JPH11230957A - Ｌｃ／ｍｓインタフェース - Google Patents
Ｌｃ／ｍｓインタフェースInfo
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- JPH11230957A JPH11230957A JP3084898A JP3084898A JPH11230957A JP H11230957 A JPH11230957 A JP H11230957A JP 3084898 A JP3084898 A JP 3084898A JP 3084898 A JP3084898 A JP 3084898A JP H11230957 A JPH11230957 A JP H11230957A
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- tube
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- ejected
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 大気圧イオン化法による液体クロマトグラフ
質量分析装置において、霧化室から分析室へ送られるイ
オンの量を増大することができるＬＣ／ＭＳインタフェ
ースを提供する。 【解決手段】ＬＣ／ＭＳインタフェースにおいて、内側
管であるニードル２２を介して試料が導入されるととも
に外側管２４を介して霧化ガスが供給される二重管の外
側周囲に乾燥窒素を供給するための細管パイプ群２５ａ
〜２５ｆが設けられ、二重管から噴出される試料を含ん
だ霧化ガスを、細管パイプ群２５ａ〜２５ｆから噴出さ
れる乾燥窒素により拡散を抑えるようにして試料を含ん
だ霧化ガスを質量分析部に導入するようにする。
質量分析装置において、霧化室から分析室へ送られるイ
オンの量を増大することができるＬＣ／ＭＳインタフェ
ースを提供する。 【解決手段】ＬＣ／ＭＳインタフェースにおいて、内側
管であるニードル２２を介して試料が導入されるととも
に外側管２４を介して霧化ガスが供給される二重管の外
側周囲に乾燥窒素を供給するための細管パイプ群２５ａ
〜２５ｆが設けられ、二重管から噴出される試料を含ん
だ霧化ガスを、細管パイプ群２５ａ〜２５ｆから噴出さ
れる乾燥窒素により拡散を抑えるようにして試料を含ん
だ霧化ガスを質量分析部に導入するようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液体クロマトグラ
フ質量分析装置（以下ＬＣ／ＭＳという）に関し、さら
に詳しくはＬＣ／ＭＳの液体クロマトグラフ部と質量分
析部との間に配置され、ＬＣ部（液体クロマトグラフ
部）から与えられる液体試料をイオン化してＭＳ部（質
量分析部）に導入するためのＬＣ／ＭＳインタフェース
に関する。
フ質量分析装置（以下ＬＣ／ＭＳという）に関し、さら
に詳しくはＬＣ／ＭＳの液体クロマトグラフ部と質量分
析部との間に配置され、ＬＣ部（液体クロマトグラフ
部）から与えられる液体試料をイオン化してＭＳ部（質
量分析部）に導入するためのＬＣ／ＭＳインタフェース
に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は、液体クロマトグラフ質量分析装
置（ＬＣ／ＭＳ）の一例を示す概略構成図である。ＬＣ
部１０のカラム１１内により成分分離された液体試料は
インタフェース部２０に導入され、ニードル２２先端の
ノズルから霧化室２１内に噴霧されてイオン化される。
発生したイオンは、インタフェース部２０とＭＳ部３０
との間に設けられた加熱キャピラリ等の脱溶媒パイプ２
３を通ってＭＳ部３０へと送り込まれる。
置（ＬＣ／ＭＳ）の一例を示す概略構成図である。ＬＣ
部１０のカラム１１内により成分分離された液体試料は
インタフェース部２０に導入され、ニードル２２先端の
ノズルから霧化室２１内に噴霧されてイオン化される。
発生したイオンは、インタフェース部２０とＭＳ部３０
との間に設けられた加熱キャピラリ等の脱溶媒パイプ２
３を通ってＭＳ部３０へと送り込まれる。
【０００３】ＭＳ部３０は第１中間室３１、第２中間室
３２及び分析室３３の３室から成り、霧化室２１と第１
中間室との間に脱溶媒パイプ２３、第１中間室３１と第
２中間室３２との間には極小径の通過孔（オリフィス）
を有するスキマー３６が設けられている。第１中間室３
１はロータリポンプにより粗引き排気され、第２中間室
３２および分析室３３はターボ分子ポンプによって高真
空排気される。
３２及び分析室３３の３室から成り、霧化室２１と第１
中間室との間に脱溶媒パイプ２３、第１中間室３１と第
２中間室３２との間には極小径の通過孔（オリフィス）
を有するスキマー３６が設けられている。第１中間室３
１はロータリポンプにより粗引き排気され、第２中間室
３２および分析室３３はターボ分子ポンプによって高真
空排気される。
【０００４】脱溶媒パイプ２３を通過したイオンはスキ
マー３６の通過孔を通って第１中間室３１から第２中間
室３２に導入され、イオンレンズ３７により収束及び加
速されて分析室３３に送られる。そして、特定の質量数
（質量ｍ／電荷ｚ）を有する目的イオンのみが分析室３
３内に配置された四重極フィルタ３４を通り抜け、検出
器３５に到達する。検出器３５ではイオン数に応じた電
流が取り出される。
マー３６の通過孔を通って第１中間室３１から第２中間
室３２に導入され、イオンレンズ３７により収束及び加
速されて分析室３３に送られる。そして、特定の質量数
（質量ｍ／電荷ｚ）を有する目的イオンのみが分析室３
３内に配置された四重極フィルタ３４を通り抜け、検出
器３５に到達する。検出器３５ではイオン数に応じた電
流が取り出される。
【０００５】上記インタフェース部２０は、液体試料を
加熱、高速気流、高電界等によって霧化されることで気
体イオンを生成するものであって、エレクトロスプレイ
イオン化法（ＥＳＩ）、大気圧イオン化法（ＡＰＣＩ）
等の大気圧イオン化法が最も広く使用されている。
加熱、高速気流、高電界等によって霧化されることで気
体イオンを生成するものであって、エレクトロスプレイ
イオン化法（ＥＳＩ）、大気圧イオン化法（ＡＰＣＩ）
等の大気圧イオン化法が最も広く使用されている。
【０００６】図４は同一出願人が特願平９―２８６００
０号で開示するネブライズ法を用いたＥＳＩによるイオ
ン化の場合のインタフェース部周辺の詳細構成図であ
る。二重管の外側管であるネブライズ管２４から霧化用
の乾燥窒素が送り出されるとともに、内側管であるニー
ドル２２から液体試料が流出する。ニードル２２の先端
には、電圧源Ｖ１により数ＫＶの高電圧が印加されてい
る。これによりニードル２２先端に到達した液体試料は
強く帯電し、その周囲を取り巻く霧化のためのネブライ
ズ管２４から噴出する補助ガス（主に窒素ガス）の助け
を受けて帯電液滴として噴霧される。液滴は周囲の大気
成分と衝突して微細化され、液滴中の溶媒が蒸発して気
体イオンが発生する。発生したイオンや微細液滴は、霧
化室２１内で拡散しながらニードル２２の正面前方に配
置されている脱溶媒パイプ２３の方へ進行し、拡散され
たイオンや微細液滴の一部が脱溶媒パイプ２３中に入り
込む。この脱溶媒パイプ２３は電圧源Ｖ２により電圧源
Ｖ２によりマイナス数十Ｖ程度の電圧が印加されるとと
もに、図示しないヒータにより摂氏２００度程度に加熱
されている。このため、脱溶媒パイプ２３に入った微細
液滴は、そのパイプ23中を通過する間に溶媒の蒸発が進
行し、より多くのイオンが発生して脱溶媒パイプ２３の
出口から放出される。
０号で開示するネブライズ法を用いたＥＳＩによるイオ
ン化の場合のインタフェース部周辺の詳細構成図であ
る。二重管の外側管であるネブライズ管２４から霧化用
の乾燥窒素が送り出されるとともに、内側管であるニー
ドル２２から液体試料が流出する。ニードル２２の先端
には、電圧源Ｖ１により数ＫＶの高電圧が印加されてい
る。これによりニードル２２先端に到達した液体試料は
強く帯電し、その周囲を取り巻く霧化のためのネブライ
ズ管２４から噴出する補助ガス（主に窒素ガス）の助け
を受けて帯電液滴として噴霧される。液滴は周囲の大気
成分と衝突して微細化され、液滴中の溶媒が蒸発して気
体イオンが発生する。発生したイオンや微細液滴は、霧
化室２１内で拡散しながらニードル２２の正面前方に配
置されている脱溶媒パイプ２３の方へ進行し、拡散され
たイオンや微細液滴の一部が脱溶媒パイプ２３中に入り
込む。この脱溶媒パイプ２３は電圧源Ｖ２により電圧源
Ｖ２によりマイナス数十Ｖ程度の電圧が印加されるとと
もに、図示しないヒータにより摂氏２００度程度に加熱
されている。このため、脱溶媒パイプ２３に入った微細
液滴は、そのパイプ23中を通過する間に溶媒の蒸発が進
行し、より多くのイオンが発生して脱溶媒パイプ２３の
出口から放出される。
【０００７】一方、他の従来例としては、図５に示すよ
うなニードル２２の正面側に設けた噴出口４０から乾燥
窒素を供給するカウンターフロー法、図６に示すような
乾燥窒素をニードル２２の噴出方向に対して斜め方向に
設けた噴出口４１から乾燥窒素を供給する第２のフロー
法（例えば米国特許５４１２２０８号）などがあった。
うなニードル２２の正面側に設けた噴出口４０から乾燥
窒素を供給するカウンターフロー法、図６に示すような
乾燥窒素をニードル２２の噴出方向に対して斜め方向に
設けた噴出口４１から乾燥窒素を供給する第２のフロー
法（例えば米国特許５４１２２０８号）などがあった。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】カウンターフロー法や
第２のフロー法は、試料の流れの進行方向とは異なる方
向に乾燥窒素を与えるため、乾燥窒素との衝突により脱
溶媒化が促進されたとしても、試料のほとんどが乾燥窒
素との衝突により拡散し、加熱キャピラリ又はオリフィ
スを通過する試料の総量が低減することとなり、測定感
度の向上を図る上で問題がある。これに対し、ネブライ
ズ管により試料の流れと同方向に乾燥窒素を供給する図
２のようなネブライズ法では、試料ガスの進行方向に設
けた加熱キャピラリに向かって試料が進むのでオリフィ
スを通過する試料量はカウンターフロー法に比べれば改
善されるが、それでもニードル先端から噴出された後、
先端から離れるにしたがって試料が拡散することとな
り、加熱キャピラリを通過する試料量は多くはない。
第２のフロー法は、試料の流れの進行方向とは異なる方
向に乾燥窒素を与えるため、乾燥窒素との衝突により脱
溶媒化が促進されたとしても、試料のほとんどが乾燥窒
素との衝突により拡散し、加熱キャピラリ又はオリフィ
スを通過する試料の総量が低減することとなり、測定感
度の向上を図る上で問題がある。これに対し、ネブライ
ズ管により試料の流れと同方向に乾燥窒素を供給する図
２のようなネブライズ法では、試料ガスの進行方向に設
けた加熱キャピラリに向かって試料が進むのでオリフィ
スを通過する試料量はカウンターフロー法に比べれば改
善されるが、それでもニードル先端から噴出された後、
先端から離れるにしたがって試料が拡散することとな
り、加熱キャピラリを通過する試料量は多くはない。
【０００９】したがって、本発明は脱溶媒化を促進する
とともに、加熱キャピラリに向かう試料の総量が増大す
るようにしたＬＣ／ＭＳを提供することを目的とする。
とともに、加熱キャピラリに向かう試料の総量が増大す
るようにしたＬＣ／ＭＳを提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
になされた本発明のＬＣ／ＭＳインタフェースは、液体
クロマトグラフ質量分析装置の液体クロマトグラフ部か
ら与えられる液体試料をイオン化して質量分析部に導入
するためのＬＣ／ＭＳインタフェースにおいて、内側管
から試料が導入され、外側管から霧化ガスが導入される
二重管を有し、この二重管の外側周囲に加熱された乾燥
窒素を供給するための細管パイプ群が設けられ、二重管
から噴出される試料を含んだ霧化ガスを、細管パイプ群
から噴出される加熱された乾燥窒素により脱溶媒化を促
進させ、さらに拡散を抑えつつ質量分析部に導入するよ
うにしたことを特徴とする。
になされた本発明のＬＣ／ＭＳインタフェースは、液体
クロマトグラフ質量分析装置の液体クロマトグラフ部か
ら与えられる液体試料をイオン化して質量分析部に導入
するためのＬＣ／ＭＳインタフェースにおいて、内側管
から試料が導入され、外側管から霧化ガスが導入される
二重管を有し、この二重管の外側周囲に加熱された乾燥
窒素を供給するための細管パイプ群が設けられ、二重管
から噴出される試料を含んだ霧化ガスを、細管パイプ群
から噴出される加熱された乾燥窒素により脱溶媒化を促
進させ、さらに拡散を抑えつつ質量分析部に導入するよ
うにしたことを特徴とする。
【００１１】本発明のＬＣ／ＭＳでは、二重管の外側に
ある細管パイプ群から加熱された乾燥窒素が供給される
ので、この乾燥窒素により試料を含んだ霧化ガスが一様
の流れとなって進み、霧化室内であまり拡散されずに分
析部に導入されることとなる。
ある細管パイプ群から加熱された乾燥窒素が供給される
ので、この乾燥窒素により試料を含んだ霧化ガスが一様
の流れとなって進み、霧化室内であまり拡散されずに分
析部に導入されることとなる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図を用い
て説明する。図１は本発明の一実施例を示すＬＣ／ＭＳ
の断面構成図である。なお、本発明のＬＣ／ＭＳで特に
示さない部分は従来例である図３のものと同じであるの
で、説明においては同符号を付することにより説明を省
略する。
て説明する。図１は本発明の一実施例を示すＬＣ／ＭＳ
の断面構成図である。なお、本発明のＬＣ／ＭＳで特に
示さない部分は従来例である図３のものと同じであるの
で、説明においては同符号を付することにより説明を省
略する。
【００１３】図において、２０はインタフェース部、２
１は霧化室、２２はＬＣ部から送られてくる試料を噴出
するニードル、２３はニードルの先端に対向する位置に
取り付けられる加熱キャピラリ、２４は霧化用の窒素を
噴出するためのネブライズ管であり、このネブライズ管
２４とニードル２２とで二重管を構成している。本発明
のＬＣ／ＭＳでは図２に示すように、ネブライズ管２４
の外側を取り囲むようにキャピラリ２５ａ、２５ｂ、２
５ｃ、２５ｄ、２５ｅ、２５ｆが取り付けてあり、キャ
ピラリ２５ａ〜２５ｆにはヒータ２８により加熱された
乾燥窒素が供給されるようになっている。キャピラリ２
５ａ〜２５ｆの先端は斜めに切り出されており、図１に
示すように外周側が突出するようにしてある。この突出
形状とすることによりキャピラリ２５ａ〜２５ｆから噴
出するガスは流れ方向が中心側（ニードル２２側）に偏
る作用を有する。
１は霧化室、２２はＬＣ部から送られてくる試料を噴出
するニードル、２３はニードルの先端に対向する位置に
取り付けられる加熱キャピラリ、２４は霧化用の窒素を
噴出するためのネブライズ管であり、このネブライズ管
２４とニードル２２とで二重管を構成している。本発明
のＬＣ／ＭＳでは図２に示すように、ネブライズ管２４
の外側を取り囲むようにキャピラリ２５ａ、２５ｂ、２
５ｃ、２５ｄ、２５ｅ、２５ｆが取り付けてあり、キャ
ピラリ２５ａ〜２５ｆにはヒータ２８により加熱された
乾燥窒素が供給されるようになっている。キャピラリ２
５ａ〜２５ｆの先端は斜めに切り出されており、図１に
示すように外周側が突出するようにしてある。この突出
形状とすることによりキャピラリ２５ａ〜２５ｆから噴
出するガスは流れ方向が中心側（ニードル２２側）に偏
る作用を有する。
【００１４】以下、本発明の動作を説明する。ＬＣ部１
０のカラムにより成分分離された液体試料はインタフェ
ース部２０に導入され、ニードル２２先端のノズルから
霧化室２１内に噴霧される。ニードル２２先端には従来
例と同様にあらかじめ高電界Ｖ１が印加されている。こ
のとき、同時にネブライズ管２４からネブライズ用の窒
素が噴出されることにより、試料は霧化されてイオン化
される。発生したイオンは、インタフェース部２０とＭ
Ｓ部３０との間に設けられた加熱キャピラリ２３に向か
って進行するが、ネブライズ管の外側に取り付けたキャ
ピラリ２５ａ〜２５ｆからも加熱された乾燥窒素が噴出
されているので、霧化されたイオンのほとんどが外側方
向には拡散せずに、そのまま直進して加熱キャピラリ２
３方向に進む。また、キャピラリ２５ａ〜２５ｆから噴
出する乾燥窒素は加熱されているので、脱溶媒化が促進
されることとなる。このようにして試料を多く含む霧化
ガスが加熱キャピラリ２３に導入されることとなり、Ｍ
Ｓ部３０へ送り込まれる試料の絶対量を増大することが
できる。
０のカラムにより成分分離された液体試料はインタフェ
ース部２０に導入され、ニードル２２先端のノズルから
霧化室２１内に噴霧される。ニードル２２先端には従来
例と同様にあらかじめ高電界Ｖ１が印加されている。こ
のとき、同時にネブライズ管２４からネブライズ用の窒
素が噴出されることにより、試料は霧化されてイオン化
される。発生したイオンは、インタフェース部２０とＭ
Ｓ部３０との間に設けられた加熱キャピラリ２３に向か
って進行するが、ネブライズ管の外側に取り付けたキャ
ピラリ２５ａ〜２５ｆからも加熱された乾燥窒素が噴出
されているので、霧化されたイオンのほとんどが外側方
向には拡散せずに、そのまま直進して加熱キャピラリ２
３方向に進む。また、キャピラリ２５ａ〜２５ｆから噴
出する乾燥窒素は加熱されているので、脱溶媒化が促進
されることとなる。このようにして試料を多く含む霧化
ガスが加熱キャピラリ２３に導入されることとなり、Ｍ
Ｓ部３０へ送り込まれる試料の絶対量を増大することが
できる。
【００１５】本実施例ではキャピラリ２５ａ〜２５ｆに
送る乾燥窒素の加熱のためのヒータを流路途中に設けた
が、これに限らず、キャピラリ２５ａ〜２５ｆにヒータ
線を巻き付けるようにして取り付けてもよいし、２つの
ヒータを併用してもよい。
送る乾燥窒素の加熱のためのヒータを流路途中に設けた
が、これに限らず、キャピラリ２５ａ〜２５ｆにヒータ
線を巻き付けるようにして取り付けてもよいし、２つの
ヒータを併用してもよい。
【００１６】また、流量制御弁または圧力制御弁など噴
出流量を調整することができる配管に設けて、かかる制
御弁により、ネブライズ管２４に流す窒素の流速よりも
キャピラリ２５ａ〜２５ｆに流す窒素の流速を速くする
ことにより、本発明の試料の拡散の低減という効果はよ
り顕著になる。
出流量を調整することができる配管に設けて、かかる制
御弁により、ネブライズ管２４に流す窒素の流速よりも
キャピラリ２５ａ〜２５ｆに流す窒素の流速を速くする
ことにより、本発明の試料の拡散の低減という効果はよ
り顕著になる。
【００１７】以下、本発明の実施態様をまとめておく。 （１）液体クロマトグラフ質量分析装置の液体クロマト
グラフ部から与えられる液体試料をイオン化して質量分
析部に導入するためのＬＣ／ＭＳインタフェースにおい
て、内側管から試料が導入され、外側管から霧化ガスが
導入される二重管を有し、この二重管の外側周囲に加熱
された乾燥窒素を供給するための細管パイプ群が設けら
れ、さらに前記細管パイプ群の各パイプの先端は外周側
が突出するように切り出され、二重管から噴出される試
料を含んだ霧化ガスを、細管パイプ群から噴出される乾
燥窒素により拡散を抑えつつ質量分析部に導入するよう
にしたことを特徴とするＬＣ／ＭＳインタフェース。
グラフ部から与えられる液体試料をイオン化して質量分
析部に導入するためのＬＣ／ＭＳインタフェースにおい
て、内側管から試料が導入され、外側管から霧化ガスが
導入される二重管を有し、この二重管の外側周囲に加熱
された乾燥窒素を供給するための細管パイプ群が設けら
れ、さらに前記細管パイプ群の各パイプの先端は外周側
が突出するように切り出され、二重管から噴出される試
料を含んだ霧化ガスを、細管パイプ群から噴出される乾
燥窒素により拡散を抑えつつ質量分析部に導入するよう
にしたことを特徴とするＬＣ／ＭＳインタフェース。
【００１８】（２）液体クロマトグラフ質量分析装置の
液体クロマトグラフ部から与えられる液体試料をイオン
化して質量分析部に導入するためのＬＣ／ＭＳインタフ
ェースにおいて、内側管から試料が導入され、外側管か
ら霧化ガスが導入される二重管を有し、二重管の外側周
囲に、前記外側管から噴出される霧化用のガスよりも流
速の大きい乾燥窒素を供給するための細管パイプ群が設
けられ、二重管から噴出される試料を含んだ霧化ガス
を、細管パイプ群から噴出される前記乾燥窒素により拡
散を抑えつつ質量分析部に導入するようにしたことを特
徴とするＬＣ／ＭＳインタフェース。
液体クロマトグラフ部から与えられる液体試料をイオン
化して質量分析部に導入するためのＬＣ／ＭＳインタフ
ェースにおいて、内側管から試料が導入され、外側管か
ら霧化ガスが導入される二重管を有し、二重管の外側周
囲に、前記外側管から噴出される霧化用のガスよりも流
速の大きい乾燥窒素を供給するための細管パイプ群が設
けられ、二重管から噴出される試料を含んだ霧化ガス
を、細管パイプ群から噴出される前記乾燥窒素により拡
散を抑えつつ質量分析部に導入するようにしたことを特
徴とするＬＣ／ＭＳインタフェース。
【００１９】
【発明の効果】以上、説明したように本発明のＬＣ／Ｍ
Ｓでは、内側管であるニードルから噴出する試料を外側
管であるネブライズ管から噴出する霧化用ガスにより霧
化させるとともに、その外側管のさらに外側周囲に細管
パイプ群を設けて、これより乾燥窒素を流すようにした
ので、試料を含んだ霧化ガスがそのまままっすぐ進んで
対向する加熱キャピラリに入ることができ、分析の感度
を向上させることができる。また、乾燥窒素を加熱して
おくことにより、脱溶媒化をさらに促進することができ
る。
Ｓでは、内側管であるニードルから噴出する試料を外側
管であるネブライズ管から噴出する霧化用ガスにより霧
化させるとともに、その外側管のさらに外側周囲に細管
パイプ群を設けて、これより乾燥窒素を流すようにした
ので、試料を含んだ霧化ガスがそのまままっすぐ進んで
対向する加熱キャピラリに入ることができ、分析の感度
を向上させることができる。また、乾燥窒素を加熱して
おくことにより、脱溶媒化をさらに促進することができ
る。
【図１】本発明の一実施例である液体クロマトグラフ質
量分析装置のＬＣ／ＭＳインタフェースの断面構成図。
量分析装置のＬＣ／ＭＳインタフェースの断面構成図。
【図２】図１のニードル、ネブライズ管、細管パイプ群
の断面図。
の断面図。
【図３】従来の液体クロマトグラフ質量分析装置の全体
概略図。
概略図。
【図４】図３のＬＣ／ＭＳインタフェースの拡大図。
【図５】他の従来からのＬＣ／ＭＳインタフェースの断
面図。
面図。
【図６】他の従来からのＬＣ／ＭＳインタフェースの断
面図。
面図。
１０：液体クロマトグラフ部 ２０：インタフェース部 ２２：ニードル ２３：加熱キャピラリ ２４：ネブライズ管 ２５ａ、２５ｂ、２５ｃ、２５ｄ、２５ｅ、２５ｆ：キ
ャピラリ ２８：ヒータ ３０：ＭＳ部 ３１：第１中間室 ３３：分析室
ャピラリ ２８：ヒータ ３０：ＭＳ部 ３１：第１中間室 ３３：分析室
Claims (1)
- 【請求項１】 液体クロマトグラフ質量分析装置の液体
クロマトグラフ部から与えられる液体試料をイオン化し
て質量分析部に導入するためのＬＣ／ＭＳインタフェー
スにおいて、内側管から試料が導入され、外側管から霧
化ガスが導入される二重管を有し、この二重管の外側周
囲に加熱された乾燥窒素を供給するための細管パイプ群
が設けられ、二重管から噴出される試料を含んだ霧化ガ
スを、細管パイプ群から噴出される加熱された乾燥窒素
により脱溶媒化を促進させ、さらに拡散を抑えつつ質量
分析部に導入するようにしたことを特徴とするＬＣ／Ｍ
Ｓインタフェース。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03084898A JP3948096B2 (ja) | 1998-02-13 | 1998-02-13 | Ｌｃ／ｍｓインタフェース |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03084898A JP3948096B2 (ja) | 1998-02-13 | 1998-02-13 | Ｌｃ／ｍｓインタフェース |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11230957A true JPH11230957A (ja) | 1999-08-27 |
| JP3948096B2 JP3948096B2 (ja) | 2007-07-25 |
Family
ID=12315135
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03084898A Expired - Fee Related JP3948096B2 (ja) | 1998-02-13 | 1998-02-13 | Ｌｃ／ｍｓインタフェース |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3948096B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002260576A (ja) * | 2001-02-27 | 2002-09-13 | Anelva Corp | 質量分析装置 |
| JP2015049077A (ja) * | 2013-08-30 | 2015-03-16 | 株式会社島津製作所 | イオン化プローブ |
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1998
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