JPH11215500A5 - - Google Patents

Description

このように、上述したブロック歪の除去フィルタでは、除去フィルタを通過させた画像データにブロック歪補正処理を施した後にさらに新たな疑似エッジが生じた場合、再度ブロック歪を補正することが考慮されていない。また、補正後に生ずる新たな疑似エッジを補正前に予測する等の処理もなされてない。

MB0=(MB0+MB1+MB2+MB3+MB4+MB5+MB6+MB7+MB8)/9
すなわち、図４に示したマクロブロックＭＢ０について動きベクトル差分ＭＶ及びＩＤＣＴ係数を算出するときには、周囲に隣接するマクロブロックＭＢ８も考慮して算出される。

垂直相関検出回路５は、ブロック境界に沿った方向のエッジの相関の強さを検出する。具体的には、パラメータＫｐは、符号化難易度が高いほど大きくなるように、０〜１の範囲内に多段階に設定し、後述するように、ブロック歪判定回路６によりブロック境界におけるエッジ成分を抽出する。垂直相関検出回路５では、このようにして抽出されたエッジ成分のブロック境界における垂直相関の強さを求める。このときの垂直相関の強さを求める方法の一例を図６を用いて説明する。

また、この垂直相関検出回路５は、検出した垂直相関の強さを、ブロック歪判定回路６に出力する場合のみならず、相関検出の強さを符号化するときの難易度として、ブロック歪補正回路７にも出力しても良い。すなわち、垂直相関検出回路５で検出される垂直相関が大きいほど符号化を行う難易度が高いとみなして、垂直相関に応じたパラメータをブロック歪補正回路７に出力して、ブロック歪補正回路７で算出した補正値に当該パラメータを乗算処理する。

ブロック歪判定回路６は、符号化難易度評価回路３からのパラメータＫｐ、パラメータ演算回路４からの各パラメータ、垂直相関検出回路５からの重み係数Ｋｃを用いて、ブロック歪の有無を判定する。また、このブロック歪補正回路７は、ブロック歪補正を行うか否かの閾値det_thを有している。

具体的には、このブロック歪判定回路６は、｜tmp0｜＞｜tmp｜が満たされているときには、ブロック境界に段差があると判定する。また、このブロック歪判定回路６は、｜tmp0｜＜det_thが満たされているときには、ブロック境界にエッジがないと判断する。｜tmp0｜≧｜diff3｜及び｜tmp0｜≧｜diff4｜が満たされていると判断したときには、ブロック境界の両側にエッジがないことを判断する。

クロマ信号入力端子１１に供給された入力画像データのクロマ（色）成分は、遅延回路１４を介してクロマ信号出力端子４０より取り出される。遅延回路１４は、輝度成分についてのブロック歪低減処理が施されるのに要する時間を遅延させて、出力される輝度成分とクロマ成分とのタイミングを合わせるためのものである。

さらに、ブロック歪判定回路６では、上述の第１及び第２の実施の形態でブロック歪に対する補正の処理を行った結果、新たにエッジが生じないようにするために、図２０に示すようなブロック歪の補正を行うとき、(1) ｜step｜＜σ0×corr_ratio(2) σ0＞｜diff3｜ かつ σ0＞｜diff4｜(3) ｜tmp0｜＜corr_thという第１〜第３の判定条件を追加して、ブロック歪を判定する。すなわち、第１の判定条件では補正後の段差｜step｜が補正量σ0に比べて一定の比（corr_ratio）よりも小さいか否かを判断し、第２の判定条件では補正量σ0がブロック境界の両脇の段差（diff3,diff4）よりも大きいか否かを判断し、第３の判定条件ではブロック境界の段差｜step｜が補正量決定の為の閾値corr_thよりも小さいか否かを判断する。なお、第３の判定条件において、補正後の段差｜step｜と補正量との比を０＜corr_ratio＜１とする。

ステップＳＴ１１５では、ブロック歪補正回路７でステップＳＴ１１２での判定結果を示すフラグが入力されると、｜tmp0｜＞corr_thを満たすか否かを判断し、この条件を満たす場合にはステップＳＴ１１６に進み補正を弱とし、満たさない場合にはステップＳＴ１１７に進み補正を強としてステップＳＴ１２２に進む。

ステップＳＴ１２０及びステップＳＴ１２１では、ブロック歪補正回路７で上述のステップＳＴ１１６、ステップＳＴ１１７と同様に、補正の強弱を決定してステップＳＴ１２２に進む。

次にステップＳＴ１４５では上述のステップＳＴ１２４と同様の処理を行い、ステップＳＴ１４６では上述のステップＳＴ１２５と同様の処理を行うことで処理を終了する。