示パネルは、
電極パッドへの直接のコンタクトは不可能である。その
ため、プローブなどの開発費を抑制したり、その開発期
間を短縮したり、簡易な信号かつ簡易なプローブで検査
できるようにしたりすることが望まれている。
の一本一本にプローブ電極を接触することは、その作製
費用が非常に高価なものとなり、また作製期間も長くな
るうえに、プローブ電極の接触の安定性に問題が生じ、
しかもプローブ電極の保守などが大変困難である。特に
液晶駆動用ＬＳＩドライバを直接ガラス基板７上に実装
するチップオングラス工法を用いた液晶表示パネルは、
電極パッドへの直接のコンタクトは不可能である。その
ため、プローブなどの開発費を抑制したり、その開発期
間を短縮したり、簡易な信号かつ簡易なプローブで検査
できるようにしたりすることが望まれている。
【０００７】そこで、簡易な検査方法として、図５に示
したように、液晶表示パネルにおける複数の映像信号配
線２と複数の走査信号配線３との少なくとも一方に対応
して、これらの配線２、３に接続した共通バス配線１を
設け、この共通バス配線１に検査用電極端子９を形成し
ている。そして、この端子９に検査用プローブを立てて
検査用信号１０を供給し、それによって液晶表示パネル
の検査を行い、その良否を判定している。また、検査に
おいて線欠陥などがある場合は、その線欠陥のある信号
配線２、３と補助信号配線１１とをレーザー光によって
ショートさせることで、欠陥救済を行っている。
したように、液晶表示パネルにおける複数の映像信号配
線２と複数の走査信号配線３との少なくとも一方に対応
して、これらの配線２、３に接続した共通バス配線１を
設け、この共通バス配線１に検査用電極端子９を形成し
ている。そして、この端子９に検査用プローブを立てて
検査用信号１０を供給し、それによって液晶表示パネル
の検査を行い、その良否を判定している。また、検査に
おいて線欠陥などがある場合は、その線欠陥のある信号
配線２、３と補助信号配線１１とをレーザー光によって
ショートさせることで、欠陥救済を行っている。
【０００８】その後に、液晶画面８よりも外側に設けた
共通バス配線１に接続するそれぞれ複数の映像信号配線
２と走査信号配線３との少なくともどちらか一方を、図
示の領域１４Ａ、１４Ｂでレーザー光で切断することに
よって、液晶表示パネルの最終形態を得ている。
共通バス配線１に接続するそれぞれ複数の映像信号配線
２と走査信号配線３との少なくともどちらか一方を、図
示の領域１４Ａ、１４Ｂでレーザー光で切断することに
よって、液晶表示パネルの最終形態を得ている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかし、液晶画面８の
大型化が進むにつれて、以下のような課題がある。すな
わち、映像信号配線２と走査信号配線３との少なくとも
どちらか一方を領域１４Ａ、１４Ｂでレーザー光で切断
すると、そのときのレーザー光の強さや、配線の飛び散
りなどで、隣接ショートが発生している。特に液晶画面
８の大型化が進むと、走査信号配線３や映像信号配線２
の数は増えるので、レーザーカットによる不良が多発し
て生産性の向上につながらない。また装置が大型にな
り、ロスコスト削減につながらない。
大型化が進むにつれて、以下のような課題がある。すな
わち、映像信号配線２と走査信号配線３との少なくとも
どちらか一方を領域１４Ａ、１４Ｂでレーザー光で切断
すると、そのときのレーザー光の強さや、配線の飛び散
りなどで、隣接ショートが発生している。特に液晶画面
８の大型化が進むと、走査信号配線３や映像信号配線２
の数は増えるので、レーザーカットによる不良が多発し
て生産性の向上につながらない。また装置が大型にな
り、ロスコスト削減につながらない。
【００１０】また、複数の映像信号配線２および走査信
号配線３と補助信号配線１１とが交差する部分が多くな
ることから、これらの配線が交差する部分で形成される
静電容量が補助信号配線１１の負荷となり、補助信号配
線１１の信号遅延による信号歪みが生じている。しか
も、ソース信号の変動により、上述の静電容量を介して
補助信号配線１１の信号にノイズを重畳させている。特
に映像信号配線が３０００本を超えるＸＧＡ対応のコン
ピュータ用途の液晶表示パネルでは、この信号歪みと映
像信号配線からの容量結合による飛び込みノイズとが無
視できなくなり、救済処理をしても信号電圧が不正規と
なり、元の欠陥ラインが正常な表示をしなくなる。よっ
て歩留まり向上につながらないという事態が発生してい
る。
号配線３と補助信号配線１１とが交差する部分が多くな
ることから、これらの配線が交差する部分で形成される
静電容量が補助信号配線１１の負荷となり、補助信号配
線１１の信号遅延による信号歪みが生じている。しか
も、ソース信号の変動により、上述の静電容量を介して
補助信号配線１１の信号にノイズを重畳させている。特
に映像信号配線が３０００本を超えるＸＧＡ対応のコン
ピュータ用途の液晶表示パネルでは、この信号歪みと映
像信号配線からの容量結合による飛び込みノイズとが無
視できなくなり、救済処理をしても信号電圧が不正規と
なり、元の欠陥ラインが正常な表示をしなくなる。よっ
て歩留まり向上につながらないという事態が発生してい
る。
【００１１】したがって、この発明の目的は、上記従来
の課題を解決して、レーザー光での切断工程を行わない
簡易な検査を行うことができ、なおかつ欠陥救済処理が
行える液晶表示パネルを提供することである。
の課題を解決して、レーザー光での切断工程を行わない
簡易な検査を行うことができ、なおかつ欠陥救済処理が
行える液晶表示パネルを提供することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めこの発明は、複数の映像信号配線と複数の走査信号配
線との少なくとも一方に対応して液晶画面外に共通バス
配線を設け、前記信号配線と、対応する共通バス配線と
を半導体配線で接続したものである。
めこの発明は、複数の映像信号配線と複数の走査信号配
線との少なくとも一方に対応して液晶画面外に共通バス
配線を設け、前記信号配線と、対応する共通バス配線と
を半導体配線で接続したものである。
【００１３】これによれば、半導体配線は通常は絶縁膜
になっているため、他の映像信号配線や走査信号配線に
電気的に接続することはない。検査時に半導体配線にに
光を当てると、光電導が起って検査用信号が通るように
なり、検査が可能となる。したがって、従来のようなレ
ーザー光で切断する工程はいらなくなり、現状プロセス
で対応でき、ロスコストの削減になる。また、レーザー
光での切断時に発生していた不良なども低減でき、生産
性の向上につながる。
になっているため、他の映像信号配線や走査信号配線に
電気的に接続することはない。検査時に半導体配線にに
光を当てると、光電導が起って検査用信号が通るように
なり、検査が可能となる。したがって、従来のようなレ
ーザー光で切断する工程はいらなくなり、現状プロセス
で対応でき、ロスコストの削減になる。また、レーザー
光での切断時に発生していた不良なども低減でき、生産
性の向上につながる。
【００１４】
【発明の実施の形態】請求項１記載の液晶表示パネル
は、複数の映像信号配線と複数の走査信号配線との少な
くとも一方に対応して液晶画面外に共通バス配線を設
け、前記信号配線と、対応する共通バス配線とを半導体
配線で接続したことを特徴とする。
は、複数の映像信号配線と複数の走査信号配線との少な
くとも一方に対応して液晶画面外に共通バス配線を設
け、前記信号配線と、対応する共通バス配線とを半導体
配線で接続したことを特徴とする。
【００１５】上記の構成によれば、半導体配線は通常で
は絶縁膜になっているため、他の映像信号配線や走査信
号配線と電気的に接続することはない。検査時に半導体
層に光を当てると、光電導が起こって検査用信号が通る
ようになり検査が可能となる。したがって、レーザー光
で切断する工程はいらなくなり、現状プロセスで対応で
き、ロスコストの削減になる。また、レーザー光での切
断時に発生していた不良なども低減でき、生産性の向上
につながる。
は絶縁膜になっているため、他の映像信号配線や走査信
号配線と電気的に接続することはない。検査時に半導体
層に光を当てると、光電導が起こって検査用信号が通る
ようになり検査が可能となる。したがって、レーザー光
で切断する工程はいらなくなり、現状プロセスで対応で
き、ロスコストの削減になる。また、レーザー光での切
断時に発生していた不良なども低減でき、生産性の向上
につながる。
【００１６】請求項２記載の液晶表示パネルは、液晶画
面と、信号配線および共通バス配線および半導体配線と
の間に、欠陥のある信号配線をショートさせて欠陥救済
を行うための補助信号配線を設け、この補助信号配線の
少なくとも１本を半導体配線に対し交差させて配置した
ことを特徴とする。
面と、信号配線および共通バス配線および半導体配線と
の間に、欠陥のある信号配線をショートさせて欠陥救済
を行うための補助信号配線を設け、この補助信号配線の
少なくとも１本を半導体配線に対し交差させて配置した
ことを特徴とする。
【００１７】上記の構成によれば、補助信号配線の少な
くとも１本を半導体配線と交差させて配置すると、その
部分では静電容量を持たなくなる。すなわち、結果的に
信号配線と補助信号配線との交差する部分の数を減らす
ことで、信号歪みと映像信号配線からの容量結合による
飛び込みノイズとを無視できることになり、したがって
救済処理を行っても信号電圧が正規となり、元の欠陥ラ
インが正常な表示をするようになる。よって上記の簡易
な検査を行った場合においても欠陥を確実に救済するこ
とができ、生産性の向上につながる。
くとも１本を半導体配線と交差させて配置すると、その
部分では静電容量を持たなくなる。すなわち、結果的に
信号配線と補助信号配線との交差する部分の数を減らす
ことで、信号歪みと映像信号配線からの容量結合による
飛び込みノイズとを無視できることになり、したがって
救済処理を行っても信号電圧が正規となり、元の欠陥ラ
インが正常な表示をするようになる。よって上記の簡易
な検査を行った場合においても欠陥を確実に救済するこ
とができ、生産性の向上につながる。
【００１８】請求項３記載の液晶表示パネルは、チップ
オングラス工法で作製されたパネルであることを特徴と
する。すなわち、液晶表示パネルが、液晶駆動用ＬＳＩ
やドライバＩＣを直接ガラス基板上に実装するチップオ
ングラス工法で作製されていると、液晶駆動用ＬＳＩの
実装間隔はさらに狭くなり、直接ＩＣをのせるためプロ
ーブ形状も複雑になり、また実装部を傷つけてしまうの
で直接検査用プローブの針を置くことはできない。した
がって、上記のように半導体配線によって接続する構成
をとることが有効である。
オングラス工法で作製されたパネルであることを特徴と
する。すなわち、液晶表示パネルが、液晶駆動用ＬＳＩ
やドライバＩＣを直接ガラス基板上に実装するチップオ
ングラス工法で作製されていると、液晶駆動用ＬＳＩの
実装間隔はさらに狭くなり、直接ＩＣをのせるためプロ
ーブ形状も複雑になり、また実装部を傷つけてしまうの
で直接検査用プローブの針を置くことはできない。した
がって、上記のように半導体配線によって接続する構成
をとることが有効である。
【００１９】次に、この発明の第１の実施の形態の液晶
表示パネルを、図１および図２にもとづいて説明する。
図１はこの発明の第１の実施の形態における液晶表示パ
ネルの半導体配線で接続する部分の拡大図を示し、図５
に示した液晶表示パネルと同一の構成部分には同一符号
を付している。
表示パネルを、図１および図２にもとづいて説明する。
図１はこの発明の第１の実施の形態における液晶表示パ
ネルの半導体配線で接続する部分の拡大図を示し、図５
に示した液晶表示パネルと同一の構成部分には同一符号
を付している。
【００２０】この液晶表示パネルは、図５に示した液晶
表示パネルと同様に、複数の映像信号配線２と複数の走
査信号配線３との少なくとも一方に対応して、液晶画面
外に共通バス配線１が設けられている。そして、信号配
線２、３と共通バス配線１とが、半導体配線１２で接続
されている。
表示パネルと同様に、複数の映像信号配線２と複数の走
査信号配線３との少なくとも一方に対応して、液晶画面
外に共通バス配線１が設けられている。そして、信号配
線２、３と共通バス配線１とが、半導体配線１２で接続
されている。
【００２１】図２は図１におけるａ−ａ部分の断面構造
を拡大して示す。この部分においては、ガラス基板７の
上にゲート絶縁膜１３が形成され、その上に、信号配線
２、３と、この信号配線２、３に設けられた半導体配線
１２とが形成されている。
を拡大して示す。この部分においては、ガラス基板７の
上にゲート絶縁膜１３が形成され、その上に、信号配線
２、３と、この信号配線２、３に設けられた半導体配線
１２とが形成されている。
【００２２】具体的には、ゲート絶縁膜１３は、スパッ
タにて成膜した膜厚５０ｎｍの酸化タンタル膜と、プラ
ズマＣＶＤで生成した膜厚３５０ｎｍの窒化珪素膜とに
よる２層構造とされている。映像信号配線２は、スパッ
タにて成膜した膜厚３５０ｎｍのアルミニウムと膜厚５
０ｎｍのチタン５０とによって形成されている。その映
像信号を接続するための半導体配線１２は、プラズマＣ
ＶＤで生成した膜厚５０ｎｍの非晶質珪素にて形成され
ている。さらに、半導体配線１２のための耐薬液性保護
膜として、プラズマＣＶＤで成膜した膜厚１００ｎｍの
窒化珪素が形成されている。
タにて成膜した膜厚５０ｎｍの酸化タンタル膜と、プラ
ズマＣＶＤで生成した膜厚３５０ｎｍの窒化珪素膜とに
よる２層構造とされている。映像信号配線２は、スパッ
タにて成膜した膜厚３５０ｎｍのアルミニウムと膜厚５
０ｎｍのチタン５０とによって形成されている。その映
像信号を接続するための半導体配線１２は、プラズマＣ
ＶＤで生成した膜厚５０ｎｍの非晶質珪素にて形成され
ている。さらに、半導体配線１２のための耐薬液性保護
膜として、プラズマＣＶＤで成膜した膜厚１００ｎｍの
窒化珪素が形成されている。
【００２３】この構成において、信号配線２、３は途中
で切断されたような構成になり、この部分を接続する半
導体配線１２に電流が流れなければ、導通しないような
状態になる。
で切断されたような構成になり、この部分を接続する半
導体配線１２に電流が流れなければ、導通しないような
状態になる。
【００２４】このように構成された液晶表示パネルにお
いて、共通バス配線１に検査用電極端子を形成し、この
端子に検査用プローブを立てて検査用信号を供給した場
合に、図示の状態のままでは、半導体配線１２に電流が
流れないので検査は不可能である。しかし、半導体配線
１２に光を照射すると、その半導体層に光電導が生じて
電流が流れるようになることで、検査が可能となる。よ
って以上のように構成された液晶表示パネルは、簡易な
検査が可能であり、レーザー光による配線の切断にもと
づき発生する不良をなくすことができる。したがって、
生産性の向上につながることになる。
いて、共通バス配線１に検査用電極端子を形成し、この
端子に検査用プローブを立てて検査用信号を供給した場
合に、図示の状態のままでは、半導体配線１２に電流が
流れないので検査は不可能である。しかし、半導体配線
１２に光を照射すると、その半導体層に光電導が生じて
電流が流れるようになることで、検査が可能となる。よ
って以上のように構成された液晶表示パネルは、簡易な
検査が可能であり、レーザー光による配線の切断にもと
づき発生する不良をなくすことができる。したがって、
生産性の向上につながることになる。
【００２５】液晶表示パネルが、図４に示すものと同様
にチップオングラス工法で作製されている場合には、液
晶駆動用ＬＳＩの実装間隔が狭くなり、直接ＩＣをのせ
るためプローブ形状も複雑になり、また実装部を傷つけ
てしまうので直接検査用プローブの針を置くことはでき
ない。したがって、その場合には、上述のように半導体
配線１２によって接続する構成をとることが特に有効で
ある。
にチップオングラス工法で作製されている場合には、液
晶駆動用ＬＳＩの実装間隔が狭くなり、直接ＩＣをのせ
るためプローブ形状も複雑になり、また実装部を傷つけ
てしまうので直接検査用プローブの針を置くことはでき
ない。したがって、その場合には、上述のように半導体
配線１２によって接続する構成をとることが特に有効で
ある。
【００２６】この発明の第２の実施の形態を示す液晶表
示パネルを、図３および図４にもとづいて説明する。図
３において、液晶表示パネルの厚さ方向における液晶画
面と半導体配線１２との間に、複数本の補助信号配線１
１が、映像信号配線２と交差するように設けられてい
る。そして、その複数本の補助信号配線１１のうちの少
なくとも１本が、半導体配線１２と交差するように構成
されている。
示パネルを、図３および図４にもとづいて説明する。図
３において、液晶表示パネルの厚さ方向における液晶画
面と半導体配線１２との間に、複数本の補助信号配線１
１が、映像信号配線２と交差するように設けられてい
る。そして、その複数本の補助信号配線１１のうちの少
なくとも１本が、半導体配線１２と交差するように構成
されている。
【００２７】図４は、図３におけるｂ−ｂ部分の断面構
造を拡大して示す。この部分においては、ガラス基板７
上にスパッタにて成膜した膜厚２００ｎｍのアルミニウ
ム補助信号配線１１が形成され、その上に、図２に示し
たものと同様の、ゲート絶縁膜１３と、半導体配線１２
と、信号配線２、３とが形成されている。
造を拡大して示す。この部分においては、ガラス基板７
上にスパッタにて成膜した膜厚２００ｎｍのアルミニウ
ム補助信号配線１１が形成され、その上に、図２に示し
たものと同様の、ゲート絶縁膜１３と、半導体配線１２
と、信号配線２、３とが形成されている。
【００２８】この構成においては、補助信号配線１１と
信号配線２、３とが交差する部分は静電容量をもつが、
補助信号配線１１と半導体配線１２とが交差する部分で
は、信号配線２、３がなく、静電容量を持たなくなる。
よって信号配線２、３と補助信号配線１１とが交差する
部分の数を減らすことでき、信号歪みと映像信号配線か
らの容量結合による飛び込みノイズとを無視できること
になり、したがって救済処理をしたときに信号電圧が正
規となり、元の欠陥ラインが正常な表示をするようにな
る。よって上記の簡易な検査を行った場合においても確
実に欠陥を救済することができ、生産性の向上につなが
る。
信号配線２、３とが交差する部分は静電容量をもつが、
補助信号配線１１と半導体配線１２とが交差する部分で
は、信号配線２、３がなく、静電容量を持たなくなる。
よって信号配線２、３と補助信号配線１１とが交差する
部分の数を減らすことでき、信号歪みと映像信号配線か
らの容量結合による飛び込みノイズとを無視できること
になり、したがって救済処理をしたときに信号電圧が正
規となり、元の欠陥ラインが正常な表示をするようにな
る。よって上記の簡易な検査を行った場合においても確
実に欠陥を救済することができ、生産性の向上につなが
る。
【００２９】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、複数の映
像信号配線と複数の走査信号配線との少なくとも一方に
対応して液晶画面外に共通バス配線を設け、前記信号配
線と、対応する共通バス配線とを半導体配線で接続した
ため、従来行っていた検査後のレーザー光による切断が
不要になり、現状の設備のままで簡易に検査を行え、ロ
スコスト削減を図ることができる。また、レーザー光で
の切断時に発生する不良などを低減でき、生産性の向上
につながるという効果を有する。
像信号配線と複数の走査信号配線との少なくとも一方に
対応して液晶画面外に共通バス配線を設け、前記信号配
線と、対応する共通バス配線とを半導体配線で接続した
ため、従来行っていた検査後のレーザー光による切断が
不要になり、現状の設備のままで簡易に検査を行え、ロ
スコスト削減を図ることができる。また、レーザー光で
の切断時に発生する不良などを低減でき、生産性の向上
につながるという効果を有する。
【図１】この発明の第１の実施の形態の液晶表示パネル
における半導体配線で接続する部分の拡大図である。
における半導体配線で接続する部分の拡大図である。
【図２】図１におけるａ−ａ部分の断面構造を拡大して
示す図である。
示す図である。
【図３】この発明の第２の実施の形態の液晶表示パネル
における半導体配線と補助信号配線の交差する部分の拡
大図である。
における半導体配線と補助信号配線の交差する部分の拡
大図である。
【図４】図３におけるｂ−ｂ部分の断面構造を拡大して
示す図である。
示す図である。
【図５】従来の液晶表示パネルの構成図である。
１ 共通バス配線 ２ 映像信号配線 ３ 走査信号配線 １１ 補助信号配線 １２ 半導体配線
Claims (3)
- 【請求項１】 複数の映像信号配線と複数の走査信号配
線との少なくとも一方に対応して液晶画面外に共通バス
配線を設け、前記信号配線と、対応する共通バス配線と
を半導体配線で接続したことを特徴とする液晶表示パネ
ル。 - 【請求項２】 液晶画面と、信号配線および共通バス配
線および半導体配線との間に、欠陥のある信号配線をシ
ョートさせて欠陥救済を行うための補助信号配線を設
け、この補助信号配線の少なくとも１本を半導体配線に
対し交差させて配置したことを特徴とする請求項１記載
の液晶表示パネル。 - 【請求項３】 チップオングラス工法で作製されたパネ
ルであることを特徴とする請求項１または２記載の液晶
表示パネル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10009175A JPH11212105A (ja) | 1998-01-21 | 1998-01-21 | 液晶表示パネル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10009175A JPH11212105A (ja) | 1998-01-21 | 1998-01-21 | 液晶表示パネル |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11212105A true JPH11212105A (ja) | 1999-08-06 |
Family
ID=11713245
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10009175A Pending JPH11212105A (ja) | 1998-01-21 | 1998-01-21 | 液晶表示パネル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11212105A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100439978C (zh) * | 2003-03-07 | 2008-12-03 | 友达光电股份有限公司 | 液晶显示面板的测试方法及其设备 |
| KR100965586B1 (ko) | 2003-12-30 | 2010-06-23 | 엘지디스플레이 주식회사 | 듀얼 게이트 구동방식 액정표시장치 및 이의 제조방법 |
-
1998
- 1998-01-21 JP JP10009175A patent/JPH11212105A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100439978C (zh) * | 2003-03-07 | 2008-12-03 | 友达光电股份有限公司 | 液晶显示面板的测试方法及其设备 |
| KR100965586B1 (ko) | 2003-12-30 | 2010-06-23 | 엘지디스플레이 주식회사 | 듀얼 게이트 구동방식 액정표시장치 및 이의 제조방법 |
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