JPH11223574A - 散乱光の測定方法および測定装置 - Google Patents
散乱光の測定方法および測定装置Info
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- JPH11223574A JPH11223574A JP2447398A JP2447398A JPH11223574A JP H11223574 A JPH11223574 A JP H11223574A JP 2447398 A JP2447398 A JP 2447398A JP 2447398 A JP2447398 A JP 2447398A JP H11223574 A JPH11223574 A JP H11223574A
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Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ファイバに点在する輝点からの散乱光の特
性を分解能高く、高い集光効率で迅速に測定する方法お
よびその装置を提供する。 【解決手段】 光ファイバ1の一部を直線状に保持した
状態で光ファイバ移動装置100により走行させ、光源
201を含む光入射手段200により光ファイバ1内に
端面から光を入射させ、光ファイバ1内に光を伝播させ
る。光ファイバの直線状走行部分2が楕円面反射鏡32
0の第一焦点323を通過するように楕円面反射鏡32
0を設置し、楕円面反射鏡320の第一焦点323に位
置する光ファイバ1から漏れる散乱光を、楕円面反射鏡
320と平面反射鏡310とを用いて、光ファイバ1の
走行路と異なる位置に集光し、その光量分布を光量分布
測定手段400により測定する。
性を分解能高く、高い集光効率で迅速に測定する方法お
よびその装置を提供する。 【解決手段】 光ファイバ1の一部を直線状に保持した
状態で光ファイバ移動装置100により走行させ、光源
201を含む光入射手段200により光ファイバ1内に
端面から光を入射させ、光ファイバ1内に光を伝播させ
る。光ファイバの直線状走行部分2が楕円面反射鏡32
0の第一焦点323を通過するように楕円面反射鏡32
0を設置し、楕円面反射鏡320の第一焦点323に位
置する光ファイバ1から漏れる散乱光を、楕円面反射鏡
320と平面反射鏡310とを用いて、光ファイバ1の
走行路と異なる位置に集光し、その光量分布を光量分布
測定手段400により測定する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学的測定技術に
属するものであり、特に光ファイバの側面からの散乱光
の測定方法及びその装置に関する。
属するものであり、特に光ファイバの側面からの散乱光
の測定方法及びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光ファイバ例えばプラスチック光ファイ
バでは、端面から強い光を入射させて側面から漏れる散
乱光を観察すると、所々に明るく輝く輝点が肉眼でも見
える場合がある。このような輝点は、光ファイバのコア
に含まれる異物や気泡が散乱源である場合と、コアとシ
ースとの界面に生じた傷が散乱源である場合とが多い。
このような輝点からの散乱光は、一般に指向性があるた
め、観察角度によって強さが急激に変化する。このた
め、特に暗がりで観察すると、きらきらして非常に目立
ち、用途によっては商品価値を低下させる一因になる。
そこで、光ファイバにおいては、有害な輝点を低減させ
ることが要求されており、そのような要求に応える光フ
ァイバを得るために、輝点の散乱光の強さ、輝点の数、
輝点の位置、散乱光の方向などを解析して、その原因を
究明することが肝要である。
バでは、端面から強い光を入射させて側面から漏れる散
乱光を観察すると、所々に明るく輝く輝点が肉眼でも見
える場合がある。このような輝点は、光ファイバのコア
に含まれる異物や気泡が散乱源である場合と、コアとシ
ースとの界面に生じた傷が散乱源である場合とが多い。
このような輝点からの散乱光は、一般に指向性があるた
め、観察角度によって強さが急激に変化する。このた
め、特に暗がりで観察すると、きらきらして非常に目立
ち、用途によっては商品価値を低下させる一因になる。
そこで、光ファイバにおいては、有害な輝点を低減させ
ることが要求されており、そのような要求に応える光フ
ァイバを得るために、輝点の散乱光の強さ、輝点の数、
輝点の位置、散乱光の方向などを解析して、その原因を
究明することが肝要である。
【0003】このような目的で光ファイバの散乱光を測
定するための測定方法としては、従来、積分球を用いる
方法や、光ファイバを中心軸の周りに回転させながら散
乱光の全立体角分布を測定する方法(特開昭60−17
3438号公報)が知られている。
定するための測定方法としては、従来、積分球を用いる
方法や、光ファイバを中心軸の周りに回転させながら散
乱光の全立体角分布を測定する方法(特開昭60−17
3438号公報)が知られている。
【0004】積分球を用いる第1の従来法では、光ファ
イバを積分球の中に通し、該光ファイバの一方の端面よ
り光を入射させ、積分球内で光ファイバ側面から散乱す
る光を集光し、積分球の一箇所にあけた穴よりその散乱
光を取り出し、これを光検出器によって検出して、散乱
光量を測定する。
イバを積分球の中に通し、該光ファイバの一方の端面よ
り光を入射させ、積分球内で光ファイバ側面から散乱す
る光を集光し、積分球の一箇所にあけた穴よりその散乱
光を取り出し、これを光検出器によって検出して、散乱
光量を測定する。
【0005】散乱光の全立体角分布を測定する第2の従
来法では、適当な間隔をおいて配置された1対のホルダ
ーにより光ファイバをその中心軸を軸として回転可能な
状態で直線状に把持する。そして、光ファイバの中心軸
と直交する1つの直線を軸として回転可能な回転台上
に、回転台の回転軸と光ファイバ中心軸との交点に向け
て、レンズ系と光検出器とから成る狭い受光角の集光筒
を固定する。前記回転台の回転軸の周囲には屈折率マッ
チングオイルが満たされたマッチングオイル入りのバス
を配置しておき、光ファイバ直線部分を該マッチングオ
イル入りバスに浸す。光ファイバの一方の端面より光を
入射させて、前記バスの外から集光筒を用いて、ある一
つの方向の散乱光を測定する。ここで光ファイバをその
中心軸を軸として回転させると、光ファイバ中心軸に対
して一定の角度で出射する散乱光を測定できる。そし
て、この集光筒を前記回転台の回転軸の周りで回転させ
ることにより、光ファイバ中心軸に対して別の角度で出
射する散乱光を測定できる。これにより、光ファイバの
1点の散乱光を全立体角に亘り測定することができる。
来法では、適当な間隔をおいて配置された1対のホルダ
ーにより光ファイバをその中心軸を軸として回転可能な
状態で直線状に把持する。そして、光ファイバの中心軸
と直交する1つの直線を軸として回転可能な回転台上
に、回転台の回転軸と光ファイバ中心軸との交点に向け
て、レンズ系と光検出器とから成る狭い受光角の集光筒
を固定する。前記回転台の回転軸の周囲には屈折率マッ
チングオイルが満たされたマッチングオイル入りのバス
を配置しておき、光ファイバ直線部分を該マッチングオ
イル入りバスに浸す。光ファイバの一方の端面より光を
入射させて、前記バスの外から集光筒を用いて、ある一
つの方向の散乱光を測定する。ここで光ファイバをその
中心軸を軸として回転させると、光ファイバ中心軸に対
して一定の角度で出射する散乱光を測定できる。そし
て、この集光筒を前記回転台の回転軸の周りで回転させ
ることにより、光ファイバ中心軸に対して別の角度で出
射する散乱光を測定できる。これにより、光ファイバの
1点の散乱光を全立体角に亘り測定することができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】第1の従来法の問題点
は、光ファイバの散乱光の指向性に関して全く情報が得
られないことである。その上、積分球により乱反射を繰
り返して光量を検出するものであるところ、該積分球の
反射面として反射率100%のものは現実には存在しな
いので、光検出効率が低く、高価な高感度光検出器が必
要となることも難点である。
は、光ファイバの散乱光の指向性に関して全く情報が得
られないことである。その上、積分球により乱反射を繰
り返して光量を検出するものであるところ、該積分球の
反射面として反射率100%のものは現実には存在しな
いので、光検出効率が低く、高価な高感度光検出器が必
要となることも難点である。
【0007】また、第2の従来法の問題点は、輝点の特
性に関して詳細なデータが得られるが、1箇所の測定を
するにも多大な時間と労力を要することである。また、
同期回転する1対のホルダー間の光ファイバ長はそれほ
ど長くできないし、同期回転させるために光ファイバを
掴む必要があるので光ファイバを連続的に移動させなが
ら測定することができないことも問題である。このた
め、長い光ファイバについて散乱光を測定するのは容易
ではない。しかし、光ファイバの輝点のような所々にあ
る欠陥を十分に解析するには、長い光ファイバについて
非常に多くのデータが必要であるので、第2の従来法
は、輝点等の欠陥の解析には不向きである。
性に関して詳細なデータが得られるが、1箇所の測定を
するにも多大な時間と労力を要することである。また、
同期回転する1対のホルダー間の光ファイバ長はそれほ
ど長くできないし、同期回転させるために光ファイバを
掴む必要があるので光ファイバを連続的に移動させなが
ら測定することができないことも問題である。このた
め、長い光ファイバについて散乱光を測定するのは容易
ではない。しかし、光ファイバの輝点のような所々にあ
る欠陥を十分に解析するには、長い光ファイバについて
非常に多くのデータが必要であるので、第2の従来法
は、輝点等の欠陥の解析には不向きである。
【0008】本発明の目的は、光ファイバに点在する輝
点からの散乱光の特性を分解能高く、高い集光効率で迅
速に測定する方法およびその装置を提供することにあ
る。
点からの散乱光の特性を分解能高く、高い集光効率で迅
速に測定する方法およびその装置を提供することにあ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、以上の
如き目的を達成するものとして、少なくとも一部が直線
状に保持された状態で走行する光ファイバ内に光を伝播
させ、光ファイバの側面から漏れる散乱光を測定する方
法において、前記光ファイバの直線状走行部分が凹面反
射鏡の焦点を通過するように設置された凹面反射鏡を用
いて、凹面反射鏡の焦点に位置する光ファイバから漏れ
る散乱光を、光ファイバの走行路と異なる位置に集光
し、その光量分布を測定することを特徴とする散乱光の
測定方法、が提供される。
如き目的を達成するものとして、少なくとも一部が直線
状に保持された状態で走行する光ファイバ内に光を伝播
させ、光ファイバの側面から漏れる散乱光を測定する方
法において、前記光ファイバの直線状走行部分が凹面反
射鏡の焦点を通過するように設置された凹面反射鏡を用
いて、凹面反射鏡の焦点に位置する光ファイバから漏れ
る散乱光を、光ファイバの走行路と異なる位置に集光
し、その光量分布を測定することを特徴とする散乱光の
測定方法、が提供される。
【0010】本発明の一態様においては、前記光ファイ
バの直線状走行部分の光ファイバの中心軸と凹面反射鏡
の光軸とを一致させた状態で測定する。
バの直線状走行部分の光ファイバの中心軸と凹面反射鏡
の光軸とを一致させた状態で測定する。
【0011】本発明の一態様においては、前記光ファイ
バの直線状走行部分に連なる部分を、その直線の延長線
上から離れた走行路を走行させた状態で、光ファイバが
走行していない前記延長線上に散乱光を集光する。
バの直線状走行部分に連なる部分を、その直線の延長線
上から離れた走行路を走行させた状態で、光ファイバが
走行していない前記延長線上に散乱光を集光する。
【0012】本発明の一態様においては、凹面反射鏡と
して楕円面反射鏡を用い、前記光ファイバの直線状走行
部分が楕円面反射鏡の第一焦点を通過するように配置し
て行う。
して楕円面反射鏡を用い、前記光ファイバの直線状走行
部分が楕円面反射鏡の第一焦点を通過するように配置し
て行う。
【0013】また、本発明によれば、以上の如き目的を
達成するものとして、少なくとも一部が直線状に保持さ
れた状態で走行する光ファイバ内に光を伝播させ、光フ
ァイバの側面から漏れる散乱光を測定する方法におい
て、前記光ファイバの直線状走行部分が楕円面反射鏡の
第一焦点を通過するように設置された楕円面反射鏡、及
び楕円面反射鏡の第一焦点と第二焦点との間に配置され
た光路変更素子を用いて、楕円面反射鏡の第一焦点に位
置する光ファイバから漏れる散乱光を、光ファイバの走
行路と異なる位置に集光し、その光量分布を測定するこ
とを特徴とする散乱光の測定方法、が提供される。
達成するものとして、少なくとも一部が直線状に保持さ
れた状態で走行する光ファイバ内に光を伝播させ、光フ
ァイバの側面から漏れる散乱光を測定する方法におい
て、前記光ファイバの直線状走行部分が楕円面反射鏡の
第一焦点を通過するように設置された楕円面反射鏡、及
び楕円面反射鏡の第一焦点と第二焦点との間に配置され
た光路変更素子を用いて、楕円面反射鏡の第一焦点に位
置する光ファイバから漏れる散乱光を、光ファイバの走
行路と異なる位置に集光し、その光量分布を測定するこ
とを特徴とする散乱光の測定方法、が提供される。
【0014】本発明の一態様においては、楕円面反射鏡
の光軸と前記光ファイバの直線状走行部分の光ファイバ
の中心軸とを一致させた状態で測定する。
の光軸と前記光ファイバの直線状走行部分の光ファイバ
の中心軸とを一致させた状態で測定する。
【0015】本発明の一態様においては、光路変更素子
として、光ファイバの走行用の開口部が設けられた平面
反射鏡またはプリズムを用いる。
として、光ファイバの走行用の開口部が設けられた平面
反射鏡またはプリズムを用いる。
【0016】本発明の一態様においては、凹面反射鏡ま
たは楕円面反射鏡として、その光軸部分に光ファイバの
走行用の開口部が設けられた楕円面反射鏡を用いる。
たは楕円面反射鏡として、その光軸部分に光ファイバの
走行用の開口部が設けられた楕円面反射鏡を用いる。
【0017】また、本発明によれば、以上の如き目的を
達成するものとして、少なくとも一部が直線状に保持さ
れた状態で走行する光ファイバ内に光を伝播させ、光フ
ァイバの側面から漏れる散乱光を測定する方法におい
て、前記光ファイバの直線状走行部分の光ファイバの中
心軸が放物面反射鏡の焦点を通過するように設置された
放物面反射鏡を用いて、放物面反射鏡の焦点に位置する
光ファイバから漏れる散乱光を平行光線群とし、集光素
子を用いて前記平行光線群を光ファイバの走行路と異な
る位置に集光し、その光量分布を測定することを特徴と
する散乱光の測定方法、が提供される。
達成するものとして、少なくとも一部が直線状に保持さ
れた状態で走行する光ファイバ内に光を伝播させ、光フ
ァイバの側面から漏れる散乱光を測定する方法におい
て、前記光ファイバの直線状走行部分の光ファイバの中
心軸が放物面反射鏡の焦点を通過するように設置された
放物面反射鏡を用いて、放物面反射鏡の焦点に位置する
光ファイバから漏れる散乱光を平行光線群とし、集光素
子を用いて前記平行光線群を光ファイバの走行路と異な
る位置に集光し、その光量分布を測定することを特徴と
する散乱光の測定方法、が提供される。
【0018】本発明の一態様においては、放物面反射鏡
の光軸と前記光ファイバの中心軸とを一致させた状態で
測定する。
の光軸と前記光ファイバの中心軸とを一致させた状態で
測定する。
【0019】本発明の一態様においては、集光素子とし
て凸レンズを用い、前記光ファイバの直線状走行部分に
連なる部分を、前記光ファイバの中心軸の延長線から離
れた走行路を走行させた状態で、光ファイバが走行して
いない前記延長線上に前記平行光線群とされた光を集光
する。
て凸レンズを用い、前記光ファイバの直線状走行部分に
連なる部分を、前記光ファイバの中心軸の延長線から離
れた走行路を走行させた状態で、光ファイバが走行して
いない前記延長線上に前記平行光線群とされた光を集光
する。
【0020】本発明の一態様においては、集光素子とし
て凸レンズを用い、更に光路変更素子を用いて、前記光
ファイバの中心軸を含む直線から離れた位置に前記平行
光線群とされた光を集光する。
て凸レンズを用い、更に光路変更素子を用いて、前記光
ファイバの中心軸を含む直線から離れた位置に前記平行
光線群とされた光を集光する。
【0021】本発明の一態様においては、光路変更素子
として、光ファイバの走行用の開口部が設けられた平面
反射鏡またはプリズムを用いる。
として、光ファイバの走行用の開口部が設けられた平面
反射鏡またはプリズムを用いる。
【0022】本発明の一態様においては、放物面反射鏡
として、その光軸部分に光ファイバの走行用の開口部が
設けられた放物面反射鏡を用いる。
として、その光軸部分に光ファイバの走行用の開口部が
設けられた放物面反射鏡を用いる。
【0023】本発明の一態様においては、走行する光フ
ァイバの側面から光を照射し、光ファイバ内に光を伝播
させる。
ァイバの側面から光を照射し、光ファイバ内に光を伝播
させる。
【0024】また、本発明によれば、以上の如き目的を
達成するものとして、光ファイバの少なくとも一部を直
線状に保持した状態で走行させるための光ファイバ移動
装置、光ファイバ内に光を入射させるための光源、直線
状に保持されて走行する光ファイバの中心軸上の一点を
焦点とするように配置された凹面反射鏡、及び光ファイ
バの走行路と異なる位置に配置され、凹面反射鏡によっ
て集光された光の光量分布を測定する光量分布測定装置
からなる散乱光の測定装置、が提供される。
達成するものとして、光ファイバの少なくとも一部を直
線状に保持した状態で走行させるための光ファイバ移動
装置、光ファイバ内に光を入射させるための光源、直線
状に保持されて走行する光ファイバの中心軸上の一点を
焦点とするように配置された凹面反射鏡、及び光ファイ
バの走行路と異なる位置に配置され、凹面反射鏡によっ
て集光された光の光量分布を測定する光量分布測定装置
からなる散乱光の測定装置、が提供される。
【0025】本発明の一態様においては、凹面反射鏡と
して楕円面反射鏡を用い、直線状に保持されて走行する
光ファイバの中心軸が楕円面反射鏡の第一焦点を通過す
るように配置している。
して楕円面反射鏡を用い、直線状に保持されて走行する
光ファイバの中心軸が楕円面反射鏡の第一焦点を通過す
るように配置している。
【0026】また、本発明によれば、以上の如き目的を
達成するものとして、光ファイバの少なくとも一部を直
線状に保持した状態で走行させるための光ファイバ移動
装置、光ファイバ内に光を入射させるための光源、直線
状に保持されて走行する光ファイバの中心軸上の一点を
第一焦点とし、光軸が前記光ファイバの中心軸と一致す
るように配置された楕円面反射鏡、楕円面反射鏡の第一
焦点と第二焦点との間に配置された光路変更素子、及び
光ファイバの走行路と異なる位置に配置され、集光素子
によって集光された光の光量分布を測定する光量分布測
定装置からなる散乱光の測定装置、が提供される。
達成するものとして、光ファイバの少なくとも一部を直
線状に保持した状態で走行させるための光ファイバ移動
装置、光ファイバ内に光を入射させるための光源、直線
状に保持されて走行する光ファイバの中心軸上の一点を
第一焦点とし、光軸が前記光ファイバの中心軸と一致す
るように配置された楕円面反射鏡、楕円面反射鏡の第一
焦点と第二焦点との間に配置された光路変更素子、及び
光ファイバの走行路と異なる位置に配置され、集光素子
によって集光された光の光量分布を測定する光量分布測
定装置からなる散乱光の測定装置、が提供される。
【0027】本発明の一態様においては、光路変更素子
として、光ファイバの走行用の開口部が設けられた平面
反射鏡またはプリズムを用いる。
として、光ファイバの走行用の開口部が設けられた平面
反射鏡またはプリズムを用いる。
【0028】本発明の一態様においては、凹面反射鏡ま
たは楕円面反射鏡として、その光軸部分に光ファイバの
走行用の開口部が設けられた楕円面反射鏡を用いる。
たは楕円面反射鏡として、その光軸部分に光ファイバの
走行用の開口部が設けられた楕円面反射鏡を用いる。
【0029】また、本発明によれば、以上の如き目的を
達成するものとして、光ファイバの少なくとも一部を直
線状に保持した状態で走行させるための光ファイバ移動
装置、光ファイバ内に光を入射させるための光源、直線
状に保持されて走行する光ファイバの中心軸上の一点を
焦点とするように配置された放物面反射鏡、放物面反射
鏡の焦点に位置する光ファイバから漏れる散乱光であっ
て、放物面反射鏡によって平行光線群とされた光を光フ
ァイバの走行路と異なる位置に集光させるための集光素
子、及び集光素子によって集光された光の光量分布を測
定する光量分布測定装置からなる散乱光の測定装置、が
提供される。
達成するものとして、光ファイバの少なくとも一部を直
線状に保持した状態で走行させるための光ファイバ移動
装置、光ファイバ内に光を入射させるための光源、直線
状に保持されて走行する光ファイバの中心軸上の一点を
焦点とするように配置された放物面反射鏡、放物面反射
鏡の焦点に位置する光ファイバから漏れる散乱光であっ
て、放物面反射鏡によって平行光線群とされた光を光フ
ァイバの走行路と異なる位置に集光させるための集光素
子、及び集光素子によって集光された光の光量分布を測
定する光量分布測定装置からなる散乱光の測定装置、が
提供される。
【0030】本発明の一態様においては、放物面反射鏡
を、その光軸が前記光ファイバの中心軸と一致するよう
に配置している。
を、その光軸が前記光ファイバの中心軸と一致するよう
に配置している。
【0031】本発明の一態様においては、前記光ファイ
バの直線状走行部分に連なる部分を、その直線の延長線
上から離れた走行路を走行させるように構成した光ファ
イバ移動装置、集光素子としての凸レンズ、及び光ファ
イバが走行していない前記延長線上を前記平行光線群と
された光の集光位置とするように配置した集光素子を用
いる。
バの直線状走行部分に連なる部分を、その直線の延長線
上から離れた走行路を走行させるように構成した光ファ
イバ移動装置、集光素子としての凸レンズ、及び光ファ
イバが走行していない前記延長線上を前記平行光線群と
された光の集光位置とするように配置した集光素子を用
いる。
【0032】本発明の一態様においては、集光素子とし
て凸レンズを用い、更に光路変更素子を用いて、前記光
ファイバの中心軸を含む直線から離れた位置を前記平行
光線群とされた光の集光位置とするように配置した集光
素子及び光路変更素子を用いる。
て凸レンズを用い、更に光路変更素子を用いて、前記光
ファイバの中心軸を含む直線から離れた位置を前記平行
光線群とされた光の集光位置とするように配置した集光
素子及び光路変更素子を用いる。
【0033】本発明の一態様においては、光路変更素子
として、光ファイバの走行用の開口部が設けられた平面
反射鏡またはプリズムを用いている。
として、光ファイバの走行用の開口部が設けられた平面
反射鏡またはプリズムを用いている。
【0034】本発明の一態様においては、放物面反射鏡
として、その光軸部分に光ファイバの走行用の開口部が
設けられた放物面反射鏡を用いている。
として、その光軸部分に光ファイバの走行用の開口部が
設けられた放物面反射鏡を用いている。
【0035】本発明の一態様においては、光量分布測定
装置が光点位置検出素子である。
装置が光点位置検出素子である。
【0036】本発明の一態様においては、光量分布測定
装置がイメージセンサである。
装置がイメージセンサである。
【0037】本発明の一態様においては、光源が光ファ
イバ走行路の側方に配置され、光ファイバの側面から光
ファイバ内に伝播光を入射可能な光源である。
イバ走行路の側方に配置され、光ファイバの側面から光
ファイバ内に伝播光を入射可能な光源である。
【0038】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面を参照しながら説明する。図1〜図9において同様の
機能を有する部分または部材には同一の符号が付されて
いる。
面を参照しながら説明する。図1〜図9において同様の
機能を有する部分または部材には同一の符号が付されて
いる。
【0039】図1は、本発明の光ファイバの散乱光の測
定方法および測定装置の第一の実施形態を模式的に示す
図である。本実施形態においては、装置を構成する主要
部分として、光ファイバ移動装置100、光入射手段2
00、楕円面反射鏡320や放物面反射鏡320’で代
表される凹面反射鏡、光路変更素子310及び光量分布
測定手段400が用いられている。以下、各手段を順に
説明する。
定方法および測定装置の第一の実施形態を模式的に示す
図である。本実施形態においては、装置を構成する主要
部分として、光ファイバ移動装置100、光入射手段2
00、楕円面反射鏡320や放物面反射鏡320’で代
表される凹面反射鏡、光路変更素子310及び光量分布
測定手段400が用いられている。以下、各手段を順に
説明する。
【0040】光ファイバ移動装置100は、光ファイバ
1を定張力繰り出し機構110に取り付けたボビン11
1から引き出し、ガイドプーリー121に掛けて、光路
変更素子としての平面反射鏡310の通し穴311と凹
面反射鏡としての楕円面反射鏡320のアクセスホール
321を通して、ガイドプーリー122に掛け、ニップ
ローラー130に把持させて、先端部をホルダー210
に固定する。そして、ニップローラー130をその駆動
機構(図示されていない)により矢印131の方向に回
転させることにより、2つのガイドプーリー121,1
22の間にて、光ファイバの直線状部分2を生じせしめ
た状態で連続的または間欠的に光ファイバの直線状部分
をその中心軸方向に沿って移動させることができる。光
ファイバ1の直線状部分2と先端部との間には曲線状部
分3が形成される。
1を定張力繰り出し機構110に取り付けたボビン11
1から引き出し、ガイドプーリー121に掛けて、光路
変更素子としての平面反射鏡310の通し穴311と凹
面反射鏡としての楕円面反射鏡320のアクセスホール
321を通して、ガイドプーリー122に掛け、ニップ
ローラー130に把持させて、先端部をホルダー210
に固定する。そして、ニップローラー130をその駆動
機構(図示されていない)により矢印131の方向に回
転させることにより、2つのガイドプーリー121,1
22の間にて、光ファイバの直線状部分2を生じせしめ
た状態で連続的または間欠的に光ファイバの直線状部分
をその中心軸方向に沿って移動させることができる。光
ファイバ1の直線状部分2と先端部との間には曲線状部
分3が形成される。
【0041】次に、光入射手段200について説明す
る。光源ランプ201の出力光202を、レンズ203
で集光し、ホルダー210に固定されている光ファイバ
1の端面5から該光ファイバ1に入射させ、光ファイバ
1内に光を伝播させる。光ファイバ1への入射光として
は、光ファイバの伝送損失が小さい波長で、光ファイバ
の開口数以下の入射開口数を有する光が好適である。
る。光源ランプ201の出力光202を、レンズ203
で集光し、ホルダー210に固定されている光ファイバ
1の端面5から該光ファイバ1に入射させ、光ファイバ
1内に光を伝播させる。光ファイバ1への入射光として
は、光ファイバの伝送損失が小さい波長で、光ファイバ
の開口数以下の入射開口数を有する光が好適である。
【0042】続いて、凹面反射鏡の代表例である楕円面
反射鏡320及び光路変更素子310について説明す
る。楕円面反射鏡320をその光軸322が光ファイバ
1の直線状部分2の中心軸4に一致するようにして設置
し、平面反射鏡310をその反射鏡面312が光ファイ
バ中心軸4に対して45度の角度に傾くようにして設置
する。この際、平面反射鏡310の鏡面312と楕円面
反射鏡320の光軸322との交点328が楕円面反射
鏡320の第一焦点323と第二焦点(楕円面反射鏡面
325から遠い方の焦点:図示せず)との間に位置する
ようにする。また、平面反射鏡310および楕円面反射
鏡320は、いずれも3次元位置調整機構付きの保持具
(図示せず)と光ファイバ1のための通路(通し穴31
1及びアクセスホール321)を備えており、所望の位
置に精度良く設置することが可能である。このような配
置において、仮に第一焦点323に点光源を置いたと
き、該点光源から発せられる光は、代表的光線326,
327で示すように、楕円面反射鏡320の反射鏡面3
25により反射され、更に平面反射鏡310の作用で光
路を変更され、集光点324に集光する。第一焦点32
3と交点328との間の距離および該交点328と集光
点324との間の距離の和は、楕円面反射鏡320の2
つの焦点間の距離に等しい。
反射鏡320及び光路変更素子310について説明す
る。楕円面反射鏡320をその光軸322が光ファイバ
1の直線状部分2の中心軸4に一致するようにして設置
し、平面反射鏡310をその反射鏡面312が光ファイ
バ中心軸4に対して45度の角度に傾くようにして設置
する。この際、平面反射鏡310の鏡面312と楕円面
反射鏡320の光軸322との交点328が楕円面反射
鏡320の第一焦点323と第二焦点(楕円面反射鏡面
325から遠い方の焦点:図示せず)との間に位置する
ようにする。また、平面反射鏡310および楕円面反射
鏡320は、いずれも3次元位置調整機構付きの保持具
(図示せず)と光ファイバ1のための通路(通し穴31
1及びアクセスホール321)を備えており、所望の位
置に精度良く設置することが可能である。このような配
置において、仮に第一焦点323に点光源を置いたと
き、該点光源から発せられる光は、代表的光線326,
327で示すように、楕円面反射鏡320の反射鏡面3
25により反射され、更に平面反射鏡310の作用で光
路を変更され、集光点324に集光する。第一焦点32
3と交点328との間の距離および該交点328と集光
点324との間の距離の和は、楕円面反射鏡320の2
つの焦点間の距離に等しい。
【0043】続いて、光量分布測定手段400について
説明する。反射光軸330(光軸322と直交し、平面
反射鏡310の鏡面312と45度の角度をなす)に垂
直で集光点324を含む集光面329に虹彩絞り402
を設置し、該虹彩絞りを通過した散乱光線を光点位置検
出素子401で受けて、光量と光量分布の集光面上にお
ける重心の座標とを検出する。図示していないが、光点
位置検出素子401への迷光の進入を防止するために、
楕円面反射鏡320、平面反射鏡310及び光量分布測
定手段400の部分は光ファイバ1の出入り口を備えた
暗箱により囲まれている。この暗箱は、外部からの光の
影響を防止するために必要に応じて設置すればよく、装
置全体を暗室内で作動させる場合には、簡略化または省
略可能である。
説明する。反射光軸330(光軸322と直交し、平面
反射鏡310の鏡面312と45度の角度をなす)に垂
直で集光点324を含む集光面329に虹彩絞り402
を設置し、該虹彩絞りを通過した散乱光線を光点位置検
出素子401で受けて、光量と光量分布の集光面上にお
ける重心の座標とを検出する。図示していないが、光点
位置検出素子401への迷光の進入を防止するために、
楕円面反射鏡320、平面反射鏡310及び光量分布測
定手段400の部分は光ファイバ1の出入り口を備えた
暗箱により囲まれている。この暗箱は、外部からの光の
影響を防止するために必要に応じて設置すればよく、装
置全体を暗室内で作動させる場合には、簡略化または省
略可能である。
【0044】次に、以上のような第1の実施形態の装置
の動作を、光ファイバの輝点を測定する場合について、
説明する。
の動作を、光ファイバの輝点を測定する場合について、
説明する。
【0045】光源ランプ201の出力光を、光ファイバ
1の端面5から該光ファイバ1に入射させ、該光ファイ
バ1内を伝播させた状態で、ニップローラー130を矢
印131の方向に一定速度で回転させ、光ファイバ1を
ゆっくり移動させると、第一焦点323の近傍の光ファ
イバ1の光散乱状態を反映して、集光面329上での光
量分布状態が様々に変化する。例えば、輝点がない正常
な光ファイバの場合は、散乱光が弱い上に光ファイバ全
体にわたって散乱光が生ずるので、集光面329では原
点(反射光軸330上)付近がぼんやりと明るい。輝点
が存在する不良光ファイバ1の場合は、輝点が第一焦点
323を通過するときに、輝点の光ファイバ断面内にお
ける座標と集光面329上の輝点像(光量分布の重心)
の座標とは一定の関係にあり、集光面上には光ファイバ
断面内における輝点位置を反映した鋭い像が生じる。
尚、散乱光の方向は輝点の光ファイバ断面内における位
置によって変化するので、輝点の光ファイバ断面内にお
ける位置を知ることにより、散乱光の方向をある程度知
ることができる。また、光ファイバ1の中心軸上にない
輝点が第一焦点323に近づき、通過するとき、その像
は集光面329をほぼ直線状に横切る。像が現れる方向
は光ファイバ断面内における輝点の位置の座標で決ま
り、集光面329上での像が最も鋭い像となったとき
が、輝点が第一焦点323を通過する瞬間である。輝点
が第一焦点を通過する瞬間を知ることにより、光ファイ
バ中心軸方向の輝点の位置を知ることができる。
1の端面5から該光ファイバ1に入射させ、該光ファイ
バ1内を伝播させた状態で、ニップローラー130を矢
印131の方向に一定速度で回転させ、光ファイバ1を
ゆっくり移動させると、第一焦点323の近傍の光ファ
イバ1の光散乱状態を反映して、集光面329上での光
量分布状態が様々に変化する。例えば、輝点がない正常
な光ファイバの場合は、散乱光が弱い上に光ファイバ全
体にわたって散乱光が生ずるので、集光面329では原
点(反射光軸330上)付近がぼんやりと明るい。輝点
が存在する不良光ファイバ1の場合は、輝点が第一焦点
323を通過するときに、輝点の光ファイバ断面内にお
ける座標と集光面329上の輝点像(光量分布の重心)
の座標とは一定の関係にあり、集光面上には光ファイバ
断面内における輝点位置を反映した鋭い像が生じる。
尚、散乱光の方向は輝点の光ファイバ断面内における位
置によって変化するので、輝点の光ファイバ断面内にお
ける位置を知ることにより、散乱光の方向をある程度知
ることができる。また、光ファイバ1の中心軸上にない
輝点が第一焦点323に近づき、通過するとき、その像
は集光面329をほぼ直線状に横切る。像が現れる方向
は光ファイバ断面内における輝点の位置の座標で決ま
り、集光面329上での像が最も鋭い像となったとき
が、輝点が第一焦点323を通過する瞬間である。輝点
が第一焦点を通過する瞬間を知ることにより、光ファイ
バ中心軸方向の輝点の位置を知ることができる。
【0046】このような関係にあるので、集光面329
での光量分布を測定することにより、輝点の光ファイバ
断面内の座標と輝点の光ファイバ中心軸方向の位置と明
るさと散乱光の方向とを知ることができる。
での光量分布を測定することにより、輝点の光ファイバ
断面内の座標と輝点の光ファイバ中心軸方向の位置と明
るさと散乱光の方向とを知ることができる。
【0047】以上の本実施形態の装置を構成する主要部
分についての更なる説明及び種々の変形について、以下
に説明する。
分についての更なる説明及び種々の変形について、以下
に説明する。
【0048】先ず、光ファイバ移動装置100について
説明する。移動装置の最も重要な機能は、光ファイバ1
の中心軸を少なくとも凹面反射鏡の焦点位置のところで
直線状に保持することである。この目的のためにはガイ
ドと張力の保持とが特に重要であり、そのためには様々
な実施手段がある。ガイドに関しては、上記実施形態で
は、ガイドプーリーを使用しているが、これに限られる
ものではない。例えば、2対のニップローラーをそれら
の挟持方向が直交するように配置し、位置合わせと光フ
ァイバの移動とを受け持たせることにより、光ファイバ
の走行位置を正確に保つことができる。また、固定配置
のV溝形状またはU溝形状のガイドや光ファイバより若
干大きな円孔形状のガイド、工作用のチャックなどを使
用することができる。張力のかけ方についても、様々な
方法がある。例えば、2対のニップローラーで光ファイ
バを掴み、一方を一定速度または間欠的に駆動できるも
のとし、他方をトルクモーターで駆動させたりスリップ
機構を持たせて駆動するなどの方法がある。
説明する。移動装置の最も重要な機能は、光ファイバ1
の中心軸を少なくとも凹面反射鏡の焦点位置のところで
直線状に保持することである。この目的のためにはガイ
ドと張力の保持とが特に重要であり、そのためには様々
な実施手段がある。ガイドに関しては、上記実施形態で
は、ガイドプーリーを使用しているが、これに限られる
ものではない。例えば、2対のニップローラーをそれら
の挟持方向が直交するように配置し、位置合わせと光フ
ァイバの移動とを受け持たせることにより、光ファイバ
の走行位置を正確に保つことができる。また、固定配置
のV溝形状またはU溝形状のガイドや光ファイバより若
干大きな円孔形状のガイド、工作用のチャックなどを使
用することができる。張力のかけ方についても、様々な
方法がある。例えば、2対のニップローラーで光ファイ
バを掴み、一方を一定速度または間欠的に駆動できるも
のとし、他方をトルクモーターで駆動させたりスリップ
機構を持たせて駆動するなどの方法がある。
【0049】光入射手段200については、散乱光測定
に十分な光量を入射させることが重要である。入射光量
が十分でないと、散乱光が弱すぎて測定が不正確となる
おそれがある。長い光ファイバを測定する場合には、光
ファイバの伝送損失が小さい波長を選ぶことが、特に重
要である。そうすることにより、測定位置(凹面反射鏡
の焦点)において十分に強い光を光ファイバから散乱さ
せることができる。また、測定対象の光ファイバが非常
に長い場合(たとえば光ファイバ製造中のように光ファ
イバがエンドレスに長い場合)には、光ファイバ側面か
ら強い光源で光照射することにより、光ファイバ内へと
光を導き、該光ファイバ内で伝播する光を僅かではある
が発生させることができる。この場合、高感度の光量分
布測定手段と組み合わせるのが好ましい。光源として
は、各種のランプ、半導体発光素子、レーザーを用いる
ことができ、これらを必要に応じて分光器あるいは光学
フィルターと組み合わせて使用することができる。集光
用のレンズ203としては、適宜の開口数となすべく適
宜の絞りと組み合わせて使用することができる。但し、
光源の種類によっては絞りが不要な場合もある。また、
光源は、継続発光の直流光を発するものに限定されるこ
とはなく、チョッパーなどにより断続発光の交流光を発
するものとすることができる。この場合は、例えば交流
光を外部からの光等のノイズ光と異なる周波数に設定
し、光量分布測定手段400で得られる信号のうち、交
流光に用いる周波数の光による信号を選択するような処
理を実行することにより、外部からの光の影響を低減す
ることが可能である。
に十分な光量を入射させることが重要である。入射光量
が十分でないと、散乱光が弱すぎて測定が不正確となる
おそれがある。長い光ファイバを測定する場合には、光
ファイバの伝送損失が小さい波長を選ぶことが、特に重
要である。そうすることにより、測定位置(凹面反射鏡
の焦点)において十分に強い光を光ファイバから散乱さ
せることができる。また、測定対象の光ファイバが非常
に長い場合(たとえば光ファイバ製造中のように光ファ
イバがエンドレスに長い場合)には、光ファイバ側面か
ら強い光源で光照射することにより、光ファイバ内へと
光を導き、該光ファイバ内で伝播する光を僅かではある
が発生させることができる。この場合、高感度の光量分
布測定手段と組み合わせるのが好ましい。光源として
は、各種のランプ、半導体発光素子、レーザーを用いる
ことができ、これらを必要に応じて分光器あるいは光学
フィルターと組み合わせて使用することができる。集光
用のレンズ203としては、適宜の開口数となすべく適
宜の絞りと組み合わせて使用することができる。但し、
光源の種類によっては絞りが不要な場合もある。また、
光源は、継続発光の直流光を発するものに限定されるこ
とはなく、チョッパーなどにより断続発光の交流光を発
するものとすることができる。この場合は、例えば交流
光を外部からの光等のノイズ光と異なる周波数に設定
し、光量分布測定手段400で得られる信号のうち、交
流光に用いる周波数の光による信号を選択するような処
理を実行することにより、外部からの光の影響を低減す
ることが可能である。
【0050】楕円面反射鏡320及び光路変更素子31
0について重要なことは、光ファイバが楕円面反射鏡3
20の第一焦点323またはその近傍を通過すること
と、光ファイバ散乱光を光ファイバの存在しない場所に
集光させることである。そして、光ファイバの散乱光を
中心軸に対して対称に検出するために、第一焦点の近傍
において、楕円面反射鏡の光軸と光ファイバ中心軸とを
一致させることが好ましい。第二焦点上に光ファイバが
存在しないように光ファイバを配置する場合は光路変更
素子は省略可能であるので、例えば、光路変更素子を省
略するために、中心軸と光軸とを第一焦点において角度
をつけて交叉させ、光ファイバのない場所に集光点(第
二焦点)を置くことも可能である。光路変更素子とし
て、平面反射鏡を45度傾けて使用する場合を示した
が、角度は45度に限られるものではない。また、光路
変更素子としては、反射式のものとしてはプリズムを使
用することができ、透過式のものとしてはくさび状プリ
ズムを使用することも可能である。また、光ファイバ入
射端面側から順に光路変更素子、楕円面反射鏡を配置す
ることも可能である。
0について重要なことは、光ファイバが楕円面反射鏡3
20の第一焦点323またはその近傍を通過すること
と、光ファイバ散乱光を光ファイバの存在しない場所に
集光させることである。そして、光ファイバの散乱光を
中心軸に対して対称に検出するために、第一焦点の近傍
において、楕円面反射鏡の光軸と光ファイバ中心軸とを
一致させることが好ましい。第二焦点上に光ファイバが
存在しないように光ファイバを配置する場合は光路変更
素子は省略可能であるので、例えば、光路変更素子を省
略するために、中心軸と光軸とを第一焦点において角度
をつけて交叉させ、光ファイバのない場所に集光点(第
二焦点)を置くことも可能である。光路変更素子とし
て、平面反射鏡を45度傾けて使用する場合を示した
が、角度は45度に限られるものではない。また、光路
変更素子としては、反射式のものとしてはプリズムを使
用することができ、透過式のものとしてはくさび状プリ
ズムを使用することも可能である。また、光ファイバ入
射端面側から順に光路変更素子、楕円面反射鏡を配置す
ることも可能である。
【0051】光量分布測定手段400の重要部品は光セ
ンサである。上記実施形態において光センサとして用い
られる光点位置検出素子401としては、例えば、浜松
ホトニクス株式会社製の2次元半導体位置検出素子S1
300が好適に使用できる。これは光量分布を測定でき
る検出素子であり、光量分布の重心の位置信号と光量信
号とを連続出力する。これ以外に、CCDや撮像管など
のイメージセンサが使用可能である。また、輝点の光量
だけを必要とする場合には、通常の単一受光面の光セン
サが使用できる。また、輝点位置を大雑把に知りたい場
合には、2分割または多分割の光センサが使用できる。
あるいは、光ファイバなどのライトガイドを集光面32
9と光センサとの間に配置することも可能である。虹彩
絞りは光センサの寸法が小さいときは省くことができ
る。
ンサである。上記実施形態において光センサとして用い
られる光点位置検出素子401としては、例えば、浜松
ホトニクス株式会社製の2次元半導体位置検出素子S1
300が好適に使用できる。これは光量分布を測定でき
る検出素子であり、光量分布の重心の位置信号と光量信
号とを連続出力する。これ以外に、CCDや撮像管など
のイメージセンサが使用可能である。また、輝点の光量
だけを必要とする場合には、通常の単一受光面の光セン
サが使用できる。また、輝点位置を大雑把に知りたい場
合には、2分割または多分割の光センサが使用できる。
あるいは、光ファイバなどのライトガイドを集光面32
9と光センサとの間に配置することも可能である。虹彩
絞りは光センサの寸法が小さいときは省くことができ
る。
【0052】図2は、本発明の第二の実施形態を模式的
に示す図である。本実施形態は、インライン散乱光測定
を行うものである。
に示す図である。本実施形態は、インライン散乱光測定
を行うものである。
【0053】本実施形態では、光入射手段200は、光
ファイバ1の側面6から光を照射する。また、光ファイ
バ移動装置100は、光ファイバ供給部151から光フ
ァイバ1を連続的に供給し、ガイドプーリー121,1
22によりこの間の光ファイバを直線状に保持して光フ
ァイバ直線状部分2を形成し、光ファイバ引き取り部1
52で引き取る。
ファイバ1の側面6から光を照射する。また、光ファイ
バ移動装置100は、光ファイバ供給部151から光フ
ァイバ1を連続的に供給し、ガイドプーリー121,1
22によりこの間の光ファイバを直線状に保持して光フ
ァイバ直線状部分2を形成し、光ファイバ引き取り部1
52で引き取る。
【0054】光入射手段200は、光源ランプ201の
出力光202を集光レンズ203により光ファイバ上に
集光する。この照射光は殆どが光ファイバ1を通り抜
け、その側面から光ファイバ外に出ていってしまうが、
一部分がコア材のレーリー散乱などにより散乱され、光
ファイバ1内を伝播する光に変換される。
出力光202を集光レンズ203により光ファイバ上に
集光する。この照射光は殆どが光ファイバ1を通り抜
け、その側面から光ファイバ外に出ていってしまうが、
一部分がコア材のレーリー散乱などにより散乱され、光
ファイバ1内を伝播する光に変換される。
【0055】光入射手段200は、図2では光ファイバ
供給部151とガイドプーリー121との間に設置され
ているが、光ファイバ引き取り部152とガイドプーリ
ー122との間に設置してもよく、あるいは両方に設置
しても良い。また、図2では光ファイバの直線状部分に
光を照射しているが、プーリーで曲げた状態の光ファイ
バに光照射したり、光ファイバに対して斜めから光照射
したり、光ファイバを通り抜けた光を反射板などで反射
させて再び光ファイバに光を照射したりして、光ファイ
バ内を伝播する光を増加させることが可能である。
供給部151とガイドプーリー121との間に設置され
ているが、光ファイバ引き取り部152とガイドプーリ
ー122との間に設置してもよく、あるいは両方に設置
しても良い。また、図2では光ファイバの直線状部分に
光を照射しているが、プーリーで曲げた状態の光ファイ
バに光照射したり、光ファイバに対して斜めから光照射
したり、光ファイバを通り抜けた光を反射板などで反射
させて再び光ファイバに光を照射したりして、光ファイ
バ内を伝播する光を増加させることが可能である。
【0056】次に、本実施形態の光ファイバ移動装置1
00について説明する。光ファイバ供給部151は、光
ファイバの製造装置またはボビンから光ファイバを供給
する装置であり、光ファイバ引き取り部152と連動し
て一定の張力と速度で光ファイバを移動させることがで
き、実質的にエンドレスの光ファイバを移動できる装置
である。図2において、光ファイバ供給部151と光フ
ァイバ引き取り部152とは位置を入れ替えても良い。
00について説明する。光ファイバ供給部151は、光
ファイバの製造装置またはボビンから光ファイバを供給
する装置であり、光ファイバ引き取り部152と連動し
て一定の張力と速度で光ファイバを移動させることがで
き、実質的にエンドレスの光ファイバを移動できる装置
である。図2において、光ファイバ供給部151と光フ
ァイバ引き取り部152とは位置を入れ替えても良い。
【0057】図3は、本発明の第三の実施形態を部分的
及び模式的に示す図である。
及び模式的に示す図である。
【0058】本実施形態は、第一及び第二の実施形態に
おいて光路変更素子として平面反射鏡の代わりに直角プ
リズム350を用いたものに相当する。
おいて光路変更素子として平面反射鏡の代わりに直角プ
リズム350を用いたものに相当する。
【0059】直角プリズム350の鏡面352が第一及
び第二の実施形態における平面反射鏡の鏡面312と同
じ役割を果たしており、直角プリズムの鏡面352は第
一の実施形態において説明した平面反射鏡の鏡面312
と同じ位置に配置されている。第一焦点323に点光源
を配置した際の光の進路も第一の実施形態と同様に説明
される。また、直角プリズム350は、3次元位置調整
機構付きの保持具(図示せず)と光ファイバの通路(通
し穴351)を備えており、所望の位置に精度良く設置
することが可能である。
び第二の実施形態における平面反射鏡の鏡面312と同
じ役割を果たしており、直角プリズムの鏡面352は第
一の実施形態において説明した平面反射鏡の鏡面312
と同じ位置に配置されている。第一焦点323に点光源
を配置した際の光の進路も第一の実施形態と同様に説明
される。また、直角プリズム350は、3次元位置調整
機構付きの保持具(図示せず)と光ファイバの通路(通
し穴351)を備えており、所望の位置に精度良く設置
することが可能である。
【0060】プリズムは直角プリズムが好適であるが、
反射面が全反射条件を満たす範囲で他の角度のものを使
用することもできる。反射面に反射膜を形成してもよ
く、この場合には全反射条件は不要となる。
反射面が全反射条件を満たす範囲で他の角度のものを使
用することもできる。反射面に反射膜を形成してもよ
く、この場合には全反射条件は不要となる。
【0061】図4は、本発明の第四の実施形態を模式的
に示す図である。
に示す図である。
【0062】本実施形態は、凹面反射鏡が第一の実施形
態のものと異なる。即ち、第四の実施形態では、凹面反
射鏡として放物面反射鏡320’を用いている。322
及び323’はそれぞれその光軸及び焦点である。放物
面反射鏡の光軸322は光ファイバ直線状部分4の中心
軸と一致している。また、集光素子として凸レンズ36
0を用いており、凸レンズは平面反射鏡310と光量分
布測定手段400との間に設置されている。凸レンズ3
60の光軸は反射光軸330と一致している。集光素子
としてはその他球面反射鏡や楕円面反射鏡や放物面反射
鏡などを使用することができる。
態のものと異なる。即ち、第四の実施形態では、凹面反
射鏡として放物面反射鏡320’を用いている。322
及び323’はそれぞれその光軸及び焦点である。放物
面反射鏡の光軸322は光ファイバ直線状部分4の中心
軸と一致している。また、集光素子として凸レンズ36
0を用いており、凸レンズは平面反射鏡310と光量分
布測定手段400との間に設置されている。凸レンズ3
60の光軸は反射光軸330と一致している。集光素子
としてはその他球面反射鏡や楕円面反射鏡や放物面反射
鏡などを使用することができる。
【0063】放物面反射鏡320’の焦点323’に点
光源を置いたときには、該点光源から発せられる光は、
その代表的光線326,327で示されているように、
放物面反射鏡の反射面325により反射され、平行光束
とされ、平面反射鏡310により反射され、凸レンズ3
60によりその焦点位置324へと集光される。この集
光位置(焦点位置)324は光量測定手段400の集光
面329上に位置する。
光源を置いたときには、該点光源から発せられる光は、
その代表的光線326,327で示されているように、
放物面反射鏡の反射面325により反射され、平行光束
とされ、平面反射鏡310により反射され、凸レンズ3
60によりその焦点位置324へと集光される。この集
光位置(焦点位置)324は光量測定手段400の集光
面329上に位置する。
【0064】尚、光ファイバ入射端面側から順に光路変
更素子、放物面反射鏡を配置することも可能である。
更素子、放物面反射鏡を配置することも可能である。
【0065】本実施形態においては、第一の実施形態と
同様にして散乱光の測定を実行することができる。
同様にして散乱光の測定を実行することができる。
【0066】図5は、本発明の第五の実施形態を模式的
に示す図である。
に示す図である。
【0067】本実施形態は、第二の実施形態において凹
面反射鏡として放物面反射鏡を用い、更に凸レンズを集
光素子として用いたものに相当する。
面反射鏡として放物面反射鏡を用い、更に凸レンズを集
光素子として用いたものに相当する。
【0068】本実施形態においては、第二の実施形態と
同様にして散乱光の測定を実行することができる。
同様にして散乱光の測定を実行することができる。
【0069】図6は、本発明の第六の実施形態を部分的
及び模式的に示す図である。
及び模式的に示す図である。
【0070】本実施形態は、第四及び第五の実施形態に
おいて光路変更素子として平面反射鏡の代わりに第三の
実施形態で用いたと同様な直角プリズム350を用いた
ものに相当する。直角プリズム350の鏡面352の配
置や光の進行方向は第三の実施形態と同様である。
おいて光路変更素子として平面反射鏡の代わりに第三の
実施形態で用いたと同様な直角プリズム350を用いた
ものに相当する。直角プリズム350の鏡面352の配
置や光の進行方向は第三の実施形態と同様である。
【0071】図7は、本発明の第七の実施形態を模式的
に示す図である。
に示す図である。
【0072】本実施形態は、第四の実施形態において、
平面反射鏡を用いず、光ファイバの配置を変更したもの
に相当する。即ち、放物面反射鏡320’及び凸レンズ
360は同軸状に配置されており、それに伴い光量分布
測定手段400の位置も変更されている。また、光ファ
イバ移動装置100のボビン111から引き出された光
ファイバ1の進行方向がガイドプーリー121により直
角方向に変えられている。光ファイバ1はガイドプーリ
ー121とガイドプーリー122との間にて直線状部分
2を形成する。
平面反射鏡を用いず、光ファイバの配置を変更したもの
に相当する。即ち、放物面反射鏡320’及び凸レンズ
360は同軸状に配置されており、それに伴い光量分布
測定手段400の位置も変更されている。また、光ファ
イバ移動装置100のボビン111から引き出された光
ファイバ1の進行方向がガイドプーリー121により直
角方向に変えられている。光ファイバ1はガイドプーリ
ー121とガイドプーリー122との間にて直線状部分
2を形成する。
【0073】放物面反射鏡320’の焦点323’に点
光源を置いたときには、該点光源から発せられる光は、
その代表的光線326,327で示されているように、
放物面反射鏡の反射面325により反射され、平行光束
とされ、凸レンズ360によりその焦点位置324へと
集光される。その際、前記平行光束の一部がガイドプー
リー121により遮られ影となるので、この影が極力小
さくなるような寸法及び形状のガイドプーリー121を
用いることが好ましい。
光源を置いたときには、該点光源から発せられる光は、
その代表的光線326,327で示されているように、
放物面反射鏡の反射面325により反射され、平行光束
とされ、凸レンズ360によりその焦点位置324へと
集光される。その際、前記平行光束の一部がガイドプー
リー121により遮られ影となるので、この影が極力小
さくなるような寸法及び形状のガイドプーリー121を
用いることが好ましい。
【0074】本実施形態においては、第四の実施形態と
同様にして散乱光の測定を実行することができる。
同様にして散乱光の測定を実行することができる。
【0075】図8は、本発明の第八の実施形態を模式的
に示す図である。
に示す図である。
【0076】本実施形態は、光ファイバ移動装置100
の構成及び光入射手段200の構成が第七の実施形態の
ものと異なる。即ち、第八の実施形態では、光入射手段
200は、第二の実施形態と同様に光ファイバ1の側面
6から光を照射する。また、光ファイバ移動装置100
については、まず光ファイバ供給部151から光ファイ
バ1を連続的に供給し、ガイドプーリー121によりそ
の進行方向を直角方向に変え、ガイドプーリー121と
ガイドプーリー122との間にて光ファイバの直線状部
分2を形成し、ガイドプーリー122によりその進行方
向を直角方向に変え、光ファイバ引き取り部152で引
き取る。
の構成及び光入射手段200の構成が第七の実施形態の
ものと異なる。即ち、第八の実施形態では、光入射手段
200は、第二の実施形態と同様に光ファイバ1の側面
6から光を照射する。また、光ファイバ移動装置100
については、まず光ファイバ供給部151から光ファイ
バ1を連続的に供給し、ガイドプーリー121によりそ
の進行方向を直角方向に変え、ガイドプーリー121と
ガイドプーリー122との間にて光ファイバの直線状部
分2を形成し、ガイドプーリー122によりその進行方
向を直角方向に変え、光ファイバ引き取り部152で引
き取る。
【0077】本実施形態においては、第七の実施形態と
同様にして散乱光の測定を実行することができる。
同様にして散乱光の測定を実行することができる。
【0078】図9は、本発明の第九の実施形態を部分的
及び模式的に示す図である。
及び模式的に示す図である。
【0079】本実施形態は、第七及び第八の実施形態に
おいて集光素子(凸レンズ)を使用せず凹面反射鏡とし
て楕円面反射鏡320を使用したものに相当する。
おいて集光素子(凸レンズ)を使用せず凹面反射鏡とし
て楕円面反射鏡320を使用したものに相当する。
【0080】本実施形態では、第七及び第八の実施形態
における放物面反射鏡と凸レンズとの組合せに代えて、
第一及び第二の実施形態で用いたような楕円面反射鏡3
20を用いている。該楕円面反射鏡320は、その光軸
322が光ファイバ1の直線状部分2の中心軸4に一致
するようにして設置されている。
における放物面反射鏡と凸レンズとの組合せに代えて、
第一及び第二の実施形態で用いたような楕円面反射鏡3
20を用いている。該楕円面反射鏡320は、その光軸
322が光ファイバ1の直線状部分2の中心軸4に一致
するようにして設置されている。
【0081】このような配置において、楕円面反射鏡3
20の第一焦点323に点光源を置いたときには、該点
光源から発せられる光は、その代表的光線326,32
7で示されているように、楕円面反射鏡の反射面325
により反射され、光量分布測定手段の集光面329上の
集光点324に集光する。
20の第一焦点323に点光源を置いたときには、該点
光源から発せられる光は、その代表的光線326,32
7で示されているように、楕円面反射鏡の反射面325
により反射され、光量分布測定手段の集光面329上の
集光点324に集光する。
【0082】以上、凹面反射鏡として楕円面反射鏡また
は放物面反射鏡を用いた場合について説明したが、凹面
反射鏡はこれらに限定されるものではなく、例えば球面
反射鏡などを用いても本発明の実施は可能である。
は放物面反射鏡を用いた場合について説明したが、凹面
反射鏡はこれらに限定されるものではなく、例えば球面
反射鏡などを用いても本発明の実施は可能である。
【0083】
【発明の効果】本発明においては、長い光ファイバに点
在する欠陥である輝点の特性(3次元的位置、散乱光の
方向、明るさなど)を分解能高く、そして高い集光効率
で、迅速に測定することが可能である。次に、効果をよ
り詳しく説明する。
在する欠陥である輝点の特性(3次元的位置、散乱光の
方向、明るさなど)を分解能高く、そして高い集光効率
で、迅速に測定することが可能である。次に、効果をよ
り詳しく説明する。
【0084】先ず、第1の効果は、光ファイバの散乱光
を対称的に、且つ、散乱光の方向、輝点の位置の情報も
含めて同時に得ることが可能なことである。しかも、凹
面反射鏡は光ファイバ中心軸に垂直な方向を含む広い角
度範囲の散乱光を集光できるので、肉眼で観察した結果
と良く一致した情報を得ることができる。
を対称的に、且つ、散乱光の方向、輝点の位置の情報も
含めて同時に得ることが可能なことである。しかも、凹
面反射鏡は光ファイバ中心軸に垂直な方向を含む広い角
度範囲の散乱光を集光できるので、肉眼で観察した結果
と良く一致した情報を得ることができる。
【0085】第2の効果は集光効率が高く、比較的低価
格な光検出器でも十分に使用することができることであ
る。これは、輝点からの散乱光は、凹面反射鏡及び場合
により光路変更素子で各1回反射する(及び場合により
集光素子を透過する)だけで、光量測定手段に達するこ
とによる。
格な光検出器でも十分に使用することができることであ
る。これは、輝点からの散乱光は、凹面反射鏡及び場合
により光路変更素子で各1回反射する(及び場合により
集光素子を透過する)だけで、光量測定手段に達するこ
とによる。
【0086】第3の効果は長い光ファイバを移動させな
がら、凹面反射鏡の焦点面の光量分布を測定することが
できるので、輝点の3次元的位置を高分解能で且つ迅速
に測定できることである。
がら、凹面反射鏡の焦点面の光量分布を測定することが
できるので、輝点の3次元的位置を高分解能で且つ迅速
に測定できることである。
【0087】第4の効果は、例えば光ファイバの製造工
程において光ファイバを切断しなくても測定が可能なこ
とである。
程において光ファイバを切断しなくても測定が可能なこ
とである。
【図1】本発明の第一の実施形態を模式的に示す図であ
る。
る。
【図2】本発明の第二の実施形態を模式的に示す図であ
る。
る。
【図3】本発明の第三の実施形態を部分的且つ模式的に
示す図である。
示す図である。
【図4】本発明の第四の実施形態を模式的に示す図であ
る。
る。
【図5】本発明の第五の実施形態を模式的に示す図であ
る。
る。
【図6】本発明の第六の実施形態を部分的且つ模式的に
示す図である。
示す図である。
【図7】本発明の第七の実施形態を模式的に示す図であ
る。
る。
【図8】本発明の第八の実施形態を模式的に示す図であ
る。
る。
【図9】本発明の第九の実施形態を部分的且つ模式的に
示す図である。
示す図である。
1 光ファイバ 2 光ファイバの直線状部分 3 光ファイバの曲線状部分 4 光ファイバ直線状部分の中心軸 5 光ファイバ端面 100 光ファイバ移動装置 110 定張力繰り出し機構 111 光ファイバのボビン 121,122 ガイドプーリー 130 ニップローラー 151 光ファイバ供給部 152 光ファイバ引き取り部 200 光入射手段 201 光源 203 集光レンズ 310 平面反射鏡(光路変更素子) 311 通し穴 312 鏡面 320 楕円面反射鏡(凹面反射鏡) 320’ 放物面反射鏡(凹面反射鏡) 321 アクセスホール 322 光軸 323 第一焦点 323’ 焦点 324 集光点 325 反射面 326,327 代表的光線 328 平面反射鏡の鏡面と楕円面反射鏡の光軸との
交点 329 集光面 330 反射光軸 350 直角プリズム 351 通し穴 352 鏡面 360 凸レンズ 400 光量分布測定手段 401 光点位置検出素子 402 虹彩絞り
交点 329 集光面 330 反射光軸 350 直角プリズム 351 通し穴 352 鏡面 360 凸レンズ 400 光量分布測定手段 401 光点位置検出素子 402 虹彩絞り
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 前原 修 広島県大竹市御幸町20番1号 三菱レイヨ ン株式会社中央技術研究所内
Claims (29)
- 【請求項1】 少なくとも一部が直線状に保持された状
態で走行する光ファイバ内に光を伝播させ、光ファイバ
の側面から漏れる散乱光を測定する方法において、 前記光ファイバの直線状走行部分が凹面反射鏡の焦点を
通過するように設置された凹面反射鏡を用いて、凹面反
射鏡の焦点に位置する光ファイバから漏れる散乱光を、
光ファイバの走行路と異なる位置に集光し、その光量分
布を測定することを特徴とする散乱光の測定方法。 - 【請求項2】 前記光ファイバの直線状走行部分の光フ
ァイバの中心軸と凹面反射鏡の光軸とを一致させた状態
で測定する請求項1に記載の方法。 - 【請求項3】 前記光ファイバの直線状走行部分に連な
る部分を、その直線の延長線上から離れた走行路を走行
させた状態で、光ファイバが走行していない前記延長線
上に散乱光を集光することを特徴とする請求項1または
請求項2に記載の方法。 - 【請求項4】 凹面反射鏡として楕円面反射鏡を用い、
前記光ファイバの直線状走行部分が楕円面反射鏡の第一
焦点を通過するように配置して行うことを特徴とする請
求項1〜3のいずれかに記載の方法。 - 【請求項5】 少なくとも一部が直線状に保持された状
態で走行する光ファイバ内に光を伝播させ、光ファイバ
の側面から漏れる散乱光を測定する方法において、 前記光ファイバの直線状走行部分が楕円面反射鏡の第一
焦点を通過するように設置された楕円面反射鏡、及び楕
円面反射鏡の第一焦点と第二焦点との間に配置された光
路変更素子を用いて、楕円面反射鏡の第一焦点に位置す
る光ファイバから漏れる散乱光を、光ファイバの走行路
と異なる位置に集光し、その光量分布を測定することを
特徴とする散乱光の測定方法。 - 【請求項6】 楕円面反射鏡の光軸と前記光ファイバの
直線状走行部分の光ファイバの中心軸とを一致させた状
態で測定する請求項5に記載の方法。 - 【請求項7】 光路変更素子として、光ファイバの走行
用の開口部が設けられた平面反射鏡またはプリズムを用
いることを特徴とする請求項5または請求項6に記載の
方法。 - 【請求項8】 凹面反射鏡または楕円面反射鏡として、
その光軸部分に光ファイバの走行用の開口部が設けられ
た楕円面反射鏡を用いることを特徴とする請求項1〜請
求項7のいずれかに記載の方法。 - 【請求項9】 少なくとも一部が直線状に保持された状
態で走行する光ファイバ内に光を伝播させ、光ファイバ
の側面から漏れる散乱光を測定する方法において、 前記光ファイバの直線状走行部分の光ファイバの中心軸
が放物面反射鏡の焦点を通過するように設置された放物
面反射鏡を用いて、放物面反射鏡の焦点に位置する光フ
ァイバから漏れる散乱光を平行光線群とし、集光素子を
用いて前記平行光線群を光ファイバの走行路と異なる位
置に集光し、その光量分布を測定することを特徴とする
散乱光の測定方法。 - 【請求項10】 放物面反射鏡の光軸と前記光ファイバ
の中心軸とを一致させた状態で測定する請求項9に記載
の方法。 - 【請求項11】 集光素子として凸レンズを用い、前記
光ファイバの直線状走行部分に連なる部分を、前記光フ
ァイバの中心軸の延長線から離れた走行路を走行させた
状態で、光ファイバが走行していない前記延長線上に前
記平行光線群とされた光を集光することを特徴とする請
求項9または請求項10に記載の方法。 - 【請求項12】 集光素子として凸レンズを用い、更に
光路変更素子を用いて、前記光ファイバの中心軸を含む
直線から離れた位置に前記平行光線群とされた光を集光
することを特徴とする請求項9または請求項10に記載
の方法。 - 【請求項13】 光路変更素子として、光ファイバの走
行用の開口部が設けられた平面反射鏡またはプリズムを
用いることを特徴とする請求項12に記載の方法。 - 【請求項14】 放物面反射鏡として、その光軸部分に
光ファイバの走行用の開口部が設けられた放物面反射鏡
を用いることを特徴とする請求項9〜請求項13のいず
れかに記載の方法。 - 【請求項15】 走行する光ファイバの側面から光を照
射し、光ファイバ内に光を伝播させることを特徴とする
請求項1〜請求項14のいずれかに記載の方法。 - 【請求項16】 光ファイバの少なくとも一部を直線状
に保持した状態で走行させるための光ファイバ移動装
置、 光ファイバ内に光を入射させるための光源、 直線状に保持されて走行する光ファイバの中心軸上の一
点を焦点とするように配置された凹面反射鏡、及び光フ
ァイバの走行路と異なる位置に配置され、凹面反射鏡に
よって集光された光の光量分布を測定する光量分布測定
装置からなる散乱光の測定装置。 - 【請求項17】 凹面反射鏡として楕円面反射鏡を用
い、直線状に保持されて走行する光ファイバの中心軸が
楕円面反射鏡の第一焦点を通過するように配置している
ことを特徴とする、請求項16に記載の装置。 - 【請求項18】 光ファイバの少なくとも一部を直線状
に保持した状態で走行させるための光ファイバ移動装
置、 光ファイバ内に光を入射させるための光源、 直線状に保持されて走行する光ファイバの中心軸上の一
点を第一焦点とし、光軸が前記光ファイバの中心軸と一
致するように配置された楕円面反射鏡、 楕円面反射鏡の第一焦点と第二焦点との間に配置された
光路変更素子、及び光ファイバの走行路と異なる位置に
配置され、集光素子によって集光された光の光量分布を
測定する光量分布測定装置からなる散乱光の測定装置。 - 【請求項19】 光路変更素子として、光ファイバの走
行用の開口部が設けられた平面反射鏡またはプリズムを
用いることを特徴とする請求項18に記載の装置。 - 【請求項20】 凹面反射鏡または楕円面反射鏡とし
て、その光軸部分に光ファイバの走行用の開口部が設け
られた楕円面反射鏡を用いることを特徴とする請求項1
6〜請求項19のいずれかに記載の装置。 - 【請求項21】 光ファイバの少なくとも一部を直線状
に保持した状態で走行させるための光ファイバ移動装
置、 光ファイバ内に光を入射させるための光源、 直線状に保持されて走行する光ファイバの中心軸上の一
点を焦点とするように配置された放物面反射鏡、 放物面反射鏡の焦点に位置する光ファイバから漏れる散
乱光であって、放物面反射鏡によって平行光線群とされ
た光を光ファイバの走行路と異なる位置に集光させるた
めの集光素子、及び集光素子によって集光された光の光
量分布を測定する光量分布測定装置からなる散乱光の測
定装置。 - 【請求項22】 放物面反射鏡を、その光軸が前記光フ
ァイバの中心軸と一致するように配置していることを特
徴とする、請求項21に記載の装置。 - 【請求項23】 前記光ファイバの直線状走行部分に連
なる部分を、その直線の延長線上から離れた走行路を走
行させるように構成した光ファイバ移動装置、 集光素子としての凸レンズ、及び光ファイバが走行して
いない前記延長線上を前記平行光線群とされた光の集光
位置とするように配置した集光素子を用いることを特徴
とする請求項21または請求項22に記載の装置。 - 【請求項24】 集光素子として凸レンズを用い、更に
光路変更素子を用いて、前記光ファイバの中心軸を含む
直線から離れた位置を前記平行光線群とされた光の集光
位置とするように配置した集光素子及び光路変更素子を
用いることを特徴とする請求項21または請求項22に
記載の装置。 - 【請求項25】 光路変更素子として、光ファイバの走
行用の開口部が設けられた平面反射鏡またはプリズムを
用いていることを特徴とする請求項24に記載の装置。 - 【請求項26】 放物面反射鏡として、その光軸部分に
光ファイバの走行用の開口部が設けられた放物面反射鏡
を用いていることを特徴とする請求項21〜請求項25
のいずれかに記載の装置。 - 【請求項27】 光量分布測定装置が光点位置検出素子
であることを特徴とする請求項16〜請求項26のいず
れかに記載の装置。 - 【請求項28】 光量分布測定装置がイメージセンサで
あることを特徴とする請求項16〜請求項26のいずれ
かに記載の装置。 - 【請求項29】 光源が光ファイバ走行路の側方に配置
され、光ファイバの側面から光ファイバ内に伝播光を入
射可能な光源であることを特徴とする請求項16〜請求
項28のいずれかに記載の装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2447398A JPH11223574A (ja) | 1998-02-05 | 1998-02-05 | 散乱光の測定方法および測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2447398A JPH11223574A (ja) | 1998-02-05 | 1998-02-05 | 散乱光の測定方法および測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11223574A true JPH11223574A (ja) | 1999-08-17 |
Family
ID=12139146
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2447398A Pending JPH11223574A (ja) | 1998-02-05 | 1998-02-05 | 散乱光の測定方法および測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11223574A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1387159A3 (en) * | 2002-07-29 | 2006-06-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Light scattering monitor in optical fiber drawing system |
| WO2016188515A1 (de) * | 2015-05-22 | 2016-12-01 | Inoex Gmbh | Terahertz-messvorrichtung und verfahren zur vermessung von prüfobjekten mittels terahertz-strahlung |
| CN114813049A (zh) * | 2022-04-14 | 2022-07-29 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种光学遥感相机的杂散光校正方法 |
-
1998
- 1998-02-05 JP JP2447398A patent/JPH11223574A/ja active Pending
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